SPC统计过程控制试卷

ABCD有限公司SPC试卷ISO/TS16949：2009
一、单项选择题（每题1分，共20分）
1、影响产品质量的异常因素，其特点是（）。

A.容易发现和消除Ｂ.不值得消除Ｃ.生产过程所固有Ｄ.难以消除
2、休哈特控制图的目的是区分影响产品质量的（）。

A.人为因素和设备因素
B.工艺因素和原材料因素
C.管理因素与环境因素
D.偶然因素与异常因素
3、当控制图的质量单位为单位产品上的缺陷数时，控制图应选（）。

A.P图
B.C图
C.U图
D.X图
4、绘制X～R图时，应（）。

A.先做R图，判稳后再做X图
B. 先做X图，判稳后再做R图
C. X图、R图同步作出
D.以上都不正确
5、在X～R图中，X图的控制中心线CL为（）。

A. X
B.X
C.R
D. R
6、通用控制图的缺点是（），但可以解决。

A.控制界限为三条直线
B.便于作图
C.节省管理费用
D.比较麻烦
7、某产品的合格率为95.45%，其不合格品率为（）。

A.9945×10-6
B.99.45×10-6
C.0.545×10-6
D.45500×10-6
8、如果某产品的质量特性值的分布中心与规格中心重合，则过程能力指数满足（）。

A.Cp＜Cpk
B. Cp>Cpk
C. Cp=Cpk
D.以上都不满足
9、一批袋盐，平均重量为1000g，标准差为5g，袋盐重量在985g至1015g内的概率为（）。

A.95.45%
B.99%
C.99.73%
D.68.27%
10、当统计量为每万字平均差错数时，控制图应选（）。

A. u图
B. p图
C. np图
D.C图
11、统计控制把过程分为（）。

A. 四类
B.三类
C.二类
D.一类
12、如果来自过程的数据是不连续的，就应使用（）。

A.计量型控制图
B.计数型控制图
C.分析用控制图
D.控制用控制图
13、整个过程的变差由零件间的变差和（）的变差组成。

A.测量系统
B.人的变差
C.设备的精度
D.材料因素
14、均值极差图中，一旦影响变差的特殊原因被识别，并消除其影响，就可以利用（）来评价特殊原因。

A.极差图B、均值图 C.标准差 D.方差
15、当工序有偏离时，提高Cpk的途径为（）。

A.缩小公差
B.增大离散度
C.减小偏离度
D.以上都不正确
16、选择X～R图时，变量X应服从的分布是（）。

A.二项分布
B.泊松分布
C.正态分布
D.超几何分布
17、应用np控制图时，每次抽取的样本量最好（）。

A.保持相等
B.保持不变
C.随意
D.以上都不对
18、应用C控制图时，每次抽取的样本量最好（）。

A.保持不等
B.保持相等
C.随意
D.以上都不对
19、显示装置有效辨别的最小示值误差，称为显示装置的（）。

A.灵敏度B分辨率 C. 示值误差 D.读数误差
20、计量检定的依据是（）。

A.校准规范
B.计量检定规程
C.《计量法》
D.合同规定
二、多项选择题（每题2分，共50分，多选或少选均不得分）
1、影响产品质量的因素有（）。

A.生产设备
B.原材料
C.操作者
D.工艺方法
E.抽样方案
F.检测工具
2、偶然性因素的特点是（）。

A.对产品质量的影响微小
B.容易消除
C. 非生产过程所固有
D.难以消除
工作部门： 时间： 姓名： 得分：
3、当控制对象为均值和离散程度时，控制图可选（ ）。

A.P 图
B. X ～R 图
C. u 图
D. X ～S 图
4、统计过程控制的基本特点有（ ）。

A.强调统计分析
B. 强调预防为主
C.强调全员参与
D.强调全检
5、统计过程控制的目的是（ ）。

A. 对过程质量进行评估和监督
B. 减少过程的波动
C. 保持过程不出现异常
D.消除过程的波动
6、产品质量的统计观点认为（ ）。

A. 生产自动化与高科技的发展可以保证产品质量的无波动
B.产品质量波动是客观存在的
C. 产品质量波动是毫无规律的，无法控制的
D.产品质量波动具有统计规律性，因而可以控制
7、在X ～R 图中，X 图的控制上线UCL 为（ ）。

A..X +n d R
2 B. R +32
3d d R C. X +A 2 R D. D 4·R 8、常规控制图的组成部分有（ ）。

A.上下控制线
B.公差界限
C.子样数据的描点序列
D.控制中心线
9、为使控制图能够正确反映生产过程的实际情况，应注意（ ）。

A.合理确定取样间隔
B. 合理确定子样容量
C. 子样组数最好大于25
D.剔除不明原因的异常数据
10、在X ～R 图中，X 图的优点有（ ）。

A.适用范围广
B.灵敏度高
C.适用范围窄
D.信息利用充分
11、在X ～R 图中，R 图的缺点有（ ）。

A. 适用范围广
B.操作简便
C. 信息利用不充分
D.灵敏度低
12、采用控制图可能出现的错误有（ ）。

A.虚发警报
B. 控制界限画错
C.描点错误
D.漏发警报
13、在X ～R 图中，控制界限的宽度取决于（ ）。

A. 抽样次数
B. 样本量n
C. 极差均值
D.规范界限
14、过程能力指数与产品质量的关系，正确的是（ ）。

A. 过程能力指数越低，不合格品率越高
B. 过程能力指数越低，不合格品率越低
C. 过程能力指数越高，不合格品率越低
D. 过程能力指数越高，不合格品率越高
15、当工序有偏离时，提高Cpk 的途径有（ ）。

A. 缩小公差
B.减少偏离量
C. 降低离散度
D.适当加大公差
16、在Cp 的计算公式中，标准差σ的估计式有（ ）。

A. R /C 4 B. X /A 2 C. R /d 2 D. S /C 4
17、对某一生产过程而言，正确的说法是（ ）。

A. 处于统计控制状态的过程合格品率较稳定
B.处于统计状态的的过程合格品率最高
C. 处于技术稳态的过程是最理想的过程
D.当统计稳态和技术稳态都达到时，是最理想的过程。

18、对Cpk 而言，下列说法正确的是（ ）。

A. Cpk 与质量特性值的分布中心无关
B.产品的分布中心与其规范中心偏移越大，Cpk 越小
C. 产品的分布中心与其规范中心无偏移时，Cpk=Cp
D. 产品的分布中心与其规范中心有偏时，Cpk >Cp
19、控制图按照用途分（ ）。

A.分析用控制图
B.计量型控制图
C.控制用控制图
D.计数型控制图
20、属于控制图的判定准则的有（ ）。

A. 一个点距中心线超过3个标准差
B. 连续七点在中心线的同一侧
C. 六点连续上升或下降
D.连续14点交替上升或下降
21、超出控制线的点通常说明存在下列情况中的（ ）。

A.测量系统的分辨率不够
B.测量系统无变化
C.控制线计算错误
D.描点错误
22、测量系统的评定应解决的基本问题包括（ ）。

A.测量系统是否有足够的分辨率
B.测量系统是否能保持统计稳定性
C.测量系统是否与与其范围相一致
D.测量系统是否操作复杂
23、描述中心位置的统计量包括（）。

A.有序样本
B.样本均值
C.众数
D.样本中位数
24、作为分析用控制图，主要分析的内容包括（）。

A.分析生产过程是否处于统计控制状态
B.分析该过程的过程能力指数是否满足要求
C.计算过程的不合格品率
D.计算过程的偏移系数
25、选择不同类型的控制图应遵循的基本原则有（）。

A.对连续变量可选X～R图、X～S图
B.对离散变量中的计件值可选择P图、np图
C. 对离散变量中的计件值可选择u图、c图
D.以上都不正确
三、判断题（每题1分，共25分，对的打“√”，错的打“×”）
1、局部措施通常可以纠正大约15%的过程问题。

（）
2、第三类过程是受控过程但不满足公差要求。

（）
3、为了将不同的过程指数和比值作为预测的工具，要求用于计算的数据应来自于统计控制状态的过程。

（）
4、一些特殊原因作用于过程但可以不改变过程分布的对称性和单峰性。

同样非正态分布的过程没有特殊原因作用，但是其分布形状是不对称的。

（）
5、对于处于统计控制状态的过程，改进工作的重点经常放在减少过程中的特殊原因变差上。

（）
6、均值X和极差R图可能是最常用的控制图，所以在所有的情况下都最适用。

（）
7、一个稳定过程的输出可以用它的统计分布来描述，过程必须是稳定的其分布对预测未来结果才是有用的。

（）
8、每百万产品中的不合格率，通常作为过程能力的一种补充度量。

（）
9、Cpk和Ppk适用于非正泰分布。

（）
10、Cp值显著大于Cpk，表明在过程的对中方面有改进的机会。

（）
11、由于特殊原因造成的过程分布的改变都是有害的，所以应识别出来并消除它。

（）
12、直方图，是刻画所关注特性的值的分布情况。

（）
13、描述统计提供了一个相对简单和有效的途径去总结和表征数据特征并提供一个方便的方法去展示它，特别是图表方法，它是一个有效的展示数据及联系信息的方法。

（）
14、DOE的结果将有助于产品或过程的研发，或对现有的系统进行控制或改进。

（）
15、当过程的数据是“计数型“的（例如合格率、合格数量）过程能力用过程平均缺陷率来表示或用单位缺陷数来表示。

（）16、同对总体进行整体上的调查或100%检验相比，适宜的抽样方案能够大大地节约时间、金钱和人力。

当检验是破坏性的时候，抽样是获得相关信息唯一可行的方式。

（）17、一个可接受的过程必须是处于统计受控状态的，且其能力(普通原因变差)必须小于公差，理想的情况是第2类的过程，该过程统计受控且有能力满足公差的要求，是可接受的。

（）
18、第4类过程即不是受控过程又不可接受，因此必须减少变差的特殊原因。

（）
19、过程能力由造成变差的普通原因来确定，通常代表过程本身的最佳性能，当过程是在统计受控状态下运行时，过程能力可以得到证实，它与规范无关。

（）20、Cpk：这是一个能力指数。

它考虑了过程的位置和性能。

对于双边公差，Cpk将总是小于或者等于Cp。

（）21、Ppk：这是性能指数。

它考虑了过程的位置和性能。

对于双边公差，Ppk将总是小于或者等于Pp，只有当过程位于中心时，PpK才等于Pp。

（）
22、图形分析应该与过程测量结合使用。

这种分析的例子包括控制图、过程分布图以及损失函数图。

（）
23、过程测量的目标应是使“过程的声音”满足“顾客的声音”。

（）
24、如果顾客对于特性的期望变差不敏感，可称这个特性为稳健的。

（）
25、敏感度曲线表明，顾客总的损失随着过程的中心(均值)偏离目标程度的增加而减少。

（）
四、图形判断（每题1分，共5分，对的打“√”，错的打“×”）
（图一） （图二）
图一：过程不满足规范要求（ ） 图二：过程不满足规范要求（ ）
（图三）
图三：过程满足规范要求（ ）
（图四）
图四：控制图正常（ ）
（图五）
图五：控制图不正常（ ）。