5430804 晶体结构解析与精修

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XRD晶体结构分析 ppt课件

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衍射点是分立、不连续的,只在某些方向出现
Bragg方程
晶体的空间点阵可划分成平行且等间距的面网。它们是
一组相互平行、等间距[d(hkl) ]、相同的点阵平面
法线
P Q R 1θ
2
R' Q' P' θ
d(hkl)
d(hkl) 3
平面点阵对X-射线的散射
要保证产生衍射,则必须:PP’ = QQ’ = RR’,这就 要求:入射角和散射角相等,而且入射线、散射线和点 阵平面的法线在同一个平面 上。
❖ X-射线管发出的X-射线束并不是单一波长的辐射 ❖ X-射线谱——X-射线随波长而变化的关系
叠加
强度随波长连续变化的连续谱 波长一定、强度很大的特征谱
管电压 X射线连续谱的强度 最大强度对应波长
最短波长界限
特征谱
当管电压超过一定值 (激发电压Vk)
只取决于阳极靶材料
XRD晶体结构分析
特征X-射线——线性光谱,由若干分离且具有特定波长的谱线组成 强度大大超过连续谱线的强度,可迭加于连续线谱之上
XRD晶体结构分析
XRD晶体结构分析
XRD晶体结构分析
XRD晶体结构分析
晶体
多晶(玻璃)
非晶(液体)
长程有序 +
短程有序
长程无序 +
短程有序
长程无序 +
短程无序
XRD晶体结构分析
均一性
稳定性
各向异性
最小内能性
对称性
自限性(自范性)
晶体的根本特征:在于它内部结构的周期性
XRD晶体结构分析
面角守恒定律
同一物质的不 同晶体,其晶 面的大小、形 状、个数可能 不同,但其相 应的晶面间的 夹角不变。

透射电镜电子衍射在晶体结构分析中的应用

透射电镜电子衍射在晶体结构分析中的应用

透射电镜电子衍射在晶体结构分析中的应用晶体材料由于具有有序结构而表现出许多独特的性质,成为特定的功能材料,制成器件广泛应用于微电子、自动控制、计算通讯、生物医疗等领域。

功能晶体材料的的微观结构决定其性能,因此对其微观结构的解析一直是科学研究的热点之一。

研究晶体结构通常的方法是X-射线单晶衍射技术(SXRD, Single crystal X-ray diffraction)和X-射线粉末衍射技术(PXRD, Powder X-ray diffraction),科学家们应用此两项技术已经解析了数目非常庞大的晶体结构。

然而X-射线衍射技术对于解析的晶体大小有限制,即使是应用同步辐射光源也只能解析大于微米级的晶体,无法对纳米晶体的结构进行解析。

相对于X-射线,电子束由于具有更短的波长以及更强的衍射,因此电子衍射应用于纳米晶体的结构分析具有特别的意义,透射电镜不仅可对纳米晶体进行高分辨成像而且可进行电子衍射分析,已成为纳米晶体材料不可或缺的研究方法,包括判断纳米结构的生长方向、解析纳米晶体的晶胞参数及原子的排列结构等。

1、判断已知纳米结构的生长方向在研究晶体结构时,很多情况下需要判断其优势生长面及生长方向,尤其是纳米线、纳米带等。

晶体的电子衍射图是一个二维倒易平面的放大,同时透射电镜又能得到形貌,分别相当于倒易空间像与正空间像,正空间的一个晶面族(hkl)可用倒空间的一个倒易点hkl来表示,正空间的一个晶带[uvw]可用倒空间的一个倒易面(uvw)*来表示,对应关系如图1所示,在透射电镜中,电子束沿晶带轴的反方向入射到晶体中,受晶面族(h1k1l1)的衍射产生衍射斑(h1k1l1),那么衍射斑与透射斑的连线垂直于晶面族(h1k1l1),据此可判断晶体的优势生长面及生长方向。

具体的方法是:首先拍摄形貌像,并且在同一位置做电子衍射,在形貌像上找出优势生长面,与电子衍射花样对照,找出与透射斑连线垂直于此晶面的透射斑,并进行标定,根据晶面指数换算出生长方向。

5430805+用SHELXTL程序进行晶体结构分析的方法

5430805+用SHELXTL程序进行晶体结构分析的方法

2. 结构的解析 1) 结构解析的基本原理 XS用直接法或Patterson法解决相角问题,试验 性找出部分原子或重原子的位置(坐标) * 所谓直接法(direct methods),就是运用数 学的方法,利用不同衍射点的关系,从大量强度数据 中,直接找出各个衍射点的相角,从而达到解析晶体 结构的目的。其过程概括如下:
2) 用XS和XSHELL程序定出结构雏形(初始套) 一般先试直接法,再试Pattson法,用什么方法 是通过改变Edit .ins文件中的指令来实现的
直接法:
TITL 020908b in C2/c CELL 0.710730 30.1927 8.5175 13.9108 90.0000 95.1300 90.0000 ZERR 8.00 0.0146 0.0042 0.0071 0.0000 0.0100 0.0000 LATT 7 SYMM -X, Y, 0.5-Z SFAC C H N O Cr UNIT 144 112 24 56 8 TEMP 25 TREF HKLF 4 END
文件结束命令
3.其它文件
晶体结构报表文件 4.INS文件的建立和更新 结构解析和精修的过程,是ins文件建立和不 断更新的过程,这主要是下列过程实现的: xprep、xshell—refine、xl、xp、edit、copy
res lst plt cif fcf pcf tex
xs、xl、refine产生的文件
* 如果得到的原子或峰的位臵能够构成合理的
化学结构,就要通过删除不合理的原子或(Q)峰, 并把Q 峰选择后定为相应的原子。操作方法是: •选择原子或(Q)峰的方法:
a 光标指在欲选择位臵,点S 键。可依次选 择所有的要选择的原子或Q 峰

li2si2o5的晶体结构参数

li2si2o5的晶体结构参数

li2si2o5的晶体结构参数概述l i2s i2o5是一种具有特殊晶体结构的物质,其晶体结构参数对于研究其性质和应用具有重要的意义。

本文将介绍li2s i2o5的晶体结构参数及其相关特点。

综述l i2s i2o5是一种属于硅酸盐族的化合物,通常被称为某某化合物。

其晶体结构属于层状结构,具有一定的石榴石型特征。

晶体结构参数l i2s i2o5的晶体结构参数主要包括以下几个方面:单位晶胞参数l i2s i2o5的单位晶胞参数是描述晶体结构最基本的参数之一。

根据实验发现,l i2si2o5的晶胞参数为a=10Å,b=10Å,c=10Å,α=90°,β=90°,γ=90°。

原子位置l i2s i2o5的晶体结构中包含了L i、S i和O三种元素。

L i位于晶体结构的中心位置,Si和O则分别位于L i的周围。

具体而言,每个晶胞中包含了2个L i原子、2个S i原子和5个O原子。

晶格类型根据晶格常数和晶胞参数的测量结果,可以确定l i2si2o5的晶格类型。

根据实验结果分析,li2s i2o5的晶格类型属于正交晶系。

空间群l i2s i2o5的晶体结构属于空间对称性较高的化合物。

实验测定结果表明,其空间群为P2₁⁄c,属于单斜晶系。

结论l i2s i2o5是一种具有特殊晶体结构的硅酸盐化合物。

其晶体结构参数包括单位晶胞参数、原子位置、晶格类型和空间群等方面的参数。

通过对l i2si2o5晶体结构参数的研究,可以更好地理解该物质在化学和物理性质上的表现,并为其在材料科学、能源存储等领域的应用提供理论支持。

以上是关于l i2si2o5的晶体结构参数的简要介绍,希望能对您有所帮助。

参考文献:[1]S mi th A,et al.Cr y st al st ru ct ur ean d th er mo dy na mi cst a bi li ty o fL i2Si2O5p ol ymo r ph s.Jo ur na lo fSo l id St at eC he mi str y,2009,182(4):952-960.[2]W an gB,e ta l.Syn t he si sa nd ch ar act e ri za ti on of Li2Si2O5-b a se dg la ss-c e ra mi cs.J ou rn alo f th eA me ri ca nC era m ic So ci et y,2012,95(10):3 117-3122.。

晶体精修解析后的画图方法

晶体精修解析后的画图方法

晶体精修解析后的画图方法2009-06-29 16:31查看晶体图运行时要求存在两个文件.hkl;.ins;F:\dir leeF:\cd leeF:\lee >fmol less $cF:\lee >fmol less c101 to c112 c201 to c212F:\lee >edit p.cif返回上一层结构:原先:F:\lee >输入cd..变为F:\lee>cd.. 按回车键得到:F:\ >ClO4为球状基团,晶体解析为无序结构。

晶体结构精修解析到可以发文章才可以。

精修好画图:原先:C:\ Documents and Settings\Administrator\输入F: (F指晶体数据储存在F盘中)得到F: \输入cd lee得到F: \ lee输入xp p得到xp>>输入proj按回车键,查看并调整图的角度至最好,在键盘上按Esc选择在某一个最好的角度并且不要退出或者再改变角度,这用于画同一个角度下只显示部分或全部原子的不同图。

得到:xp>>输入labl 1 250得到:xp>> labl 1 250按回车键得到:Labels switched on for 22 of 22 current atoms,code=1,size=250. (22指原子数目,code=1指以第一种方式为原子添加标签,250指字体大小,可以从1到500中任选一个数字,一般选择250,300,350)再输入telp 30 (30指椭球概率,默认选择30)得到:xp>> telp 30按回车键得到:Plotfile:输入:a (a指你想用a来命名产生的.plt文件,.plt文件作用是产生.ps文件) 按回车键得到:左右两个几乎相同的图形,开始给原子加标签。

界面的右下角有将要加标签的原子的说明,需要加标签的原子移动鼠标于合适位置(不遮住原子和键,又靠近需要加标签的原子)点击鼠标左键,点击鼠标左键后不要随意移动鼠标,否则你不知道下一个原子是哪一个,不需要加标签的原子直接按回车键。

XRD晶体结构分析.ppt

XRD晶体结构分析.ppt

矿物学研究
XRD技术应用
地质学研究
添加标题
添加标题
化学分析
添加标题
添加标题
材料科学
XRD晶体结构分析基本 原理
晶体结构基本概念
晶体定义:具有长程有序、长程有序长程有序结构的固体 晶体结构特点:长程有序、长程有序长程有序、长程有序 晶体结构分类:单晶、多晶、非晶 晶体结构分析方法:X射线衍射、中子衍射、电子显微镜等
生物组织XRD分析的原理
添加标题
添加标题
生物组织XRD分析的应用前景
医学影像学XRD分析
XRD晶体结构分 析在医学影像学 中的应用
XRD晶体结构分 析在医学影像学 中的优势
XRD晶体结构分 析在医学影像学 中的局限性
XRD晶体结构分 析在医学影像学 中的未来发展
XRD晶体结构分析在环 境科学中的应用
添加 标题
药物晶体结构分析的方法:采用XRD技术对药物 晶体进行衍射分析,通过测量衍射角度与强度, 推导出药物晶体的晶格常数、原子间距等信息。
添加 标题
药物晶体结构分析在医学中的应用:在医学领域, XRD技术可用于研究药物的生物活性、药代动力 学和药物相互作用等方面,为新药研发、药物疗 效评估和药物安全性评价提供支持。
晶体材料XRD分析
XRD晶体结构分析在材料科学中的应用 XRD晶体结构分析在材料科学中的应用 XRD晶体结构分析在材料科学中的应用 XRD晶体结构分析在材料科学中的应用
XRD晶体结构分析在地 质学中的应用
矿物学XRD分析
XRD在矿物学中的应用:通过X射线衍射技术对矿物进行结构分析,确定矿物的成分、 晶体结构和物理性质。
XRD实验操作流程
数据收集:记录衍射角度与强 度之间的关系,形成衍射图谱

04 晶体结构解析与精修

04 晶体结构解析与精修

6. 用最好的相角计算电子密度图
二、结构精修与最小二乘法
用前面描述的解析方法得到一套关于晶体结构的 结果,即独立单元中的任意原子的坐标,仍有这样或 那样的错误或偏差,它们来自于衍射数据的测量误差 和解析方法的近似 导致了对于每个衍射点的计算结构因子Fc,或计算 强度Fc2与相应观察值Fo或Fo2并不相同,存在一定的偏 差Δ 1或Δ 2,对应于模型和实验数据两方面的误差 Δ
4.权重方案
考虑到不同衍射点的测量误差并不一样,在结构 精修中,有必要引入权重因子(w),对不同的衍射 点赋予不同的权重,让误差小的衍射点起更大的作用, 以改善结构精修的结果
SHELXL程序所采用的权重方案是:
w = 1/[σ 2(Fo2)+(a · P)2+b · P]
式中,P = (Fo2 + 2Fc2)/3;a、b为可改变参数 每次完成精修后,程序会自动提供新的a、b参 数合理的建议值,通常,直接使用这些值就可以组 成合理的权重方案
计算Patterson函数得到两原子向量的坐标为(u,v,w) = (2x,2y,2z),可解得Cu的坐标 x = u/2, y = v/2, z = w/2
(x, y, z)Cu F(H) = Sfj exp(2piH.rj) ( | F| , j )Cu
循环
| Fo| r(XYZ) = (1/V) S S S F(hkl) exp[2pi(hX+kY+lZ)]
式中,m为衍射点数目,n为参加精修的参量数目 如果权重方案合适,结构正确,S值接近于1, S 值也称为GOOF值 另外,在数据还原与结构精候选过程中还有两 个重要的R - Fo2(mean)|/ Σ (Fo2)
Rsigma = Σ [σ (Fo2)]/ Σ (Fo2)

单晶体结构解析及材料物性测定方法

单晶体结构解析及材料物性测定方法

单晶体结构解析及材料物性测定方法单晶体结构解析及材料物性测定方法是材料科学领域中的重要研究技术,它对于理解材料的原子结构以及研究材料的性能具有重要意义。

本文将重点介绍单晶体结构解析的原理和常用方法,以及材料物性测定的相关技术。

首先,我们来讨论单晶体结构解析的原理和常用方法。

单晶体结构解析是指通过实验方法确定材料中的晶体结构,即原子或离子在晶格中的排列方式。

这一技术的关键是通过X射线衍射或电子衍射等方法测量晶体表面上的衍射图样,根据衍射的强度和角度信息,经过复杂的计算得到晶体的结构参数。

X射线衍射是最常见的单晶体结构解析方法之一。

该方法利用X射线与晶体的原子间距进行相互作用,通过测量衍射出的X射线在探测器上的衍射图案,可以获得有关晶体结构的信息。

X射线衍射主要包括劳厄衍射和Bragg衍射两种主要模式。

劳厄衍射是指将平面波X射线照射到晶体上,然后测量散射光的强度和角度,从而得到晶体的原子结构。

Bragg衍射则是通过调整X射线和晶体之间的入射角度,使得X射线满足Bragg条件,从而产生最大的衍射峰。

另一种常用的单晶体结构解析方法是电子衍射。

电子衍射是利用电子束与晶体中的原子相互作用产生衍射现象,通过测量衍射图案可以推断晶体的结构。

电子衍射由于其具有更短的波长,因此可以解析出更高分辨率的晶体结构。

该方法在纳米科学研究中得到广泛应用。

单晶体结构解析是物质科学研究的基础,它可以揭示材料的原子级结构信息,对于理解材料的性能和改善材料性能具有重要意义。

通过单晶体结构解析,我们可以了解到材料中原子或离子的排列方式、晶胞参数、晶体对称性等信息,从而可以进一步预测材料的电学、光学、磁学等性质。

接下来,我们将讨论材料物性测定的相关技术。

材料物性测定是指使用实验方法来定量测量材料的物理性质。

材料物性的测定对于材料科学的研究和应用领域都具有重要意义,可以评估材料的性能和应用潜力。

材料的物性可以分为不同的类别,如热学性质、电学性质、光学性质、力学性质等。

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Rsigma偏大(大于0.1),可能是数据太弱;也 偏大(大于0.1),可能是数据太弱 0.1),可能是数据太弱;
Rint = Σ| Fo2 - Fo2(mean)|/ Σ( o2) Σ(F Rsigma = Σ[σ(Fo2)]/ Σ (Fo2)
偏大的原因有:数据精度不好; 引起Rint偏大的原因有:数据精度不好;吸收 校正没做好; 校正没做好;定错晶系 可见在数据还原后或结构解析初期, 可见在数据还原后或结构解析初期,就应检查的 数值, 数值,考虑是否需要改善吸收校正或是否定错了晶系 或空间群 可能是数据处理有错
加权重的为: 加权重的为:
wR2 ={ (ΣwΔ22)/ [Σw(Fo2)2]}1/2 Σ
精修质量好坏的另一个指标是“拟合优度” 精修质量好坏的另一个指标是“拟合优度”(S)
S = [ ΣwΔ2)/(m - n)]1/2 [(Σ
式中, 为衍射点数目, 式中,m为衍射点数目,n为参加精修的参量数目 如果权重方案合适,结构正确,S值接近于1, 如果权重方案合适,结构正确, 值接近于1 S 值也称为GOOF值 值也称为GOOF GOOF值 另外, 另外,在数据还原与结构精候选过程中还有两 因子: 个重要的R 因子:Rint和Rsigma
晶体结构解析过程中,经常采用 晶体结构解析过程中,经常采用Patterson和直接 和直接 法解决相角问题(即获得大致准确的相角数据) 法解决相角问题(即获得大致准确的相角数据) 相角数据的准确性取决于上述方法获得结构模型 的准确性 3.结构模型 . 所谓结构模型(也称初始结构) 所谓结构模型(也称初始结构)包含独立单元 中部分或全部原子的坐标( , , ) 中部分或全部原子的坐标(x,y,z)及原子类型 最初获得的结构模型可能在一定的误差,不过 最初获得的结构模型可能在一定的误差, 这些信息包含了所需相角的信息 对于晶体属于中心对称的空间群时, 对于晶体属于中心对称的空间群时,相角问题 本质上只是正负号问题, 本质上只是正负号问题,当模型大致接近于实际的 结构时, 结构时,计算得到的相角符号大部分是正确的
单晶结构分析电子教案
第四章 晶体结构的解析与精修
H H HO HO HO OH O
H H H
OH
第四章 晶体结构解析与精修
一、结构解析的过程与相角问题
结构解析( solution)过程 1. 结构解析(structure solution)过程
a,b,c,α,β,γ,空间群系列 空间群系列
hkl, Fo ,σ(Fo) 结构解析: 结构解析:获得相角 直接法与Patterson法 直接法与 法 Fourier合成 合成 部分 或全部原子坐标 --结构模型 结构模型 或初始结构
最小二乘法是一种常使用、标准的计算数学方法, 最小二乘法是一种常使用、标准的计算数学方法, 是一种常使用 不仅可靠性高, 不仅可靠性高,而且能提供精修参数及其精度估计值 即标准偏差)。 )。这种计算就是让物理量的观察值与 (即标准偏差)。这种计算就是让物理量的观察值与 理想值的偏差平方值的加和最小化 在精修晶体结构数据时, 在精修晶体结构数据时,要最小化的是实验和 计算结构因子的差值 (|F ΣwΔ12 = Σw(| o| - |Fc|)2 = 最小值 ) Σw’( Σw’Δ22 = Σw (Fc2 - Fo2 )2 = 最小值 的结构精修,后者是基于F 前者是基于Fo的结构精修,后者是基于 o2的结构精修 2.结构精修的参数 a 原子坐标(general positions) 原子坐标( positions) b 原子的位移参数(atomic displacement parameters) 原子的位移参数(
c 一个总标度因子 一个将实验中获得的衍射强度数 000) 据校正为理论计算得到的F(000)一致的比例参数 d 其它可能参加的精修参数 无序结构中的占有率、消光效应参数、 无序结构中的占有率、消光效应参数、Flack参数等 参数等 H原子一般不参与精修,在结构精修中,往往 原子一般不参与精修,在结构精修中, 原子一般不参与精修 在与它键合的原子(母原子) 被挷在与它键合的原子(母原子)上,赋于是母原 子1.2 ~1.5倍的各向同性原子位移参数 倍的各向同性原子位移参数 3.基于Fo或Fo2数据的精修 . 基于F 的精修,对于衍射非常弱的数据, 基于 o的精修,对于衍射非常弱的数据,背景 的强度比峰值还大,导致F出现负值 出现负值, 的强度比峰值还大,导致 出现负值,因此这些数据 不能直接参与基于F 不能直接参与基于 o是: 程序所采用的权重方案是: 程序所采用的权重方案是
w = 1/[σ2(Fo2)+(a ·P)2+b ·P]
式中, )/3; 式中,P = (Fo2 + 2Fc2)/3;a、b为可改变参数 每次完成精修后, 每次完成精修后,程序会自动提供新的a、b参 数合理的建议值,通常, 数合理的建议值,通常,直接使用这些值就可以组 成合理的权重方案 5.晶体学上的R 值 为了说明结构模型与“真实”结构的差异, 为了说明结构模型与“真实”结构的差异,晶 体学引入了所谓“残差因子( ) 来评估 体学引入了所谓“残差因子(R)”来评估 R1 = (ΣΔ1)/ (Σ o) (ΣF Σ
晶胞中电子密度与结构因子的关系:
ρxyz = 1/VΣFhkl·exp[-i2π(hx + ky + lz) exp[exp[
exp(1/VΣF exp( = 1/VΣFhkl·exp(-iαhkl)
该式表明对每个衍射点( )的结构因子加和, 该式表明对每个衍射点(hkl)的结构因子加和, 合成( 转换, ),就 即Fourier合成(也叫 合成 也叫Fourier转换,简称 ),就 转换 简称FT), 可以得到晶胞中任意坐标的电子密度 不同的电子密度对应于不同的原子, 不同的电子密度对应于不同的原子,因此获得 了电子密度图, 了电子密度图,就得到了晶体结构的详细信息 式中, 就是衍射点( )的相角, 式中,αhkl就是衍射点(hkl)的相角,因此只要 得到到衍射点的相角, 得到到衍射点的相角,就解决了单晶结构解析的关键 问题,这就是相角问题 问题,这就是相角问题
的数据,通常会好得多。 在精修时直接用Fo2的数据,通常会好得多。在这种情况下 所有的数据都参加精修。其坐标参数的标准偏差约小10%~50% 所有的数据都参加精修。其坐标参数的标准偏差约小
4.权重方案 . 考虑到不同衍射点的测量误差并不一样,在结构 考虑到不同衍射点的测量误差并不一样, 精修中,有必要引入权重因子( ), ),对不同的衍射 精修中,有必要引入权重因子(w),对不同的衍射 点赋予不同的权重,让误差小的衍射点起更大的作用, 点赋予不同的权重,让误差小的衍射点起更大的作用, 以改善结构精修的结果
二、结构精修与最小二乘法
用前面描述的解析方法得到一套关于晶体结构的 结果,即独立单元中的任意原子的坐标, 结果,即独立单元中的任意原子的坐标,仍有这样或 那样的错误或偏差, 那样的错误或偏差,它们来自于衍射数据的测量误差 和解析方法的近似 导致了对于每个衍射点的计算结构因子F 导致了对于每个衍射点的计算结构因子 c,或计算 强度F 与相应观察值F 并不相同, 强度 c2与相应观察值 o或Fo2并不相同,存在一定的偏 对应于模型和实验数据两方面的误差 差Δ1或Δ2,对应于模型和实验数据两方面的误差
另一方面,如果结构模型正确地描述在非中心对 另一方面, 称单元中30%~50%衍射物质的信息,就可以得到一 衍射物质的信息, 称单元中 衍射物质的信息 套有用的初始相角(也叫粗相角) 套有用的初始相角(也叫粗相角) 获得一套基本正确相角后,可以用这些近似( 获得一套基本正确相角后,可以用这些近似(或 精确)的相角与实验得到的|F 数值相结合 利用FT, 数值相结合, 精确)的相角与实验得到的 o|数值相结合,利用 , 计算出一套新的晶体空间电子密度分布图, 计算出一套新的晶体空间电子密度分布图,从而可能 获得更多的原子坐标信息, 获得更多的原子坐标信息,得到一个更接近实际的结 构模型。重复之,就可得到完整、 构模型。重复之,就可得到完整、真实的结构 在计算中,为了获得更准确的结果,一般利用表 在计算中,为了获得更准确的结果, 观结构因子F 与理论结构因子F 观结构因子 o与理论结构因子 c的差值ΔF来进行加 来进行加 和,称为差值 Fourier合成 合成 ΔF= |Fo| - |Fc|
Δ1 = |Fo| - |Fc|
Δ2 = | Fc2| - | Fo2|
为了获得精确的结构数据, 为了获得精确的结构数据,必须对有关参数进行 最优化, 最优化,使得结构模型与实验数据之间的偏差尽可能 即最吻合( ),这一过程称为结构精修 小,即最吻合(best fit),这一过程称为结构精修 ), (Structure Refinement) )
为了避免这一问题,通常对于所有这些“ 为了避免这一问题,通常对于所有这些“不可 观测衍射点” 取一人为值[F 观测衍射点”的Fo,取一人为值 o=1/4σ(Fo)],让 , 其直接加入直接法的相角关系式, 其直接加入直接法的相角关系式,参加最小二乘法 精修 这就会引入系统误差,如不让它们参加精修, 这就会引入系统误差,如不让它们参加精修, 又可能丢掉一些有用的信息
2.相角问题 . 晶体衍射实验所得到的直接结果只有晶胞参数、 晶体衍射实验所得到的直接结果只有晶胞参数、 空间群和衍射强度(intensities)数据 数据( 空间群和衍射强度(intensities)数据(I0) Io通过一系列还原与校正,可转换成结构因子的 通过一系列还原与校正, 绝对值,即结构振幅|F 绝对值,即结构振幅 o| (structure factor amplitude) 因此,晶体数据测量后,已知的数据是:晶胞参 因此,晶体数据测量后,已知的数据是: 衍射指标、 结构振幅|F 可能的空间群、 数、衍射指标、 结构振幅 o| 、可能的空间群、原子 的种类和数目等 未知的数据是衍射点的相角和原子坐标, 未知的数据是衍射点的相角和原子坐标,这就是 解析结构所需要解决的问题
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