高碳铬铁或硅铁中磷含量的X射线荧光压片检测方法[发明专利]

专利名称：高碳铬铁或硅铁中磷含量的X射线荧光压片检测方法
专利类型：发明专利
发明人：吴秀才
申请号：CN201610987706.0
申请日：20161110
公开号：CN106706689A
公开日：
20170524
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开了一种高碳铬铁或硅铁中磷含量的X射线荧光压片检测方法，该X射线荧光压片检测方法包括：1)将标准样和检测样进行压片；2)通过X射线荧光法检测多个标准样的荧光分析强度Kcps；接着以标准样中的磷含量为横坐标、荧光分析强度Kcps为纵坐标绘制工作曲线或者计算出工作曲线方程；3)通过X射线荧光法检测检测样中荧光分析强度，接着通过纵坐标绘制工作曲线或者计算出工作曲线方程计算出检测样的磷含量；其中，标准样和检测样同为高碳铬铁或硅铁；在步骤1)中，压片具体步骤为：将待压片的物质与微晶纤维素混合并研磨，接着以硼酸为填充剂以进行压片，相对于1重量份的微晶纤维素，标准样或检测样的用量为3‑15重量份。

通过该方法能够快速、稳定、准确地检测高碳铬铁或硅铁中的磷含量。

申请人：芜湖新兴铸管有限责任公司
地址：241000 安徽省芜湖市三山区经济开发区春洲路2号
国籍：CN
代理机构：北京润平知识产权代理有限公司
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