材料分析方法课后答案(更新至第十章)
材料分析方法习题
注： *的多少仅代表该题可能的难易程度。
第一章 X 射线物理学基础
1、X 射线有什么性质，本质是什么？波长为多少？与可见光的区别。（*）
2、什么是X 射线管的管电压、管电流？它们通常采用什么单位？数值通常是多少？（*）
3、X 射线管的焦点与表观焦点的区别与联系。（*）
4、X 射线有几种？产生不同X 射线的条件分别是什么？产生机理是怎样的？晶体的X 射线衍射分析中采用的是哪种X 射线？（*）
5、特征X 射线，连续X 射线与X 射线衍射的关系。（*）
6、什么是同一线系的特征X 射线？不同线系的特征X 射线的波长有什么关系？同一线系的特征X 射线的波长又有什么关系？
7、什么是临界激发电压？为什么存在临界激发电压？（**）
8、什么是、射线？其强度与波长的关系。什么是、射线其强度与波长的关系。（**）
αK βK 1αK 2αK 9、为什么我们通常只选用Cr 、Fe 、Co 、Ni 、Mo 、Cu 、W 等作阳极靶，产生特征X 射线的波长与阳极靶的原子序数有什么关系。 10、 什么是相干散射、非相干散射？它们各自还有什么名称？相干散射与X 射线衍射的关系。（*）
11、 短波限，吸收限，激发限如何计算？注意相互之间的区别与联系。（**）
12、 什么是X 射线的真吸收？比较X 射线的散射与各种效应。（*）
13、 什么是二次特征辐射？其与荧光辐射是同一概念吗？与特征辐射的区别是什么？（**）
14、 什么是俄吸电子与俄吸效应，及与二次特征辐射的区别。（**）
15、 反冲电子、光电子和俄歇电子有何不同? （**）
数学分析课本(华师大三版)-习题及答案第十章
数学分析课本(华师大三版)-习题及答案第十章
第十章 定积分的应用
一、 填空题 1． 求曲线
8
,2
22
2=+=y x x y 所围成图形面积A （上
半平面部分），则A =
2． 曲线x
x
e y e y -==,及1=x 所围面积A =
3． 曲线θθcos 1,cos 3+==r r 所围面积A = 4． 曲线)
0(>=λλθ
ae r 从0=θ到αθ=一段弧长S =
5． 曲线
⎩⎨
⎧-=+=)
cos (sin )
sin (cos t t t a y t t t a x 从0=t 到π=t 一段弧长S =
6． 均匀摆线
)0(cos 1sin π≤≤⎩
⎨
⎧-=-=t t y t
t x ，弧长4=S ，则其
重心坐标是 7． 曲线0
,0),0(==≤=y x x e
y x
所围图形绕Ox 轴旋转
所得旋转体的体积为 ；而绕Oy 轴旋转所得旋转体的体积为 8． 抛物线)(a x x y -=与直线x y =所围图形的面积为
9． 在抛物线2
4x y =上有一点P ，已知该点的法
线与抛物线所围成的弓形面积为最小，则P 点的坐标是 10．设有一内壁形状为抛物面2
2
y x
z +=的容器，
原来盛有)(83
cm π的水，后来又入注)(643
cm π的
水，设此时水面比原来提高了hcm ，则h =
11．由曲线,2,1=+=x x x y 及2=y 所围图形的面积S = 曲线x
x x
y 223
++-=与x 轴所围成的图形的面积A =
二、选择填空题
1． 曲线)0(ln ,ln b a a y x y <<==与y 轴所围成图形的面积为A ，则A =（ ） （A ）⎰
材料分析方法习题
注： *的多少仅代表该题可能的难易程度。
第一章 X 射线物理学基础
1、X 射线有什么性质，本质是什么？波长为多少？与可见光的区别。（*）
2、什么是X 射线管的管电压、管电流？它们通常采用什么单位？数值通常是多少？（*）
3、X 射线管的焦点与表观焦点的区别与联系。（*）
4、X 射线有几种？产生不同X 射线的条件分别是什么？产生机理是怎样的？晶体的X 射线衍射分析中采用的是哪种X 射线？（*）
5、特征X 射线，连续X 射线与X 射线衍射的关系。（*）
6、什么是同一线系的特征X 射线？不同线系的特征X 射线的波长有什么关系？同一线系的特征X 射线的波长又有什么关系？
7、什么是临界激发电压？为什么存在临界激发电压？（**）
8、什么是、射线？其强度与波长的关系。什么是、射线其强度与波长的关系。（**）
αK βK 1αK 2αK 9、为什么我们通常只选用Cr 、Fe 、Co 、Ni 、Mo 、Cu 、W 等作阳极靶，产生特征X 射线的波长与阳极靶的原子序数有什么关系。 10、 什么是相干散射、非相干散射？它们各自还有什么名称？相干散射与X 射线衍射的关系。（*）
11、 短波限，吸收限，激发限如何计算？注意相互之间的区别与联系。（**）
12、 什么是X 射线的真吸收？比较X 射线的散射与各种效应。（*）
13、 什么是二次特征辐射？其与荧光辐射是同一概念吗？与特征辐射的区别是什么？（**）
14、 什么是俄吸电子与俄吸效应，及与二次特征辐射的区别。（**）
15、 反冲电子、光电子和俄歇电子有何不同? （**）
材料分析方法部分课后习题答案解析
第一章X 射线物理学基础
2、若X 射线管的额定功率为1.5KW，在管电压为35KV 时，容许的最大电流是多少？
答：1.5KW/35KV=0.043A。
4、为使Cu 靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6，求滤波片的厚度。
答：因X 光管是Cu 靶，故选择Ni 为滤片材料。查表得：μ m α＝49.03cm2／g，μ mβ＝290cm2／g，有公式，，，故：，解得:t=8.35um t
6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？
答：eVk=hc/λ
Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv)
λ 0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)
其中h为普郎克常数，其值等于6.626×10-34
e为电子电荷，等于1.602×10-19c
故需加的最低管电压应≥17.46(kv)，所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。
7、名词解释：相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应
答：⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。
⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
材料分析方法课后习题答案
第十四章
1、波谱仪和能谱仪各有什么优缺点?
优点:1）能谱仪探测X射线的效率高。
2）在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。
3）结构简单，稳定性和重现性都很好
4）不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。
缺点：1）分辨率低。
2）能谱仪只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。
3）能谱仪的Si(Li)探头必须保持在低温态，因此必须时时用液氮冷却。
分析钢中碳化物成分可用能谱仪；分析基体中碳含量可用波谱仪。
2、举例说明电子探针的三种工作方式（点、线、面）在显微成分分析中的应用。
答：(1)、定点分析：将电子束固定在要分析的微区上用波谱仪分析时，改变分光晶体和探测器的位置，即可得到分析点的X射线谱线；用能谱仪分析时，几分钟内即可直接从荧光屏（或计算机）上得到微区内全部元素的谱线。
(2)、线分析：将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置把电子束沿着指定的方向作直线轨迹扫描，便可得到这一元素沿直线的浓度分布情况。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。
(3)、面分析：电子束在样品表面作光栅扫描，将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置，此时，在荧光屏上得到该元素的面分布图像。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。也是用X射线调制图像的方法。
3、要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选用什么仪器？用怎样的操作方式进行具体分析？
材料分析题含答案
填空题
X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？
答：X射线学分为三大分支：X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。
X射线透射学的研究对象有人体，工件等，用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。X射线衍射学是根据衍射花样，在波长已知的情况下测定晶体结构，研究与结构和结构变化的相关的各种问题。X射线光谱学是根据衍射花样，在分光晶体结构已知的情况下，测定各种物质发出的X射线的波长和强度，从而研究物质的原子结构和成分。
二判断题
1.TEM的分辨率既受衍射效应影响，也受透镜的像差影响。（√）第十章
2短波限λ0大小和阳极靶材料的原子结构有关，是物质的固有特性。（）
3 产生K层激发时,滤波片材料的K吸收限位于Ka辐射和Kb辐射之间之所以能将Kb滤去的主要原因是因为Ka光子的能量比Kb光子的能量大很多。（）
4 在X 射线谱中，短波限处的X射线强度最大。（错）解析：X射线最大强度出现在中央，约为短波限的1.5倍处
5 当激发L系荧光X射线时，往往伴随着K系激发。（错）解析：当激发K 系荧光X 射线时，能伴生L 系，因为L 系跃迁到K 系自身产生空位，可使外层电子迁入，而L 系激发时不能伴生K 系。
6.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。（√）
7 x射线管中发出的x射线越接近于与电子束平行的方向强度越高。（错）解析：x射线管中发出的x射线越接近与电子束垂直的方向,强度越高。
8 透射电子显微镜成像系统分辨本领的高低主要取决于中间镜。（错）解析：透射电子显微镜分辨本领的高低主要取决于物镜。
第十章中药制剂分析中的新方法与新技术简介(附答案)
第十章中药制剂分析中的新方法与新技术简介
一、单项选择题（每题的5个备选答案中，只有一个最佳答案）
1．中药指纹图谱是指
A、中药材经适当处理后，测得到的光谱图
B、中药制剂经处理后测得的光谱图
C、中药材经经适当处理后，测得到的色谱图
D、中药材或中药制剂经适当处理后，测得能够表示其特性的色谱图或光谱图
E、中药材经适当处理后，测得到能够表示其特性的色谱图
2．中药指纹图谱研究中样品采集应
A、大于10批
B、小于10批
C、大于20批
D、5批
E、1批
3．在进行中药指纹图谱研究中，供试品溶液应用何种量器配制
A、刻度烧杯
B、锥形瓶
C、纳氏比色管
D、刻度试管
E、已标定的容量瓶
4．用HPLC法研究丹参葡萄糖注射液指纹图谱时，实验中分别在210nm标出2个峰；254nm处标出大于9个峰；280nm标出3个峰；325nm标出1个峰，应选的测定波长是
A、200nm
B、210nm
C、254nm
D、280nm
E、325nm
5．国家药品监督管理局已作出规定，要求建立指纹图谱的中药新药剂型为
A、丸剂
B、散剂
C、合剂
D、颗粒剂
E、注射剂
6．HPCE中表观淌度是指
A、电泳淌度与电渗淌度的加合
B、电泳的淌度
C、电渗流的淌度
D、正离子的迁移速度
E、负离子的迁移速度
二、多项选择题（每题的备选答案中有2个或2个以上正确答案，少选或多选均不得分）1．GC－MS分析时可获得的信号参数有
A总离子流色谱图B质量色谱图C选择离子监测图
D质谱图E色谱保留值
2．HPLC－MS系统常用的接口主要有
A流通池接口B热喷雾接口C粒子束接口
D电喷雾接口E离子喷雾接口
材料分析方法课后答案周玉
材料分析方法课后答案周玉
【篇一：材料分析方法考试重点】
纹衍射的图样，条纹间距随小孔尺寸的变大，衍射的图样的中心有
最大的亮斑，称为埃利斑。
2、差热分析是在程序的控制条件下，测量在升温、降温或恒温过
程中样品和参比物之间的温差。 3、差示扫描量热法（dsc）是在
程序控制条件下，直接测量样品在升温、降温或恒温过程中所吸收
的或放出的热量。
4、倒易点阵是由晶体点阵按照一定的对应关系建立的空间点阵，
此对应关系可称为倒易变换。
5、干涉指数在（hkl）晶面组（其晶面间距记为dhkl）同一空间
方位，设若有晶面间距为dhkl/n（n为任意整数）的晶面组（nh，nk，nl）即（h,k,l）记为干涉指数。
6、干涉面简化布拉格方程所引入的反射面（不需加工且要参与计
算的面）。
7、景深当像平面固定时（像距不变）能在像清晰地范围内，允许
物体平面沿透镜轴移动的最大距离。
8、焦长固定样品的条件下，像平面沿透镜主轴移动时能保持物象
清晰的距离范围。 9、晶带晶体中，与某一晶向【uvw】平行的所
有（hkl）晶面属于同一晶带，称为晶带
11、数值孔径子午光线能进入或离开纤芯（光学系统或挂光学器件）的最大圆锥的半顶角之余弦，乘以圆锥顶所在介质的折射率。
12、透镜分辨率用物理学方法(如光学仪器)能分清两个密切相邻物
体的程度 13 衍射衬度由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度成
为衍射衬度。
15质厚衬度由于样品不同区间存在原子序数或厚度的差异而形成
的非晶体样品投射电子显微图像衬度，即质量衬度，简称质厚衬度。制造水平。（√）
二、填空题
6）按入射电子能量的大小，电子衍射可分为（高能电子衍射）、
材料分析技术课后习题答案
材料分析技术课后习题答案
材料分析技术课后习题答案
材料分析技术是一门重要的学科，它涉及到材料的结构、性质和组成等方面的
研究。通过分析材料的微观结构和化学成分，可以了解材料的性能和特点，从
而为材料的设计和应用提供科学依据。在学习材料分析技术的过程中，习题是
不可或缺的一部分，通过解答习题可以巩固理论知识，提高实践能力。下面是
一些常见的材料分析技术课后习题及其答案，供大家参考。
1. 什么是扫描电子显微镜（SEM）？它有什么应用？
答：扫描电子显微镜（SEM）是一种利用电子束扫描材料表面，通过检测材料
表面反射、散射和二次电子等信号来观察材料表面形貌和微观结构的仪器。它
能够提供高分辨率的图像，可以观察到材料的微观形貌、晶体结构、表面缺陷
等信息。SEM广泛应用于材料科学、生物学、地质学等领域，用于研究材料的
形貌、结构、组成等方面的问题。
2. X射线衍射（XRD）是什么？它可以用来做什么？
答：X射线衍射（XRD）是一种通过照射材料样品，利用材料晶体对X射线的
衍射现象来研究材料晶体结构的方法。通过测量材料样品对X射线的衍射图样，可以确定材料的晶体结构、晶格常数、晶粒尺寸等信息。XRD广泛应用于材料
科学、地质学、化学等领域，用于研究材料的晶体结构、相变行为、晶粒尺寸
分布等问题。
3. 能谱仪是什么？它可以用来分析什么样的材料？
答：能谱仪是一种用于分析材料成分和化学元素的仪器。它通过测量材料样品
在受激发射或激发电子的作用下所发射出的特征能量的光谱，来确定材料的化
学成分。能谱仪可以用来分析各种不同类型的材料，包括金属材料、无机材料、有机材料等。
材料分析方法总复习
在这个演示中，我们将全面回顾材料分析方法。通过探索各种物理性能测试、 化学分析方法、显微镜分析技术和表面分析方法，您将学习材料分析的关键 概念。
常见的材料分析方法
物理性能测试
通过测试材料的物理特性来评估其性能和可靠 性。
化学分析方法
使用化学技术来分析材料的成分和化学性质。
显微镜分析技术
使用显微镜观察和研究材料的微观结构和特征。
表面分析方法
研究材料表面的物理、化学和结构特性。
常用的材料测试仪器与设备
机械性能测试仪器
用于评估材料的力学特性和性 能。
光谱分析仪器
使用光谱技术来研究材料的成 分和化学特性。
表面性能测试仪器
测量和分析材料表面的物理和 化学特性。
材料分析方法的应用领域
1 金属材料领域
检测金属材料的成分、力学性能和耐蚀性。
2 塑料材料领域
分析塑料材料的熔融性能、热稳定性和机械 强度。
3 纺织材料领域
研究纺织材料的纤维结构、染色性能和织物 密度。
4 来自百度文库物材料领域
评估生物材料的生物相容性、生物降解性和 机械性能。
材料分析方法的挑战与限制
1
样品制备的困难
有效的样品制备是获得准确分析结果的
数据解读与分析
2
关键。
处理大量数据并从中提取有意义的信息 是挑战之一。
审计学课后习题详细答案完整版-第十章生产与存货循环
第十章思考与练习答案解析
一、思考题.......................................................... 1..
1.【解答】 ..................................................... 1..
2.【解答】..................................................... 4..
二、案例分析题...................................................... 4..
1.【答案】 ..................................................... 4..
2.【答案】..................................................... 5..
3.【答案】...................................................... 6.
一、思考题
1.【解答】
2.【解答】
(1)评价管理层用以记录和控制存货盘点结果的指令和程序。
(2)观察管理层制定的盘点程序(如对盘点时及其前后的存货移动的控制程序)的执行情况。
(3)检查存货
(4)执行抽盘
(5)需要特别关注的情况
(6)存货监盘结束时的工作
二、案例分析题
1.【答案】
针对要求(1):
(1)不恰当。无论是否信赖内部控制，注册会计师在监盘中均应当观察管理层制定的盘点程序的执行情况
分析化学第十章吸光光度法习题答案分析化学(第三版)(上册)华中师范大学东北师范大学陕西师范大学
第十章 吸光光度法 吸光光度法
1.与化学分析法相比，吸光光度法的主要特点是什么？
答：①灵敏度高 ②仪器设备简单,操作简便,快速. ③ 准确度较高 ④ 应用广泛 。 2.何谓复合光、单色光、可见光和互补色光？白光与复合光有何区别？ 答：⑴复合光指由不同单色光组成的光;
单色光指其处于某一波长的光;
可见光指人的眼睛所能感觉到的波长范围为400-750 nm 的电磁波;
将两种适当颜色的光按照一定的强度比例混合就可形成复合光,它们称为互补色光; ⑵ 白光是是一种特殊的复合光，它是将将各种小组长的光按一定的强度比例混合而成。 3.简述朗伯-比尔定律成立的前提条件及物理意义，写出其数学表达式。
答：确定前提为：①入射光为平行单色光且垂直照射;② 吸光物质为均匀非散射体系;③吸光质点之间无相互作用;④辐射与物质之间的作用仅限于光吸收过程,无荧光和化学现象发生。
其物理意义如下：当一束单色光垂直通过某一均匀非散射的吸光物质时,其吸光度A 与物质的浓度c 及吸收层厚度 b 成正比。 其数学表达式为： Kbc T
I I A t
===1
lg
lg
0 4.摩尔吸收系数κ在光度分析中有什么意义？如何求出κ值？κ值受什么因素的影响？ 答：⑴摩尔吸光系数κ在光度分析中的意义：当吸光物质的浓度为1mol/L 和吸收层厚度为 1cm 时，吸光物质对某波长光的吸光度。
(2)在适宜的低浓度时，测其吸光度A ，然后根据bc
A
=
κ计算而求得。 (3) κ值受入射光的波长，吸光物质的性质、溶剂、温度、溶液的组成、仪器灵敏度等因素的影响。
电子衍射(材料分析方法)
第十章电子衍射
一、概述
透射电镜的主要特点是可以进行组织形貌与晶体结构同位分析。若中间镜物平面与物镜像平面重合（成像操作），在观察屏上得到的是反映样品组织形态的形貌图像；而若使中间镜的物平面与物镜背焦面重合（衍射操作），在观察屏上得到的则是反映样品晶体结构的衍射斑点。本章介绍电子衍射基本原理与方法，下章将介绍衍衬成像原理与应用。
电子衍射的原理和X射线衍射相似，是以满足（或基本满足）布拉格方程作为产生衍射的必要条件。两种衍射技术所得到的衍射花样在几何特征上也大致相似。多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环，单晶衍射花样由排列得十分整齐的许多斑点所组成。而非晶态物质得衍射花样只有一个漫散得中心斑点（图1，书上图10-1）。由于电子波与X射线相比有其本身的特性，因此，电子衍射和X射线衍射相比较时具有下列不同之处：
（1）电子波的波长比X射线短的多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角θ很小，约10－2rad；而X射线产生衍射时，其衍射角最大可接近90°。
（2）在进行电子衍射操作时采用薄晶样品，薄样品的倒易阵点会沿着样品厚度方向延伸成杆状，因此，增加了倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会，结果使略为偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
（3）因为电子波的波长短，采用爱瓦尔德球图解时，反射球德半径很大，在衍射角θ较小德范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面，从而也可以认为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。这个结果使晶体产生的衍射花样能比较直观的反映晶体内各晶面的位向，给分析带来不少方便。
数学分析课本（华师大三版）-习题及答案第十章
第十章 定积分的应用
一、填空题
1． 求曲线8,2
22
2=+=y x x y 所围成图形面积A （上半平面部分）
，则A = 2． 曲线x x e y e y -==,及1=x 所围面积A = 3． 曲线θθcos 1,cos 3+==r r 所围面积A = 4． 曲线)0(>=λλθae r 从0=θ到αθ=一段弧长S = 5． 曲线 ⎩
⎨
⎧-=+=)cos (sin )
sin (cos t t t a y t t t a x 从0=t 到π=t 一段弧长S =
6． 均匀摆线)0(cos 1sin π≤≤⎩⎨
⎧-=-=t t
y t
t x ，弧长4=S ，则其重心坐标是
7． 曲线0,0),0(==≤=y x x e y x 所围图形绕Ox 轴旋转所得旋转体的体积
为 ；而绕Oy 轴旋转所得旋转体的体积为 8． 抛物线)(a x x y -=与直线x y =所围图形的面积为
9． 在抛物线24x y =上有一点P ，已知该点的法线与抛物线所围成的弓形面积为最
小，则P 点的坐标是
10．设有一内壁形状为抛物面22y x z +=的容器，原来盛有)(83cm π的水，后来又入
注)(643cm π的水，设此时水面比原来提高了hcm ，则h = 11．由曲线,2,1
=+
=x x
x y 及2=y 所围图形的面积S = 曲线x x x y 223++-=与x 轴所围成的图形的面积A = 二、选择填空题
1． 曲线)0(ln ,ln b a a y x y <<==与y 轴所围成图形的面积为A ，则A =（ ） （A ）⎰b
材料分析方法(第4版)-第十二章
——高等学校优秀教材
第二篇 材料电子显微分析
第七章 电子光学及电子显微学基础 第八章 透射电子显微镜的结构与基本原理 第九章 电子衍射和衍衬成像分析 第十章 高分辨透射电子显微术 第十一章 分析透射电子显微术 第十二章 扫描电子显微镜和电子探针 第十三章 电子背散射衍射分析技术 第十四章 其他显微结构分析方法
1
材料分析方法-第四版
——高等学校优秀教材
第十二章 扫描电子显微镜和电子探针
本章主要内容 第一节 扫描电子显微镜的系统结构和工作原理 第二节 环境扫描电子显微镜的工作原理及应用 第三节 扫描电子显微镜的主要性能 第四节 表面形貌衬度原理及其应用 第五节 原子序数衬度原理及其应用 第六节 电子探针仪的结构与工作原理 第七节 电子探针仪的分析方法及应用
2
材料分析方法-第四版
——高等学校优秀教材
第十二章 扫描电子显微镜和电子探针
扫描电子显微镜的成像原理与透射电镜完全不同，不是利用电磁透镜聚 焦成像， 而是利用细聚焦电子束在样品表面扫描，用探测器接收被激发 的各种物理信号调制成像 目前，扫描电子显微镜二次电子像的分辨率已优于3nm，高性能的场发 射枪扫描电子显微镜的分辨率已达到 1nm 左右，相应的放大倍数可高达 30万倍 与光学显微镜相比，扫描电子显微镜不仅图像分辨率高，而且景深大， 因此在断口分析方面显示出十分明显的优势 扫描电子显微镜开始发展于20世纪60年代，随其性能不断提高和功能逐 渐完善，目前在一台扫描电镜上可同时实现组织形貌、微区成分和晶体结 构的同位分析，现已成为材料科学等研究领域不可缺少的分析工具
无机及分析化学课后习题第十章答案
一、选择题
在给出的4个选项中，请选出1个正确答案。
1. 水溶液中不能大量共存的一组物质为( D )
A. Mn2+， Fe3+
B. CrO42-， Cl-
C. MnO4-， MnO2
D. Sn2+， Fe3+
2. 298K，p(O2)=100kPa条件下，O2+4H++4e－=2H2O的电极电势为(
D )
A. /V=/V+(0.0591pH)/V
B. /V =/ V –(0.0591V pH)/V
C. /V =/V +(0.0148V pH)/V
D. /V =/V –(0.0148V pH)/V
3. 电极电势与溶液的酸度无关的电对为（ B ）
A. O2/H2O
B. Fe(OH)3/ Fe(OH)2
C. MnO4- /MnO42-
D. Cr2O72- /Cr3+
4. 根据(Cu2Cu) = 0.34V , (Zn2Zn) = 0.76V，可知反应Cu+Zn2(1105molL1) = Cu2 ( 0.1 molL-1 )+Zn在298 K时平衡常数约为( A )
A. 1037
B. 1037
C. 1042
D. 1042
5. 已知K sp(CuI)< K sp(CuBr)< K sp(CuCl)，则(Cu2+/ CuI)，(Cu2+/ CuBr)，
(Cu2+/ CuCl)由低到高的顺序为( D )
A.(Cu2+/ CuI) < (Cu2+/ CuBr) <(Cu2+/ CuCl)
B.(Cu2+/ CuBr)<(Cu2+/ CuI) <(Cu2+/ CuCl)
C. (Cu2+/ CuCl)<(Cu2+/ CuI) <(Cu2+/ CuBr)
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
材料分析方法课后练习题参考答案
2015-1-4
BY：二专业の学渣
材料科学与工程学院
3.讨论下列各组概念的关系
答案之一
(1）同一物质的吸收谱和发射谱；
答：λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射
(2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
答：λkβ发射（靶）〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射（靶）。任何材料对X射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。如Ni 的吸收限为0.14869 nm。也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。
(3）X射线管靶材的发射谱与被照射试样的吸收谱。
答：Z靶≤Z样品+1 或Z靶>>Z样品
X射线管靶材的发射谱稍大于被照射试样的吸收谱，或X射线管靶材的发射谱大大小于被照射试样的吸收谱。在进行衍射分析时，总希望试样对X射线应尽可能少被吸收，获得高的衍射强度和低的背底。
答案之二
1）同一物质的吸收谱和发射谱；
答：当构成物质的分子或原子受到激发而发光，产生的光谱称为发射光谱，发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱，吸收光谱则决定于物质的化学结构，与分子中的双键有关。
2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
答：可以选择λK刚好位于辐射源的Kα和Kβ之间的金属薄片作为滤光片，放在X射线源和试样之间。这时滤光片对Kβ射线强烈吸收，而对Kα吸收却少。
6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？
答：eVk=hc/λ
Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv)
λ0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)
其中h为普郎克常数，其值等于6.626×10-34
e为电子电荷，等于1.602×10-19c
故需加的最低管电压应≥17.46(kv)，所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。
7、名词解释：相干散射、非相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应
答：⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。
⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
系的吸收限。
⑸原子钟一个K层电子被光量子击出后，L层中一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量使L层中另一个电子获得能量越出吸收体，这样一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应。
第二章X 射线衍射方向
2、下面是某立方晶第物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重新排列：（12¯3），（100），（200），（¯311），（121），（111），（¯210），（220），（130），（030），（2¯21），（110）。
答：立方晶系中三个边长度相等设为a，则晶面间距为d=a/ 则它们的面间距从大小到按次序是：（100）、（110）、（111）、（200）、（210）、（121）、（220）、（221）、（030）、（130）、（311）、（123）。
3.
4、α-Fe 属立方晶体，点阵参数a=0.2866。如用CrKαX 射线（λ=0.2291mm）照射，试求（110）、（200）及（211）可发生衍射的掠射角。
答：立方晶系的晶面间距：= a / ，布拉格方程：2dsinθ=λ，故掠射角θ=arcsin（λ/2 ）,由以上公式得：2d(110)sinθ1=λ，得θ1=34.4°，同理θ2=53.1°，θ3=78.2°。
第三章X 射线衍射强度
3、洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几个方面考虑而得出的？
答：洛伦兹因数是表示几何条件对衍射强度的影响。洛伦兹因数综合了衍射积分强度，参加衍射的晶粒分数与单位弧长上的积分强度。
4、多重性因数的物理意义是什么？某立方第晶体，其{100}的多重性因数是多少？如该晶体转变为四方系，这个晶体的多重性因数会发生什么变化？为什么？答：（1）表示某晶面的等同晶面的数目。多重性因数越大，该晶面参加衍射的几率越大，相
面心点阵衍射线的系统消光规律是h,k,l全奇或全偶出现反射，h,k,l有奇有偶时消光。
6、多晶体衍射的积分强度表示什么？今有一张用CuKα摄得的钨（体心立方）的德拜相，试计算出头4 根线的相对积分强度（不计算A（θ）和e-2M,以最强线的强度为100）。头4 根线的θ值如下：
第四章
第五章
1.物相定性分析的原理是什么？对食盐进行化学分析与物相定性分析，所得信息有何不同？
答：物相定性分析的原理：X射线在某种晶体上的衍射必然反映出带有晶体特征的特定的衍射花样（衍射位置θ、衍射强度I），而没有两种结晶物质会给出完全相同的衍射花样，所以我们才能根据衍射花样与晶体结构一一对应的关系，来确定某一物相。
对食盐进行化学分析，只可得出组成物质的元素种类（Na,Cl等）及其含量，却不能说明其存在状态，亦即不能说明其是何种晶体结构，同种元素虽然成分不发生变化，但可以不同晶体状态存在，对化合物更是如此。定性分析的任务就是鉴别待测样由哪些物相所组成。
2.物相定量分析的原理是什么？试述用K值法进行物相定量分析的过程。
答：根据X射线衍射强度公式，某一物相的相对含量的增加，其衍射线的强度亦随之增加，所以通过衍射线强度的数值可以确定对应物相的相对含量。由于各个物相对X射线的吸收影响不同，X射线衍射强度与该物相的相对含量之间不成线性比例关系，必须加以修正。
这是内标法的一种，是事先在待测样品中加入纯元素，然后测出定标曲线的斜率即K值。当要进行这类待测材料衍射分析时，已知K值和标准物相质量分数ωs，只要测出a相强度Ia 与标准物相的强度Is的比值Ia/Is就可以求出a相的质量分数ωa。
第六章*
第七章*
第八章电子光学基础
5、电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响？说明电磁透镜的景深大、焦长长，