实验3 X射线衍射法测定晶胞常数—粉末法

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x射线粉末晶体衍射法测晶型ds_解释说明

x射线粉末晶体衍射法测晶型ds_解释说明

x射线粉末晶体衍射法测晶型ds 解释说明1. 引言1.1 概述本文介绍了x射线粉末晶体衍射法在测定晶型ds上的应用。

x射线粉末晶体衍射法是一种常用的固态晶体结构表征方法,通过强度和角度的测量,可以获得物质的晶格常数、晶胞参数以及晶体结构信息。

其中,测量晶型ds是一项重要而常见的实验任务。

1.2 文章结构本文共分为五个部分进行介绍和讨论。

首先是引言部分,概述了文章主题以及整体结构。

第二部分详细介绍了x射线粉末晶体衍射法的原理、衍射仪器及实验条件,并指出了测定晶型ds的重要性和应用。

第三部分涵盖了ds的测定方法与步骤,包括样品制备、实验流程以及数据处理与分析方法。

第四部分展示了具体的ds实验结果,并进行结果解读和讨论,同时探讨了实验误差与改进方向。

最后,在第五部分中总结了主要研究结论,并对未来相关研究提出展望。

1.3 目的本文旨在全面而详细地介绍x射线粉末晶体衍射法在测定晶型ds上的应用。

通过阐述相关理论和实验方法,提供给读者对该方法的全面认识以及运用指导。

同时,通过展示实验结果和讨论,希望为该领域进一步研究提供参考和启示。

2. x射线粉末晶体衍射法:2.1 原理介绍:x射线粉末晶体衍射法是一种常用的分析材料的结构和晶型的方法。

其原理基于x射线在物质中被原子散射所形成的衍射图样。

当x射线照射到晶体上时,入射光被晶体中的原子散射,并以特定角度和强度形成衍射。

根据布拉格方程,我们可以通过测量晶体表面的衍射角度来计算出其中的晶胞参数。

这使得我们能够获得有关晶体结构和组分的详细信息。

因此,x射线粉末晶体衍射法被广泛应用于材料科学、化学、地质学等领域。

2.2 衍射仪器及实验条件:进行x射线粉末晶体衍射实验需要使用一台x射线衍射仪。

该仪器由以下主要部件组成:- x射线发生器:产生高能x射线束。

- 样品支架:用于放置待测样品。

- 取向装置:帮助将样品正确放置到特定角度。

- 探测器:用于检测和记录衍射信号。

实验条件包括使用的x射线波长、样品的准备方法以及实验室环境等。

粉末衍射法测定晶体结构

粉末衍射法测定晶体结构
一般晶体结构主要用X射线单晶结构分析方法测定,但有 时难以获得合适的单晶且,新材料和常用的材料多为多晶 材料,因此很多结构研究需要在数据重叠为一维衍射花 样,丢失了大量三维结构信息,衍射强度数据只有单晶的 1/30左右。
粉末衍射法晶体结构分析的主要困难在于衍射线的重叠, 特别是低对称性、大单胞体积、高角度的衍射线。
衍射图谱的指标化——计算机方法
基于用计算机进行大量反复尝试来求解 面指数尝试法,对几条衍射线赋予指数,
用其他衍射线验证。Treor 晶带分析法,通过寻找晶带求解。Ito 二分法,在一定区域内以晶胞边长和轴间
角为变量,用二分法逐步缩小范围。 Dicvol
晶格常数精确测定
有重要意义,是许多现象的直观表现,可 定性说明许多问题
使用高纯度、高完整性的试样,收集高分辨衍射数据 指标化 根据衍射线的消光规律和物理性能,确定待测晶体所属
空间群。需要时可用选区电子衍射判断指标化结果和空 间群选择是否正确 精确测定点阵常数 重叠峰的分离 将各衍射线的积分强度,推算为相应的结构振幅F值, 输入直接法或帕特森重原子法等单晶结构分析程序,求 解相角 傅立叶合成和差值傅立叶合成求解结构和可能丢失的原 子 里特沃尔德峰形拟合修正晶体结构 计算键长和键角,或根据试样的物理和化学性能讨论结 果的正确性
主要内容
粉末衍射法简介 新相晶体结构测定、从头解结构法、单晶结构分
析简介 里特沃尔德衍射峰形拟合法概述 发展概况 峰形函数 修正晶体结构策略 正确性判据 应用 操作演示
粉末衍射法简介
对晶体结构的了解,有助于阐明物质各种性能的机制,研 究物质结构与性能关系,探讨不同相形成规律,改善材料 的性能、探索新型材料和促进材料科学的发展。
在新相存在区域周围配制若干与新相相关的两相 区试样,从这些图谱可以扣除不属于新相的衍射 线(相应于周围相关相的强线。

粉末X射线衍射法测定晶体的物相结构实验设计

粉末X射线衍射法测定晶体的物相结构实验设计

实验三、粉末X射线衍射法测定晶体的物相结构[实验目的]1.了解粉末X射线衍射分析的基本原理。

2.熟悉X射线粉末衍射仪的实际操作和数据处理。

2.利用粉末X射线衍射法对纳米晶体进行物相分析和粒度测定。

[实验用品]X射线衍射仪、样品槽、压片板、红外烘灯、脱脂棉、玛瑙研钵。

无水乙醇、待测白色晶体、纳米氧化锰。

[实验原理]X射线衍射仪工作时需要40KV的高压,且有电离辐射产生。

在操作时必须遵守安全操作规范,杜绝操作事故。

同时牢记紧急停止按钮的位置,在正常操作时避免误触,出现紧急情况时能够正确操作,保证操作人员的生命安全。

X射线衍射物相分析是根据晶体的晶面间距对X射线的衍射来鉴定晶体物相的方法。

物质的晶体结构可以看成相同的晶面按一定的距离d平行排列而成,存在着一组特定的d值(d1,d2,d3,d z,...),结构不同的晶体的d值组不相同,可用来表示晶体特征。

假定晶体中l晶面间的距离为d,X射线以夹角θ射入晶体。

经过相邻两个晶面后,入射线和衍射线产生的光程差为AB+BC,而AB=BC=dsinθ,故光程差AB+BC=2dsinθ。

我们知道,只有当光程差等于入射光波长λ的整数倍n时,才能产生被加强的衍射线,即符合布拉格(Bragg)方程:2dsinθ=nλ。

利用X射线衍射仪可以直接测定和记录晶体衍射的方向和强度。

利用X射线衍射仪可得到样品粉末X射线衍射图。

由晶体粉末X射线衍射图的衍射峰对应的2θ角,用布拉格公式可求出对应晶面间距d:2dsinθ=nλ,式中,n为整数,一般只求n=1时的d值;λ为波长。

由计算的d值和对应的相对强度数据查阅有关的索引书,估计样品的可能化学式,再由缩印给出的信息查阅对应的卡片,最后得到该样品的其他结晶学数据。

国际上专门的研究机构--粉末衍射标准联合委员会(JCPDS)收集了十几万种晶体的衍射标准数据,编制了X射线粉末衍射数据的卡片(JCPDS卡片)。

实际工作中只要测得物质的粉末衍射数据,再去查对JCPDS卡片,即可得知被测物质的化学式以及有关的结晶学数据。

实验4 X射线衍射法测定晶胞常数—粉末法

实验4 X射线衍射法测定晶胞常数—粉末法

实验4 X 射线衍射法测定晶胞常数—粉末法实验目的1掌握晶体对X 射线衍射的基本原理和晶胞常数的测定方法。

2了解X 射线衍射仪的基本结构和使用方法。

3 掌握X 射线粉末图的分析和使用。

实验原理 1 Bragg 方程晶体是由具有一定结构的原子、原子团(或离子团)按一定的周期在三维空间重复排列而成的。

反映整个晶体结构的最小平行六面体单元称晶胞。

晶胞的形状和大小可通过夹角α、β、γ的三个边长a 、b 、c 来描述。

因此, α、β、γ和a 、b 、c 称为晶胞常数。

一个立体的晶体结构可以看成是由其最邻近两晶面之间距离为d 的这样一簇平行晶面所组成, 也可以看成是由另一簇面间距为dˊ的晶面所组成……其数无限。

当某一波长的单式X 射线以一定的方向投射晶体时, 晶体内这些晶面像镜面一样发射入射X 光线。

只有那些面间距为d, 与入射的X 射线的夹角为θ且两邻近晶面反射的光程差为波长为的整数倍n 的晶面簇在反射方向的散射波,才会相互叠加而产生衍射如图1所示。

光程差λn BC AB =+=∆,而θsin d BC AB ==, 则 λθn d =sin 2上式即为布拉格(Bragg)方程。

如果样品与入射线夹角为θ, 晶体内某一簇晶面符合Bragg 方程, 那么其衍射方向与入射线方向的夹角为2θ。

对于多晶体样品(粒度约0.01mm), 在试样中的晶体存在着各种可能的晶面取向, 与入射X 线成θ角的面间距为d 的晶簇面不止一个, 而是无穷个,且分布在以半顶角为2θ的圆锥面上, 见图2。

在单色X 射线照多晶体时, 满足BragG 方程的晶面簇不止一个, 而是有多个衍射圆锥相应于不同面间距d 的晶面簇和不同的θ角。

当X 射线衍射仪的计数管和样品绕试样中心轴转动时(试样转动θ角,计数管转动2θ), 就可以把满足Bragg 方程的所有衍射线记录下来。

衍射峰位置2θ与晶面间距(即晶胞大小和形状)有关, 而衍射线的强度(即峰高)与该晶胞内(原子、离子或分子)的种类、数目以及它们在晶胞中的位置有关。

X射线粉末衍射测定晶体结构方法和PowderX_软件介绍

X射线粉末衍射测定晶体结构方法和PowderX_软件介绍

Mont Carlo SA
GA
SA SA
EAGER:英国 Kenneth D.M.Harris,
研究目标和内容
样品制备
[药]氯丙嗪, 冬眠硫磷 C10H13ClN2O3
粉末衍射 数据处理 指标化 结构模型 结构精修
a=26.645, b=9.072, c=5.217Å, a=b=g=90,
Space group=P212121
(1)衍射实验条件的改善,如同步辐射光源的发展; (2)新的结构分析算法的发展; (3)计算机计算能力的发展。
目前国际上已经可能用粉末衍射数据和从头计算方法测定单胞体 积为2500Å3、有200个原子参数的化合物晶体结构。但现在的
粉末衍射结构分析面临很多挑战性的难题,远不是 常规工作。现国内外还很少用超级计算平台解决粉 末法测定晶体结构问题。
国内外研究现状
到 2001年的粉末法测定的晶体结构统计数字 (累计592)
国内外研究现状
近年来代表性的粉末衍射结构分析软件
程序名称
作者
算法
EXPO2000:意大利A.Altomare等, 直接法+Mont Carlo
Endeavour:德国H. Putz等, 综合优化Rwp和系统势能
DASH: 英国 WIF David,K. Shankland,SA ESPOIR:法国 Armel LeBail, PSSP:美国P.W. Stephens, PowderSolve:英国 G.E. Engel等,
i 1,..., n
常用的方法和计算程序是面指数尝试法(TREOR90),晶带法 (POWDER)和对分法(DICVOL91)。 指标化方程数学上是多解的, 所以人们常用品质因数 (Figure of Merit) 来表征指标化结果的 可靠性。

x射线粉末衍射实验报告

x射线粉末衍射实验报告

x射线粉末衍射实验报告X射线粉末衍射实验报告引言:X射线粉末衍射是一种重要的实验方法,广泛应用于材料科学、物理学和化学等领域。

本实验旨在通过X射线粉末衍射实验,研究晶体结构和晶体的晶格常数。

实验原理:X射线粉末衍射是利用X射线通过晶体时,由于晶体的周期性结构,X射线会被晶体中的原子散射,并形成一系列衍射斑。

这些衍射斑的位置和强度可以提供关于晶体结构的信息。

实验中使用的X射线源通常是一台X射线衍射仪,而样品则是粉末状的晶体。

实验步骤:1. 准备样品:将晶体样品研磨成粉末状,并均匀地撒在玻片上。

2. 调整仪器:将样品放置在X射线衍射仪的样品台上,并调整仪器使得X射线能够垂直照射到样品上。

3. 开始测量:打开X射线衍射仪,开始测量衍射图样。

4. 数据处理:将测量得到的衍射图样进行分析,确定衍射斑的位置和强度。

5. 结果分析:根据衍射斑的位置和强度,计算晶体的晶格常数和晶体结构。

实验结果:通过对样品进行X射线粉末衍射实验,我们得到了一张衍射图样。

在图样中,我们观察到了一系列的衍射斑,这些斑点的位置和强度提供了关于晶体结构的重要信息。

根据衍射斑的位置和强度,我们可以计算出晶体的晶格常数和晶体结构。

晶格常数是晶体中原子排列的基本单位长度,而晶体结构则描述了晶体中原子的排列方式。

通过对实验结果的分析,我们可以得到晶体的晶格常数和晶体结构。

这些结果对于理解晶体的性质和应用具有重要意义。

讨论与结论:X射线粉末衍射实验是一种非常有用的方法,可以用来研究晶体结构和晶体的晶格常数。

通过实验,我们可以获得关于晶体的重要信息,对于材料科学、物理学和化学等领域的研究具有重要意义。

然而,X射线粉末衍射实验也存在一些限制。

首先,样品必须是粉末状的晶体,这对于某些晶体样品来说可能是困难的。

其次,实验结果的分析和解读需要一定的专业知识和经验。

综上所述,X射线粉末衍射实验是一种重要的实验方法,可以用来研究晶体结构和晶体的晶格常数。

通过实验,我们可以获得关于晶体的重要信息,对于材料科学、物理学和化学等领域的研究具有重要意义。

南京大学物化实验系列X射线粉末衍射法测定晶胞常数

南京大学物化实验系列X射线粉末衍射法测定晶胞常数

实验二十九X射线衍射法测定晶胞常数—粉末法一.实验目的和要求1、了解X射线衍射仪的基本原理、简单结构和操作方法。

2、掌握X射线粉末法的原理,测定NaCl或NH4Cl的晶体点阵形式、晶胞参数以及晶胞中内含物的个数。

二.XRD技术的原理和仪器简单介绍1、X射线的产生在抽至真空的X射线管中,钨丝阴极通电受热发射电子,电子在几万伏的高压下加速运动,打在由金属Cu (Fe、Mo) 制成的阳靶上,在阳极产生X射线,如书上P256图III-8-1所示。

众所周知,X射线是一种波长比较短的电磁波。

由X射线管产生的X射线,根据不同的实验条件有两种类型:(1) 连续X射线(白色X射线):和可见光的白光类似,由一组不同频率不同波长的X射线组成,产生机理比较复杂。

一般可认为高速电子在阳靶中运动,因受阻力速度减慢,从而将一部分电子动能转化为X射线辐射能。

(2) 特征X射线(标识X射线):是在连续X射线基础上叠加的若干条波长一定的X射线。

当X光管的管压低于元素的激发电压时,只产生连续X射线;当管压高于激发电压时,在连续X射线基础上产生标识X射线;当管压继续增加,标识X射线波长不变,只是强度相应增加。

标识X射线有很多条,其中强度最大的两条分别称为Kα和Kβ线,其波长只与阳极所用材料有关。

X射线产生的微观机理:从微观结构上看,当具有足够能量的电子将阳极金属原子中的内层电子轰击出来,使原子出于激发态,此时较外层的电子便会跃迁至内层填补空位,多余能量以X射线形式发射出来。

阳极金属核外电子层K-L-M-N…,如轰击出来的是K层电子(称为K系辐射),由L层电子跃迁回K层填补空穴,就产生特征谱线Kα,或由M层电子跃迁回K层填补空穴,就产生特征谱线Kβ。

当然,往后还有L系、M系辐射等,但一般情况下这些谱线对我们的用处不大。

2、X射线的吸收在XRD实验中,通常需要获得单色X射线,滤去Kβ线,保留Kα线。

[提问:为什么不能用含有多种波长的多色X射线? 事实上就是通过提问对后面的思考题第1题作适当提示。

粉末衍射法测定晶体结构

粉末衍射法测定晶体结构

粉末衍射法测定晶体结构粉末衍射法测定晶体结构,听起来像是科学家们在做魔法,但其实这背后有着满满的故事和智慧。

想象一下,晶体就像是一个个小小的宇宙,每个宇宙都有自己的星星、行星,甚至还有黑洞。

我们要了解这些宇宙的秘密,得借助一些巧妙的工具,粉末衍射法就是其中之一。

这种方法的灵魂在于,它能通过“打击”这些小宇宙,观察它们的反应来揭示隐藏在它们内部的结构。

说到这里,大家可能会问,打击?这听起来有点暴力啊!别担心,打击不是用拳头,而是用X射线。

这X射线就像是一个极其聪明的侦探,它穿透粉末状的晶体,洒下的光子会和晶体内部的原子相互作用。

想象一下,X射线就像是一只调皮的小猫,扑向了粉末的表面,结果被里面的原子吸引,发出各种不同的“喵喵”声。

这些声波反映出的信息,就是我们想要的结构数据。

我们收集到这些数据,像拼图一样,一块一块把它们组合起来,最终揭开晶体的面纱。

说到这里,不得不提到,粉末衍射法真的是一种艺术,它需要科学家的耐心、细心和一些小小的直觉,简直就是科学界的“调酒师”。

大家可能会好奇,为什么要用粉末呢?简单来说,粉末比起大块晶体更容易获得,想象一下,拿着一块大石头到处转悠,简直让人抓狂。

而粉末就像是把石头磨成的小沙粒,随时随地都能让你“撒”出来,方便得很。

粉末能够在各个方向上均匀地散布,这样X射线才能“全方位”地捕捉到信息。

真是聪明的选择呀!不过,这并不意味着粉末衍射法就没有挑战。

粉末的组成成分复杂得让人头疼,就像一碗乱炖,想要分清楚每种食材的角色可不是件容易的事。

说到这里,不得不提到数据处理。

粉末衍射法收集的数据是如此之多,简直就像一大堆乐高块,想要拼出一个完整的模型,光靠直觉可不行。

于是,科学家们得拿出他们的电脑,借助各种软件进行分析。

这个过程就像是解密,得一步一步找出每个小块的真正位置和形状。

很多时候,结果并不是那么如意,搞不好还得重来一遍,简直是“反复无常”。

不过,科学就是这样的,搞得你心累但又无法自拔。

XRD粉末X射线分析方法

XRD粉末X射线分析方法

硼磷化合物
硅磷化合物
固体磷酸催化剂
• XRD测定结果可知a)焙烧温度230℃-670℃,磷硼生成磷 酸硼物相.随着焙烧温度的升高,磷酸硼物相生成量基 本不变(磷酸硼的ASTM卡片号为34-132),无其他同素异 构体生成.b)焙烧温度230℃,磷硅还没有形成磷硅晶体 化合物.340-670℃时,生成焦磷酸硅结晶化合物(焦磷 酸硅的ASTM卡片号为22-1320),有同素异构体生成(其 ASTM卡片号为39-0189),随着焙烧温度的升高,焦磷酸 硅的晶粒增大,晶格趋于完整.c)XT-90为硼磷酸硅催化 剂,活化前后的催化剂主要物相是 Si3(PO4)4.SIP2O7.BPO4.经过活化处理后,正磷酸硅的含 量有所增加,焦磷酸硅的含量有所降低.所以活化处理 能提高催化剂的初活性,有可能影响催化剂的寿命
试样的测定
• 试样的预处理:晶体要细小,无择优取 向
• X射线管的选择;铜靶,铁靶,钼靶, • X射线单色化和背底消除 • 测定条件的选择
X射线定性方法
X射线定量分析方法
晶胞常数精密测定
• 晶体中各周期重复中的等同代表点叫做结点,
连接晶体中的各结点可形成平行六面体型格子, 叫做点阵或晶胞。连接晶胞中相邻结点形成的 单位平行六面体,称为单位点阵或单位晶胞, 平行于单胞棱线三个轴,称为晶轴,单胞的三 个轴长a.b.c及轴间夹角α.β.γ称为晶胞参 数。
粉末衍射图含有的信息
• 特性 • 峰位置 • 非确定峰 • 背底 • 峰的半高宽 • 峰强度 • 系统性消失
信息 晶胞大小 ,定性分析 晶体杂质 无定型物质 晶体大小,应力变形,堆积缺陷 晶体结构 ,定量分析 对称性
XRD在分子筛的应用
• 晶化产物的测定 • 改性产物的测定 • 结晶度的测定 • 点阵常数的测定

X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法

X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法

X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法摘要本文是一篇关于XRF光谱分析中粉末压片制样法的综述。

根据70多篇文献和一些常见的资料,作者从样品制备、方法应用、理论校正等三个方面介绍了粉末压片制样法的现状和进展。

1前言作为一种比较成熟的成分分析手段,XRF光谱分析在地质、冶金、环境、化工、材料等领域中应用广泛。

它的分析对象主要是块状固体、粉末、液体三种,其中,固体粉末是分析得最多的一种。

因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末,对于形状不规则的块状固体,由于直接分析技术还不成熟,往往也粉碎成粉末。

液体试样可放入液体样品杯中分析,但由于不能抽真空等原因,有时将液体转变为固体,一些预分离、富集的结果也常是粉末,因此,粉末试样的制样技术是XRF光谱分析中的重要研究课题。

XRF光谱分析粉末样品主要有两种方法:粉末压片法和熔融法。

[1,2]对于样品量极少的微量分析,还有一种薄样法,这里拟不介绍。

熔融法是应用较多的一种制样方法,它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。

但熔融法也有缺点:因样品被熔剂稀释和吸收,使轻元素的测量强度减小;制样复杂,要花费大量时间;成本也较高。

粉末压片法的优点是简单、快速、经济,在分析工作量大、分析精度要求不太高时应用很普遍,也常用于痕量元素的分析。

从中国理学XRF光谱仪协会和中国菲利浦X射线分析仪器协会的最近两本论文集[3-4]来看,采取粉末压片制样的文章占了很大的比例。

在实际应用如水泥、岩石、化探样品的分析中,粉末压片仍是一种应用很广泛的XRF制样法。

近年来,有关XRF及其应用的综述或评论很多[5-13],其中包括样品制备方面的内容,还有一些专门介绍制样法的文章[14-15]。

本文根据收集到的70多篇文献,从样品制备、方法应用、理论校正等方面阐述粉末压片法的现状与进展。

2样品制备粉末压片制样法主要分三步:干燥和焙烧;混合和研磨;压片[16]。

有粉末直接压片、粉末稀释压片、用粘结剂衬底和镶边等方法[17]。

实验三十 X射线衍射法测定晶胞常数——粉末法

实验三十 X射线衍射法测定晶胞常数——粉末法

南京大学化学实验报告实验题目:X射线衍射法测定晶胞常数——粉末法姓名:院系:日期:一.实验目的1.熟悉X射线衍射仪的基本结构并掌握其使用方法2.掌握X射线粉末法进行物相鉴定二.实验原理晶体是由具有一定结构的原子、原子团(或离子团)按一定的周期在三维空间重复排列而成的。

反映整个晶体结构的最小平行六面体单元称为晶胞。

晶胞的形状和大小可通过夹角和三个边长来描述,因此和称为晶胞常数。

一个立体的晶体结构可以看成是由其最邻近两晶面之间距为d的这样一簇平行晶面所组成,也可以看成是由另一簇面间距为d’的晶面所组成……其数无限。

当某一波长的单色X射线一一定的方向投射到晶体上时,晶体内的晶面像镜面一样反射入射线。

但不是任何的反射都是衍射,只有那些面间距为d,与入射的X射线的夹角为,且两相邻晶面反射的光程差为波长的整数倍n的晶面簇在反射方向的散射波,才会相互叠加而产生衍射,如下图所示。

光程差,而上式即为Bragg方程,其中n称为衍射级数。

如果样品与入射线夹角为,晶体内某一簇晶面符合Bragg方程,那其衍射方向与入射线方向的夹角为2,如图。

对于多晶样品,,在样品中的晶体存在着各种可能概率的晶面取向,拥有与入射X射线成角且面间距为d的晶面簇的晶体不止一个,而是无穷个,且分布在以半顶角为2的圆锥面上,如图。

在单色X射线照射多晶体时,满足Bragg方程的晶簇面不止一个,而是有多个衍射圆锥对应于不同面间距d的晶面簇和不同的角。

当X射线衍射仪的计数管和样品绕样品中心轴转动时,就可以把,满足Bragg方程的所有射线记录下来。

衍射峰位置2与间距(晶胞大小与形状)有关,而衍射线的强度(即峰高)与该晶胞内原子的种类、数目以及他们在晶胞中的位置有关。

由于任何两种晶体其晶胞形状、大小和内含物总存在着差异,所以2和相对强度可作物相分析的依据。

对于绝大多数物质而言,其2角都大于,通常称为广角XRD。

晶胞大小的测定。

以晶胞常数结晶学可推出:对于四方晶体,因,,上式可化简为对于立方晶系,因晶胞参数,从衍射普中各衍射峰所对应的2,通过Bragg方程求得的只是相对的各的值。

第三章_粉晶X射线衍射法

第三章_粉晶X射线衍射法

3
3 衍射仪法与Debey法的特点对比
衍射仪法
1 2 3 快0.3—1h 灵敏,弱线可分辨;
Debey法
>4—5h; 用肉眼; 手工化;
可重复,数据可自动处理, 结果可自动检索; 无法重复,人工处理结果;
4 5 6 7
盲区小,约为3°; 贵,使用条件要求高; 样品量太大; 常用用于定量相结构分析;
样品台 X射线 θ 2θ 探测器
衍射仪的组成
① X射线机、 ② 测角仪、 ③ X射线探测器、
测角仪
④ 信息记录与处理装置组成。
测角仪
测角仪是衍射仪上最精密的机械部件,用来精确测量 衍射角。X射线源使用线焦点光源,样品台上有一个作 为放置样品时使样品平面定位的基准面,用以保证样 品平面与样品台转轴重合。
k :Scherrer形状因子:0.89 B :衍射峰的半高宽(弧度)
2tsinθ = λ
2tcosθΔθ = λ
2θ 实际峰宽应为零,故半高宽反映了θ的变 化,令半高宽为B = 2Δθ = Δ(2θ) 故有:
t :在hkl法线方向上的平均尺寸()
Thickness = t =
λ
B cos θ
物质密度的测定
第三章 多晶(粉晶)X射线衍射法
X-ray Power Diffraction(XRD)
单晶:一个完整的空间点阵贯穿的晶体 多晶(粉晶):许多取向不同微小单晶 (微晶)随即排列的组合称为多晶体。
通常微晶尺寸在10-2μm~10-2mm,设X射线照射体积为1mm3 ,
第一节 粉晶X射线衍射法的工作原理
200
某一样品各衍射峰的强度一般用相对强度 (I/I1)表示,即将其最强一个衍射的强度(I1) 作为标准,比较其余各晶面间距(dhkl)衍射的 相对强度,即I/I1。然后列出“d-I/I1” 数据 表,这是基本的实验数据。

精确测定晶胞参数的方法

精确测定晶胞参数的方法
精确的晶胞参数数据能够反映一种物质的不同 样品间在结构上的细微差异,或者一种晶体的 结构在外界物理化学因素作用下产生的的微小 变化。它有很多重要的应用,例如在相图研究、 固溶体研究、晶体的密度、热膨胀系数的测定、 金属材料中应力的测定以及矿物学中类质同象 系列的研究等方面,均需要有精确的晶胞参数 数据。
例子
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这是一个矿物学中的例子。 在矿物晶体中,类质同象现象十分普遍,从固溶 体的观点看来,类质同象混晶就是置换式固溶体。 现在已经积累了较丰富的各种矿物类质同象系列 的成分与结构关系的实验曲线或公式。对于对称 度较高的等轴晶系和部分中级晶系的晶体,大多 直接采用晶胞参数,因为它可以根据较多的衍射 线来求得尽可能精确的数值;对于低级晶系和部 分中级晶系的晶体往往用某一特定衍射线的d值 来进行测定,因为单测定一个d值较测定其晶胞 参数简单,而且某些d值随成分的改变更为显著。
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测定有关的晶体性质数据
晶体的性质参数往往是直接和晶胞 参数或晶面距离相联系的,例如密 度、热膨胀系数等,然而这些数据 有时是不能用通常的方法测定或不 能准确测定,但是利用X射线衍射就 可以方便地测定。根据每个晶胞所 含每种原子的数目和由晶胞参数可 以计算出晶胞的容积,便可计算出 它的理论密度
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粉末衍射方法的应用
简介
03081059 吴圣光
1仪器的外观
2误差分析 3精确晶胞参数数据的应用
当今分析研究对晶体微观结构 的分析越来越多,运用的方法 也是越来越多,而其中的x射线 衍射也被越来越多的应用。这 次我要对x射线衍射中粉末衍射 的应用进行介绍。
粉末衍射的应用有物相分析、晶胞参 数精确测定及其应用以及衍射线强度分布 数据的应用,我就对其中的晶胞参数精确 测定进行讲解。

实验3 X射线衍射粉末分析

实验3 X射线衍射粉末分析

深圳大学实验报告课程名称:仪器分析实验实验项目名称:实验三X射线衍射与晶体物像分析学院:化学与化工学院专业:应用化学指导教师:朱才镇报告人:习雯影学号:2006141075 班级:06应化同组人员:习雯影赵倩冯倩张秋吉郑艳萍实验时间:2009-4-22实验报告提交时间:2009-5-6教务处制1 实验目的1、了解X衍射的基本原理以及粉末X衍射测试的基本目的;2、掌握晶体和非晶体、单晶和多晶的区别;3、了解使用相关软件处理XRD测试结果的基本方法。

2 实验原理1、晶体化学基本概念晶体的基本特点与概念:①质点(结构单元)沿三维空间周期性排列(晶体定义),并有对称性。

②空间点阵:实际晶体中的几何点,其所处几何环境和物质环境均同,这些“点集”称空间点阵。

③晶体结构=空间点阵+结构单元。

非晶部分主要为无定形态区域,其内部原子不形成排列整齐有规律的晶格。

对于大多数晶体化合物来说,其晶体在冷却结晶过程中受环境应力或晶核数目、成核方式等条件的影响,晶格易发生畸变。

分子链段的排列与缠绕受结晶条件的影响易发生改变。

晶体的形成过程可分为以下几步:初级成核、分子链段的表面延伸、链松弛、链的重吸收结晶、表面成核、分子间成核、晶体生长、晶体生长完善。

Bravais提出了点阵空间这一概念,将其解释为点阵中选取能反映空间点阵周期性与对称性的单胞,并要求单胞相等棱与角数最多。

满足上述条件棱间直角最多,同时体积最小。

1848年Bravais证明只有14种点阵。

图1 14种Bravais点阵晶体内分子的排列方式使晶体具有不同的晶型。

通常在结晶完成后的晶体中,不止含有一种晶型的晶体,因此为多晶化合物。

反之,若严格控制结晶条件可得单一晶型的晶体,则为单晶。

2、X衍射的测试基本目的与原理X射线是电磁波,入射晶体时基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波可相互干涉。

散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向。

衍射方向取决于晶体的周期或晶胞的大小,衍射强度是由晶胞中各个原子及其位置决定的。

南京大学物化实验系列X射线粉末衍射法测定晶胞常数

南京大学物化实验系列X射线粉末衍射法测定晶胞常数

实验二十九X射线衍射法测定晶胞常数—粉末法一.实验目的和要求1、了解X射线衍射仪的基本原理、简单结构和操作方法。

2、掌握X射线粉末法的原理,测定NaCl或NH4Cl的晶体点阵形式、晶胞参数以及晶胞中含物的个数。

二.XRD技术的原理和仪器简单介绍1、X射线的产生在抽至真空的X射线管中,钨丝阴极通电受热发射电子,电子在几万伏的高压下加速运动,打在由金属Cu (Fe、Mo) 制成的阳靶上,在阳极产生X射线,如书上P256图III-8-1所示。

众所周知,X射线是一种波长比较短的电磁波。

由X射线管产生的X射线,根据不同的实验条件有两种类型:(1) 连续X射线(白色X射线):和可见光的白光类似,由一组不同频率不同波长的X射线组成,产生机理比较复杂。

一般可认为高速电子在阳靶中运动,因受阻力速度减慢,从而将一部分电子动能转化为X射线辐射能。

(2) 特征X射线(标识X射线):是在连续X射线基础上叠加的若干条波长一定的X射线。

当X光管的管压低于元素的激发电压时,只产生连续X射线;当管压高于激发电压时,在连续X射线基础上产生标识X射线;当管压继续增加,标识X射线波长不变,只是强度相应增加。

标识X射线有很多条,其中强度最大的两条分别称为Kα和Kβ线,其波长只与阳极所用材料有关。

X射线产生的微观机理:从微观结构上看,当具有足够能量的电子将阳极金属原子中的层电子轰击出来,使原子出于激发态,此时较外层的电子便会跃迁至层填补空位,多余能量以X射线形式发射出来。

阳极金属核外电子层K-L-M-N…,如轰击出来的是K层电子(称为K系辐射),由L层电子跃迁回K层填补空穴,就产生特征谱线Kα,或由M层电子跃迁回K层填补空穴,就产生特征谱线Kβ。

当然,往后还有L系、M系辐射等,但一般情况下这些谱线对我们的用处不大。

2、X射线的吸收在XRD实验中,通常需要获得单色X射线,滤去Kβ线,保留Kα线。

[提问:为什么不能用含有多种波长的多色X射线? 事实上就是通过提问对后面的思考题第1题作适当提示。

粉末X射线衍射法定性分析一种未知催化剂中晶体化合物

粉末X射线衍射法定性分析一种未知催化剂中晶体化合物

粉末X射线衍射法定性分析一种未知催化剂中晶体化合物摘要:催化剂研制、放大及工业应用须对其进行精确分析表征。

采用粉末X射线衍射法(XRPD)定性分析了一种未知催化剂中的晶体化合物,其中晶体鉴定结果为:γ-AlO(OH)、γ-Al2O3(量少)及ZSM-23,分析数据能够满足催化剂研究开发及工业应用对XRPD分析表征数据的要求。

元素测定结果证明未知催化剂还含有铂族金属。

实验结果表明,本法对未知催化剂分析表征的适应性很好,因而具有一定推广应用价值。

关键词:γ-AlO(OH) γ-Al2O3 ZSM-23 晶体定性分析铂族金属催化剂粉末X 射线衍射法1 引言本文研究的未知催化剂主要应用于石油炼制工程的润滑油异构脱蜡和柴油异构降凝等正构烷烃异构化工艺过程。

目前,关于催化剂研制方法及其工业应用的专利、文献很多,但有关含γ-AlO(OH) 及ZSM-23等化合物和高分散铂族金属单质的催化剂的XRPD分析表征,未见文献报道[1]。

X射线粉末衍射是表征固体材料结构的最重要工具之一[2]。

X射线晶体结构分析已成为研究原子或离子在晶体点阵中结合、鉴定晶体化合物空间结构的可靠方法[3]。

Debye-Scherrer粉末X射线衍射法在固体催化剂研制、工业放大及应用领域有很大的应用价值,可以解决由不同单质或化合物组成的高分散复相催化剂复杂混合物中晶体的鉴定问题。

通常是对测得的未知催化剂粉末衍射数据与ICDD结晶态化合物粉末衍射数据库等标准数据进行核对以鉴定未知晶体。

本文采用XRPD对一种未知催化剂中的晶体进行了定性分析,并应用X射线荧光光谱法(XRF)测定了其中高分散铂族金属组分及其含量。

实验结果表明,XRPD是一种鉴定未知催化剂中晶体的准确方法。

2 实验部分仪器、试剂及样品日本理学D/max-2500/PC X射线衍射仪,美国MDI Jade 6.5 X射线粉末衍射数据处理系统;化学纯盐酸(配制成5~10%稀盐酸备用);γ-Al2O3载体(国产);样品为一种进口未知催化剂。

X射线衍射-多晶体粉末衍射

X射线衍射-多晶体粉末衍射

引入多重性因子 、吸收因子、温 度因子
小晶体内 各晶胞散 射波合成
(粉末)多晶体 衍射(积分) 强度
单位弧长 衍射强度
参加衍射的晶粒 (小晶体)数目
一个小晶体对X射 线的散射强度与衍 射(积分)强度(干 涉函数)
五、多晶体/粉末X射线衍射
Powder X-ray diffraction
6
Powder X-ray diffraction
2/B
2/A
2/D
2/t
2/D
晶体形状的影响

2/D
2/t
Grain szie: 10-20nm
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2
应变的影响
80% cold rolled 10.5% cold rolled As-quenched
2dsin结构因子f单晶劳埃法周转晶体法一个电子对x射线的散射强度偏振因子原子内各电子散射波合成一个原子对x射线的散射强度原子散射因子晶胞内各原子散射波合成一个晶胞对x射线的衍射强度结构因子小晶体内各晶胞散射波合成一个小晶体对x射线的散射强度与衍射积分强度干涉函数粉末多晶体衍射积分强度单位弧长衍射强度参加衍射的晶粒小晶体数目引入多重性因子吸收因子温度因子等同晶面数对强度的影响吸收对强度的影响温度对强度的影响五多晶体粉末x射线衍射powderxraydiffractionpowderxraydiffraction五多晶体粉末x射线衍射检索分析软件debyescherrercamera聚焦法针孔法nfsabntanarctanarc180反射法x射线衍射仪德国西门子公司下属布鲁克bruker公司日本理学rigaku公司英国帕纳科panalytical原荷兰philips公司x射线衍射仪x射线衍射仪扫描方式偶合扫描2x射线衍射仪扫描方式偶合扫描2x射线衍射仪扫描方式偶合扫描2衍射线来源于平行于样品表面hkl晶面根据图中的聚焦原理光源s样品被照表面mon及反射线会聚点f必落到同一聚焦圆上测角仪聚焦几何x射线衍射仪扫描方式非偶合扫描扫描入射x射线和探测器固定2扫描入射x射线和试样固定180测角仪光学布置dsrs狭缝狭缝小强度低分辨率高探测器0d1d2ddetectors探测器efficiencylinearityproportionalityresolution正比计数器x射线光子进入计数管使其内部气体电离并产生电子由于气体放大作用即使是少量光子照射即可产生大量电子和离子导致可探测电流

3-2 粉末法测定多晶体的晶格常数

3-2 粉末法测定多晶体的晶格常数

3.2 粉末法测定多晶体的晶格常数金属材料一般由混乱取向的大量小晶粒组成,形成多晶,每个小晶粒内部的点阵排列方式完全相同。

用单一波长的x 射线(单色光)照射多晶样品时,如果x 射线是平行线束,对于某一指数的晶面族,只有掠射角θ满足布拉格方程时,才可能产生衍射。

不同晶面族产生衍射的方向与入射线的方向有不同的夹角。

根据这些衍射线的不同方向就可以确定晶体的晶格结构,这是多晶体结构分析最常用的方法,称为德拜法。

这种方法比较方便,因为任何物质都可磨成细的粉末做成多晶试样,或者利用原样的多晶物质。

铜丝、铅丝等都可以直接拿来进行晶体结构分析。

一、实验目的(1)了解x 射线性质、以及x 射线晶体衍射的机理,掌握拍摄粉末相技术; (2)学会指数化立方晶体粉末衍射花样的方法(密勒指数);(2)用外推法确定立方晶体的精确点阵常数。

二、实验原理在德拜法(P. Debye )中,用作试样的粉末晶粒很细(粒度通常在0.1至10 μm 之间),而且这些数目极多的晶粒在试样中完全无规律排列,晶粒中相同指数晶面的取向在空间中随机分布。

因此,当一束波长为λ的单色x 射线照射在多晶样品上时,总有这样一些晶粒,它们的某一晶面族(h k l )与入射线形成的夹角θ(称为掠射角)满足布拉格方程2d (h k l )sin θ = nλ (n = 1, 2, 3, …), (3.2.1)于是x 射线就从这个晶面上发生发射,反射线与入射线的夹角为2θ,如图3.2.1所示。

显然,掠射角为θ的所有晶面都发生反射,这些反射线是在以入射线的延长线为轴的锥面上,圆锥面的半圆锥角为2θ。

若其它晶面(h ′ k ′ l ′) 的掠射角也适合布拉格公式l k h d n ''''='2sin λθ,则同样发生反射,其反射线形成了另一个圆锥面。

由此可见,对不同的晶面族,其晶面间距d 不同,要求的θ当然也有差异,因而对不同的晶面族有不同张角的衍射圆锥。

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实验3 X 射线衍射法测定晶胞常数—粉末法 实验目的
1掌握晶体对X 射线衍射的基本原理和晶胞常数的测定方法。

2了解X 射线衍射仪的基本结构和使用方法。

3 掌握X 射线粉末图的分析和使用。

实验原理 1 Bragg 方程
晶体是由具有一定结构的原子、原子团(或离子团)按一定的周期在三维空间重复排列而成的。

反映整个晶体结构的最小平行六面体单元称晶胞。

晶胞的形状和大小可通过夹角α、β、γ的三个边长a 、b 、c 来描述。

因此, α、β、γ和a 、b 、c 称为晶胞常数。

一个立体的晶体结构可以看成是由其最邻近两晶面之间距离为d 的这样一簇平行晶面所组成, 也可以看成是由另一簇面间距为d ˊ的晶面所组成……其数无限。

当某一波长的单式X 射线以一定的方向投射晶体时, 晶体内这些晶面像镜面一样发射入射X 光线。

只有那些面间距为d, 与入射的X 射线的夹角为θ且两邻近晶面反射的光程差为波长为的整数倍n 的晶面簇在反射方向的散射波,才会相互叠加而产生衍射如图1所示。

光程差λn BC AB =+=∆,而θsin d BC AB ==, 则 λθn d =sin 2
上式即为布拉格(Bragg)方程。

如果样品与入射线夹角为θ, 晶体内某一簇晶面符合Bragg 方程, 那么其衍射方向与入射线方向的夹角为2θ。

对于多晶体样品(粒度约0.01mm), 在试样中的晶体存在着各种可能的晶面取向, 与入射X 线成θ角的面间距为d 的晶簇面不止一个, 而是无穷个,且分布在以半顶角为2θ的圆锥面上, 见图2。

在单色X 射线照多晶体时, 满足BragG 方程的晶面簇不止一个, 而是有多个衍射圆锥相应于不同面间距d 的晶面簇和不同的θ角。

当X 射线衍射仪的计数管和样品绕试样中心轴转动时(试样转动θ角,计数管转动2θ), 就可以把满足Bragg 方程的所有衍射线记录下来。

衍射峰位置2θ与晶面间距(即晶胞大小和形状)有关, 而衍射线的强度(即峰高)与该晶胞内(原子、离子或分子)的种类、数目以及它们在晶胞中的位置有关。

由于任何两种晶体其晶胞形状、大小和内含物总存在差异, 所以2θ和相对强度(I/I 0)可以作物相分析依据。

2 晶胞大小的测定
以晶胞常数c b a ≠≠===,900
γβα的正交系为例, 由几何结晶学可推出:
22
22221c
l b k a h d ***++= 式中*h 、*k 、*
l 为密勒指数(即晶面符号)。

对于四方晶系,因c b a ≠====,900
γβα,上式可简化为:
22
2
221c
l a k h d
***++= 对于立方晶系因c b a =====,900
γβα,故可简化为
2
2
221a
l k h d ***++= 至于六方、三方、单斜和三斜晶系的晶胞常数、面间距与密勒指数间的关系可参考任何X 射线结构分析的书籍。

从衍射谱中各衍射峰所对应的2θ角, 通过Bragg 方程求得的只是相对应的各
)sin 2(λ
θ=d n 值。

因为我们不知道某一衍射是第几级衍射, 为此,如将以上三式的两边同乘以n 。

对正交晶系:
22
2222222222222c
l b k a h c l n b k n a h n d n ++=++=*** 对四方晶系:
22
22222222222c
l a k h c l n a k n h n d n ++=++=*** 对于立方晶系:
2
2
222222222a
l k h a l n k n h n d n ++=++=*** 式中h 、k 、l 称衍射指数, 它和密勒指数的关系:
***===nl l nk k nh h ,,
这两者的差别为密勒指数不带有公约数。

因此, 若已知入射X 射线的波长A, 从衍射谱中直接读出各衍射峰的θ值, 通过Bragg 方程(或直接从《Tables for Conversion of X-ray diffraction Angles to Interplaner Spacing 》的表中查得)可求得所对应的各
d
n
值;如又知道各衍射峰所对应的衍射指数, 则立方(或四方、正交)晶胞的晶胞常数就可确定。

这一寻找对应各衍射峰指数的步骤称“指标化”。

对于立方晶系, 指标化最简单, 由于h 、k 、l
为整数, 所以各衍射峰的2
)(d
n

θ2sin ,以其中最小的
d
n
值除之,得: 212
1⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛d n d n :212
2⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛d n d n :212
3⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛d n d n :2
1
2
4
⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪
⎭⎫ ⎝⎛d n d n :…… 上述所得数列应为一整数数列。

如为1:2:3:4:5:……则按θ增大的顺序, 标出各衍射指数(h 、k 、l )为:100、110、111、200……
表1 立方点阵衍射指标规律
在立方晶系中,有素晶胞(P ),体心晶胞(I )和面心晶胞(F )三种形式。

在素晶胞中衍射指数无系统消光。

但在体心晶胞中,只有l k h ++值为偶数的粉末衍射线, 而在面心晶胞中, 却只有h 、k 、l 全为偶数时或全为奇数的粉末衍射线, 其它的粉末衍射线因散射线相互干扰而消失(称为系统消光)。

对于立方晶系所能出现的2
2
2
l k h ++值:素晶胞1:2:3:4:5:6:8:……(缺7、15、23等),体心晶胞2:4:6:8:10:12:14:16:18……=1:2:3:4:5:6:7:8:9……,面心晶胞3:4:8:11:12:16:19 ……
因此,可由衍射谱的各衍射峰的2)(d
n 或θ2
sin 值来确定所测物质的晶系、晶胞的点阵形式和晶胞常数。

如不符合上述任何一个数值,则说明该晶体不属于立方晶系, 需要用对称性较低的四方、六方……由高到底的晶系逐一来分析、尝试来确定。

知道了晶胞常数,就知道了晶胞体积,在立方晶系中,每个晶胞的内含物(原子、离子、分子)的个数n ,可按下式求得:
3
/N M a n ρ=
式中:M 为待测样品的摩尔质量, N 0为阿佛加德罗常数,ρ为该样品的晶体密度。

仪器与试剂 1 仪器
Y-2000 型X 射线衍射仪。

2试剂
NaCl (AR )。

操作步骤
1 制样:测量粉末样品时,把待测样品于研钵中研磨至粉末状,样品颗粒不能大于200目,把研细的样品倒入样品板,至稍有堆起,在其上用玻璃板紧压,样品的表面必须与样品板平。

2 装样;安装样品要轻插,轻拿,以免样品由于震动而脱落在测试台上。

3 要随时关好内防护罩的罩帽和外防护罩的铅玻璃,防止X 射线散射。

4 接通总电源,此时冷却水自动打开,再接通主机电源。

5 接通微机电源,并引导Y500系统工程操作软件。

6打开微机桌面上“X 射线衍射仪操作系统”,选择“数据采集”,填写参数表,进行参数选择,注意填写文件名和样品名,然后联机,待机器准备好后,即可测量(X 射线衍射仪的工作原理和使用方法见仪器说明书)。

7 扫描完成后,保存数据文件,进行各种处理,系统提供六种处功能:寻峰、检索、积分强度计算、峰形放大、平滑、多重绘图。

8 对测量结果进行数据处理后,打印测量结果。

9 测量结束后,推出操作系统,关掉主机电源,水泵要在冷却20分钟后,方可关掉总电源。

10 取出装样品的玻璃板,倒出框中样品,洗净样品板,晾干。

结果和讨论
1 根据实验测得NaCl 晶体粉末的各θ2
sin 值,用整数连比起来,与上述规律对照,即可确定该晶体的点阵型式,从而可按表1将各粉末线依次指标化。

2 根据公式,利用每对粉末线的θ2
sin 值和衍射指标,即可根据公式:
θ
λsin 22
22l k h a ++=
计算晶胞常数a 。

实际在精确测定中,应选取衍射角的大的粉末线数据来进行计算,或用最
小二乘法求各粉末线所得a 值的最佳平均值。

3 NaCl 的式量为M=58.5,警惕密度为2.164g/cm 3,则每个立方晶胞中NaCl 的分子数为:
M
a N M
VN n 3
00
ρρ=
=
注意事项
1 必须将样品研磨至200—300目的粉末,否则样品容易从样品板中脱落。

2 使用X射线衍射仪时,必须严格按照操作规程进行操作。

3 注意对X射线的防护。

思考和讨论
1简述X射线通过晶体产生衍射的条件。

2布拉格方程并未对衍射级数和晶面间距d作任何限制,但实际应用中为什么只用到数量非常有限的一些衍射线?
3布拉格衍射图中的每个点代表NaCl中的什么?(一个Na原子?一个Cl原子?一个NaCl分子?还是一个NaCl晶胞?)试给予解释。

参考文献
1孙尔康,徐维清,邱金恒编,物理化学实验,南京:南京大学出版社, 1990
2周公度,段连运编,结构化学基础,北京:北京大学出版社,2002。

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