第三章-4 X射线的物相分析
03-X射线物相分析要点-34页文档资料
衍射方向:是由布拉格方程方程所决定
2dsinn
式中d为晶面间距,θ 入射线(或反射线)与晶面之夹角 即布拉格角,2θ 入射线与衍射线之间的夹角则为,λ 辐射线波长,n 为整数即反射的级。
θ θ
180o-2θ
2dsinn
布拉格方程的应用
在实际应用中,如果知道其中二个参数,就 可求出其余的一个参数。
可通过调节管电流来增加辐射线输出功率,但 最大负荷不允许超过额定功率的80%,否则会影 响X射线管的使用寿命。
各类狭缝
衍射仪中有三个狭缝是经常更换,分别为发散 狭缝(DS)、防散射狭缝(SS) 及接收狭缝(RS)。
发散狭缝,决定了射线水平方向的发散角,限 制试样被照射的面积。
在定性分析时常选用1º发散狭缝,在低角衍射 时可使用1/2º或1/6º发散狭缝。
试样要求
X射线衍射分析中,常见试样包括块状试样 和粉末试样,可能是晶体也可能是非晶体,可 能是多晶也可能是单晶。
块状试样并没有严格的要求,但尺寸太小时衍 射信号较弱。
当块状试样织构严重时,对其相互垂直的三个 表面分别分析,以得到较全面的实验结果。
试样被测表面平整和清洁。
粉末试样也没有严格要求,但试样太少时衍 射信号较弱,一般需要20×18×0.5mm3体积。
管电压与管电流
当管压较低时特征X射线强度近似与其平方呈 正比,当管压超过激发电压5~6倍时射线强度的 增加率下降。
管电压较低时特征X射线与连续X射线强度之 比,随管压的增加接近一个常数,但当管压超过 激发电压4~5倍时反而变小。
常用Cu靶最佳管电压范围为35~45kV
管电流的影响相对简单,由于X射线辐射强度 与管电流呈正比。
防散射狭缝,是防止空气等物质引起的散射线 进入探测器,一般与发散狭缝开口角相同。
物相分析
8
目前已知的晶体物质已有成千上万 种。事先在一定的规范条件下对所 有已知的晶体物质进行X射线衍射, 获得一套所有晶体物质的标准X射线 衍射花样图谱,建立成数据库。
当对某种材料进行物相分析时,只 要将实验结果与数据库中的标准衍 射花样图谱进行比对,就可以确定 材料的物相。
X射线衍射物相分析工作就变成了简 单的图谱对照工作。
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辐射光源 波长 滤波片 相机直径
所用仪器可测最 大面间距 测量相对强度的 方法
数据来源
14
晶系 空间群 晶胞边长
轴率 A=a0/b0 C=c0/b0
轴角
单位晶胞内“分 子”数
数据来源
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光学性质 折射率 光学正负性 光轴角 密度 熔点 颜色 数据来源
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样品来源、 制备方法、 升华温度、 分解温度等
20
如待分析试样为单相,在物相未知的 情况下可用Hanawalt索引或Fink索
定 引进行分析。用数字索引进行物相鉴 性 定步骤如下: 分 1 根据待测相的衍射数据,得出三强 析 线的晶面间距值d1、d2和d3(并估计 方 它们的误差)。 法 2 根据最强线的面间距d1,在数字索
引中找到所属的组,再根据d2和d3找 到其中的一行。
基
己特定的结构参数(点阵类型、晶胞大
本 原 理
小、晶胞中原子或分子的数目、位置 等),结构参数不同则X射线衍射花样 也就各不相同,所以通过比较X射线衍 射花样可区分出不同的物相。
当多种物相同时衍射时,其衍射花样也 是各种物相自身衍射花样的机械叠加。 它们互不干扰,相互独立,逐一比较就 可以在重叠的衍射花样中剥离出各自的 衍射花样,分析标定后即可鉴别出各自 物相。
1.28 18 1.22 5 1.08 20
X射线物相分析
线数据均进行过对照为止,最后从中找出最可能
的物相及其卡片号。
⑤从档案中抽出卡片,将试验所得d—I/I1数据与卡
片上的数据详细对照。如果完全符合,则物相鉴 定完成。
五、定性分析举例
说明:
①对于多相物质,其中衍射线可能出现重叠,因此 会影响强度的真实分布。所以试验中的最强线未 必就是真的最强线。 ②选择三强线比对时,有可能这三强线不属于同一 物相,因此要进行反复多次的组合。
两式相除:
I W m I 0 W m m m
若各相的线吸收系数及密度均相等
Wj I j / I j
0
应用:
①当测出了Iα、(Iα)0后,若已知μmα、μmβ,则可以代 入公式直接求得Wα。 ②若μmα、μmβ未知,则要通过定标曲线求Wα。 所谓定标曲线为 I / I ~Wα关系曲线。 0 如P.89,图5-2所示。
再设复合试样中,A相的体积分数为CA‘,其质量分数为WA’。
WA'=WA· (1-WS)
A相某根衍射线的强度为:
IA
K A CA
式中μ为复合试样的总吸收系数
标准物质S某根衍射线的强度为:
IS
K S CS
两式相除:
S I A KS K S CS K S WS / S K S A WS
晶体学数据
Sys.:晶系; S.G.:空间群; a0、b0、co:为点阵常数; A、C:为轴比,A=a0/ b0,C=co / b0; α、β、γ:为晶胞轴间夹角; Z:晶胞中的原子数。
光学和其它物理性质数据
εα、nwβ、εγ—为折射率; Sign—为光学性质的正(+)或负(-); 2V—为光轴间的夹角; D—密度; mp—熔点; Color—颜色。
第3章物相分析
(3)在倒易点阵中,由原点o*指向任意 坐标为hkl的阵点的矢量Ghkl为:
Ghkl=ha*+kb*+lb*
➢倒易矢量Ghkl垂直于正点阵中相应 (hkl)晶面,或平行于它的法向 Nhkl。 ➢倒易点阵中的一个点代表正点阵 中的一组晶面。
3、倒易点阵与正空间点阵的关系
(1)以h、k、l为指数倒易点阵矢量
3、干涉面和干涉指数-简化bragg方程
如令
d HKL
dhkl n
,则
2 dhkl sin n
2dHKL sin
4. 衍射方向-衍射花样和晶体结构的关系。
立方系: sin2
2 4a2
(H2
K2
L2 )
正方系: sin2
2 4
H2 K2 a2
L2 c2
斜方系: sin2
2 4
H2 a2
物相分析是指利用衍射分析的方法探测晶格类型和晶 胞常数,确定物质的相结构。物相分析不仅包括对材 料物相的定性分析,还包括定量分析,和各种不同的 物相在组织中的分布情况。
三、物相分析的手段
1、x射线衍射。 2、电子衍射 低能电子衍射(LEED) 高能电子衍射分析(HEED) 3、中子衍射
汤姆生的ED实验原理图
K2 b2
L2 c2
六方系:
s in 2
2 4
4 3
H2
HK a2
K2
L2 c2
(三)布拉格方程应用
X射线衍射学 (λ恒定,通过测θ求d--晶体结构分析 ) X射线光谱学(d 恒定,通过测θ求λ)
(四)衍射矢量方程 1、反射定律:s0及s分居反射面(HKL)法线(N)两侧且s0、s与N共面,s0及
仪器分析实验 X射线衍射物相分析
X射线衍射物相分析开课实验室:环境资源楼105【实验目的】(1)了解Philips射线衍射仪的基本结构和工作原理;(2)基本掌握样品测试过程;(3)掌握利用衍射图进行物相分析的方法。
【基本原理】•原理概述:晶体晶面间距约为10-10m量级,与X射线波长范围(0.1-10埃)相符合,因此X射线在遇到晶体时,可能发生衍射现象,从而推测出其结构信息;•X射线与特征(或标识)X射线:X射线是一种波长很短的电磁波,穿透能力强;在用电子束轰击金属靶,如铜,产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线。
对铜靶来说,其中包含Kα1、Kα2及Kβ三种特征X射线;•X射线衍射:将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。
但并不是所有情况下X射线都发生衍射,其必须满足的条件是布拉格方程:2d sin θ=nλ即当λ确定且n=1(一次衍射)时,则只有当θ角满足:θ=arcsin!!!"时才可发生衍射。
故根据布拉格方程,通过合理地转动样品、X光管和接收器,调整θ角,扫描一张谱图,则可以得到这一晶体样品的结构信息;•晶体X射线衍射图谱:由于每种晶体其X光衍射都有一组特定的d值,粉末线的分布是一定的;每种晶体内原子排列也是一定的,因此衍射线的相对强度也是一定的,每一个晶体都有一套特征的粉末衍射数据d-I 值,并可把它作为定性鉴定物质和物相的依据。
对晶体微观结构精细的形象变换,每种晶体结构与其X射线衍射图之间有着一一对应的关系,任何一种晶态物质都有自己独特的X射线衍射图,而且不会因为与其它物质混合在一起而发生变化,是X射线衍射法进行物相分析的依据。
规模最庞大的多晶衍射数据库是由JCPDS编篡的《粉末衍射卡片集》(PDF)。
•粉末衍射卡片索引:包括:粉末衍射卡片哈氏索引(Hanawalt),芬克索引(Fink Index)和戴维字母索引(Alphabetical Index);1、哈氏数值索引:每一种的数据在索引中占一横行,依次有:八条强谱线晶面间距数值,化学式卡片顺序号,查阅时把晶体面间距按衍射峰强弱排列成d1,d2,d3----,找到d1再找d2值,一直顺序找到第八值,从而可查的对应八强线的卡片顺序号,但也可用前三强的d值,按下列排列方式查找:d1d2d3,d2d3d1, d3d1d2,在哈氏数值索引中出现三次;2、芬克索引:也属于数值索引,不过它是以每种物质的八条强线晶面间距d作为该物质特征,芬克索引的编制是按各种物质八条强线中第一个d值的递减次序划分成组。
射线衍射仪进行物相分析
X 射线衍射仪进行物相分析一.实验目的1.初步认识X 射线衍射仪的结构和工作原理; 2.掌握X 射线衍射物相定性分析的方法和步骤;3.学会实验方案设计,并利用自己设计的实验方案对未知多晶粉末样品进行物相分析。
二. 实验原理1.X 射线的性质和特点 X 射线是波长介于0.1nm~1000nm 的电磁波,能量较高。
它是由于原子的内层电子跃迁或高能电子减速产生的。
与可见光相比还因其波长短、能量高而具有其它一些特点:(1)穿透能力强 能穿透可见光不能穿透的物质,如生物的软组织、木板、玻璃,甚至除重金屑外的金属板,还能使气体电离。
X 射线波长范围很大,通常将波长短的X 射线称为硬X 射线,波长较长的X 射线称为软X 射线,此处“硬软”指X 射线芽透能力的强弱。
所以,X 射线可用于医学X 射线透视和金属材料的探伤。
(2)折射率几乎等于1 X 射线穿过不同媒质时几乎不折射、不反射(折射和反射率小,可忽略不计),仍可视为直线传播。
所以X 射线不可能利用折射而聚焦。
此外,因其波长与晶体的晶格常数接近,所以通过晶体时会发生衍射。
晶体起衍射光栅作用,因而可用X 射线研究晶体内部结构。
X 射线光子能量的大小决定的是X 射线的穿透力等性质,而不是X 射线的强度。
一定频率的X 射线,其强度大小取决于单位时间内通过单位截面的光子数目。
2.X 射线的产生 在X 衍射仪中,X 射线是在X 射线管中,使用高速运动的电子撞击靶材突然减速时产生的。
X 射线管的结构如图6-1所示。
X 射线管主要分密闭式和可拆卸式两种。
广泛使用的是密闭式,由阴极(灯丝)、阳极、靶材料等组成,功率大部分在1~2千瓦。
可拆卸式X 射线管又称旋转阳极靶,其功率比密闭式大许多倍,一般为12~60千瓦。
常用的X 射线靶材有W 、Ag 、Mo 、Ni 、Co 、Fe 、Cr 、Cu 等。
X 射线管线焦点为1×10平方毫米。
由X 射线管发出的X 射线包含两部分:一部分是具有连续波长的“白色”X 射线,称为连续谱或“白色”谱;另一部分是由阳极金属材料成分决定的波长确定的特征X 射线,称为特征谱,也称为单色谱或标识谱。
【X射线衍射分析】第三章全谱拟合法
它是用衍射谱上各(2θ)处的衍射强度Yi代替衍射线的积 分强度Ik来进行精修的。一张从50(2θ)~900(2θ)的多晶 衍射谱就会有8000多个实验数据,这样多个实验数据是可 在统计上保证精修结果的准确性,解决了多晶体衍射中数 据量不够,不能从统计上保证精修结果准确的问题。
到了1977年,Malmros和Thomas首次将这一方法应用到X射线 领域。80年代,一方面高分辨多晶体衍射技术得到了发展,特 别是同步辐射高分辨多晶体衍射的发展,使衍射峰重叠大大减 少,直接测得的衍射峰数可超过100,提高了衍射谱的准确性 和分辨率。另一方面,Rietveld方法本身也得到了发展。
80年代陆续报道了一些多晶体衍射从头晶体结构测定的例子 ,到了90年代,这一技术得到了发展,在文献上已出现许多 这方面工作的报道。不仅如此,全谱拟合法还可应用到多晶 体衍射的各传统应用领域,如定量分析,晶粒大小及微结构 测定等方面,得到了比传统法更完美、更准确的结果。它在 研究实际晶体的结构方面,取得了极耀眼的成果。
全谱峰形拟合包括两类方法:即应用晶体结构数据的 Rietveld精修和不需晶体结构数据的另一类方法。
多晶体衍射全谱线形拟合法原来是用作晶体结构精修的, 以后发展到从头解出晶体结构。不仅如此,它还渗透入用来 表征多晶体的许多传统领域,不仅可用来研究多晶聚集体的 结构,更可以研究晶体内的微结构。由于其理论比较严密, 研究得就更深入、更细致,所得结果也常常比传统法更准确 ,而且其做法也常比较简单。
物相分析
辐射光源 波长
滤波片
相机直径
所用仪器可测最 大面间距 测量相对强度的 方法
数据来源
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晶系 空间群
晶胞边长
轴率 A = a 0 / b C=c0/b0
0
轴角
单位晶胞内“分 子”数
数据来源
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光学性质
折射率 光学正负性
光轴角
密度 熔点 颜色 数据来源
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样品来源、 制备方法、 升华温度、
分解温度等
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目前已知的晶体物质已有成千上万
种。事先在一定的规范条件下对所 有已知的晶体物质进行X射线衍射, 获得一套所有晶体物质的标准X射线 衍射花样图谱,建立成数据库。 当对某种材料进行物相分析时,只 要将实验结果与数据库中的标准衍 射花样图谱进行比对,就可以确定 材料的物相。 X射线衍射物相分析工作就变成了简 单的图谱对照工作。
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定 性 分 析 方 法
3 比较此行中的三条线,看其相对强 度是否与被摄物质的三强线基本一致。 如d和I/I1都基本一致,则可初步断定 未知物质中含有卡片所载的这种物质。 4 根据索引中查找的卡片号,从卡片 盒中找到所需的卡片。 5 将卡片上全部d和I/I1与未知物质的 d和I/I1对比,如果完全吻合则卡片上 记载的物质,就是要鉴定的未知物质。
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多 相 混 合 物 物 相 定 性 分 析 方 法
当待分析样为多相混合物时,根据混合物 的衍射花样为各相衍射花样的叠加,也可 对物相逐一进行鉴定,但手续比较复杂。 具体过程为: 用尝试的办法进行物相鉴定:先取三强线 尝试,吻合则可定;不吻合则从谱中换一 根(或二根)线再尝试,直至吻合。 对照卡片去掉已吻合的线条(即标定一 相),剩余线条归一化后再尝试鉴定。直 至所有线条都标定完毕。
X射线衍射分析方法
e−2D
A(θ)
I1 = R1 C1 I2 R2 C2
对于两相: C1 + C2 = 1
18
实线为理论计算值
19
20
哈氏无机数值索引: 每一种物质占一行、依次为8条强线的晶面间距及相对强度(用数 字表示,其中x为100%),化学式,卡片号,显微检索号
哈氏索引的编制是按各种物质三条强线中第一个d值的递减次序划 分成51个小组(即51个晶面间距范围),每一小组第一个d值的变 化范围都标注在哈氏数值索引各页的书眉上,以便查阅。
µβ ρβ
)+
µβ ρβ
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二、外标法
X射线物相的定量分析
若混合物中含有n相(n大于2),各相的μm不相等,此时可往 试样中加入标准物质,把试样中待测相的某根衍射线条强度与 标准物质的某根衍射线条强度相比较,从而求得待测相含量。 仅适用于粉末试样。
设加入的标准物质用S表示,其质量分数为Ws。被分析的相在
第一篇 X射线衍射分析
第一章 X射线的产生和性质 第二章 X射线的衍射原理 第三章 X射线衍射分析方法
X射线衍射仪的构造及几何光学 X射线衍射仪的测量方法和实验参数
第四章 X射线物相分析
1
2
X射线衍射仪的构造及几何光学
X射线衍射仪包括X射线发生器,测角仪,探测器和测 量记录系统。其中测角仪和探测器是两个关键部件 一、测角仪
一、计数测量方法
1、连续扫描测量法 2、阶梯扫描测量法法 二、实验参数的选择
1、光阑的选择 梭拉光阑固定不变 发散狭缝光阑 1/300,1/120,1/60,1/40,1/20,10,40
发散狭缝光阑B1是用来限制入射线在与测角仪平面平行 方向上的发散角,它决定射线在试样上的照射面积和强 度。对发散光阑B1的选择应以人射线的照射面积不超过 试样的工作表面为原则。
X射线衍射技术的原理与物相分析
X射线衍射技术的原理与物相分析摘要:现代多晶体X光线衍射解析法最通常使用的基础仪器设备是X光线粉状衍射仪,它也是许多研究所、试验室、高等院校和国家质量监督检查机关的必要设施,本篇主要阐述了X光线粉状衍射仪的基础原理,及其采用此仪器设备的现代多晶体X光线衍射物相稳定性解析法和定量分析。
关键词:X光线;布拉格衍射方程;物相解析;粉末衍射卡片集1 基本原理1.1 X射线衍射介绍多晶X射线衍射解析法也被叫做粉状X射线衍射解析法,在使用本法时要首先将试样做成非常细小的粉状,然后再对粉状进行压块制样。
它有许多好处,比如粉状X射线衍射解析法就是一个非破坏性的实验分析,尤其有利于:可以做物相研究;也能够计算一些晶态化合物的分子结构参数和晶体结构;同样也能够计算非晶体物,所以,它是化学物理学中一个十分重要的实验法。
使用的衍射性仪为BDX系统半自动粉末式X射线衍射仪,它是把传统衍射仪技术与计算机二者融合起来的一个先进的智能化和自动化的实验仪器设备,能够借助应用程序,直接在计算机上操控衍射仪,进行数据的收集、处理与分析,缩短了操作者与仪器设备之间的接触时间,也因而降低了X辐射对人体的损伤。
1.2 X射线衍射仪的基本原理X射线衍射分析方法是指运用晶格中形成的X光线衍射现象,对物体实现内部分子在空间分布状态下的结构解析。
当形成于特定波段的X辐射光照在结晶性物体上时,X辐射会因在晶体内出现规律顺序的原子或电离而形成散射,发散的X辐射光在特定方向上相位受到了强化。
该方法的主要优点,就是能够掌握元素中存在的物质态、以及原子间相互作用组合的方法,从而可开展价态分析,并进行对环境固体污染物质的物相鉴别,如大气颗粒物中的风沙和泥土成分、工业生产废气的金属及其物质(粉尘)、工业车辆排放中卤化铅的成分、土壤和水域沉积物,以及海洋悬浮液中金属存在的状况等。
因为X射线波长短,以及光子能力大的这二种特点,当X光线照射到物体上产生的效果,与当可见光照射到物体上所产生的效果,是完全不同的。
X射线与物质相互作用
第三节X射线与物质相互作用我们前面讲过当X射线穿透物质时,与物质发生各种作用有吸收、散射、透射光电效应等一、X射线的散射X射线是一种电磁波,当它穿透物质时,物质的原子中的电子,可能使X射线光子偏离原射线方向,即发生散射。
X射线的散射现象可分为相干散射和非相干散射。
1、相干散射及散射强度当X射线通过物质时,在入射电场作用下,物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动,同时向四周辐射出与入射X射线波长相同的散射X射线,称为经典散射。
由于散射波与入射波的频率或波长相同,位相差恒定,在同一方向上各散射波符合相干条件,又称为相干散射。
按动力学理论,一个质量为m的电子,在与入射线呈2θ角度方向上距离为R处的某点,对一束非偏振X射线的散射波强度为:I e =I0)22cos1(24224θ+CmRe它表示一个电子散射X射线的强度,式中fe=e2/mC2称为电子散射因子。
22cos12θ+称为极化因子或偏振因子。
它是由入射波非偏振化引起的I e =I0)22cos1(109.72226θ+⨯-R从上式可见(书P5)相干散射波之间产生相互干涉,就可获得衍射。
可见相干散射是X 射线衍射技术的基础。
2、非相干散射当入射X射线光子与原子中束缚较弱的电子或自由电子发生非弹性碰撞时,光子消耗一部分能量作为电子的动能,于是电子被撞出离子外(即反冲电子)同时发出波长变长,能量降低的非相干散射,或康普顿散射这种散射分布在各方向上,波长变长,相位与入射线之间也没有固定的关系,故不产生相互干涉,不能产生衍射,只会称为衍射谱的背底,给衍射分析工作带来干扰和不利的影响。
二、X 射线的透射X 射线射线透过物质后强度的减弱是X 射线射线光子数的减少,而不是X 射线能量的减少。
所以,透射X 射线能量和传播方向基本与入射线相同。
X 射线与物质相互作用,实质上是X 射线与原子的相互作用,其基本原理是原子中受束缚电子被X 射线电磁波的振荡电场加速,短波长的X 射线易穿过物质,长波长X 射线易被物质吸收。
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定性分析需要注意的问题
6、不要过于迷信卡片上的数据,特别是早年的资 料 ,注意资料的可靠性 如果标准卡片本身有误差,则将给分析者带 来更大的困难。但这种误差已经逐渐得到纠正, 新的比较精确的标准卡片正在不断取代一些误差 比较大的卡片。如果分析者在鉴定物相过程中对 卡片有所怀疑时,即应制备自己的标准衍射图谱。 7、在分析过程中,尽可能地与其他相分析实验手段 结合起来,互相配合,互相印证 这是本着“兼听则明,偏听则暗”的原则。
K值法
• K值法是内标法的一种,其区别就是无需制作定
标曲线。
I j K j ⋅ ω 'j K s ⋅ ωs' • 有 = / I s ρ j ⋅ µm ρ s ⋅ µm
• 原理:在样品中加入已知量ωs的标准物质S相,
ωj K j ⋅ ρs ω j j 11 = ⋅ = Ks ⋅ K s ⋅ ρ j ωs ωs
12
3.6 物相定性分析
• 任务:计算出待测试样中各组成相的相对含量。 • 基本原理:各组成相衍射线条的强度随着该
• 相在混合物中相对含量的增加而增强。 定量分析的基本公式可写成如下形式:
ωi Ii = Ki ⋅ ρi ⋅ µ m
13
基本原理和方法
常数 i相强度
ωi Ii = Ki ⋅ ρi ⋅ µ m
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内标法
通过公式(1)/公式(2),可得: (1) I j K j ω ρ s 111111111 = = ⋅ ⋅ ⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅ (3) (2) I s K s ω ρ j
' j ' s
又11ω j' = ω j ⋅ (1 − ωs' ),且ωs' = ωs ⋅ (1 − ωs' )
代入上式,可得: 111111111 Ij Is = K j ⋅ ρs K s ⋅ ρ j ωs ⋅ 1 ⋅ ω j ⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅ (4)
2
3.5 物相定性分析
• 任务:判定试样有哪些“相”所组成,也即确定 物质中所包含的结晶体以何种结晶状态存在。 • 依据:多晶体的衍射花样。 • ——衍射线的位置取决于晶胞形状、大小、晶面 间距; • 衍射线的强度则取决于晶胞内原子的种类、 数目及排列方式。 • 对多相物质而言,其衍射花样只是各组成相衍射 花样的机械叠加,彼此独立无关。
X射线的物相分析
1
X射线的物相分析
• 当一种材料经过不同的处理工艺后,其性能往往 会发生显著的变化,这主要是由于其内部的物相, 或者说材料的晶体结构发生了改变的缘故,因此, 我们就需要借助一定的手段,来分析加工工艺与 物相变化之间的关系。 • X射线衍射方法是现代测试中用来进行物相鉴定 最常用的手段,它是以X射线衍射效应为基础发 展起来的一种实验方法。 • 根据实验目的的不同,分为定性分析和定量分析 两大类。
9
定性分析需要注意的问题
2、低角度线比高角度线重要 这是因为不同晶体来说,低角度线的d值相 一致的机会很少(晶面间距大),但对于高角度 线(晶面间距小的)不同晶体间相互近似的机会 增多。 3、强线比弱线重要 4、要重视特征线 特征线一般是衍射花样中强度较高且d值较 大的衍射线,它不受其它产物和其它条件的影响, 并且与其他化合物的衍射线不相干扰,这些对鉴 别物相很有说服力。 10
24
如何求得K值(参比强度)?
Ij
ωj =K ⋅ Is ωs
j s
• 两种方法可求得K值: • 其一:配制重量相等的 S 相和 j 相,ωs= ωj,则有 KSj=Ij/IS; • 其二:通过查询相应物相的PDF卡片得到,具体 的为PDF卡片上标示的 I/Icor.值,在计算机数据库 中以 (RIR)的形式标示。
定性分析需要注意的问题
5、了解试样来源、化学成分、物理性质 在多相混合物的衍射图谱中,最强线实际上 可能并非某一相的最强线,而是由两个或两个以 上物相的某些次强或三强线条叠加的结果。在这 种情况下,若以该线条作为某相的最强线条,可 能与该相粉末衍射标准图谱中的强度分布不符, 或者说,找不到与此强度分布对应的卡片。此时, 就需要结合化学分析结果、试样来源、热处理条 件,根据物质相组成关系方面的知识,在满足结 果的合理性和可能性的条件下,得到可靠的结论。
j s
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自标法
I1 1 ω1 = Kn ⋅ In ωn I2 2 ω2 = Kn ⋅ In ωn ⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅ I n −1 n −1 ωn −1 = Kn ⋅ In ωn
• 设试样中含有 N 种物相,衍射线强 度分别记为I1、I2、……、In,若以 其中第 n 相的为标准相,可以获得 N 个方程; • 各相衍射线的强度 Ii 可通过实验测 得,Kij 可查询PDF卡片后经计算得 到; • 通过联立多元方程组可求出各相的 含量ωi。 • 注:试样中如含有非晶,此法失效。 28
K sj
参比强度 Ij/Is正比于 j/ωs的 正比于ω 函数关系
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K值法
Ij
ωj =K ⋅ Is ωs
j s
注:1、在K值法中,由于S相的加入,冲洗掉了基 体吸收效应的一下,因此,K值法也称为基体冲 洗法,S相也称为“冲洗剂”; 2、测量中常用α-Al2O3作S相。用 j 相的最强衍 射线的强度与等量α-Al2O3的最强线(113)的强度 之比确定K值(即参比强度); 3、在有n个物相的情况下,若∑ωj<1,说明样 品中有非晶相存在。
样品的同指数衍射线强度相比较而测得物相含量。
• 适用范围:两相合金 • 原理:设(α+β) 合金中,两相的相对含量和质量
吸收系数分别为ω α、ω β ,和µmα、 µmβ, • 则根据定性分析的基本原理和相关条件,我们可 以列出以下方程式:
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设(α+β) 合金中,两相的相对含量和质量吸收系数 分别为ω α、ω β ,和µmα、 µmβ
ωα Iα = Kα ⋅ ⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅(1) ρα ⋅ µ m
µ m = ωα ⋅ µ mα + ωβ ⋅ µ mβ ⋅⋅⋅⋅⋅⋅(2) ωα + ωβ = 1 ⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅ (3)
• 对纯α相,有ω α=1,则同一指数衍射线强度
Iα 0 Kα =⋅ ⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅(4) ρα ⋅ µ mα
3. 需以纯样品作为标样。
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3.6.2 内标法
• 定义:将粉末试样内加入另外一种粉末状标准物
质,均匀混合后摄取X射线衍射图谱,利用待测 相与标准相的某一衍射线的强度比,确定待测相 含量。
• 适用范围:n相(n≥2)粉末试样,且难获得待测
相的纯样品。
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内标法
• 原理:若试样中含有 n 个物相,欲测定其中 j 相的
µmα
⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅ (5)
• 公式(5)即为外标法的基本公式
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对于外标法的理解
µ 1. 已知 µmα 、 mβ ,测出 Iα 、Iα 0 ,可计算出 ωα ; µ 2. 未知 µmα 、 mβ ,或需要经常测定某一特定相含量, 可定制α和β相的不同配比,并测出 和 Iα Iα 0 ,作出定标曲线(即衍射强度比——含量曲 ( —— 线),如图。 当 µmα= µmβ 时为直线; ( α和β 同素异构) 当 µmα≠ µmβ 时为曲线。
4
• 从1969年起,由粉末衍射标准联合会(JCPDS) 接手卡片的搜集、校订和编辑工作,并命名为 PDF卡片(Powder Diffraction File) • 至1985年,据统计已有PDF卡片46,000余张。 • 现在,PDF卡片集由衍射数据国际中心 (International Center for Diffraction Data,ICDD) 每年以书的形式出版,或编成计算机格式(例如, CD-ROM)出版;每年出版一期,大概有2000多 个新的衍射图分组发表在数据库中。
• ② 数字索引(哈那瓦特索引)是将最强线的面间距d1
处于某一范围归于一组,共分51组,按面间距范围从 大到小排列,且在每组内按次强线d2 排列。适用于物 相或组成元素完全未知的情况。
• ③ 芬克索引是以八强线的d值作为分析依据,将强度
作为次要依据进行排列。适用于强度失真和具有择优 7 取向的衍射花样设计的。
i相质量分数 混合物质量吸收系数 i相密度
• 实验方法:通过测出Ii的值,计算出ωi • 由于ρi一般已知, 因此,① 通过消去µm ,用实验法或计算出Ki; ② 通过消去Ki ,用实验法或计算出µm。 • 定性分析常用方法有:外标法、内标法和自标法。
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3.6.1 外标法——单线条法
• 定义:将待分析相的某一衍射线强度与该相的纯
5
3.5.2 PDF卡片
所用衍射方法 及相关资料 晶体学数据 光学数据 样品资料
组号和卡片号(5组第628号) 三个最强的衍射线
具有最低衍射角的 衍射线位置和强度 物质名称和化学式
衍射数据
6
3.5.3 PDF卡片索引方法 • ① 字顺索引是按物相英文名称的字母顺序排列的。
每种物质的名称后面列出其化学分子式、三根最强的d 值和相对强度数据,以及该物质对应的JCPDS卡片的 顺序号。适用于已知试样中一种或数种化学元素。
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内标法
•
一般情况下,标准物质S相的加入量是一定的, 因此,可引入常数C,使 K j ⋅ ρs 1 C= ⋅ K s ⋅ ρ j ωs
•
则内标法的基本公式可改写为: Ij = C ⋅ ω j ⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅ (5) Is 注:1、由于常数C难以计算,在实际操作过程中也 是通过绘制定标曲线,再进行分析。 2、内标法常用于水泥、金属粉末等的定量分析。 22
16ILeabharlann 0 有外标法• 将公式(1)/公式(4),并将公式(2)、(3)带入结果, 则有: