光电探测实验讲义(三实验版)

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光电检测技术讲义稿3

光电检测技术讲义稿3


金属材料-正温度系数热敏电阻(PTR)
Positive Temperature Coefficient (PTC) thermistors
一般金属的能带结构外层无禁带,自由电子密度很 大,以致外界光作用引起的自由电子密度相对变化 较半导体而言可忽略不计。吸收辐射产生温升后, 自由电子浓度的增加是微不足道的。相反,因晶格 振动的加剧妨碍了自由电子作定向运动,从而电阻 温度系数是正的.
热电偶测温电路原理
铜镍合金 铜
中间插入的同质导线 将不会改变热电 偶回路的电势

前放电路需高阻
参考端置于0℃冰水中
铜镍合金 (铝镍合金)
铁 (镍铬合金)

AD595是AD公司生产的一款热电偶放大 器,他将仪器放大器和热电偶冷接头补偿器 全部集成在一块单片芯片上,产生一个 10mV/℃的输出。
z
中,如果导体的两个结点存在温度差,这开路中将产生电动势E, 也称作温差电动势( 1821年,德国物理学家塞贝克 )。 ):两种不 同的导体接触面,由于其内部电子密 度不同,使得自由电子从密度高处扩 散到低处,从而产生电位差,称为帕 尔贴电势:
¾帕尔贴电势(peltier
A
E AB (T ) =
EAB
《光电检测技术 》
赵 斌 机械学院 仪器系
热电探测器
(Temperature Sensor)

热电偶

热敏电阻热释电来自三种主要的热电效应
温差电效应:温差产生电动势

热电偶和热电堆 测辐射热计(Bolometer) 热释电探测器

电阻温度效应:辐射引起电阻率变化


热释电效应 :辐射变化引起表面电荷变化

光电探测实验报告

光电探测实验报告

光电探测技术实验报告班级:10050341学号:05姓名:解娴实验一光敏电阻特性实验一、实验目的1.了解一些常见的光敏电阻的器件的类型;2.了解光敏电阻的基本特性;3.测量不同偏置电压下的光敏电阻的电压与电流,并作出V/A曲线。

二、实验原理伏安特性显示出光敏电阻与外光电效应光电元件间的基本差别。

这种差别是当增加电压时,光敏电阻的光电流没有饱和现象,因此,它的灵敏度正比于外加电压。

光敏电阻与外光电效应光电元件不同,具有非线性的光照特性。

各种光敏电阻的非线性程度都是各不相同的。

大多数场合证明,各种光敏电阻均存在着分析关系。

这一关系为=ΦI kαΦ式中,K为比例系数;是永远小于1的分数。

光电流的增长落后于光通量的增长,即当光通量增加时,光敏电阻的积分灵敏度下降。

这样的光照特性,使得解算许多要求光电流与光强间必需保持正比关系的问题时不能利用光敏电阻。

光照的非线性特性并不是一切光敏半导体都必有的。

目前已有就像真空光电管—样,它的光电流随光通量线性增大的光敏电阻的实验室试样。

光敏电阻的积分灵敏度非常大,最近研究出的硒—鎘光敏电阻达到12A/lm,这比普通锑、铯真空光电管的灵敏度高120,000倍。

三、实验步骤1、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流按照图1接线,电源可从+2V~+8V间选用,分别在暗光和正常环境光照下测出输出电压V暗和V亮。

则暗电流L暗=V暗/RL,亮电流L亮=V亮/RL,亮电流与暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。

2、伏安特性光敏电阻两端所加的电压与光电流之间的关系即为伏安特性。

按照图1接线,分别测得偏压为2V、4V、6V、8V、10V时的光电流,并尝试高照度光源的光强,测得给定偏压时光强度的提高与光电流增大的情况。

将所测得的结果填入表格并做出V/I曲线。

图1光敏电阻的测量电路偏压2V4V6V8V10V12V 光电阻I四、实验数据实验数据记录如下:光电流:E/V246810U/V0.090.210.320.430.56I/uA1427.54255.270.5暗电流:0.5uA实验数据处理:拟合曲线如下:五、实验结论通过本次实验了解了一些常用的光敏电阻的类型、内部结构及其基本特性,也熟练掌握了光敏电阻的特性测试的方法。

光电探测器特性测量实验实验讲义

光电探测器特性测量实验实验讲义

光电探测器特性测量实验实验讲义大恒新纪元科技股份有限公司所有不得翻印光电探测器特性测量实验一、 引言光电探测器可将一定的光辐射转换为电信号,然后经过信号处理,去实现某种目的,它是光电系统的核心组成部分,其性能直接影响着光电系统的性能。

因此,无论是设计还是使用光电系统,深入了解光电探测器的性能参数都是很重要的。

通常,光电探测器的光电转换特性用响应度表示。

响应特性用来表征光电探测器在确定入射光照下输出信号和入射光辐射之间的关系。

主要的响应特征包括:响应度、光谱响应、时间响应特性等性能参数。

本实验内容主要是光电探测器性能参数测量和光电探测器的一般使用方法,并专门列举了几种常用的光电探测器的使用方法。

第一部分 光电探测器光谱响应度的测量光谱响应度是光电探测器的基本性能参数之一,它表征了光电探测器对不同波长入射辐射的响应。

通常热探测器的光谱响应较平坦,而光子探测器的光谱响应却具有明显的选择性。

一般情况下,以波长为横坐标,以探测器接收到的等能量单色辐射所产生的电信号的相对大小为纵坐标,绘出光电探测器的相对光谱响应曲线。

典型的光子探测器和热探测器的光谱响应曲线如图1-1所示。

一.基本原理光谱响应度是光电探测器对单色入射辐射的响应能力。

电压光谱响应度()λRv 定义为在波长为λ的单位入射辐射功率的照射下,光电探测器输出的信号电压,用公式表示,则为()()()λλλP V Rv = (1-1) 而光电探测器在波长为λ的单位入射辐射功率的作用下,其所输出的光电流叫做探测器的电流光谱响应度,用下式表示()()()λλλP I R i = (1-2) 式中,()λP 为波长λ时的入射光功率;()λV 为光电探测器在入射光功率()λP 作用下的输出信号电压;()λI 则为输出用电流表示的输出信号电流。

这里用响应度和波长无关的热释电探测器作参考探测器,测得入射光功率为()λP 时的输出电压为()λf V 。

若用f R 表示热释电探测器的响应度,则显然有()()f f f K R V P λλ=(1-3)这里f K 为热释电探测器前放和主放放大倍数的乘积,即总的放大倍数。

光电检测技术实验讲义

光电检测技术实验讲义

光电检测技术实验指导书电气工程学院目录实验一半导体激光器工作域值及输出功率特性的测量 (2)实验二半导体激光器输出光谱特性曲线的测量 (9)实验三光电探测原理及特性测试(综合性) (13)实验四* CCD输出特性及二值化处理实验 (22)实验五 PSD位移传感器特性实验 (28)实验六反射式光纤位移传感器原理及定标实验 (32)实验七光电报警系统设计(设计性) (38)实验一 半导体激光器工作域值及输出功率特性的测量一、实验目的测试半导体激光器工作域值,测量输出功率-电流(P-I )特性曲线和输出功率的稳定性,从而对半导体激光器工作特性有个基本了解。

二、实验内容1、测试YSLD3125型半导体激光器工作域值。

2、测试YSLD3125型半导体激光器输出功率与电流(P-I )特性曲线。

3、测试YSLD3125型半导体激光器注入电流为30mA 时输出功率的稳定性。

三、实验仪器1、YSLD3125型半导体激光器(带尾纤输出,FC 型接口) 1只2、ZY606型LD/ LED 电流源 1台3、光功率计 1台4、万用表 1只四、实验原理1、激光器一般知识激光器是使工作物质实现粒子数反转分布产生受激辐射,再利用谐振腔的正反馈,实现光放大而产生激光振荡的。

激光,其英文LASER 就是Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation (受激辐射的光放大)的缩写。

激光的本质是相干辐射与工作物质的原子相互作用的结果。

尽管实际原子的能级是非常复杂的,但与产生激光直接相关的主要是两个能级,设E u 表示较高能级,E l 表示较低能级。

原子能在高低能级间越迁,在没有外界影响时,原子可自发的从高能级越迁到低能级,并伴随辐射一个频率为h E E l u /)(-=ν的光子,这过程称自发辐射。

若有能量为l u E E h -≥ν的光子作用于原子,会产生两个过程,一是原子吸收光子能量从低能级越迁到高能级,同时在低能级产生一个空穴,称为受激越迁或受激吸收,此激发光子消失;二是原子在激发光子的刺激下,从高能级越迁到低能级,并伴随辐射一个频率h E E l u /)(-=ν的光子,这过程称受激辐射。

光电检测实验讲义 (新) 王孟禄 张忠锁(1)

光电检测实验讲义  (新)  王孟禄 张忠锁(1)

光电检测技术实验讲义王孟禄张忠锁河南大学物理与电子学院测控工程系2012年1月目录实验一光敏电阻特性测试及分析 (3)实验二光敏二极管、光敏三极管特性测试 (7)实验三红外光电报警系统设计 (10)实验四光纤温度传感器实验 (15)实验五光纤压力传感器实验 (18)实验六红外遥控系统设计 (21)实验七光纤位移实验 (25)实验八热释电传感器实验 (28)实验九光电技术创新实验(选作) .................(见资料)实验一光敏电阻特性测试及分析一、实验目的1、了解光敏电阻的基本特性和基本应用;2、掌握光敏电阻的工作原理及特性测试的方法。

二、实验内容1、光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻;2、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流;3、光敏电阻的光谱特性;4、伏安特性;5、光电特性;6、温度特性。

三、实验原理在光照作用下,能使物体的的电导率改变的现象称为光电导效应。

光敏电阻是利用半导体的光电导效应制成,其电阻值随入射光的强弱而改变。

半导体的导电能力取决于半导体导带内载流子数目的多少。

当光敏电阻受到光照时,价带中的电子吸收光子能量后跃迁到导带,成为自由电子,同时产生空穴,半导体中的载流子数目增加,电导率增加使电阻率变小。

光照愈强,光生电子—空穴对就越多,阻值就愈低。

入射光消失,电子-空穴对逐渐复合,电阻也逐渐恢复原值。

光敏电阻器一般用于光的测量、光的控制和光电转换。

1.光敏电阻的结构与接线图:如下图所示。

2.光敏电阻的主要参数(1)暗电阻:光敏电阻在不受光照射时的阻值称为暗电阻,此时流过的电流称为暗电流。

(2)亮电阻:光敏电阻在受光照射时的电阻称为亮电阻,此时流过的电流称为亮电流。

(3)光电流:亮电流与暗电流之差称为光电流。

(4)光谱范围、峰值波长和时间常量等。

3、光敏电阻的种类根据光敏电阻的光谱特性,制作光敏电阻的材料不同,可分为三种光敏电阻器:(1)紫外光敏电阻器:对紫外线较灵敏,包括硫化镉、硒化镉光敏电阻器等,用于探测紫外线。

光电探测实验报告总结(3篇)

光电探测实验报告总结(3篇)

第1篇一、实验目的本次实验旨在通过实际操作,了解光电探测的基本原理和实验方法,掌握光电探测器的性能测试技术,并分析光电探测在现实应用中的重要性。

实验过程中,我们对光电探测器的响应特性、灵敏度、探测范围等关键参数进行了测试和分析。

二、实验原理光电探测器是一种将光信号转换为电信号的装置,广泛应用于光电通信、光电成像、环境监测等领域。

实验中,我们主要研究了光电二极管(Photodiode)的工作原理和特性。

光电二极管是一种半导体器件,当光照射到其PN结上时,会产生光生电子-空穴对,从而产生电流。

三、实验仪器与材料1. 光电二极管2. 光源(激光笔、LED灯等)3. 光电探测器测试仪4. 示波器5. 数字多用表6. 光纤连接器7. 光学平台8. 环境温度计四、实验步骤1. 光电二极管性能测试(1)将光电二极管与光源、测试仪连接,确保连接牢固。

(2)调整光源强度,观察光电探测器输出电流的变化,记录不同光照强度下的电流值。

(3)测试光电二极管在不同波长下的光谱响应特性,记录不同波长下的电流值。

2. 光电探测器灵敏度测试(1)调整环境温度,观察光电探测器输出电流的变化,记录不同温度下的电流值。

(2)改变光源距离,观察光电探测器输出电流的变化,记录不同距离下的电流值。

3. 光电探测器探测范围测试(1)在固定光源强度下,调整探测器与光源的距离,观察输出电流的变化,记录探测范围。

(2)在固定探测器与光源的距离下,调整光源强度,观察输出电流的变化,记录探测范围。

五、实验结果与分析1. 光电二极管性能测试实验结果表明,随着光照强度的增加,光电二极管输出电流逐渐增大。

在相同光照强度下,不同波长的光对光电二极管输出的电流影响不同,表明光电二极管具有光谱选择性。

2. 光电探测器灵敏度测试实验结果显示,随着环境温度的升高,光电二极管输出电流逐渐增大,表明光电探测器对温度具有一定的敏感性。

同时,在光源距离变化时,光电探测器输出电流也相应变化,说明光电探测器的探测范围与光源距离有关。

光电检测试验讲义

光电检测试验讲义

实验一光敏电阻特性参数测量及暗光街灯实验一、实验目的:1、了解光敏电阻的电阻特性,掌握光敏电阻的伏安特性及其随光照强度的变化规律。

2、利用光敏电阻的电阻变化特性,将之作为街灯自动点亮与熄灭的传感器件,掌握基于光敏电阻的暗光街灯的工作原理及应用。

二、实验原理:光敏电阻是最典型的光电效应器件,即其电导率随光照强度而发生变化。

半导体光电导器件是利用半导体材料的光电导效应制成的光电探测器件。

本实验旨在测定光敏电阻在不同光照环境下的电阻值,并测定其伏安特性随光照强度的变化规律。

根据实验测定,光敏电阻的电阻值随光亮度的增大而迅速减小。

利用这一特性,设计了暗光街灯演示实验。

其原理是当环境变暗时光敏电阻的阻值增大,当亮度降低到一定值时,即光敏电阻值增大到某一阈值时,光电传感电路系统自动点亮小灯泡,从而到达与暗光街灯相似的目的。

三、实验所需单元:直流稳压电源,光敏电阻,数字电压表,电流〔毫安〕表,暗光街灯电路,小灯泡〔负载〕,万用表。

四、实验步骤:〔一〕光敏电阻特性测试图1.1 暗、亮电阻的测定图1.2 伏安特性测量电路(1) 光敏电阻的暗、亮电阻测定。

如图3.1所示,用万用表从光敏电子两端测定它在不同光照条件下的电阻值,将测得的结果填入表格。

(2) 光敏电阻伏安特性测定。

按图1.2所示连接各元件和单元,检查连接无误后,开启电源。

用一挡光物〔如黑纸片或瓶盖〕遮住光敏电阻〔视为全暗〕,分别接插不同的电压U值〔可调电压的获取:通过面板“电机控制1”或“电机控制2”的Vin输入5V,V out可输出如0.5,1.0,1.5,2.0,2.5,3.0,3.5,4.0,4.5,5.0V等不同电压值〕,利用电流表测定流过光敏电阻的电流值I,数字电压表测定U值。

改变光敏电阻的光照强度〔如全暗、日光灯、手电筒、激光照射〕,重复测定I与U的关系,可得到图1.3所示的伏安特性关系曲线族。

(3) 分析上述测量结果,进一步了解光敏电阻的光敏特性,掌握其中的变化规律。

光电探测综合实验报告

光电探测综合实验报告

一、实验目的1. 理解光电探测的基本原理和实验方法。

2. 掌握光电探测器的使用和调试技巧。

3. 学习光电探测实验的测量和分析方法。

4. 通过实验,加深对光电探测技术在实际应用中的理解和应用。

二、实验原理光电探测是利用光电效应将光信号转换为电信号的过程。

光电探测器是光电探测系统的核心部件,它将光信号转换为电信号,然后通过放大、滤波等电路处理后,输出可供进一步处理和利用的电信号。

本实验主要涉及以下光电探测器:光电二极管、光电三极管、光电耦合器等。

光电二极管是一种半导体器件,具有光电转换效率高、响应速度快、体积小等优点。

光电三极管是一种具有放大作用的光电探测器,它可以将微弱的光信号放大成较大的电信号。

光电耦合器是一种将输入信号的光电转换和输出信号的传输分开的器件,具有良好的隔离性能。

三、实验仪器与设备1. 光源:LED灯、激光笔等。

2. 光电探测器:光电二极管、光电三极管、光电耦合器等。

3. 放大器:运算放大器、低噪声放大器等。

4. 测量仪器:示波器、万用表等。

5. 连接线、测试板等。

四、实验内容及步骤1. 光电二极管特性测试(1)测试前准备:将光电二极管、放大器、示波器、万用表等仪器连接好。

(2)测试步骤:① 将光电二极管正向偏置,调整偏置电压,观察并记录光电二极管的伏安特性曲线。

② 将光电二极管反向偏置,调整偏置电压,观察并记录光电二极管的反向饱和电流。

③ 测量光电二极管的暗电流和亮电流。

2. 光电三极管特性测试(1)测试前准备:将光电三极管、放大器、示波器、万用表等仪器连接好。

(2)测试步骤:① 将光电三极管集电极、基极和发射极分别连接到电路中,调整基极偏置电压,观察并记录光电三极管的伏安特性曲线。

② 测量光电三极管的集电极电流、基极电流和发射极电流。

③ 测试光电三极管的电流放大倍数。

3. 光电耦合器特性测试(1)测试前准备:将光电耦合器、放大器、示波器、万用表等仪器连接好。

(2)测试步骤:① 将光电耦合器的输入端和输出端分别连接到电路中,调整输入端电压,观察并记录光电耦合器的传输特性曲线。

物理实验技术中如何进行光电探测实验

物理实验技术中如何进行光电探测实验

物理实验技术中如何进行光电探测实验光电探测实验是物理实验中常见的一个实验项目,通过光电效应原理来研究光与物质的相互作用。

在这个实验中,我们可以通过测量光电管中产生的电流来研究光的性质和光与物质之间的相互作用规律。

本文将介绍光电探测实验的基本原理、实验器材和实验步骤。

在进行光电探测实验之前,首先需要准备实验器材。

光电探测实验最基本的器材就是光电管,它是一种能够将光能转化为电能的装置。

在实验中,我们通常使用单色光或者白光照射在光电管表面,通过调节光强或光频来研究光电效应的规律。

此外,为了准确测量光电管中产生的电流,还需要设备如电流表和电压表等实验仪器。

在实验中,首先需要确定实验的目的和研究的问题。

例如,我们可以研究光电管中的最大光电流随入射光频率的变化规律,或者研究光电管中的光电流随光强的变化规律等。

明确研究问题之后,即可开始进行实验。

实验的第一步是测量光电管的特性曲线,即光电流随入射光强的变化关系。

这一步骤可以帮助我们了解光电管的工作特性,也是进行后续实验的基础。

为了测量光电管的特性曲线,我们需要将光电管连接到电路中,然后通过改变光强来测量光电流的变化。

实验中可以用可变电阻、滤波片或者光强调节器等来改变光强,从而得到一系列不同光强下的光电流值。

测量完光电管的特性曲线之后,我们可以开始研究光电管中的最大光电流随入射光频率的变化规律。

实验中,我们可以用单色光源来照射光电管,并通过改变光源的频率来测量光电流的变化。

测量光电流时,需要保持光强不变,只改变光频率。

根据测量结果,我们可以得到光电管中的最大光电流随光频率的变化关系。

通过对光电流和光频率的关系的研究,可以得到光电效应的基本规律。

除了研究光电流随光频率的变化规律外,我们还可以研究光电管中的光电流随入射光强的变化规律。

为了实现这一点,我们可以使用可变光强源来照射光电管,并通过改变光强来测量光电流的变化。

实验中,我们需要保持光频率不变,只改变光强。

通过测量光电流和光强的关系,可以得到光电流随入射光强的变化规律。

光电探测_电路实验报告

光电探测_电路实验报告

一、实验目的1. 了解光电探测的基本原理和电路组成。

2. 掌握光电探测器电路的设计方法和实验技能。

3. 熟悉光电探测器的性能测试方法,并分析实验结果。

二、实验原理光电探测器是将光信号转换为电信号的器件,其基本原理是光电效应。

当光照射到光电探测器上时,会产生光生电子,从而在探测器两端产生电信号。

本实验主要研究光电二极管和光敏电阻两种光电探测器。

三、实验仪器与设备1. 光源:LED灯、激光器等。

2. 光电探测器:光电二极管、光敏电阻等。

3. 放大器:低频放大器、高频放大器等。

4. 测量仪器:示波器、万用表、信号发生器等。

5. 实验电路板:包含光电探测器、放大器、电源等组件。

四、实验内容及步骤1. 光电二极管特性测试(1)搭建实验电路,将光电二极管与低频放大器相连,并接入电源。

(2)调整光源,使光照射到光电二极管上。

(3)使用示波器观察光电二极管输出信号的波形和幅度。

(4)改变光源强度,观察光电二极管输出信号的变化,分析光电二极管的响应特性。

2. 光敏电阻特性测试(1)搭建实验电路,将光敏电阻与低频放大器相连,并接入电源。

(2)调整光源,使光照射到光敏电阻上。

(3)使用示波器观察光敏电阻输出信号的波形和幅度。

(4)改变光源强度,观察光敏电阻输出信号的变化,分析光敏电阻的响应特性。

3. 光电探测器电路设计(1)根据实验要求,设计光电探测器电路,包括光电探测器、放大器、滤波器等组件。

(2)搭建实验电路,并接入电源。

(3)调整电路参数,使光电探测器电路满足实验要求。

4. 光电探测器电路性能测试(1)使用示波器观察光电探测器电路输出信号的波形和幅度。

(2)调整光源强度,观察光电探测器电路输出信号的变化,分析电路性能。

五、实验结果与分析1. 光电二极管特性测试结果(1)光电二极管输出信号随光源强度增加而增强,符合光电效应原理。

(2)光电二极管输出信号具有较好的线性关系,适合用于光电检测。

2. 光敏电阻特性测试结果(1)光敏电阻输出信号随光源强度增加而减小,符合光敏电阻特性。

光电探测原理实验

光电探测原理实验

光电探测原理实验以下是一个关于光电探测原理实验的简单介绍,包括实验步骤和实验结果的分析。

实验名称:光电效应实验实验目的:通过测量光电流对光强或光波长的变化,研究光电效应的机理。

实验原理:光电效应是指当金属或半导体材料受到光照时,会产生光电流或光电子。

根据爱因斯坦的光电效应理论,光电流的大小与光的强度成正比,与光的频率成非线性关系。

实验仪器:光电效应实验装置、电流计、光源、滤光片等。

实验步骤:1.搭建光电效应实验装置:将光源放在一端,将滤光片放在需要测量的光波长范围内,光线经过透镜后照射到光电阴极上。

2.调节滤光片,使得光电流在较大光强范围内变化。

记录下每个光强对应的电流值。

3.固定滤光片,调节光源的亮度,使得光强在较小范围内变化。

记录下每个光强对应的电流值。

4.整理数据,作图分析:根据实验记录的光强和电流数据,可以绘制出光强-电流的曲线。

根据实验结果,分析光电流与光强或光波长的关系。

实验结果分析:通过实验记录的数据,我们可以绘制出光强-电流的曲线。

根据实验结果分析,可以得出以下结论:1.光电流与光强呈正比关系:在较大光强范围内,光电流随光强的增加而增加。

这符合爱因斯坦的光电效应理论。

2.光电流与光波长呈非线性关系:在较小范围内,光电流随光波长的增加而减小。

这与光电效应理论中所述的波长较长的光子能量较小,不足以克服光电子的束缚能力相吻合。

3.光电流的最大值与光源的亮度有关:在一定范围内,光电流的最大值随着光源亮度的增加而增加。

这是因为光强增加时,有更多的光子通过透射,相应地导致更多的光电子产生。

这个实验可以进一步扩展的方向包括:通过调节金属或半导体材料的种类和制备方法,研究光电效应的特性;通过改变光强、光波长和光照时间等因素,探讨光电效应的动力学过程等。

总之,光电探测原理实验是一种简单而重要的实验方法,可以帮助我们深入了解光电效应的机理。

通过实验研究光电效应,不仅可以为光电器件的开发提供基础理论支持,也有助于拓展光电材料的应用领域。

光电探测技术实验教学大纲

光电探测技术实验教学大纲

《光电探测技术》实验教学大纲实验类别:课内实验实验课程名称:光电探测技术实验室名称:动态参数校准实验室实验课程编号:06050302总学时:16 学分: 1适用专业:测控技术与仪器专业、光信息科学与技术先修课程:现代光测技术一、实验在教学培养计划中地位、作用;《光电探测技术》课程是测控技术与仪器专业教学计划中的一门专业教选修课程,光电探测技术与国民经济和国防工业中有着十分广泛的应用,由于光电探测技术有很强的实践性,只有掌握了光的基本实验方法,才能真正掌握光电探测技术及其在实践中的应用。

因此,测控技术与仪器专业光电探测技术实验设置的目的就是使学生熟悉光电技术领域里一些基本的仪器及使用方法,技术实验技能和动手能力,增培养学生具有严谨的实事求是的科学地工作作风。

要求学生掌握所做实验的原理,实验仪器的使用以及实验步骤并能运用所学理论对实验现象进行解释和分析。

二、实验内容、基本要求:实验一光敏电阻特性及应用(2学时)验证性内容:分别测出两种光敏电阻的亮电流,并做性能比较。

画出伏安特性曲线。

基本要求:1.测试光敏电阻的暗电阻,亮电阻,光电阻;2.光敏电阻的暗电流,亮电流,光电流;3.光敏电阻的光谱特性;4.光敏电阻的伏安特性;5.绘制曲线图,总结规律;实验二光敏管的应用—光控电路( 2 学时)设计性内容:设计基于光敏管的光控电路,在不同光照条件下验证光强对电路影响。

基本要求1.掌握光敏管的基本原理;2.掌握光敏管的使用方法;3.设计并验证光控电路;4.根据暗通电路原理,设计亮通电路。

此实验函盖了光电器件的原理、光敏管在使用方法、基本电路设计等知识点。

实验三光敏三极管对不同光谱的响应( 2 学时)验证性内容:测出给定光敏三极管对不同光谱的响应曲线,总结使用光敏三极管时对光源的选择规律。

基本要求1.搭建测量电路;2.选用不同颜色的发光二极管,连接光源电路;3.分别用不同光源照射光敏三极管光敏面,测试光电流的大小;4.绘制光谱响应曲线。

光电探测实验报告

光电探测实验报告

实验一光敏电阻特性实验实验原理:光敏电阻又称为光导管,是一种均质的半导体光电器件,其结构如图(1)所示。

由于半导体在光照的作用下,电导率的变化只限于表面薄层 ,因此将掺杂的半导体薄膜沉积在绝缘体表面就制成了光敏电阻,不同材料制成的光敏电阻具有不同的光谱特性。

光敏电阻采用梳状结构 是由于在间距很近的电阻之间有可能采用大的灵敏面积 实验所需部件:稳压电源、光敏电阻、负载电阻(选配单元) 、电压表、各种光源、遮光罩、激光器、光照度计(由用户选配) 实验步骤:1、测试光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻 观察光敏电阻的结构,用遮光罩将光敏电阻完全掩 盖,用万用表测得的电阻值为暗电阻R 暗,移开遮光罩,在环境光照下测得的光敏电阻的 阻值为亮电阻,暗电阻与亮电阻之差为光电阻,光 电阻越大,则灵敏度越高。

在光电器件模板的试件插座上接入另一光敏电阻, 试作性能比较分析。

2、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流按照图 ⑶接线,电源可从+2~+8V 间选用,分别在暗光和正常环境光照下测出输出电压V 暗和V 亮则暗电流L 暗=V 暗/R L ,亮电流L 亮=V 亮/R L ,亮电流与暗电流之差称为光电流, 光电流越大则灵敏度越高。

分别测出两种光敏电阻的亮电流,并做性能比较。

3、伏安特性:光敏电阻两端所加的电压与光电流之间的关系。

按照图(3)分别测得偏压为2V 、4V 、6V 、8V 、10V 、12V 时的光电流,并尝试高照射光 源的光强,测得给定偏压时光强度的提高与光电流增大的情况。

将所测得的结果填入表 格并作出V/I 曲线。

偏压2V4V6V8V10V12V光电阻1,提高灵敏度。

光梳电极实验时请注意不要超过光电阻的最大耗散功率P MAX,p MAX =LV。

光源照射时灯胆及灯杯温度均很高,请勿用手触摸,以免烫伤。

实验时各种不同波长的光源的获取也可以采用在仪器上的光源灯泡前加装各色滤色片的办法,同时也须考虑到环境光照的影响。

光电探测基础全面讲解

光电探测基础全面讲解
1m 1 cm 1 mm
1 m
1 nm

1A
1 X射 线 单 位

1 A
图 1.1-1 电磁波谱图
第1章 光电探测基础
表1.1-1 光波段单光子能量表
第1章 光电探测基础
1.1.1 光电系统的基本模型
与电子系统载波相比, 光电系统载波的频率提高了几个量级。
这种频率量值上的变化使光电系统在实现方法上发生了质变, 在功能上
第1章 光电探测基础
第1章 光电探测基础
1.1 光电系统描述 1.2 光接收机视场 1.3 光电探测器的物理效应 1.4 光电转换定律和光电子计数统
计 1.5 光电探测器的性能参数 1.6 光电探测器的噪声
第1章 光电探测基础
1.7 辐度学与光度学 1.8 背景辐射 1.9 探测器主要性能参数测试 习题与思考题
第1章 光电探测基础
均匀光源当发光面积为As, 辐射角为Ωs时, 所辐射的总功率为
Ps=LAsΩs
(1.1-1)
对于辐射对称型光源, 立体角Ωs与平面辐射角θs的关系为(参见
图1.1-5)
Ωs=2π[1-cos(θs/2)]
(1.1-2)
第1章 光电探测基础
光束形 成系统
光源
dt
透 镜 直径
光束角
Gr
4 b
4d
t
2
(1.1-6)
第1章 光电探测基础
14 0
13 0
0.5 m
12 0
10 m
122 dB
11 0
光 束 /角rad 4
增 益 / dB 1 GHz
10 0
40
95 dB
90
80

实验2光电探测原理实验

实验2光电探测原理实验

实验2 光电探测原理实验
实验目的
1、了解光照度基本知识;
2、了解光照度测量基本原理;
3、学会光照度的测量方法。

实验内容
对光照度进行测量,观察现象。

实验仪器
光电探测原理实验箱 1台
实验步骤
1、插上三相电源线,打开电源开关。

2、顺时针缓慢调节“光照度调节”旋钮,增大光照度,观察照度值的变化。

当表头显示为“1_”时,说明已经超过量程,此时应更换量程为200Lx档。

3、继续缓慢增大光照度,观察照度值的变化。

当表头显示为“1_”时,说明已经超过量程,此时应更换量程为2000Lx档。

4、继续缓慢增大光照度,观察照度值的变化,注意观察在相邻量程转换时候的数值变化。

5、将“光照度调节”旋钮调至最小值位置,照度计档位调到20Lx档,关闭电源。

实验结果
通过实验现象发现,测试结果基本与实验原理吻合,由于仪器的精度等问题,误差是不可避免的;
心得体会:
通过该实验基本了解了光照度的基本知识;了解了光照度测量基本原理;并且学会了光照度的测量方法;虽然在测量过程中,遇到些许问题,但通过不断的调试与发现,最终排除错误,达到实验要求的结果。

思考题
光照度不变,在量程转换的时候照度值读数有什么不同?试分析一下原因。

答:??????。

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光电探测实验
实验一光敏电阻特性实验
一、实验目的
1.了解光敏电阻的各个特性,包括暗电流﹑亮电流﹑光谱特性﹑伏安特性﹑光电特
性。

2.通过实验认识光敏电阻的传感机理。

二、实验原理:
光敏电阻又称为光导管,是一种均质的半导体光电器件,其结构如图(1-1)所示。

光敏电阻受到光线照射时,电子迁移,产生电子—空穴对,使电阻率变小。

光照越强,阻值越低。

入射光线消失,电子—空穴对恢复,电阻值逐渐恢复原值。

由于半导体在光照的作用下,电导率的变化只限于表面薄层,因此将掺杂的半导体薄膜沉积在绝缘体表面就制成了光敏电阻,不同材料制成的光敏电阻具有不同的光谱特性。

光敏电阻采用梳状结构是由于在间距很近的电阻之间有可能采用大的灵敏面积,提高灵敏度。

三、实验所需部件:
直流稳压电源、光敏电阻、光敏电阻实验模块、
四、实验步骤:
1. 测试光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻(选做):
观察光敏电阻的结构,用遮光罩将光敏电阻完全掩盖,用万用表
测得的电阻值为暗电R暗,移开遮光罩,在环境光照下测得的光敏电阻的阻值为亮电阻,暗电阻与亮电阻之差为光电阻,光电阻越大,则灵敏度越高。

2. 光敏电阻的光电特性:
在一定的电压作用下,光敏电阻的光电流与照射光通量的关系为光电特性,其理论图形见图(1-2)所示。

图(1-2)光敏电阻的光电特性
我们将直流稳压电源置于+/-10V档,光敏电阻探头用专用导线一端连接后,插入照度表实验架上传感器安装孔,导线另一端插入光敏电阻实验模块“光敏电阻Ti”插口,并将输出指示开关置于照度指示。

关闭光强开关,记下电流表的读数,此即为暗电流。

开启光强开关,调节光强为200Lx、400Lx、600Lx、800Lx、1000Lx,分别记下电流表读数,填入下表。

作出照度--电流曲线
3. 伏安特性
按图(1-3)将“光敏电阻实验模块”连线,检查连线是否正确。

图(1-3)
直流稳压电源转置“+/-2V”档,开启电源,并将强光调节为1000Lx。

记下此时电流表读数。

将电压分档逐步调整至+/-10V,并逐一记下电流表读数填入下表:
作出V—I曲线;
将光强开关分布调至600Lx和800Lx,直流稳压电源置+/-4V档,重复上述步骤,作出相关V—I曲线,比较三条曲线有什么不同。

4. 光谱响应特性
开启电源及光强开关,并将光强旋至最大,输出指示开关置于光谱指示;
调节三棱镜,使其白光均匀的分为彩色光谱。

转动光谱支架测微杆使光谱带进入传感器的透光狭缝中。

“光敏电阻实验模块”如图(1-4)连线;+Vcc=10V。

图(1-4)
转动光谱支架测微头,使透光狭缝分别透过不同颜色的光,记下相对应的电压读数值。

填入下表:
读数最大的那一点必须记下。

图1-5几种光敏电阻的光谱特性参考曲线
注:为使实验直观,该实验没有在封闭的黑盒中进行,所以具有一定的外界因素干扰,实验时请注意不要使正面干扰光过大,同时注意人员的移动时对光照度的影响。

五、注意事项:
1. 实验时务必保证连线的正确,否则敏感元件有被烧毁的危险。

2. 光源照射时温度比较高,避免用手直接触摸。

3. 光谱特性测量时,三棱镜分光要使得光束严格与透光狭缝平行。

六、思考题:
1.简要回答光敏电阻的工作原理。

2.什么是光敏电阻的暗电流,它的大小是由什么因素决定的。

实验二光敏二极管特性实验
一、实验目的
1.了解光敏二极管暗电流﹑光电流;
2.通过对光敏电阻的灵敏度和光谱特性的测量,了解其
工作原理。

二、实验原理:
光敏二极管与半导体二极管在结构上是类似的,其管芯是
一个具有光敏特征的PN结,具有单向导电性,因此工作时需加上反向电压。

光敏二极管与普通晶体二极管不同之处在于PN结面积较大且距表面较浅,可以直接接受光的照射。

在没有光线照射时,在电路中反向偏置,反向电流很小(称为暗电流),此时光敏二极管截止;当光线照射PN结时,在PN附近产生电子—空穴对,并越过PN结产生光电流,光电流随入射光线强度改变。

光敏二极管结构见图(2-1)。

三、实验所需部件:
光敏二极管、光敏二极管实验模块、电压表(200mV档)
四、实验步骤:
按图(2-2)接线,在负载选择单元中选择R=20K作为R f接入I/V变换器。

注:因光敏二极管产生的光电流比较小,为便于读数,所以采用I/V变换器将光电流I转换成电压,其关系为:I=V/R f。

图(2-2)
1、光电特性、暗电流测试
用遮光罩盖住光敏二极管上并关闭光强开关,记下电压表的读数,此即为暗电流。

调节光强为下表的各数值,分别记下电压表的读数填入下表。

作出照度—电流曲线
将光敏二极管的“+”极与地极之间的连线拆去,在“+”极接入-4V电压使光敏二极管处负偏压状态。

重复上述过程,比较下与零偏压使有什么区别。

2、伏安特性:
如图2-2连线(零偏压),开启电源及光强开关,将光强置于1000Lx,记下此时的电压表读数。

将光敏二极管“+”极与地极之间的连线去除,将“直流稳压电源”单元中“-Vcc”端口与光敏二极管“+”极相连,给二极管加上偏压。

直流稳压电源从-4V逐步调整至-10V,记录下每一步的电压表读数值填入下表。

作出V—I曲线。

将光强分别调至750Lx、500Lx档,重复上述步骤,比较三条曲线有什么不同。

3、光谱特性测试:
不同材料制成的光敏二极管对不同波长的入射光反应灵敏度是不同的。

由图(2-4)可以看出,硅光敏二极管和锗光敏二极管的响应峰值约在80~100μm。

实验模块还是按照图2-2连线。

安装上分光三棱镜,调整光谱带,转动光谱支架测微杆使光谱带进入传感器的透光狭缝中。

将光强调至最大,并使透光狭缝处于光谱红外区,记下此时电压表读数。

转动微杆,使透光狭缝分别进入不同颜色光区,记下不同区域的电压读数。

填入下表。

参考曲线:
图(2-3)光敏管的伏安特性曲线(2-4)光敏二极管的光谱特性曲线
五、注意事项
1. 确保连线的正确,避免烧掉光电元器件。

2. 光电二极管有可能灵敏度过高,光电特性测量有些困难,测量时光照的改变幅度可适当减小。

六、思考题:
1.什么是光敏二极管的暗电流和光电流,测量中存在的暗电流误差值是由什么原因造
成的。

2.举例说明光敏二极管的实际应用。

实验三光电池特性测试.
一、实验目的
1.通过实验掌握光电池的工作原理。

2.了解光电池的各个电学特性,包括光电特性﹑光谱特性﹑伏安特性。

二、实验原理:
光电池的结构其实是一个较大面积的半导体PN结,工作原理即是光生伏特效应,当负载接入PN两极后即得到功率输出。

在光线作用下,物体产生一定方向电动势的现象,称为光生伏特现象。

三、实验所需器件:
光电池元件、光电池模块
四、实验步骤:
1.光电池短路电流测试:
光电池的内阻在不同光照时是不同的,所以在测得暗光条件下光电池的内阻后,应选用相对小得多的负载电阻。

(这样所测得的电流近似短路电流)负载电阻越小,光电流与光强的线性关系就越好。

硅光电池的光电特性曲线
按图4-1连线。

开启电源,调节光强为0、250、500、750、1000、1250Lx,记下电流表的读数,填入下表。

作出照度—短路电流曲线;
2.开路电压实验:
如图4-2连线;(讲义16面图9)
图4-2
开启光强开关,调节光强为0、50、100、150、200、250、500、750、1000、1250Lx,记下电压表的读数,并将数据填入下表:
作出照度—开路电压曲线。

3.光电池伏安特性测试:
图(4-3)光电池的伏安特性曲线
当光电池负载为电阻时,光照射下的光电池的输出电压与电流的关系。

见图(4-3)。

曲线的横坐标值为光电池开路电压值,纵坐标为短路电流值。

当接入负载电阻R L时,负载线R L与伏安特性曲线的交点为工作点,此时光电池的输出电流与电压的乘积为光电池的输出功率P光。

如图4-4将实验模块连线。

图4-4
调节光强为1000Lx,记录RL为下表中不同阻值时,电压/电流表读数,填入表格:
调节光强为500Lx、250Lx重复上述步骤。

4.光电池光谱特性测试:
光电池的光谱特性可参见图(4-5)所示,硒光电池的光谱响应范围30~70µm,硅光
电池的光谱响应在50~100µm。

图(4-5)光电池的光谱特性曲线
测试时,光电池模块还是按照图4-4连线。

开启电源,调节光强到最大。

利用分光三棱镜得到均匀分布的光谱。

转动光谱支架测微杆使光谱带的各颜色光区分别进入传感器的透光狭缝中。

记下分别的电压表读数,填入下表。

五、注意事项:
实验中都没考虑外界的光干扰,应注意避免正面较大的干扰光照。

六、思考题:
1. 举出几个光电池的实际应用。

2. 举例说明一下硅光电池的结构。

3. 限制光电池的使用范围的因素有哪些?。

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