HAST加速老化箱与HALT和HASS的关系及背景情况
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HAST加速老化箱与H ALT和H ASS的关系及背景情况以往，环境试验被作为一种产品预期要经受外场实际环境的
模拟试验。
研制产品时通常把技术条件规定的应力极限值作为鉴定或考核产品的条件。
但是，即使已顺利通过了设计阶段的鉴定试验和生产阶段的验收试验，残留的潜在缺陷仍然很多，大量产品使用时可靠性差，平均故障间隔时间（MTBF）短，外场返修频繁，导致担保费用、维修费用居高不下，用户或客户不满意，严重影响研制部门和制造厂商的信誉。
传统的可靠性试验（包括环境应力筛选（ESS）、可靠性增长试验和可靠性鉴定试验等）大多也是在模拟环境下进行的试验，以ESS 为例，最早电子产品的E SS是根据美国海军1979年NAVMAT-P9492《生产筛选试验大纲》确定的。
温度范围一般采用技术条件规定的上下限，温度循环次数由产品的复杂程度决定，如表1所示。
随机振动采用梯型谱，20～80Hz为+3db/OCT，80～350Hz, 为功率谱密度0.02～0.04g2/Hz的平直谱,350～2000Hz为3db/OCT，振动时间为单向10mi n，三向时每向5min。
90年制定的国军标GJB1032《电子产品环境应力筛选方法》参照《MIL-STD-2164-85》，强调无故障检验要求，规定环境应力筛选应包含两部分试验。
第一部分为缺陷剔除试验（尽可能激发故障、并修复），要求完成40h温度循环和5min随机振动。
第二部分为无故障检验试验，以验证筛选的有效性，其应力量级与第一部分试验相同，要求完成80h 温度循环中连续40h循环无故障和15m in中连续5min无故障振动试
验。
每一次循环时间约4h，变温率为5℃/min，振动要求与早期标准相一致。
可靠性增长试验则选用模拟现场实际的综合环境条件进行。
GJB1407-92《可靠性增长试验》规定可靠性增长的总试验时间一般为（5～25）MTBF。
这些试验费用昂贵，试验时间长，而价格和研制周期已成为当今市场激烈竞争的焦点。
因此研究开发一种快速、经济、有效的新的可靠性试验（H AST试验箱）方法已势在必行。