数字电路测试生成的基本算法
什么是DFT,DFT是什么意思
什么是DFT,DFT是什么意思DFT:数字电路(fpga/asic)设计入门之可测试设计与可测性分析,离散傅里叶变换,(DFT)Direct Fouriet Transformer可测试性技术（Design For Testability-DFT）就是试图增加电路中信号的可控制性和可观测性，以便及时经济地测试芯片是否存在物理缺陷，使用户拿到良好的芯片。
其中包括Ad Hoc 技术和结构化设计技术。
目前，任何高IC 设计系统都采用结构化设计技术，其中主要扫描技术和内建自测两种技术。
一个电路的测试性问题应该包括两个方面：由外部输入信号来控制电路中的各个节点的电平值，称为可控制性。
从外部输出端观测内部故障地难易程度，称为可观测性扫描技术是指电路中的任一状态移进或移出的能力，其特点使测试数据的串行化。
比较常使用的是全扫描技术和边界扫描技术。
全扫描技术是将电路中的所有触发器用特殊设计的具有扫描功能的触发器代替，使其在测试时链接成一个或几个移位寄存器，这样，电路分成了可以进行分别测试的纯组合电路和移位寄存器，电路中的所有状态可以直接从原始输入和输出端得到控制和观察。
这样子的电路将时序电路的测试生成简化成组合电路的测试生成，由于组合电路的测试生成算法目前已经比较完善，并且在测试自动化生成方面比时序电路的测试生成容易得多，因此大大降低了测试生成的难度。
对于存储器模块的测试一般由生产厂家提供专门的BIST 电路，通过BIST电路可以方便地对存储单元地存取功能进行测试，所谓的BIST 电路是指把测试电路做到IC 里面，利用测试电路固有的能力自行执行一个测试存储器的程序。
另外MBIST 还可以解决RAM SHADOW 的问题提高芯片的可测试性。
为什么要做DFT 呢？因为我们的设计，也就是RTL 到GDSII 交出去的只。
数字电路多加权集随机测试生成方法
”（ ｐ ｒ ｎ ｔｍａ ｉｎ Ｄｅ ａ ｔ ｔ Ａｕ ｏ ｔ 。Ｕｎｖ ｒ ｉ ｆ Ｅ ｅｔｏ ｉ ｉ ｃ ｎ ｃ ｎ ｌｇ ｈ ｎ ，Ｃ ｅ ｇ ｕ ６ ０ ４ ｍｅ ｏ ｆ ｏ ｉｅ ｓ ｙ ｏ ｌｃｒｎ ｃ ｅ ｅ ｄ Ｔｅｈ ｏｏ ｙ ｏ Ｃ ｉ ａ ｈ ｄ １ ５ ） ｔ Ｓｃ ｎ ａ ｆ ｎ ０ 。（ ｏｌｇ ｎ ｆ ｃｕ ｉ ｇ Ｓ ｉｎ ｅ＆ Ｅ ｇ ｎ ６ ） ’Ｃ ｌ ｅｏ Ｍａ ｕ ａ ｔｒｎ ｃｅ ｃ ｅ ｆ ｎ ｉｅ ｒｎ ，Ｓ ｃ ｕ ｎ Ｕｎｖ ｒｉ Ｃ ｅ ｇ ｕ ｔ １ ０ ５
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Ｊｎ ｕ ｅ，２ ０ ０２
数字 电路 多加 权集随 机测 试生 成方 法
谢永乐
”（ 子 科 技 大 学 自动 化 系 电
陈光祸Ｄ
成都 ６０５ ） １ ０ ４
（ Ｉ 四ＪＩ 大学 制造科学与工程学 院
成都
６ ０６） １ ０ ５
摘
要
提 出 一 种 基 于 确 定性 完 备 测 试 集 的 数 字 集 成 电 路 多 加 权 集 随 机 测 试 生 成 方 法 ． 过 引 入 搜 索 与 迭 代 算 法 ， 通
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第 １ ４卷 第 ６期 ２０ ０ ２年 ６月
计算 机 辅 助设 计 与 图形 学 学 报
verilog除法器 srt算法
verilog除法器srt算法Verilog实现SRT除法器算法在数字电路设计中，除法是一种常见的数值运算。
在Verilog中，可以使用SRT （Sweeney-Robertson-Tocher）算法来实现除法器。
SRT算法是一种用于计算除法的算法，它可以实现高精度和高效率的除法运算。
本文将详细介绍如何使用Verilog实现SRT除法器算法，以及该算法的原理和实现步骤。
SRT除法器算法的原理SRT除法器算法是一种通过连续的减法和移位操作来计算除法的算法。
它采用了一种逐位比较的策略，可以在不考虑余数的情况下，实现整数除法的计算。
SRT 算法的核心思想是将被除数和除数进行比较，并根据比较结果来进行减法和移位操作，以得到商数。
SRT算法的步骤如下：1. 将被除数和除数进行比较，得到初始估计商数。
2. 进行减法运算，得到余数。
3. 对余数进行移位操作，得到新的估计商数。
4. 重复步骤2和3，直到得到最终的商数。
SRT算法的优点是可以实现高精度和高效率的除法运算，适用于多种除法场景。
Verilog实现SRT除法器算法的步骤接下来，我们将详细介绍如何使用Verilog实现SRT除法器算法。
第一步：定义模块和端口首先，我们需要在Verilog中定义SRT除法器的模块和端口。
模块包括被除数、除数和商数等参数，端口包括输入端口和输出端口。
定义模块和端口的代码如下：verilogmodule srt_divider (input [N-1:0] dividend, 被除数（N位）input [N-1:0] divisor, 除数（N位）output reg [2*N-1:0] quotient, 商数（2N位）output reg [N-1:0] remainder 余数（N位）);在上面的代码中，我们定义了一个包括被除数、除数、商数和余数的SRT除法器模块，并设置了相应的输入端口和输出端口。
第二步：实现SRT算法的核心逻辑接下来，我们需要在Verilog中实现SRT算法的核心逻辑。
基于神经网络的数字电路多故障测试生成算法
（． １北华大学 电气信息工程学院， 吉林 吉林市 １２２ ；． ３０１２ 哈尔滨理工大学 测控与通信工程学院， 黑龙江 哈尔滨 １ ｏｏ ５ ４） ｏ
摘
要 ： 对数 字 电路 中多故 障测试 生成 效 率较 低 的 问题 ， 出 了基 于神 经 网络 的数 字 电路 多故 针 提
ＺＨＡＯ Ｙｉ ｇ ｎ ， Ｗ Ｕ ｉｈ ａ Ｌ — ｕ ， Ｗ ＡＮＧ ｈ ｎ Ｚ ｅ
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pla的故障测试生成算法
pla的故障测试生成算法随着电子技术的发展，计算机系统已经成为现代社会中不可缺少的一部分。
在计算机系统中，程序设计是一个重要的环节，而程序的正确性则是保证系统稳定性的关键。
在程序设计的过程中，测试是一个必不可少的步骤。
故障测试是一种常用的测试方法，它可以在程序运行时检测出程序中存在的错误，从而及时修复这些错误，提高程序的质量和稳定性。
PLA是一种重要的数字逻辑设计工具，它可以将一组布尔函数转换为一组逻辑门电路。
在PLA的设计过程中，故障测试是一个必要的步骤。
故障测试的目的是检测出PLA电路中存在的故障，从而保证电路的正确性。
本文将介绍PLA的故障测试生成算法，为PLA电路的设计和测试提供参考。
一、PLA的故障模型在进行PLA的故障测试之前，需要了解PLA的故障模型。
PLA的故障模型通常包括三种故障：输入线故障、输出线故障和逻辑门故障。
输入线故障是指PLA电路中某个输入线的信号被改变或者被短路，从而导致PLA电路的输出结果发生错误。
输出线故障是指PLA电路中某个输出线的信号被改变或者被短路，从而导致PLA电路的输出结果发生错误。
逻辑门故障是指PLA电路中某个逻辑门的输入信号或输出信号被改变或者被短路，从而导致PLA电路的输出结果发生错误。
二、PLA的故障测试方法在PLA的故障测试中，通常采用模拟测试方法。
模拟测试方法是一种通过模拟电路运行来检测电路故障的方法。
模拟测试方法可以检测出输入线故障、输出线故障和逻辑门故障等故障类型。
在模拟测试方法中，需要构造一组测试向量，将这组测试向量输入到PLA电路中，检测PLA电路的输出结果是否正确。
如果PLA电路的输出结果与预期结果不一致，则说明PLA电路存在故障。
根据故障类型的不同，可以采用不同的测试方法。
对于输入线故障，可以采用单独测试输入线的方法。
具体方法是将输入线的值设置为0或1，然后检测PLA电路的输出结果是否正确。
如果PLA电路的输出结果与预期结果不一致，则说明该输入线存在故障。
数字电路基本原理及设计方法
数字电路基本原理及设计方法数字电路是由数字信号进行处理、传输和存储的电路系统。
它广泛应用于计算机、通信、控制系统等领域。
本文将介绍数字电路的基本原理及设计方法，帮助读者对数字电路有更深入的了解。
一、数字电路基本原理数字电路基于数字信号进行数据处理和运算，主要包括以下几个基本原理：1.1 逻辑门逻辑门是数字电路的基本构建模块，用于实现逻辑运算。
常见的逻辑门有与门、或门、非门等，它们通过不同组合的输入和输出信号进行逻辑运算。
1.2 布尔代数布尔代数是数字电路设计的基础，用于描述和分析逻辑运算。
它包括逻辑运算符（与、或、非等）、布尔恒等律、布尔原理、逻辑函数等内容，使得复杂的逻辑运算可以用简单的代数式表示和分析。
1.3 组合逻辑组合逻辑电路由逻辑门组成，输出只与输入有关，不依赖于时间。
这种电路通常用于实现逻辑功能，如加法器、多路选择器等。
1.4 时序逻辑时序逻辑电路的输出不仅依赖于输入，还依赖于时间。
它通常与时钟信号配合使用，实现存储和状态转移等功能，如触发器、计数器等。
二、数字电路设计方法设计数字电路时，需要遵循一定的设计方法，确保电路的正确性和可靠性。
下面介绍几种常用的数字电路设计方法：2.1 确定需求首先要明确所需的功能和性能，包括输入输出信号的要求、逻辑功能等。
对于复杂的数字电路，可以采用自顶向下的方法，先确定整体的功能和结构，再逐步细化。
2.2 逻辑设计逻辑设计主要包括逻辑方程的推导和逻辑图的绘制。
通过布尔代数和逻辑门的组合，将需求转化为逻辑电路图。
设计过程中，需要考虑电路的优化和简化，尽量减少逻辑门的数量。
2.3 电路实现根据逻辑设计得到的逻辑电路图，选择合适的器件和元件进行电路实现。
常见的器件包括与门、或门、触发器等。
这一步还需要考虑电路的布局和连接方式，确保信号的稳定性和传输效果。
2.4 电路测试设计完成后，需要进行电路的测试和调试，确保电路的正确性和稳定性。
常用的测试方法包括仿真测试和实物测试。
prbs测试原理
prbs测试原理PRBS（PseudoRandomBinarySequence）测试是一种数字电路测试方法，被广泛应用于高速通信、数字信号处理、计算机网络等领域。
本文将介绍PRBS测试的原理和应用。
一、PRBS测试原理PRBS测试是一种基于伪随机序列的数字电路测试方法。
伪随机序列是一种看似随机的二进制序列，但实际上是由一个特定的算法生成的。
这种序列具有很好的统计性质，可以用于测试数字电路的性能和正确性。
PRBS测试的原理是通过将伪随机序列输入被测试的电路，观察电路输出的结果，从而判断电路的正确性。
具体来说，PRBS测试可以分为以下几个步骤：1. 生成伪随机序列：根据特定的算法生成一个伪随机序列。
这个序列的长度通常是2^n-1，其中n是一个正整数。
在实际应用中，通常使用LFSR（线性反馈移位寄存器）来生成伪随机序列。
2. 输入伪随机序列：将伪随机序列输入被测试的电路，作为电路的输入信号。
在输入伪随机序列之前，需要对信号进行调整，以满足电路的输入要求。
3. 观察电路输出：观察电路输出的结果，判断电路是否正确。
在观察电路输出之前，需要对信号进行采样和处理，以得到正确的输出结果。
4. 分析测试结果：根据观察到的测试结果，分析电路的性能和正确性。
如果测试结果符合预期，说明电路工作正常；如果测试结果不符合预期，说明电路存在问题，需要进行修复或调整。
二、PRBS测试应用PRBS测试在数字电路测试中有着广泛的应用，特别是在高速通信、数字信号处理、计算机网络等领域。
以下是PRBS测试的一些应用场景：1. 高速通信：在高速通信中，PRBS测试可以用于测试光纤通信系统、卫星通信系统、无线通信系统等。
通过输入伪随机序列，观察输出结果，可以检测通信系统中的噪声、失真、干扰等问题，从而提高通信质量和可靠性。
2. 数字信号处理：在数字信号处理中，PRBS测试可以用于测试数字滤波器、数字信号处理器、数字信号调制器等。
通过输入伪随机序列，观察输出结果，可以检测数字信号处理中的滤波器特性、调制误差等问题，从而提高信号处理的准确性和可靠性。
数字电路测试中的关键技术研究
２ ０ 年 ５ ２ Ｉ 到 ０ ６ 月 ３｝ 收 第 一 作 者 简 介 ： 希维 （ ９ ７ ） 男 ， 族 占林 人 渎 博 ｛ 研 究 方 郭 １７ 一 、 汉 在 ， 向： 导弹 发 射 系统 检测 与故障 诊断 Ｅ ｍａ ：ｕ ｘ ｅ １ ｉａｃ ｎ － ｉ ｇ ｏ ｉ ｉ＠ｓ ｏ ｌ ｌ ｗ ｎ
２０ ９４
科 学 技 术 与 Ｔ 程
６ 卷
盖率很 高 。有反馈 的桥接故 障 则产 生不 同 于组合 逻
辑 的存储状 态 。 延 迟故 障 ， 些故 障导 致 电路 的组 合 延 迟超 过 这
状 态 演绎 出电路 内部 和输 出线 上 的 可 检测故 障 ， 因 此 可 以同 时计算 所有 可测 的故 障 。演 绎故 障仿 真与
逻 辑值 町以是 ｌ 主导 （ Ｒ 接 ）０ Ｏ 桥 、 主导 （ Ｎ 桥接 ） Ａ Ｄ 或 的桥 接 故 障是组 合 逻 辑 ，通 常 用 固定 故 障测 试 ， 覆
通讯作者简介 ： 群早． （ 苏 男 ｆ １教 授 ， ｛ 导师 族 ． 博 生
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故 障 诊 断 中 的 ． 问题 ． 要 包 括 故 障 模 型 、 障仿 真 、 障 压 缩 及 可 测 试 性 度 量 与 测 试矢 量 生 成算 法 （ Ｔ Ｇ） 并 研 究 了 电路 砦 主 故 故 ＡＰ ，
测 试技 术 的发 展 趋 势
关 键 词 测 试 与 诊 断 故 障模 型 可 测 试 性 度
并 行 故 障仿 真 相 比，仿 真计算 所 占用 的 内存 较 多 ， 但是 对 于大规 模 电路 ， 绎故 障仿 真速 度快 。 演
了时钟 周 期 。具 体 的延 迟 故 障有 传 输故 障 、 门延 迟 故 障 、 延迟 故 障 、 延迟 故障 和路 径延 迟故 障 。 线 段
atpg原理 -回复
atpg原理-回复原题：[ATPG原理]，以中括号内的内容为主题，写一篇1500-2000字文章，一步一步回答标题：探索ATPG原理：全自动测试模式生成及应用引言：自动测试模式生成（Automatic Test Pattern Generation，简称ATPG）是集成电路设计中一个重要的环节，主要用于在硅片制造前对芯片进行功能和结构的完整性测试。
ATPG技术被广泛应用于数字电路和存储器的测试，以确保电子设备及芯片的质量和可靠性。
本文将一步一步详细介绍ATPG的原理及其在集成电路设计中的应用。
第一部分：基础概念和原理在深入探究ATPG原理之前，首先了解几个基础概念是必要的。
以下是ATPG中常用的几个基础概念：1. 故障模型（Fault Model）：故障模型是指在测试过程中产生的可能的故障类型，例如卡住、漏电、短路等。
故障模型对于成功生成测试模式是至关重要的，因为仅通过模拟技术难以覆盖所有故障。
2. ATPG算法（ATPG Algorithm）：根据制定的故障模型和电路结构，ATPG算法用于生成测试模式，以检测出可能存在的故障。
主要包括两个步骤，即故障模拟和生成测试模式。
3. 故障覆盖率（Fault Coverage）：故障覆盖率是指测试模式对于故障模型的覆盖程度，一般使用百分比来表示。
高故障覆盖率表示测试模式能够有效地检测故障。
第二部分：ATPG的基本流程ATPG技术的基本流程可以分为以下四个步骤：1. 电路描述：在ATPG流程开始之前，需要对目标芯片进行完整的电路描述，以便进行后续的测试模式生成。
常用的电路设计语言如VHDL和Verilog。
2. 故障模拟：故障模拟是确保ATPG算法能够准确检测出故障的关键步骤。
在故障模拟中，通过电路描述文件和故障模型对目标芯片进行测试，检测出可能存在的故障。
3. 生成测试模式：ATPG算法根据故障模型和故障模拟结果生成测试模式，以覆盖尽可能多的故障。
生成的测试模式将用于后续的功能和结构测试。
一种数字组合电路多故障测试生成的高效算法
Ｋｅ ｗｏ ｄ ； ｃ ｍｂ ｎ ｔ ｎ ｌｃｒ ｕ ｔ ｔ ｓ ｅ ｅ ａ ｉｎ； ｅ ｕ ｔ ｎ ｔｅ ； Ｂ ｏ ｅ ｎ ｄ ｆｅ ｅ ｃ ｙ ｒ ｓ ｏ ｉ ｉａ ｉ ｉ； ｅ ｔｇ ｎ ｒ ｔ ａ ｏ ｃ ｏ ｑ ａｉ ｒｅ ｏ ｏ ｌ ｉ ｒｎ ｅ ａ ｆ
０ 引
言
布尔差 分法 由 Ｓ ｌｒ 等人 提 出 ， 组合 电路 测试 生 成 ｅ ｅｓ ｌ 是 的一种方法 。其 主 要 特 点 是将 电路 描 述 抽 象 为 数 学表 达 式模 型 ， 而 可进行严 密 的数 学 推导 。这 种 方 法通 过 对数 从 字 电路 的布 尔方程模 型 进行 差 分运 算 ， 能获 得测 试 矢 量集 的一 般表 达 式 ， 能求 出所 给故 障 的全 部 测试 矢 量 ， 并 因此 具有理 论上 的完备 性 。然 而对 于复 杂性 较 高 的 电路 ， 它 用 进行 测试 生成 时 需要 做 大 量 的 布 尔差 分 运算 ， 杂 度 高 ， 复 特别是 高 阶的 布 尔差 分 运 算 更 是 繁 琐 。本 文根 据布 尔 差 分 的物 理意义 “ 当可及输 出（ ） 依赖 于故 障 点信 息 时 ， ，只 故 障点到 ，的传播路径便得 到敏化” 利用 方程树 的方法进 ，
verilog可综合伪随机数生成算法
verilog可综合伪随机数生成算法Verilog可综合伪随机数生成算法引言:在数字电路设计中，经常需要使用伪随机数生成算法来产生随机的测试向量或者模拟随机事件。
Verilog是一种硬件描述语言，可以用于数字电路设计和验证。
本文将介绍一种基于Verilog的可综合伪随机数生成算法。
一、伪随机数生成算法概述伪随机数生成算法是一种通过确定性方法产生看似随机的数列的算法。
在数字电路设计中，常用的伪随机数生成算法有线性反馈移位寄存器(LFSR)和伪随机数发生器(PRG)等。
二、基于Verilog的LFSR算法实现LFSR是一种简单且高效的伪随机数生成算法，其原理是通过移位寄存器和异或门组成的反馈回路来产生伪随机数序列。
以下是一个基于Verilog的LFSR算法实现的示例代码：```verilogmodule lfsr (input wire clk,input wire reset,output wire [7:0] rand_out);reg [7:0] state;always @(posedge clk or posedge reset) beginif (reset)state <= 8'b00000000;else beginstate <= {state[6:0], state[7] ^ state[5]};endendassign rand_out = state;endmodule```在该示例代码中，使用了一个8位的移位寄存器state来存储当前的状态。
每个时钟周期，state的值向左移动一位，并将最高位与第6位异或得到的结果作为新的最低位。
当reset信号为高电平时，将state初始化为全零。
通过输出rand_out信号，我们可以获取到产生的伪随机数。
三、基于Verilog的伪随机数发生器算法实现伪随机数发生器是一种更加复杂的随机数生成算法，它使用了更多的逻辑门和状态变量来实现。
数字电路分配律公式a+bc=
数字电路分配律公式a+bc=
数字电路分配律是一种从数字电路的逻辑建模角度通过抽象的描述来给出数字网络的基本性质的描述。
它是由美国计算机学家Gary Kildall于1973年提出的，并于1974年经严格推导而得出，它表达的方程式就是 a+bc =。
这个公式表明，如果a，b，c都是二元型数字电路，即那些具有定值输入项以及独立的逻辑运算的电路，则a+bc的值的输出等于任何输入的输入+bc的和的结果。
这个公式的主要用途是帮助研究者推导数字电路的运算行为。
它后来被广泛应用在多种电路设计中，广泛地用于自动化程度较高的专业电路中。
它还应用于许多其他技术领域，尤其是计算机软件工程中，如描述用户界面，为单元测试构建数据结构，推导数据流和控制流等建模任务。
另外，数字电路分配律也广泛地用于传输和处理大量的数字信息的场景中，在互联网技术的发展中，数字电路分配律主要用于设计数据传输协议， Web 服务器及其它网络路由器的大规模数据传输任务等。
通过结合对不同的调度算法和可靠性算法的计算，数字电路分配律可以提供可靠的大规模数据传输性能，并有效地控制传输错误率。
总之，数字电路分配律在数字电路设计、数据处理、传输算法以及互联网技术领域等方面都起着重要作用。
它在实现大规模数据传输与数据处理方面发挥着至关重要的作用，为我们的信息化社会发展提供了有力的支撑。
测频电路的基本原理有哪些
测频电路的基本原理有哪些测频电路是一种用于测量信号频率的电路。
它广泛应用于无线通信、数字信号处理、音频处理等领域。
测频电路的基本原理包括：频率混频、锁相、计数和数字信号处理。
频率混频是测频电路的基本原理之一。
它通过将待测频率与参考频率进行混合，生成一个中频信号。
混频器是实现频率混频的关键元件，它可以将两个不同频率的信号进行线性叠加，并在输出端生成它们的和频（和差频）信号。
根据和频信号的频率可以反推出待测频率。
例如，如果输入信号频率为f1，参考频率为f2，则和频信号频率为f1+f2。
锁相是测频电路的另一个基本原理。
它可以实现将输入信号与参考信号进行比较，从而实现频率的精确测量。
锁相环是实现锁相的关键元件，它利用负反馈控制输入信号相位，使得输入信号与参考信号的相位保持恒定。
通过测量锁相环输出的控制电压即可得到待测频率。
锁相环具有高精度和较宽的测量范围的优点。
计数是实现测频的另一种基本原理。
它可以将输入信号的周期转换成脉冲序列，通过计数脉冲的个数来估计输入信号的频率。
计数器是计数的关键元件，它可以根据输入信号的频率来选择合适的计数方式（二进制计数、BCD计数等），从而实现高精度的测频。
数字信号处理也是实现测频的基本原理之一。
它可以通过对输入信号进行采样和数字滤波来实现频率测量，其中采样率的选择对于频率测量的精度至关重要。
数字信号处理可以利用快速傅里叶变换（FFT）等算法来实现高效的频率测量。
数字信号处理在现代测频电路中得到广泛应用，因为它可以通过软件调整测频算法的参数，实现灵活和高精度的频率测量。
总之，测频电路的基本原理包括频率混频、锁相、计数和数字信号处理。
它们各自具有一些特点和适用范围，在不同的应用场景中可根据需要选择合适的原理或者结合多种原理来实现高精度的测频。
在实际应用中，需要根据具体要求来选择合适的测频电路和方法，以满足各种不同的需求。
芯片设计基础知识题库100道及答案(完整版)
芯片设计基础知识题库100道及答案(完整版)1. 芯片设计中，用于描述电路功能和连接关系的语言通常是（）A. C 语言B. 汇编语言C. 硬件描述语言D. Java 语言答案：C2. 以下哪种不是常见的硬件描述语言（）A. VHDLB. VerilogC. PythonD. SystemVerilog答案：C3. 在芯片设计流程中，逻辑综合的主要作用是（）A. 将高级语言描述转换为门级网表B. 进行功能仿真C. 布局布线D. 生成测试向量答案：A4. 芯片的制造工艺通常用（）来表示A. 纳米B. 微米C. 厘米D. 毫米答案：A5. 以下哪个不是芯片设计中的时序约束（）A. 建立时间B. 保持时间C. 恢复时间D. 传播时间答案：D6. 芯片中的存储单元通常使用（）实现A. 触发器B. 计数器C. 加法器D. 减法器答案：A7. 下列哪种工具常用于芯片的功能仿真（）A. ModelSimB. QuartusC. CadenceD. Synopsys答案：A8. 芯片设计中的布线主要是为了（）A. 连接各个电路模块B. 优化芯片性能C. 节省芯片面积D. 以上都是答案：D9. 以下哪种不是常见的数字电路基本单元（）A. 与门B. 或门C. 非门D. 乘法器答案：D10. 在芯片设计中，降低功耗的方法不包括（）A. 降低工作电压B. 减少晶体管数量C. 提高时钟频率D. 采用低功耗工艺答案：C11. 芯片的性能指标通常不包括（）A. 工作频率B. 功耗C. 价格D. 面积答案：C12. 以下哪种不是芯片设计中的验证方法（）A. 形式验证B. 静态验证C. 动态验证D. 随机验证答案：D13. 芯片设计中的可测性设计主要是为了（）A. 提高芯片的可靠性B. 方便芯片测试C. 降低生产成本D. 增强芯片功能答案：B14. 下列哪种不是常见的芯片封装类型（）A. DIPB. BGAC. PGAD. IDE答案：D15. 芯片设计中，时钟树综合的目的是（）A. 优化时钟信号的分布B. 减少时钟偏差C. 降低时钟功耗D. 以上都是答案：D16. 以下哪种不是模拟电路的基本元件（）A. 电阻B. 电容C. 电感D. 触发器答案：D17. 在芯片设计中，面积优化的主要手段不包括（）A. 资源共享B. 逻辑化简C. 增加晶体管尺寸D. 复用模块答案：C18. 芯片中的电源网络主要用于（）A. 提供稳定的电源电压B. 传输信号C. 存储数据D. 控制时钟答案：A19. 下列哪种不是常见的EDA 工具（）A. Mentor GraphicsB. Altium DesignerC. Adobe PhotoshopD. Xilinx ISE答案：C20. 芯片设计中的逻辑优化通常在（）阶段进行A. 前端设计B. 后端设计C. 验证D. 测试答案：A21. 以下哪种不是常见的集成电路制造材料（）A. 硅B. 锗C. 铜D. 铝答案：C22. 在芯片设计中，信号完整性问题主要包括（）A. 反射B. 串扰C. 电磁干扰D. 以上都是答案：D23. 芯片的可靠性设计不包括（）A. 容错设计B. 冗余设计C. 加密设计D. 老化预测答案：C24. 下列哪种不是常见的芯片测试方法（）A. 功能测试B. 性能测试C. 压力测试D. 外观测试答案：D25. 芯片设计中的功耗分析通常包括（）A. 静态功耗分析B. 动态功耗分析C. 漏电功耗分析D. 以上都是答案：D26. 以下哪种不是常见的芯片架构（）A. RISCB. CISCC. DSPD. SQL答案：D27. 在芯片设计中，低功耗设计的策略不包括（）A. 门控时钟B. 多阈值电压C. 增加流水线级数D. 电源门控答案：C28. 芯片中的总线类型通常不包括（）A. 数据总线B. 地址总线C. 控制总线D. 通信总线答案：D29. 下列哪种不是常见的芯片设计流程模型（）A. 瀑布模型B. 迭代模型C. 敏捷模型D. 二叉树模型答案：D30. 芯片设计中的时序收敛主要是指（）A. 满足时序约束B. 优化性能C. 降低功耗D. 减小面积答案：A31. 以下哪种不是常见的数字信号处理算法在芯片中的实现方式（）A. 专用硬件B. 软件编程C. 混合实现D. 机械传动答案：D32. 在芯片设计中，静电防护的措施不包括（）A. 增加保护电路B. 提高工作电压C. 采用防静电材料D. 良好的接地答案：B33. 芯片的封装技术对芯片性能的影响不包括（）A. 散热B. 信号传输C. 成本D. 逻辑功能答案：D34. 下列哪种不是常见的模拟电路设计指标（）A. 增益B. 带宽C. 分辨率D. 时钟频率答案：D35. 芯片设计中的布局规划主要考虑（）A. 模块位置B. 布线资源C. 电源分布D. 以上都是答案：D36. 以下哪种不是常见的芯片验证技术（）A. 等价性检查B. 代码审查C. 边界扫描D. 故障注入答案：B37. 在芯片设计中，提高芯片集成度的方法不包括（）A. 减小晶体管尺寸B. 多层布线C. 增加芯片面积D. 三维集成答案：C38. 芯片中的模拟数字转换器（ADC）的主要性能指标不包括（）A. 转换精度B. 转换速度C. 功耗D. 存储容量答案：D39. 下列哪种不是常见的数字电路设计风格（）A. 行为级B. 结构级C. 物理级D. 生物级答案：D40. 芯片设计中的噪声分析主要针对（）A. 电源噪声B. 信号噪声C. 环境噪声D. 以上都是答案：D41. 以下哪种不是常见的芯片测试设备（）A. 逻辑分析仪B. 示波器C. 频谱分析仪D. 显微镜答案：D42. 在芯片设计中，降低时钟抖动的方法不包括（）A. 优化时钟源B. 增加时钟缓冲器C. 提高时钟频率D. 采用锁相环技术答案：C43. 芯片的电磁兼容性设计主要考虑（）A. 抗干扰能力B. 辐射发射C. 传导发射D. 以上都是答案：D44. 下列哪种不是常见的芯片可靠性测试（）A. 高温测试B. 低温测试C. 湿度测试D. 颜色测试答案：D45. 芯片设计中的电源完整性分析主要关注（）A. 电源电压波动B. 电流密度分布C. 地弹噪声D. 以上都是答案：D46. 以下哪种不是常见的芯片加密技术（）A. 对称加密B. 非对称加密C. 哈希函数D. 压缩技术答案：D47. 在芯片设计中，减少信号串扰的措施不包括（）A. 增加线间距B. 屏蔽C. 降低信号频率D. 增加信号强度答案：D48. 芯片中的数字信号处理器（DSP）通常用于（）A. 图像处理B. 音频处理C. 通信D. 以上都是答案：D49. 下列哪种不是常见的芯片设计中的知识产权（IP）核（）A. CPU 核B. GPU 核C. 内存控制器核D. 电池核答案：D50. 芯片设计中的性能评估指标通常不包括（）A. 吞吐量B. 延迟C. 重量D. 资源利用率答案：C51. 以下哪种不是常见的芯片制造工艺步骤（）A. 光刻B. 蚀刻C. 镀膜D. 焊接答案：D52. 在芯片设计中，解决时序违例的方法不包括（）A. 调整逻辑B. 改变布局C. 增加时钟周期D. 减少模块数量答案：D53. 芯片的散热设计主要考虑（）A. 散热器选择B. 风道设计C. 芯片封装D. 以上都是答案：D54. 下列哪种不是常见的模拟集成电路类型（）A. 运算放大器B. 比较器C. 计数器D. 滤波器答案：C55. 芯片设计中的布线拥塞解决方法不包括（）A. 重新布局B. 增加布线层数C. 减少布线资源需求D. 降低工作电压答案：D56. 以下哪种不是常见的芯片设计中的仿真类型（）A. 前仿真B. 后仿真C. 在线仿真D. 离线仿真答案：C57. 在芯片设计中，提高布线效率的方法不包括（）A. 智能布线算法B. 手动布线C. 增加布线资源D. 降低芯片性能答案：D58. 芯片中的锁相环（PLL）主要用于（）A. 时钟生成B. 频率合成C. 相位调整D. 以上都是答案：D59. 下列哪种不是常见的芯片验证语言（）A. SVAB. PSLC. HTMLD. OVL答案：C60. 芯片设计中的可综合代码编写原则不包括（）A. 避免使用不可综合的语法B. 优化代码结构C. 增加注释D. 提高代码可读性答案：C61. 以下哪种不是常见的芯片设计中的优化技术（）A. 逻辑重组B. 时钟门控C. 资源共享D. 颜色调整答案：D62. 在芯片设计中，降低电磁干扰的方法不包括（）A. 滤波B. 屏蔽C. 增加电磁辐射D. 合理布线答案：C63. 芯片的静电放电（ESD）保护主要针对（）A. 输入输出引脚B. 内部电路C. 电源引脚D. 以上都是答案：D64. 下列哪种不是常见的数字电路综合工具（）A. Design CompilerB. SynplifyC. VivadoD. Photoshop答案：D65. 芯片设计中的面积估算方法不包括（）A. 晶体管计数B. 模块面积累加C. 经验公式D. 重量测量答案：D66. 以下哪种不是常见的芯片设计中的时序分析工具（）A. PrimeTimeB. TimeQuestC. ModelSimD. Cadence答案：D67. 在芯片设计中，提高芯片稳定性的方法不包括（）A. 增加冗余电路B. 优化电源管理C. 降低工作温度D. 改变芯片颜色答案：D68. 芯片中的数模转换器（DAC）的主要性能指标不包括（）A. 分辨率B. 建立时间C. 线性度D. 存储容量答案：D69. 下列哪种不是常见的芯片设计中的布局工具（）A. ICCB. EncounterC. QuartusD. Vivado答案：C70. 芯片设计中的功耗估算方法通常不包括（）A. 基于公式计算B. 基于仿真C. 基于实测D. 基于猜测答案：D71. 以下哪种不是常见的芯片设计中的验证平台（）A. UVMB. VMMC. AVMD. WMM答案：D72. 在芯片设计中，减少布线延迟的方法不包括（）A. 缩短布线长度B. 减小线电阻C. 增加线电容D. 提高布线层数答案：C73. 芯片的热分析主要用于（）A. 评估芯片温度分布B. 优化散热设计C. 预测芯片寿命D. 以上都是答案：D74. 下列哪种不是常见的模拟电路仿真工具（）A. HSPICEB. SpectreC. LTspiceD. Python答案：D75. 芯片设计中的逻辑等效性检查主要检查（）A. 前后端设计的逻辑一致性B. 不同版本设计的逻辑一致性C. 不同模块设计的逻辑一致性D. 以上都是答案：D76. 以下哪种不是常见的芯片设计中的故障模型（）A. 固定故障B. 桥接故障C. 颜色故障D. 开路故障答案：C77. 在芯片设计中，提高芯片抗干扰能力的方法不包括（）A. 增加滤波电容B. 优化布线C. 降低电源电压D. 采用屏蔽技术答案：C78. 芯片中的存储器类型通常不包括（）A. SRAMB. DRAMC. ROMD. RAM答案：D79. 下列哪种不是常见的芯片设计中的性能优化策略（）A. 流水线设计B. 并行处理C. 串行处理D. 资源复用答案：C80. 芯片设计中的信号完整性仿真主要包括（）A. 反射仿真B. 串扰仿真C. 电磁兼容性仿真D. 以上都是答案：D81. 以下哪种不是常见的芯片设计中的低功耗技术（）A. 动态电压频率调整B. 多电压域设计C. 增加晶体管数量D. 门控电源答案：C82. 在芯片设计中，解决时钟偏差的方法不包括（）A. 插入缓冲器B. 调整时钟树结构C. 增加时钟频率D. 采用时钟网格答案：C83. 芯片的可靠性评估主要包括（）A. 失效率分析B. 寿命预测C. 故障模式影响分析D. 以上都是答案：D84. 下列哪种不是常见的数字电路测试向量生成方法（）A. 基于算法B. 基于仿真C. 基于模型D. 基于想象答案：D85. 芯片设计中的布线资源评估主要考虑（）A. 布线通道数量B. 过孔数量C. 布线层数D. 以上都是答案：D86. 以下哪种不是常见的芯片设计中的知识产权保护方式（）A. 专利申请B. 版权登记C. 商业秘密保护D. 公开源代码答案：D87. 在芯片设计中，提高模拟电路性能的方法不包括（）A. 采用高性能器件B. 优化电路结构C. 增加电路复杂度D. 进行参数校准答案：C88. 芯片中的控制器通常（）A. 负责数据处理B. 协调各部件工作C. 存储数据D. 进行信号转换答案：B89. 以下哪种不是芯片设计中的布线规则（）A. 线宽限制B. 线间距要求C. 颜色规定D. 布线层数限制答案：C90. 在芯片设计中，时钟树综合时需要考虑的因素不包括（）A. 时钟延迟B. 时钟偏斜C. 时钟频率D. 时钟功耗答案：C91. 芯片的测试覆盖率指标通常不包括（）A. 语句覆盖率B. 分支覆盖率C. 颜色覆盖率D. 条件覆盖率答案：C92. 下列哪种不是常见的芯片设计中的时序优化方法（）A. 寄存器重定时B. 逻辑复制C. 改变电路结构D. 增加芯片面积答案：D93. 芯片设计中的可测试性设计原则不包括（）A. 可观测性B. 可控制性C. 可修复性D. 可装饰性答案：D94. 以下哪种不是常见的芯片设计中的布局约束（）A. 模块间距B. 电源分布C. 布线通道D. 外观美观答案：D95. 在芯片设计中，降低串扰的方法不包括（）A. 增加屏蔽线B. 调整线的走向C. 提高信号幅度D. 减小并行线长度答案：C96. 芯片的故障诊断技术通常不包括（）A. 逻辑分析B. 信号监测C. 外观检查D. 功能测试答案：C97. 下列哪种不是常见的芯片设计中的仿真加速技术（）A. 硬件加速B. 并行仿真C. 模型简化D. 色彩优化答案：D98. 芯片设计中的电源网络设计要点不包括（）A. 降低电源噪声B. 提高电源效率C. 增加电源颜色D. 保证电源稳定性答案：C99. 以下哪种不是常见的芯片设计中的逻辑化简方法（）A. 卡诺图法B. 公式法C. 图形法D. 随机法答案：D100. 在芯片设计中，提高布线资源利用率的方法不包括（）A. 合理规划布线通道B. 减少布线层数C. 优化布线算法D. 随意布线答案：D。
IC测试基本原理
本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。
器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。
用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。
因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。
测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。
首先有一点必须明确的是，测试成本是一个很重要的因素，关键目的之一就是帮助降低器件的生产成本。
甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。
良品率和测试时间必须达到一个平衡，以取得最好的成本效率。
第一节不同测试目标的考虑依照器件开发和制造阶段的不同，采用的工艺技术的不同，测试项目种类的不同以及待测器件的不同，测试技术可以分为很多种类。
器件开发阶段的测试包括:·特征分析：保证设计的正确性，决定器件的性能参数;·产品测试：确保器件的规格和功能正确的前提下减少测试时间提高成本效率·可靠性测试：保证器件能在规定的年限之内能正确工作;·来料检查：保证在系统生产过程中所有使用的器件都能满足它本身规格书要求，并能正确工作。
制造阶段的测试包括:·圆片测试：在圆片测试中，要让测试仪管脚与器件尽可能地靠近，保证电缆，测试仪和器件之间的阻抗匹配，以便于时序调整和矫正。
因而探针卡的阻抗匹配和延时问题必须加以考虑。
·封装测试：器件插座和测试头之间的电线引起的电感是芯片载体及封装测试的一个首要的考虑因素。
·特征分析测试，包括门临界电压、多域临界电压、旁路电容、金属场临界电压、多层间电阻、金属多点接触电阻、扩散层电阻、接触电阻以及FET寄生漏电等参数测试。
通常的工艺种类包括:· TTL· ECL· CMOS· NMOS· Others通常的测试项目种类:·功能测试：真值表，算法向量生成。
电路 董晓算法
电路董晓算法1. 引言电路是现代科技中非常重要的一个领域，它涉及到电流、电压、电阻等基本概念，并通过这些概念来描述和分析电子设备的工作原理和性能。
为了解决复杂的电路问题，人们发明了许多算法。
董晓算法是其中一种被广泛应用的算法，它可以有效地求解复杂电路中的各种参数。
2. 董晓算法的原理董晓算法是一种基于节点分析和支路分析的方法，用于求解复杂电路中的各种参数。
它基于以下两个原理：2.1 节点分析节点分析是一种基本的电路分析方法，它利用基尔霍夫定律来求解电路中各个节点上的电压。
在节点分析中，将每个节点上的未知电压表示为一个方程，并通过联立这些方程来求解未知量。
2.2 支路分析支路分析是另一种常用的电路分析方法，它利用欧姆定律和基尔霍夫定律来求解电路中各个支路上的电流。
在支路分析中，将每个支路上的未知电流表示为一个方程，并通过联立这些方程来求解未知量。
董晓算法将节点分析和支路分析结合起来，通过构建节点方程和支路方程的矩阵表示，利用高斯消元法或LU分解等方法求解未知量。
它可以有效地处理复杂电路中的各种情况，并给出准确的结果。
3. 董晓算法的步骤董晓算法的求解过程可以分为以下几个步骤：3.1 确定节点和支路首先，根据电路图确定电路中的节点和支路。
节点是电路中连接两个或多个元件的交点，支路是连接两个节点之间的路径。
3.2 构建节点方程利用基尔霍夫定律，在每个节点上建立一个未知电压方程。
对于具有n个节点的电路，将得到n个未知电压方程。
3.3 构建支路方程利用欧姆定律和基尔霍夫定律，在每个支路上建立一个未知电流方程。
对于具有m 个支路的电路，将得到m个未知电流方程。
3.4 构建矩阵表示将节点方程和支路方程整理成矩阵的形式，得到一个由节点电压和支路电流构成的方程组。
3.5 求解方程组利用高斯消元法或LU分解等方法，求解得到方程组的解，即电路中各个节点的电压和支路上的电流。
3.6 求解参数根据求解得到的节点电压和支路电流，可以计算出电路中各个元件的电流、功率、阻值等参数。
ATPG自动测试生成模式
2）FAN 算法在搜索过程中采用更多的启发性信息和电路结构信息, 主要从减少回溯次数和缩短两 次回溯之间的处理时间这两方面入手； FAN 算法加速测试生成。
“测试”与“验证”的区别: 验证（Verification）的目的是检查设计中的错误，确保设计符合其设计规范和所期望的功能； 测试（Testing）则是检查芯片的加工制造过程中所产生的缺陷和故障。
DFT
ATPG概述 ATPG算法 SAT &ATPG
芯片测试主要环节:
I. 故障建模；对电路中可能存在的故障进行建模分析； II. III. 测试向量生成; 利用各种集成有 ATPG 算法的工具生成测试向量；
DFT
ATPG概述 ATPG算法 SAT &ATPG
• 故障敏化: • 将所有节点赋值为 X；对目标
故障进行赋值，故障点值为 0 即 s-a-0，则赋值为 D；故障 点值为 1 即s-a-1，则赋值为
D；通过J- frontier向前/后 蕴含对未分配的点赋值，确认 有无冲突产生，直至为所有的 输入找到一组无冲突赋值；
测试向量（集）: 测试向量使得故障电路模块和正确电路模块的输出不同；
测试向量生成需要 EDA厂家的 ATPG 工具, 用工具来选择建立哪种故障模型, 然后 ATPG 工具将 分别根据各种故障模型生成相应的测试向量。
ATPG算法评估标准: 一个好的工业级ATPG算法应能够在更短的时间内，产生更少的测试向量数， 并获得更高的测试覆盖率，使得测试成本更低。
DFT
ATPG概述 ATPG算法 SAT &ATPG
verilog 统计算法
verilog 统计算法Verilog统计算法在数字电路设计中，统计算法是一种常用的算法，用于统计输入数据中特定事件的数量。
Verilog是一种硬件描述语言，用于描述数字电路和系统的行为。
本文将介绍如何使用Verilog实现统计算法。
统计算法的基本原理是通过遍历输入数据，对每个数据进行判断，如果符合特定条件，则计数器加一。
在Verilog中，可以使用状态机来实现这一算法。
我们需要定义输入数据和计数器。
假设我们要统计输入数据中的奇数个数，那么我们需要一个8位的输入数据和一个8位的计数器。
```verilogmodule counter(input [7:0] data,output reg [7:0] count);```接下来，我们需要定义状态机。
状态机是一种有限状态自动机，它根据输入信号和当前状态来决定下一个状态和输出信号。
在这里，我们可以使用两个状态：初始状态和统计状态。
初始状态是计数器清零的状态，统计状态是计数器开始计数的状态。
```verilogreg [1:0] state;parameter INIT = 2'b00;parameter COUNT = 2'b01;always @(posedge clk or negedge rst) begin if (!rst) beginstate <= INIT;end else begincase (state)INIT: beginif (data % 2 == 1) beginstate <= COUNT;count <= 1;end else beginstate <= INIT;count <= 0;endendCOUNT: beginif (data % 2 == 1) beginstate <= COUNT;count <= count + 1;end else beginstate <= INIT;endendendcaseendend```在上述代码中，我们使用了一个时钟信号（clk）和一个复位信号（rst）。
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２
微电子学与计算机
表 Ｉ 真值表
ｃ０ ｑＩ
２０ 年第 ２ ０２ 期
毋 Ａ
Ｔ ０ ０
０
８ Ｚ 。
１
０ ０ ０ １ ０ ０ ０
ｋ Ｚ ３
１
０ １ ０ １ ０ １ ０
ｂ Ｚ ４
１
１ １ １ ０ ０ ０ ０
Ａ ＋Ｂ Ｂ Ｃ
Ｃ
１ 。故障修剪是一种减少测试系统所需显式考虑的
故 障数 目的技术方 法 ，它 包括 故 障等价 性及 支配关
图 １ 穷举测试例子电路
系等概念 而测试效率则高度依赖于所用的数据结 构 和逻辑 值 系统 。测试生 成 系统 经常采 用合 成逻 辑 值系统 （ ５ 如 值逻辑 、 值逻辑 ）这样能够追踪在故 ９ ，
可观性 。 例如 ， 假设信号线 Ａ有 ｓ ａ １ — 一 故障 ， 为了 对该故 障产 生 一个测 试 ，该 电路 必 须是可 控 的或其
状态 是 可 设 置 的 ， 样 才 能 使 无 故 障 电 路 的 线 这
ｓａ １ — 一 。在有故障存在的情况下 ， 电路的实际输出 如表 １ Ｚ 到 ｚ 栏所示 从该表中我们可以得到 中 ９ 哪一 个测 试 （ 入位模 式 ）产生 了不 同于无 故 障 电 输 路 的输 出偏差 。在 真值 表 中 ，故 障逻辑 值 用一下 划
障覆盖率的测试集合 。 测试生成最简单的方法就是 穷尽真值表方法。这将通过 图 １ 、表 １ 的例子来பைடு நூலகம்
明。
故障 ， 并在可观测点观测其行为是否与无故障电路
的行 为 有 区别 。若 不 相 同的话 ， 就说 该 测 试模 式 ｔ
图１ 电路 ， 其真值表如表 １ 以，输入分别为 所
Ａ． Ｂ和 Ｃ， 确 的输 出值 ｚ在 第 ４ 给 出 。 设在 电 正 栏 假 路 的 七 个 节 点 Ａ， Ｃ， Ｑ，Ｒ 和 ｚ， 故 障 Ｂ， Ｐ， 有 ｓ ｃ ａ 一０或 ｓ ｃ ｔ ｋ— ｔ ｕ ｔ ｋ—ａ 一１ ｕ ｔ 。一 个 固定 型 故 障 用
问题 ，因此 人们 就 得在 针对 具 体 的 问题 进行 分 析 ，
以求算法效率的改进 本 文仅涉及单 固定型故障 ２ 穷 举方 法
（Ｓ ） 型的测 试生 成方 面 的算 法 。 ＳＦ模 测 试 生 成 的 目的就 是 要查 找 一个 具 有最 大故
一
测试生成算法就是针对具体的目标故障 ｆ 产生 个测 试 模 式 ｔ 该模 式 用 作输 入 以激活 电路的 ，将
与 大 多 数 测 试 生 成 算 法 或 软 件 系 统 有关 的概
念有故障模 型、 故障修剪 、 逻辑值 系统、 数据结构和 测试 生成 过程 本身 。故 障模 型是 对物理 缺 陷的抽象
形式 ， 工业 界 常用 的故 障模 型是 固定 型 （ｔｃ —ａ） ｓ ｋ ｔ ｕ 故 障模 型 ，它假 定 电路 的信号 被 固定在 逻辑 值 ０或
检测了该 目标故障 ｆ 。这其中包括 了两层含意 ： ・在故障点产生一个差错信号 ；
・ 传 播该 差错 信号 到原 始输 出 端。 与 测 试 生 成 有 关 的 两 个 关键 概念 是 可 控 性 和
ａｂ ， 等小写字母加注下脚标 ０ １ 或 来分别表示故障
ｓ —ａ一０或 Ｓ—ａ一１ 例 如 ， 表 示 节 点 Ａ 故 障 。 ａ
华 中科技 大学
摘
刘歆
熊有 伦 （ 武汉 ４ ０７ ） ３０ ４
要 ： 计算机辅助测试 （ Ａ ） Ｃ Ｔ 工具有助于数字电路测试 的 自动化 ， 主要是 由于使用了有效 的算法 和相应 这
的软件 结构 。文章 主要介绍 了测试生成领域有重 大影响 的基本概念和算法。 关键词 ：算法 ， 测试生成 ， 计算 机辅助测试
收稿 日期：２ ０ —１ 一１ ０１ ｌ ７
从这个穷举测试当中， 我们可 以看出 ， 一个测 试 可 以检测 多于 一个故 障 。同时 ， 大 多数情况 下 ， 在
检 测一 个故 障 的测试 不止一 个 。所 以为了取得 具有
最大故障覆盖率的测试集合最小化 ， 在测试生成 中 要用到故障集精简技术 ， 以减少实际的测试施加时
断增加 ， 要求 消除重复的人力活动及计算 问题 ， 这 驱使人们不断开发 自 动化的设计 、 验证和测试工具 及设备。为 了完成这一任务 ， 基本要求是对其算法 进行分析 ， 以便得到更快速而叉易于实现的算法。 由于在 Ｖ Ｓ Ａ Ｌ Ｉ Ｄ方 面 的 问题 大多 数 是 Ｎ Ｃ Ｐ完 全 性
１ 引言
超大 规模 集 成 电路 （ ＬＩ Ｖ Ｓ）的规模 和复 杂性 不
障和无故 障电路中同一信号线的逻辑值 。最后 ， 测 试生成算法本身必须处 理复杂问题以及在 时间复 杂性 、 精度和故障覆盖率之间权衡 。 为了具体说明基本的概念方法 ， 本文首先介绍 穷举测试生成方法 ，接着是测试生成的代数方法 ， 结构化 方法 ， 和基于 Ｓ Ｔ的方 法 。最 后在 总 结部分 Ａ 比较 了一些 最具代 表 意义 的算法 效率 。
线表 示 。 如 ， 点 Ｐ有故 障 ｓ 一１表 示 为 Ｐ， 例 节 —ａ ， 可
用测 试 Ｂ ＝叭 １ 测 。 检
Ａ Ｂ
Ａ＝ ， ０ 即在该线 Ａ上产生 了一个差错信号 ， 这叫做 故 障激 活 。接 着 ， 须将此 差错 信 号传播 到诸 如输 必 出的可观测信号线 ， 这就是故障传播 。其要求是电 路可 观测 。
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２０ 年第 ２ ０２ 期
微电子学与计算机
数字 电路测试生成 的基本算法
Ｆ ｎ ａ ｌｎ ａ ｇ ｒｔ ｍ ｆ ｅ ｔ ｇ Ｇ ｎ ｒ ｔ ｎ ｆ ｒＤ ｇ ｔｌＣ ｒ ｕ ｔ ｕ ｄ ｎｅ ｔ ｌ Ａｌｏ ｈ ｓ ｏ ｓ ｎ ｅ ｅ ａ ｉ ｏ ｉ ｉ ｉ ｉ ｉ Ｔ ｉ ｏ ａ ｃ ｓ