质控规则
实验室常用质控规则
实验室常用质控规则一、质控规则概述质控规则是解释质控数据和作出质控状态判断的决策标准。
质控规则以符号AL表示A是测定质控标本数或超过质控限（L）的质控测定值的个数L是质控限。
当质控测定值超过质控规则所规定的质控限时，则判断该分析批违背此规则，视为失控。
例如，12s质控规则，其中A为一个质控测定值，L为X±2s，当一个质控测定值超过X±2s时，即判断为失控。
二、常用质控规则的符号和定义12s(1-2s)：一个质控测定值超过X±2s质控限。
传统上，这是作为Levey-Jennings质控图上的警告限。
13s(1-3s)：一个质控测定值超过X±3s质控限。
传统上，这是作为Levey-Jennings质控图上的失控限。
22s(2-2s)：两个连续的质控测定值同时超过X-2s 或X+2s质控限。
R4s(R-4s)：在同一批内高和低质控测定值之间的差值超过4s。
31s(3-1s)：三个连续的质控测定值同时超过X-1s 或X+1s。
41s(4-1s)：四个连续的质控测定值同时超过X-1s 或X+1s。
7X(7-X)：七个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
7T(7-T)：七个连续的质控测定值呈现出向上或向下的趋势。
8X(8-X)：八个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
9X(9-X)：九个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
10X(10-X)：十个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
12X(12-X)：十二个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
三、经典的Westgard多规则质控方法临床检验质量控制可使用不同类型的质控图Levey-Jennings质控图是最普及、最简单、最常用的方法优点：方便易行，其质控规则仅为单独的12s或13s，即仅以一个规则（X±2s或X±3s作为质控限）来判断分析批在控或失控。
局限性：仅涉及一种质控规则而未同时涉及多个质控规则。
常用的质控规则
第二节常用的质控规则一质控规则概述●质控规则是解释质控数据和作出质控状态判断的决策标准。
●质控规则以符号AL表示A是测定质控标本数或超过质控限（L）的质控测定值的个数L是质控限。
●当质控测定值超过质控规则所规定的质控限时，则判断该分析批违背此规则，视为失控。
例如，12s质控规则，其中A为一个质控测定值，L为X±2s，当一个质控测定值超过X±2s 时，即判断为失控。
二、常用质控规则的符号和定义12s(1-2s)：一个质控测定值超过X±2s质控限。
传统上，这是作为Levey-Jennings质控图上的警告限。
13s(1-3s)：一个质控测定值超过X±3s质控限。
传统上，这是作为Levey-Jennings质控图上的失控限。
22s(2-2s)：两个连续的质控测定值同时超过X-2s 或X+2s质控限。
R4s(R-4s)：在同一批内高和低质控测定值之间的差值超过4s。
31s(3-1s)：三个连续的质控测定值同时超过X-1s 或X+1s。
41s(4-1s)：四个连续的质控测定值同时超过X-1s 或X+1s。
7X(7-X)：七个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
7T(7-T)：七个连续的质控测定值呈现出向上或向下的趋势。
8X(8-X)：八个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
9X(9-X)：九个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
10X(10-X)：十个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
12X(12-X)：十二个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
第三节经典的Westgard多规则质控方法前言：临床检验质量控制可使用不同类型的质控图Levey-Jennings质控图是最普及、最简单、最常用的方法●优点：方便易行，其质控规则仅为单独的12s或13s，即仅以一个规则（X±2s 或X±3s作为质控限）来判断分析批在控或失控。
质控规则1-3s
质控规则1-3s
摘要：
1.质控规则简介
2.质控规则1-3s 的具体内容
3.如何在实际工作中应用质控规则1-3s
4.质控规则1-3s 对于提高工作质量和效率的重要性
正文：
质控规则是质量控制中的一种重要手段，通过对工作流程进行规范和监控，确保产品或服务的质量满足要求。
在众多质控规则中，1-3s 规则是一种非常实用且易于操作的方法。
质控规则1-3s，即1 second（1 秒）、2 second（2 秒）、3 second （3 秒）。
这个规则要求在生产过程中，任何操作的执行时间超过3 秒的，都应该进行优化。
这是因为，如果一个操作需要较长时间，那么在这个过程中可能会出现各种问题，如疲劳、分心等，从而影响产品质量。
通过缩短操作时间，可以有效降低这些问题出现的概率，从而提高工作质量。
在实际工作中应用质控规则1-3s，首先需要对生产过程进行详细的观察和记录。
找出那些执行时间超过3 秒的操作，然后分析这些操作是否存在可以优化的地方。
例如，可以考虑采用更先进的设备、优化操作步骤、提高员工技能等方法来缩短操作时间。
在实施优化措施后，还需要持续对生产过程进行监控，确保优化效果得到持续的保持。
质控规则1-3s 对于提高工作质量和效率具有重要意义。
通过优化操作时
间，可以降低人为因素对质量的影响，提高产品的一致性和稳定性。
此外，缩短操作时间还能提高员工的劳动生产率，减轻他们的劳动强度，从而提高工作满意度。
实验室常用质控规则
实验室常用质控规则Company Document number：WUUT-WUUY-WBBGB-BWYTT-1982GT实验室常用质控规则一、质控规则概述质控规则是解释质控数据和作出质控状态判断的决策标准。
质控规则以符号AL表示A是测定质控标本数或超过质控限（L）的质控测定值的个数L是质控限。
当质控测定值超过质控规则所规定的质控限时，则判断该分析批违背此规则，视为失控。
例如，12s质控规则，其中A为一个质控测定值，L为X±2s，当一个质控测定值超过X±2s时，即判断为失控。
二、常用质控规则的符号和定义12s(1-2s)：一个质控测定值超过X±2s质控限。
传统上，这是作为Levey-Jennings质控图上的警告限。
13s(1-3s)：一个质控测定值超过X±3s质控限。
传统上，这是作为Levey-Jennings质控图上的失控限。
22s(2-2s)：两个连续的质控测定值同时超过X-2s 或X+2s质控限。
R4s(R-4s)：在同一批内高和低质控测定值之间的差值超过4s。
31s(3-1s)：三个连续的质控测定值同时超过X-1s 或X+1s。
41s(4-1s)：四个连续的质控测定值同时超过X-1s 或X+1s。
7X(7-X)：七个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
7T(7-T)：七个连续的质控测定值呈现出向上或向下的趋势。
8X(8-X)：八个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
9X(9-X)：九个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
10X(10-X)：十个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
三、经典的Westgard多规则质控方法临床检验质量控制可使用不同类型的质控图Levey-Jennings质控图是最普及、最简单、最常用的方法优点：方便易行，其质控规则仅为单独的12s或13s，即仅以一个规则（X±2s或X±3s作为质控限）来判断分析批在控或失控。
检验常用的质控规则
检验常用的质控规则常用的质控规则一、质控规则概述质控规则是解释质控数据和作出质控状态判断的决策标准。
质控规则以符号AL表示:A是测定质控标本数或超过质控限（L）的质控测定值的个数,L是质控限。
当质控测定值超过质控规则所规定的质控限时，则判断该分析批违背此规则，视为失控。
例如，12s质控规则，其中A为一个质控测定值，L为X±2s，当一个质控测定值超过X±2s时，即判断为失控。
二、常用质控规则的符号和定义12s(1-2s)：一个质控测定值超过X±2s质控限。
传统上，这是作为Levey-Jennings质控图上的警告限。
13s(1-3s)：一个质控测定值超过X±3s质控限。
传统上，这是作为Levey-Jennings质控图上的失控限。
22s(2-2s)：两个连续的质控测定值同时超过X-2s 或X+2s质控限。
R4s(R-4s)：在同一批内高和低质控测定值之间的差值超过4s。
31s(3-1s)：三个连续的质控测定值同时超过X-1s 或X+1s。
41s(4-1s)：四个连续的质控测定值同时超过X-1s 或X+1s。
7X(7-X)：七个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
7T(7-T)：七个连续的质控测定值呈现出向上或向下的趋势。
8X(8-X)：八个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
9X(9-X)：九个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
10X(10-X)：十个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
12X(12-X)：十二个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
三、经典的Westgard多规则质控方法临床检验质量控制可使用不同类型的质控图：Levey-Jennings质控图是最普及、最简单、最常用的方法。
优点：方便易行，其质控规则仅为单独的12s或13s，即仅以一个规则（X±2s或X±3s作为质控限）来判断分析批在控或失控。
质控规则
常用质控规则
（1）12s警告规则：当2份质控血清中，一个质控结果超过±2s，为'警告'信号。
（2）13s规则：当2份质控血清中的任意1份测定值超过±3s界限，为'失控'。
（3）22s规则：同批两个质控品结果同方向超出±2s 限值，或同一质控品连续两次指控结果超出±2s限值为'失控'，多由系统误差造成。
（4）R4s则：同一批中两个质控结果之差超出4s范围，其中一个超出+2s限值，另一个超出-2s限值，为'失控'，多由随机误差导致。
（5）41s规则：当1份质控血清的测定结果连续4次超过+1s或-1s界限，或2份质控血清测定结果连续2次超过+2s或-2s界限时，为'失控'，一般由系统误差造成。
(6)7T规则：当7个连续的质控结果呈现向上或向下的趋势，提示存在系统误差。
（7）10x规则：当1份质控血清测定结果连续10次偏于均值一侧时，或2份血清质控血清测定结果连续5次偏于一侧时，为'失控'，是系统误差造成。
常用质控规则、westgard多规则1
常用质控规则、westgard 多规则1第二节常用的质控规则 一质控规则概述质控规则是解释质控数据和作出质控状态判断的决策标准。
质控规则以符号AL 表示A 是测定质控标本数或超过质控限(L )的质控测定值的个数 L 是质控限。
当质控测定值超过质控规则所规定的质控限时，则判断该分析批违背此规则，视为失控。
例如，12s 质控规则，其中 A 为一个质控测定值，L 为X ±2s ，当一个质控测定值超过 X ±2s 时，即判断为失控。
二、常用质控规则的符号和定义12s(1-2s): —个质控测定值超过 X ±2s 质控限。
传统上，这是作为的警告限。
13s(1-3s): 一个质控测定值超过 X ±3s 质控限。
传统上，这是作为的失控限。
22s(2-2s):两个连续的质控测定值同时超过 X-2s 或X+2s 质控限。
R4s(R-4s):在同一批经典的 Westgard 多规则质控方法、八— 临床检验质量控制可使用不同类型的质控图Levey-Jennings 质控图是最普及、最简单、最常用的方法优点：方便易行，其质控规则仅为单独的 12s 或13s ,即仅以一个规则(X ±2s 或X ±3s作为质控限)来判断分析批在控或失控。
局限性：仅涉及一种质控规则而未同时涉及多个质控规则。
相对的简单粗糙，往往不能满足更高的质控要求如使用具有X ±2s 质控限的Levey-Jennings 质控图，当每批使用 2个质控物时，他的假失控 概率往往是不可接受的；如使用具有X ±3s 质控限的Levey-Jennings 质控图，此质控方法虽然具有较低的假失控率， 但其误差检出能力则较低，难以确保检验结果的质量。
正是由于Levey-Jennings 方法有其局限性，许多更精确、更完善的质控方法，如 方法能兼顾假失控率和误差检出能力， 前在我国的普及程度尚有待提高。
常用质控规则及含义
常用质控规则及含义
质控规则是解释质控数据和判断分析批控制状态的标准。
以符号
AL(或A-L)表示,nbsp;其中Anbsp;是测定质控标本数或超过控制限(L)的质控测定值的个数，L是控制界限。
当控制测定值满足规则要求的条件时，则判断该分析批违背此
质控规则是解释质控数据和判断分析批控制状态的标准。
以符号AL(或A-L)表示, 其中A 是测定质控标本数或超过控制限(L)的质控测定值的个数，L是控制界限。
当控制测定值满足规则要求的条件时，则判断该分析批违背此规则。
常用质控规则有：( : 平均数；s: 标准差) 12s : 一个质控结果超过±2s，为违背此规则，提示警告。
12.5s : 一个质控结果超过±2.5s，为违背此规则，提示存在随机误差。
13s: 一个质控结果超过±3s，为违背此规则，提示存在随机误差。
R4s: 同批两个质控结果之差值超过4s, 即一个质控结果超过 + 2s，另一质控结果超过 - 2s。
也适用于超过 + 2.5s及 - 1.5s，为违背此规则，表示存在随机误差。
22s : 两个连续质控结果同时超过 + 2s 或 - 2s，为违背此规则，表示存在系统误差。
41s : 一个质控品连续的四次测定结果都超过 + 1s或 - 1s，两个质控品连续两次测定都超过 + 1s或 - 1s，为违背此规则，表示存在系统误差。
10x : 十个连续的质控结果在平均数一测，为违背此规则，表示存在系统误差。
属于系统误差的质控规则
属于系统误差的质控规则
系统误差是指由于测量设备、操作程序、环境条件等因素引起的测量结果的常态偏差。
质控规则可以帮助识别和控制系统误差，常见的属于系统误差的质控规则包括：
1. 样本均值规则（X bar rule）：当样本均值超过设定的控制界限时，表示系统存在常态偏倚。
2. 移动极差规则（MR rule）：当连续多个样本的移动极差超过设定的控制界限时，表示测量设备的稳定性存在问题。
3. 示差规则（Range rule）：当连续多个样本的示差（最大值减最小值）超过设定的控制界限时，表示系统存在异常变异。
4. 趋势规则（Trend rule）：当连续多个样本的趋势向上或向下持续变化时，表示系统存在持续的常态偏倚。
5. 周期性规则（Cyclicality rule）：当连续多个样本的测量结果呈现出明显的周期性变化时，表示系统存在周期性误差。
这些质控规则可以根据具体的测量和监控需求进行调整和组合使用，帮助及时发现和解决系统误差问题，保证测量结果的准确性和可靠性。
质控规则
1本科采用Levey-Jenning质控图。
2质控规则：1-2s 一个质控结果超过2SD，为警告限。
1-3s 一个质控结果超过3SD，为失控限，提示随机误差。
R4s 在同一批内高值质控品测定值和低值质控品测定值
之间差值超过4s，为失控，为偶然误差。
2-2s 两个连续质控数据或两个水平质控品同时超过
2SD，为失控，提示系统误差。
3失控原因分析：包括操作失误、试剂、校准品、质控品的失效，仪器维护不良。
4失控处理措施：
4.1检查质控品，重新测定同一质控品，以查明人为误差；新开一瓶质控品重测失控项目；新开另一批号质控品，重测失控项目。
4.2更换试剂，重测失控项目。
4.3进行仪器维护、保养、校准，重测失控项目。
4．4请技术专家帮助。
4.5填写失控报告，上交质量监督员及技术负责人。
质控规则——精选推荐
质控规则1、常⽤指控规则：12S：⼀个质控测定值超过X±2S。
传统上，为L-J质控图上的警告限。
13S：⼀个质控测定值超过X±3S。
此规则主要对随机误差敏感22S：两个连续的质控测定值超过X＋2S或X－2S，此规则对系统误差敏感。
R4X：在同⼀批内最⾼质控测定值与最低质控测定值之间的差值超过4S。
此规则主要对随机误差敏感。
31S：三个连续的质控测定值超过X＋1S或X－1S，此规则对系统误差敏感。
41S：4个连续的质控测定值超过X＋1S或X－1S，此规则对系统误差敏感。
7X：7个连续的质控测定值均落在均值（X）的同⼀侧，此规则对系统误差敏感。
7T：7个连续的质控测定值呈现出向上或者向下的趋势。
8X：8个连续的质控测定值均落在均值（X）的同⼀侧，此规则对系统误差敏感。
9X：9个连续的质控测定值均落在均值（X）的同⼀侧，此规则对系统误差敏感。
10X：10个连续的质控测定值均落在均值（X）的同⼀侧，此规则对系统误差敏感。
12X：12个连续的质控测定值均落在均值（X）的同⼀侧，此规则对系统误差敏感。
2、 Westgard多规则质控⽅法。
以12S为启动警告规则，启动其他质控规则，以帮助数据的快速判断。
通常以“/”符号将各规则连接起来。
12S /13S/22S/ R4X/41S/10X，就是常⽤的Westgard多规则质控⽅法如图，如果没有质控数据超过X±2S质控限，则判断该批分析在控，可以报告该批患者的结果。
如果⼀个质控值超过X±2S，则由13S、22S、R4X、41S、10X质控规则来进⼀步检验质控数据。
如果没有违背这些规则，则该分析批为在控。
如果违背了其中的规则，则判为失控，不能报告患者结果。
实践中13S、R4X为随机误差， 22S、 R4X、41S、10X为系统误差。
常用的六个质控规则
常用的六个质控规则
1.基本原则：质量是首要考虑的因素，质控活动应该以确保产品或服务的质量为核心目标。
2.客户导向：以满足客户需求和期望为中心，将客户的满意度作为判断质量的重要标准。
3.过程管理：注重整个过程的管理，从输入到输出的全过程进行控制和监督，以确保产品或服务符合质量要求。
4.连续改进：持续追求质量的提升和改进，不断优化质量管理体系，提高产品或服务的质量水平。
5.数据驱动决策：基于数据和事实进行决策，通过收集、分析和利用数据来指导质控活动和改进过程。
6.人员参与：强调全员参与质控活动，激发员工的积极性和主动性，形成全员质量意识，共同推动质量的提升。
常用的质控规则
常用的质控规则一、质控规则概述● 质控规则是解释质控数据和作出质控状态判断的决策标准.● 质控规则以符号AL表示A是测定质控标本数或超过质控限(L）的质控测定值的个数L是质控限。
● 当质控测定值超过质控规则所规定的质控限时，则判断该分析批违背此规则，视为失控。
例如，12s质控规则，其中A为一个质控测定值，L为X±2s，当一个质控测定值超过X±2s时，即判断为失控。
二、常用质控规则的符号和定义12s(1—2s）：一个质控测定值超过X±2s质控限。
传统上，这是作为Levey-Jennings质控图上的警告限。
13s(1-3s)：一个质控测定值超过X±3s质控限。
传统上，这是作为Levey—Jennings质控图上的失控限.22s(2-2s）：两个连续的质控测定值同时超过X—2s 或X+2s质控限。
R4s(R—4s)：在同一批内高和低质控测定值之间的差值超过4s。
31s（3—1s）：三个连续的质控测定值同时超过X-1s 或X+1s。
41s(4—1s）：四个连续的质控测定值同时超过X—1s 或X+1s。
7X（7—X）：七个连续的质控测定值落在平均数(X）的同一侧。
7T（7—T）：七个连续的质控测定值呈现出向上或向下的趋势。
8X(8-X）:八个连续的质控测定值落在平均数（X)的同一侧.9X(9-X)：九个连续的质控测定值落在平均数(X)的同一侧。
10X（10-X）：十个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧.12X（12—X)：十二个连续的质控测定值落在平均数（X）的同一侧。
第三节经典的Westgard多规则质控方法前言：临床检验质量控制可使用不同类型的质控图Levey—Jennings质控图是最普及、最简单、最常用的方法● 优点：方便易行，其质控规则仅为单独的12s或13s,即仅以一个规则（X±2s或X±3s作为质控限)来判断分析批在控或失控.● 局限性:仅涉及一种质控规则而未同时涉及多个质控规则。
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附录2:质量控制规则控制规则是解释控制数据和判断分析批控制状态的标准。
以符号A L表示，其中A是测定控制标本数或超过控制限（L)的控制测定值的个数，L是控制界限。
当控制测定值满足规则要求的条件时，则判断该分析批违背此规则。
例如，l2S 控制规则，其中A为一个控制测定值，L为±2s，当一个控制测定值超过±2s时，即判断为失控。
控制方法的核心是由检出随机和系统误差的控制规则组成。
常用控制规则常用控制规则的符号和定义如下：l2S 1个控制测定值超过±2s控制限。
传统上，这是在Shewhart控制图上的“警告”限，用在临床检验也常作为Levey—Jennings控制图上的警告界限。
见图9—1。
13S1个控制测定值超过±3s控制限。
此规则对随机误差敏感。
见图9—2。
22S 2个连续的控制测定值同时超过+2s或-2s控制限。
此规则主要对系统误差敏感。
见图9—3。
R4S 在同一批内最高控制测定值与最低控制测定值之间的差值超过4s。
此规则主要对随即误差敏感。
见图9—4。
31S 3个连续的控制测定值同时超过；+1s或-1s。
此规则主要对系统误差敏感。
见图9—5。
由Pfr决定控制界限的控制规则1Pfr 在一组N个控制测定值中，一个控制测定值超过由假失控概率(Pfr)决定的控制限。
例如，10.05指的是一个控制测定值超过由0.05的假失控概率Pfr 决定的控制限。
对于此类规则，控制限随N增加而加宽(见表9—1中所列的控制限系数)。
2Pfr 在—组N个控制测定值中，两个连续的控制测定值同时超过由假失控概率Pfr决定的控制限。
例如，20.05控制规则指的是两个连续的控制测定值超过由0.05的Pfr决定的控制限。
此类控制限随N增加而加宽(见表9—1)。
pfr 一组N个控制测定值的平均数，超过由假失控概率Pfr决定的控制限。
例如，0.05平均数控制规则，指的是N个控制测定值的平均数，超过由0.05的假失控概率Pfr决定的控制限。
实际的控制限随N增加而变窄，在维持Pfr恒定的情况下，此类规则的控制限随N增加而变窄(见表9—1)。
R Pfr在—组N个控制测定值中，最高和最低控制测定值之间的差值(极差)超过由假失控概率Pfr决定的单侧控制限。
例如，R0.05极差规则指的是N个控制测定值中，最高和最低值的差值超过由0.05的Pfr决定的控制限。
控制限随N增加而加宽来维持Pfr的恒定(见表9—1)。
X2 Pfr S2obs(N—1)/s2比值超过由假失控概率Pfr决定的临界卡方值。
其中S obs是从监测分析批控制测定值中计算的标准差，s是稳定测定过程的标准差。
例如，X20.05卡方规则，其选定的控制限维持0.05的假失控概率。
临界卡方值随N和选定的假失控概率Pfr而变化(见表9—1)。
此外还有X20.01，X20.05卡方规则。
控制规则控制测定值个数2346810121620A．由标准差计算控制界限的系数10.052.242.392.52.642.742.812.862.943.0210.012.812.933.013.133.213.273.313.383.7510.0023.273.363.443.523.593.643.663.723.7520.051.011.221.331.471.561.621.671.741.820.011.471.641.741.861.932.02.032.092.1420.0021.862.012.092.192.262.32.342.42.440.0 51.391.130.980.80.690.620.570.490.440. 011.821.491.291.050.910.820.740.650.580. 0022.191.781.541.261.090.980.890.770.69R0.052.773.313.634.034.294.474.624.845.01R0.013.644.124.44.764.995.165.295.55.65R0.0024.374.85.055.375.585.755.86.066.2S0.0031.841.861.811.711.641.581.541.481.43B.从平均极差计算控制界限的系数R0.0033.272.572.282.01.861.781.721.641.590. 0031.881.020.730.480.370.310.270.210.18C.X2检验临界值X20.055.997.819.4912.5915.5118.3121.0326.3031.41X20.019.2111.3413.2816.8120.0923.2126.2232.0037.57X20.00 510.5912.8314.8318.5421.9525.1828.3034.2639.99累积和规则CS：累积和(CUSUM)控制规则计算控制测定值与k值之差，并且求和即得出累积和，然后由图形方法(V型摸板)，或数值控制限(决定限累积和)来判断“累积和”(CUSUM)。
决定限累积和方法进行控制时，需要规定特定控制物的平均数和标准差；同时还需要规定进行开始累积和计算的水平(k)，以及累积和的数值控制限(h)。
表9—2中列出数据实例，阐明决定限累积和方法如何工作。
其中a＝100，s＝5.0 ,k值为95(低水平，k l)和105(高水平，k u)，控制界限为±13．5(上和下控制界限，h l和h u)。
当控制结果超出k值时，第一次开始计算累积和，在本例中，当获得第4个结果时。
计算控制结果与k值的差(d i)，然后将连续的差值求和给出累积和(CSi)。
当累积和改变符号时，，如表中第7个观测值，则终止累积和计算直到其中之—的k值再次被超出。
在第10个观测值，再次计算累积和，到第14个观测值，累积和超出控制界限（h l=—13.5）。
说明分析方法失控。
当纠正干扰后，方法重新开始，累积和在零点重新开始。
表9—2 累积和计算实例，其中a=100，s=5.0，k1=95，ku=105，hu=13.3，hl=-13.5控制测定值编号控制值di CSi说明11042983102410833开始累积和计算510947 610618796—9—1结束累积和计算8104 9981089—6—6开始累积和计算1192—3—91292—3—121394—1—131493—2—15失控累积和值能绘制在单独的累积和控制图上，如图9—14所示。
这种控制图必须与表9—2中的记录数据同时使用。
完成这种控制图是简单的，但是它需要花大量的精力进行表格记录和作控制图。
当累积和方法与休哈特控制图同时使用时尤其明显。
累积和方法被概括为以下步骤：(1)从以前的控制数据获得平均数(a)和标准差(s)的估计值，(2)计算k值(ku＝a+1．0s，k l＝a—1.0s)和控制限(h u=2.7s，h l=-2.7s)，(3)当控制值在k值之间(即是a±1.0s)时，无需处理，(4)当控制值超过ku，或小于k l时，开始累积和的计算，dj＝xj—k＝CSj，(5)对于其他的数据点，连续计算di和CSi，(6a)当CSi改变符号时，终止计算，直至第4步重新出现，(6b)当CSj超过控制限(上限或下限)时，则判断为失控。
累积和控制规则有三种情况：标志k-线控制限第四节趋势分析趋势分析(TrendAnalysis)最初由Trigg's提出，采用Trigg's轨迹信号(Trigg'sTrackingSignal)对测定方法的误差进行监控。
此种轨迹信号可反映系统误差和随机误差的共同作用，但不能对此二者分别进行监控。
其后，Cembrowski 等单独处理轨迹信号中的两个估计值，使之可对系统误差和随机误差分别进行监控，其—即为“准确度趋势”(均数)指示系统—Trigg's平均数规则，其二即为反映随机误差的“精密度趋势”(标准差)指示系统—Trigg's方差卡方规则。
趋势分析与传统的Shewhart控制图在表面上有类似之处，即用平均数来监测系统误差．而用极差或标准差来监测随机误差。
然而，在趋势分析中，平均数(准确度趋势)和标准差(精密度趋势)的估计值是通过指数修匀(exponential smoothing)方法获得的。
指数修匀要引入权数来完成计算，而测定序列的每一次测定中，后一次测定的权数较前一次为大，因此增加了对刚刚开始趋势的响应，起到了“预警”和“防微杜渐”的作用。
(一)Trigg's轨迹信号Trigg's轨迹信号＝修匀预测误差(SFE)／平均绝对偏差(MAD)。
与其有关的基本数学关系如下。
通过指数修匀获得的平均值估计值称为修匀平均数(sm—mean)。
在测定序列中每一次测定的sm—mean，由公式9—1进行计算：sm—mean＝a×(新的一次控制测定值)+(1—a)×(前sm—mean) (9—1)式中a是修匀系数，由控制测定值个数(N)决定，a＝2／(N+1)，(0<a＝1)。
由上述计算公式可知，最近的控制测定值由a加权，倒数第二个最近控制测定值由a(1—a)加权，倒数第三个最近控制测定值由。
a(1—a)2加权，等等。
若a为0.2，则最近的控制测定值的权数为0.2，按逆顺序，前面的控制测定值的权数依次为0.16，0.128等等。
对于标准差可进行类似的计算，但其计算更加复杂，因为必须首先计算新的控制测定值与平均数估计值之间的差，而该差值则被称为预测误差。
预测误差＝新的控制测定值一前sm—mean (9—2)修匀预测误差(SFE)＝a×(新的预测误差)十(1—a)×(前修匀预测误差) (9—3)预测误差通过指数修匀计算处理得出精密度估计值，称为平均绝对偏差(MAD，Mean Absolute Deviation)。
MAD＝a×(新的预测误差)—(1—a)×(前MAD) (9—4) 最后可得：轨迹信号=修匀预测误差(SFE)/平均绝对偏差(MAD)) (9—5) 一般把轨迹信号在95%和99%可信水平定为警告和失控的界限(见表9—3)。
N a警告界限失控界限50.330.710.82100.200.610.80150.100.410.54200.100.410.54(二)Trigg's平均数规则(Pfr=0．01。
Pfr＝0．002)此规则主要用于监测系统误差，即是趋势分析中“准确度趋势分析”指示系统。
在应用此规则时，最初开始计算修匀平均数(sm—mean)的“前sm—mean’，实际上即为质控物测定值的平均数(T—mean)。