x射线衍射电子衍射中子衍射
最新材料结构表征重点知识总结
第一章，绪论材料研究的四大要素：材料的固有性质，材料的结构，材料的使用使用性能。
材料的固有性质大都取决于物质的电子结构，原子结构和化学键结构。
材料表征的三大任务及主要测试技术：1、化学成分分析：质谱，色谱，红外光谱，核磁共振；2、材料结构的测定，X射线衍射，电子衍射，中子衍射；3、形貌观察：光学显微镜，电子显微镜，投射显微镜。
第二章，红外光谱及激光拉曼光谱2.1红外光谱的基本原理红外光谱的定义：当一束具有连续性波长的红外光照射物质时，该物质的分子就有吸收一定的波长红外光的光能，并将其转变为分子的振动能和装动能，从而引起分子振动—转动能级的跃迁，通过仪器记录下来不同波长的透射率的变化曲线，就是该物质的红外吸收光谱。
中红外去波数范围（4000—400cm-1）简正振动自由度（3n-6或3n-5）及其特点：3n-6是分子振动自由度3n-5是直线分子的振动自由度特点：分子质点在振动过程中保持不变，所有的原子都在同一瞬间通过各自的平衡位置。
每个简谐振动代表一种振动方式，有它自己的特征频率简正振动的类型：1、伸缩振动2、弯曲振动分子吸收红外辐射必须满足的条件：主要振动过程中偶极矩的变化、振动能级跃迁几率2.2红外光谱与分子结构红外光谱分区：官能团去（4000-1330cm-1）指纹区（1330-400cm-1）基团特征频率定义：具有相同化学键或官能团的一系列化合物有共同的吸收频率，这种频率就叫基团特征频率影响因素，内部因素：诱导效应，共振效应，键应力的影响，氢键的影响，偶合效应，费米共振；外部因素：物态的变化的影响，折射率和粒度的影响，溶剂的影响诱导效应：在具有一定极性的共价键中，随着取代基的电负性不同而产生不同程度的静电诱导作用，引起分子中电荷分布的变化，从而改变了键的常熟，使振动的频率发生改变，这就是诱导效应。
2.3红外光谱图的解析方法普带的三个特征：1位置：基因存在的最有用的特征；2形状：有关基因存在的一些信息；3相对强度：把红外光谱中一条普带的强度和另一条谱带相比，可以得出一个定量的概念影响谱图质量的因素：1仪器参数的影响；2环境的影响：空气湿度，样品污染等;3厚度的影响（要求10——50um）2.7激光拉曼光谱基本概念：拉曼散射：人射光照射在样品上，人射光子与样品之间发生碰撞有能量交换称为拉曼散射斯托克斯线：拉曼散射中，散射光能量减少，在垂直方向测量到散射光中，可以检测到频率为（）的线，称为斯托克斯线。
南开大学材料学院结构分析课后题答案(XRD、中子衍射、电子衍射)
结构分析唐老师部分作业汇总第一次作业1、请写出晶体的定义。
试说明什么是单晶体?什么是多晶体？定义：质点（原子、离子或分子)在空间按一定规律周期性重复排列构成的固体物质。
基本为一个空间点阵所贯穿的整块固体称单晶体，简称单晶；由许多小单晶按不同取向聚集形成的固体称多晶。
2、晶格与点阵是何关系?晶体结构与点阵、结构基元是何关系？原子参数与阵点坐标是何关系？晶体是由原子、离子或分子在空间按一定规律周期性重复地排列所构成的固体物质，将其中周期性排列的重复单元抽象成在空间以同样周期性排列的相同几何点,这些点所构成的阵列称为点阵（lattice)，或空间点阵、空间格子。
沿三个不同的方向，通过点阵中的点阵点可以作许多平行的直线族和平行的晶面族，使点阵形成三维网格。
这些将点阵点全部包括在其中的网格称为晶格.带有原子、离子、分子或其集团的点阵就是晶格。
晶体结构= 点阵+ 结构基元对于点阵点坐标和原子参数，它们对于3个坐标轴的方向是相同的，但是点阵点坐标的度量单位是点阵周期，而原子参数的度量单位是晶胞参数.3、晶体的晶胞类型共分为哪几种？空间格子（点阵)可分为几类？每一类晶系各有多少种空间点阵格子形式?请分别写出.晶胞是描述晶体微观结构的基本单元,有素晶胞和复晶胞之分。
如果点阵点都处于平行六面体的顶点,每个平行六面体只有一个点阵点，此空间格子称为素格子,以P表示；如果体心还有点阵点，则此空间格子称为体心格子，以I表示；如果所有平面格子中心有点阵点，则称为面心格子，以F表示;如果仅一对相对的平面格子中心有点阵点，则此空间格子称为底心格子,视相对面位置分别以A, B或C表示。
晶体分为7个晶系(立方、六方、四方、三方、正交、单斜和三斜），依据特征对称元素和正当点阵单位的划分规则,晶体的点阵分为14种空间点阵型式：简立方(cP)、体心立方（cI）、面心立方(cF)、简六方（hP)、简四方（tP)、体心四方(tI）、R心六方(hR)、简正交(oP)、C心正交(oC)、体心正交（oI)、面心正交（oF）、简单斜(mP)、C心单斜（mC）和简三斜(aP)）。
5.2 X射线衍射
实验5.2X射线衍射一、引言物相分析中的衍射方法包括X射线衍射、电子衍射和中子衍射三种，其中X射线衍射方法使用最广、最为经常，它包括德拜照相法、聚焦照相法和衍射仪法等，本实验重点介绍衍射仪法。
二、实验目的1.掌握物相定性分析基本方法。
2.掌握XD-3AX射线衍射仪的使用。
三、实验原理任何结晶物质，无论它是单晶体还是多晶体，都具有特定的晶体结构类型、晶胞大小、晶胞中原子、离子或分子数目的多少，以及它们所在的位置，因此给出特定多晶体X射线衍射花样，更明确地说，一种多晶物质，无论是纯相还是存在于多相混合试样中，它都给出特定的衍射花样、事实上没有两种不同的结晶物质可以给出完全相同的衍射花样，正如不可能找到指纹全然相同的两个人一样。
另一方面，未知混合物的花样是混合物中各相物质衍射花样的总和，每种相的各衍射线条的值、相对强度不变，这就是能用X射线衍射方法作物相定性分析（物相鉴定）的基础。
l|J-JJ|_|IIAT>。
表1是一张KNbO 3的X 光粉末衍射卡片，卡片右上角注明物质的化学式及其物质名称，左上方给出该物质的衍射花样中以强弱顺序排列的最强三条线的d 值及其相对强度，并给出最大的d 值（即由低角方向算起的第一条衍射线的d 值）及其相对强度，卡片的左下方四栏内分别注明实验条件（例如：射线波长、滤色片的种类、相机种类及尺寸、强度的测量方法等）；物质的晶体学数据（如晶系、点阵常数、晶轴间夹角等）；光学及其物理性质数据，以及样品来源、化学分析数据、化学处理方法等。
在卡片的右下方给出此衍射相图中全部衍射线条的d 值及其相对强度，还给出每条衍射线的S 玄）指数。
四、实验仪器本实验主要仪器是XD-3AX 射线衍射仪。
UW5!芸冬taJd定在是Hana 、参考。
无国际性为三 三内昌r«i""二_-__,■H—!3DETi «T3 SK3r-Mr-CJ C3Ch=0。
与bs■H—i1—i-!—S1—i 1^3三-!!="!—!r~^~»^―!■=—■■=*3=p-i C"!i —■-s-!E~3-!—!-!—!-Z'-JS"'=«■□>-■-a —■hll _T H —!■!—■n—!"stj -O -J <^jG 」rrjr*3c*ae二_j-二上一、.j-r j-工era 三bi s_n cnin5"sr-K_n 无—•■J*3hjr —Fo_i g^-i 勺sa«n-z«-jsn aa g-z*aua ^—•二SD roa «-FLD mr«3r=an_i<*a «—■-t-s-^―Tdlo 」o 」llTll 1111111111二一三二二至工一二二三二=在三mu 二艮一S • 音T IJ富Ttnz ■（寸照，这种方法;数据作为基本彳一组衍射数据、为有机和无机二PDS ），这个了查寻与盟釜兰玉女-En营莫三LH刍WW二二F5Ww―Im图1衍射仪构造方框图1.XD-3AX射线衍射仪。
晶胞参数的测定
晶胞参数的测定晶胞参数指的是确定晶体结构的一组关键参数，通常包括晶格常数和晶胞角度。
正确测定晶胞参数对于理解晶体结构以及相关性质的研究非常重要。
本文将介绍一些常用的测定晶胞参数的方法，并探讨这些方法的精确性。
测定晶胞参数的方法主要分为实验方法和计算方法两类。
实验方法主要是通过实验手段直接测量晶体的晶格常数和晶胞角度，包括X射线衍射、中子衍射、电子衍射和红外光谱等。
计算方法则是根据晶体的结构信息，通过理论推导或计算进行计算。
X射线衍射是一种常用的测定晶胞参数的方法。
该方法利用X射线与晶体中电子的相互作用来确定晶胞参数。
首先需要通过旋转摄影技术获得测量晶体的衍射图样，然后通过衍射图样的分析计算得到晶体的晶格常数和晶胞角度。
X射线衍射具有分辨率高、准确性好的特点，可以测定晶胞参数的精确值。
中子衍射是另一种常用的测定晶胞参数的方法。
中子衍射与X射线衍射原理类似，也是通过中子与晶体中原子核的相互作用来测定晶胞参数。
与X射线相比，中子的相互作用更多地受到原子核的散射影响，因此能够提供更多的信息。
中子衍射需要借助中子源，包括核反应堆和中子发生器等，因此实验条件更为复杂，但是能够得到更准确的晶胞参数信息。
电子衍射是测定晶胞参数常用的方法之一，特别适用于纤维状和表面薄层晶体的测定。
电子衍射通过电子束与晶体中原子的相互作用来测定晶胞参数，可以获得与中子衍射类似的信息。
电子衍射实验简单，仪器成本低，常用于非晶态样品或晶体的肌理分析。
红外光谱通过测量光谱吸收来间接获得晶体的晶格常数信息。
红外光谱是基于物质分子在吸收红外波长的辐射时，分子中的化学键发生振动的现象。
晶体中原子之间通过共价键结合，因此晶体的振动频率与晶格常数存在一定的关联。
通过观察晶体的红外吸收峰位移以及其强度变化，可以推测晶格常数的变化。
计算方法是测定晶胞参数的另一个重要途径。
计算方法主要是通过理论推导或计算来获得晶体的晶胞参数。
例如，基于密度泛函理论的第一性原理计算方法能够通过电子结构计算来获得晶体的晶胞参数。
x射线衍射、电子衍射、中子衍射
物质结构的解析，准确说是晶体的结构解析，不可避免需要使用X射线衍射(XRD),中子衍射或电子衍射三种技术当中的一种。
三者各有优缺点，面对具体问题，一般只有一种技术是最有说服力的最佳选择，但是具体什么样的问题使用哪一种技术最有说服力？很多结构分析的朋友认识的不透彻，我经常看见有些人使用不是很有说服力的技术去尝试解决实际问题而闹出笑话而自己不自知：比如声称使用XRD精确确定氧、炭或氢的原子位置；比如认为中子衍射得到的晶格常数最可信；又比如以为选区电子衍射(TEM-SAD)的标定能精确得到晶格常数信息，等等。
所以这里笔者在这里抛砖引玉式的尝试探讨：哪一种衍射技术对于什么样的解结构问题最有说服力？为什么？在对这些问题展开讨论之后，小结在最后将会被给出。
希望大家在我的话题后面踊跃发表不同观点，如果我有什么疏漏、错误之处，还望不吝指教，笔者这里先多谢了！首先来谈谈X-射线、中子、和电子衍射的源-- X-ray,中子和电子的同和异。
最为突出的相同点，搞晶体结构分析的人都非常清楚，即他们都具有波动性，满足基本的波动规律--布拉格公式(Bragg Law)：2d*sinθ=nλ(n是自然数)。
前面已经明确本文的动机，所以这里着重分析它们的差异。
i)表观上的差异，X-ray是光子(电磁波)、不带电没有磁性，电子带负电，中子不带电、质量较大而且具有磁性，这些是显而易见的常识，不多说。
ii)本质上的差异，参考图1所示：X射线是电磁波，没有静止质量，均匀介质中速度不变，波动行为在时空上的dispersion呈现简单的线性关系；而电子、中子是物质波，具有质量，均匀介质中运动速度可以变化，时空上的dispersion呈现平方项。
正是这样的本质差别导致波长(动量)与频率(能量)之间的关系在电磁波(这里是X-ray)和物质波(这里是电子、中子)之间的截然不同。
当然，物质波在运动速度接近光速的时候其dispersion会发生本质的转变，转变点如图1所示，不过这样的情况在实际的结构分析中碰不到，所以不用担心电子/中子在和光子的dispersion完全一致时的异常，反正迄今还没有见过这样的实验。
如何表征晶体结构
如何表征晶体结构晶体结构是指晶体中原子、离子或分子的排列方式和周期性。
它是晶体的基本特征之一，也是晶体材料性质的重要决定因素。
对于材料科学研究和应用而言，准确地表征晶体结构是非常重要的。
晶体结构的表征方法有很多种，其中最常用的方法是X射线衍射。
X射线衍射是利用X射线与晶体相互作用的现象，通过对衍射的X 射线的方向和强度进行测量和分析，可以得到晶体的结构信息。
X 射线衍射的原理是根据晶体中原子的周期性排列，入射的X射线会被晶体中的原子散射，形成衍射图样。
通过解析衍射图样，可以得到晶体的晶胞参数、晶格类型和原子位置等信息。
除了X射线衍射，还有其他一些方法可以用来表征晶体结构。
例如，中子衍射可以用来研究晶体中的轻元素和磁性物质；电子衍射可以用来研究纳米晶体和表面结构等。
此外，还有一些间接的方法可以用来确定晶体结构，如X射线荧光光谱、红外光谱和拉曼光谱等。
对于晶体结构的表征，还可以从晶体的几何结构和对称性两个方面进行描述。
晶体的几何结构包括晶胞参数、晶胞形状和原子位置等；而对称性则描述了晶体中原子的排列方式以及晶格的对称性元素。
晶体的对称性可以分为平移对称性、旋转对称性和反射对称性等。
通过对晶体的几何结构和对称性的描述，可以得到晶体的空间群和点群等信息。
晶体结构还可以通过晶体学坐标系来进行表征。
晶体学坐标系是一种特殊的坐标系，它以晶胞的基矢为坐标轴，描述了晶体中原子的位置和晶格的结构。
晶体学坐标系包括直角坐标系、倒易空间坐标系和晶体学指数等。
晶体结构的表征是材料科学中非常重要的一部分。
通过X射线衍射、中子衍射、电子衍射等方法，以及对晶体的几何结构、对称性和晶体学坐标系的描述，可以准确地获得晶体结构的相关信息。
这些信息对于研究和应用晶体材料具有重要意义，有助于理解晶体的性质和改进材料的性能。
几种常见晶体结构分析
几种常见晶体结构分析晶体结构分析是研究晶体的空间结构和原子排列方式的科学方法。
通过晶体结构分析，可以确定晶体的晶系、晶胞参数和原子位置等重要的结构信息。
晶体结构分析方法主要包括X射线衍射、电子衍射和中子衍射等。
一、X射线衍射：X射线衍射是最常用的晶体结构分析方法。
它利用X射线与晶体中的原子发生相互作用后发生衍射现象，通过收集和测量衍射光的强度和角度等信息，可以推断晶体中原子的位置和排列方式。
1.单晶X射线衍射：单晶X射线衍射是一种通过测量单个晶体中的衍射光来推断晶体结构的方法。
这种方法需要得到高质量的单晶样品，并使用X射线源和衍射仪器对单晶样品进行测量，得到全息图样品的X射线衍射图案。
通过分析衍射图案的形状和强度，可以确定晶体的晶系、晶胞参数和原子位置等结构信息。
2.粉末X射线衍射：粉末X射线衍射是一种通过测量晶体样品中的多个晶粒的衍射光来推断晶体结构的方法。
这种方法适用于非晶态样品或无法得到高质量单晶样品的情况。
在粉末X射线衍射中，晶体样品首先被粉碎成细粉末，然后通过X射线衍射仪器测量粉末的衍射光。
通过分析衍射光的谱线形状和位置，可以得到晶体的晶胞参数和结构信息。
二、电子衍射：电子衍射是一种利用电子束与晶体中的原子发生相互作用后发生衍射现象来推断晶体结构的方法。
电子衍射通常借助透射电子显微镜（TEM）来观察和测量晶体样品的衍射图案。
通过分析衍射图案的形状和强度，可以确定晶体的晶系、晶胞参数和原子位置等结构信息。
电子衍射由于电子波的波长较短，能够分辨比X射线衍射更小的晶体和结构细节。
三、中子衍射：中子衍射是一种利用中子束与晶体中的原子发生相互作用后发生衍射现象来推断晶体结构的方法。
中子衍射和X射线衍射类似，但由于中子与晶体的相互作用较X射线更复杂，所得到的衍射图案在一定程度上可以提供更多的结构信息。
中子衍射通常借助中子源和衍射仪器进行测量，通过分析衍射图案的形状和强度，可以确定晶体的晶胞参数、原子位置以及磁性和动力学等信息。
X射线衍射与电子衍射比较讲解学习
X射线衍射与电子衍射比较采用波长小于或接近于其点阵常数的电子束照射晶体样品，由于入射电子与晶体内周期地规则排列的原子的交互作用，晶体将作为二维或三维光栅产生衍射效应，根据由此获得的衍射花样研究晶体结构的技术，称为电子衍射。
1电子衍射和X射线衍射一样，也遵循布喇格公式2dsinθ＝λ（见X射线衍射）。
当入射电子束与晶面簇的夹角θ、晶面间距和电子束波长λ三者之间满足布喇格公式时，则沿此晶面簇对入射束的反射方向有衍射束产生。
电子衍射虽电子衍射与X射线衍射有相同的几何原理。
但它们的物理内容不同。
在与晶体相互作用时，X射线受到晶体中电子云的散射，而电子受到原子核及其外层电子所形成势场的散射。
除以上用布喇格公式或用倒易点阵和反射球来描述产生电子衍射的衍射几何原理外,严格的电子衍射理论从薛定谔方程Hψ＝Eψ出发,式中ψ为电子波函数，E表示电子的总能量，H为哈密顿算子，它包括电子从外电场得到的动能和在晶体静电场中的势能。
2电子衍射和X射线衍射一样，可以用来作物相鉴定、测定晶体取向和原子位置。
由于电子衍射强度远强于X射线，电子又极易为物体所吸收，因而电子衍射适合于研究薄膜、大块物体的表面以及小颗粒的单晶。
此外，在研究由原子序数相差悬殊的原子构成的晶体时，电子衍射较X射线衍射更优越些。
会聚束电子衍射的特点是可以用来测定晶体的空间群（见晶体的对称性）。
物质结构的解析，准确说是晶体的结构解析，不可避免需要使用X射线衍射(XRD),中子衍射或电子衍射三种技术当中的一种。
三者各有优缺点，面对具体问题，一般只有一种技术是最有说服力的最佳选择，但是具体什么样的问题使用哪一种技术最有说服力？很多结构分析的朋友认识的不透彻，我经常看见有些人使用不是很有说服力的技术去尝试解决实际问题而闹出笑话而自己不自知：比如声称使用XRD精确确定氧、炭或氢的原子位置；比如认为中子衍射得到的晶格常数最可信；又比如以为选区电子衍射(TEM-SAD)的标定能精确得到晶格常数信息，等等。
晶型测定方法学研究
晶型测定方法学研究引言：晶体是固态物质中最有序的结构形式之一，其晶型具有重要的物理、化学和生物学意义。
因此，准确测定晶体的晶型对于科学研究和工程应用具有重要意义。
本文将介绍几种常用的晶型测定方法，并探讨其原理和应用。
一、X射线衍射法X射线衍射法是最常用的晶型测定方法之一。
它基于晶体对X射线的衍射现象，通过测量衍射角度和强度，可以得到晶体的晶格参数和晶型信息。
X射线衍射法主要分为粉末衍射和单晶衍射两种。
粉末衍射适用于无定形样品或粉末样品，而单晶衍射适用于具有较大晶体的样品。
二、电子衍射法电子衍射法是一种利用电子束和晶体进行相互作用的方法，通过测量衍射斑的位置和强度，可以得到晶体的晶格常数和晶型信息。
电子衍射法通常使用透射电子显微镜(TEM)或场发射电子显微镜(FESEM)进行实验。
相比于X射线衍射法，电子衍射法可以获得更高的分辨率和更详细的晶体结构信息。
三、中子衍射法中子衍射法是一种利用中子束和晶体进行相互作用的方法，通过测量衍射斑的位置和强度，可以得到晶体的晶格参数和晶型信息。
中子衍射法的特点是对轻元素和磁性材料具有较好的敏感性，因此在某些特殊情况下，中子衍射法比X射线衍射法和电子衍射法更适用。
四、原子力显微镜(AFM)和扫描电子显微镜(SEM)原子力显微镜和扫描电子显微镜是两种常用的表面形貌观察方法，它们可以通过扫描样品表面，获得样品的形貌和晶体结构信息。
AFM主要用于测量样品的三维形貌，可以实现纳米级的分辨率。
而SEM则主要用于测量样品的二维形貌，可以实现亚纳米级的分辨率。
结论：晶型测定方法学研究是晶体学领域中的重要研究内容。
本文介绍了几种常用的晶型测定方法，包括X射线衍射法、电子衍射法、中子衍射法以及原子力显微镜和扫描电子显微镜。
这些方法各有特点，可以根据不同的需求选择合适的方法进行晶型测定。
通过这些方法，我们可以深入了解晶体的结构和性质，为科学研究和工程应用提供有力支持。
晶格常数测量的研究及其在材料物理中的应用
晶格常数测量的研究及其在材料物理中的应用晶体学是材料学的重要分支之一，研究物质的晶体结构和性质，其中晶格常数是晶体学中的一个基本概念。
晶格常数决定了晶体的结构和性质，因此测量晶格常数是材料学中非常重要的研究内容之一。
本文将就晶格常数的测量方法、研究现状以及应用领域进行探讨。
一、晶格常数的测量方法晶格常数是晶体结构的基本参数之一，表示晶体中原子或分子排列的周期性重复，是晶体学研究的基础。
晶格常数的测量方法主要有X射线衍射法、电子衍射法、中子衍射法等。
其中最常见的是X射线衍射法，下面着重介绍此方法。
X射线衍射法是利用材料对X射线的散射现象来确定晶格常数。
通过将X射线照射在晶体表面，不同晶面对X射线的反射角度不同，因此不同晶面的衍射光线会在一定角度内形成衍射环，根据衍射环的半径可以计算出晶格常数。
在实验中，常使用曲线拟合法或者利用布拉格公式进行计算。
二、晶格常数的研究现状随着计算机技术和实验设备的不断升级，晶格常数的测量精度也不断提高，目前已经可以实现微米级别的精度。
同时，在晶格常数的研究领域中，也涌现出了一些新的研究内容。
下面简要介绍几个典型的研究内容。
1. 晶格参数与结构相变的关联晶体在温度或者压力等外部条件的变化下，会发生结构相变。
在相变前，晶格参数的小幅度变化可以引起晶体的局部畸变，从而导致晶体结构的相变。
因此，研究晶格参数的变化与结构相变之间的关系，有助于揭示相变机制和设计新材料。
2. 晶格参数对材料性能的影响晶格常数决定了晶体的结构和性质，因此研究晶格参数对材料性能的影响，可以为材料设计和性能优化提供重要依据。
如晶格参数与材料的热膨胀系数和热导率等物理性质密切相关。
3. 晶格参数的微尺度测量研究微观尺度的晶格参数变化，是一些新兴领域的研究重点之一。
如纳米材料中的晶格常数需要通过高分辨率的透射电子显微镜等技术进行测量，这对材料物理领域的研究具有重要意义。
三、晶格常数在材料物理中的应用晶格常数的测量和研究，不仅是晶体学理论的重要内容，同时也在材料物理学中发挥着重要的应用作用。
射线衍射进展简介
射线衍射进展简介射线衍射技术是一种用于研究物质结构和性质的重要手段，近年来取得了显著的进展。
本文将围绕射线衍射的基本概念、发展历程、最新研究成果以及应用领域展开讨论。
射线衍射是一种基于X射线、电子束或中子束等射线与物质相互作用的现象。
当射线通过物质时，会受到散射和吸收等作用，其传播方向和振幅会发生变化。
通过对这些变化进行测量和分析，可以获得物质内部的结构和性质信息。
射线衍射技术自20世纪初被发现以来，经历了多个发展阶段。
起初，射线衍射技术主要用于晶体结构分析，随后逐渐拓展到非晶态物质、复杂系统和生物大分子的研究。
随着计算机技术和实验技术的不断发展，射线衍射技术也在不断创新和进步，例如出现了粉末衍射、小角散射等新的实验方法，以及数字化实验数据采集和处理等技术。
近年来，射线衍射技术取得了许多新的研究成果。
例如，新的衍射成像技术如极化相位板成像和ptychography技术的发展，使得射线衍射在复杂系统研究方面更加精准和高效。
此外，射线衍射技术还被广泛应用于材料科学、生命科学、工程技术等领域，为科学研究和社会发展做出了重要贡献。
射线衍射技术在材料科学中广泛应用于研究材料的晶体结构、相变、材料表面与界面等方面的内容。
在生命科学领域，射线衍射技术用于解析生物大分子如蛋白质、核酸等结构，揭示生命活动的基本过程。
在工程技术领域，射线衍射技术主要用于质量检测、材料特性表征等方面，对于产品研发和生产过程中的质量控制具有重要意义。
总之，射线衍射技术作为物质科学研究的重要手段，在近年来取得了显著的进展。
随着科学技术的发展，射线衍射技术将会有更多的创新和突破，为科学研究和工业应用带来更多价值。
未来，射线衍射技术的发展将主要集中在实验技术的改进、计算方法的优化以及多维度复杂系统的研究等方面。
此外，随着纳米科技、生物技术等新兴领域的快速发展，射线衍射技术的应用范围也将进一步拓展，有望在解决实际问题和社会发展需求方面发挥更大的作用。
晶体结构知识点
晶体结构知识点晶体结构是凝聚态物理学中的重要基础概念，它描述了晶体内部的原子或离子排列方式。
晶体结构的研究对于理解物质性质以及材料科学的发展具有重要意义。
本文将介绍晶体结构的基本概念、常见的晶体结构类型以及晶体结构的表征方法。
一、晶体结构的基本概念晶体是一种具有高度有序排列的固体物质，其内部的原子、离子或分子按照一定的规则排列。
晶体结构主要包括晶胞、晶格、晶格常数和晶体中的基元等概念。
1. 晶胞晶胞是晶体结构中的最小重复单元，它是通过平移操作进行重复填充整个晶体空间的基本单位。
晶胞可以是立方体、正交体、单斜体、菱形体等不同形状。
2. 晶格晶格是由晶胞堆积形成的空间结构，描述了晶体内原子或离子排列的规则性、周期性和对称性。
晶格对称性的不同将决定晶体的晶系，包括立方晶系、正交晶系、单斜晶系、菱形晶系、三斜晶系、四方晶系和六方晶系等。
3. 晶格常数晶格常数是指晶体结构中晶胞的参数，包括晶格常数a、b、c和晶胞间的夹角α、β、γ。
它们的数值可以通过实验测量或者计算得到，是描述晶体几何结构的重要参量。
4. 基元基元是指晶体结构中的最小组成单位，可以是原子、离子或分子。
晶胞中的所有基元通过晶格的平移操作进行重复填充，形成整个晶体。
二、常见的晶体结构类型根据晶体中原子、离子或分子的排列方式，可以将晶体结构分为多种类型。
以下介绍几种常见的晶体结构类型：1. 立方晶系最简单的晶体结构类型是立方晶系，其晶胞为正方体。
立方晶系包括简单立方晶体、体心立方晶体和面心立方晶体。
在简单立方晶体中，原子只位于晶胞的角点；在体心立方晶体中，除了角点上的原子，还有一个原子位于晶胞的中心；而在面心立方晶体中，除了角点上的原子，还有六个原子位于晶胞的六个面心。
2. 正交晶系正交晶系的晶胞为长方体，晶胞中的边长和夹角可以不相等。
正交晶系包括了许多工程材料，如金属、陶瓷等。
3. 六方晶系六方晶系是由六边形晶胞构成的晶体结构，其中晶胞的底面为六边形，晶胞高度可以与底面边长不同。
晶体结构解析
晶体结构解析晶体结构是指物质的原子、分子或离子在空间中有序排列的方式。
通过对晶体结构的解析，我们能够深入了解物质的性质和行为。
本文将介绍晶体结构解析的基本原理、方法和应用。
一、晶体结构解析的基本原理晶体结构解析基于X射线衍射原理。
当经过晶体的X射线束照射晶体时，晶体中的原子、分子或离子会对X射线进行散射。
由于晶体的有序性，X射线的散射会产生干涉，形成衍射图案。
通过测量和分析衍射图案，可以得到晶体的结构信息。
二、晶体结构解析的方法1. X射线衍射方法X射线衍射方法是最常用的晶体结构解析方法。
它分为单晶X射线衍射和粉末X射线衍射两种技术。
单晶X射线衍射适用于样品为单个晶体的情况，可以得到高分辨率的晶体结构信息。
粉末X射线衍射适用于样品为晶体颗粒的混合物，通过对衍射图案的整体分析，可以获得晶体的统计结构信息。
2. 电子衍射方法电子衍射方法利用电子束照射晶体并观察其衍射图案来解析晶体结构。
相比X射线衍射，电子衍射具有更高的分辨率和更强的散射能力。
因此，电子衍射方法在解析具有较小晶格常数或较高散射能力的晶体结构方面更具优势。
3. 中子衍射方法中子衍射方法利用中子束照射晶体并观察其衍射图案来解析晶体结构。
中子的散射能力介于X射线和电子之间，对于特定的晶体样品，中子衍射方法可以提供更丰富的结构信息。
三、晶体结构解析的应用晶体结构解析在材料科学、物理学、化学等领域有着广泛的应用价值。
以下是几个常见的应用领域：1. 新材料开发通过晶体结构解析，可以了解新材料的原子或分子排列方式及其与性能之间的关系，从而指导新材料的合成和设计。
例如，在能源领域，通过解析锂离子电池正负极材料的晶体结构，可以优化其储能性能。
2. 催化剂设计晶体结构解析可以揭示催化剂表面的原子结构和活性位点，从而指导催化剂设计和优化。
通过控制催化剂的晶体结构，可以提高催化反应的效率和选择性。
3. 药物研发晶体结构解析在药物研发中起着至关重要的作用。
通过解析药物晶体的结构，可以确定药物与靶标的结合方式，为药物的改进和设计提供依据。
金属材料的晶体结构分析
金属材料的晶体结构分析金属材料作为重要的结构材料，其性能与其晶体结构密切相关。
晶体结构分析可以揭示金属材料的微观组织及其物理性质的起源。
本文将介绍金属材料的晶体结构分析方法、常见的晶体结构类型以及晶体缺陷的影响。
一、金属材料的晶体结构分析方法金属材料的晶体结构分析可以通过多种方法进行。
下面将介绍常用的晶体结构分析方法。
1. X射线衍射X射线衍射是一种常用的晶体结构分析方法。
通过将X射线照射到金属材料上，观察其衍射图样，可以得到材料的晶体结构信息。
这是因为X射线在晶体中的衍射受到晶体原子间的排列和晶体平面的间距等因素的影响。
2. 电子衍射电子衍射是以电子束代替X射线来照射样品进行衍射分析的方法。
电子衍射具有高分辨率和灵敏度的优势，可以用于研究金属材料的晶体结构以及晶体缺陷。
3. 中子衍射中子衍射是利用中子束照射样品进行衍射分析的方法。
中子具有波长和能量与晶体结构相匹配的特点，可以透射或散射到晶体中，通过测量散射角度和强度等信息来分析晶体结构。
二、金属材料的晶体结构类型金属材料的晶体结构可以分为多种类型，下面将介绍几种常见的晶体结构类型。
1. 面心立方结构（FCC）面心立方结构是一种常见的金属晶体结构。
在该结构中，晶体的顶点和每个面的中心都有原子存在。
这种结构具有高密度和良好的塑性，常见于铝、铜、银等金属中。
2. 体心立方结构（BCC）体心立方结构是另一种常见的金属晶体结构。
在该结构中，晶体的顶点处有原子，同时晶体的中心也有一个原子存在。
这种结构具有较高的强度和韧性，常见于铁、钴、钽等金属中。
3. 密排六方结构（HCP）密排六方结构是一种特殊的金属晶体结构。
在该结构中，晶体的顶点和面的中心都有原子存在，呈现出六边形的密排模式。
这种结构常见于钛、锆等金属中。
三、金属材料晶体缺陷的影响晶体缺陷是晶体结构中存在的不完美区域，对金属材料的性能和性质产生重要影响。
1. 点缺陷点缺陷是晶体结构中最简单的缺陷，例如晶格中原子的缺失或位错。
X射线衍射 电子衍射 中子衍射的差异
X射线衍射电子衍射中子衍射首先来谈谈X-射线、中子、和电子衍射的源-- X-ray,中子和电子的同和异。
最为突出的相同点，搞晶体结构分析的人都非常清楚，即他们都具有波动性，满足基本的波动规律--布拉格公式(Bragg Law)：2d*sinθ=nλ(n是自然数)。
前面已经明确本文的动机，所以这里着重分析它们的差异。
i)表观上的差异，X-ray是光子(电磁波)、不带电没有磁性，电子带负电，中子不带电、质量较大而且具有磁性，这些是显而易见的常识，不多说。
ii)本质上的差异，参考图1所示：X射线是电磁波，没有静止质量，均匀介质中速度不变，波动行为在时空上的dispersion呈现简单的线性关系；而电子、中子是物质波，具有质量，均匀介质中运动速度可以变化，时空上的dispersion呈现平方项。
正是这样的本质差别导致波长(动量)与频率(能量)之间的关系在电磁波(这里是X-ray)和物质波(这里是电子、中子)之间的截然不同。
当然，物质波在运动速度接近光速的时候其dispersion会发生本质的转变，不过这样的情况在实际的结构分析中碰不到，所以不用担心电子/中子在和光子的dispersion完全一致时的异常，反正迄今还没有见过这样的实验.下面进入正题，分别讨论X射线衍射、中子衍射和电子衍射具有哪些其他技术所不能匹敌的优势，在最后综合比较时兼谈相应的不足。
1、XRD具有其他两种技术所不能比拟的地方是它能最准确的测定晶胞参数。
如图2所示，在精确确定晶胞参数这点上，中子衍射最不可取，一方面因为中子衍射波长practically相对较长，另一方面中子衍射波长的校准很难做的很理想，所以中子衍射的结果容易偏离真实值而且分散较大。
电子衍射之选区衍射技术，角度(这里通过相机常数转化成distance)探测的精密性受限制(比不上XRD的成熟技术)，况且多数时候靠人眼去分辨，加上相机长度、标尺的误差，很难得到精确标定；电子衍射之会聚束电子衍射(CBED)，在精密性上相对选区要高，但CBED存在的不足,CBED 测定一个微区晶格参数，而这个晶格参数很大程度上受到strain的影响，以至于不容易获得标准晶格参数。
浅析X射线衍射、中子衍射和电子衍射技术差异
浅析X射线衍射、中子衍射和电子衍射技术差异Handsomeland（大陆）物质结构的解析，准确说是晶体的结构解析，不可避免需要使用X射线衍射(XRD),中子衍射或电子衍射三种技术当中的一种。
三者各有优缺点，面对具体问题，一般只有一种技术是最有说服力的最佳选择，但是具体什么样的问题使用哪一种技术最有说服力？很多结构分析的朋友认识的不透彻，我经常看见有些人使用不是很有说服力的技术去尝试解决实际问题而闹出笑话而自己不自知：比如声称使用XRD精确确定氧、炭或氢的原子位置；比如认为中子衍射得到的晶格常数最可信；又比如以为选区电子衍射(TEM-SAD)的标定能精确得到晶格常数信息，等等。
所以这里笔者在这里抛砖引玉式的尝试探讨：哪一种衍射技术对于什么样的解结构问题最有说服力？为什么？在对这些问题展开讨论之后，小结在最后将会被给出。
希望大家在我的话题后面踊跃发表不同观点，如果我有什么疏漏、错误之处，还望不吝指教，笔者这里先多谢了！首先来谈谈X-射线、中子、和电子衍射的源-- X-ray,中子和电子的同和异。
最为突出的相同点，搞晶体结构分析的人都非常清楚，即他们都具有波动性，满足基本的波动规律--布拉格公式(Bragg Law)：2d*sinθ=nλ(n是自然数)。
前面已经明确本文的动机，所以这里着重分析它们的差异。
i)表观上的差异，X-ray是光子(电磁波)、不带电没有磁性，电子带负电，中子不带电、质量较大而且具有磁性，这些是显而易见的常识，不多说。
ii)本质上的差异，参考图1所示：X射线是电磁波，没有静止质量，均匀介质中速度不变，波动行为在时空上的dispersion呈现简单的线性关系；而电子、中子是物质波，具有质量，均匀介质中运动速度可以变化，时空上的dispersion 呈现平方项。
正是这样的本质差别导致波长(动量)与频率(能量)之间的关系在电磁波(这里是X-ray)和物质波(这里是电子、中子)之间的截然不同。
测量晶体结构的物理实验技术详解
测量晶体结构的物理实验技术详解晶体结构是物质内部排列的有序几何体，对于理解物质的性质和应用具有重要意义。
为了揭示和研究晶体结构，科学家们发展出了多种物理实验技术，包括X 射线衍射、电子衍射和中子衍射等。
本文将对这些技术进行详细的介绍。
一、X射线衍射技术X射线衍射技术是最常用的测量晶体结构的方法之一。
它利用X射线的波动性和探测器记录的衍射图案来推断晶体的周期性排列。
通过测量不同入射角度下探测到的衍射峰的位置和强度，可以推导出晶体中原子的相对位置和晶胞参数。
X射线衍射实验中，通常使用X射线发生器产生X射线束，然后将此束照射到样品上。
当X射线束穿过晶体时，由于晶体的周期性结构，出射的X射线将以特定的角度散射，形成衍射图案。
这些衍射峰的位置和强度与晶体结构的特征参数相关联。
二、电子衍射技术电子衍射技术是通过电子束与晶体相互作用产生的衍射现象来研究晶体结构的方法。
相比于X射线衍射技术，电子衍射技术能够研究更小尺寸的晶体，在无需复杂处理的情况下就能得到高分辨率的衍射图案。
电子衍射实验一般使用电子束枪产生电子束，然后通过透射电子显微镜照射在样品上。
样品中的晶体会散射入射电子束，形成衍射图案。
通过分析衍射图案的形状和强度分布，可以确定晶体的结构以及一些晶胞参数。
三、中子衍射技术中子衍射技术是利用中子与晶体相互作用产生的衍射现象来测量晶体结构的方法。
与X射线和电子相比，中子与晶体的相互作用更复杂，因此中子衍射技术在一些特定的研究领域中具有独特的优势。
中子衍射实验通常使用中子源产生中子束，然后通过样品中的晶体，中子将被晶体进行散射，形成衍射图案。
通过研究衍射图案的特征，我们可以了解晶体的结构、晶格常数以及原子间的相对位置。
总结测量晶体结构的物理实验技术包括X射线衍射、电子衍射和中子衍射等。
这些技术基于衍射现象，通过分析衍射图案的形状和强度来推导晶体的结构和特征参数。
每种技术都有其独特的优势和适用范围。
X射线衍射技术广泛应用于晶体结构研究中，其高分辨率和可靠性使其成为非常重要的工具。
电子衍射和中子衍射110315
众所周知，电子的波长可以用改变其速度的办法 来调节。当电子波长和晶体 dhkl 相当时，这样的电子 流照射晶体时也能发生衍射，所得的图像和 X 光衍射 是十分相似的。和 X 光衍射相比，电子衍射有如下不 同之处：
1）由于晶体强烈吸收电子波，它只能深 入到 20～25 个平面点阵，这也是电子衍射多数 用于表面结构分析的原因。
与X射线衍射相似，电子衍射也遵循布拉格方程，即 波长为λ的入射电子束与间距为d的点阵面之间的夹角θ满 足布拉格方程时，就会在与入射线成2θ角的方向上产生衍 射。晶体的各组衍射面产生的衍射斑构成了有一定规律的 衍射花样。单晶试样产生的衍射图样是按一定周期规则排 布的斑点，多晶试样则产生若干半径不等但同心的衍射环， 而非晶体物质的衍射花样只有一个漫散的中心斑点。
一、电子衍射基本原理
1、德布罗意波
1924年德布罗意提出：运动的实物粒子(如电子、质子等) 都有一种波与之对应，并认为粒子的特征波长与动量(p) 之间的关系应当与光子的相同，联系这种波的关系式是:
h h
(1)
p mv
式中是物质波的波长，h是普朗克常数，p是粒子的动量， m是运动粒子的质量，v是它的速度。(1)式称为德布罗意 波的关系式。
电子衍射有许多重要应用。通常将电子衍射分 为高能电子衍射和低能电子衍射。前者所需的电压 高达几十万、甚至几百万伏，后者所需加速电压则 低于1000 V。
单晶薄片的高能电子衍射图呈点状分布，分析 衍射图，可获得晶体的对称性、晶胞大小和形状、 单晶缺陷及相变等信息。多晶样品的高能电子衍射 图是一系列同心圆，根据实验条件＆衍射图给出的 数据，利用有关公式，即可求得晶体的面间距。
• 2、将dEi与卡片上或d值表中查得的dTi比较，如吻合记下相应 的{hkl}i
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
物质结构的解析，准确说是晶体的结构解析，不可避免需要使用X射线衍射(XRD),中子衍射或电子衍射三种技术当中的一种。
三者各有优缺点，面对具体问题，一般只有一种技术是最有说服力的最佳选择，但是具体什么样的问题使用哪一种技术最有说服力？很多结构分析的朋友认识的不透彻，我经常看见有些人使用不是很有说服力的技术去尝试解决实际问题而闹出笑话而自己不自知：比如声称使用XRD精确确定氧、炭或氢的原子位置；比
如认为中子衍射得到的晶格常数最可信；又比如以为选区电子衍射(TEM-SAD)的标定能精确得到晶格常数信息，等等。
所以这里笔者在这里抛砖引玉式的尝试探讨：哪一种衍射技术对于什么样的解结构问题最有说服力？为什么？在对这些问题展开讨论之后，小结在最后将会被给出。
希望大家在我的话题后面踊跃发表不同观点，如果我有什么疏漏、错误之处，还望不吝指教，笔者这里先多谢了！
首先来谈谈X-射线、中子、和电子衍射的源-- X-ray,中子和电子的同和异。
最为突出的相同点，搞晶体结构分析的人都非常清楚，即他们都具有波动性，满足基本的波动规律--布
拉格公式(Bragg Law)：2d*sinθ=nλ(n是自然数)。
前面已经明确本文的动机，所以这里着重分析它们的差异。
i)表观上的差异，X-ray是光子(电磁波)、不带电没有磁性，电子带负电，中子不带电、质
量较大而且具有磁性，这些是显而易见的常识，不多说。
ii)本质上的差异，参考图1所示：X射线是电磁波，没有静止质量，均匀介质中速度不变，波动行为在时空上的dispersion呈现简单的线性关系；而电子、中子是物质波，具有质量，均匀介质中运动速度可以变化，时空上的dispersion呈现平方项。
正是这样的本质差别导致波长(动量)与频率(能量)之间的关系在电磁波(这里是X-ray)和物质波(这里是电子、中子)之间的截然不同。
当然，物质波在运动速度接近光速的时候其dispersion会发生本质的转变，转变点如图1所示，不过这样的情况在实际的结构分析中碰不到，所以不用担心电子/中子在和光子的dispersion完全一致时的异常，反正迄今还没有见过这样的实验。
图1 电子、X-ray 和中子的时空dispersion对照图(本人制作
下面进入正题，分别讨论X射线衍射、中子衍射和电子衍射具有哪些其他技术所不能匹敌的优势，在最后综合比较时兼谈相应的不足。
1、XRD具有其他两种技术所不能比拟的地方是它能最准确的测定晶胞参数。
如图2所示，在精确确定晶胞参数这点上，中子衍射最不可取，一方面因为中子衍射波长practically相对较长，另一方面中子衍射波长的校准很难做的很理想，所以中子衍射的结果容易偏离真实值而且分散较大。
电子衍射之选区衍射技术，角度(这里通过相机常数转化成distance)
探测的精密性受限制(比不上XRD的成熟技术)，况且多数时候靠人眼去分辨，加上相机长度、标尺的误差，很难得到精确标定；电子衍射之会聚束电子衍射(CBED)，在精密性上相对选区要高，但CBED存在的不足,CBED测定一个微区晶格参数，而这个晶格参数很大
程度上受到strain的影响，以至于不容易获得标准晶格参数。
而XRD，尤其是高能同步辐射XRD，在精密确定晶胞参数上，具有着不可替代的优势，以至于当今的晶体结构信息库中的晶格参数大多采用XRD的结果。
为了给读者增加一些感性认识，举例说明如下：如
果拿标准Si粉(比如SRM640, a = 5.4307 A，at R.T.)，我们使用以下几种技术定量来比较标准差(standard error，σ)：
i)SR_XRD (同步辐射XRD,比如100 MeV, 波长0.0001A)，σ原则上可以非常小，但实际标准样品本身的a值误差约在0.001A，所以practically，σ~0.001A；
ii)Cu-alpha_XRD (8 keV, 波长1.54 A),波长相对较长，但利用宽角度细扫(2θ：1~100deg, 0.005 step, 2万个数据点)，充分利用多个衍射峰信息，使用全谱拟合，practically, σ~0.01A的精度；
iii)电镜--哪怕是你提到的xstem？--多晶选区衍射环(300 keV, 波长约0.02A)，波长相对Cu-a较小，但是衍射角很小，在当前现有技术下，在0.01~ 1deg之间我们能探测的最多点数是很受限制的，况且多数时候靠人眼去分辨，加上相机长度、标尺的误差，我没有见过通过电镜衍射得到σ小于0.1A的标定。
iv)如果是中子衍射的晶胞参数存在0.5A的差异也是不稀奇的。
图2 不同衍射技术测定晶格常数的"精"&"准"性对照图(本人制作): 三者相对而言，ND 既不精也不准；ED-SAED准而不精，ED-CBED精而不准；XRD既精又准。
2、中子衍射具有的其他技术不可比拟的优势有原子核敏感和磁性结构敏感两点。
i)轻原子及同位素相对敏感，如图3所示，中子对于较轻的C,H,O及其同位素的散射显然比XRD更强，电子由于核内电子的库伦屏蔽效应，对较轻原子核及其同位素散射的敏感性也不如中子。
这里举个典型的应用是通过中子衍射谱的拟合准确确定氧化物结构中氧原子位置，如图4中石榴石晶体中子衍射谱的拟合结果。
图3 中子和X射线对不同原子散射能力对照示意图(文后附参考阅读iii)
图4 石榴石的中子衍射谱拟合(本人拟合的GSAS Tutorial的实验数据)
ii)磁性结构的精确确定，对于磁性材料，中子衍射谱中包含磁性离子及磁性结构信息，通过中子衍射特定峰位使用一定的模型拟合，可以，得到特定的磁性周期结构，比如图5所示通过中子衍射技术得到反铁磁氧化物BiFeO3的自旋波周期结构约为62nm，而这个信
息通过XRD或电子衍射是难以获得的。
图5 BiFeO3的磁性结构周期的中子衍射确定(from J. Phys. C: Solid State Phys.1982, 15, 4835-46)
3、电子衍射是微区结构测量的优势技术。
这里主要基于透射电镜(TEM)讨论，而反射高能电子衍射(RHEED)、低能电子衍射(LEED)、扫描电镜中的电子背散射衍射(EBSD in SEM)等等由于本人不熟，不敢妄论，如有这方面的专家，欢迎补充！尽管XRD和中子衍射在
微观区域结构成像上也有类似电子衍射的进展，但实际应用中在以下几个方面上远远不能和电子衍射技术比拟：
i)微观结构细节，如应变分布、取向分布、成分分布、界面结构等等。
ii)原子柱成像的高分辨显微技术(HRTEM)。
总的来说，本文要传达的一个信息是，XRD, ED, ND三种衍射技术中没有一种可以胜任其他技术的所有工作，
结构分析者在具体的问题分析中中有必要通过下面的建议选择最合适最有说服力的技术。
1、XRD简易高效，晶胞参数能定准，但得到的是宏观平均信息，而且细节结构尤其是轻原子不能准确确定；
2、中子衍射在确定轻原子、同位素和磁性原子的细节信息上功能最强，但晶胞参数最不
靠谱，而且使用不便，因为全世界能做中子衍射的单位屈指可数；
3、电子衍射总能在微区细节上显神通，但晶胞参数等定量结果不能作为标准，而且电子
衍射的制样困难，好的制样技术甚至比电镜操作本身更难以掌握。
附相关参考书几本：
i)Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, by V.K. Pecharsky and P.Y. Zavalij
ii)《电子衍射分析》by 黄孝瑛
iii)Solid-state spectroscopy-an introduction, by H. Kuzmany。