射线检测理论常用公式
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μ —多色宽束射线的平均线减弱系数;
d—物质厚度;
n—散射比;
d1/2—半价层; e—自然数;
K—射线强度的减弱倍数;
N—吸收物质厚度 d 所相当的半价层个数。
☆
☆
☆
☆
☆
黑度的定义:
D = lg L0 LFra bibliotek式中:L0-照射到底片上的光强; L-透射过底片的光强;
L0 / L称为阻光率。
☆
☆
☆
☆
☆
胶片平均梯度(平均对比度)的计算:
☆
☆
☆
☆
☆
几何不清晰度及射源至工件射源侧表面的距离计算:
Ug
=
d f L2 F − L2
=
d f L2 L1
A级
L1
≥
7.5d
f
L2 / 3 2
AB 级
L1
≥
10d
f
L2 / 3 2
B级
L1
≥
15d
f
L2 / 3 2
式中:Ug—几何不清晰度;
df—焦点尺寸;
F —焦距;
L1—焦点至工件射源侧表面的距离;
G = γ = D2 − D1 lg E2 − lg E1
式中: G 和γ —分别表示胶片的平均梯度和平均反差系数;
D2和D1—分别表示净黑度 3.5 和 1.5;
E2和E1—分别表示净黑度为 3.5 和 1.5 时所对应的曝光量。
☆
☆
☆
☆
☆
胶片宽容度的计算:
L = 10(lg E2 −lg E1 ) = E2 E1
i—管电流(mA);
V—管电压(kV)。
☆
☆
☆
☆
☆
X 射线管产生 X 射线的效率:
η = KiZV
式中:η—X 射线产生的效率;
其余符号与上式同。
☆
☆
☆
☆
☆
γ 射线的衰变规律:
A = A0e−λt
A= 1 A0 2n
T1
2
=
0.693 λ
n= T T1 2
式中:A—时间为 t 时的活度;
A0—时间t=0 时的活度; λ—衰变常数;
T1/2—半衰期; n—放射源经历时间 T 所相当的半衰期个数。
☆
☆
☆
☆
☆
射线强度的减弱规律:
1
对于单色、窄束、平行射线
对于多色、宽束、平行射线
I0 = K I
K = 2N
射线检测理论常用公式
I = I0e−μd
I = (1+ )n I0e−μd
N= d d1 2
d1
2
=
0.693 μ
式中:I0—入射的射线强度; I—透过物质后的射线强度; μ—单色窄束射线的线减弱系数;
L2—工件射源侧表面至胶片的距离。
☆
☆
☆
☆
☆
曝光因子:
对于 X 射线
i1 t1 F12
=
i2t2 F22
=ψ X
对于γ射线
A1t1 F12
=
A2t2 F22
=ψ γ
式中:i—X 射线机的管电流;
A—放射源的活度;
t—曝光时间;
F—焦距;
Ψx、Ψy—分别表示X射线和γ射线的曝光因子。
☆
☆
☆
☆
☆
直缝(纵缝)100%透照分段的计算:
K
=
T' T
=
1 cosθ
即 θ = cos−1⎜⎛ 1 ⎟⎞ ⎝K⎠
L3 = 2L1 tanθ
3
射线检测理论常用公式
ΔL = L2 L3 L1
Leff=L3+ΔL
式中:L1—焦点至工件表面的距离(标准中用f表示); L2—工件表面的距离至胶片的距离(标准中用b表示); L3—一次透照长度; Leff—底片上有效评定长度; ΔL—搭接长度;
q)
式中:L0—射源焦点偏离焊缝中心平面的距离(偏心距); L1—焦点至工件表面的距离; L2—工件表面的距离至胶片的距离; D0—管子外直径; Δh——焊缝余高; b——焊缝宽度;
5
射线检测理论常用公式
q——椭圆开口宽度(椭圆影像短轴方向间距)。
☆
☆
☆
☆
☆
时间防护计算:
D = pt
t允许
=
D限值 p
⎟⎟⎠⎞
当D0>>T时,θ≈cos-1K-1
L3
=
πD0 n
L3
'
=
πDi n
ΔL=2Ttanθ
Leff=L3’+ΔL
式中:N—环形焊缝 100%透照的透照次数;
α—每次透照所对应的圆心角的 1/2;
θ—横向裂纹检出角;
η—有效半辐射角(透照角);
T —工件的厚度;
L1—焦点至工件表面的距离(标准中用f表示);
Di
⎤ ⎥
⎦
η
=
sin
−1⎜⎜⎝⎛
Di
Di − 2L1
sin θ
⎟⎟⎠⎞
当D0>>T时,θ≈cos-1K-1
L3
=
πDi n
L3
'
=
πD0 n
ΔL=2Ttanθ
Leff=L3’+ΔL 符号与外透法同。
☆
☆
☆
☆
☆
环缝内透法(F>R)及双壁单影法 100%透照分段的计算:
N
=
180 α
α =θ +η
( ) θ
K—厚度比;
T’—通过一次透照长度端点的射线束在工件中穿过的距离;
T —工件的厚度;
θ—横向裂纹检出角。
☆
☆
☆
☆
☆
环缝外透法 100%透照分段的计算:
N = 180 α
α =θ −η
( ) θ
=
cos
−1
⎡1 ⎢
+
⎣
K2 −1 T K
D0
⎤ ⎥
⎦
η
=
sin −1⎜⎜⎝⎛
D0
D0 + 2L1
sin θ
射线检测理论常用公式
射线检测理论常用公式
(供参考)
X 射线连续谱的最短波长和最强波长:
λmin
=
1.24
V (kV)
(nm)
λIM ≈ 1.5λmin
式中:λmin—最短波长(nm); λIM—最强波长(nm); V —管电压(kV)。
☆
☆
☆
☆
☆
X 射线管输出地射线强度:
IT = Ki ZiV 2
式中:IT—X射线的总强度; Ki—比例常数(1.1×10-6~1.4×10-6); Z—靶物质的原子序数;
式中:D—受照射射线剂量;
D允许—受照射射线剂量的限值; P—所在辐射场位置的射线剂量率;
t—受照射时间;
t允许—允许受照射时间。
☆
☆
☆
☆
☆
距离防护计算:
p1 = R22 p2 R12
式中: p1、p2──辐射场中 1、2 处的剂量率; R1、R2──辐射场中 1、2 处到射源的距离。
6
式中:L—胶片宽容度; E1—黑度下限所对应的曝光量; E2—黑度上限所对应的曝光量。
2
射线检测理论常用公式
☆
☆
☆
☆
☆
射线照相对比度的计算:
ΔD
=
0.434
GμΔT
(1+ n)
式中:ΔD —射线照相对比度;
G— 胶片的梯度(胶片对比度);
μ—线减弱系数;
ΔT —缺陷在射线穿透方向的厚度;
n—散射比。
=
cos
−1
⎡1 ⎢
+
⎣
K2 −1 T K
D0
⎤ ⎥
⎦
η
=
sin
−1⎜⎜⎝⎛
D0 2F − D0
sin θ
⎟⎟⎠⎞
当D0>>T时,θ≈cos-1K-1
L3
=
πD0 n
符号与外透法同。
☆
☆
☆
☆
☆
小径管双壁双影透照椭圆成像焦点偏移量的计算:
L0
=
(b + q)L1
L2
=
F
− (D0 + Δh)(b +
D0 + Δh
D0—容器筒体或管子的外直径;
Di—容器筒体或管子的内直径;
L3—外圆等分长度;
L3’—内圆等分长度;
Leff—有效评定长度;
ΔL—搭接长度;
K—透照厚度比。
☆
☆
☆
☆
☆
4
射线检测理论常用公式
环缝内透法(F<R)100%透照分段的计算:
N
=
180 α
α =η −θ
( ) θ
=
cos
−1
⎡1 ⎢
−
⎣
K2 −1 T K
d—物质厚度;
n—散射比;
d1/2—半价层; e—自然数;
K—射线强度的减弱倍数;
N—吸收物质厚度 d 所相当的半价层个数。
☆
☆
☆
☆
☆
黑度的定义:
D = lg L0 LFra bibliotek式中:L0-照射到底片上的光强; L-透射过底片的光强;
L0 / L称为阻光率。
☆
☆
☆
☆
☆
胶片平均梯度(平均对比度)的计算:
☆
☆
☆
☆
☆
几何不清晰度及射源至工件射源侧表面的距离计算:
Ug
=
d f L2 F − L2
=
d f L2 L1
A级
L1
≥
7.5d
f
L2 / 3 2
AB 级
L1
≥
10d
f
L2 / 3 2
B级
L1
≥
15d
f
L2 / 3 2
式中:Ug—几何不清晰度;
df—焦点尺寸;
F —焦距;
L1—焦点至工件射源侧表面的距离;
G = γ = D2 − D1 lg E2 − lg E1
式中: G 和γ —分别表示胶片的平均梯度和平均反差系数;
D2和D1—分别表示净黑度 3.5 和 1.5;
E2和E1—分别表示净黑度为 3.5 和 1.5 时所对应的曝光量。
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胶片宽容度的计算:
L = 10(lg E2 −lg E1 ) = E2 E1
i—管电流(mA);
V—管电压(kV)。
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☆
X 射线管产生 X 射线的效率:
η = KiZV
式中:η—X 射线产生的效率;
其余符号与上式同。
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☆
γ 射线的衰变规律:
A = A0e−λt
A= 1 A0 2n
T1
2
=
0.693 λ
n= T T1 2
式中:A—时间为 t 时的活度;
A0—时间t=0 时的活度; λ—衰变常数;
T1/2—半衰期; n—放射源经历时间 T 所相当的半衰期个数。
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☆
射线强度的减弱规律:
1
对于单色、窄束、平行射线
对于多色、宽束、平行射线
I0 = K I
K = 2N
射线检测理论常用公式
I = I0e−μd
I = (1+ )n I0e−μd
N= d d1 2
d1
2
=
0.693 μ
式中:I0—入射的射线强度; I—透过物质后的射线强度; μ—单色窄束射线的线减弱系数;
L2—工件射源侧表面至胶片的距离。
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☆
曝光因子:
对于 X 射线
i1 t1 F12
=
i2t2 F22
=ψ X
对于γ射线
A1t1 F12
=
A2t2 F22
=ψ γ
式中:i—X 射线机的管电流;
A—放射源的活度;
t—曝光时间;
F—焦距;
Ψx、Ψy—分别表示X射线和γ射线的曝光因子。
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☆
直缝(纵缝)100%透照分段的计算:
K
=
T' T
=
1 cosθ
即 θ = cos−1⎜⎛ 1 ⎟⎞ ⎝K⎠
L3 = 2L1 tanθ
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射线检测理论常用公式
ΔL = L2 L3 L1
Leff=L3+ΔL
式中:L1—焦点至工件表面的距离(标准中用f表示); L2—工件表面的距离至胶片的距离(标准中用b表示); L3—一次透照长度; Leff—底片上有效评定长度; ΔL—搭接长度;
q)
式中:L0—射源焦点偏离焊缝中心平面的距离(偏心距); L1—焦点至工件表面的距离; L2—工件表面的距离至胶片的距离; D0—管子外直径; Δh——焊缝余高; b——焊缝宽度;
5
射线检测理论常用公式
q——椭圆开口宽度(椭圆影像短轴方向间距)。
☆
☆
☆
☆
☆
时间防护计算:
D = pt
t允许
=
D限值 p
⎟⎟⎠⎞
当D0>>T时,θ≈cos-1K-1
L3
=
πD0 n
L3
'
=
πDi n
ΔL=2Ttanθ
Leff=L3’+ΔL
式中:N—环形焊缝 100%透照的透照次数;
α—每次透照所对应的圆心角的 1/2;
θ—横向裂纹检出角;
η—有效半辐射角(透照角);
T —工件的厚度;
L1—焦点至工件表面的距离(标准中用f表示);
Di
⎤ ⎥
⎦
η
=
sin
−1⎜⎜⎝⎛
Di
Di − 2L1
sin θ
⎟⎟⎠⎞
当D0>>T时,θ≈cos-1K-1
L3
=
πDi n
L3
'
=
πD0 n
ΔL=2Ttanθ
Leff=L3’+ΔL 符号与外透法同。
☆
☆
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☆
环缝内透法(F>R)及双壁单影法 100%透照分段的计算:
N
=
180 α
α =θ +η
( ) θ
K—厚度比;
T’—通过一次透照长度端点的射线束在工件中穿过的距离;
T —工件的厚度;
θ—横向裂纹检出角。
☆
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☆
☆
☆
环缝外透法 100%透照分段的计算:
N = 180 α
α =θ −η
( ) θ
=
cos
−1
⎡1 ⎢
+
⎣
K2 −1 T K
D0
⎤ ⎥
⎦
η
=
sin −1⎜⎜⎝⎛
D0
D0 + 2L1
sin θ
射线检测理论常用公式
射线检测理论常用公式
(供参考)
X 射线连续谱的最短波长和最强波长:
λmin
=
1.24
V (kV)
(nm)
λIM ≈ 1.5λmin
式中:λmin—最短波长(nm); λIM—最强波长(nm); V —管电压(kV)。
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☆
X 射线管输出地射线强度:
IT = Ki ZiV 2
式中:IT—X射线的总强度; Ki—比例常数(1.1×10-6~1.4×10-6); Z—靶物质的原子序数;
式中:D—受照射射线剂量;
D允许—受照射射线剂量的限值; P—所在辐射场位置的射线剂量率;
t—受照射时间;
t允许—允许受照射时间。
☆
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☆
距离防护计算:
p1 = R22 p2 R12
式中: p1、p2──辐射场中 1、2 处的剂量率; R1、R2──辐射场中 1、2 处到射源的距离。
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式中:L—胶片宽容度; E1—黑度下限所对应的曝光量; E2—黑度上限所对应的曝光量。
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射线检测理论常用公式
☆
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☆
射线照相对比度的计算:
ΔD
=
0.434
GμΔT
(1+ n)
式中:ΔD —射线照相对比度;
G— 胶片的梯度(胶片对比度);
μ—线减弱系数;
ΔT —缺陷在射线穿透方向的厚度;
n—散射比。
=
cos
−1
⎡1 ⎢
+
⎣
K2 −1 T K
D0
⎤ ⎥
⎦
η
=
sin
−1⎜⎜⎝⎛
D0 2F − D0
sin θ
⎟⎟⎠⎞
当D0>>T时,θ≈cos-1K-1
L3
=
πD0 n
符号与外透法同。
☆
☆
☆
☆
☆
小径管双壁双影透照椭圆成像焦点偏移量的计算:
L0
=
(b + q)L1
L2
=
F
− (D0 + Δh)(b +
D0 + Δh
D0—容器筒体或管子的外直径;
Di—容器筒体或管子的内直径;
L3—外圆等分长度;
L3’—内圆等分长度;
Leff—有效评定长度;
ΔL—搭接长度;
K—透照厚度比。
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4
射线检测理论常用公式
环缝内透法(F<R)100%透照分段的计算:
N
=
180 α
α =η −θ
( ) θ
=
cos
−1
⎡1 ⎢
−
⎣
K2 −1 T K