常用电子元器件检测方法与技巧
常用电子元器件的检验方法
常用电子元器件的检验方法
一、外观检查：
对电子元器件的外观进行检查，包括观察元器件是否有明显的外观缺陷，如裂纹、变形、氧化等。
还需要检查元器件的标识、标志、焊接等是否符合要求，是否有明显的灰尘、污渍等。
二、尺寸检查：
对电子元器件的尺寸进行检查，包括检查元器件的外观尺寸、引脚距离、引脚长度等是否符合规定。
还需要检查元器件的焊盘、焊接孔、孔径等是否符合要求，并且与其他组件的配合是否良好。
三、电性能检查：
对电子元器件的电性能进行检查，包括使用电阻表、电流表、电压表等仪器检测元器件的电阻、电流、电压等参数是否符合规定。
还可以使用示波器、频谱分析仪等仪器检测元器件的频率、波形、谐波等特性。
四、功能性能检查：
对电子元器件的功能性能进行检查，即检测元器件在实际使用条件下的工作情况是否正常。
可以通过将元器件连接到相应的电路中，进行电路的调试和测试，观察元器件的工作状态和效果是否符合要求。
五、可靠性测试：
对电子元器件的可靠性进行测试，包括温度试验、湿度试验、振动试验、冲击试验等。
通过在不同的环境条件下对元器件进行长时间的测试，观察元器件在不同环境下的工作情况，评估其可靠性和适应性。
以上是常用电子元器件的检验方法的一些基本内容，不同的元器件可能有不同的检验方法和要求，需要根据具体情况进行选择和应用。
在进行元器件检验时，需要使用合适的检测仪器和设备，正确操作并记录检测结果，以确保电子元器件的质量和性能符合要求。
常用电子元器件检测方法与技巧
民常用电子元器件检测方法与技巧元器件的检测是家电维修的一项基本功，如何准确有效地检测元器件的相关参数,判断元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否。
特别对初学者来说,熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要，以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供对考。
一、电阻器的检测方法与经验：1固定1固定电容器的检测A检测10pF以下的小电容因10pF以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电,内部短路或击穿现象。
测量时，可选用万用表R×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。
若测出阻值（指针向右摆动）为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。
B检测10PF～001μF固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。
万用表选用R×1k挡。
两只三极管的β值均为100以上,且穿透电流要小。
可选用3DG6等型号硅三极管组成复合管。
万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。
由于复合三极管的放大作用，把被测电容的充放电过程予以放大，使万用表指针摆幅度加大，从而便于观察.应注意的是：在测试操作时，特别是在测较小容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触A、B两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。
C对于001μF以上的固定电容，可用万用表的R×10k 挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。
2电解电容器的检测A因为电解电容的容量较一般固定电容大得多，所以，测量时，应针对不同容量选用合适的量程。
根据经验，一般情况下，1～47μF间的电容，可用R×1k挡测量，大于47μF的电容可用R×100挡测量。
B将万用表红表笔接负极，黑表笔接正极，在刚接触的瞬间，万用表指针即向右偏转较大偏度(对于同一电阻挡,容量越大，摆幅越大),接着逐渐向左回转，直到停在某一位置。
电子元器件的检测方法
电子元器件的检测方法电子元器件的检测方法对于保障产品质量、确保设备正常运行至关重要。
本文将介绍几种常用的电子元器件的检测方法。
一、外观检测外观检测是电子元器件检测中最简单且最基础的方法之一。
通过目视观察元器件的外观，检查是否存在外观缺陷、氧化、变形等问题。
一些常用的外观检测设备包括显微镜、放大镜和高清摄像机等。
外观检测可以快速检查大量元器件，但不能确定元器件内部是否存在问题。
二、电性能测试电性能测试是常见的电子元器件检测方法之一，通过测量元器件的电性能参数来判断其正常与否。
例如，对于半导体器件，可以通过测量其电流、电压和电阻等参数来判断其质量。
电性能测试需要使用仪器设备，如万用表和示波器等。
三、无损检测无损检测是一种非破坏性的电子元器件检测方法，通过检测元器件所发出的信号或响应来判断其内部是否存在缺陷。
无损检测常用于印刷电路板（PCB）和焊接接头等元器件的质量检测。
常见的无损检测方法包括红外热成像、超声波检测和射线检测等。
四、环境适应性测试环境适应性测试是一种测试电子元器件在不同环境条件下性能稳定性的方法。
通过模拟实际工作环境中的温度、湿度、振动和电磁干扰等因素，测试元器件在这些条件下的可靠性和稳定性。
环境适应性测试可以帮助制造商评估元器件在不同环境下是否能满足产品要求。
五、X射线检测X射线检测是一种用于检测电子元器件内部缺陷的方法。
通过照射元器件并观察其产生的衍射和散射现象，可以检测到元器件内部的焊点开裂、引线脱落等问题。
X射线检测可以在不破坏元器件的情况下对其进行全面的内部检测。
六、寿命测试寿命测试是一种测试电子元器件使用寿命和可靠性的方法。
通过模拟实际使用条件，对元器件进行长时间的工作状况下的测试，以确定其在使用寿命方面的性能。
寿命测试可以帮助制造商评估元器件的耐久性和可靠性，并提前发现潜在的故障问题。
综上所述，电子元器件的检测方法多种多样，不同的方法适用于不同的元器件和不同的检测需求。
通过合理选择和应用这些检测方法，可以确保电子元器件的质量和可靠性，提高产品的竞争力和市场认可度。
电子元器件检测与测试方法
电子元器件检测与测试方法电子元器件检测与测试方法电子元器件检测与测试是电子行业不可或缺的重要环节，通过对电子元器件进行全面准确的检测和测试，可以保证电子产品的质量和稳定性，提高其可靠性和寿命，同时也提高了企业的信誉度和市场竞争力。
电子元器件的检测和测试方法主要包括以下几种：1.物理测量法物理测量法是用物理实验方法对电子元器件进行检测和测试的一种方法，主要包括电阻测量、电容测量、电感测量、磁场测量、温度测量等。
其中，电阻测量是最常用的物理测量法，常用的仪器有万用表、电桥等。
2.功能测试法功能测试法是通过对电子元器件的功能进行测试，来判断其性能是否符合规定要求的一种方法，其主要包括开路测试、短路测试、线损测试、电源电压测试、逻辑电平测试、延迟测试等。
常用的功能测试仪器有示波器、信号源、频谱分析仪、噪声测试仪等。
3.非破坏性检测法非破坏性检测法是指在对电子元器件进行检测和测试时，无需对其造成损坏，也不会改变其性能的一种方法，主要包括X射线检测、磁粉检测、超声波检测、红外检测等。
其中，X射线检测是一种非常重要的非破坏性检测方法，常用于对电子元器件的内部结构进行检测和测试。
4.环境检测法环境检测法是指通过对电子元器件所处环境进行检测和测试来评估其性能和稳定性的一种方法，主要包括温度测试、湿度测试、震动测试、防护等级测试等。
其常用的环境检测仪器有温湿度计、振动测试仪、防护等级测试仪等。
在进行电子元器件检测和测试时，需要根据具体的元器件种类和性能要求选择合适的方法和仪器，同时要注意以下几点：1.仪器精度和准确性。
仪器的精度和准确性是影响测试结果的关键因素，因此在进行测试前需要检查所使用的仪器是否正常，并进行校准和调整，确保测试结果准确可靠。
2.测试条件的控制。
电子元器件的性能在不同的环境下会发生变化，因此在进行测试时要严格控制测试条件，特别是温度、湿度、电源电压等因素。
3.数据分析和处理。
在进行电子元器件测试后，需要对测试数据进行分析和处理，根据实际情况进行调整和优化，并进行合理的记录和存档，以备后续参考使用。
电子元器件识别与检测方法大全
电子元器件识别与检测方法大全1.目视检查：通过肉眼观察元器件的外部特征，如封装形状、引脚数量和排列等，可以初步判断元器件的类型、性能和规格等。
2.五线谱法：使用顶针、伏打仪等测量设备，在元器件的引脚上测量电阻、电容、电感等参数，通过比对测试结果和标准参数来识别元器件类型。
3.输电线圈法：通过对元器件的线圈进行输入电流测量和电压测量，计算出得到元器件的电阻、电感、互感等参数，进行元器件的类型识别。
4.X射线检测法：通过使用X射线设备扫描和照射元器件，可以观察元器件的内部结构和焊接情况，用来检测元器件是否存在异常情况，如焊接虚焊、焊接不良等。
5.红外线检测法：通过红外线热成像技术，可以发现元器件在工作过程中的热点、温度异常等问题，对于散热不良的元器件可以快速识别。
6.环境湿度检测法：通过检测元器件周围的湿度情况，可以判断元器件是否存在潮湿等问题，避免电子元器件受潮而影响正常工作。
7.剩余温度检测法：通过检测元器件在使用过程中的温度，可以判断元器件是否存在过热情况，及时调整工作状态，避免元器件温度过高损坏。
8.电磁兼容性测试法：通过电磁兼容性测试设备，对元器件的辐射和抗辐射能力进行测试，判断元器件是否能够满足相关的电磁兼容性要求。
9.声音检测法：通过对元器件进行敲击、振动等操作，观察元器件的声音特征，可以初步判断元器件是否存在内部损坏情况。
10.玻璃绝热检测法：通过对元器件封装外壳的玻璃绝热特性进行检测，可以判断元器件的密封性能是否良好，防止外界湿气、灰尘等物质进入并影响元器件的正常工作。
总之，元器件的识别与检测方法多种多样，需要根据具体的元器件类型、性能和规格等特点，选择合适的检测手段和测试设备，进行全面的评估和检测，以确保元器件的正常工作和使用安全。
电子元器件检测方法
电子元器件检测方法电子元器件是电子产品中最为基础的组成部分，检测电子元器件的可靠性和稳定性是现代电子工程中至关重要的一环。
对于电子元器件的检测方法，以下是一些常用的方法供参考。
1. 绝缘电阻测试绝缘电阻测试常用于检测电子元器件的绝缘是否良好。
该测试方法使用万用表测量两个电极之间的电阻值来检测绝缘是否被破坏。
如果发现电阻值过低，那么可能代表着元器件的绝缘已经破坏或者短路了。
2. 电容测试电容是电子元器件中最为常见的元器件之一，通常被用于存储电荷和稳定电压。
电容可以被检测其电容值是否符合标准规范。
可用万用表或者LCR仪器测量电容值，并根据测量结果来判断电容是否正常。
3. 电感测试电感是使用磁场来存储电能的元器件。
电感的测试通常通过一个频率测量器来测量电感元件的电感值。
通过比较测量结果和标准规范，可以判断电感元件是否达到标准要求。
4. 二极管和晶体管测试二极管和晶体管是半导体元件的重要组成部分。
通过使用特定的测试仪器，可以测量二极管和晶体管的电流和电压值，以确定是否符合标准规范。
同时，通常还会检查元器件的漏电流和反向电压，来确保其性能的完整性。
5. 可控硅测试可控硅是一种电子元器件，常用于电路控制。
测试可控硅通常可以使用特定的交流电流或直流电流来刺激元器件，然后使用测试仪器来测量其开关特性和电流传输特性，以判断其性能是否符合标准规范。
6. 晶振测试晶振是一种用于精确计时和频率控制的元器件。
晶振的测试通常需要使用测试仪器来测量其准确的振荡频率，并根据标准要求来判断其准确性是否符合要求。
总的来说，电子元器件的测试十分重要，主要是为了保证电子产品的品质和稳定性。
以上列举了一些常见的测试方法供参考，然而对于某些特定的元器件来说，存在特殊的测试方法。
在进行电子元器件测试之前，应该先了解其工作原理和性能特点，并且根据实际要求选择合适的测试方法。
电子元器件检测方法
电子元器件检测方法一、外观检测外观检测是对电子元器件进行外观质量检查的过程。
主要针对元器件的包装、引脚、焊盘、引线等部分，检查是否有划痕、变形、断裂等物理损伤。
外观检测的方法包括裸眼检查、显微镜检查、红外线检查等。
1.裸眼检查：通过肉眼观察，检查元器件的外观是否完整，是否有明显损伤。
2.显微镜检查：利用显微镜放大镜头观察元器件的微观细节，检查元器件引脚的焊接质量，是否有焊接不良、翘曲等问题。
3.红外线检查：利用红外线照射元器件，观察红外线探测器是否能够发现元器件内部的热点，判断器件是否存在结构缺陷。
二、电性能测试电性能测试是对电子元器件的电学参数和特性进行测试和验证的过程。
主要包括直流电参数测试、交流电参数测试、参数拟合等。
1.直流电参数测试：测量电子元器件的直流电阻、电容、电感、导通电压等参数，常用的测试仪器包括示波器、万用表等。
2.交流电参数测试：测量电子元器件在交流电路中的参数，包括交流电阻、频率响应、相位差等参数，常用的测试仪器包括频谱仪、网络分析仪等。
3.参数拟合：通过实验测试得到的电性能数据，进行曲线拟合和参数提取，对元器件的电特性进行分析和评估。
三、可靠性测试可靠性测试是对电子元器件在长期使用和极端环境下的可靠性进行评估的过程。
主要包括温度循环测试、湿度试验、高温老化试验等。
1.温度循环测试：将电子元器件放置在不同温度条件下进行循环加热和冷却，观察其工作状态和性能变化，评估元器件在温度变化环境下的可靠性。
2.湿度试验：将电子元器件放置在高温高湿环境中，观察其工作状态和性能变化，评估元器件在潮湿环境下的可靠性。
3.高温老化试验：将电子元器件放置在高温环境中长时间工作，观察其工作状态和性能变化，评估元器件在高温长时间工作环境下的可靠性。
总结：。
常用电子元器件的基本知识与测试方法
常用电子元器件的基本知识与测试方法常用电子元器件是电子技术中非常重要的一部分，是构成可靠电路的基本材料。
根据其功能和电学特性，可以分为被动元件和主动元件两类。
被动元件包括电阻器、电容器和电感器，主动元件包括二极管、晶体管和集成电路等。
本文将介绍这些常用电子元器件的基本知识及测试方法。
一、电阻器电阻器是被动元件中应用最广泛的器件之一，常用于限流、分压、电平转换、滤波等电路中。
其主要特性是电阻值，常用单位为欧姆(Ω)，电阻值受到温度、功率、误差等因素的影响。
测试方法：1、万用表法：将测试笔放在电阻器的两端，读取电阻值。
需要注意的是，在使用万用表进行测量时，应将万用表调整到合适的档位，避免过大或过小的测量值影响测量精度。
2、颜色环法：在电阻器的外部通常会有几个彩色环，这些颜色环代表其电阻值。
通常有四个彩色环，前三个环表示电阻值，第四个环表示电阻器精度(误差)。
二、电容器电容器是另一种常用的被动元件，主要用于存储电荷、滤波、延时等电路中。
其主要特性是容量，常用单位为法拉(F)或毫法(F)。
测试方法：1、桥式测量法：将电容器放入电容桥电路中，通过改变待测电容的相对位置，测量电桥各分压值，计算得到待测电容的容值。
2、电容计法：使用电容计对电容器的容量进行测量，电容计通常有两种：模拟电容计和数字电容计。
不同的电容计使用方法略有区别，需要认真阅读电容计的说明书。
三、电感器电感器是另一种被动元件，主要用于选择频率、增益、滤波等电路中。
其主要特性是电感值，常用单位为亨利(H)，毫亨(mH)或微亨(μH)等。
测试方法：1、万用表法：选择电感测量档位，将测试笔放在电感器的两端，读取电感值。
需要注意的是，在使用万用表进行测量时，应将万用表调整到合适的档位，避免过大或过小的测量值影响测量精度。
2、LCR表法：LCR表是专门用于测量电容器、电感器和电阻器等被动元件的仪器。
通过选择适当的模式和参数，可以测量电感器的电感值、品质因数等多个参数。
模拟电路常用电子元器件的检测方法分析
模拟电路常用电子元器件的检测方法分析模拟电路中常用的电子元器件一般包括电阻、电容、电感、二极管、三极管、场效应管、操作放大器等。
这些元器件是组成模拟电路的基本部件，是模拟电路正常工作的保障。
为了确保模拟电路的正确性和可靠性，我们需要对这些元器件进行检测。
1. 电阻的检测方法（1）使用万用表，将万用表调至电阻档位。
将测量电阻的两个引线连接到待测电阻两端，即可得到电阻值。
（2）使用示波器，在待测电阻两端接入信号源和负载，并检测输出波形。
根据波形变化，可以判断电阻对电路的影响程度。
（3）对于精密电阻，需要使用精密万用表或信号源进行检测。
同时，需要注意检测前的预热时间。
（2）使用示波器测量待测二极管在电路中的工作状态，如正弦波输出、整流作用等，根据输出波形可以判断二极管是否正常。
（3）使用二极管测试仪，这种设备可以帮助我们在最短时间内快速检测出二极管的电压，正负极性和开路情况。
（3）使用三极管测试仪，该设备能够检测管子的正、负极性、放大因数和开环增益等参数，不仅能够便捷的检测三极管是否完好，而且还能检测出三极管的电流、电压等信息。
（3）使用场效应管测试仪，该设备能够检测管子的漏电流、栅电压、具体类型和参数，比如输入电容和放大器。
（1）使用万用表，将万用表调至操作放大器测试档位，将测量放大器的两个引线连接到放大器的正、负极性和输出端。
通过测量输出电压，来判断操作放大器是否正常。
（2）使用示波器测量待测操作放大器的放大倍数、电压、频率限制。
根据输出波形可以判断操作放大器是否正常。
（3）使用放大器测试仪，该设备能够检测放大器的电压、电流、放大倍数和电容值等参数，可以更加精准的检测出测试对象中的问题。
总结：在模拟电路中，对于常规的电子元器件，可以通过万用表、示波器等工具进行简单的测量和检测。
对于高精度元器件，则需要使用专业仪器进行检测。
在检测过程中，需要注意保护仪器、注意安全，并仔细检查检测结果，避免出现误判和误操作。
电子元器件的检测方法
电子元器件的检测方法1.外观检查：检查元器件的外观是否有损伤、变形或氧化等情况。
这可以通过目视检查或借助显微镜来进行。
2.尺寸检测：使用合适的测量工具，比如卡尺或显微镜进行尺寸检测。
这样可以确保元器件的尺寸符合设计要求。
3.焊接检测：对于焊接的元器件，可以通过目视检查或借助显微镜来检查焊接的质量。
焊接点需要有均匀的焊接和无明显的虚焊或接触不良。
4.电阻检测：使用万用表或特殊的电阻测量仪器来测量电子元器件的电阻值。
将待测电阻连接到仪器上进行测量，并与标准电阻值进行比较。
5.电容检测：使用电容测试仪测量电子元器件的电容值。
将待测电容连接到测试仪器上进行测量，并与标准电容值进行比较。
6.漏电流检测：对于需要承受一定电压的元器件，可以使用漏电流测试仪器来测量其漏电流值。
通过与标准值进行比较，可以评估元器件的绝缘性能是否符合要求。
7.连通性检测：使用电子元器件测试仪器，如万用表或逻辑分析仪，检测元器件的引脚之间的连通性。
通过这种方法可以判断元器件是否损坏或引脚焊接是否正确。
8.器件寿命测试：使用特定的测试设备对元器件进行长时间的工作负载测试，以验证其作为电子装置组成部分的可靠性和寿命。
9.环境适应性测试：将电子元器件置于不同的温度、湿度或振动等环境条件下，检测其在不同条件下的性能。
这可以帮助确定元器件的适应性和可靠性。
10.X射线检查：使用X射线检查仪器来检查元器件内部的焊接、连接和结构。
通过X射线检查可以发现隐藏在外观下的缺陷或损伤。
总之，电子元器件的检测方法非常多样化，需要根据具体的元器件类型和检测需求进行选择。
每种检测方法都有其优缺点，综合使用可以提高检测的准确性和可靠性。
电子元器件常见检测经验和方法
电子元器件常见检测经验和方法
在电子元器件的生产和使用过程中，常见的检测经验和方法有很多。
下面将介绍一些常见的检测经验和方法。
1.外观检查：包括外壳是否完整，引脚是否完好，是否有明显的磨损或氧化等。
可以使用肉眼或放大镜进行检查。
2.尺寸检测：使用测量仪器，如千分尺、游标卡尺等，对元器件的尺寸进行精确测量，以核实是否符合规格要求。
3.焊接质量检测：通过目视检查、X射线检测、红外热成像等方法，来检测焊点是否均匀、牢固，并且没有裂纹、气泡等缺陷。
4.引脚电性参数检测：使用测试仪器，如万用表、示波器等，来检测元器件的引脚电性参数，如电压、电流、频率等。
5.漏气检测：对于封装型元器件，可以使用氩气检测仪器，来检测元器件的外包装是否存在漏气现象。
6.温度循环测试：通过连续暴露元器件在高温和低温环境下，观察元器件的外观和性能是否发生变化。
7.高温老化测试：将元器件暴露在高温环境下，持续一段时间，观察元器件的性能是否受到影响。
8.电磁兼容性测试：通过放射性测试和抗干扰测试，检测元器件在电磁环境下的性能和可靠性。
9.可靠性测试：包括寿命试验、高低温交变湿热试验、振动试验等，以评估元器件的可靠性和寿命。
10.功能性测试：根据元器件的设计功能，通过电路连接和信号输入，来验证元器件是否正常工作。
以上是一些常见的电子元器件检测经验和方法，但并非全部。
在实际
应用中，根据具体的元器件类型和使用环境，可能需要结合不同的检测方
法和仪器，以保证元器件的质量和可靠性。
除了上述方法外，还可以根据
不同元器件的特点，自行设计相应的检测方法，以适应不同的检测需求。
常用电子元器件检测方法与技巧
常用电子元器件检测方法与技巧电子元器件是现代电子设备中不可缺少的部分，它的正确性和可靠性对整个设备的性能和寿命有很大的影响。
因此，准确地检测电子元器件的性能和质量是非常重要的。
以下是一些常用的电子元器件检测方法和技巧。
1.电阻检测：使用万用表可以测量电阻值。
将待测的电阻器两端与万用表的两个测试引脚连接，选择合适的量程，读取电阻值。
如果电阻值正常范围内，则电阻器正常；如果电阻值无限大或接近零，表示电阻器故障。
2.电容检测：可以使用万用表的电容测试功能来检测电容的数值。
将待测电容器的两个引脚与万用表的两个测试引脚连接，选择合适的电容量程，读取电容值。
如果电容值在正常范围内，则电容器正常；如果电容值无限大或接近零，则电容器故障。
3.二极管和三极管检测：可以使用万用表的二极管测试模式或者三极管测试模式来检测二极管和三极管。
将待测二极管或三极管的引脚与万用表的测试引脚连接，选择相应的测试模式，观察读数。
如果正向电压降在正常范围内，且反向电压无限大，则元器件正常；如果正向电压降或反向电压接近零，表示元器件故障。
4.稳压器和集成电路检测：对于稳压器和集成电路，可以使用测试电路来检测。
将待测稳压器或集成电路安装在一个测试电路中，给予适当的输入电压，并测量输出电压和电流。
将测量结果与规格进行比较，如果输出电压和电流在规格内，则元器件正常；如果输出电压和电流异常，表示元器件故障。
5.电感检测：对于电感器，可以使用万用表的电感测试功能来检测电感数值。
将待测电感器的两个引脚与万用表的两个测试引脚连接，选择相应的电感量程，读取电感值。
如果电感值在正常范围内，则电感器正常；如果电感值无限大或接近零，则电感器故障。
6.继电器检测：对于继电器，可以通过观察继电器的工作状态来检测。
将待测继电器的电源引脚与电源连接，并通过观察继电器的吸合和断开状态来判断继电器是否正常。
如果继电器吸合和断开动作正常，则继电器正常；如果继电器无法吸合或断开，则继电器故障。
常用电子元件检测方法
常用电子元件检测方法常用电子元器件检测方法与经验元器件的检测是家电维修的一项基本功如何准确有效地检测元器件的相关参数判断元器件的是否正常不是一件千篇一律的事必须根据不同的元器件采用不同的方法从而判断元器件的正常与否特别对初学者来说熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供对考一电阻器的检测方法与经验1固定电阻器的检测A将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电阻值为了提高测量精度应根据被测电阻标称值的大小来选择量程由于欧姆挡刻度的非线性关系它的中间一段分度较为精细因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置即全刻度起始的2080弧度范围内以使测量更准确根据电阻误差等级不同读数与标称阻值之间分别允许有510或20的误差如不相符超出误差范围则说明该电阻值变值了B注意测试时特别是在测几十k以上阻值的电阻时手不要触及表笔和电阻的导电部分被检测的电阻从电路中焊下来至少要焊开一个头以免电路中的其他元件对测试产生影响造成测量误差色环电阻的阻值虽然能以色环标志来确定但在使用时最好还是用万用表测试一下其实际阻值2水泥电阻的检测检测水泥电阻的方法及注意事项与检测普通固定电阻完全相同3熔断电阻器的检测在电路中当熔断电阻器熔断开路后可根据经验作出判断若发现熔断电阻器表面发黑或烧焦可断定是其负荷过重通过它的电流超过额定值很多倍所致如果其表面无任何痕迹而开路则表明流过的电流刚好等于或稍大于其额定熔断值对于表面无任何痕迹的熔断电阻器好坏的判断可借助万用表R1挡来测量为保证测量准确应将熔断电阻器一端从电路上焊下若测得的阻值为无穷大则说明此熔断电阻器已失效开路若测得的阻值与标称值相差甚远表明电阻变值也不宜再使用在维修实践中发现也有少数熔断电阻器在电路中被击穿短路的现象检测时也应予以注意4电位器的检测检查电位器时首先要转动旋柄看看旋柄转动是否平滑开关是否灵活开关通断时喀哒声是否清脆并听一听电位器内部接触点和电检测时用万用表R1挡具体可分两步操作A常温检测(室内温度接近25)将两表笔接触PTC热敏电阻的两引脚测出其实际阻值并与标称阻值相对比二者相差在2内即为正常实际阻值若与标称阻值相差过大则说明其性能不良或已损坏B加温检测在常温测试正常的基础上即可进行第二步测试加温检测将一热源(例如电烙铁)靠近PTC热敏电阻对其加热同时用万用表监测其电阻值是否随温度的升高而增大如是说明热敏电阻正常若阻值无变化说明其性能变劣不能继续使用注意不要使热源与PTC 热敏电阻靠得过近或直接接触热敏电阻以防止将其烫坏6负温度系数热敏电阻(NTC)的检测(1)测量标称电阻值Rt用万用表测量NTC热敏电阻的方法与测量普通固定电阻的方法相同即根据 NTC 热敏电阻的标称阻值选择合适的电阻挡可直接测出Rt的实际值但因NTC热敏电阻对温度很敏感故测试时应注意以下几点ARt是生产厂家在环境温度为25时所测得的所以用万用表测量Rt时亦应在环境温度接近25时进行以保证测试的可信度B测量功率不得超过规定值以免电流热效应引起测量误差阻体摩擦的声音如有沙沙声说明质量不好用万用表测试时先根据被测电位器阻值的大小选择好万用表的合适电阻挡位然后可按下述方法进行检测 A用万用表的欧姆挡测12两端其读数应为电位器的标称阻值如万用表的指针不动或阻值相差很多则表明该电位器已损坏B检测电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好用万用表的欧姆档测12(或23)两端将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近关的位置这时电阻值越小越好再顺时针慢慢旋转轴柄电阻值应逐渐增大表头中的指针应平稳移动当轴柄旋至极端位置3时阻值应接近电位器的标称值如万用表的指针在电位器的轴柄转动过程中有跳动现象说明活动触点有接触不良的故障 5正温度系数热敏电阻(PTC)的检测C注意正确操作测试时不要用手捏住热敏电阻体以防止人体温度对测试产生影响(2)估测温度系数t先在室温t1下测得电阻值Rt1再用电烙铁作热源靠近热敏电阻Rt测出电阻值RT2同时用温度计测出此时热敏电阻RT表面的平均温度t2再进行计算 7压敏电阻的检测用万用表的R1k挡测量压敏电阻两引脚之间的正反向绝缘电阻均为无穷大否则说明漏电流大若所测电阻很小说明压敏电阻已损坏不能使用8光敏电阻的检测A用一黑纸片将光敏电阻的透光窗口遮住此时万用表的指针基本保持不动阻值接近无穷大此值越大说明光敏电阻性能越好若此值很小或接近为零说明光敏电阻已烧穿损坏不能再继续使用B将一光源对准光敏电阻的透光窗口此时万用表的指针应有较大幅度的摆动阻值明显减小此值越小说明光敏电阻性能越好若此值很大甚至无穷大表明光敏电阻内部开路损坏也不能再继续使用C将光敏电阻透光窗口对准入射光线用小黑纸片在光敏电阻的遮光窗上部晃动使其间断受光此时万用表指针应随黑纸片的晃动而左右摆动如果万用表指针始终停在某一位置不随纸片晃动而摆动说明光敏电阻的光敏材料已经损坏二电容器的检测方法与经验1固定电容器的检测A检测10pF以下的小电容因10pF以下的固定电容器容量太小用万用表进行测量只能定性的检查其是否有漏电内部短路或击穿现象测量时可选用万用表R10k挡用两表笔分别任意接电容的两个引脚阻值应为无穷大若测出阻值(指针向右摆动)为零则说明电容漏电损坏或内部击穿B检测10PF0.01F固定电容器是否有充电现象进而判断其好坏万用表选用 R1k 挡两只三极管的值均为100以上且穿透电流要小可选用3DG6等型号硅三极管组成复合管万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接由于复合三极管的放大作用把被测电容的充放电过程予以放大使万用表指针摆幅度加大从而便于观察应注意的是在测试操作时特别是在测较小容量的电容时要反复调换被测电容引脚接触AB两点才能明显地看到万用表指针的摆动C 对于0.01F以上的固定电容可用万用表的R10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量2电解电容器的检测A因为电解电容的容量较一般固定电容大得多所以测量时应针对不同容量选用合适的量程根据经验一般情况下147F间的电容可用R1k挡测量大于47F的电容可用R100挡测量B将万用表红表笔接负极黑表笔接正极在刚接触的瞬间万用表指针即向右偏转较大偏度(对于同一电阻挡容量越大摆幅越大)接着逐渐向左回转直到左右等各个方向推动时转轴不应有松动的现象停在某一位置此时的阻值便是电解电容的正向漏电阻此值略大于反向漏电阻实际使用经验表明电解电容的漏电阻一般应在几百k以上否则将不能正常工作在测试中若正向反向均无充电的现象即表针不动则说明容量消失或内部测出各绕组的空载电压值(U21U22U23U24)应符合要求值允许误差范围一般为高压绕组10低压绕组5带中心抽头的两组对称绕组的电压差应 2G一般小功率电源变压器允许温升为4050如果所用绝缘材料质量较好允许温升还可提高H检测判别各绕组的同名端在使用电源变压器时有时为了得到所需的次级电压可将两个或多个次级绕组串联起来使用采用串联法使用电源变压器时参加串联的各绕组的同名端必须正确连接不能搞错否则变压器不能正常工作I.电源变压器短路性故障的综合检测判别电源变压器发生短路性故障后的主要症状是发热严重和次级绕组输出电压失常通常线圈内部匝间短路点越多短路电流就越大而变压。
常用电子元器件检测方法
常用电子元器件检测方法引言在电子元器件的生产、维修和使用过程中，常常需要进行各种检测来确保其质量和稳定性。
本文将介绍一些常用的电子元器件检测方法，旨在帮助读者了解电子元器件检测的基本原理和方法。
1. 电容器检测方法1.1 电容器电容值测量方法电容器的电容值是其重要的参数之一，常用的电容值测量方法有以下几种：•万用电表测量法：将电容器分别与正负极接触电表的两个测量槽，读取电容值。
•示波器法：通过观察充电或放电电容器的波形，计算出电容器的电容值。
•桥式测量法：使用LCR（电感、电容和电阻）桥，通过比较电容器与标准电容器的电压和电流，计算电容值。
1.2 电容器损耗角正切测量方法电容器的损耗角正切是衡量其损耗能力的参数，常用的测量方法有：•桥式测量法：利用LCR桥，通过比较被测电容器与标准电容器的相位差，计算损耗角正切。
•示波器法：观察电容器放电过程中的波形，通过波形分析计算损耗角正切。
2. 电阻器检测方法2.1 电阻器电阻值测量方法电阻器的电阻值是其最基本的参数，测量电阻值的方法有以下几种：•万用电表测量法：将电阻器两端接在电表的测量槽上，读取显示的电阻值。
•桥式测量法：利用LCR桥，通过比较被测电阻器与标准电阻器的电压和电流，计算电阻值。
•示波器法：观察电阻器上的电压波形，通过波形分析计算电阻值。
2.2 电阻器功率测量方法电阻器的功率是其可以承受的最大功率，常用的测量方法有：•万用电表测量法：将电阻器两端接在电表的测量槽上，读取显示的功率值。
•桥式测量法：利用LCR桥，通过比较被测电阻器与标准电阻器的电压和电流，计算功率值。
3. 二极管检测方法3.1 二极管正向电压测量方法二极管的正向电压是其正常工作的重要参数，测量正向电压的方法有以下几种：•万用电表测量法：将电源正负极分别接在二极管的两个引脚上，读取显示的正向电压值。
•示波器法：在二极管信号路径上接入示波器，观察正向导通过程的波形，通过波形分析计算正向电压。
电子元器件常见检测经验和方法
电子元器件常见检测经验和方法电子设备中使用着大量各种类型的电子元器件，设备发生故障大多是由于电子元器件失效或损坏引起的。
因此怎么正确检测电子元器件就显得尤其重要，这也是电子维修人员必须掌握的技能。
我在电器维修中积累了部分常见电子元器件检测经验和技巧，供大家参考。
电子设备中使用着大量各种类型的电子元器件，设备发生故障大多是由于电子元器件失效或损坏引起的。
因此怎么正确检测电子元器件就显得尤其重要，这也是电子维修人员必须掌握的技能。
我在电器维修中积累了部分常见电子元器件检测经验和技巧，供大家参考。
1.测整流电桥各脚的极性 万用表置R×1k挡，黑表笔接桥堆的任意引脚，红表笔先后测其余三只脚，如果读数均为无穷大，则黑表笔所接为桥堆的输出正极，如果读数为4～10kΩ，则黑表笔所接引脚为桥堆的输出负极，其余的两引脚为桥堆的交流输入端。
2.判断晶振的好坏 先用万用表(R×10k挡)测晶振两端的电阻值，若为无穷大，说明晶振无短路或漏电;再将试电笔插入市电插孔内，用手指捏住晶振的任一引脚，将另一引脚碰触试电笔顶端的金属部分，若试电笔氖泡发红，说明晶振是好的;若氖泡不亮，则说明晶振损坏。
3.单向晶闸管检测 可用万用表的R×1k或R×100挡测量任意两极之问的正、反向电阻，如果找到一对极的电阻为低阻值(100Ω～lkΩ)，则此时黑表笔所接的为控制极，红表笔所接为阴极，另一个极为阳极。
晶闸管共有3个PN结，我们可以通过测量PN结正、反向电阻的大小来判别它的好坏。
测量控制极(G)与阴极(C)之间的电阻时，如果正、反向电阻均为零或无穷大，表明控制极短路或断路;测量控制极(G)与阳极(A)之间的电阻时，正、反向电阻读数均应很大; 测量阳极(A)与阴极(C)之间的电阻时，正、反向电阻都应很大。
4.双向晶闸管的极性识别 双向晶闸管有主电极1、主电极2和控制极，如果用万用表R×1k挡测量两个主电极之间的电阻，读数应近似无穷大，而控制极与任一个主电极之间的正、反向电阻读数只有几十欧。
常用电子元件检测方法
常用电子元件检测方法
一、基本思路
电子元件的检测是检验电子元件的基本性能的一种重要工作，它的目
的在于通过检测来确定电子元件的质量，确保电子元件的工作性能。
常用
的电子元件检测方法有多种，根据不同的电子元件类型，可以采用不同的
检测方法，以确保检测出的结果足够准确。
1、功能检测。
在功能检测中，根据电子元件的构成、功能特性和使
用环境，可以采用电路模拟、性能参数对比、质量指标测试等方法，来检
测其功能性能是否正确。
2、封装检测。
封装检测是检查电子元件的外观特性，包括体积、轮
廓型状、表面特性、封装结构等，以确保电子元件的正确性与安全性。
3、成膜检测。
成膜检测是检测电子元件及其封装材料的封装表面是
否覆盖有均匀的一层膜，如金属膜、铝膜等，以确保电子元件的电子性能。
4、接触检测。
接触检测是检查电子元件及其封装外壳、外接端子之
间接触处的耐电性能，以确保电子元件的正确性与安全性。
5、绝缘检测。
绝缘检测是检测电子元件及其封装外壳、外接端子之
间的电磁绝缘性能，以确保电路的安全稳定的工作性能。
6、电性能检测。
电子元器件常见检测经验和方法
电子元器件常见检测经验和方法1.外观检查：通过肉眼观察电子元器件的外观，检查是否有损坏、变形、碰撞痕迹等情况。
外观检查可以初步判断电子元器件的整体质量是否良好。
2.尺寸测量：使用卡尺等测量工具对电子元器件进行尺寸测量，检查其尺寸是否符合设计要求。
尺寸测量不仅能够检测到电子元器件的加工精度，还可以为后续的装配和安装提供准确的依据。
3.引脚测试：通过使用引脚测试设备来检测电子元器件的引脚是否正常。
引脚测试可以检验电子元器件的引脚在连接和通断状态下的工作情况，能够同时检测多个引脚，提高测试效率。
4.电性能测试：使用万用表、示波器等测试仪器对电子元器件的电性能进行测试。
电性能测试包括电流、电压、电阻、频率等参数的测试，可以验证电子元器件的工作情况是否正常。
5.温度测试：通过将电子元器件置于不同温度环境下进行测试，检测电子元器件在不同温度条件下的工作情况。
温度测试可以判断电子元器件的热稳定性和可靠性。
6.可靠性测试：通过长时间持续工作或者特定条件下的试验，检测电子元器件的可靠性。
可靠性测试可以判断电子元器件在长时间使用过程中是否会出现失效、老化等问题。
7.特殊环境测试：根据电子元器件的使用环境，进行特殊环境测试。
比如，对于防水电子元器件，可以进行水密性测试；对于耐高温电子元器件，可以进行高温环境测试。
8.环境适应性测试：将电子元器件置于不同的环境条件下进行测试，如高温、低温、湿度、振动等，以检测其对不同环境的适应性。
环境适应性测试可以判断电子元器件在不同环境条件下的工作稳定性。
以上是电子元器件常见的检测经验和方法，综合运用这些方法可以全面、准确地检测电子元器件的性能和可靠性，确保电子设备的正常运行。
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常用电子元器件检测方法与技巧民常用电子元器件检测方法与技巧元器件的检测是家电维修的一项基本功，如何准确有效地检测元器件的相关参数，判断元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必须根据不同的元器件采用不同的方法，从而判断元器件的正常与否。
特别对初学者来说，熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要，以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供对考。
一、电阻器的检测方法与经验：1固定1固定电容器的检测A检测10pF以下的小电容因10pF以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。
测量时，可选用万用表R×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。
若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。
B检测10PF～001μF固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。
万用表选用R×1k挡。
两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要小。
可选用3DG6等型号硅三极管组成复合管。
万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。
由于复合三极管的放大作用，把被测电容的充放电过程予以放大，使万用表指针摆幅度加大，从而便于观察。
应注意的是：在测试操作时，特别是在测较小容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触A、B两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。
C对于001μF以上的固定电容，可用万用表的R×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。
2电解电容器的检测A因为电解电容的容量较一般固定电容大得多，所以，测量时，应针对不同容量选用合适的量程。
根据经验，一般情况下，1～47μF间的电容，可用R×1k挡测量，大于47μF的电容可用R×100挡测量。
B将万用表红表笔接负极，黑表笔接正极，在刚接触的瞬间，万用表指针即向右偏转较大偏度(对于同一电阻挡，容量越大，摆幅越大)，接着逐渐向左回转，直到停在某一位置。
此时的阻值便是电解电容的正向漏电阻，此值略大于反向漏电阻。
实际使用经验表明，电解电容的漏电阻一般应在几百kΩ以上，否则，将不能正常工作。
在测试中，若正向、反向均无充电的现象，即表针不动，则说明容量消失或内部断路；如果所测阻值很小或为零，说明电容漏电大或已击穿损坏，不能再使用。
C对于正、负极标志不明的电解电容器，可利用上述测量漏电阻的方法加以判别。
即先任意测一下漏电阻，记住其大小，然后交换表笔再测出一个阻值。
两次测量中阻值大的那一次便是正向接法，即黑表笔接的是正极，红表笔接的是负极。
D使用万用表电阻挡，采用给电解电容进行正、反向充电的方法，根据指针向右摆动幅度的大小，可估测出电解电容的容量。
3可变电容器的检测A用手轻轻旋动转轴，应感觉十分平滑，不应感觉有时松时紧甚至有卡滞现象。
将载轴向前、后、上、下、左、右等各个方向推动时，转轴不应有松动的现象。
B用一只手旋动转轴，另一只手轻摸动片组的外缘，不应感觉有任何松脱现象。
转轴与动片之间接触不良的可变电容器，是不能再继续使用的。
C将万用表置于R×10k挡，一只手将两个表笔分别接可变电容器的动片和定片的引出端，另一只手将转轴缓缓旋动几个来回，万用表指针都应在无穷大位置不动。
在旋动转轴的过程中，如果指针有时指向零，说明动片和定片之间存在短路点；如果碰到某一角度，万用表读数不为无穷大而是出现一定阻值，说明可变电容器动片与定片之间存在漏电现象。
三、电感器、变压器检测方法与经验1色码电感器的的检测将万用表置于R×1挡，红、黑表笔各接色码1检测小功率晶体二极管A判别正、负电极(a)观察外壳上的的符号标记。
通常在二极管的外壳上标有二极管的符号，带有三角形箭头的一端为正极，另一端是负极。
(b)观察外壳上的色点。
在点接触二极管的外壳上，通常标有极性色点(白色或红色)。
一般标有色点的一端即为正极。
还有的二极管上标有色环，带色环的一端则为负极。
(c)以阻值较小的一次测量为准，黑表笔所接的一端为正极，红表笔所接的一端则为负极。
B检测最高工作频率fM。
晶体二极管工作频率，除了可从有关特性表中查阅出外，实用中常常用眼睛观察二极管内部的触丝来加以区分，如点接触型二极管属于高频管，面接触型二极管多为低频管。
另外，也可以用万用表R×1k挡进行测试，一般正向电阻小于1k的多为高频管。
C检测最高反向击穿电压VRM。
对于交流电来说，因为不断变化，因此最高反向工作电压也就是二极管承受的交流峰值电压。
需要指出的是，最高反向工作电压并不是二极管的击穿电压。
一般情况下，二极管的击穿电压要比最高反向工作电压高得多(约高一倍)。
2检测玻封硅高速开关二极管检测硅高速开关二极管的方法与检测普通二极管的方法相同。
不同的是，这种管子的正向电阻较大。
用R×1k电阻挡测量，一般正向电阻值为5k～10k，反向电阻值为无穷大。
3检测快恢复、超快恢复二极管用万用表检测快恢复、超快恢复二极管的方法基本与检测塑封硅整流二极管的方法相同。
即先用R×1k挡检测一下其单向导电性，一般正向电阻为45k左右，反向电阻为无穷大；再用R×1挡复测一次，一般正向电阻为几，反向电阻仍为无穷大。
4检测双向触发二极管A将万用表置于R×1k挡，测双向触发二极管的正、反向电阻值都应为无穷大。
若交换表笔进行测量，万用表指针向右摆动，说明被测管有漏电性故障。
将万用表置于相应的直流电压挡。
测试电压由兆欧表提供。
测试时，摇动兆欧表，万用表所指示的电压值即为被测管子的VBO值。
然后调换被测管子的两个引脚，用同样的方法测出VBR值。
最后将VBO 与VBR进行比较，两者的绝对值之差越小，说明被测双向触发二极管的对称性越好。
5瞬态电压抑制二极管(TVS)的检测A用万用表R×1k挡测量管子的好坏对于单极型的TVS，按照测量普通二极管的方法，可测出其正、反向电阻，一般正向电阻为4kΩ左右，反向电阻为无穷大。
对于双向极型的TVS，任意调换红、黑表笔测量其两引脚间的电阻值均应为无穷大，否则，说明管子性能不良或已经损坏。
6高频变阻二极管的检测A识别正、负极高频变阻二极管与普通二极管在外观上的区别是其色标颜色不同，普通二极管的色标颜色一般为黑色，而高频变阻二极管的色标颜色则为浅色。
其极性规律与普通二极管相似，即带绿色环的一端为负极，不带绿色环的一端为正极。
B测量正、反向电阻来判断其好坏具体方法与测量普通二极管正、反向电阻的方法相同，当使用500型万用表R×1k挡测量时，正常的高频变阻二极管的正向电阻为5k～55k，反向电阻为无穷大。
7变容二极管的检测将万用表置于R×10k挡，无论红、黑表笔怎样对调测量，变容二极管的两引脚间的电阻值均应为无穷大。
如果在测量中，发现万用表指针向右有轻微摆动或阻值为零，说明被测变容二极管有漏电故障或已经击穿损坏。
对于变容二极管容量消失或内部的开路性故障，用万用表是无法检测判别的。
必要时，可用替换法进行检查判断。
8单色发光二极管的检测在万用表外部附接一节15V干电池，将万用表置R×10或R×100挡。
这种接法就相当于给万用表串接上了15V电压，使检测电压增加至3V(发光二极管的开启电压为2V)。
检测时，用万用表两表笔轮换接触发光二极管的两管脚。
若管子性能良好，必定有一次能正常发光，此时，黑表笔所接的为正极，红表笔所接的为负极。
9红外发光二极管的检测A判别红外发光二极管的正、负电极。
红外发光二极管有两个引脚，通常长引脚为正极，短引脚为负极。
因红外发光二极管呈透明状，所以管壳内的电极清晰可见，内部电极较宽较大的一个为负极，而较窄且小的一个为正极。
B将万用表置于R×1k挡，测量红外发光二极管的正、反向电阻，通常，正向电阻应在30k左右，反向电阻要在500k以上，这样的管子才可正常使用。
要求反向电阻越大越好。
10红外接收二极管的检测A识别管脚极性(a)从外观上识别。
常见的红外接收二极管外观颜色呈黑色。
识别引脚时，面对受光窗口，从左至右，分别为正极和负极。
另外，在红外接收二极管的管体顶端有一个小斜切平面，通常带有此斜切平面一端的引脚为负极，另一端为正极。
(b)将万用表置于R×1k挡，用来判别普通二极管正、负电极的方法进行检查，即交换红、黑表笔两次测量管子两引脚间的电阻值，正常时，所得阻值应为一大一小。
以阻值较小的一次为准，红表笔所接的管脚为负极，黑表笔所接的管脚为正极。
B检测性能好坏。
用万用表电阻挡测量红外接收二极管正、反向电阻，根据正、反向电阻值的大小，即可初步判定红外接收二极管的好坏。
11激光二极管的检测A将万用表置于R×1k挡，按照检测普通二极管正、反向电阻的方法，即可将激光二极管的管脚排列顺序确定。
但检测时要注意，由于激光二极管的正向压降比普通二极管要大，所以检测正向电阻时，万用表指针仅略微向右偏转而已，而反向电阻则为无穷大。
五、三极管的检测方法与经验1中、小功率三极管的检测A已知型号和管脚排列的三极管，可按下述方法来判断其性能好坏(a)测量极间电阻。
将万用表置于R×100或R×1k挡，按照红、黑表笔的六种不同接法进行测试。
其中，发射结和集电结的正向电阻值比较低，其他四种接法测得的电阻值都很高，约为几百千欧至无穷大。
但不管是低阻还是高阻，硅材料三极管的极间电阻要比锗材料三极管的极间电阻大得多。
(b)三极管的穿透电流ICEO的数值近似等于管子的倍数β和集电结的反向电流ICBO的乘积。
ICBO随着环境温度的升高而增长很快，ICBO的增加必然造成ICEO的增大。
而ICEO的增大将直接影响管子工作的稳定性，所以在使用中应尽量选用ICEO小的管子。
通过用万用表电阻直接测量检测前要了解集成电路及其相关电路的工作原理。
检查和修理集成电路前首先要熟悉所用集成电路的功能、内部电路、主要电气参数、各引脚的作用以及引脚的正常电压、波形与外围元件组成电路的工作原理。
如果具备以上条件，那么分析和检查会容易许多。
测试不要造成引脚间短路。
普通IC集成电路的好坏判别测法一、不在路检测这种方法是在ｉｃ未焊入电路时进行的，一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值，并和完好的ｉｃ进行较。
二、在路检测这是一种通过万用表检测ｉｃ各引脚在路（ｉｃ在电路中）直流电阻、对地交直流电压以及总工作电流的检测方法。
这种方法克服了代换试验法需要有可代换ｉｃ的局限性和拆卸ｉｃ的麻烦，是检测ｉｃ最常用和实用的方法。
２．直流工作电压测量这是一种在通电情况下，用万用表直流电压挡对直流供电电压、外围元件的工作电压进行测量；检测ｉｃ各引脚对地直流电压值，并与正常值相较，进而压缩故障范围，出损坏的元件。