第13章材料分析方法
第十三章单因素设计方差分析
第十三章单因素设计方差分析方差分析是由英国统计学家Ronald Fisher 研究出来的，并以他的名字命名的方法，称为F检验。
它可以解决单因素和多因素实验设计结果的数据处理问题。
早期的心理学实验是严格的实验室控制实验。
在实验中只允许研究者感兴趣的一种变量作为自变量，希望观察到自变量引起的因变量的变化。
自变量也称为因素(factor)，在实验中只安排一个自变量的实验叫做单因素实验。
经典心理学实验通常是单因素实验。
单因素的实验可以较明确的观察到自变量与因变量之间的因果关系，较适用于研究比较单纯的心理现象，但往往无法说明复杂的心理现象。
现代的实验设计将一些额外变量引入实验成为实验中新的因素，以期实验的结果更贴近真实的情景，从而发展了多因素的实验设计。
统计中用符号表示实验设计时，常用大写的英文字母表示因素，如因素A、因素B、因素C等；用S表示被试（subject）。
把S写在表示因素符号的后边、前面或中间，则表示不同的实验设计，例如：单因素被试间设计AS、单因素被试内设计SA、多因素被试间设计ABS、多因素被试内设计SAB、混合设计ASB。
第一节t检验与I类错误当两个总体没有差异，而统计推论的结论说有差异，就犯了I类错误；当两个总体存在差异，而统计推论的结论说没有差异，就犯了II类错误。
通常，I类错误的发生概率用α表示，II类错误发生的概率用β表示。
当采用多个两两t检验时，发生I类错误的概率就会增大。
I类错误的计算公式如下：I类错误发生的概率＝1－(1－α)C（13.1）所以当要比较3个或3个以上的总体平均数两两检验时，应采用方差分析（analysis of variance）的方法。
一个显著的F值表示，在所比较的总体平均数里至少有两个总体平均数存在着显著差异。
第二节方差分析的原理方差（V ariance）有时也称为变异数（V ariation），是表示一组数据离散程度的统计量。
方差的总体参数用符号σ2表示；方差的样本统计量用符号S2表示。
材料分析方法第三版
材料分析方法第三版材料分析方法是材料科学研究的重要组成部分，它主要是通过对材料的成分、结构、性能等方面进行分析，从而揭示材料的内在特性和规律。
随着科学技术的不断发展，材料分析方法也在不断创新和完善，为材料研究提供了更加丰富和准确的手段。
本文将介绍材料分析方法的一些常见技术和应用，希望能够为材料研究工作者提供一些参考和帮助。
一、光学显微镜分析。
光学显微镜是材料分析中常用的一种工具，它可以对材料的微观结构进行观察和分析。
通过光学显微镜，可以观察材料的晶粒结构、晶界分布、孔隙结构等信息，从而了解材料的组织和形貌特征。
同时，还可以通过偏光显微镜观察材料的各向异性特性，为材料的性能分析提供重要依据。
二、扫描电子显微镜分析。
扫描电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，可以对材料的表面形貌和微观结构进行观察和分析。
通过扫描电子显微镜，可以获得材料的表面形貌、晶粒尺寸、晶界分布等信息，同时还可以进行能谱分析，了解材料的成分和化学状态。
这些信息对于材料的制备工艺和性能评价具有重要意义。
三、X射线衍射分析。
X射线衍射是一种常用的材料分析方法，通过研究材料对X射线的衍射图样，可以得到材料的晶体结构、晶格常数、晶粒尺寸等信息。
X射线衍射还可以用于分析材料的相变行为、应力分布等，对于材料的性能研究和应用具有重要意义。
四、热分析方法。
热分析是一类通过对材料在不同温度下的热性能进行测试和分析的方法，包括热重分析、差热分析、热膨胀分析等。
通过热分析，可以了解材料的热稳定性、热分解行为、玻璃化转变温度等重要参数，为材料的热工艺和使用性能提供依据。
五、原子力显微镜分析。
原子力显微镜是一种可以对材料表面进行原子尺度观察和分析的工具，可以获得材料的表面形貌、粗糙度、纳米结构等信息。
原子力显微镜还可以进行力-距离曲线测试，了解材料的力学性能和表面相互作用，为材料设计和加工提供重要参考。
总结。
材料分析方法是材料科学研究的重要手段，通过对材料的成分、结构、性能等方面进行分析，可以揭示材料的内在特性和规律。
毛概 第13章试题及答案
第十三章《国际战略和外交政策》习题一、单项选择题1、和平共处五项原则由（）最先提出A、毛泽东 B 、周恩来C、乔冠华2、在我国外交政策上，确定“真正的不结盟”战略的是（）A、毛泽东B、邓小平C、江泽民3、和平共处五项原则的精髓是（）A、国家主权平等B、互不侵犯C、互不干涉内政4、我国对外政策的立足点是（）：A、独立自主B、发展与大国关系C、加强同发展中国家的团结与合作5、威胁世界和平稳定的主要根源是（）A、贫穷B、水资源缺乏C、霸权主义和强权政治6、当今世界的核心问题是（）A、和平与发展 B 、霸权主义C、第三世界7、中国外交政策的宗旨是（）A、维护世界和平，促进共同发展B、反对霸权主义C、实现人类的解放8、中国外交政策的崇高目标是（）A、提高中国的国际地位B、维护世界和平，促进人类共同繁荣和发展C、实现人类的解放9、1974年毛泽东提出了三个世界划分的战略。
他指出，亚洲除了（），都是第三世界。
A、日本B、中国C、韩国10、在世界格局多极化与单边主义的斗争中，关键因素是（）A、军事力量B、经济技术C、政治力量11、经济全球化在本质上是（）的跨国流动。
A、资本B、人才C、货物12、不论在理论上还是在实践上，人权的保护责任，主要还是由（）来承担的A、大国B、主权国家的政府C、国际组织13、在处理国际关系和外交关系方面，我国坚持的外交工作布局是：A、大国是首要，周边是关键，发展中国家是基础，多边是舞台B、大国是关键，周边是首要，发展中国家是基础，多边是舞台C、大国是关键，发展中国家是首要，周边是基础，多边是舞台14、当今世界的核心问题是（）A、和平B、发展C、世界多极化D、经济全球化15、和平共处五项基本原则中的核心和最重要原则是（）A、互相尊重主权和领土完整B、互不侵犯C、互不干涉内政D、平等互利、和平共处16、我国对外政策的根本原则是（）A、和平共处B、不干涉他国内政C、独立自主D、发展经济17、世界和平与发展的主要障碍（）A、贫富差距B、民族矛盾C、宗教问题D、霸权主义和强权政治18、处理国与国之间关系的最好方式是（）A、大家庭方式B、和平共处五项原则C、集团政治方式D、势力范围方式二、多项选择题1、和平共处五项原则的是（）A、互相尊重主权和领土完整B、互不侵犯C、互不干涉内政D、平等互利E、和平共处2、坚持独立自主的和平外交政策包含着哪些内容（）A、反对霸权主义B、维护世界和平C、独立自主D、和平共处五项原则3、和平与发展这两大主题至今一个都没有解决，天下仍不太平。
13第十三章-凝析气井试井分析
(
)
凝析气井试井分析方法
复合气藏模型（压恢） 复合气藏模型（压恢）
q RT 1 C K∆t ψ (∆t) −ψ (0) = 2 KhM 2 ln Φ µc r C
m 1 2 i spb spb gi
凝析气井试井分析方法
两相拟压力方法
压 力 恢 复 试 井
4.2415×10−3 qt RT t p + ∆t ∆ψ2 pws =ψ2 p (P) −ψ2 p (P ) = lg i ws Kh ∆t
K= 4.2415×10−3 qt,mol RT mh
S' =1.151(
Ψ p (P 1) − Ψ p (P ) ws wf 2 2 m
单相气体拟压力方法
p
ρ ψsp = ∫p µ dP
r
ψ
µ
ψ
内 区
∂ψ ∂
外 区
ψ ψ
ψ ψ
1 ∂ ∂ sp Φ i cgi ∂ sp r = r ∂r ∂r K ∂t sp 2πhK =q m r r= rw (r →∞,t) = spi sp sp (r, t = 0) = spi
凝析气井试井分析方法
单相气体拟压力方法
两相表皮系数： 两相表皮系数：
pdew 2 p 2pkrg L kh S2 p = −3 ∫p µg zg − µg zg V +1dp 3.684×10 qt,mol RT
凝析气井试井分析方法
单相气体拟压力方法
单相气体拟压力方法
1 λ tp S + 0.80907 + + −1ln 2 Krg Krg rw w
第13章 工业原材料统计
统计学原理与工业统计 课程讲稿授课题目（教学章、节或主题）：第13章 工业原材料统计 理论课□ 讨论课□ 实验课□ 习题课□ 其他□ 教学要求（分掌握、熟悉、了解三个层次）：教学重点、难点及关键知识点：方法及手段教学基本内容（教学过程）授课方式（请打√） 课时 5改进设想（教学过程）第13章 工业原材料统计本章的学习目的是掌握工业原材料的概念及分类，收入量、消费量、拨出量及库存量的概念及统计原则，原材料储备的构成，单耗及利用率指标的含义及消耗定额完成情况的检查，能源的概念、分类及能源统计指标。
第1节 原材料收入、消费、拨出与库存量统计一、工业原材料的概念1、工业原材料的概念工业企业的劳动对象有两种：一种是存在于自然界的各种矿物资源和动植物资源，如各种矿藏、森林等；另一种是经过人类劳动生产出的物质资料，称为工业原材料，如生铁、钢材、石油、原木等。
因此，工业原材料是经过人类劳动而生产出的工业劳动对象的总称。
按在产品生产中所起的作用不同，工业原材料可以分为原料、主要材料和辅助材料。
原料和主要材料在生产过程中一般只是改变其原有形态，构成产品的实体，如装配电视机的电子元件，织布用的棉纱，炼钢用的铁矿石等均属此类。
辅助材料在产品生产过程中，只参与产品的形成过程，并不构成产品的实体，如电视机装配时所用的焊接材料和机加过程中使用的冷却液就属于辅助材料。
需要注意的是：原料、主要材料和辅助材料的划分，取决于它们在生产中的作用。
例如，煤炭用于炼焦时属原料和主要材料，用于生产车间取暖时则为辅助材料。
按消耗的工业设备不同，工业原材料可以分为材料和燃料。
材料是指供工业生产设备消耗使用的劳动对象，如织布机消耗的棉纱。
燃料是指供工业动力设备消耗使用的劳动对象，如汽车消耗的汽油。
由于燃料在国民经济中起着非常重要的作用，因此把它从原材料中划出，单独在能源统计中加以研究。
2、工业原材料的实物核算工业企业产品的生产过程也是原材料的消耗过程。
材料分析技术
材料分析技术材料分析技术是一门涉及多种学科知识的综合性技术，它在材料科学、化学、物理等领域都有着广泛的应用。
通过对材料的成分、结构、性能等方面进行分析，可以帮助人们更好地理解材料的特性，从而指导材料的设计、制备和应用。
本文将介绍几种常见的材料分析技术，包括X射线衍射、扫描电子显微镜、质谱分析等。
X射线衍射是一种常用的材料分析技术，它通过研究材料对X射线的衍射图样来确定材料的晶体结构和晶体学性质。
这项技术可以帮助科研人员确定材料的晶体结构类型、晶格常数、晶面指数等重要参数，从而为材料的性能和应用提供重要的参考依据。
扫描电子显微镜（SEM）是一种观察和分析材料表面形貌和成分的重要手段。
它利用电子束与材料表面的相互作用来获取显微图像，并通过能谱分析技术来确定材料的成分。
SEM技术在材料科学、生命科学、纳米技术等领域都有着广泛的应用，可以帮助科研人员研究材料的微观形貌和成分分布。
质谱分析是一种通过对材料中的离子进行质量分析来确定材料成分和结构的技术。
它可以对材料中的各种元素和化合物进行快速、准确的分析，广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域。
质谱分析技术的发展为材料研究和分析提供了强大的工具，为人们深入了解材料的组成和特性提供了重要手段。
除了以上介绍的几种常见的材料分析技术外，还有许多其他的分析方法，如透射电子显微镜、原子力显微镜、拉曼光谱等，它们各自具有独特的优势和适用范围。
随着科学技术的不断进步，材料分析技术也在不断发展和完善，为人们研究和应用各种材料提供了更加强大的工具和手段。
总之，材料分析技术在材料科学和工程领域具有重要的地位和作用，它为人们研究和应用各种材料提供了重要的手段和方法。
随着科学技术的不断进步，材料分析技术也在不断发展和完善，为人们更好地理解和利用材料提供了强大的支持。
希望本文介绍的几种常见的材料分析技术能够为读者提供一些参考和帮助，促进材料分析技术的研究和应用。
第13章 临床研究资料与统计分析方法正确抉择
B营养素 58.20 48.50 53.80 64.20 68.40 45.70 53.00 39.80
C营养素 64.50 62.40 58.60 72.50 79.30 38.40 51.20 46.20
随机区组设计：基本方法是将条件相近的一组受 试对象 (如年龄、性别、病情相近)作为一个区组，每 一区组内研究对象的数量应相等，再将每个区组内的 研究对象进行随机化分组。
采集方式：直接观测和访问。如临床研究中有关 体检及实验室资料的收集就采用直接观测方式，得到 的数据较为客观真实。
常见的访问方式： 面对面 电话访问法 信访法
编码 调 查 表 设 计
数据录入与建库
Software of Database
Access Visual Foxpro
Excel
《临床流行病学》
第十三章 临床研究资料收集 与统计分析的正确抉择
目录
数据收集与整理 统计分析的准备与筹划 常用的统计分析方法 统计分析方法的选择
第一节 临床研究的数据收集与整理
数据来源：病例、研究记录、调查表或问卷、专 题调查与实验记录、实验室检验数据、统计报表、年 鉴等。
PIO类指标： P — 研究对象特征指标（population/patients） I — 干预或暴露测量指标（intervention/exposure） O — 结局测量指标（outcome）
V总=V组间+V组内 F= MS组间/MS组内
One-Way ANOVA
Analyze → Compare Means → One-Way ANOVA
3组石棉矿工的用力肺活量(L)比较
方差分析结果
方差分析中的两两均数比较
Scheffe 检验 TukeyHSD 检验 Newman-keuls (SNK) 检验 Dunnett 检验 请勿用 t 检验两两比较，增加犯第1类错误的概率。
材料分析方法第三版
材料分析方法第三版材料分析方法是指通过对材料的成分、结构、性能等进行研究和分析，以获取材料的相关信息和特性的一种技术手段。
随着科学技术的不断发展和进步，材料分析方法也在不断更新和完善。
本文将介绍材料分析方法的一些常用技术和工具，以及它们在材料研究和应用中的作用和意义。
首先，光学显微镜是材料分析中常用的一种工具。
通过光学显微镜可以对材料的表面形貌和微观结构进行观察和分析，从而获取材料的形貌特征和微观结构信息。
光学显微镜在金属材料、陶瓷材料、聚合物材料等的分析中起着重要作用，能够帮助研究人员了解材料的晶粒形貌、晶界分布、孔隙结构等重要信息。
其次，X射线衍射技术是材料分析中常用的一种手段。
通过X射线衍射技术可以对材料的晶体结构进行分析，包括晶格常数、晶体取向、相对晶体取向等方面的信息。
X射线衍射技术在金属材料、无机非金属材料、生物材料等的分析中有着广泛的应用，可以帮助研究人员了解材料的晶体结构特征和性能。
另外，电子显微镜技术也是材料分析中常用的一种手段。
通过电子显微镜技术可以对材料的微观结构进行高分辨率的观察和分析，包括晶体形貌、晶界结构、缺陷分布等方面的信息。
电子显微镜技术在金属材料、陶瓷材料、纳米材料等的分析中有着重要的应用，可以帮助研究人员了解材料的微观结构特征和性能。
此外，质谱分析技术也是材料分析中常用的一种手段。
通过质谱分析技术可以对材料的成分和结构进行高灵敏度的检测和分析，包括元素组成、分子结构、同位素比值等方面的信息。
质谱分析技术在有机材料、生物材料、环境材料等的分析中有着重要的应用，可以帮助研究人员了解材料的成分构成和结构特征。
综上所述，材料分析方法是材料科学研究和工程应用中不可或缺的重要手段，各种分析技术和工具在材料分析中发挥着重要作用。
随着科学技术的不断进步，材料分析方法也在不断发展和完善，为材料研究和应用提供了强有力的支持和保障。
希望本文介绍的材料分析方法对您有所帮助，谢谢阅读！。
材料分析方法总结
材料分析方法总结材料分析是一门重要的科学技术，它在工程、材料科学、地质学、化学等领域都有着广泛的应用。
在材料分析中，我们需要运用各种方法来对材料的成分、结构、性能进行分析，以便更好地理解和利用材料。
本文将对常见的材料分析方法进行总结，希望能够对相关领域的研究者和工程师有所帮助。
首先，光学显微镜是材料分析中常用的方法之一。
通过光学显微镜，我们可以观察材料的形貌、颗粒大小、晶粒结构等信息。
这对于金属、陶瓷、塑料等材料的分析都非常有帮助。
同时，透射电子显微镜和扫描电子显微镜也是常用的分析工具，它们可以提供更高分辨率的图像，帮助我们观察材料的微观结构。
除了显微镜，X射线衍射也是一种常用的材料分析方法。
通过X射线衍射，我们可以确定材料的晶体结构和晶格参数，从而了解材料的晶体学性质。
X射线衍射在材料科学、地质学和化学领域都有着广泛的应用，是一种非常有效的分析手段。
此外，光谱分析也是材料分析中常用的方法之一。
光谱分析包括紫外可见吸收光谱、红外光谱、拉曼光谱等，它们可以用于分析材料的组成、结构和性能。
光谱分析在材料科学、化学和生物学领域都有着重要的应用，是一种非常有力的分析工具。
在材料分析中，热分析也是一种常用的方法。
热分析包括热重分析、差热分析、热膨胀分析等，它们可以用于研究材料的热稳定性、热分解过程、相变行为等。
热分析在材料科学、化学工程和材料加工领域都有着广泛的应用，是一种非常重要的分析手段。
最后，表面分析也是材料分析中不可或缺的方法。
表面分析包括扫描电子显微镜、原子力显微镜、X射线光电子能谱等，它们可以用于研究材料的表面形貌、化学成分和电子结构。
表面分析在材料科学、电子工程和纳米技术领域都有着重要的应用，是一种非常有效的分析手段。
综上所述，材料分析是一门重要的科学技术，它涉及到多个领域的知识和技术。
在材料分析中，我们可以运用光学显微镜、X射线衍射、光谱分析、热分析和表面分析等方法来对材料进行分析，从而更好地理解和利用材料。
材料分析方法总结
材料分析方法总结材料分析是指通过对材料的组成、结构、性能等方面进行研究，以获取有关材料特性和行为的信息。
在工程、科学研究和生产中，材料分析是非常重要的一项工作。
本文将对常见的材料分析方法进行总结，以便广大研究人员和工程技术人员参考。
一、光学显微镜分析。
光学显微镜是一种常见的材料表征工具，通过观察材料的形貌、颜色、结晶性等特征，可以初步了解材料的性质。
透射光学显微镜可用于金属材料、陶瓷材料等的分析，而反射光学显微镜则适用于表面分析和颗粒分析等。
通过光学显微镜分析，可以获得材料的晶粒大小、晶体结构、缺陷等信息。
二、扫描电子显微镜（SEM）分析。
SEM是一种能够提供高分辨率表面形貌和成分信息的分析工具。
通过SEM观察样品表面的形貌，可以获得材料的微观形貌特征，如表面粗糙度、颗粒大小等。
同时，SEM还可以结合能谱分析（EDS），用于获得材料的成分信息，如元素含量、元素分布等。
三、X射线衍射（XRD）分析。
X射线衍射是一种常用的材料结构分析方法，通过分析材料对X射线的衍射图样，可以得到材料的晶体结构、晶体参数、晶面取向等信息。
XRD分析适用于晶体材料、粉末材料等的结构表征，对于材料的相变、析出相、晶体取向等研究具有重要意义。
四、热分析（TG-DTA）分析。
热分析是一种通过对材料在不同温度下的质量、热量变化进行分析的方法。
常见的热分析方法包括热失重分析（TG）、差热分析（DTA）等。
通过热分析，可以了解材料的热稳定性、热分解特性、相变温度等信息，对材料的热性能研究具有重要意义。
五、原子力显微镜（AFM）分析。
AFM是一种能够提供材料表面形貌和力学性质信息的分析工具。
通过AFM可以获得材料的表面形貌、表面粗糙度、力学性能等信息，对于纳米材料、薄膜材料的表征具有独特优势。
综上所述，材料分析方法涵盖了光学显微镜、扫描电子显微镜、X射线衍射、热分析、原子力显微镜等多种手段，每种方法都有其独特的优势和适用范围。
在实际应用中，可以根据具体分析的目的和要求，选择合适的分析方法进行研究，以获得准确、全面的材料信息。
第十三章 定性资料分析
定性资料处理
编码：对个体的信息进行分门别类
• 在编码前，要明确分析的标准化单位 • 只有采用相同的编码才可以进行比较 • 建立编码
– 我认为，教授至少应该给我部分学分，因为我还交过作业。 – 开放编码：对概念的初始分类和标注（教授、学分、作业） – 轴心式编码：找到研究中的核心概念（公平，权利关系） – 选择式编码：找出研究中的核心编码（教授-学生的关系）
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2015/12/17
本章重点
什么是定性分析 定性资料处理的三个核心工具
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• （三）数据、资料的剔除与补充
– 有效率一般为80%以上
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– （2）与研究数据、资料收集情境有关的资料 » 数据收集的时间、地点和客观条件 – （3）与研究对象有关的情况 » 研究对象的文化水平、理解程度，态度 – （4）与主试或研究者有关的情况 » 研究者的外表特征，个性特征和观察记录的质量
研究数据、资料的整理
一、研究数据、资料整理的目的
• 首先，通过数据、资料整理使研究者把握研究的主导 方向； • 其次，通过研究数据、资料的整理保证材料的可靠性， 为进一步的定性和定量分析取得正确的结论奠定基础； • 最后，通过研究数据、资料的整理形成可进行深入分 析的材料，初步把握数据的整体情况。
缺点
• • • • • • 观察者本人的能力、心理因素 有时会无效 有时会导致观察结果失真 花费较多人力物力和时间 观察设计的要求较高，信效度问题 部分行为难以进行观察，如家庭纠纷
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研究数据、资料的整理
材料分析方法智慧树知到答案章节测试2023年天津大学
绪论单元测试1.材料研究方法分为（）A:物相分析B:成分价键分析C:组织形貌分析D:分子结构分析答案:ABCD2.材料科学的主要研究内容包括（）A:材料的性能B:材料应用C:材料的制备与加工D:材料的成分结构答案:ACD3.下列哪些内容不属于材料表面与界面分析（）A:晶粒大小、形态B:气体的吸附C:表面结构D:晶界组成、厚度答案:A4.下列哪些内容属于材料微区分析（）A:晶格畸变B:裂纹大小C:位错D:晶粒取向答案:ABCD5.下列哪些内容不属于材料成分结构分析（）A:晶界组成、厚度B:物相组成C:杂质含量D:晶粒大小、形态答案:AD第一章测试1.扫描电子显微镜的分辨率已经达到了（）A:0.1 nmB:1.0 nmC:10 nmD:100 nm答案:B2.利用量子隧穿效应进行分析的仪器是A:原子力显微镜B:扫描电子显微镜C:扫描隧道显微镜D:扫描探针显微镜答案:C3.能够对样品形貌和物相结构进行分析的是透射电子显微镜。
A:错B:对答案:B4.扫描隧道显微镜的分辨率可以到达原子尺度级别。
A:对B:错答案:A5.图像的衬度是（）A:任意两点探测到的电子信号强度差异B:任意两点探测到的光强差异C:任意两点存在的明暗程度差异D:任意两点探测到的信号强度差异答案:CD6.对材料进行组织形貌分析包含哪些内容（）A:位错、点缺陷B:材料的外观形貌C:晶粒的大小D:材料的表面、界面结构信息答案:ABCD7.光学显微镜的最高分辨率为（）A:0.5 μmB:0.2 μmC:1 μmD:0.1 μm答案:B8.下列说法错误的是（）A:可供照明的紫外线波长为200~250 nm，可以作为显微镜的照明源B:X射线波长为0.05~10 nm，可以作为显微镜的照明源C:X射线不能直接被聚焦，不可以作为显微镜的照明源D:可见光波长为450~750 nm，比可见光波长短的光源有紫外线、X射线和γ射线答案:B9.1924年，（）提出运动的电子、质子、中子等实物粒子都具有波动性质A:德布罗意B:狄拉克C:薛定谔D:布施答案:A10.电子束入射到样品表面后，会产生下列哪些信号（）A:背散射电子B:俄歇电子C:特征X射线D:二次电子答案:ABCD第二章测试1.第一台光学显微镜是由哪位科学家发明的（）A:惠更斯B:胡克C:詹森父子D:伽利略答案:C2.德国科学家恩斯特·阿贝有哪些贡献（）A:解释了数值孔径等问题B:发明了油浸物镜C:阐明了光学显微镜的成像原理D:阐明了放大理论答案:ABCD3.光学显微镜包括（）A:聚光镜B:目镜C:反光镜D:物镜答案:ABCD4.下列关于光波的衍射，错误的描述是（）A:障碍物线度越小，衍射现象越明显B:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时，光线将偏离直线传播C:光是电磁波，具有波动性质D:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时，光线将沿直线传播答案:D5.下列说法正确的是（）A:两个埃利斑靠得越近，越容易被分辨B:衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释C:埃利斑半径与光源波长成反比，与透镜数值孔径成正比D:由于衍射效应，样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑答案:BD6.在狭缝衍射实验中，下列说法错误的是（）A:在第一级衍射极大值处，狭缝上下边缘发出的光波波程差为1½波长B:子波之间相互干涉，在屏幕上形成衍射花样C:整个狭缝内发出的光波在中间点的波程差半波长，形成中央亮斑D:狭缝中间每一点可以看成一个点光源，发射子波答案:C7.下列关于阿贝成像原理的描述，正确的是（）A:参与成像的衍射斑点越多，物像与物体的相似性越好。
材料力学第十三章
A 2L
CL
P=4KN
B
y1
L=1m y2
D
8、各构件均为圆截面，直径d＝20毫米，材料弹性模
量E＝200GPa，L＝1米，第一特征柔度λp= 100，第 二特征柔度λs=57，经验公式σcr＝304－1.12λ，稳定安 全系数nw=3，许用应力 [σ]=140MPa，求此结构的许 可载荷[P]。
C
P
L
B
A
D
L
L
L EL
9、横梁为刚性杆，1、2杆件的材料相同均为A3钢，比例极 限σP＝200MPａ，屈服极限为σs=240Mpa，强度极限为σb＝ 400MPａ。 1杆的直径为ｄ１＝10毫米，杆长L1＝1米。2杆 的直径为ｄ２＝20毫米，杆长为L2＝1米。1杆与横梁的夹角 为30度，2杆与横梁的夹角为60度。两杆的强度与稳定安全 系数均为2.0。求结构的许可载荷[P]＝？
材料和直径均相同问题压杆的临界应力总图弹性失稳弹塑性稳定问题强度失效细长杆细长杆中长杆中长杆粗短粗短杆杆临界应力总图150030sin30cos1计算工作压力mm161081610732crcr26118ab杆满足稳定性要求3选用公式计算临界应力4计算安全系数5结论kn11822两根直径均为两根直径均为dd的压杆杆材料都是材料都是qq235235钢钢但二者长度和约束条件但二者长度和约束条件各不相同各不相同
A
B
L
L
C
3、钢制矩形截面杆的长度为L＝1.732米，横截面为 60×100，P＝100KN，许用应力为[σ]＝30MPａ， 弹性模量E＝200GPａ，比例极限σP＝80MPａ， 屈服极限σS＝160MPａ，稳定安全系数ｎw＝2， ａ＝304MPａ，ｂ＝1.12MPａ。构件安全吗？
材料分析方法范文
材料分析方法范文材料分析是科学研究和工程实践中非常重要的一项技术，用来确定和研究物质的组成、结构和性能。
材料分析方法是指用于分析和表征材料的各种技术和手段。
下面将介绍几种常见的材料分析方法。
1.X射线衍射（XRD）：X射线衍射是一种无损性的材料分析方法，通过照射样品表面或穿透样品，通过测量衍射光的方向和强度来分析样品的晶体结构和晶体学信息。
XRD广泛用于研究材料的晶体结构、晶体缺陷、晶格参数等。
2.扫描电子显微镜（SEM）：SEM是一种观察和分析材料表面形貌和微结构的方法。
利用电子束照射样品表面，收集和分析电子束与样品相互作用所产生的信号，如二次电子、反射电子、能量散射电子等，从而获得样品表面形貌、粒度、晶体形态等信息。
3.透射电子显微镜（TEM）：TEM是一种高分辨率的观察和分析材料内部结构和微观组织的方法。
通过透射电子束照射样品并收集穿过样品的透射电子，从而获得样品的显微结构、晶体结构、物相和晶格缺陷信息。
4.能谱分析（EDS和WDS）：能谱分析是一种利用材料与射线作用产生特定能量的X射线，通过测量这些X射线的能量和强度来定性和定量分析材料成分的方法。
其中EDS（能量散射谱）主要用于分析材料的元素组成和定量分析，而WDS（波长散射谱）能够提供更高的分辨率和准确度。
5.热分析（TG、DSC）：热分析是通过对样品加热或冷却过程中测量样品质量、温度或热流变化来研究材料热性能的方法。
TG（热重分析）可用于分析材料的热稳定性和热分解动力学，而DSC（差示扫描量热计）则用于研究材料的热容量、熔化、晶化、固化、反应热和玻璃化转变等热性质。
6.红外光谱（IR）：红外光谱是一种用于分析材料分子结构和化学成分的方法。
通过测量材料对红外辐射的吸收和反射来分析材料的官能团、分子结构和化学键信息。
IR广泛用于聚合物、有机物、无机盐类等材料的表征和分析。
7.核磁共振（NMR）：核磁共振是一种利用核自旋在外磁场中的共振现象来分析和表征材料的方法。
第十三章维生素药物的分析
（2）第二法（等吸收比法）：使 ＝ ＝6/7 。中国药典规定，测定维生素A醇时，λl＝325nm，λ2＝310nm，λ3＝334nm。
4．测定方法：维生素A测定法有“第一法”和“第二法”两种方法（中国药典2000年版）。
维生素C还可还原碱性酒石酸酮、高锰酸钾等氧化剂，使这些试剂褪色，产生沉淀或显色，从而用于鉴别。
2．紫外吸收光谱法：
三、含量测定
碘量法（重点）。中国药典即用直接碘量法，测定维生素C及其片剂、注射液的含量。
1．原理：维生素C具有还原性，可被不同氧化剂定量氧化，可用氧化还原法测定含量。
2．方法：维生素C原料的含量测定取本品约0.2g→精密称定→加新沸过的冷水100ml与稀醋酸10ml使溶解→加淀粉指示液1ml→立即用碘滴定液（0.1mol/L）滴定→显蓝色并在30秒钟内不褪。
第三节维生素B1的分析
一、结构和性质
1．结构维生素B1又称盐酸硫胺，是由氨基嘧啶环和噻唑环通过亚甲基连接而成的季铵化合物的盐酸盐。
2．性质
（1）溶解性（2）杂环上氮原子的性质（3）紫外吸收特性
（4）硫色素反应（5）氯化物的特性
二、鉴别试验
1．硫色素反应（重点）维生素B1在碱性溶液中，可被铁氰化钾氧化生成硫色素。硫色素溶于正丁醇（或异丁醇等）中，显蓝色荧光。该反应为维生素Bl的特有反应。
2．紫外分光光度法
中国药典（2000年版）收载的维生素B1片和注射液，均采用本法测定含量。
3．硅钨酸重量法
（1）原理：维生素B1在酸性溶液中，能与硅钨酸定量地生成组成恒定的硅钨酸盐沉淀，根据沉淀的重量和供试品的称取量即可计算维生素B1的含量。沉淀的组成为（C12H17ClN4OS）2·SiO2（OH）2·12WO3·4H2O，其分子量为3479.22，维生素B1的分子量为337.27。
材料分析方法
材料分析方法
1. 目视观察法：通过裸眼观察材料的外观特征，包括颜色、形状、纹理等，以初步判断材料的性质。
2. 显微镜观察法：使用光学显微镜观察材料的微观结构和特征，包括晶体结构、颗粒形貌等，以评估材料的晶化程度、颗粒尺寸等。
3. 热分析法：通过对材料在不同温度下的热响应进行分析，包括热重分析（TGA）、差热分析（DSC）等，以确定材料的
热稳定性、相变温度等。
4. 光谱分析法：利用光的吸收、发射、散射等性质对材料进行分析，常见的光谱分析包括紫外可见光谱、红外光谱、拉曼光谱等，用于分析材料的化学组成、分子结构等。
5. 电子显微镜观察法：使用扫描电子显微镜（SEM）或透射
电子显微镜（TEM）对材料的表面形貌、晶体结构进行观察，以获取高分辨率的图像和微区成分分析。
6. X射线衍射方法：利用材料对入射X射线的衍射现象，分
析材料的晶体结构、结晶度等，常见的方法包括X射线粉末
衍射（XRD）和单晶X射线衍射（XRD）。
7. 磁学分析法：通过对材料的磁性进行测试与分析，包括磁滞回线测量、霍尔效应测量等，以判断材料的磁性、磁结构等。
8. 电化学分析法：通过测量材料在电化学条件下的电流、电压等性质，以研究材料的电化学性能、电极活性等。
9. 分子模拟与计算方法：运用计算机模拟技术对材料的分子结构、物理性质进行分析与计算，包括分子力场模拟、密度泛函理论等。
10. X射线能量色散谱分析法：通过对X射线入射材料的能量散射进行分析，以确定材料的元素成分和含量，用于材料的定性与定量分析。
分析化学第13章气相色相色谱分析
柱后
四臂
化为可以记录的电压信号，从而实
柱前
现其检测功能。
A
B
构成：由池体和热敏元件构成。
通常将参比臂和样品臂组成 Wheatstone 电桥。如图。
柱后
柱前
工作过程：
1）在只有载气通过时，四个臂的温度都保持不变， 电阻值也不变。此时，调节电路电阻使电桥平衡， AB两端无电压信号输出； 2）当有样品随载气进入两个样品臂时，此时热导系 数发生变化，或者说，测量臂的温度发生变化，其电 阻亦发生变化，电桥失去平衡，AB两端有电压信号 输出。当载气和样品的混合气体与纯载气的热导系数 相差越大，则输出信号越强。
物并发射特征分子光谱。测量光谱的强度则可进行定量分析。
含S、P化合物在氢焰中的变化过程如下：
含S 化合物： RS Air O2 SO2 CO2;SO2 8 H 2S 4 H2O S 3900 C S* 跃迁 S hν(354 ~ 430 nm, λmax 394nm) 含 P 化合物
2）池体温度：池体温度低，与热敏元件间温差大，灵敏度提高。但温度过低，可 使试样凝结于检测器中。通常池体温度应高于柱温。
3）载气种类：载气与试样的热导系数相差越大，则灵敏度越高。通常选择热导系数 大的H2和He作载气。用N2作载气，热导系数较大的试样(如甲烷)可出现倒峰。
4）热敏元件阻值：阻值高、电阻温度系数大（随温度改变，阻值改变大，或者说
与
温度高，分析时间短，但分离效果差
恒
温
对
分
程序升温：30~180oC
离
的
程序升温，分离效果好，且分析时间短
影
响
比
较
四、温控系统
温度控制是否准确、变温速度是否快速是市售色 谱仪器的最重要指标之一。
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第一节 电子束与样品相互作用产生的信号
三、透射电子 若入射电子能量很高,且样品很薄，则会有一部分电子
穿过样品，这部分入射电子称透射电子 透射电子中除了能量和入射电子相当的弹性散射电子外，还 有不同能量损失的非弹性散射电子，其中有些电子的能量损 失具有特征值，称为特征能量损失电子 特征能量损失电子的能量与样品中元素的原子序数有对应关 系，其强度随对应元素的含量增大而增大 利用电子能量损失谱仪接收特征能量损失电子信号，可进行 微区成分的定性和定量分析
内层电子击出时，原子处于能量较高的激发态，外层电子将 向内层跃迁填补内层空位，发射特征X射线释放多余的能量 产生于样品表层约1m的深度范围 其能量或波长与样品中元素的原子序数有对应关系 其强度随对应元素含量增多而增大 特征X射线主要用于材料微区成分定性和定量分析
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第一节 电子束与样品相互作用产生的信号
目前，扫描电子显微镜二次电子像的分辨率已优于 3nm， 高性能的场发射枪扫描电子显微镜的分辨率已达到 1nm 左 右，相应的放大倍数可高达30万倍
与光学显微镜相比， 扫描电子显微镜不仅图像分辨率高， 而且景深大，因此在断口分析方面显示出十分明显的优势
扫描电子显微镜开始发展于20世纪 60年代，随其性能不断 提高和功能逐渐完善， 目前在一台扫描电镜上可同时实现 组织形貌、微区成分和晶体结构的同位分析， 现已成为材 料科学等研究领域不可缺少的分析工具
六、俄歇电子 处于能量较高的激发态原子,外层电子将向内层跃迁填
补内层空位时，不以发射特征X射线的形式释放多余的能量， 而是向外发射外层的另一个电子，称为俄歇电子 产生于样品表层约1nm的深度范围 其能量与样品中元素的原子序数存在对应关系， 能量较低， 一般在 50~1500eV 范围内 其强度随对应元素含量增多而增大 俄歇电子主要用于材料极表层的成分定性和定量分析
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第一节 电子束与样品相互作用产生的信号
电子信号强度的关系
如果使样品接地, 上述四种电子信号强度与入射电子强
度(i0)之间应满足
ib+ is+ ia+ it = i0
(13-1)
式中， ib、 is、 ia 和 it 分别为 背散射电子、二次电子、吸收
电子和透射电子信号强度。上
式两端除以 i0 得
第二篇 材料电子显微分析
第八章 电子光学基础 第九章 透射电子显微镜 第十章 电子衍射 第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析 第十二章 高分辨透射电子显微术 第十三章 扫描电子显微镜 第十四章 电子背散射衍射分析技术 第十五章 电子探针显微分析 第十六章 其他显微结构分析方法
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第十三章 扫描电子显微镜
扫描电子显微镜的成像原理与透射电镜完全不同, 不是利用 电磁透镜聚焦成像， 而是利用细聚焦电子束在样品表面扫 描，用探测器接收被激发的各种物理信号调制成像
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第二节 扫描电镜的构造和工作原理
如图13-3所示,扫描电子显微镜由电子光学系统，信号 收集和图像显示记录系统，真空系统三个基本部分组成
图13-3 扫描电子显微镜的结构原理图
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第二节 扫描电镜的构造和工作原理
一、电子光学系统(镜筒)
1. 电子枪
扫描电镜中的电子枪与透射电镜基本相同, 也有热发射和场 发射两种，只是加速电压较低，一般最高为30kV
一、背散射电子 被样品原子散射,散射角大于90而散射到样品表面以外
的一部分入射电子称为背散射电子， 包括弹性背散射电子和 非弹性散射背散射电子 产生于样品表层几百纳米的深度范围 能量范围较宽，从几十到几万电子伏特 产额随样品平均原子序数增大而增大， 所以背散射电子像的 衬度可反映对应样品位置的平均原子序数 背散射电子像主要用于定性分析材料的成分分布和显示相的 形状和分布
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第十三章 扫描电子显微镜
本章主要内容 第一节 电子束与固体样品作用时产
生的信号 第二节 扫描电子显微镜的构造和工
作原理 第三节 扫描电子显微镜的主要性能 第四节 表面形貌衬度原理及其应用 第五 原子序数衬度原理及其应用
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第一节 电子束与样品相互作用产生的信号
样品对入射电子束的作用主要是散射,其中包括弹性散 射和非弹性散射。这一过程产生的信号主要有，背散射电子、 吸收电子和透射电子，还有韧致辐射(连续X射线)
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第一节 电子束与样品相互作用产生的信号
二、吸收电子
入射电子进入样品后,经多次非弹性散射使其能量消耗 殆尽，最后被样品吸收，这部分入射电子称吸收电子
产生于样品表层约1微米的深度范围
产额随样品平均原子序数增大而减小。因为，在入射电子束 强度一定的情况下，对应背散射电子产额大的区域吸收电子 就少，所以吸收电子像也可提供原子序数衬度
入射电子对样品的作用主要是原子电离，这一作用产生的信 号主要有，二次电子、特 征 X射线和俄歇电子，此 外还有阴极荧光等信号
以下将分别介绍各种物理 信号及其特点，以及所反 映的样品性质和用途
图13-1 所示为电子束与样
品作用产生的主要信号
图13-1 电子束与固体样品作用产生的信号
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第一节 电子束与样品相互作用产生的信号
2. 电磁透镜
扫描电镜中的电磁透镜并不用于聚焦成像， 而均为聚光镜， 它们的作用是把电子束斑尺寸逐级聚焦缩小， 从电子枪的束 斑50m 缩小为几个纳米的电子束
+ + + =1 (13-2)
式中， 、、 和 分别为背
散射、发射、吸收和透射系数
上述四个系数与 样品质量厚度
图13-2 铜样品、、 及 与t 的关系 的关系如图13-2所示
(入射电子能量E0 = 10keV)
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第一节 电子束与样品相互作用产生的信号
五、特征X射线 如前(第一章)所述, 当入射电子能量足以使样品原子的
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第一节 电子束与样品相互作用产生的信号
四、二次电子 在入射电子作用下,使样品原子的外层价电子或自由电
子被击出样品表面，称为二次电子 产生于样品表层5~10nm的深度范围 能量较低，一般不超过 50eV，大多数均小于10eV 其产额对样品表面形貌非常敏感，因此二次电子像可提供表 面形貌衬度 二次电子像主要用于断口分析、显微组织分析和原始表面形 貌观察等