实验一门电路逻辑功能及测试

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实验一门电路逻辑功能及测试

实验一门电路逻辑功能及测试1.1 实验目的

1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。

2. 掌握数字电路实验箱及示波器的使用方法。

3、学会检测基本门电路的方法。

1.2 预习内容

1. 预习门电路相应的逻辑表达式。

2. 熟悉所用集成电路的引脚排列及用途。

1.3 实验仪器设备及器件

1. 仪器设备：双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱

2. 器件：

74LS00 二输入端四与非门2片

74LS20 四输入端双与非门1片

74LS86 二输入端四异或门1片

图1.1 门电路逻辑功能及测试中用到的芯片管角示意图

1.4 实验原理和内容及步骤

实验前按数字电路实验箱使用说明书先检查电源是否正常，然后选择实验用的集成块芯片插入实验箱中对应的IC座，按自己设计的实验接线图接好连线。注意集成块芯片不能插反。线接好后经实验指导教师检查无误方可通电实验。实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。

1.与非门电路逻辑功能的测试

（1）选用双四输入与非门74LS20一片，插入数字电路实验箱中对应的IC座，按图1.2接

线、输入端1、2、4、5、分别接到K1~K

的逻辑开关输出插口，输出端接电平显示发光二极管D1~D4任意一个。

图1.2 与非门电路连线示意图

（2）将逻辑开关按表1.1的状态，分别测输出电压及逻辑状态。

表1.1 与非门电路逻辑功能测试表

输入输出

1(k1) 2(k2) 4(k3) 5(k4) Y 电压值（V）

H H H H

L H H H

L L H H

L L L H

L L L L

2. 异或门逻辑功能的测试

实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试

一．实验目的

1．掌握了解TTL系列、CMOS系列外形及逻辑功能。

2．熟悉各种门电路参数的测试方法。

3. 熟悉集成电路的引脚排列，如何在实验箱上接线，接线时应注意什么。

二、实验仪器及材料

a)数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。

b)1）CMOS器件：

CC4011 二输入端四与非门 1 片 CC4071 二输入端四或门 1片2）TTL器件：

74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS02 二输入端四或非门 1 片

74LS00 二输入端四与非门 1片 74ls125 三态门 1片

74ls04 反向器材 1片

三．预习要求和思考题：

1．预习要求：

1）复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。

2）常用TTL门电路和CMOS门电路的功能、特点。

4）熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。

2．思考题

1）TTL门电路和CMOS门电路有什么区别？

2）用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么？

四．实验原理

1．本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。

2．门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。

TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路，其管脚识别方法：将TTL集成门电路正面（印有集成门电路型号标记）正对自己，有缺口或有圆点的一端置向左方，左下方第一管脚即为管脚“1”，按逆时针方向数，依次为1、2、3、4············。如图1—1所示。具体的各个管脚的功能可通过查找相关手册得知，本书实验所使用的器件均已提供其功能。

2.2.2数字实验一门电路逻辑功能测试及组合逻辑设计

9 6 10
8 Ci+1
二输入四异或门74LS86 二输入四与非门74LS00 六反相器74LS04
图4-1-6 全减器电路图
数字实验一：门电路逻辑功能测试及组合逻辑电路设计
三、实验内容
4、设计全减器
表4-1-4 全减器真值表
Ci
1
74LS86
B
2 =1 3
4
5 =1 6
S
A
74LS04 1
& 1
22
1 & 4
& 5
对照验证
3 74LS00
9 6 10
8 Ci+1
图4-1-6 全减器电路图
电子技术实验系列课程
数字实验一、门电路逻辑功能测试及组合逻辑电路设计
然后沿逆时针方向数，最后回到左上方的管脚。一般右下角为电源
地（GND），左上角为电源正（VCC）。
UCC A4 B4 Q4 A3 B3 Q3
14 13 12 11 10 9
8
&
&
&
&
12
3
4
5
6
7
A1 B1 Q1 A2 B2 Q2 GND
图4-1-1 集成电路引脚排列（74LS00/74HC00）
数字实验一：门电路逻辑功能测试及组合逻辑电路设计

试验一门电路逻辑功能与测试

实验一门电路逻辑功能与测试

一、实验目的

1、掌握TTL 集成门的逻辑功能

2、进一步熟悉常用电子仪器以及数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理

1、本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图4－1(a)、(b)、(c)所示。

1、与非门的逻辑功能

与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。）

其逻辑表达式B A Y ⋅= 2、TTL 与非门的主要参数

(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH

与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。ICCL 是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。ICCH 是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。通常ICCL ＞ICCH ，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。器件的最大功耗为PCCL ＝VCCICCL 。手册中提供的电源电流和功耗值

是指整个器件总的电源电流和总的功耗。ICCL和ICCH测试电路如图4－2(a)、(b)所示。

[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压VCC只允许在＋5V±10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

(2)低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。IiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。

实验一门电路逻辑功能与测试

一、实验目的：

1．了解与熟悉基本门电路逻辑功能；

2．掌握门电路逻辑功能的测试方法，验证与加深对门电路逻辑功能的认识；

3．熟悉门电路的外形和管脚排列，以及其使用方法。

二、实验仪器、设备、元器件：

1．智能数字逻辑实验仪DE2-115 1台2．四2输入与门74LS08芯片 1片

3．四2输入或门74LS32芯片 1片4．六反向器74LS04芯片 1片

5．四2输入与非门74LS00芯片 1片6．四2输入或非门74LS02芯片 1片

7．四2输入异或门74LS86芯片 1片8．万用表、逻辑笔

9．导线若干

三、预习要求：

1．了解数字电路实验箱的结构和使用方法；

2．复习门电路工作原理及相应逻辑表达式；

3．熟悉所用门电路的管脚排列及相应管脚的功能；

4．熟悉数字万用表、逻辑笔的使用方法。

5．使用Proteus软件对上述门电路进行设计。

四、实验内容和步骤：

实验前按实验仪使用说明检查实验仪是否正常。然后选择实验用的IC，按设计的实验接线图接好线，特别注意Vcc及地线不能接错。线接好后仔细检查无误后方可通电实验。实验中需要改动接线时，必须先断开电源，接好后再通电实验。

1、与门、或门、非门的逻辑功能测试（任选一个逻辑门）

①与门的逻辑功能测试

按图1.1所示要求连接电路，输入端接逻辑开关A、B，输出端接指示器。改变输入状态的高低电平，将A、B输入端依次接成0-0，0-1，1-0，1-1状态，进行电路仿真，观察输出端电平指示器的显示状态（亮为“1”，灭为“0”），并填写实验结果。实验结果填入表1.1的逻辑真值表中，并写出输出端Y的逻辑表达式和电路的逻辑功能。

实验一-门电路逻辑功能及测试-实验报告.doc

实验报告

实验一门电路逻辑功能及测试

一、实验目的

1、熟悉门电路逻辑功能。

2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。

二、实验仪器

1、示波器；

2、实验用元器件：

74LS00 二输入端四与非门 2 片

74LS20 四输入端双与非门 1 片

74LS86 二输入端四异或门 1 片

74LS04 六反相器 1 片

三、实验内容及结果分析

1、测试门电路逻辑功能

⑴选用双四输入与非门74LS20 一只，插入面包板（注

意集成电路应摆正放平），按图1.1接线，输入端接

S1～S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口)，输

出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1～

D8 中的任意一个。

⑵将逻辑电平开关按表1.1 状态转换，测出输出逻辑

状态值及电压值填表。

①实验电路如右图所示：

②实验结果：

表 1.1

③结果分析：

74LS20是双四输入与非门，其逻辑表达式为：Y=A B C D ___________

。设置如表1.1的输入，所得结果如表1.1

所示。通过此电路，测试了与非门电路的逻辑功能为：只有当四个全为1时，输出为0；只要有一个不为1，输出为1。

2、逻辑电路的逻辑关系

⑴ 用 74LS00 双输入四与非门电路，按图1.2、图1.3 接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1.2，表1.3 中。

⑵ 写出两个电路的逻辑表达式。

图1.2的逻辑表达式：

Y=（A+B ）（A+B ）

图1.3的逻辑表达式：

Z=AB Y= (A+B ）（A+B ）

①实验电路如图所示： ②实验结果如下表所示：

表 1.2 表 1.3

③结果分析：

经分析，上述两电路图的逻辑表达式如上所示。按表格1.2、1.3输入信号，得到如上图所示的结果，验证了逻辑电路的逻辑关系。

实验一门电路逻辑功能及测试

一、实验目的

1．了解实验箱各部分的功能，并熟悉其使用方法。

2．熟悉门电路的外形和引脚以及逻辑功能。

3．学习集成电路的测试方法及示波器使用方法。

二、实验仪器及材料

1．双踪示波器2．器件

74LS00 二输入端四与非门2片

74LS20 四输人端双与非门1片

74LS86 二输入端四异或门1片

74LS04 六反相器1片

三、预习要求

1．复习门电路工作原理及相应逻辑表达式．

2．熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途．

3．了解双踪示波器使用方法．

四、实验箱介绍

实验箱由电源、电平显示、信号源、芯片插座、逻辑开关等部分组成。

1、电源部分

输出DC、+5V、+1.25V~+15V直流稳压电源各一路。两路均设有短路报警功能，电源在短路时自动将电源与已经短路的电路断开，当短路故障排除后，按下报警复位开关即可恢复供电。

2、显示部分

电平指示由10组发光二极管组成，用＋5V接电平输入时灯亮为正常。用GND（地）接电平无输出显示为正常。数字显示由2位7段LED数码管及二-十进制译码器驱动器组成。分译码输入端和段位显示输入端（高电平有效）。

3、信号源部分

分单脉冲和连续脉冲2部分，单脉冲开关为消抖动脉冲；连续脉冲分为2组，一组为4路固定频率脉冲，分别为200kHZ、100kHZ、50kHZ、25kHZ；另一组为：1Hz~5kHz连续可调方波。

4、逻辑电平开关

由10组逻辑电平开关组成（S0-S9），逻辑开关用于输出逻辑电平“1”和“0”。接电平指示，并左右拨动开关（H为高电平+5V，L为低电平0V），则红绿灯相应亮灯。用一组（4位）逻辑开关分别接数码显示的译码输入ABCD（8421BCD），拨动开关组合，输入0000～1001，则数码显示为0～9。

实验1-门电路的逻辑功能及测试

注： 1 t pd 2 (tPHL tPLH )
思考题
1. 怎样判断门电路逻辑功能是否正常。 2. 与非门一个输入端接连续脉冲，其余端什么状态时允
许脉冲通过？什么状态时禁止脉冲通过。 3. 异或门又称可控反相门，为什么？
（3）CMOS非门的关门电平VOFF为0.45VDD，开门电平 VON为0.55VDD。因此，其高、低电平噪声容限均达 0.45VDD。
（4）CMOS电路的功耗很小，一般小于1 mW/门；
（5）因CMOS电路有极高的输入阻抗，故其扇出系数很大，可达50。
门电路常见符号
与门 F=A•B
或门
非门
F=A+B
4、平均传输时间：
实验原理
1 t pd 2 (tPHL tPLH )
平均延迟时间的大小反映了TTL门的开关特性，主要说明门电路的工作速度。导通延迟时间tPHL-从输入波形上升沿的中点到输出波形下降沿的中点所经历的时间。
截止延迟时间tPLH——从输入波形下降沿的中点到输出波形上升沿的中点所经历的时间。
B
B
A& B
E
E
E
国家标准
A B &
A B
C
FC
D&
D
+F
单脉冲源固
连续
定
脉冲
脉

门电路逻辑功能及测试（完成版）

门电路逻辑功能及测试（完成版）实验⼀门电路逻辑功能及测试

计算机⼀班组员：2014217009仁杰

⼀、实验⽬的

1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。

2. 掌握数字电路实验箱及⽰波器的使⽤⽅法。

3、学会检测基本门电路的⽅法。

⼆、实验仪器及材料

1、仪器设备：双踪⽰波器、数字万⽤表、数字电路实验箱

2. 器件：

74LS00 ⼆输⼊端四与⾮门2⽚

74LS20 四输⼊端双与⾮门1⽚

74LS86 ⼆输⼊端四异或门1⽚

三、预习要求

1. 预习门电路相应的逻辑表达式。

2. 熟悉所⽤集成电路的引脚排列及⽤途。

四、实验容及步骤

实验前按数字电路实验箱使⽤说明书先检查电源是否正常，然后选择实验⽤的集成块芯⽚插⼊实验箱中对应的IC座，按⾃⼰设计的实验接线图接好连线。注意集成块芯⽚不能插反。实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。每个芯⽚的电源和GND引脚，分别和实验台的+5V 和“地（GND）”连接。芯⽚不给它供电，芯⽚是不⼯作的。⽤实验台的逻辑开关作为被测器件的输⼊。拨动开关，则改变器件的输⼊电平。开关向上，输⼊为1，开关向下，输⼊为0。

将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指⽰灯连接。指⽰灯亮表⽰输出电平为1，指⽰灯灭表⽰输出电平为0。

1.与⾮门电路逻辑功能的测试

（1）选⽤双四输⼊与⾮门74LS20⼀⽚，插⼊数字电路实验箱中对应的IC座，按图1.1接线、输⼊端1、2、4、5、分别接到

K1~K4的逻辑开关输出插⼝，输出端接电平显⽰发光⼆极管D1~D4中任意⼀个。注意：芯⽚74LS20的14号引脚要接试验箱下⽅的+5V电源，7号引脚要接试验箱下⽅的地（GND）。⽤万

实验一门电路逻辑功能的测试

实验环境搭建
根据实验电路图搭建实验电路，确保电路连接正确、稳定。
进行阶段
输入信号设置
根据实验要求，设置适当的输入信号，通过调整信号源或手动输入信号。
观察与记录
观察电路的输出信号，使用示波器等测试仪器记录实验过程中的关键波形和数据。
逻辑功能验证
通过输入不同的信号组合，验证电路的逻辑功能是否符合预期，并记录验证结果。
Part
04
实验结果与分析
结果展示
实验数据记录
在实验过程中，我们详细记录了输入信号和输出信号的变化，以及各个逻辑门电路的响应情况。这些数据将用于后续的结果分析。
逻辑门功能测试
我们测试了与门、或门、非门等基本逻辑门的功能，验证了它们
是否符合预期的逻辑功能。
实验图表绘制
为了更直观地展示实验结果，我们绘制了输入输出信号的波形图
本次实验不仅验证了电路逻辑功能的正确性，也为后续的研究提供了基础数据和经验。我们期待在未来的研究中，进一步优化电路设计，提高性能参数，为实际应用提供更好的解决方案。
Part
05
结论与建议
结论总结
测试目的达成
本次实验成功地对电路的逻辑功能进行了测试，验证了电路的正确性和可靠性。
性能表现
实验结果显示，电路在各种输入条件下均表现稳定，逻辑功能正常，未出现异常现象。

实验1_门电路逻辑功能及测试

深圳大学

实验报告

课程名称：数字逻辑与数字系统（2215991102）实验序号：实验一

实验名称：门电路逻辑功能及测试

班级：2012计算机与软件学院2班

姓名：凌叶婵学号：2012150096

实验日期：2013年10月13 日

教师签字：

一、实验目的

1.熟悉门电路逻辑功能，并掌握常用的逻辑电路功能的测试方法；

2熟悉RXS-1B数字电路试验箱及双踪示波器的使用方法。

二、实验仪器及材料

1.双踪示波器；

2RXS-1B数字电路试验箱；

3万用表；

474LS00（四2输入与非门）1片、74LS86（四2输入异或门）1片。

三、预习要求

1阅读数字电路实验指南，掌握数字电路的实验要求和实验方法；

2复习门电路的工作原理和相应的逻辑表达式；

3熟悉所用集成电路的外引线排列图，了解各引出脚的功能；

4学习双踪示波器和RXS-1B数字电路实验箱的使用方法。

四、实验内容、步骤与结果

1异或门逻辑功能测试

集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路，逻辑关系式为1Y=1A⊕1B，2Y=2A⊕2B，3Y=3A⊕3B，4Y=4A⊕4B，其外引线排列图如图1.3.1所示。它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A、1B、2A、2B、3A、3B、4A、4B，3、6、8、11号引脚为输出端1Y、2Y、3Y、4Y，7号引脚为地，14号引脚为电源+5V。

（1）将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B数字电路实验箱的任意14引脚的IC空插座中。

（2）按图1.3.2接线测试其逻辑功能。芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔，输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。14号引脚+5V接至数字电路实验箱的+5V电源的“+5V”插孔，7号引脚接至数字电路实验箱的+5V电源的“⊥”插孔。

实验一门电路逻辑功能及测试实验报告完整版

实验一门电路逻辑功能及测试实验报告

HEN system office room 【HEN16H-HENS2AHENS8Q8-HENH1688】

实验报告

实验一门电路逻辑功能及测试

一、实验目的

1、熟悉门电路逻辑功能。

2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。

二、实验仪器

1、示波器；

2、实验用元器件：

74LS00 二输入端四与非门 2 片

74LS20 四输入端双与非门 1 片

74LS86 二输入端四异或门 1 片

74LS04 六反相器 1 片

三、实验内容及结果分析

1、测试门电路逻辑功能

⑴选用双四输入与非门74LS20 一只，插入面包

板（注意集成电路应摆正放平），按图接线，输

入端接S1～S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的

输出插口)，输出端接实验箱上方的LED 电平指

示二极管输入插口D1～D8 中的任意一个。

⑵将逻辑电平开关按表状态转换，测出输出逻

辑状态值及电压值填表。

①实验电路如右图所示：

②实验结果：

74LS20是双四输入与非门，其逻辑表达式为：Y=ABCD ___________

。设置如表的输入，所得结果如表所示。通过此电路，测试了与非门电路的逻辑功能为：只有当四个全为1时，输出为0；只要有一个不为1，输出为1。 2、逻辑电路的逻辑关系

⑴ 用 74LS00 双输入四与非门电路，按图、图接线，将输入输出逻辑关系分别填入表，表中。

⑵ 写出两个电路的逻辑表达式。图的逻辑表达式：

Y=（A+B ）（A+B ）

图的逻辑表达式：

Z=AB Y= (A+B ）（A+B ）

①实验电路如图所示： ②实验结果如下表所示：

试验一门电路逻辑功能与测试

实验一门电路逻辑功能与测试

一、实验目的

1、掌握TTL 集成门的逻辑功能

2、进一步熟悉常用电子仪器以及数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理

1、与非门的逻辑功能

其逻辑表达式B A Y ⋅= 2、TTL 与非门的主要参数

(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH

是指整个器件总的电源电流和总的功耗。ICCL和ICCH测试电路如图4－2(a)、(b)所示。

[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压VCC只允许在＋5V±10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

实验01门电路逻辑功能及参数测试

实验01门电路逻辑功能及参数测试是一种常见的数字电路实验，旨

在了解门电路的逻辑功能和参数测试方法。本实验主要涉及与门、非门、

或门、异或门以及与非门电路的测试。下面将对每个门电路的逻辑功能和

参数测试进行详细介绍。

一、与门（AND gate）

与门是最常见的逻辑门之一，它具有两个输入和一个输出。当两个输

入同时为高电平（1）时，输出为高电平；否则，输出为低电平（0）。

逻辑功能测试：

1.输入全为0，验证输出是否为0。

2.输入全为1，验证输出是否为1

3.输入一个为0，一个为1，验证输出是否为0。

参数测试：

1.输入电压的最小值测试：逐渐减小输入电压，观察输出是否保持为

低电平。

2.输入电压的最大值测试：逐渐增大输入电压，观察输出是否保持为

高电平。

3.输入电流的最小值测试：逐渐减小输入电流，观察输出电压的变化。

4.输入电流的最大值测试：逐渐增大输入电流，观察输出电压的变化。

二、非门（NOT gate）

非门也叫反相器，只有一个输入和一个输出。当输入为高电平时，输

出为低电平；当输入为低电平时，输出为高电平。

逻辑功能测试：

1.输入为0，验证输出是否为1

2.输入为1，验证输出是否为0。

参数测试：

1.输入电压的最小值测试：逐渐减小输入电压，观察输出是否保持为

高电平。

2.输入电压的最大值测试：逐渐增大输入电压，观察输出是否保持为

低电平。

3.输入电流的最小值测试：逐渐减小输入电流，观察输出电压的变化。

4.输入电流的最大值测试：逐渐增大输入电流，观察输出电压的变化。

三、或门（OR gate）

实验1 门电路逻辑功能及测试

实验一门电路逻辑功能及测试

一、实验目的：

1、熟悉数字电路学习机。

2、熟悉门电路逻辑功能。

二、实验设备：THD—4数字电路实验箱

器材：74LS00 二输入端四与非门；74LS20 四输入端二与非门

三、实验步骤及内容：

1、测试门电路逻辑功能。

选用双四输入与非门74LS20一只，按图接线，将输入电平按表置位，测输出电平

2、逻辑电路的逻辑关系。

1）用74LS00，按图接线，将输入输出逻辑关系分别填入表中。

2）写出下面两个电路逻辑表达式。

四、实验报告

1）按要求填表并画逻辑图。

2）分析各电路逻辑功能，验证实验结果。

实验一 门电路逻辑功能及测试

实验一门电路逻辑功能及测试

实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试

2.2.2数字实验一门电路逻辑功能测试及组合逻辑设计

试验一门电路逻辑功能与测试

实验一 门电路逻辑功能与测试

实验一-门电路逻辑功能及测试-实验报告.doc

实验一 门电路逻辑功能及测试

实验1-门电路的逻辑功能及测试

门电路逻辑功能及测试（完成版）

实验一门电路逻辑功能的测试

实验1_门电路逻辑功能及测试

实验一门电路逻辑功能及测试实验报告完整版

试验一门电路逻辑功能与测试

实验01门电路逻辑功能及参数测试

实验1 门电路逻辑功能及测试

实验一门电路逻辑功能及测试

实验一门电路逻辑功能与测试

实验一门电路逻辑功能及测试