实验一 门电路逻辑功能及测试
数电实验报告1
实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路学习机及示波器使用方法。
二、实验仪器及材料1、双踪示波器2、器件74LS00 二输入端四与非门2片74LS20 四输入端双与非门1片74LS86 二输入端四异或门1片74LS04 六反相器1片三、预习要求1、复习门电路工作原理相应逻辑表达示。
2、熟悉所有集成电路的引线位置及各引线用途。
3、了解双踪示波器使用方法。
四、实验内容实验前按学习机使用说明先检查学习机是否正常，然后选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后经实验指导教师检查无误方可通电。
试验中改动接线须先断开电源，接好线后在通电实验。
1、测试门电路逻辑功能。
（1）选用双输入与非门74LS20一只，插入面包板，按图连接电路，输入端接S1~S4(电平开关输入插口)，输出端接电平显示发光二极管（D1~D8任意一个）。
（2）将电平开关按表1.1置位，分别测出电压及逻辑状态。
（表1.1）2、异或门逻辑功能测试（1）选二输入四异或门电路74LS86，按图接线，输入端1﹑2﹑4﹑5接电平开关，输出端A﹑B﹑Y接电平显示发光二极管。
（2）将电平开关按表1.2置位，将结果填入表中。
表 1.23、逻辑电路的逻辑关系（1）选用四二输入与非门74LS00一只，插入面包板，实验电路自拟。
将输入输出逻辑关系分别填入表1.3﹑表1.4。
（2）写出上面两个电路的逻辑表达式。
表1.3 Y=A ⊕B表1.4 Y=A ⊕B Z=AB 4、逻辑门传输延迟时间的测量用六反相器（非门）按图1.5接线，输80KHz 连续脉冲，用双踪示波器测输入，输出相位差，计算每个门的平均传输延迟时间的tpd 值 ： tpd=0.2μs/6=1/30μs 5、利用与非门控制输出。
选用四二输入与非门74LS00一只，插入面包板，输入接任一电平开关，用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用:一端接高有效的脉冲信号，另一端接控制信号。
门电路逻辑功能及测试实验原理
门电路逻辑功能及测试实验原理
门电路是数字电路中最基本的逻辑电路之一，用于实现逻辑操作。
常见的门电路有与门、或门、非门、异或门等。
每种门电路都有其特定的逻辑功能，以下是各种门电路的功能及测试实验原理：
1. 与门（AND Gate）：
逻辑功能：当所有输入均为高电平时，输出为高电平；否则输出为低电平。
测试实验原理：将多个输入连接到与门的输入端，将输出端连接到示波器或其他仪器上。
通过改变输入的电平，观察输出的变化，验证与门电路的功能是否正确。
2. 或门（OR Gate）：
逻辑功能：当任意一个输入为高电平时，输出为高电平；所有输入均为低电平时，输出为低电平。
测试实验原理：将多个输入连接到或门的输入端，将输出端连接到示波器或其他仪器上。
通过改变输入的电平，观察输出的变化，验证或门电路的功能是否正确。
3. 非门（NOT Gate）：
逻辑功能：输入与输出互为反相，即输入为高电平时，输出为低电平；输入为低电平时，输出为高电平。
测试实验原理：将输入连接到非门的输入端，将输出端连接到示波器或其他仪器上。
通过改变输入的电平，观察输出的变化，验证非门电路的功能是否正确。
4. 异或门（XOR Gate）：
逻辑功能：当输入的个数为奇数个时，输出为高电平；当输入的个数为偶数个时，输出为低电平。
测试实验原理：将多个输入连接到异或门的输入端，将输出端连接到示波器或其他仪器上。
通过改变输入的电平，观察输出的变化，验证异或门电路的功能是否正确。
注意：以上是常见的门电路的逻辑功能及测试实验原理，具体的实验步骤和使用仪器可能会有所不同，实验时应参考具体的实验指导书或教学资料。
实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试
实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试逻辑门电路是数字电子电路中常用的一种电路，用于实现逻辑运算。
逻辑门电路由逻辑门和逻辑门之间的连接组成。
不同的逻辑门具有不同的逻辑功能，如与门、或门、非门等。
下面将对常见的逻辑门电路的逻辑功能和测试方法进行详细介绍。
一、与门（AND Gate）与门是最基本的逻辑门之一，它的逻辑功能是输入信号同时为高电平时输出高电平，否则输出低电平。
与门的通用符号是一个带有两个输入引脚和一个输出引脚的长方形。
常用的与门有两输入与门、三输入与门等。
测试方法：1.连接电路：将与门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接，将输出引脚连接到一个LED灯。
2.输入测试：将输入引脚分别连接到电源和接地，检查LED灯的亮灭情况。
当输入引脚都为高电平时，LED灯应该亮起；否则，LED灯应该熄灭。
二、或门（OR Gate）或门是另一种常见的逻辑门，它的逻辑功能是只要有一个输入信号为高电平，输出就为高电平；只有所有输入信号都为低电平时，输出才为低电平。
或门的通用符号也是一个带有两个输入引脚和一个输出引脚的长方形。
测试方法：1.连接电路：将或门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接，将输出引脚连接到一个LED灯。
2.输入测试：将输入引脚分别连接到电源和接地，检查LED灯的亮灭情况。
当任意一个输入引脚为高电平时，LED灯应该亮起；否则，LED灯应该熄灭。
三、非门（NOT Gate）非门是较为简单的逻辑门之一，它的逻辑功能是输出与输入相反的电平信号。
非门的通用符号是一个带有一个输入引脚和一个输出引脚的长方形。
测试方法：1.连接电路：将非门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接，将输出引脚连接到一个LED灯。
2.输入测试：将输入引脚分别连接到电源和接地，检查LED灯的亮灭情况。
当输入引脚为高电平时，LED灯应该熄灭；否则，LED灯应该亮起。
以上是常见的逻辑门电路的逻辑功能及测试方法。
通过对逻辑门的测试，可以确保电路正常工作并实现所需的逻辑功能。
2.2.2数字实验一门电路逻辑功能测试及组合逻辑设计
三、实验内容
4、设计全减器
表4-1-4 全减器真值表
输出逻辑函数式
S A B Ci Ci1 (B Ci ) ABCi
数字实验一：门电路逻辑功能测试及组合逻辑电路设计
三、实验内容
4、设计全减器
Ci
1
74LS86
B
2 =1 3
4
5 =1 6
S
A
74LS04 1
& 1
22
1 & 4
& 5
3 74LS00
四输入二与非门74LS20
图4-1-5 三人表决器电路图
数字实验一：门电路逻辑功能测试及组合逻辑电路设计
三、实验内容
3、设计三人表决电路
表4-1-3 三人表决器真值表
A
& 1
2
74LS00
3
74LS20 1
B
6
& & 4
62
5
F 对照验证
C
& 9
84
10
图4-1-5 三人表决器电路图
数字实验一：门电路逻辑功能测试及组合逻辑电路设计
数字实验一：门电路逻辑功能测试及组合逻辑电路设计
三、实验内容
2、设计全加器
A B
1
2 =1 3
74LS86 4
5 =1 6
Ci
1
S
3
2& 1
& 4
62
5
1 3 Ci+1
74LS32
74LS08
图4-1-4 全加器电路图
二输入四异或门74LS86 二输入四与门74LS08 二输入四或门74LS32
数字实验一：门电路逻辑功能测试及组合逻辑电路设计
实验一 逻辑门电路的逻辑功能及测试
实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试一．实验目的1．掌握了解TTL系列、CMOS系列外形及逻辑功能。
2．熟悉各种门电路参数的测试方法。
3. 熟悉集成电路的引脚排列，如何在实验箱上接线，接线时应注意什么。
二、实验仪器及材料a)TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。
b)1）CMOS器件：CC4011 二输入端四与非门 1 片CC4071 二输入端四或门 1片2）TTL器件：74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS02 二输入端四或非门 1 片74LS00 二输入端四与非门 1片74ls125 三态门 1片74ls04 反向器材 1片三．预习要求和思考题：1．预习要求：1）复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
2）常用TTL门电路和CMOS门电路的功能、特点。
3）三态门的功能特点。
4）熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。
5）用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。
2．思考题1）TTL门电路和CMOS门电路有什么区别？2）用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么？四．实验原理1．本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。
2．门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。
TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。
本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路，其管脚识别方法：将TTL集成门电路正面（印有集成门电路型号标记）正对自己，有缺口或有圆点的一端置向左方，左下方第一管脚即为管脚“1”，按逆时针方向数，依次为1、2、3、4············。
如图1—1所示。
具体的各个管脚的功能可通过查找相关手册得知，本书实验所使用的器件均已提供其功能。
图1—13．图1—2分别为基本门电路各逻辑功能的测试方法。
门电路逻辑功能测试及应用
实验一门电路逻辑功能测试及应用一．实验目的掌握基本门电路的逻辑功能。
二．实验设备及器材数字电子实验箱万用表2—3输入2—2输入与或非门确（74LS51）2输入四与非门（74LS00）2输入四正与门（OC）（74LS09）三态门（74LS126）2输入四异或门（7486）三．实验内容及步骤(一).与非门的逻辑功能测试(74LS00)1．如图1—1所示，任意选择其中一个与非门进行实验，输入端A、B分别接数字电子实验箱上的逻辑开关，当开关向上拨时，输入为高电平，即“H”或二进制“1”；当开关向下拨时，输入为低电平，即“L”或二进制“0”。
2．用发光二极管（即LED）显示门的输出状态。
当LED亮时，门的输出状态为“1”，或称高电平，用“H”表示; 当LED暗时，门的输出状态为“0”，或称低电平，用“L”表示。
门的输出状态也可以用电压表或逻辑笔测试。
3.按实验表1—1的要求，改变输入端A、B的逻辑状态，分别测出输出端电平，填入表1—1中，并判定其逻辑功能是否正确，写出逻辑表达式。
实验图1—1实验图1—2实验表1—1(二).利用与非门组成其它门电路或门(74LS00)1.按实验图1—2接线, 输入端A、B分别接数字电子实验箱上的逻辑开关，当开关向上拨时，输入为高电平，即“H”或二进制“1”；当开关向下拨时，输入为低电平，即“L”或二进制“0”。
2．用发光二极管（即LED）显示门的输出状态。
当LED亮时，门的输出状态为“1”，或称高电平，用“H”表示; 当LED暗时，门的输出状态为“0”，或称低电平，用“L”表示。
门的输出状态也可以用电压表或逻辑笔测试。
2.按实验表1—2的要求，改变输入端A、B的逻辑状态，分别测出输出端电平，填入表1—2中，并判定其逻辑功能是否正确，写出逻辑表达式。
实验表1—2(三).与或非门的逻辑功能测试(74LS51)1. 74LS51逻辑图见附录，按实验表1—3的要求，将A、B、C、D分别接数字电子实验箱上的逻辑开关,输出端接状态显示灯。
数字电路实验报告1. 门电路逻辑功能及测试
门电路逻辑功能及测试1.实验目的➢熟悉门电路逻辑功能；➢掌握数字示波器的使用方法。
2.预习要求➢复习门电路工作原理及相应逻辑表达式；➢阅读本实验所用各门电路IC 的数据手册；➢熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途；➢了解数字示波器使用方法。
3.实验器材4.实验内容4.1测试门电路逻辑功能⑴ 选用双四输入与非门74LS20 一只，插入面包板，按图1.1 接线⑵ 将逻辑电平开关按表 1.1 状态转换，测出输出逻辑状态值及电压值填表。
表 1.100.1231 4.021 4.021 4.021 4.024.2 逻辑电路的逻辑关系⑴ 用74LS00 双输入四与非门电路，按图1.2、图1.3 接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1.2，表1.3 中。
0 0 01 1 01 1 00 0 1⑵ 写出两个电路的逻辑表达式。
Y=A'B+AB' Z=AB4.3利用与非门控制输出用一片 74LS00 按图 1.4 接线。
S 分别接高、低电平开关，用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
在下面画出波形图：4.3.14.3.24.4用与非门组成其他门电路⑴ 组成或非门：1 0 0 0 0 1 1 0用一片二输入端四与非门组成或非门画出电路图，测试并填表1.4。
⑵ 组成异或门：①将异或门表达式转化为与非门表达式：A'B+AB'=[(A'B+AB')']'=[(A'B)'(AB')']'②画出逻辑电路图③测试并填表 1.5。
4.5异或门逻辑功能测试选二输入四异或门电路74LS86，按图1.5 接线，输入端1、2、4、5 接电平开关输出插口，输出端A、B、Y 接电平显示发光二极管。
将电平开关按表1.6 的状态转换，将结果填入表中。
0 0 0 0.000671 0 1 5.020 0 0 0.000670 1 1 5.020 0 0 0.000671 1 0 0.001324.6 逻辑门传输延迟时间的测量用六反相器 74LS04 逻辑电路按图 1.6 接线，输入 1KHz 脉冲，将输入脉冲和输出脉冲分别接入数字示波器两路输入端，观察并记录输入、输出端的延时值，计算出每个门的平均延时值。
数字电路实验-门电路逻辑功能及测试
实验二.门电路逻辑功能及测试一.实验目的1.掌握门电路逻辑功能及测试方法2.熟悉数字电路实验装置的使用方法3.熟悉双踪示波器的使用方法二．预习要求1、复习门电路工作原理及相应的逻辑表达式2、熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途3、了解双踪示波器和数字电路实验装置三．实验仪器及材料1.数字电路实验装置2.双踪示波器3.数字万用表4.直流稳压电源5.器件：74LS00 74LS86 74LS04四.实验内容及步骤1.TTL与非门逻辑功能测试(1)将74LS00插入面包板,按图1-1接线,输入端A、B接S1、S2电平开关的输入插口，输出端Y接电平显示LED的输入插口。
(2)将电平开关按表2-1位置，分别测出输出电压及逻辑状态。
Vcc(0,1开关) 141 3 y2 ○V图2-1表2-1输入 A 0 0 1 1B 0 1 0 1输出 Y 1 1 1 0 电压 4.9 4.9 4.9 02.TTL 异或门逻辑功能测试(1)将74LS86插入面包板,按图2-2接线,输入端A 、B 接S1、S2电平开关的输入插口，输出端Y 接电平显示LED 的输入插口。
(2)将电平开关按表1-1位置，分别测出输出电压及逻辑状态。
(3)写出异或门逻辑函数的表达式Vcc （0，1开关） 14 A1 3B 2图2-27○V 表2-23.逻辑电路的功能测试(1)用法74LS00和74LS04按图2-3接好(2)将输入输出的逻辑信号分别测试填入表2-3中 (3)写出图2-3电路的逻辑表达式ZZE F C D A B 图2-3输 入 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1输 出 Y 0 1 1 0 电压 0 4.9 4.9 0表2-34. 利用与非门控制输出将74LS00接线：A 接电平开关输出插口B 接1KHz 脉冲信号用双踪示波器：y1输入端接B 端，观察脉冲信号 y2输入端接输出Z 进行观察（1） A=0 （2） A=1分别记录输入、输出波形，说明与非门的控制作用。
实验1-门电路的逻辑功能及测试
❖ 输出端的处理 ：输出端不允许直接与VDD或VSS连接,同 一芯片上的 输出端可以并联使用；
❖ 严禁带电操作。
TTL与非门的特性和技术参数-1
1、电压传输特性：
①输出高电平UOH、输出低电平UOL UOH 2.4V、UOL 0.4V 便认为合格。 典型值UOH=3.4V UOL=0.3V 。 ②阈值电压UT Ui<UT时，认为Ui是低电平。 Ui>UT时，认为Ui是高电平。 UT =1.4V
实验原理
FA
A&
B
F
A B
FA
1
F
A B
F
A
B
A F
A
F F
A B
A FB
F A
F
门电路常见符号
与非门
或非门
F A•B
F AB
实验原理
OC门 (两输入与非)
A&
B
F
A
B
F
A
B
F
A B
A& FB
F
A
B
A FB
F
A B
F
A
F
B
国标
门电路常见符号
实验原理
三态门 (两输入与非)
与或非门
AB CD
A& A
与非门的传输延迟时间tpd是tPHL和tPLH的平均值。一般TTL与
非门传输延迟时间tpd的值为几纳秒～十几个纳秒。
CMOS逻辑门电路主要参数
实验原理
（1）VOH（min）=0.9VDD； VOL（max）=0.01VDD。所以 CMOS门电路的逻辑摆幅（即高低电平之差）较大。
门电路逻辑功能及测试实验原理
门电路逻辑功能及测试实验原理门电路逻辑功能及测试实验原理一、门电路的基础概念门电路是数字电路中的基本组成部分，它是由逻辑门和输入输出端口组成的。
逻辑门是一个具有一定逻辑功能的电子元器件，它能够根据输入信号的不同状态，产生相应的输出信号。
常见的逻辑门有与门、或门、非门、异或门等。
二、逻辑门的分类及特点1. 与门与门是指两个或多个输入信号经过“与”运算后得到一个输出信号的逻辑电路。
当所有输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平；否则输出信号为低电平。
2. 或门或门是指两个或多个输入信号经过“或”运算后得到一个输出信号的逻辑电路。
只要有一个输入信号为高电平时，输出信号就为高电平；否则输出信号为低电平。
3. 非门非门也称反相器，它只有一个输入端和一个输出端。
当输入端接收到高电平时，输出端就会产生低电平；反之，则会产生高电平。
4. 异或门异或（XOR）运算是指两个二进制数进行加法运算但不进位，并将结果作为二进制数的一位输出。
异或门就是实现异或运算的逻辑门，只有当两个输入信号不同时，输出信号才为高电平；否则输出信号为低电平。
三、门电路的测试实验原理门电路的测试实验可以通过实验仪器来进行。
首先需要准备一个万用表和一些逻辑门芯片，然后按照以下步骤进行测试：1. 与门测试将与门芯片的两个输入端分别接入高电平和低电平，然后用万用表测量输出端的电压值。
如果输出端为低电平，则说明与门工作正常；反之，则存在故障。
2. 或门测试将或门芯片的两个输入端分别接入高电平和低电平，然后用万用表测量输出端的电压值。
如果输出端为高电平，则说明或门工作正常；反之，则存在故障。
3. 非门测试将非门芯片的输入端接入高电平，然后用万用表测量输出端的电压值。
如果输出端为低电平，则说明非门工作正常；反之，则存在故障。
4. 异或门测试将异或门芯片的两个输入端分别接入相同/不同状态下的信号，然后用万用表测量输出端的电压值。
如果输入信号不同，则输出端为高电平；反之，则为低电平。
实验一基本门电路的逻辑功能测试
实验一基本门电路的逻辑功能测试一、实验目的1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
2、了解测试的方法与测试的原理。
二、实验原理实验中用到的基本门电路的符号为：在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。
三、实验设备与器件1、数字逻辑电路用PROTEUS2、显示可用发光二极管。
3、相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。
四、实验内容1.测试TTL门电路的逻辑功能：a）测试74LS08的逻辑功能。
(与门)000 010 100 111b）测试74LS32的逻辑功能。
（或门）000 011 101 111c）测试74LS04的逻辑功能。
（非门）01 10d）测试74LS00的逻辑功能。
（两个都弄得时候不亮，其他都亮）（与非门）（如果只接一个的话，就是非门）001 011 101 110e）测试74LS02（或非门）的逻辑功能。
（两个都不弄得时候亮，其他不亮）001 010 100 110f）测试74LS86（异或门）的逻辑功能。
2.测试CMOS门电路的逻辑功能：在CMOS 4000分类中查询a）测试CC4081(74HC08)的逻辑功能。
（与门）b）测试CC4071(74HC32)的逻辑功能。
（或门）c）测试CC4069(74HC04)的逻辑功能。
（非门）d）测试CC4011(74HC00)的逻辑功能。
（与非门）（如果只接一个的话，就是非门）e）测试CC4001(74HC02)（或非门）的逻辑功能。
f) 测试CC4030(74HC86)（异或门）的逻辑功能。
五、实验报告要求1.画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。
2.根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并分析如何判断逻辑门的好坏。
3.比较一下两类门电路输入端接入电阻或空置时的情况。
4．查询各种集成门的管脚分配，并注明各个管脚的作用与功能。
例：74LS00与门Y=AB74LS32或门Y=A B输入输出A B Y0 0 01 1 11 1 11 1 174LS0474LS0274LS86任意一个连都亮，两个都连不亮（2）CC4081两个都连得时候亮，其他都不亮CC4071两个都不连的时候不亮，其他都亮。
实验一 门电路逻辑功能及测试
实验一门电路逻辑功能及测试一．实验目的1．熟悉门电路逻辑功能。
2．熟悉数字电路实验装置及示波器的使用方法。
二．实验仪器及器件1．数字实验台；数字万用表；数字示波器2．器件： 74LS00 二输入端四与非门 2片74LS20 四输入端双与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1片三．预习要求1．复习门电路逻辑功能2．熟悉所用集成电路各引脚的用途3．了解双踪示波器使用方法四．实验内容检查实验台电源是否正常，选择实验用集成电路。
按自己设计好的电路接线，经指导教师检查后方可通电实验。
注意，在改动接线时要先断开电源。
1．与非门逻辑功能测试（1）选74LS00一只，按图1-1接线。
输入端分别接电平开关，输出端接电平显示发光二极管。
（2）将电平开关按表1-1置位，分别测出输出电压值，并将其逻辑状态结果填入表1-1中。
图1-1表1-12．异或门逻辑功能测试（1）选74LS86一只，按图1-2接线。
输入端分别接电平开关，输出端A，B，Y接电平显示发光二极管。
图1-2（2）将电平开关按表1-2置位，分别测出输出电压值,并将其逻辑状态填入表1-2中。
表1-23．逻辑电路的逻辑关系（1）用74LS00，按图1-3和1-4接线，将输入和输出的逻辑关系分别填入表1-3和1-4中。
（2）写出上面两个电路的逻辑表达式。
图1-3A Y B图1-4表1-3表1-44.用与非门实现其它门电路（1）用与非门组成或门用74LS00组成或门F==画出电路图，测试并填表1-5。
+ABAB表1-5（2）用与非门组成异或门用74LS00组成异或门，写出表达式画出电路图，测试并填表1-6。
表1-6五、实验报告１．按各步骤填写表格２．回答问题：怎样判断门电路逻辑功能是否正常？。
实验一门电路逻辑功能的测试
信号发生器
4
产生测试所需的输入信号。
示波器
2
用于观察和测源
3
为电路提供稳定的直流电 源。
材料
门电路
实验的主要对象，用于实现特定 的逻辑功能。
面包板
一种方便搭建和测试电路的板子， 无需焊接。
电阻、电容、电感
常用的电子元件，用于构建和调 试电路。
实验局限性
虽然本次实验取得了一定的成果，但由于实验条件和时间的限制，仍 存在一些局限性，如未能覆盖所有可能的异常情况。
建议与展望
进一步优化
建议在未来的研究中，对电路的设计和制造工艺进行优化 ，以提高其性能和稳定性。
扩展实验范围
为更全面地测试电路的性能，建议在未来的实验中增加更 多的输入条件和异常情况，以检验电路的鲁棒性。
STEP 01
电路逻辑功能测试基于电 路的真值表和逻辑表达式 进行。
STEP 03
在测试过程中，可以采用 不同的测试策略和算法， 以提高测试效率和准确性。
通过给定电路的输入值， 观察输出值是否符合预期 结果，从而判断电路逻辑 功能是否正常。
Part
02
实验设备与材料
设备
逻辑分析仪
用于捕获和显示数字电路 1
本次实验不仅验证了电路逻辑功能的正确性，也为后续的研究提供了基 础数据和经验。我们期待在未来的研究中，进一步优化电路设计，提高 性能参数，为实际应用提供更好的解决方案。
Part
05
结论与建议
结论总结
测试目的达成
本次实验成功地对电路的逻辑功能进行了测试，验证了电路的正确 性和可靠性。
性能表现
实验结果显示，电路在各种输入条件下均表现稳定，逻辑功能正常， 未出现异常现象。
门电路逻辑功能及测试实验报告
一、实验目的1. 熟悉门电路的基本逻辑功能，包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
2. 掌握门电路逻辑功能的测试方法，包括输入信号的选择、输出信号的观测等。
3. 通过实验加深对数字电路原理的理解，提高动手实践能力。
二、实验原理门电路是数字电路的基本单元，它根据输入信号的逻辑关系产生相应的输出信号。
常见的门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
本实验主要测试以下几种门电路的逻辑功能：1. 与门（AND）：当所有输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平。
2. 或门（OR）：当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号就为高电平。
3. 非门（NOT）：将输入信号的逻辑值取反，即高电平变为低电平，低电平变为高电平。
4. 与非门（NAND）：与门输出信号取反，即当所有输入信号都为高电平时，输出信号为低电平。
5. 或非门（NOR）：或门输出信号取反，即当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号为低电平。
6. 异或门（XOR）：当输入信号不同时，输出信号为高电平；当输入信号相同时，输出信号为低电平。
三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00（2输入端四与非门）4. 74LS32（2输入端四或门）5. 74LS20（4输入端双与非门）6. 74LS86（2输入端四异或门）7. 示波器四、实验内容与步骤1. 与门测试（1）将74LS00芯片插入实验箱，按照电路图连接好与门电路。
（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。
（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合与门逻辑功能。
2. 或门测试（1）将74LS32芯片插入实验箱，按照电路图连接好或门电路。
（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。
（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合或门逻辑功能。
3. 非门测试（1）将74LS04芯片插入实验箱，按照电路图连接好非门电路。
门电路逻辑功能及测试实验原理
门电路逻辑功能及测试实验原理门电路是电子数字电路的基本组成单元，用于实现逻辑功能的运算。
常见的门电路包括与门、或门、非门、异或门等。
每种门电路都有其特定的逻辑功能和运算规则。
1. 与门（AND Gate）：具有两个输入端和一个输出端，当且仅当两个输入信号同时为高电平时，输出才为高电平；否则输出为低电平。
2. 或门（OR Gate）：具有两个输入端和一个输出端，当且仅当两个输入信号中至少一个为高电平时，输出才为高电平；否则输出为低电平。
3. 非门（NOT Gate）：具有一个输入端和一个输出端，当输入信号为高电平时，输出为低电平；当输入信号为低电平时，输出为高电平。
4. 异或门（XOR Gate）：具有两个输入端和一个输出端，当两个输入信号中只有一个为高电平时，输出为高电平；否则输出为低电平。
测试实验原理：测试门电路的逻辑功能通常采用真值表或实验仪器进行验证。
真值表是列出输入和输出的所有可能组合，并对照门电路的逻辑规则得到输出结果。
实验仪器例如示波器、信号源等，用于输入不同的信号给门电路，并观察输出信号的变化。
以与门为例，测试实验可以按照以下步骤进行：1. 设置输入信号：将输入信号线连接到适当的电压源，可以选择高电平和低电平来模拟逻辑运算。
2. 观察输出信号：将输出信号线连接到示波器或其他观测设备，观察输出信号的变化。
根据与门的逻辑规则，当且仅当输入信号同时为高电平时，输出信号才应为高电平。
3. 验证真值表：将输入信号按照真值表中的组合依次设置，观察输出信号是否与真值表中的结果一致。
如果一致，说明门电路的逻辑功能正常。
通过以上步骤，可以验证门电路的逻辑功能是否正确，并对其进行测试实验。
同样的原理和步骤也适用于其他类型的门电路。
实验1-门电路逻辑功能及测试
实验1-门电路逻辑功能及测试实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉器件外形和管脚引线排列。
2、熟悉与非、异或门电路逻辑功能。
3、设计用与非门组成其它门电路并测试验证。
二、实验器件74LS86 四二输入端异或门1片74LS00 四二输入端与非门2片74LS20 四输入端双与非门1片三、预习要求1、复习与非、异或门电路工作原理。
2、熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。
四、实验内容及步骤实验前先检查实验箱电源是否正常。
然后对所选实验用的集成电路进行连线，特别注意Vcc 及地线不能接错。
实验中改动接线须先断开电芯片引脚图如下所示：74LS86 四二输入端异或门 74LS00 四二输入端与非门74LS20 四输入端双与非门实验报告上此部分可不画图，其他部分需画图填写源，接好线后再通电源。
1、测试门电路逻辑功能（1）选用四输入端双非门74LS20一只，插入设计板，按图1接线，输入端a、b、c、d接S1—S4(电平开关输出插口)，输出端L接电平显示发光二极管（D1—D8任意一个）。
图1.1(2) 将电平开关按表1置位，分别测出输出逻辑状态。
将输出结果填入表1中。
表1.1输入输出a b c d L1 1 1 1 00 1 1 1 10 0 1 1 10 0 0 1 10 0 0 0 12、异或门逻辑功能测试（1）选四二输入端异或门74LS86，按图2接线，输入端a、b、c、d接电平开关，输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。
（2）将电平开关按表2置位拨动，将输出结果填入表2中。
图2表2输入输出a b c d A B Y0 0 0 0 0 0 01 0 0 0 1 0 11 1 0 0 0 0 01 1 1 0 0 1 11 1 1 1 0 0 00 1 0 1 1 1 03、分析并验证逻辑电路的逻辑关系（1）用74LS00按图3、图4接线，将输入输出关系分别填入表3、表4中。
（2）写出上面两个电路的逻辑表达式。
门电路逻辑功能及测试实验报告[文档推荐]
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门电路逻辑功能及测试实验报告[文档推荐]一、实验目的1.学习和掌握门电路的基本逻辑功能和特点。
2.通过实际操作，增强对数字电路的感性认识，提高实践动手能力。
3.了解和掌握基本逻辑门电路（与门、或门、非门）的功能及测试方法。
二、实验原理1.逻辑门电路：逻辑门电路是数字电路的基本组成部分，它们按照一定的逻辑关系对输入信号进行处理，产生相应的输出信号。
主要的逻辑门电路有与门、或门、非门等。
2.逻辑功能：逻辑门电路具有特定的逻辑功能，可以通过对输入信号的处理得到预期的输出信号。
与门实现逻辑与运算，或门实现逻辑或运算，非门实现逻辑非运算。
3.测试方法：对于每种逻辑门电路，需要设计合适的测试方案，通过对输入信号的调整和观察输出信号的变化，验证其逻辑功能的正确性。
三、实验步骤1.准备实验材料：数字万用表、逻辑门电路实验箱、与门、或门、非门各一个，以及适当的连接线和输入输出设备。
2.设计测试方案：分别针对与门、或门、非门设计测试方案，包括输入信号的选择、预期输出结果的预测以及如何使用万用表进行实际测量。
3.进行测试：按照设计的测试方案，逐一进行实验测试，记录实际测量结果。
4.结果分析：对比预期输出结果与实际测量结果，分析差异及原因，总结各种逻辑门电路的功能及特点。
5.撰写实验报告：整理实验过程和结果，撰写实验报告。
四、实验结果及分析1.与门测试：（1）设计测试方案：给与门的输入端分别接入高电平和低电平，观察输出结果的变化。
并预测当两个输入端都为低电平时的输出结果。
（2）进行测试：使用万用表测量与门的输出电压，记录下不同输入情况下的输出结果。
（3）结果分析：当两个输入端都为低电平时，输出端为高电平；其他情况下，输出端为低电平。
与预期结果相符，验证了与门的正确功能。
2.或门测试：（1）设计测试方案：给或门的输入端分别接入高电平和低电平，观察输出结果的变化。
并预测当两个输入端都为低电平时的输出结果。
（2）进行测试：使用万用表测量或门的输出电压，记录下不同输入情况下的输出结果。
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4. 用与非门组成其它门电路并测试验证
(1) 组成或非门。 用一片二输入端四与非门组成或非门
Y A B A B A B
画出电路图，测试并填入表1.5中。
表1.5
输入 A B 0 0 1 1 0 1 0 1
输出 Y
A
1 & 2 4 5
3
A
9 10 & Y 8 12 & 11 & 13
1 2
=1
3
A 9 =1 8 V B Y
10
4 5 =1 6
图1.4
表1.2 输 入 1 0 1 2 0 0 4 0 0 5 0 0 A B 输 Y 出 Y(电压）/V
1
1 1
1
1 1
0
1 1
0
0 1
0
1
0
1
3.逻辑电路的逻辑关系 (1)用74LS00与非门按图1.5和1.6接线，将输入输出逻辑 关系分别填入表1.3及1.4中。 (2)写出上面两个电路逻辑表达式。
图1.1
图1.2
74LS00四-二输入与非门
74LS86 四-二输入异或门
直流电源
LED电平显示
74LS04
74LS00×3
74LS86
数据开关
逻辑开关 时钟
三、实验内容及步骤 1.测试门电路逻辑功能 (l)选用四-二输入与非门74LS00一只，按图1.3接线、输入端 A、B接数据开关(K1～K12两个任意)，输出端接LED电平显 示 (L1～L16任意一个) 。 (2)将电平开关按表1.1置位，分别测输出电压及逻辑状态。
实验一
ห้องสมุดไป่ตู้一、实验目的
门电路逻辑功能及测试
1.熟悉门电路逻辑功能。
2.熟悉现代电子实验台组成结构及使用方法。 二、实验设备及器件
1. 双踪示波器 2. 现代电子技术实验台 器件: 74LS00 二输入端四与非门 74LS86 二输入端四异或门
3片 （A12~A14） l片 (A15）
三、实验原理
门电路是开关电路的一种，它具有一个或多个输入端，只有一个输出端， 当一个或多个输入端有信号时其输出才有信号。门电路在满足一定条件时，按 一定规律输出，起着开关作用。基本门电路采用与门、或门、非门三种，也可 将其组合而构成其它门，如与非门、或非门等。 图1.1为与非门原理图，其基本功能是：输入端有0出1，全1出0。Y=AB 图1.2为异或门原理图，其基本功能是：输入端不相同输出为1，相同输出为0 。
B
& 6
B
图1.7
(2) 组成同或门
①将同或门表达式转化为与非门表达式。 ②画出逻辑电路图 ③测试并填表1.6。
。
表1.6
输入 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1
输出 Y
五、实验报告 1. 按各步骤要求填表并画逻辑图。 2. 回答问题：
(1)怎样判断门电路逻辑功能是否正常? (2)与非门一个输入接连续脉冲．其余端什么状态时 允许脉冲通过?什么状态时禁止脉冲通过?
六、注意事项 1.实验过程中不准带电接线和改线。 2.注意电源的极性不要接错。 3.检查无误后方可接通电源进行实验。
A
1
表1.3
＆ 3 9 8 ＆ 2 10
1 ＆ 2 6 12＆ 13 11 3
输入
Y
输出 B 0 Y
A 0
4
B
＆ 5
0 1
1
1 0
1
图1.5
表1.4
A
1
4
5 ＆ 3 9
6 1
Y
3
输入
A 0 0 1 B 0 1 0 Y
输出
Z
B
2
＆
＆ 2 ＆ 8
10
12 13
Z
＆
11
图1.6
1
1
注意：两片74LS00都接电源和地线。
Vcc
14 A B 1 2
表1.1
3 V Y
＆
7
输 入 A B 0 0 0 1 1 1 0 1
输 出 Y 电压（V）
图1.3
2.异或门逻辑功能测试 (1)选二输入四异或门电路74LS86，按图1.4接线，输入端1、 2、4、5接数据开关，输出端A、B、Y接电平显示发光二极 管。 (2)将电平开关按表1.4置位，将结果填入表中。