关于晶体管输出,达灵顿输出,可控硅输出,高速光耦,施密特输出光耦测试方法以及测试结果判定标准

关于晶体管输出，达灵顿输出，可控硅输出，高速光耦，施密特输出光耦测试方法以及测试结果判定标准
设备简介
使用万用表需要注意：测电流红色表笔就要插入mA孔，
测电压红色表笔就要插入VΩHz孔，
黑笔一直插COM孔
设备：测试座（用以搭载被测材料）
信号发生器（用以提供所需的电压与电流信号）
万用表（用以检测相关参数）
测试线若干（连接上述设备）
测试相关步骤：
1.确定被测光耦类型
2.测试线连接
3.参数设定
4.进行测试
5.判定材料是否OK
测试常识：给电流测电压，给电压测电流
晶体管输出光耦
4N25-4N38系列（注意4N29-33系列为达灵顿输出，请参照下一篇），MOC8106，MOC8204，（H11AA1，H11AA4交流输入）
1. 确定被测光耦类型
晶体管输出光耦主要测试CTR，他的内部原理图如下图所示，因此我们需要给他输入端一个电流，再测输出端的电流（需要在输出端加一个电压）
2. 测试线连接
在测试线连接之前，我们要知道他的测试原理图，晶体管输出光耦测试原理图如下：
电流源电压源万用表
实际连线：
为了方便说明，前面有对各个接口进行标明：
信号发生器：一、二、三、四、五
测试座：1、2、3、4、5、6、7、8
万用表：红笔、黑笔
上述连线说明：
1. 二连 1
2. 一连 2
3. 六连红笔
4. 黑笔连7
5. 四连 6
3.参数设定
信号发生器：左通道10mA，右通道5V
万用表：直流200mA 档位
4.进行测试
放入材料，反向放置，小圆孔朝上
5.判定标准
以厂商的CTR为标准进行判定，进行简单换算就可以知道，万用表上显示是多少mA时材料是OK的，下面是4NXX系列的CTR表，因为CTR=IC（万用表上的电流）/IF*100%，所以IC=CTR*IF
实例：
下面是4N37的实际测量图从下图我们可以看出，在输入电流IF=10mA 的情况下，输出电流IC=15.33mA > 10mA ，所以判定为OK ， 如果有兴趣可以算下他的
CTR=IC/IF*100%=15.33/10*100%= 153.3 %
达灵顿输出光耦
4N29-4N33系列，H11B1，H11G1，H11G2，MOC8021， MOC8050 达灵顿输出光耦与晶体管输出光耦测试基本一致，具体接线图完全参照上面的晶体管输出光耦连线方式，不同的是他的测试参数设置不同，由下图我们可以看出，4N32和4N33在IF=10mA 时他的IC 最少能在50mA 以上，CTR 最小值都为500，实测他的CTR 一般在2000以上。

IC 最小值，大于此值为OK 10 mA 5 mA 3 mA 2 mA 1 mA
由于我们的信号发生器最多只能输出50mA的电流，所以我对上面的条件进行修改，故判断标准也随之而变，具体输入条件个判断标准以下面的为准。

1.步骤同晶体管输出光耦
2.步骤同晶体管输出光耦
3. 参数设定
信号发生器：左通道1 mA，右通道5V
万用表：直流200mA档位
4.进行测试
5.判断标准
型号CTR IC 最小值，大于此值为OK
4N32，4N33 500 5 mA
4N29，4N30 100 1 mA
4N31 50 0.5 mA
实例：
下面是测试4N33的示意图，我们可以看出他的CTR=21.5/1*100%=2150 >500为OK 品看电流的话也很明显看出IC=215.mA >5mA为OK
可控硅输出光耦
MOC30XX系列，比如MOC3021，MOC3023，MOC3052，MOC3063，MOC3081
1.确定被测光耦类型
双向可控硅输出光耦主要测试触发电流IFT，和VDRM，由于条件有限我们只测试纸测试在在他的IFT出是否能使光耦正常开启。

因此我们需要测试他输出端在有一定电流时的电压值。

2.测试线连接
测试原理图：
实际连线：
上述连线说明：
1. 二连 1
2. 一连 2
3. 五连8
4. 四连 6
5. 红笔连8
6. 黑笔连 6
3. 参数设定
信号发生器：左通道IFT （5mA或10mA或15mA），右通道10mA
万用表：直流20V档位
4. 进行测试
放入材料
5.判定标准
可控硅输出光耦是看输出端电压的变化，在IFT下，为导通，故电压较低为1-2V左右。

型号左通道输入IFT 万用表上面电压
MOC30X1 15 mA 小于3V
MOC30X2 10 mA 小于3V
MOC30X3 5 mA 小于3V
备注：上面X可为1、2、3、4、5、6、8
实例：
下面是对MOC3021进行测试，在IFT=15mA时，输出端的电压为1.13V < 3V，为OK
1M高速光耦测试&高速达灵顿系列
1Mbps：6N136、HCPL4503 达灵顿：6N138、6N139
1.确定光耦类型
此系列依然属于晶体管输出系列，只是他把受光元件与三极管分立开来，因此需要为其提供一个VCC偏置电压。

2. 测试线连接
因为依然属于晶体管输出系列，故输出电流受输入电流控制，此处先介绍测试CTR的方法，其测试原理图如下。

如果想测他开启的输出的低电平VOL可参照后续介绍的6N137测试方法。

连线原理图：
连线实物图：
连线说明：
1.二连 2
2.一连 3
3.六连8
4.四连 5
5.六连红笔
6.黑笔连 6
3.参数设定
6N135、6N136设定
信号发生器：左通道10mA，右通道5V
万用表：直流20mA档
6N138、6N139设定
信号发生器：左通道2mA，右通道5V
万用表：直流200mA档
4. 进行测试
放入材料，反向放置，小圆孔朝上
5. 判定标准
型号CTR最小值CTR最大值IC允许最小值（显示）IC允许最大值6N135 7 50 0.7 mA 5 mA
6N136 19 50 1.9 mA 5 mA HCPL4503 19 50 1.9 mA 5 mA
6N138 300 无 6 mA 无上限
6N139 500 无10 mA 无上限
备注：此表后面的IC判定标准依照测试条件变化而变化，具体算法为IC=CTR*IF/100%
测试实例：
此为6N136的测试实例，测试条件输入端IF=10mA，输出端VCC=VO=5V，
由下图我们可以看出，IC=2.68mA，在1.9mA-5mA的范围内，故判断为OK。

10M高速光耦测试：
代表型号：6N137
1. 确定被测光耦类型
6N137属于输出端属于逻辑门，故测试他在触发后输出的低电平VOL是否为OK
2. 测试线连接
测试原理图
由下图可以看出，测试6N137需要用到2个电流源和一个电压源，此处我并没有在8脚跟5
脚处接一个0.1uF的去耦电容，后续如果想测试他的IFT时这个电容是必须要加上的。

测试连线实物图：
连线说明：
1.二连 2
2.一连 3
3.六连8
4.四连 5
5.五连 6
6.红笔连 6
7.黑笔连 5
3. 参数设定
信号发生器：左通道10mA，右通道电压输出5V，电流输出10mA
万用表：直流2V档位
4. 进行测试
放入材料
5. 判定标准
由下图我们可以看出，电压小于0.6V即为OK
测试实例：
以6N137为例，测试条件输入端IF=10mA，输出端IO=10mA，VCC=5V，
我们可以看到，实际测试值VOL为0.3V 小于0.6V，故判断为OK
施密特触发器输出光耦
H11L1、2、3，H11N1、2 系列
1. 确定被测光耦类型
此光耦的特别点在于他的输入电流阈值开启与关闭时不一样，此处我们主要确认他的输入与输出关系，测试他的输出低电平VOL，故不对输入进行过多测试，有兴趣的可以试着微调输入电流，便可准确看出他的IFon和IFoff。

2. 测试线连接接线原理图：
接线实物图：
接线说明：
1.二连 1
2.一连 2
3.六连8
4.四连7
5.五连 6
6.红笔连 6
7.黑笔连7
3. 参数设定
信号发生器：左通道IFon（具体输入请参照5.判定标准），右通道电压输出5V，电流输出5mA
万用表：直流2V档位
4. 进行测试
放入材料
5.判定标准
在测试时输入电流IFon为下表中的Max.值，万用表上显示电压VOL小于0.4V为OK
测试实例：
下图为采用H11L2进行测试，输入端IF=10mA，输出端IO=5mA，VCC=5V，测试显示VOL=0.17V 小于0.4V，故判定为OK
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