CPK的计算公式
CPK计算公式
CPK 名词解释及方程式组成结构:
CPK=CP *(1 - K )
U :设计目标数
设计上、下限: 设计上限: 平均数+ 3σ 设计下限:平均数- 3σ
控制上、下限:图纸的控制要求尺寸,如 100±0.25 ,则尺寸控制上限为100.25,控制下限为99.75。 X
–
(AVERAGF): 平均数(每组数据总和的平均值)
CPK 方程式: *
(
1 -
)
控制上限 - 控制下限
设计上限- 设计下限 设计最大值+设计最小值
2
-
平均数
(控制上限 - 控制下限)/ 2
测量最大值+平均数
2
K : 方程式:
μ – 平均数
(设计上限 - 设计下限)/2
控制上限 - 控制下限 设计上限 - 设计下限
CP : 方程式: (Xi-X -)2∑
N
σ:西格玛 方程式: μ: 方程式:
R :客户所需求的σ倍数 N :数据组内的数据个数 ∑ :求合数
CPK 计算例题
某产品其中一项尺寸控制要求为100mm ±0.25mm ,取10pcs 产品进行测量,数据分别为:
NO 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 规格尺寸 100±0.25 100±0.25 100±0.25 100±0.25 100±0.25 100±0.25 100±0.25 100±0.25 100±0.25 100±0.25 实测尺寸
100.21
100.25
100.20
100.19
100.18
100.17
100.16
100.18
100.19
100.23
该项尺寸控制上限为100.25mm ,控制下限为99.75。
=(100.21+100.25+100.20+100.19+100.18+100.17+100.16+100.18+100.19+100.23)/10 = 100.196
CPK的介绍以及计算公式-cpk的公式
CPK的介绍以及计算公式-cpk的公式
CPK是一种统计工具,用于确定特定过程的性能是否符合规定的规格或精度要求。CPK的全称是过程能力指数,是一个衡量质量控制效果的指标。通过计算CPK可以得出某一过程的稳定性,即该过程在允许的规格范围内的变化情况,并能够评估该过程是否符合客户要求。本文将介绍CPK的基本概念和计算公式。
一、CPK的基本概念
CPK是衡量生产过程的能力指标,用于度量过程的偏差与允许值之间的差异,以便识别生产过程的缺陷并改进生产过程。CPK数据越高,表示生产过程在产品规格范围内的概率也越大,生产的产品质量也就越可靠。
CPK的计算基于过程的数据采样,得出该过程的上下限规范范围。该过程所产生的样本数据将被比较和评估,以测量该过程的性能和可靠性。这些指标将分别用于确定偏差是否在所需的规格范围内。
二、CPK的计算公式
(1). 计算过程能力指数CPK需要几个要素,包括目标值、上限值、下限值、标准偏差、样本数据集。通过这些要素,就可以计算出该过程能够产生的产品所包含的缺陷的百分比。CPK 的计算公式如下:
CPK = min(USL - μ / 3σ ,μ - LSL / 3σ )
其中,USL表示过程的上限规格值,LSL表示过程的下限规格值,μ表示规格平均值,σ表示标准偏差。
(2). CPK的计算中需要确定标准偏差σ和平均值μ。标准偏差是指数据分布的离散程度,σ越大,数据的离散程度就越大。格的平均值是指样本数据的平均值。
(3). 通常情况下,CPK的值可以从以下计算公式中得出:CPK = minimum [ (USL - Xbar) / 3σ; (Xbar - LSL) / 3σ ]
cpk计算方式
cpk计算方式
CPK计算方式及其应用
CPK是一种统计学方法,用于衡量过程的稳定性和准确性。它是一个重要的质量管理工具,广泛应用于各个领域。在本文中,我们将介绍CPK的计算方式及其应用。
CPK的计算方式
CPK的计算方式基于标准差和平均值。标准差是衡量数据分布离散程度的一种方法,平均值是衡量数据中心趋势的一种方法。通过计算标准差和平均值,我们可以计算出CPK值,以评估过程的稳定性和准确性。
CPK的计算公式如下:
CPK = min((USL-平均值)/(3*标准差), (平均值-LSL)/(3*标准差))
其中,USL是上限规格限,LSL是下限规格限。如果USL和LSL不存在,则可以使用最大值和最小值代替。
CPK的应用
CPK常用于质量控制过程中。在制造过程中,产品的尺寸、重量、颜色等特征需要符合一定的规格限。如果产品的特征偏离规格限,可能会影响产品的性能和品质。因此,制造企业需要采用一些方法
来确保产品特征符合规格限。CPK是一种常用的方法之一。
CPK的应用通常分为以下几个步骤:
1. 收集数据。需要收集与产品特征相关的数据,例如尺寸、重量、颜色等。
2. 计算平均值和标准差。根据收集的数据,计算出平均值和标准差。
3. 确定规格限。根据产品的设计要求,确定上限规格限和下限规格限。
4. 计算CPK值。根据上述公式,计算出CPK值。
5. 判断CPK值。CPK值通常在1.33以上被认为是可接受的,表示制造过程是稳定的。如果CPK值低于1.33,则需要采取措施来提高制造过程的稳定性和准确性。
除了在制造过程中的应用,CPK也可以用于其他领域。例如,在医疗行业,CPK可以用于评估医疗过程的稳定性和准确性。在金融行业,CPK可以用于评估股票价格波动的稳定性和准确性。
cpk计算公式
CPK计算公式
CPK是一种统计指标,用于衡量一个过程的稳定性和能力。它是根据过程的长期和短期变异性来计算的。在质量管理中,CPK是一个重要的指标,可用于分析数据并评估过程的性能。
CPK的定义
CPK是指标的两个方面的能力指标:
•过程能力指数(Cp):衡量了过程的长期稳定性。
•过程性能指数(Cpk):衡量了过程的稳定性与目
标值之间的偏离程度。
CPK指数可以被用来判断一个过程是否满足规范的要求,
以及过程的潜在偏离程度。
CPK计算公式
CPK可以根据以下公式进行计算:
CPK = min(CPU, CPL)
其中,
•CPU (Upper Process Capability Index):过程能力的上限指数,表示了过程的离散程度与目标值的偏离程度。
它可以被计算为:
CPU = (USL - μ) / (3 * σ)
其中,USL是上限规格限制(Upper Specification Limit),μ是过程的平均值,σ是过程的标准差。
•CPL (Lower Process Capability Index):过程能力
的下限指数,表示了过程的离散程度与目标值的偏离程度。
它可以被计算为:
CPL = (μ - LSL) / (3 * σ)
其中,LSL是下限规格限制(Lower Specification Limit),μ是过程的平均值,σ是过程的标准差。
根据以上公式,CPK的值将介于CPU和CPL之间,取较小的一个作为最终的CPK值。越接近1的CPK指数表示过程越稳定,越远离1的CPK指数表示过程越不稳定。
CPK公式计算详解
CPK公式计算详解
CPK公式是一种常用的统计工具,用于衡量过程的稳定性和能力。它
可以帮助我们了解过程的变化范围,并判断过程是否能够在规定的上下限
内保持稳定。CPK公式的计算过程相对简单,但理解其原理和作用非常重要。下面将详细介绍CPK公式的计算过程。
首先,我们需要收集一组过程数据。这些数据可以是产品尺寸、重量、时间等具体的测量值。假设我们有n个测量值,可以表示为x1, x2, ..., xn。
然后,我们需要计算平均值和标准差。平均值可以用以下公式计算:mean = (x1 + x2 + ... + xn) / n
标准差可以用以下公式计算:
std = sqrt(((x1 - mean)^2 + (x2 - mean)^2 + ... + (xn - mean)^2) / n)
接下来,我们需要确定过程的上下限。这些上下限可以是产品的规格
要求,或者是制定的过程控制上下限。假设上限为USL,下限为LSL。
CPK上限可以用以下公式计算:
CPK_upper = (USL - mean) / (3 * std)
CPK下限可以用以下公式计算:
CPK_lower = (mean - LSL) / (3 * std)
计算出CPK上限和CPK下限后,我们可以得到CPK值。CPK值取CPK
上限和CPK下限中较小的一个,表示过程向上限或下限的最大偏差。CPK
值越接近1,说明过程的稳定性和能力越好。
CPK = min(CPK_upper, CPK_lower)
除了CPK值,我们还可以计算CPU和CPL值。CPU代表过程上限的偏
CPK值计算公式讲解
CPK值计算公式讲解
CPK值是用来评估一个过程的稳定性和能力的一种统计指标。它可以
告诉我们过程的偏差程度,以及过程的能力是否足够满足规范要求。CPK
值是通过测量过程上下限和过程标准差来计算的。
CPK = min((USL-μ)/(3σ),(μ-LSL)/(3σ))
其中,CPK代表过程的能力指数;USL代表过程的上限规范;LSL代
表过程的下限规范;μ代表过程的平均值;σ代表过程的标准差。
接下来,我们将详细讲解如何计算CPK值:
第一步:确定过程的上限规范(USL)和下限规范(LSL)。这是根据
产品或过程的规格要求决定的,可以是尺寸、重量、温度或其他相关指标。
第二步:收集足够的样本数据。这些样本应该代表整个过程的特性和
变异情况。样本大小取决于过程的复杂性和稳定性要求。
第三步:计算样本的平均值(μ)和标准差(σ)。平均值是样本数
据的总和除以样本数量,标准差是用来衡量数据集中程度的一种统计量。
第四步:计算CPK值。根据上述公式,将上限规范、下限规范、平均
值和标准差代入公式中即可得到CPK值。
第五步:解读CPK值。CPK值的解读是根据标准规范来确定的。通常
来说,CPK值大于1.33表示过程稳定且能力良好,小于1.33但大于1.0
表示过程稳定但能力可能不够,小于1.0表示过程不稳定或能力不足。
需要强调的是,CPK值只是过程能力的一种指标,它并不能完全代表
过程的质量水平。在实际应用中,还需要综合考虑其他指标和情况,如过
程的特征、特殊因素等。
总结起来,CPK值是一种用来评估过程稳定性和能力的指标,通过比较过程的上下限规范和过程的平均值及标准差来计算。它的计算公式简单明了,但是解读和应用需要结合具体情况和标准要求。
cpk计算公式详细
cpk计算公式详细
Cpk,也称为“潜能可利用系数”,是一种关于产品或过程质量绩效指标,用于衡量产品和过程的可用性。该系数是在质量控制,特别是统计过程控制(SPC)中使用的一种标准,用于测量产品与其规格要求之间存在的距离。例如,一个产品的原材料质量可以通过检查其统计参数来测量,例如平均值,标准偏差等。
Cpk的计算公式定义如下:
Cpk= min(Cp, Cp + 3σ/|Mean- Target|)
其中,Cp=σ/|Mean- Target|。
Cpk是一个比率,表示比标准规格更宽松的条件下,过程的可用性。它的理解非常重要,因为它直接关系到产品质量和过程稳定性。 Cpk过程可以分为三个步骤:
1.确定目标和允收规范:
在计算Cpk之前,必须确定标准和目标值。标准和目标值是产品或过程的质量等级,必须根据生产需求来设置。
2.计算原始数据:
收集有关原始产品或过程数据,包括平均值,标准偏差,规范率和总体因子,以及任何其他有关的参数。
3.计算Cpk:
根据步骤1和步骤2获得的原始数据,计算Cpk值。Cpk计算公式详解如下:
Cpk= min(Cp,Cp + 3σ/|Mean- Target|)
其中:
Cp(过程能力指数)=σ/|Mean- Target|
σ:样本标准偏差
Mean:样本平均值
Target:规范要求的目标值
Cpk的值有三个:负Cpk、零Cpk和正Cpk。
负Cpk(小于0)表示原始值落在允收规范外。
零Cpk表示原始值刚好位于允收规范之外,而正Cpk(大于零)表示原始值落在允收规范内。
Cpk的取值可以从0到无穷大。它的值取决于步骤1和2中输入的原始数据,如平均值,标准偏差等。
cpk计算公式详细
cpk计算公式详细
CPK,即Cp、Cpk和Cpm,是能够描述过程能力的重要指标。其中,Cp为<有效性指标,
Cpk为“程度比较指标”,而Cpm为“变异比较指标”。
Cp指标是基于正态分布状态,即认为过程输出跟正态分布有关,它反映了生产过程能劦程度。假定正态分布状态,考虑生产过程的变异,当生产过程不确定时,采用正态分布状态,使用Cp进行数据解释,把样本视为随机变量,并采用工业统计学技术,可以检验该过程
的有效性。
Cp=(USL-LSL)/(6σ)
其中USL为上控制限,LSL为特定时期的下控制限,σ为求出的总体标准差。
指标Cpk可直接使用先前提及的Cp正态分布表来计算,它能反映生产过程偏离中心位置
的程度,有助于判断是否存在偏差,以及偏差的程度。
Cpk=((USL-μ)/(3σ)+(μ-LSL)/(3σ))
其中μ,又称中心位置,为预期的过程均值。
指标Cpm指的是单次变异比较指标,而Cpk可看做是求到批内变异比较指标,受理论认识
和客观规律,他们对事件信息的价值差不太多。
Cpm=(USL-LSL)/(6x)
其中x为变异数据各个样本,可以是极差、组内极差或误差等指标。
总之,CpK和CPM是用来评估过程质量有效性和可控性的重要检验工具,它们通过计算Cp、Cpk和Cpm来比较过程的质量,为改进过程的质量,提供客观的指导。同时,Cp/Cpk/Cpm
指标可以提前发现潜在的质量问题,帮助企业更好地优化生产管理,提高产品质量,降低
成本,改善企业的经营效率。
CPK计算公式
Alan.liu
CPK计算公式
8. 依据公式:Ca=(X-U)/(T/2) , 计算出制程准确度:Ca值
9. 依据公式:Cp =T/6 σ , 计算出制程精密度:Cp值
10. 依据公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) , 计算出制程能力指数: Cpk值 11. Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数 做相应对策)
0.373 2.847 1.864 0.136
0.373 2.970 1.816 0.184
0.308 3.078 1.777 0.223
Alan.liu
Cpk应用讲议 CPK计算公式
1. Cpk的中文定义为:制程能力指数 2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp.
Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系: Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),
cpk与合格率计算公式
cpk与合格率计算公式
CPK是一种用于度量过程的稳定性和能力的统计指标,通常用于制造业中的质量控制和改进。CPK计算公式如下:
CPK = min(USL-μ, μ-LSL) / 3σ
其中,USL是上限规格,LSL是下限规格,μ是平均值,σ是标准差。
同时,合格率也是评估过程能力的重要指标之一。合格率计算公式如下:
合格率 = (总数量-不合格数量) / 总数量
通过CPK和合格率的计算,可以评估一个过程的控制能力和产品的质量水平。这些指标能够帮助制造商确定哪些过程需要改进,以及优化过程的方法。
- 1 -
cpk计算公式及详细解释
cpk计算公式及详细解释
cpk(简称:Cp)是一个统计指标,它可以衡量特定程序的质量水平。Cp评估是指对过程的控制状况(特别是在稳定的工艺过程中)的评估。利用该指标,可以清楚地了解过程的控制水平,从而快速、有效地发现未控制的过程,从而可以采取措施进行优化,从而改善产品质量。
Cpk由以下公式组成:
Cpk = min ( (T1 me) / (3σ) , (T2 me) / (3σ) ) 其中,T1和T2分别是规定的控制限,me是样本的平均值,σ是样本的标准差。
Cpk的计算方法及其解释:
1、先确定规定控制限:既然要评估控制能力,那就要首先确定规定的控制限,即T1和T2,T1和T2分别是工艺上最高接受限度和最低接受限度,均为小于或等于0;
2、计算样本的平均值:随后,利用样本测量结果计算出样本的平均值me,统一按照标准计算;
3、计算样本的标准差:接下来,用测量结果计算样本的标准差σ,取其绝对值;
4、计算Cpk:最后,使用以上参数计算Cpk,公式如上所示;
5、解释Cpk:Cpk的值反映了过程的控制水平,Cpk的取值范围一般是0到10,
若Cpk的取值在0-1之间,表明过程的控制水平低,需要重新检
查并找出数据中的异常值;
若Cpk的取值在1-2之间,表明过程的控制水平一般,需要多做努力,提高控制水平;
若Cpk的取值在2-3之间,表明过程的控制水平良好,但仍可能存在较小改进空间;
若Cpk的取值在3-4之间,表明过程的控制水平非常良好,此时可以进行改善,以进一步提高控制水平;
若Cpk的取值大于4,表明过程的控制水平非常出色,可以放心使用。
cpk的计算公式
cpk的计算公式
CPK计算公式是一个常用的工业标准的计算公式,用于衡量产品的特征和质量稳定性。它是由美国统计学家Walter A. Shewhart在1931年提出的,一直被广泛使用。它是一个简单的计算公式,可以用来测量过程能力,以确定过程是否稳定,以及任何时候可以符合规定的质量标准。
CPK公式的全称是“过程能力指数”,它是一个数量衡量,用于衡量过程的质量稳定性。它提供了一种可靠的方法来衡量产品的质量。它是一个统计学概念,用来衡量一个过程的能力,以及它是趋向于实现规定的质量标准的可能性。
CPK计算公式的基本结构是:Cpk=(USL-X)/(3σ),其中USL是上限规格限,X是样本均值,σ是样本标准差。它可以用来衡量过程的稳定性,也可以用来评估一个过程是否符合规定的质量标准。
CPK计算公式是一个简单而有效的计算工具,可以用来评估产品的质量稳定性。它可以帮助企业更好地评估产品质量,以便为消费者提供更高质量的产品。它同样可以帮助企业更好地控制产品的质量,以提高企业的竞争力。
cpk规格上限与下限的计算
cpk规格上限与下限的计算
CPK是过程能力指数,用于衡量一个过程的性能。CPK的计算涉及到规格上限(USL)和规格下限(LSL)。
规格上限(USL)和规格下限(LSL)的计算公式如下:
USL = T + 3σ
LSL = T - 3σ
其中,T是规格公差,σ是过程的标准差。
CPK的计算公式如下:
CPK = (USL - LSL) / (6σ)
其中,σ是过程的标准差。
以上信息仅供参考,如有需要,建议咨询专业技术人员。
设备cpk计算公式及解释
设备cpk计算公式及解释
1.什么是C PK?
C P K是一种统计分析方法,用于评估过程能力或产品质量的稳定性。
它是基于过程真实数据进行计算,可以帮助我们判断一个过程是否能够稳定地满足要求的产品规格。
2. CP K的定义和计算公式
C P K通过计算过程能力指数来评估过程的稳定性和能力。C PK的计算
公式如下:
C P K=mi n(US L-μ,μ-LS L)/(3*σ)
其中,U SL代表上限规格限制,L SL代表下限规格限制,μ代表过程
的平均值,σ代表过程的标准差。
3. CP K的解释
C P K的数值范围从0到1,数值越大代表过程的稳定性和能力越好。
根据CP K的数值可以进行以下解释:
-当CP K值等于1时,表示过程的规格限制被充分满足,产品质量非
常稳定。
-当CP K值小于1时,表示过程的规格限制没有被完全满足,产品质
量存在一定的波动性。
-当CP K值接近0时,表示过程的规格限制很难被满足,产品质量非
常不稳定。
4.如何计算C P K?
计算CP K需要收集过程的数据样本,并计算出样本的平均值和标准差。以下是计算C PK的步骤:
步骤1:收集一定数量的样本数据,确保样本具有代表性。
步骤2:计算样本的平均值μ和标准差σ。
步骤3:确定产品的上限规格限制(U SL)和下限规格限制(L S L)。
步骤4:代入计算公式,计算出C PK的数值。
5. CP K的应用
C P K广泛应用于制造业中,特别是在产品质量控制和过程改进方面。它可以帮助企业评估和监控生产过程的稳定性,并通过改进过程来提高产品的质量。
cpk的计算公式
cpk的计算公式
CPK计算公式是统计控制图中使用的一种有效方法,用于测量过程中的稳定性和可靠性。它提供了一种快速、有效的方法来确定过程中可能出现的潜在问题,从而使得能够及时采取行动来解决问题,避免更大的损失。
CPK计算公式是根据过程和质量控制的原则构建的一种数学工具,用于衡量过程的稳定性和可靠性。它的计算方法很简单,只需要以下几个数据:
1. 过程的中心值(C)-也称为标准值,即过程期望的输出值。
2. 过程的标准差(σ)-过程的变异度。
3. 指定的允许范围(A)-过程输出的允许范围。
CPK计算公式如下:
CPK = min(C-A/2σ,A/2-C/σ)
该公式允许我们测量过程中实际输出和期望输出之间的偏差,并且可以识别出过程中的可靠性和稳定性的变化。
CPK计算公式的使用可以帮助我们确定过程的可靠性,从而使得我们能够及时采取行动来改善过程,从而提高产品的质量。此外,该公式还能帮助我们找出系统中可能出现的潜在问题,从而避免更大
的损失。
总的来说,CPK计算公式是一个强大的工具,可以帮助我们更好地控制过程,提高产品的质量,并有效地确定过程中可能出现的潜在问题。
工程能力cpk 计算公式
工程能力cpk 计算公式
工程能力指标(Cpk)是一种用于评估工程过程能力的统计指标,能够客观地衡量工程过程的稳定性和一致性。Cpk的计算公式如下:
Cpk = min[(USL-μ)/3σ, (μ-LSL)/3σ]
其中,USL代表上限规格限制,LSL代表下限规格限制,μ代表工程过程的平均值,σ代表工程过程的标准差。
Cpk的取值范围为0到1,数值越接近1代表工程过程能力越强,越接近0代表工程过程能力越弱。当Cpk大于1时,表明工程过程能够满足规格要求;当Cpk小于1时,表明工程过程存在偏离规格要求的风险。
对于一个工程过程而言,Cpk的计算需要收集一定的数据样本。首先,需要确定上限规格限制和下限规格限制,这是根据产品或工艺要求所给定的。其次,需要收集一定数量的样本数据,如生产过程中的产品尺寸或质量数据。通过对这些样本数据进行统计分析,可以得到工程过程的平均值和标准差。最后,将这些数据代入Cpk的计算公式中,即可得到工程能力指标Cpk的值。
Cpk的计算结果可以提供以下几方面的信息:
1. 工程过程的稳定性:Cpk值越接近1,说明工程过程越稳定,产品或工艺的变异性较小,可以更好地满足规格要求。
2. 工程过程的一致性:Cpk值越接近1,说明工程过程越一致,产品或工艺的平均值与目标值接近,有助于提高产品质量和工艺稳定性。
3. 工程过程的改进需求:当Cpk值小于1时,说明工程过程存在偏离规格要求的风险,需要采取相应的改进措施,提高工程过程的能力。
Cpk作为一种常用的工程能力指标,在制造业和质量管理中得到广泛应用。通过对工程过程的定量评估,可以帮助企业了解产品质量和工艺稳定性的状况,及时采取有效的措施来提高产品的一致性和稳定性,减少产品的不合格率和质量风险,提高生产过程的效率和竞争力。
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Cp<0.83 0.83≦ 0.83≦Cp<1.0 1.00≦Cp<1.33 ≦ 1.33≦Cp ≦
SL U SU 規格下限 規格中心 規格上限
40 • C.精確度 精確度Cpk(制程能力指數 制程能力指數): 精確度 制程能力指數 Cpk=(1-Ca )*Cp= Su-X 或 3a -(SL-X) 之最小值 3a
合格
s
Sl 3 1.33>Cp≧1.00 ≧ Su 警告 使制程保持於管 制狀態,否則產品 制狀態 否則產品 隨時有發生不良 品的危險,需注意 需注意. 品的危險 需注意 產品有不良品產 需作全數遷別, 生,需作全數遷別 需作全數遷別 制程有妥善管理 及改善之必要. 及改善之必要 應採取緊急措施, 應採取緊急措施 改善品質並追究 原因,必要時規格 原因 必要時規格 再作檢討. 再作檢討
直方圖的應用: 直方圖的應用 • 1.測知制程能力 作為制程改善依據 測知制程能力,作為制程改善依據 測知制程能力 作為制程改善依據. 標準差S愈小愈好 平均值越接近規格中限越好. 愈小愈好,平均值越接近規格中限越好 標準差 愈小愈好 平均值越接近規格中限越好 平均值X= 平均值 標準值S= 標準值 正態分布: 正態分布
-3r
-2r -1r
X
+1r +2r +3r +4r +5r +6r
百萬分缺點數 317400 45500 2700 63 0.57 0.002
百分比(%) 68.26 95.45 99.73 99.9937 99.999943 99.9999998
常態分配 規格中心值往左、右移動 規格中心值往左、右移動1.5r 1.5r 規格下限 1.5r
它是Ca與 的綜合體現 既考慮了平均值偏離、 的綜合體現,既考慮了平均值偏離 它是 與Cp的綜合體現 既考慮了平均值偏離、規格中心的情 又考慮了分布範圍與規格範圍的比較.它反映了一個制程在一 形,又考慮了分布範圍與規格範圍的比較 它反映了一個制程在一 又考慮了分布範圍與規格範圍的比較 定的因素與正常管制狀態下的品質作業能力,在規格確定后 在規格確定后,平均 定的因素與正常管制狀態下的品質作業能力 在規格確定后 平均 值不偏離規格中心的情形幾乎不存在,因此 就有了Cpk. 因此,就有了 值不偏離規格中心的情形幾乎不存在 因此 就有了
制程能力指數判定表: 制程能力指數判定表
NO.
1
41
制程能力判斷
太佳
Cp
Cp≧1.67 ≧
分布與規格之關係
Sl Su
處
置
s
Sl Su
制程能力太好,可 制程能力太好 可 酌情縮小規格,或 酌情縮小規格 或 考慮簡化管理與 降低成本. 降低成本 理想狀態,繼續維 理想狀態 繼續維 持.
2
1.67>Cp≧1.33 ≧
43
規格上限பைடு நூலகம்
-6r -5r
-4r
±Kr ±1r ±2r ±3r ±4r ±5r ±6r
-3r
-2r -1r
X
+1r +2r +3r +4r +5r +6r
百萬分缺點數 697700 308700 66810 6210 233 3.4
百分比(%) 30.23 69.13 93.32 99.3790 99.97670 99.999660
44 • 3.調查是否混入兩個以上不同群體 調查是否混入兩個以上不同群體: 調查是否混入兩個以上不同群體 兩個不同操作者,兩台不同機器 兩種不同材料,兩條不同生 兩台不同機器,兩種不同材料 兩個不同操作者 兩台不同機器 兩種不同材料 兩條不同生 產線者. 產線者 • 4.測知有無假數據 有無因測定誤差或檢查錯誤導致之假數 測知有無假數據:有無因測定誤差或檢查錯誤導致之假數 測知有無假數據 絕壁型). 據(絕壁型 絕壁型 • 5.測知分配型態 了解制程有無異常 測知分配型態,了解制程有無異常 測知分配型態 了解制程有無異常. • 6.藉以訂定規格界限 如為常態分布 一般來說 藉以訂定規格界限:如為常態分布 一般來說,X+45為規 藉以訂定規格界限 如為常態分布,一般來說 為規 格上限,X-45為規格下限 格上限 為規格下限. 為規格下限
X1+X2+….+Xn N
2 2
代表集中趨勢. 代表集中趨勢
2
(X1-X) +(X2-X) +….+(Xn-X) n-1
規格下限 規格上限
代表分散程度. 代表分散程度
兩邊無限延伸,當 兩邊無限延伸 當3S= T 時,其分布規格範圍占總數據分布範 其分布規格範圍占總數據分布範 2 圍的99.7%. 圍的
三個重要指標: 三個重要指標
• A.準確度 準確度Ca(Capability of Accuracy). 準確度
0 12.5% 25% 50%
38
100%
規 格 中 心 (u) Ca =
A級 級 B級 級 C級 級 D級 級
規 格 上 下 限
-
X-U (%)= (%) T/2
39 • B.精密度 精密度Cp(Capability of precision) 精密度 Cp= T = 6r 6r 6r 6r 6r 規格容許差 6倍標準偏差 倍標準偏差 D級 級 C級 級 B級 級 A級 級
s
Sl 4 1.00>Cp≧0.67 ≧ Su 不足
s
Sl 5 0.67>Cp Su 非常不足
s
2.計算產品不良率 計算產品不良率: 計算產品不良率
常態分配 (規格中心不偏移 規格中心不偏移) 規格中心不偏移
42
規格下限
規格上限
-6r -5r
-4r
±Kr ±1r ±2r ±3r ±4r ±5r ±6r