晶体光学课程总结
合集下载
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
4) 平行AP: 粗大模糊黑十字(转物台对称干涉 色)
应用: 定Bxa 、 Bxo, 测光性 5) 垂直Bxo:模糊黑十字(转物台对称干涉色)
应用: 少
一轴晶垂直光轴切面干涉图的应用
鉴别轴性、切片类型、测定光性符号、测定No的折射率或No的颜色。
Ne′ No No Ne′
Ne′ No
No Ne′
Ne′降
0°
AP
45°
AP
光轴
A
AP 90°
光轴
B
锐角区
135°
AP
光轴
C
光轴
D
锐角区
垂直一个光轴切面干涉图
2.垂直一个光轴切面干涉图的应用
(1).确定轴性及切片类型 ( 2V 小于80º); (2).测定光性符号； (3).测定光轴角大小.
➢ 光性符号的测定方法
45º
(A) 0º位置
Nm (B) 45º位置
5. 消光角及延性符号的测定（重点） 要点: CNg；Np′ （010）
A
光
率
P
P
P
P体
转物台45°
椭
圆
消光位
A
半
径Hale Waihona Puke PPP名 P称
测
定
加入试板干涉色升高 加入试板干涉色降低
同名平行
异名平行
45°
90°
(1)
(2)
(3)
用石英楔测定干涉色级序示意图
45°
b1
c1
45°
a
d
消光位
b2
解理缝∥纵丝
第二章偏光显微镜
1. 物镜中心的校正 2. 上下偏光是否正交的检查 3. 单偏光系统、正交偏光系统、和锥光系统的
构成
第三章 单偏光镜下晶体光学性质
1. 形态、解理 切面的组合; 解理的等级、组数、夹角
2. 颜色、多色性、吸收性 选择吸收: 方向性-色调浓度
3. 突起等级-六个等级 判别标志: 边缘、贝克线、糙面
（α2）
c2
定轴名
Ng∥纵丝（α1）
单斜辉石或角闪石消光角的测定步骤示意图
干涉色 降低
干涉色 升高
A 消光位
B 正延性
C 负延性
晶体延性符号测定步骤示意图
第五章锥光镜下晶体光学性质
1. 基本概念 干涉图、闪图、光轴角(2V)、光性符号
2. 一轴晶干涉图 1) 垂直C轴: 黑十字+色环(转物台不变化) 应用: 定切面(No), 测光性 2) 平行C轴: 模糊黑十字(转物台对称干涉色) 应用: No,Ne; 测光性
B
=60
D
C
E
＞60
H
F
＜60
G
K
不同方向解理夹角变化示意图
(四).解理夹角的测定
2. 解理夹角的测定步骤
（1）选择颗粒,置于视域心. （2）转动物台使一组解理缝平行目镜十字丝纵丝
(图A),读取此时载物台刻度盘上的度数a. （3）再转动物台，使另一组解理缝平行目镜十字
丝纵丝，读取此时载物台刻度盘上的度数b (图B), a与b之差即为所测解理夹角.
Nm (+) (C) 加入检板
Nm (-) (D) 加入检板
垂直一个光轴切面干涉图测定光性符号示意图
3) 小斜交C轴: 黑十字+色环(不完整) 应用: 定切面(No , Ne’), 测光性
2 二轴晶干涉图 1) 垂直Bxa: 黑十字+∞形色环(随物台转动而 转动) 应用: 定切面, 测光性, 测2V 2) 垂直OA: 是垂直Bxa图象的一半 应用: 定切面(Nm), 测光性, 测2V
3) 小斜交OA : 是垂直OA图象的一部分 应用: 定切面, 测光性
2) 主要类型：均质体；一轴晶；二轴晶 : (1)形态 (2)主要切面类型、特点、应用
一轴晶: 3种: 平行C, 垂直C, 斜交C; 二轴晶: 5种: 垂直Bxa ,垂直OA ,
平行AP , 垂直Bxo , 斜交
(3) 光性符号: 正光性、 负光性
4. 光性方位——（结晶轴—主轴关系）
中级晶族
低级晶族 斜方晶系 单斜晶系 三斜晶系
4. 闪突起-方向性变化
5. 主要光学性质的测定与观察（方法） （1）. 解理夹角的测定(附后)
要点: 切面的选择 （2）. 突起等级的观察
要点:边缘、贝克线、糙面
附解理夹角的测定方法 A
1. 切片方向的选择
选择同时垂直两组解理面的 切片. 特征是两组解理缝最细最清 楚, 当解理缝平行目镜十字 丝时, 微微升降镜筒, 两组解 理缝不左右移动.
Ne′
升
No
No
No
升
Ne′
No
降
Ne′
升
降
No Ne′ Ne′ No
No Ne′
降
No 升 Ne′
A.Ne’和No的方位
B（+）
C（-）
一轴晶垂直光轴切面光性符号测定示意图
光性符号测定方法
Nm 锐角区
Np Nm
Ng Nm
Bxa=Ng（+）
Bxa=Np（-）
利用垂直 Bxa 切片干涉图测定光性符号示意图
晶体光学课程总结
第一章 晶体光学基础
1. 光——横波 ,振动特点 可见光、自然光、偏振光
2. 光在晶体中传播的特点 均质体：各向同性 非均质体：各向异性双折射（率）、光轴、一轴晶、二轴晶
3. 光率体——一个假想的立体模型
1) 基本概念 光率体、 光学主轴(主折射率、最大双折 射率)、光轴、主轴面、光轴面 、圆切面
图A 图B
第四章 正交偏光镜下晶体光学性质
1. 消光(现象:黑暗) 永久消光(圆切面) 、四次消光(其余切面) 、 消光位、消光类型 、消光角
2. 干涉(现象:明亮) 干涉色、干涉色级序 、干涉色色序 补色法则: 45º位两矿片重叠、消色
3. 主要光学性质的测定与观察 1. 光率体椭圆半径名称(轴名)的测定(附后) 要点: 消光位-- 45º位—R(增减) 2. 干涉色级序的测定 要点: 消色位 3. 最大双折射率的测定 要点: 最高干涉色 4. 消光类型的观察 要点: 光性方位
应用: 定Bxa 、 Bxo, 测光性 5) 垂直Bxo:模糊黑十字(转物台对称干涉色)
应用: 少
一轴晶垂直光轴切面干涉图的应用
鉴别轴性、切片类型、测定光性符号、测定No的折射率或No的颜色。
Ne′ No No Ne′
Ne′ No
No Ne′
Ne′降
0°
AP
45°
AP
光轴
A
AP 90°
光轴
B
锐角区
135°
AP
光轴
C
光轴
D
锐角区
垂直一个光轴切面干涉图
2.垂直一个光轴切面干涉图的应用
(1).确定轴性及切片类型 ( 2V 小于80º); (2).测定光性符号； (3).测定光轴角大小.
➢ 光性符号的测定方法
45º
(A) 0º位置
Nm (B) 45º位置
5. 消光角及延性符号的测定（重点） 要点: CNg；Np′ （010）
A
光
率
P
P
P
P体
转物台45°
椭
圆
消光位
A
半
径Hale Waihona Puke PPP名 P称
测
定
加入试板干涉色升高 加入试板干涉色降低
同名平行
异名平行
45°
90°
(1)
(2)
(3)
用石英楔测定干涉色级序示意图
45°
b1
c1
45°
a
d
消光位
b2
解理缝∥纵丝
第二章偏光显微镜
1. 物镜中心的校正 2. 上下偏光是否正交的检查 3. 单偏光系统、正交偏光系统、和锥光系统的
构成
第三章 单偏光镜下晶体光学性质
1. 形态、解理 切面的组合; 解理的等级、组数、夹角
2. 颜色、多色性、吸收性 选择吸收: 方向性-色调浓度
3. 突起等级-六个等级 判别标志: 边缘、贝克线、糙面
（α2）
c2
定轴名
Ng∥纵丝（α1）
单斜辉石或角闪石消光角的测定步骤示意图
干涉色 降低
干涉色 升高
A 消光位
B 正延性
C 负延性
晶体延性符号测定步骤示意图
第五章锥光镜下晶体光学性质
1. 基本概念 干涉图、闪图、光轴角(2V)、光性符号
2. 一轴晶干涉图 1) 垂直C轴: 黑十字+色环(转物台不变化) 应用: 定切面(No), 测光性 2) 平行C轴: 模糊黑十字(转物台对称干涉色) 应用: No,Ne; 测光性
B
=60
D
C
E
＞60
H
F
＜60
G
K
不同方向解理夹角变化示意图
(四).解理夹角的测定
2. 解理夹角的测定步骤
（1）选择颗粒,置于视域心. （2）转动物台使一组解理缝平行目镜十字丝纵丝
(图A),读取此时载物台刻度盘上的度数a. （3）再转动物台，使另一组解理缝平行目镜十字
丝纵丝，读取此时载物台刻度盘上的度数b (图B), a与b之差即为所测解理夹角.
Nm (+) (C) 加入检板
Nm (-) (D) 加入检板
垂直一个光轴切面干涉图测定光性符号示意图
3) 小斜交C轴: 黑十字+色环(不完整) 应用: 定切面(No , Ne’), 测光性
2 二轴晶干涉图 1) 垂直Bxa: 黑十字+∞形色环(随物台转动而 转动) 应用: 定切面, 测光性, 测2V 2) 垂直OA: 是垂直Bxa图象的一半 应用: 定切面(Nm), 测光性, 测2V
3) 小斜交OA : 是垂直OA图象的一部分 应用: 定切面, 测光性
2) 主要类型：均质体；一轴晶；二轴晶 : (1)形态 (2)主要切面类型、特点、应用
一轴晶: 3种: 平行C, 垂直C, 斜交C; 二轴晶: 5种: 垂直Bxa ,垂直OA ,
平行AP , 垂直Bxo , 斜交
(3) 光性符号: 正光性、 负光性
4. 光性方位——（结晶轴—主轴关系）
中级晶族
低级晶族 斜方晶系 单斜晶系 三斜晶系
4. 闪突起-方向性变化
5. 主要光学性质的测定与观察（方法） （1）. 解理夹角的测定(附后)
要点: 切面的选择 （2）. 突起等级的观察
要点:边缘、贝克线、糙面
附解理夹角的测定方法 A
1. 切片方向的选择
选择同时垂直两组解理面的 切片. 特征是两组解理缝最细最清 楚, 当解理缝平行目镜十字 丝时, 微微升降镜筒, 两组解 理缝不左右移动.
Ne′
升
No
No
No
升
Ne′
No
降
Ne′
升
降
No Ne′ Ne′ No
No Ne′
降
No 升 Ne′
A.Ne’和No的方位
B（+）
C（-）
一轴晶垂直光轴切面光性符号测定示意图
光性符号测定方法
Nm 锐角区
Np Nm
Ng Nm
Bxa=Ng（+）
Bxa=Np（-）
利用垂直 Bxa 切片干涉图测定光性符号示意图
晶体光学课程总结
第一章 晶体光学基础
1. 光——横波 ,振动特点 可见光、自然光、偏振光
2. 光在晶体中传播的特点 均质体：各向同性 非均质体：各向异性双折射（率）、光轴、一轴晶、二轴晶
3. 光率体——一个假想的立体模型
1) 基本概念 光率体、 光学主轴(主折射率、最大双折 射率)、光轴、主轴面、光轴面 、圆切面
图A 图B
第四章 正交偏光镜下晶体光学性质
1. 消光(现象:黑暗) 永久消光(圆切面) 、四次消光(其余切面) 、 消光位、消光类型 、消光角
2. 干涉(现象:明亮) 干涉色、干涉色级序 、干涉色色序 补色法则: 45º位两矿片重叠、消色
3. 主要光学性质的测定与观察 1. 光率体椭圆半径名称(轴名)的测定(附后) 要点: 消光位-- 45º位—R(增减) 2. 干涉色级序的测定 要点: 消色位 3. 最大双折射率的测定 要点: 最高干涉色 4. 消光类型的观察 要点: 光性方位