集成运放参数测试仪

集成运放性能参数测试仪

一、集成运放性能参数测试仪性能指标

工作电压：±15V

V IO：测量范围：0～40mV（＜小于3%读数±1个字）；

I IO：测量范围：0～4μA（＜3%读数±1个字）；

A VD：测量范围：60dB～120dB±3dB；

K CMR：测量范围：60dB～120dB±3dB；

输出频率：5Hz

输出电压有效值：4 V

频率与电压值误差绝对值均小于1%；

二、设计思路：

本设计以单片机STC89C52为控制核心，利用数模转换器ADS1110以及继电器，为切换开关，对被测量信号进行采样，通过单片机处理完成对运算放大器LM741的UIO，IIO，AVC，KCMR等参数的测量。并通过系统显示接口，利用液晶显示装置将测试的结果进行显示，同时本系统还能通过键盘进行人机交流，实现按下一个按键就可以对该运放的某个参数进行测试。

三、系统结构图

四、方案比较与选择：

主控芯片部分

方案一：采用STC89C52单片机。优点是芯片结构简单，使用相对容易；缺点是不带AD转换电路，需要外接AD转换芯片，测量精度相对较低。

方案二：采用凌阳SPCE061A单片机。优点是自带AD转换模块，测量精度相对较高，能进行音频处理等多种智能化功能；缺点是结构复杂，使用起来相对繁琐。

由于此方案的核心内容在测试电路部分，主控芯片的选择对结果的影响相对较小，综合以上芯片的性能以及自身的情况，选择使用相对简单的STC89C52单片机。

信号发生器的选择

方案一：利用传统的模拟分立元件或单片压控函数发生器

MAX038，可产生三角波、方波、正弦波，通过调整外围元件可以改变输出频率、幅度，但采用模拟器件由于元件分散性太大，即使用单片函数发生器，参数也与外部元件有关，外接电阻电容对参数影响很大，因而产生的频率稳定度较差、精度低、抗干扰能力差、成本也较高。

方案二：采用ICL8038芯片产生信号。优点是电路简单，波形好，控制方便，缺点是频率有限。

由于需要的频率不宽，综合以上考虑，选择电路简单，波形好，控制方便，精度和抗干扰能力更强的ICL8038作为信号发生器。

显示模块的选择

方案一：采用液晶显示模块SVM12864（LCD）。占用I/O口多，控制复杂，但可以显示汉字和简单图形等，功能强大

方案二：采用液晶显示模块1602。占用I/O口少，控制简单，每行可显示16个字符。

虽然SVM12864功能相对强大，但是采用1602更为合理。因为需要显示的参数不多，且都是英文字母和数字，因此选择控制简单的1602液晶显示模块。

五、测量原理

2.1 失调电压Vios

理想运放当输入电压为零时，其输出电压也为零，但实际运放电路当

输入电压为零时，其输出端仍有一个偏离零点的直流电压Vios。这是由于运放电路参数不对称所引起的（在室温25度和标准电源电压下）为了使这一输出直流电压Vios 为零，必须先在输入端加一个直流电压作为补偿电压! 以抵消偏离零点的输出电压。这个加在输入端的电压即为输入失调电压Vios（显然Vios越小，说明运算放大器参数的对称性越）

2.2 失调电流Iio

运放的输入偏置电流是指运放输入级差分对管的基极电流IB1，IB2，其中IB1指同相输入端基极电流，IB2指反相输入端基极电流运放的输入失调电流是指当运放输出电压为零时，两个输入端静态电流的差值，即Iio=IB1- IB2"（显然：Iio的存在将使输出端零点偏移! 信号源阻抗越高，失调电流的影响越严重）

2.3 共模抑制比K C M R

表征运放对共模信号抑制能力的参数叫共模抑制比! 用KCMR表示。KCMR定义为差模电压增益Avd 和共模电压增益Avc 之比，即KCMR = Avd/Avc。运放对共模信号有很强的抑制能力。

2．4 开环放大倍数的测量

即输出电压与输入电压的比值。

六、电路设计

3.1 失调电压VIO测量电路

输入失调电压的测量原理如图1所示：图中直流电路通过RI和RF接成

闭合环路，通常RI的取值不超过100欧测量电路：

测量方法：

根据输入失调电压的定义得：

3.2 失调电流IIO测量电路

测量电路：

和上面一样，

则：

3.3 共模抑制比KCMR 测量电路

测试原理如图所示,由于RF>>RI，电路对差模信号的增益很大，该闭环电路对差模信号的增益AvD= RF/RI。共模信号的增益AvC=

（VO/VS)。因此，只要从电路上测出VO 和VS，即可求出共模抑制比KCMR = Avd/Avc

3．4 开环放大倍数的测量

测量电路如图。

实际的测量电路：

由于考虑到输出处会有自激震荡产生，因此在OP177的输出口和正向输入端加上一个电容，用以消除自激震荡的影响。

实现各个测量电路的转换，我使用继电器、通过单片机对引脚的置位来改变开关的通断以及接通的相应电路。

S1、S2闭合，S3、S4接地时，测量失调电压；

S1、S2断开，S3、S4接地时，测量失调电流；

S1、S2闭合，S3接信号源，S4接地时，测量共模抑制比；

S1、S2闭合，S3接地，S4接信号源时，测量开环放大倍数。

以下为其他模块的电路：

1．整流转换电路：

2．单片机控制及液晶显示模块电路：

3．信号发生电路

电路总图:

由于原理图的元件库中没有ADS1110、继电器、ICL8038等元件，

因此这些元件都需要自己手动画元件，这也是画图中存在的最大问题。要将该元件的引脚与实际元件的引脚要对应。可以说，在画原理图的过程中没有存在很大的障碍。

六、软件仿真

仿真软件使用的是multisim2001。

在明确了软件以后，就着手进行各个部件的仿真。由于集成运放性能参数测试仪的核心内容为测量电路部分，控制以及整流部分对于电路来说只是起到一个辅助和提高测量准确度的作用，因此，仿真内容的重点也在于此。本次仿真只针对测量电路进行，验证测量电路方案的准确与否。下面就对四部分测量电路进行仿真。仿真内容中的被测量集成运算放大器为LM741，将测量结果与LM741元件的提供参数作对比，即可以对比测量的参数与元件所给的参数是否相同或接近，从而确定测量电路是否正确，以及电路测试参数的准确性。下面开始仿真。

1．输入失调电压的仿真：