深亚微米光记录测试仪
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深亚微米光记录测试仪
陈仲裕;沈俊
【期刊名称】《测试技术学报》
【年(卷),期】2003(017)004
【摘要】详细描述了进行亚微米、深亚微米光记录和探测的测试仪器,其探测功率可达30 mW,最小的探测时间为20 ns,探测的最小光点200 nm左右,带有CCD观察的系统可方便地定位及进行图像处理,整个测量过程均在计算机控制下进行,操作非常方便.它是对高密度光盘材料记录性能进行测量.以及对深亚微米,乃至纳米记录材料进行研究的有效工具.
【总页数】3页(P334-336)
【作者】陈仲裕;沈俊
【作者单位】中国科学院,上海光学精密机械研究所,上海,201800;上海大学,计算机工程与科学学院,上海,201800
【正文语种】中文
【中图分类】TN206;TP274
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