测量装置[发明专利]

专利名称：测量装置
专利类型：发明专利
发明人：元少飞,叶贵青,谢祖平,刘维波,高云峰申请号：CN201710538150.1
申请日：20170704
公开号：CN107504921A
公开日：
20171222
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明涉及一种测量装置。

该测量装置包括底板、安装块、测量头及测试块。

安装块设置于底板上，安装块开设有贯穿孔。

测量头设置于底板上，且测量头与安装块沿贯穿孔的轴向方向间隔设置。

测试块的一端用于插设于贯穿孔内，且测试块插设于贯穿孔内时，测试块位于安装块与测量头之间。

测量装置测量光学部件时，光学部件的准直头与安装块相连接，准直头的通孔与贯穿孔相连通。

光学部件测量时，准直头与安装块相连接，可以避免准直头上的光学镜片长时间裸露在空气中，能够防止光学镜片被污染。

申请人：大族激光科技产业集团股份有限公司
地址：518000 广东省深圳市南山区高新技术园北区新西路9号大族激光大厦
国籍：CN
代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：石佩
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