激光加工形成硅基上的氧化低维纳米结构的PL发光

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光电功能化的低维材料与器件研究

光电功能化的低维材料与器件研究

光电功能化的低维材料与器件研究光电功能化低维材料已成为当前材料科学研究和应用开发的热点领域之一。

低维材料是一类在一个或两个维度上尺寸极小的材料,具有独特的物理和化学特性。

与传统三维材料相比,低维材料的电子、光学、热学和力学性能更加优越,具有更宽的光谱响应范围和更高的效率。

光电功能化的低维材料和器件研究已成为国内外研究的热点和难点,其研究成果也已广泛应用于光电信息存储、光电控制、能源转换和生物医学等领域。

一、低维材料的分类与特性低维材料是在一个或两个维度上尺寸极小的材料,主要包括一维纳米线、二维薄膜和量子点等。

这些材料的特性包括:1. 电子性能:低维材料具有载流子与晶格耦合减弱、表面自由能增大、接触电势变化明显等电子性能特征。

这些特征促进了低维材料在太阳能电池、光电控制器等光电器件上的应用。

2. 光学性能:低维材料具有更宽的光响应范围、更高的量子效率和更小的逸出功。

这些特性对实现高效发光器件、太阳能电池、光电传感器等光电器件具有重要意义。

3. 热学性能:低维材料有更小的热容量和更大的界面效应,可用于制造热电转换器件,实现能源和热能的高效转换。

4. 力学性能:低维材料在弯曲和拉伸等情况下,会出现四面体效应和屈曲现象,其力学性能表现更为复杂。

这些特性在制造柔性电子设备和高强度材料等领域有重要应用。

二、光电功能化低维材料的制备低维材料的制备包括物理法、化学法和生物法等多种方式。

其中物理法包括真空蒸发、物理气相沉积和激光热解法等;化学法包括溶液法、气相沉积法和水热法等;生物法则是利用生物体系中的生物分子来制造低维材料或通过仿生学方法来合成低维材料。

近年来,通过表面修饰等手段,光电功能化低维材料多样性不断增强,使得低维材料的应用范围更为广泛。

例如,将金属氧化物、过渡金属硫化物、碳纳米管等多种材料与量子点、纳米线和薄膜等低维材料相结合,可以获得具有特殊性质和高效性能的光电功能化材料。

三、光电功能化低维材料的应用光电功能化低维材料在光电器件、能源转换和生物医学等领域的应用广泛。

硅基上低维结构的受激发光

硅基上低维结构的受激发光


要 : 54 m 激 光抽 运 纳晶硅 样品 时 , 用 1n 我们 观 测到表 面上氧 化 结 构在 62 m 和 64 m 处 的 9n 9n
尖锐 受激 发光 , 明显 的 闽值 行 为证 明 了它的 受激 辐射 特 性 。 纳 晶硅 氧 化 结 构通 过 激光 辐 照 和 其
Байду номын сангаас
退 火处理 来形 成 。解释 这种 受激 辐射 的模 型 已提 出, 中纳 晶硅 与氧 化 硅 之 间 的 陷 阱态起 着重 其
Z A G R n — o , N a-u ,Q N C a -a I h- n H N o gt WA G H i I h o i ,LU S i og a x jn r
( . e aoaoyo P o eet nTc nl yadA pi t n G i o nvri ,G i n 5 0 5 hn ; 1 K yLb r r f ht lc o ehoo n p lai , uz uU i sy uy g 0 2 ,C ia t o r g c o h e t a 5
互作 用是 主要 的。
在我们最近的工作 中, 硅基上 的受激发光来 自陷阱态 电子与空穴 的复合 ( 为无声子过程 ) 。我们用 54 m的激光束照射样 品时 , 64 m 和 62 m处出现两个尖锐的受激发光峰 , 1n 在 9n 9n 它们来 自硅基上的一些
fc t e xd fslc n a d p rusna o r sa ly a mp ra tr l a e bewe n o i e o i o n o o n cy tlp a n i o t n oe. i Ke wo d y r s:S i l td e s in,Ox d tu t e o i c n,Tr p Stts tmu a e miso i e sr cur fsl o i a ae

半导体制造技术期末题库参考答案

半导体制造技术期末题库参考答案

(1) 、杂质分布形式:在表面浓度 Cs 一定的情况下,扩散时间越长,杂质 主要特点: 扩散的就越深,扩到硅内的杂质数量也就越多。
x 2 Dterfc 1 (2)、结深: j
CB A Dt Cs
x2
Cs 4 Dt C ( x, t ) | x ,t e (3)、杂质浓度梯度: x Dt
4、写出菲克第一定律和第二定律的表达式,并解释其含义。
费克第一定律 C 杂质浓度 D 扩散系数(单位为 cm2/s) J 材料净流量(单位时间内流过单位面积的原子个数) 解释:如果在一个有限的基体中杂质浓度 C(x, t)存在梯度分布,则杂质 将会产生扩散运动,杂质的扩散流密度 J 正比于杂质浓度梯度 C/ x,比 例系数 D 定义为杂质在基体中的扩散系数。 1、杂质的扩散方向是使杂质浓度梯度变小。如果扩散时间足够长,则杂质分布 逐渐变得均匀。 2、当浓度梯度变小时,扩散减缓。 3、D 依赖于扩散温度、杂质的类型以及杂质浓度等。 菲克第二定律
可得
代入第一定律方程则得到第二方程。即杂质在材料
中沿某一方向浓度随时间变化率是由于扩散所引起的。
5、以 P2O5 为例,多晶硅中杂质扩散的方式及分布情况。
由于 P2O5 的晶粒较大,因此主要形成 B 类分
6.分别写出恒定表面源扩散和有限表面源扩散的边界条件、初始条件、 扩散杂质的分布函数,简述这两种扩散的特点
如果假设扩散系数 D 为常数,这种假设在低杂质浓度情况下是正确的,则得
解释: 菲克第二定律即为一维扩散方程 沿扩散方向,从 x 到 x+Δx,面积为Δs 的一个小体积元内的杂质数量随时间的 变化情况。设在小体积元Δv=ΔxΔs 内的杂质分布是均匀的。体积元内的杂质 浓 度 为 C(x, t) , 经 过 Δ t 时 间 , 该 体 积 元 内 杂 质 变 化 量 为 ,杂质在 x 处的扩散流密度分别为 J(x,t)则 在 Δ t 时 间 内 通 过 x 处 和 x+ Δ x 处 的 杂 质 流 量 差 为 ,假设体积元内的杂质不产生也不消失,

低维纳米功能材料

低维纳米功能材料

(2) 在磁学性质方面的应用 当代计算机硬盘系统的磁记录密度超过1.55Gb/cm2,在这 情况下,感应法读出磁头和普通坡莫合金磁电阻磁头的磁致 电阻效应为3%,已不能满足需要,而纳米多层膜系统的巨 磁电阻效应高达50%,可以用于信息存储的磁电阻读出磁头, 具有相当高的灵敏度和低噪音。目前巨磁电阻效应的读出磁 头可将磁盘的记录密度提高到1.71Gb/cm2。同时纳米巨磁 电阻材料的磁电阻与外磁场间存在近似线性的关系,所以也 可以用作新型的磁传感材料。高分子复合纳米材料对可见光 具有良好的透射率,对可见光的吸收系数比传统粗晶材料低 得多,而且对红外波段的吸收系数至少比传统粗晶材料低3 个数量级,磁性比FeBO3和FeF3透明体至少高1个数量级, 从而在光磁系统、光磁材料中有着广泛的应用。
1·化学沉淀法 化学沉淀法是在金属盐类的水溶液中,控制 适当的条件使沉淀剂与金属离子反应,产生 水合氧化物或难溶化合物,使溶质转化为沉 淀,然后经分离、干燥或热分解而得到纳米 颗粒。该法可分为直接沉淀法、均匀沉淀法、 共沉淀法和醇盐水解法。
2.溶胶一凝胶法 溶胶一凝胶法是指金属有机或无机化合物经 过溶液、溶胶、凝胶而固化,再经热处理而 成为氧化物或其他化合物的方法。该方法可 实现分子水平的化学控制和介观水平的几何 控制,从而得到性能剪裁目的。
分子束外延(MBE) 在众多制备方法中,原子层沉积是当前被广 泛使用的一种方法,它可以制备大面积,均 匀性很好的薄膜,并且拥有对成膜速度的良 好控制。但是,它也有一些缺点,例如为了 获得均匀性良好的薄膜,必须在Si衬底上保留 一薄层Si02,这一层Si02对等效氧化层厚度 的减小无疑是个障碍。由于前驱体的使用, 剩余杂质的污染也是一个 严重的问题,它不 仅会影响器件的稳定性,甚至影响到薄膜的 结构特征。

多孔硅激光英文

多孔硅激光英文

第26卷 第4期2008年12月 贵 州 科 学GU IZHO U SC IENC E Vol.26,No.4Dec.2008收稿日期资助项目国家自然科学基金资助项目(6)作者简介黄伟其,男,贵州大学,教授1多孔硅激光黄伟其,张荣涛,王海旭,金 锋(贵州光电子技术与应用重点实验室,贵州大学 贵州 贵阳 550025)摘 要 我们用波长为1064n m的纳秒脉冲激光在硅表面打出小孔结构,然后再做高温退火处理形成了硅的纳米氧化低维结构1在514nm激光泵浦下,发现该结构在700n m和750n m处有很强的受激辐射发光(P L)1实验中发现:该PL发光有明显的阈值表现和激光增强效应,证明该P L发光确实是光致受激发射1计算給出氧化界面态模型来解释该光致受激发光机理,其中Si=O和Si2O2S的键合可以产生氧化陷阱态,关键在于该氧化陷阱态与价带顶空穴态之间能够形成粒子数反转1为硅基上激光器件的光电子集成研发开辟了新的途经1关键词:光致荧光;多孔硅;陷阱态中图分类号 O472.3 文献标识码 A 文章编号 1003-6563(2008)04-0012-06L ASER O N PO RO US S IHUAN G W ei-qi,ZHANG Rong-tao,WAN G H a i-x u,J I N F eng(Key Lab.of Phot oelectron Technology and Appli ca ti on,Guizhou Uni ve rsity,Guiy ang550025)ABSTRAC T The p h otol um inescence(P L)of nanocrystal present in porous silicon s hifts fro m t he near infra2red t o t he ultraviol e t depend i ng on the size when the s urface is passivated with Si2H bonds.After oxidati on,thecenter wavelength of P L band is p i nned in the region of700n m~750nm and its intensity inc rease s obvi ously.Ca lcula ti on sho ws that trap electronic st a tes appea r in the band gap of t he s ma lle r nanoc rystal when Si=Obonds or Si2O2Si b onds are for m ed.The change s in PL intensity and wave l ength can be ex p l a ined by both quan2tum confine m ent and trap state s in oxida tion layer of nan ocrysta l.In the t heore tica l mode l,the most i m portantfac t or in the enhancem ent and p inning effec t of P L em ission is the relative position bet ween the l eve l of the trapstate s and the lev e l of the phot oexc itati on in the silicon nanoc rystal.KEY W O RD S phot olu m inescence;porous silicon;trap st a tes1 I ntroduc ti o nOf all the f or m s of silicon containing nanocrystal,por ous silicon is the one that ha s a ttrac ted the most attention to date[1,2],mostly because of its intense visible photolu m inescence(P L).N u m er ous models have been p r oposed to exp lain its PL.Presently,although a deta iled understanding of the P L ha s yet t o be achieved[2],it is usua lly accep ted that the band gap opens as a result of quantu m confine m ent,which pushe s the P L in the visible band for:2008-02-18:1074002:nanocrystal .P L of nanocrysta l present in por ous silicon can be turned fr om the nea r infrared t o the ultravi olet when the surf ace is passiva ted with Si 2H bonds .After oxida tion,the centerwavelength of P L band isp inned in the r egion of 700nm ~750nm.M.V .W olkin pr opose a model f or exp laining the p inning wavelength eff ect which is r e lated to the trapp ing of an electr on by Si =O bonds tha t p r oduce localized levels in the bandgap of s m aller nanocrystals[3].I n our calculation the Si 2O 2Si bonds or Si =O bonds on the surface of nanocrystal can all pr oduce the tr ap states .I nW olkin ’s model,it is indicated tha t the quantum confine m ent alone can exp lain the P L on por ous nano 2c r ystals lar ger than 3nm (displaying red or orange e m issi on),and the oxidati on of the nanocrystal p lays an i mpor 2tant r ole as the nanoc r ystal size s ar e s m aller than 3nm.B ut it is different in Q in ’s model that t w o c ompetitive pr ocesse s take place in P L in which the oxidati on state s play a m ain r ole as the size of nanocrystal isla r ger than 3nm ,and the quantum confine m ent take s a dom inant affecti on as the size of nanoc r ystal is s m aller than 3nm [4].The 3nm is a c ritica l size in their models .W e think that the 3nm size is not i mportant and the r e la 2tive positi on bet ween the level of the tr ap states and the level of the phot oexcitati on in the silicon nanoc r ysta l is the most i m portant thing in our model .2 Exp e ri m e nta l p rocedureThe sample s used in the study were p repa r ed as f oll ow ing (A )and (B ),respectively .(A ).W e took som e Si of P 2type (100)orientedwafersw ith a 10220Ωc m as the silicon sa mp les .Having been c leaned in a Summ a cleaner (a m ixture of choline and m ethanol ),the silic on sample swer e prepared by anodizingin HF (49%):Ethanol (1∶1.5)for 15m in.Anodizing current density was about 100mA /cm 2.(B ).The silicon sa mp les were p r epared by anodizing in HF (49%):Ethanol (1∶1.5)f or 15m in unde r the ir 2radia tion of a la ser bea m (spot dia m eter :700μm )with 532nm wave length and 20mW powe r .A nodizing current density was about 60mA /c m 2.After etching,a ll sa mp les we r e rinsed in ethanol and then exposed t o air f or seve r al days .Scanning e lec tr on m icr oscopy (EP MA 21600)was used to obse r ve the oxidati on por ous structures on the sam 2ple s .The P L s pectr a of the sa mp les under the 514nm excita tion we r e m ea sur ed by using REN I S HA W R a man Sys 2te m s in which the spot dia m eter of lase r bea m f or exciting can reach t o 1μm.F ig .1(a )and (b )show the i mages of SE M on the sample s (A )and (B ),r e s pective ly .And their P L spectra a r e co mpa r ed in Fig .1(c ).Fig .1(b)shows a kind of condensed r ods structure in the r egion with irradia ting and anodizing on the sa mpleB.It is c lea r that the laser irradiati on makes the por ous layer c r ack,sc r e w and condensate into s om e r ods state .It is the r od that e m itsmore P L than that of the general por ous sa mp les as shown in Fig .1(c )because of increasing surface on the r ods lar gely and inc r easing por osities .3 C a lcula ti o n m e thodF or num erical calculations,we start fr om a supercell built by j oining f our cubic c 2Si cells on the x 2y plane,and then square e mp ty colum ns are dug a l ong the z 2direc tion by r emoving 13centre Si a t om s [5],which pr oduce a weight por osity of about 40%.The sur face dangling bonds are sa tur a ted by using hydr ogen and oxygen at om s,in or der to si m ulate different degrees of sa m ple oxidati on .This pore mode l based on supercells has the advantage of being si mple and e mphasize s the quantum confine m ent ef fect and def or m ati on of the str uc ture .The r e is pref e r entialf [1]y 2y ()22S f S 2T y 2q 2y T DFT y y x 31 4期 黄伟其,等:多孔硅激光gr owth o por e s al ong the c r stall ogr aphic directi ons in p t pe 001oriented c i wa ers .o we chose the a bove model .he e lec tronic behavi our is inve stigated in the work b an ab initio non relativistic uantum m echani cal anal sis .he calculati on were carried out b using the local densit appr o i m ation41贵 州 科 学 26卷 51 4期 黄伟其,等:多孔硅激光F i g .5 (a )A sha rp d i s tribu ti on m ode l fo r trap s ta te s by contro l ling oxida ti on on po r o usS i i n wh i ch the popu l a ti o n i nve rs i o n o cc ur p roba bly;(b )La se r on P o r o us S i (LDA )and nonlocal gradient 2correc ted exchange 2correla tion f uncti ona l (GG A )f or the self 2c onsistent t otal en 2e r gy calculati on .It is conside r ed tha t both LDA and GG A unde r esti m ate the band gap by 30%250%for sem icon 2duct ors and insulators .The ab initio calculati on in the study have been pe r f or med with the CASTEP code s deve l oped at Ca m bridge U 2niversity,UK,which is considered a s one of the p recise DFT plane 2wave pseudopotential p r ogra m s .The pore sur face is initially saturated by hydr ogen atom s,and during the oxida tion p r ocess they are gr adua lly substituted by oxygen at om s as shown in F ig .2and F ig .3.4 R e su lts and dis cus s i o nW hen nanoc r ystalline Si is oxidized,the Si 2Si or Si 2O 2Si bonds a r e likely to weaken or break because of the la r ge str e ss a t the distorti on surface a s shown in Fig .2(a)and (d)which involves thr ee unsaturated Si 2O 2bonds .Then the Si =O double bond is more likely to be for m ed and stabilize the interface,since it requires neither a la r ge def or m ation ene r gy nor an exce ss e le m ent,while the l ocalized state s are f or m ed in gap obvi ously .Fig .2(b )and (e )show the structure and the density of state s (DOS )in the por e supercell sa tur a ted by t wo Si =O bonds (r e sting one unsaturated Si 2O 2bond ).Fig .2(c )and (f )sho w the str uc tur e and the density of states (DOS )in the pore supe r cell satur a ted by three Si =O bonds (the other dangling bonds be ing satur a ted by hydr ogen a t om s ).On the other hand,the Si 2O 2Si bonds f or m ed on nanocrystalline Si can als o p r oduce the l ocalized states in gap a s shown in F ig .3.Accor ding to the Fourier transf or m infrar ed spec trosc opy (FTI R )[3],the oxide laye r on por ous Si nanocrystal involves the Si =O bonds and the Si 2O 2Si bonds .I n our model,if the Si nanocrystallite is passivated by oxygen,the l ocalized tra p states of electr ons (or even the trapped exciton )may be f or med on the Si =O bonds or Si 2O 2Si bonds .As shown in F ig .4,the model includes t wo syste m s:the left one is a tra p state syste m in the oxidati on layer in which the Si =O bonds and the Si 2O 2Si bonds de ter m ine the trapped electr on state energy which is size inde 2pendent,and the right one is a phot on pump syste m in the Si nanocrystal in which the leve l of the valence band val 2ley depends on nanocrysta l size by quantu m c onfine ment .The position of the tr ap sta tes is in the r egion of 1.5~2.1e V after considering the underesti ma tion of the band gap by the LDA and G G A ca lculation .I ,z f 3,f f L f f f x y f xy y F ()ff f L 61贵 州 科 学 26卷 n the model the critical si e o nm is not i mportant and it is the most i mportant ac t or or P p inning and enhancing that the leve l position o the trap states is l ower than tha t o the electr onic state s o the phot oe citati on in the nanoc r sta l a te r o gen passivit.ig .4a shows the obvious e ects o the P pinning and enhanc ing inwhich the elec tr ons fr om the va lley of the conductor band opened by quantum confine m ent are ra p idly caught into the trap states in gap,then the population inversi on bet ween the top of the valence band and the trap states is thuspossible due to the longer lifeti m e of the tr apped e lec tr ons [3].B ut as shown in F ig .4(b ),the PL p inning and en 2hancing eff ects disappear at all when the level positi on of the trap states is higher than that of the electr onic states of the photoexcita tion in the nanocr ystal .The process in F ig .4(c )is a conversion situa tion of PL pinning and enhan 2c ing in which only a botto m party of oxide states can capture the e lec tr ons in conductor band .After oxida tion,the energy of the oxide sta tes increase s slowly with deceasing of the nanocrystal siz e because of dist orti on which is different fr om the quantum confine m ent [3].For example,the 5n m nanocrystal after oxygen pas 2sivity relate s to about 1.5e V in the energy of the oxide states,and the s m aller nanoc r ysta l (<2nm )t o 2.1e V.The results can exp lain the P L p inning and enhancing effec t in s m aller nanocrystals and the little shift of PL wave length in larger nanocrystals .I n Fig .1(c ),the r ange of the P L band on the nanocrystal passivated with oxygen is fr om 600n m t o 830n m which sho w s that the agreement bet ween experi m ents and the ory is good .W e could make the trap states distribute t o a shar p regi on by contr olling oxidation in irradiation and annea ling a s shown in F ig .5(a)whose laser with three 2level or f our 2level syste m has been realized.Fig .5(b)shows the shar p em issi on sti m ulated in the lase r on por ous Si .5 Conc l u sionI n summ ary,the results in calculati on and expe ri m ent in the paper indicate tha t :(1)W hen the nanocrystal 2line Si is oxidized,the Si 2O 2Si bonds or Si =O bonds can pr oduce the trap states in gap;(2)W hen the band gap of Si nanocrystals opened by quantum c onfinement is w ider than the ga p bet ween the trap state and the valence band,the r ecombinati on of the electr on trapped in oxygen 2related loca liz ed sta tes and the hole on the va lence band (or even trapped exc iton )gene r a tes the P L p inning and enhancing effects;(3)The wavelength distributi on in P L band should be due t o the energy distributi on of the trap sta tes because the P L em issi on co m es fr om the jumping down of the electr ons in the tr ap states;(4)The shar p distributi on of the trap state s f or med by c ontr olling oxida tion in irradia tion and annealing could p r oduce a laser on por ous Si .A cknow ledg m en tThiswork wa s supported by the N ati ona l Na tur a l Science Founda tion of China .R e fe rence s[1] W.Q .Huang,S .R.Liu 1and Fen J i n 1Sti m ulated em issi on fro m trap e lectroni c state s in oxide of nan ocrysta l Si[J ]1Appl .Phy s .L ett .2008,92,2219101[2] S .G .Pavl ov,H .W.Hubers,J .N.Hovenier,Silicon donor and st okes terahertz lase rs[J ]1J.L u m in .2006,121,3041[3] M.V .Wol kin,J.Jorne,P .M.Fauche t,G .A llan,and C.Delerue 1Electr onic sta tes and l um i nescence i n porous silicon quantu mdots :the role of ox ygen[J ]1P hys .Rev .L ett .1999,82,197-2501[4] G .G .Q i n and G .Q in 1M ulti p le mechanis m mode l for phot olu m ine scence fro m oxidi zed por ous Si [J ]1P hys .Sta tus .Solid A ,2000,182,335-3391[5] W Q ,S R L 1L X 1S f x f y S []1y ,,53571 4期 黄伟其,等:多孔硅激光..H uang ..iu and i u ti m u l a ted em issi on r om trap e l ec tron ic state s i n o ide o nano cr stal i J J.App l .P h s .2007102017。

退火氧化生成的硅锗低维结构的光致发光性质

退火氧化生成的硅锗低维结构的光致发光性质
E— i:waIh i u 2@ 1 3 c r mal r ax 8 g 6 .o n
第 6期
王海旭 ,等 : 退火氧化生成 的硅锗低维结构 的光致发光性质
定位表征 , 其中采用了先进的样品倾斜定位法。
2 3 实验 结果 .
孔结 构 表 面在 74nn处 有 很 强 的 P 2 l L峰 , 图 2 如 () a 曲线 所示 , 发 光 非 常稳 定 ; 火 2 i , 且 退 0mn后
很 好 的基础 , 便于 实现硅 基上 的光 电子 集成 , 且较
2 实

2 1 样 品加工 .
砷镓材料有环保上的优势 ; 但是硅和锗是间接带 隙半导体, 不能较好地发出可见光, 只能发出红外 光, 并且发光效率很低 , 故限制了它们在光电子领
域 中的应用 。近 十 几年 来 , 内外很 多工 作组 为 国 了提 高硅和锗 的发光 性 能 , 用 制作 多 孔硅 的方 采
温炉 进行 2 3 ,5 6 ,0r n的退火氧 化处 理 。 0,0 4 ,0 9 i a
2 2 样 品检测 .
上形成 了具有 各种 P L发光 特性 的氧化低维 结 构, 并且发现样 品的 P 光谱 随退 火时问的改变 L 发生 了 明 显 的 变 化。参 照 Q 和 Q L 模 C CC 型 , 我们建立 了量 子受限一 晶体与氧化物界 面态综合模型来解释 P 发光的增强效应。该实 L
样不是很高, 近几年来发现激光辐照氧化和退
火 氧化 对 加工 硅 和锗 的低 维结 构 更 为 有 效 和 简
捷 。目前许多研究表 明: 无论是纳 晶硅 、 纳晶锗 , 还是多 孔 硅 发 光 , 发 光 机 理 都 与 氧 化 硅 层 其 相关 [ 1 。 62 -]

半导体材料的历史现状及研究进展(精)

半导体材料的历史现状及研究进展(精)

半导体材料的历史现状及研究进展(精)半导体材料的研究进展摘要:随着全球科技的快速发展,当今世界已经进入了信息时代,作为信息领域的命脉,光电子技术和微电子技术无疑成为了科技发展的焦点。

半导体材料凭借着自身的性能特点也在迅速地扩大着它的使用领域。

本文重点对半导体材料的发展历程、性能、种类和主要的半导体材料进行了讨论,并对半导体硅材料应用概况及其发展趋势作了概述。

关键词:半导体材料、性能、种类、应用概况、发展趋势一、半导体材料的发展历程半导体材料从发现到发展,从使用到创新,拥有这一段长久的历史。

宰二十世纪初,就曾出现过点接触矿石检波器。

1930年,氧化亚铜整流器制造成功并得到广泛应用,是半导体材料开始受到重视。

1947年锗点接触三极管制成,成为半导体的研究成果的重大突破。

50年代末,薄膜生长激素的开发和集成电路的发明,是的微电子技术得到进一步发展。

60年代,砷化镓材料制成半导体激光器,固溶体半导体此阿里奥在红外线方面的研究发展,半导体材料的应用得到扩展。

1969年超晶格概念的提出和超晶格量子阱的研制成功,是的半导体器件的设计与制造从杂志工程发展到能带工程,将半导体材料的研究和应用推向了一个新的领域。

90年代以来随着移动通信技术的飞速发展,砷化镓和磷化烟等半导体材料成为焦点,用于制作高速高频大功率激发光电子器件等;近些年,新型半导体材料的研究得到突破,以氮化镓为代表的先进半导体材料开始体现出超强优越性,被称为IT产业的新发动机。

新型半导体材料的研究和突破,常常导致新的技术革命和新兴产业的发展.以氮化镓为代表的第三代半导体材料,是继第一代半导体材料(以硅基半导体为代表和第二代半导体材料(以砷化镓和磷化铟为代表之后,在近10年发展起来的新型宽带半导体材料.作为第一代半导体材料,硅基半导体材料及其集成电路的发展导致了微型计算机的出现和整个计算机产业的飞跃,并广泛应用于信息处理、自动控制等领域,对人类社会的发展起了极大的促进作用.硅基半导体材料虽然在微电子领域得到广泛应用,但硅材料本身间接能带结构的特点限制了其在光电子领域的应用.随着以光通状态所需的能量。

低维纳米材料的制备与性能研究

低维纳米材料的制备与性能研究

低维纳米材料的制备与性能研究随着科技的发展和人类对材料的不断探索,一种新型的材料正在逐渐走进我们的生活——低维纳米材料。

低维纳米材料是指结构在纳米级(即10^-9米)下只有一到二维,具有独特的物理、化学性质和生物学性质,被认为具有很大的应用前景。

这篇文章将讨论低维纳米材料的制备方法以及其性能研究。

一、低维纳米材料的制备方法1. 剥离法剥离法是低维纳米材料制备中最常用的方法之一,根据材料层次结构的差异性,采用力学、化学或化学力学剥离方式,通过分离出晶体层制备低维纳米材料。

目前剥离法中最常用的是机械剥离法和化学剥离法。

机械剥离法通常是将原始多层晶体通过针尖或硬刮刀等物理手段剥离分离成单层或多层块晶;而化学剥离法则是通过特定的溶液处理原始材料,将层数少的晶片分离出来。

这种方法在实验室中操作简单方便,但是存在成本较高、层数难控制等问题。

2. 化学合成法在化学合成法中,晶体生长是通过控制溶液中前驱体的浓度、酸碱度等因素来实现的,这些因素能够影响晶体胶体的性质、结构以及形态。

常用的化学合成方法包括热分解、沉淀、共沉淀、水热法等。

其中水热法作为一种比较优秀的合成方法,可以制备出纳米晶、有序的纳米线和纳米棒等一系列的低维纳米材料。

通过调控合成条件(如反应时间、反应温度等)和溶液成分,可以使低维纳米材料的形状、尺寸、晶体结构等各种物理性质发生变化,从而满足不同的实际应用需求。

3. 微电子加工技术微电子加工技术是一种现代的制备低维纳米材料的方法。

通过利用处理光刻仪、化学气相沉积等技术特点,能够在大量均匀的硅基片表面制备出非常薄的膜,因此在这种方法中,低维纳米材料常常是由无机材料制成的。

因此,微电子加工技术制备的低维纳米材料通常要经过功能化处理,使之具有特定的物理、化学性质和生物学性质,从而可以发挥其广泛的实际应用价值。

二、低维纳米材料的性能研究低维纳米材料作为一种新型结构的材料,其物理化学性质也与普通的材料截然不同。

纳米硅的光致发光机制

纳米硅的光致发光机制

众 所周 知 , 通硅 的 禁带 宽 度 仅 11 e 发 光效 率 很 低 普 . 2V, (0 1 ) 一般认为不能用作可见 光区光器 件材料 , 以在 光电 , 所
子 学领域中的应 用有 限。但在 19 9 0年 , ah mE 在 室温 下发 C na 1 ]
是对于与空 气接 触 甚 至被 加 热或 氧 化 的样 品 , 米 结构 会 被 纳 SO i2所包覆 ] 。一般认为 由于量子 限制导致 的纳 米硅能带 结
PAN n z e XU ig Ho g h , M n
(n t u eo oi tt h s s& S h o o h s sa d E e to i E g n e i , i u nNo ma Unv r i , h n d 1 0 8 I si t f l S aeP y i t S d c c o l f y i n l r nc n ie r g S c a r l i s y C e u 6 0 6 ) P c c n h e t g
是硅材料 , 很容易与现有硅技术兼容 , 可弥补普通硅材料不能有 效发光 的缺点 , 预示着用纳 米硅 制备光 电器件进 而实 现全硅 光 电子集成 的美好前景 , 未来光 电子器件 及整 个光 电子学领 域 对 的发展将会 产生不可估量 的影 响。正 因为如此 , 人们 对纳米 硅 发 光机制一直进行着不懈 的研究 和探讨 , 出 了许 多种解 释纳 提 米硅发 光的模型 , 各个 模型都 只是 针对某些 特定 的实验 现象 但
点对 不同制备 条件及 后期处理条件 下的 纳米硅 的发光机 制做 了评述 和 总结 , 对 目前研 究状 况 中存在 的 问题及发 展 并
前 景 进 行 了分 析 。
关ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ键 词 多孔硅 纳米硅 发光机制 量 子限制 效应

纳米非晶硅薄膜的界面发光特性

纳米非晶硅薄膜的界面发光特性

, 河北省自 然科学基金资助项 目(批准号:E2006000999 ,E2004000119) i 通信作者 Email:dwg) 2006-12-11 收到, 2006-12-18 定稿
) 2007 中国电子学会
92
半 导 体 学 报
第 28 卷
3
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
结果与讨论
大量 Si 悬键, 这些悬键构成的非辐射复合中心也将 会对其发光特性产生重要影响.
射[4^ 3, [ -7 但是其较低的发光效率远不能满足实用要
求. 因此, 如何提高纳米硅镶嵌结构的发光效率已成 为当前所面临的首要问题. 事实上, 当前制约纳米硅 发光效率提高的主要原因在于, 对纳米硅镶嵌结构 发光机制认识不足, 找不出制约纳米硅发光的真正 原因. 由于纳米硅镶嵌结构独特的结构特性, 纳米硅 的发光不仅 仅 与纳米 硅本 身 有关, 米 硅 与 a纳 SiNx:H 基质的界面特性也将对发光过程产生重要 影响. 同时, 由于 a-SiNx: H 基质本身存在的辐射复 合中心也贡献于薄膜的发光, 从而使得纳米硅镶嵌 结构薄膜的发光机制更加复杂. 因此, 采取合适的手
第 28 卷 增刊 2007 年 9 月


C H IN E SE J O U R N A L
体 F M N o SE学I C O报D U C T O R S
Vo1.28 Supplement
Sep . , 2007
纳 米 非 晶硅 薄膜 的界 面发 光特 性 ‘
傅 生 张 勇丁 革 吕芹于威 广卞 江 文 雪
图 1 为不同氢稀释比三个样品的光吸收谱. 可 以看出, 吸收谱存在着明显的指数吸收边, 并且在吸 收边的低能部分出现一个吸收平台, 即次带吸收. 随 着氢稀释比的增大, 样品的吸收边逐渐蓝移, 次带吸 收逐渐减弱. 吸收边的蓝移意味着薄膜的带隙增大, 这可能是由于随着氢稀释比的增大, SiH。 氢对 稀释 的作用增强, 薄膜中 N 含量增加, 纳米硅颗粒尺寸 减小, 从而引起纳米硅量子限制效应增强的结果. 而 次带吸收反映的是纳米硅的表面态和缺陷态密度, 缺陷越多, 次带吸收的带尾越高, 因此, 次带吸收的 减弱表明, 随着氢稀释比的增大, 薄膜中的缺陷得到 了有效的钝化, 纳米硅与 a-SiN二 基质的界面特性得

纳秒脉冲激光制备的纳米硅光致发光研究

纳秒脉冲激光制备的纳米硅光致发光研究
a , 0 1 。这 些 能级 在 P 1 21) . L发 光 中起 到 了不 可 忽
孔硅 的光致 荧 光 ( ahm,ta. 19 ) 为 实 现 信 C na e 1,90 , 息 处理 的光 电子 集成 带 来 了希 望 。 因此 , 们 对 纳 人
米 硅 的光致荧 光有 了很 大 的兴 趣 , 在理 论 和 实 验 并
P L特 性 的物 理模 型是十 分重要 的 , 为建 立真 正 的 它 发光模 型奠定 了基础 。在 本课题 组 以前 的研 究 中 已
指出氧 和氮 的钝 化键 能在 纳米硅 展 开的带 隙 中引入
局域 电子 态 能级 ( un e a. 0 0 u n ,e H a g, t 1,2 1 ;H ag t
仍 未达成 一致 的认识 。因此能找 到一个 能准 确解 释
1 引 言
硅是 微 电子器 件 的 主要 原 料材 之 一 , 硅 的 间 但 接带 隙结 构使 得硅 的发 光 效 率很 低 , 利 于 硅 在光 不
电子技术 领 域 的运 用 。19 9 0年 C n am 报 道 了 多 a hn
Ab t a t s r c : Th r s a srn n sl o a o r sasprpa e y nspu s d l s ru d rt e o y e e e i to g PL i i c n n n c y tl e r d b le a e n e h x g n,aro ir — i i rn to g n Afe usin d — o v l to ft e PL s e ta h s b e e fr d,d fe e t Ga s in p a s a b— e . t rGa sa e c n ou i n o h p cr a e n p ro me i r n u sa e k c n be o ti e an d,b c us h r E o aie tt s r ltd t x g n a d n to e n b n a fsl o a o r sas pr — e a e te e ae L c lz d sae e ae o o y e n i g n i a d g p o ii n n n cy tl e r c p r d u d ro y e a e n e x g n,aro i o e i r n t g n.Co i i g wi h ac lt n r s ls r mb n n t t e c l u ai e u t ,W e f u d t a o aie t ts i to h o o n h tl c l d sae n — z r d c d b i = 0 n iN n slc n n n c y tl k o ti u inst h e s in. u e yS a d S — i iio a o r sas ma e c n b to o t e PL miso r Ke y wor : na o slc n,P s cr ds n iio L pe ta,lc hz d sae o a e tt s

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受主能级 发光谱 反应磁控溅射 半导体量子点 半导体材料 包覆 助熔剂 共混体系 共沉淀 光致荧光 光致发光谱 光致发光性能 光致发光(pl) 光电性能 光电催化 光学特性 光学性质 光学性能 光催化 先驱体法 低维纳米结构 亚微米棒阵列 二维电子气 三线态激子发光 三基色 ⅱ型量子阱 zno纳米针 zno∶ag薄膜 y2o2s:eu3 x射线衍射 xrd xps tio2 sral2o4:eu2+,dy3+ sio2基质 si/ge多层膜 raman散射 p型掺杂 ppv薄膜 pl谱 p-mbe mocvd mgxzn1-xo薄膜 lu2o3:eu薄膜 ligao2 ingan inas/gasb hall效应 h2还原法 gd2o2s gan薄膜 ga2o3薄膜 cdte量子点 cds纳米晶
53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106
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2011年博士点基金名单(新教师类)

2011年博士点基金名单(新教师类)

申请学校 东南大学 山东大学 中国海洋大学 武汉大学 华中科技大学 中南大学 中山大学 中山大学 华南理工大学 四川大学 四川大学 西南大学 重庆大学
申请人 李铁香 纪广华 岳跃利 吴远山 刘显明 周岳 杨志景 苑占江 张梅 胡文传 张加劲 张双虎 张志民
学科组名称 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学
2011年度高等学校博士学科点专项科研基金资助课题名单(新教师类)
序号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 课题编号 20110001120111 20110001120112 20110001120113 20110003120003 20110009120025 20110031120001 20110031120002 20110031120003 20110032120074 20110041120038 20110041120039 20110061120003 20110061120004 20110061120005 20110061120006 20110071120001 20110071120002 20110071120023 20110072120008 20110073120068 20110073120069 20110076120002 课题名称 几个带周期边值条件的非线性发展方程的 Cauchy问题 非线性Dirac方程的计算和分析 大规模稀疏模型的快速算法以及高维非凸 稀疏模型的理论分析 树的剪切以及随机树的尺度极限 微分动力系统与奇点相关的大范围性质及 其应用 解析挠率中的几个问题的研究 组合多项式的对数凹与单纯复形 相依风险模型中的渐近理论及其应用 热弹性网络系统的稳定性分析 II1型因子中的若干问题 几类矩阵锥优化问题的增广拉格朗日方法 二阶振动方程的周期解与稳定性 基于秩的稳健经验似然 基于随机矩阵理论的高维典则相关分析 齐次型的华林问题及其对Jacobi猜想的应 多参数正则化方法的理论和计算研究 参数化平行平均曲率子流形的Bernstein 问题和Chern问题的研究 两阶段抽样设计中数据分析的经验似然方 新型网格缩减基与球型解码算法及其应用 关于格路及其均匀分布的研究 正交约束优化问题及其应用 GL(2)的可容许Banach表示研究 申请学校 北京大学 北京大学 北京大学 北京师范大学 北京交通大学 南开大学 南开大学 南开大学 天津大学 大连理工大学 大连理工大学 吉林大学 吉林大学 吉林大学 吉林大学 复旦大学 复旦大学 复旦大学 同济大学 上海交通大学 上海交通大学 华东师范大学 申请人 郭紫华 邵嗣烘 贾金柱 何辉 朱圣芝 苏广想 王星炜 李津竹 韩忠杰 房军生 肖现涛 梁树青 刘天庆 姜丹丹 刘大艳 陆帅 杨翎 郁文 许威 马俊 文再文 谢兵永 学科组名称 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 数学 课题类型 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 新教师类 资助额度 (万元) 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4

激光辐照单晶硅样品的研究

激光辐照单晶硅样品的研究

第23卷第1期2007年8月 山西大同大学学报(自然学科版)J ournal of Shanxi Dat ong Univers i t y(Nat ural Science) Vol.23.No.1Aug.2007激光辐照单晶硅样品的研究许 丽1,黄伟其1,2,辛 荣1(1.贵州大学贵州省光电子技术与应用重点实验室,贵州贵阳550025;2.贵州教育学院物理系,贵州贵阳550003)摘 要:将功率为30W 、波长为1064nm 的Y A G 激光束(束斑直径0.045mm)照射在硅样品表面打出小孔,在孔内的侧壁上有很特殊的网孔状结构,其中的网孔壁厚为纳米尺度,解释孔侧壁网孔状结构的机理.孔侧壁上的网孔状结构有很强的受激荧光发光效应,发光峰中心约在700nm 处.当样品在加工和检查过程中保持脱氧状态时,其样品几乎没有发光,证实了氧在PL 发光增强上起着重要作用.我们用量子受限及其纳晶与氧化硅界面态复合的综合模型来解释其光致发光的增强机理关键词:激光辐照 网孔壁 光致荧光增强中图分类号:TN249 文献标识码:A 文章编号:167420874(2007)0120024204 微电子和光电子器件是现代信息技术的硬件.半导体硅是当前制备微电子和光电子器件最重要的材料.但是由于其接间带隙的能带结构和弱的发光,限制了在光电子器件方面的应用[122].因此硅发光特性的研究成为半导体和光电子科学领域中世界范围的研究热点.自20世纪90年代Canham 的文章[3]报导了多孔硅样品在室温下强的光致发光以来,人们采用电化学和光化学手段生成各种结构的多孔硅和纳晶硅样品,发现多孔硅发光乃至各种硅纳晶结构的发光有很高的效率,可以与直接能隙的半导体相比,这就可以实现硅基的集成光电子技术.近年来,虽然采用电化学和光化学手段生成各种结构多孔硅和纳米硅样品的发光增强,但由于化学浓度、电流密度、加工时间和表面钝化方式等诸多因素都会影响样品的质量,从而给发光机理的分析和相应的技术开发代来难度[4].本文用单纯激光加工生成多孔硅和纳晶硅样品的方法,观察和分析了样品中的低维纳米结构、氧化分布及其发光特性.1 实验 在实验中,我们采用波长为1064nm 、功率为30W 的YA G 激光直接辐照电阻率为10—20Ωcm P 型的单晶硅样品的方法能够加工出更好的低维量子结构硅样品.先对样品作预处理:用酒精清洗样品表面,用氢氟酸溶液(N H 4F (49%):HF =10:1)清除样品表面在大气中生成的天然氧化物,再用去离子水浸泡30s.吹干后,把硅样品放在聚焦处,用YA G 激光束(束斑大小约0.045mm)辐照硅样品.由于激光功率随电流大小的改变而改变;同时在空气中传输的过程中,由于各种原因也可以造成激光能量损失.所以我们把激光器电流调到19.6A ,最后到达硅表面的激光功率大约为24W.将单晶硅样品作预处理后,激光在空气中辐照的时间分别为1s ,2s ,3s ,4s ,5s ,6s ,7s ,8s ,9s 和10s ;将分别浸入酒精、氢氟酸和水中的样品进行激光辐照,辐照的时间分别为1s ,2s ,3s ,4s ,5s ,6s ,7s ,8s ,9s 和10s ,在保持浸泡状收稿日期2525基金项目国家自然科学基金资助项目[56]作者简介许丽(2),女,山西大同人,在读硕士,研究方向半导体发光特性:200702:104700:1979:.态中检测样品的PL发光.这样,将激光与硅样品的作用过程和检测过程均隔离于无氧化的环境中.2 结构分析 用电子扫描探针(EPMA21600型,日本岛津公司制造)的扫描二次电子和背散射电子成像技术观察与分析样品的表面形貌结构.我们发现激光束照射单晶硅表面后,在硅样品表面打出小孔,孔洞的线径约45微米,孔洞深约150μm(如图1(a)所示);同时我们观察到:在空气中,激光辐照硅样品表面小孔的内侧壁上形成了网孔状结构(如图1(b)所示),直径大约0.8μm的孔洞由几纳米的壁层相隔开,网孔状结构的壁由大量被氧化硅所包裹的纳米硅组成.在一定的功率下,改变激光辐照的时间,我们发现不同时间下加工的样品,其孔洞侧壁上网孔状结构的壁厚随着激光辐照时间的增大而壁越来越薄.(a)激光束在单晶硅表面打出的孔洞,孔洞的线径约4μm5,孔洞深约150μm.(b)小孔的内侧壁上形成了网孔状结构图 样品的表面形貌结构图用Y G激光轰击单晶硅样品时,在样品的表面形成一个小孔.激光与硅材料相互作用形成电离高密度气状电子—空穴对等离子体或自由载流子等离子体.等离子体受到微小扰动后,电子与离子局部的迁移形成内部的电场和磁场,在内部的电磁场作用下,形成电子2空穴对等离子体振荡[7210].在等离子体中的电子受到电磁场的恢复力和热压强,使电子2空穴对等离子体的振荡被传播,形成电子等离子体波[9210].等离子体波的频率[9]:ω2=n0e2m eε0+3T e K2m e=ω2p e+3T e K2m e等离子体波的频率由电子的密度n0,电子的质量m e和电子的温度T e来决定,而电子的密度n0和电子的温度T e随激光脉冲辐照能量的改变而改变.控制激光加工的功率和时间等参量,使等离子体波的波长对于孔洞线径尺寸满足谐振条件.在孔洞中便有等离子体波的谐波产生,其等离子体波的驻波在孔洞侧面上形成的驻波波节线便构筑起网孔状结构的纳米网孔状壁.3 光谱分析 用英国R EN IS HAW公司的RAMAN光谱仪测量样品网孔状结构所对应的光致荧光谱(PL),波长为514nm的激光会聚至1μm直径的束斑可定位于该网孔状结构处来测量光致荧光谱.图2 样品的光致荧光谱图从图2可知,在空气里加工样品的光致荧光谱,在功率一定的条件下,样品的PL发光的强弱随激光加工时间改变而改变;我们发现:激光加工时间在9s左右PL发光最强,但光致荧光发光峰的频率位置并不改变,该发光峰的位置约在波长处, L峰在V附近一个小的能量区内并用电子扫描探针的元素线分布分析技术测量样品的表面形522007年 许 丽:激光辐照单晶硅样品的研究 1 A700nm P 1.7e.貌对应的成份分布,如图3所示.注意到孔中的氧含量分布增多.图4所示,将硅样品浸入酒精、氢氟酸、水和空气中的激光加工样品PL 发光的比较.浸入酒精和氢氟酸中用激光加工的硅样品表面基本没有氧化,故几乎没有PL 发光;而在水中用激光加工的硅样品表面情况较复杂,因为水分子H 2O 里还有氧原子,在激光辐照下水分子发生分解 2H 2O =2H 2+O 2释放出少量的氧,故仍有较弱的PL 发光.这个结果验证了氧在PL 发光增强上起着重要作用.由于采用单纯的激光加工样品,改变激光加工的条件,虽然网孔状结构的尺寸随之改变,但PL 峰位置并没有改变;激光加工的样品孔洞侧壁上网孔结构的光致荧光峰比电化学加工的样品的光致荧光峰大约大两个数量级以上[11212];而单纯用激光加工样品的过程中没有化学元素的影响;这表明用表面吸附态和量子受限效应很难解释光致荧光峰的增强效应,[2]因而光致荧光发光的增强效应不是来自单纯氧化硅,也不是来至纳米硅粒,而是来自硅纳晶与氧化硅的界面处电子在该系统中的量子受限能隙E co n fined gap 可表为[11212](SI 单位制) E co n fined gap =E bu lk gap +3h 2/8(1/L 2).式中,h 是普朗克常数,L 是硅晶网孔隔墙的厚度,E bulk g ap 是块硅晶的本征能隙1.12eV.第二项为量子受限项,使能隙宽度增加了0.98eV 以上.L 大约是几个nm ,这与实验结果同数量级.硅纳晶与氧化硅界面态的分布中心位于带隙的上边带之下方0.4eV 处(这与实验结果相拟合).光致激发跃迁到导带的电子中的大部分被界面态所俘获.显然,这种在界面态中的亚稳电子的受激发光谱分布结构应该是以1.7eV 为谱峰中心、两边分布与界面态的分布相同的结构.这样,能够与实验结果相一致.我们用量子受限及其硅纳晶与氧化硅界面态复合的综合模型来解释光致荧光谱增强效应,可用图5来描述.图5 量子受限及其硅纳晶与氧化硅界面态复合的综合模型图这个模型能够解释量子受到限制效应中的无频移问题.而PL 谱的分布也可以用界面态的分布来解释.4 结论 首次采用单纯的激光加工法在单晶硅样品上生成低维量子结构,发现在样品表面的孔洞侧壁上的网孔结构有很强的光致荧光发光效应.比较了用电化学和光化学方法生成的多孔硅与纳晶硅样品的结构及其发光特性,从实验加工条件和理论模型分析上找出样品的光致荧光发光增强效应的根源.我们用量子受限模型结合氧化硅膜与硅晶的界面态模型能够很好地解释光致荧光的增强效应、L 谱峰的固定频率效应和谱峰的展宽分布规律62 山西大同大学学报(自然科学版) 2007年1114.P .参考文献[1]夏建白.硅发光研究[J ].半导体学报.1998,19(5):1132116.[2]陈坤基.前言[J ].南京大学学报(自然科学),2005,41(1):123.[3]Ca nham L T.Silicon qua ntum wire a rray fa 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rticle 2e mbeddedsilico n o xide[J ].Physical Review B ,2003,8:68270.S t udy on Silicon Crystal by Irradiat ion of LaserXU Li1,HUAN G Wei 2qi1,2,Xin Rong 1(1.Photoelect ron Technology a nd Applica tio n La b.,Guizho u Unive rsity ,Guiyang Guizhou 550026;2.Depa rt ment of Physics ,Guizhou Educational College ,G uiya ng G uizhou 550003)A bstract :A kind of hole 2net st ruc ture ca n be fo rmed in the wall of the hole on silicon sample irradiated wit h la ser of power 30W and wa velengt h 1064nm.The photolumine scence emission is e nhanced in the hole 2net str uct ure.The PL pea k center is a 2bout 700nm.During preparing process the oxidation 2f ree ,Silicon sample does not almost emit.It is ide ntified t hrough experi 2ments that the oxide o n the sa mple ma y be the most important f act in the e nhancing effect of the PL e mission.We use the tr ap states of t he interface betwee n SiO 2a nd na n ocr ystal model to explain the inc reasing PL emission in t he hole 2net st ructure.K ey w or ds :lase r ir radiation ;hole 2net str ucture ;p hotoluminesce nce enhance ment722007年 许 丽:激光辐照单晶硅样品的研究 。

脉冲激光加工时间对硅量子点发光影响论文

脉冲激光加工时间对硅量子点发光影响论文

脉冲激光加工时间对硅量子点及其发光的影响中图分类号:tn249 文献标识码:a 文章编号:1007-0745(2011)11-0046-02摘要:用yag 激光束照射硅样品表面形成小孔,在孔内的侧壁上出现较规则的网孔状结构;用拉曼荧光光谱仪检测该结构有很强的光致荧光,其强度比样品的瑞利散射强,加工时间不同其强度有明显的差异,当激光辐照时间为9s时,孔洞侧壁上的网孔状结构较稳定,且有较强的光致荧光,本文解释了pl峰较强的形成机理,认为氧化程度(主要是si=o双键的数目)在其中起重要作用。

在无氧化的环境里用激光加工出的硅样品几乎无发光,这证实了氧确实在光致荧光增强上起着重要作用。

用冷等离子体波模型来解释孔侧壁网孔状结构形成的机理,并用量子受限-发光中心模型来解释纳米网孔壁结构的强荧光效应。

关键词:激光辐照纳米结构局域态氧化1 引言单晶硅是现代半导体器件和大规模集成电路的支柱。

然而,硅的禁带宽度(约为1.12ev)窄小,又是间接带隙,这就限制了硅基材料在光电子器件中的应用。

自从1990年canham 发现多孔硅室温下强光致发光现象以来,许多专家学者用不同的方法形成硅基上的低维结构来模仿多孔硅的发光,并成功获得多孔硅稳定、肉眼可见的蓝光发射[2],这一发现为多孔硅的全硅光电子集成带来了希望。

在应用方面,人们已初步研制出多孔硅发光二极管、多孔硅光电探测器等。

但对纳米硅基材料发光机理却众说纷纭,出现了各种各样的物理模型,各有优缺点。

总体上看,目前主要存在以下五种发光机理解释模型:(1)量子限制发光模型;(2)界面层中的激子效应发光模型;(3)与氧有关的缺陷发光模型;(4)量子限制效应—发光中心发光模型;(5)直接跃迁发光模型。

目前,迫切需要解决的问题是在硅样品上生成稳定的低维结构并有较强且稳定的pl 发光。

最近的研究表明:无论是纳米硅晶发光还是多孔硅发光,其发光机理都与氧化硅层相关, 即所谓的纳米硅晶的光泵作用与氧化硅层发光中心的亚稳态激射。

纳秒激光加工生成网孔硅的发光

纳秒激光加工生成网孔硅的发光

P L发 光 , 各 样 品 的 P 且 L峰 很 相 似 。通 过 第一 性 原 理 计 算 , 现 各种 网孔 结 构 表 面 的 成键 类型 与 密度是 形成 P 发 L发 光 增 强 的关 键 , 由此提 出相 应 的物 理 模 型 。 并
关键 词 : 光致 荧光 , 多孔 硅 , 阱 态 陷
( ntu a oP o nP yi , u h uU i rt ,uy n 5 0 5 C ia; ntu G 。hms y Istt o N n — ht hs s C i o n e i G i g5 0 2 , hn Istt i ef o c z v sy a i e ece ir , t
C i s A a e yo Si cs G i n 5 0 3, hn ) hn e cdm c ne, u ag5 0 0 C ia e f e y
Ab t a t Me h sc n b o me y n n s c n a e r da in o i c n s mpe n t e o y e sr c : s e a e f r d b a o e o d l s ri a it n sl o a ls i h x g n,n t g n a d r o i ioe n r
K e r s: p oo u n s e c ,p r u i c n ,ta t ts y wo d h tl mi e c n e oo s sl o i r p sae
面时 , 能量约损 失 3 0% , 它存在 间接跃 迁能带 结 且
1 引 言
半导体 硅材 料 以其 丰 富 的资 源 、 秀 的物理 与 优
熟 的半导 体材料 , 是 目前 在所 有 材 料 中被 研究 的 也

YAG激光辐照下单晶硅表面结构变化的研究

YAG激光辐照下单晶硅表面结构变化的研究

构 ,包括用不同功率 的连续激光和脉冲激光加工样 品,从物理层 面上弄清氧化低维纳米结构 的生成机 理 ,分析激光与硅材料的相互作用过程 ,建立激光诱导的冷等离子体波作用模型,从而指导激光优化加 工的过程,使我们得到稳定 的低维量子结构 。
2 理 论 分 析
激光与材料相互作用 ,对材料表面起作用的主要是 电子 ,当光强度达到或超过 固体的光击穿 阈值
Ma .2 7 y 00 源自文章 编 号10 00—5 6 (0 7 0 0 6 — 4 2 9 20 )3— 2 1 0
Y AG 激 光 辐 照 下 单 晶硅 表 面 结 构 变 化 的研 究


丽 ,黄伟 其
( 州大学 贵州省光 电子技术与应用重点实验室 ,贵州 贵阳 5 02 ) 贵 50 5
时 ,激 光电场 将诱 导 固体里 的分 子 、原 子被 电离 ,释放 出大量 的 自由电子 和离 子 ,形成 电离高 密度 气状 等 离子体 、 。 对 激光辐 照硅 样 品过程 的分析 ,对未 加工 的硅 样 品 而 言 ,样 品 中 的载 流子 少 。当我 们 用 Y G激 光 A
照射到硅样品表面时 ,到达硅材料表面的激光功率密度达到硅材料的光击穿阈值时 ,激光照射 的光能量
N( )兰 N( ) x ( t 0 ep ∥

来 计算 。N( ) 初 始 电 子 数 密 度 ,,为 雪 崩 时 间 常 数 。 随 着 硅 样 品 内 电子一 空 穴 对 密 度 增 加 到 1 0为 r 0
c 时,激光的照射可以使硅材料电离 ,形成 电离高密度气状 电子一空穴对 等离子体或 自由载流子等 m 离子体[ 。由于等离子体受到微小扰动使局部区域 内出现 了电子过剩 的负 电区域 ,同时也会相应地出 4 ]

2021年物态调控重点研发指南

2021年物态调控重点研发指南

2021年物态调控重点研发指南一、引言近年来,随着科技的不断发展和全球经济的日益全球化,物态调控作为一项重要的研究领域备受关注。

2021年,物态调控的研发指南将成为科研人员和相关产业的热门话题。

本文将深入探讨2021年物态调控的重点研发内容,并分析其在未来发展中的作用和影响。

二、物态调控的定义和意义1. 物态调控的概念物态调控是指通过调控物质的结构和性质,实现对物质状态的精确控制的技术和方法。

它涉及材料科学、化工、电子、光学等多个领域,具有广泛的应用前景。

2. 物态调控的意义物态调控技术的发展对于提高材料的性能、推动科技创新、促进产业升级都具有重要意义。

在新材料、新能源、生命科学等领域,物态调控的应用将极大地拓展人类的科技边界。

三、2021年物态调控的重点研发内容1. 高性能功能材料的设计与制备在2021年,高性能功能材料的研发将成为物态调控的重点之一。

这涉及到新材料的发现与设计、制备工艺的优化等方面。

新型电池材料、光学材料、磁性材料等领域的研究将引起高度关注。

2. 低维纳米结构材料的探索与应用随着纳米技术的发展,低维纳米结构材料的研究也成为了物态调控的热点之一。

这类材料具有独特的性能和应用前景,如二维材料、纳米线、纳米片等,将在电子学、光电子学、传感器等领域展现出巨大潜力。

3. 光电功能材料的优化与应用光电功能材料是当今科技领域的关键材料之一,其在能源、通信、显示等方面的应用日益广泛。

2021年的物态调控研发中,光电功能材料的优化将受到更多关注,特别是在光伏材料、光控材料等方面的研究。

四、总结与展望2021年物态调控的重点研发指南囊括了高性能功能材料、低维纳米结构材料和光电功能材料等多个领域。

这些研究内容的深入将为科技创新和产业升级带来新的机遇与挑战。

希望本文的介绍能够为各位科研人员和产业界人士提供一定的指导,共同推动物态调控技术的发展,为人类社会的进步贡献力量。

个人观点与理解物态调控的研究及应用在当今科技领域具有重要意义。

纳米技术在光学领域的应用

纳米技术在光学领域的应用

纳米技术在光学领域的应用王蒙(长春工程学院理学院吉林省长春市邮编130026)摘要:随着科学技术的不断发展,纳米技术在日趋成熟。

纳米技术在许多领域都发挥着重要的作用,如应用纳米科学技术可以引发光电子、微电子、环保等诸多领域的革命,推动社会经济的腾飞;而纳米电子学、纳米光电子学和纳米光子学将成为21世纪信息时代的关键技术。

由于纳米半导体光电子材料蕴藏着许多新的物理信息和可资利用的独特功能而具有极其广阔的发展前景。

它是半导体光电子材料的一颗新星。

它的出现,意味着半导体光电子材料向低维化方向发展。

关键词:纳米技术;光学;纳米材料;光电材料;半导体。

引言半导体光电子材料经过几十年的发展,已经成为在国民经济和军事等领域得到广泛应用、充满生机的一类电子信息材料。

在信息化时代加速了该材料的升级,使它更加异彩纷呈,引人瞩目。

在20世纪90年代全球掀起的纳米科技浪潮推动下,纳米半导体光电子材料、纳米磁性材料、纳米陶瓷材料和纳米生物材料等纳米材料应运而生。

纳米材料是指尺寸为1~100nm的各种固体材料。

纳米半导体光电子材料是纳米材料家族中的重要成员,它的崛起是光电子材料发展的一次新的飞跃,成为发展新特性、新效应、新原理和新器件的基础。

当半导体光电子材料的尺寸减小到纳米量级时,其物理长度与电子自由程相当,载流子的输运将呈现量子力学特性,宏观固定的准连续能带消失而表现出分裂的能级,因而传统的理论和技术已不再实用。

纳米半导体光电子材料技术是一种多学科交叉的科学和技术,该领域充满了巨大的创新机会和广阔的发展前景。

1.关于纳米的概述1.1:纳米的概念纳米是一种长度度量单位,1纳米等于10亿分之一米( 1nm=10-3μm=10-9m)相当于头发丝直径的10万分之一。

1.2:纳米技术纳米技术是指在原子分子层次上对物质精细的观测识别与控制的研究与应用,它将对于21世纪的信息科学、生命科学、分子生物学、新材料科学和生态系统可持续发展科学提供一个新的技术基础,这将引起一场产业革命,其深远的意义堪与世纪的工业革命相媲美,它包括的领域甚为宽广。

激光加工创新训练_湖南大学中国大学mooc课后章节答案期末考试题库2023年

激光加工创新训练_湖南大学中国大学mooc课后章节答案期末考试题库2023年

激光加工创新训练_湖南大学中国大学mooc课后章节答案期末考试题库2023年1.下列表述正确的有:参考答案:激光精雕操作时,切割和扫描采用线条的颜色来区分的。

_激光精雕操作时,可以采用自动对焦,也可采用手工对焦。

2.在进行非金属切割时,如果发现没有切透,在不动材料位置的前提下可以再次进行切割。

()参考答案:正确3.关于激光内雕,下面的陈述是正确的是()。

参考答案:在水晶里可以完成艺术文字的雕刻。

_在水晶里可以完成数码照片的雕刻。

_在水晶里可以完成立体图形的雕刻。

4.激光内雕的原理主要是利用激光的哪个特征。

参考答案:相干性5.激光焊接机水冷系统的冷却水可以是()。

参考答案:蒸馏水6.世界上第一台激光器是()年研制出来的。

参考答案:19607.光学谐振腔是由两块聚焦镜构成的()。

参考答案:错误8.激光器的结构包括()。

参考答案:光学谐振腔_工作介质_泵浦源9.本节课介绍的激光精雕机精度高主要体现在哪些方面?参考答案:解析度_重复定位精度_最小切割线缝10.()时期以后,宫灯技术广泛传入民间。

参考答案:隋朝11.本课程中用到的印章制作设备是()。

参考答案:激光雕刻切割机12.激光的特征有()。

参考答案:单色性好_相干性_高能量_方向性好13.适合激光雕刻的材料包括()?参考答案:玉石_亚克力_皮革_木板14.激光打标橡胶等低硬度材料时,推荐的电流是()参考答案:7A-10A15.印章对书画作品起到哪些作用:()参考答案:活跃气氛_给作品增色_平衡布局16.激光精雕机的结构包括:参考答案:冷却系统_光学系统_控制系统_运动系统17.激光被喻为最快的刀,最准的尺和最亮的光。

()参考答案:正确18.激光精雕机的操作包括几部分?参考答案:软件部分操作_机械部分操作19.激光精雕机可加工的材料有:参考答案:玉石_木板_橡胶_塑料20.在autoCAD软件中,切割线的线条宽度应设置为:参考答案:0mm21.本课中的激光精雕机的工作界面为:参考答案:700*500mm22.龙舟节指的是哪个节日()。

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图 2 犘 犔 发光对比图 洞 壁 上 网 孔 状 结 构 处 的 犘 犔 发光比较多孔硅 犘 犔 发光的要强 2 个数量级 ( 比较可见 : 多孔硅的 犘 由此衬托出 犔 发光并不弱, 网孔状结构处的 犘 犔 发光很强 ) . 图 4 与时间相关的 犘 犔 图 开始时样品的 犘 犔发光随激光加工时间增加 而增强 ; 当激光加工时间在 9 狊时 , 犘 犔 发光最强 .
1 引言
硅与锗的材料 在 信 息 产 业 中 的 微 电 子 工 程 里 有 很 好的基础与应用 , 硅和锗的器件便于 实现 硅基上的光 电 ] 1, 2 且较砷化镓材料器件有环保上 的优势 [ ; 但是 子集成 , 硅和锗的间接跃迁能带结构使其发光 效率 较低 , 限 制了 其应用范围 , 这是目前的瓶颈难题 . 近十 几年 来 , 在 研究 硅和锗的发光性能时发现 , 其低维 结构 形成的 能带变 化 [ ] 带来很强的 犘 过去常用电化学方法来生成 犔 发 光 3~5 . [ , ] 硅和锗的低维 结 构 6 7 , 最近几年发现激光辐照方法对
) 犉 犻 . 1 ( 犪 犛 犈犕 犘 犺 狅 狋 狅狅 犳 狋 犺 犲犺 狅 犾 犲 狀 犲 狋 狊 狋 狉 狌 犮 狋 狌 狉 犲狅 犳 狊 犻 犾 犻 犮 狅 狀犳 狅 狉 犿 犵 ; ( ) 犻 狀 犲 犱 犻 狊 狋 狉 犻 犫 狌 狋 犻 狅 狀 犻 狀 狋 狋 犺 犲 犻 狀 狊 犻 犱 犲狅 犳 狋 犺 犲犺 狅 犾 犲犱 狉 犻 犾 犾 犲 犱犫 犾 犪 狊 犲 狉 犫犔 犵犪 狔 犱 犻 犪 狉 犪 犿狅 犳狅 狓 犲 狀狅 狀狋 犺 犲狊 犻 犾 犻 犮 狅 狀狊 犪 犿 犾 犲狅 犫 狋 犪 犻 狀 犲 犱犫 狊 犻 狀 犺 犲 犵 狔 犵 狆 狔狌 犵狋 犾 犻 狀 犲狊 犮 犪 狀 狀 犻 狀 犲 犮 犺 狀 犻 狌 犲狅 犳犲 犾 犲 犿 犲 狀 狋犪 狀 犪 犾 狊 犻 狊 犵狋 狇 狔
批准号 : ) 1 0 5 4 7 0 0 6 国家自然科学基金资助项目 ( : 通信作者 . 犈犿 犪 犻 犾 犠犙犎 狌 犪 狀 2 0 0 1@狔 犪 犺 狅 狅 . 犮 狅 犿 犵 0 0 7 0 3 3 1 收到 , 2 0 0 7 0 8 2 0 定稿 2 0 0 8 中国电子学会 2
第1期
黄伟其等 : 犔 发光 激光加工形成硅基上的氧化低维纳米结构的 犘
1 1 7
图 1 ( ) 洞壁上的网状低维 纳 米 硅 晶 体 结 构 的 犛 ( 洞壁上的氧 犪 犈犕 像 ; 犫) 化分布图 ( 上方的曲线为氧的成分分布 , 下方的曲线是硅的成分分布 )
图 3 脱氧加工的样品的 犘 犔 发光对比图 分别浸入酒精和氢氟酸进行激 光辐照加工的样品几乎没有 犘 水中的样品仍有一些 犘 犔 发光 , 犔 发光 .
照到样品上的 能 量 , 激光束的辐照圆斑直径调整到3 0 ; 辐照时间控制为 这时 , 在硅 样品 表面被 0 犿 8~9 狊 . ~5 μ 打出的孔洞的侧壁上形成较规则 的网 孔状 结构 , 各个网 孔由几 狀 厚的网孔壁相互隔开 , 如图 ( ) 所示 犿 1犪 . 用波长 5 直径的束斑 , 1 4 狀 犿 的激光会聚为 1 犿 犘 犔 μ 发光的区域可定位于洞壁上的网 孔状 结构 处 . 发 现该处 有很强的 犘 其强度比一般的多孔硅样品的 犘 犔 发 光, 犔 发光强度要大 2 个数量级 , 如图 2 所示 . 用电子探针元 素 线 扫 描 分 布 技 术 分 析 来 显 现 洞 壁 如图 1 ( ) 所示 ) 上的氧化程度 ( 犫 . 为了 确 定 硅 样 品 表 面 氧 化 在 增 强 犘 犔 发光上所起 的作用 , 我们设计 并 进 行 了 以 下 实 验 : 将硅样品作预处 理后 , 分别浸入酒精 、 氢氟酸和水 中进 行激 光辐照加工 ; 在保持浸泡状态中检测样品的 犘 如图 3 所示 . 这 犔 发光 , 将激光与硅样品的作用过程和检 测过 程均隔 离于无 样, 分 别 比 较 将 硅 样 品 浸 入 酒 精、 氢氟酸和 氧化的环境中 . 水中的激光加工样 品 的 犘 浸入酒精和氢氟 犔 发 光 结 果, 酸中的硅 样 品 表 面 基 本 没 有 氧 化 , 故几乎没有 犘 犔发 光; 而在水中用激 光 加 工 的 硅 样 品 表 面 情 况 较 复 杂 , 仍 故仍有较弱的 犘 有较少的氧化发生 , 犔 发光 .
8~1 0] 加工硅和锗的低维结构更为有效和简捷 [ . 目前 , 迫切需要解决的问题是 在硅和 锗样 品上 生成 稳定的低维结构并有较强且稳定的 犘 犔 发 光乃至 犈 犔发 光. 最近的研究表 明 : 无论是纳米硅晶发光还是多孔硅 发光 , 其发光机理 都 与 氧 化 硅 层 相 关 , 即所谓的纳米硅 晶的光泵作用与氧化硅层发光中心的 亚稳 态激射 . 传统 的生成纳米硅晶和氧化硅层二体系统 结构 的方法为 : 经 高温退火在富硅氧化层中形成硅原子 团簇 , 或用溅射法 将 硅 离 子 注 入 氧 化 层, 但其加工质量和稳定性都不理 想. 我们认为 : 用激光辐照手段生成纳米硅晶和氧化硅 层二体结构应该 是 最 有 希 望 的 方 法 , 包 括: 在氧化层中 用激光诱导硅离子或锗离子游离 与凝聚 、 用激 光辐 照生 成低维结构并使其表面氧化等 ; 激 光辐 照的助 氧化作 用 是很明显的 , 我们 设 计 了 相 应 的 实 验 , 例如在激光辐照 下的硅样品 3 0 0℃ 退火的氧化效 果接 近于 8 0 0℃ 的 单纯 退火的 氧 化 效 果 ; 又例如3 的 连 续 激光在硅 0犠 犢犃犌 表面辐照 2 在精密椭 0 狊能生成十几纳 米 厚 的 氧 化 硅 层 ; 偏测厚仪上增加激光束的辐照强 度 , 可 直接测 量激光辐 照时间与氧化层厚度增加的变化关 系 ; 在硅的 氧化层 中
用激光诱导能生 成 镶 嵌 于 层 中 的 纳 米 硅 或 锗 的 量 子 团 簇. 总之 , 用激光 辐 照 手 段 来 构 造 氧 化 低 维 结 构 有 独 特 的优越性 . 本文选择用激 光 辐 照 的 方 法 在 单 晶 硅 样 品 和 锗 硅 合金样品上加工出 具 有 较 强 的 、 稳定的 犘 犔 发光特性的 氧 化 低 维 结 构, 包括用不同功率的连续激光和脉冲激 乃至超快脉冲 激 光 来 加 工 样 品 , 并从物理层面上研 光、 究氧化低维结构 的 生 成 机 理 , 分 析 激 光 与 硅 材 料、 激光 建立 激光 诱导 的冷等 与锗硅合金材料的相互作用过程 , 离子体波作用模 型 , 从 而 指 导 激 光 加 工 的 优 化 过 程. 参 [ ] 1 1~1 3 模型 , 建立量子受限 晶 体与 氧化 物界面 照犙 犆 犔 犆 态综合模型来解释 犘 并设法从低维 犔 发 光 的 增 强 效 应, 纳米晶体量子受 限 态 与 氧 化 硅 界 面 态 的 相 对 位 置 来 构 造犘 从而解决所谓 犔 发光 增 强 效 应 的 阈 值 分 布 结 构, [ 1 4] “ 临界尺寸 ” 的难题 . 我们认为 : 犘 犔 发光的增强由较高 的低维纳米晶体的电子能态分布和较低的氧化硅与纳晶 界面中的界面态 分布 所交 织构成 的阈 值区 间决 定 . 不同 条件加工的不同纳米结构的晶体与氧化硅的界面态具有 不同的特征分布 , 从而产生不同频率的 犘 犔 发光分布 .
犉 犻 . 3 犠 犲 犪 犽 犲 狉犘 犔犲 犿 犻 狊 狊 犻 狅 狀狅 犳狋 犺 犲狊 犪 犿 犾 犲 狊狑 犺 犻 犮 犺狑 犲 狉 犲犻 犿 犵 狆 , , 犿 犲 狉 狊 犲 犱犻 狀犎 犉( 4 9% ) 犈 狋 犺 犪 狀 狅 犾犪 狀 犱狆 狌 狉 犲狑 犪 狋 犲 狉 狉 犲 狊 犲 犮 狋 犻 狏 犲 犾 犺 犲 狀 狆 狔狑 犻 狉 狉 犪 犱 犻 犪 狋 犲 犱
第2 9卷 第1期 2 0 0 8年1月
半 导 体 学 报
犑 犗犝犚犖犃 犔犗 犉犛 犈犕 犐 犆 犗犖犇犝犆 犜 犗犚 犛
犞 狅 犾 . 2 9 犖 狅 . 1 , 犑 犪 狀 . 2 0 0 8
激光加工形成硅基上的氧化低维纳米结构的 犘 犔 发光
1 1 1 1世荣 秦朝建 秦水介 ( ) 1 贵州大学贵州光电子技术与应用重点实验室 , 贵阳 5 5 0 0 2 5 ( ) 2 中国科学院地球化学研究所 , 贵阳 5 5 0 0 0 3
2 实验
在激光加工 中 , 辐照用的激光源有2 0~4 0 犿犠 的 由1 5 3 2 狀 犿 波长的连续 激 光 ( 0 6 4 狀 犿 波 长 的 犢犃犌 激 光 倍频产生 ) , 有1 的 0~5 0犠 1 0 6 4 狀 犿 波 长 的 犢犃犌 连 续 激光 和 对 应 的 1 0 狀 狊 脉 宽 的 脉 冲 激 光 ,还 有 1 2 0 犳 狊 ( / ) 的超快脉冲 激 光 分 别 用 单 晶 硅 和 锗 硅 合 金 1 8 0 犿 犑狆 . 作样品 . 用分子束外延( 方法或化学气相沉积 犕犅 犈) ( ) 方法生成 ( )薄膜衬底 . 犆 犞犇 犛 犻 犲 2 5 1-狓犌 狓 狓=0 用各种功率的 连 续 激 光 和 脉 冲 激 光 分 别 照 射 单 晶
硅样品或硅锗 合 金 样 品 . 当 采 用 几 十 犿犠 的 小 功 率 激 光辐照时 , 同时用 电 化 学 方 法 加 工 样 品 . 改变激光辐照 的功率 、 辐照的时 间 和 环 境 参 量 , 在各种加工的样品中 寻找稳定的 、 较强的 犘 发 光 的 氧 化 低 维 结 构. 用电子 犔 日 本 岛 津 公 司 制 造) 的扫描 扫描探 针 ( 犈 犘犕犃 1 6 0 0 型, 二次电子和背 散 射 电 子 成 像 技 术 观 察 与 分 析 样 品 的 形 貌结构 ; 并用电子扫描探针的元素 线分布 和元 素面 分布 分析技术测量样品的形貌结构对 应的成 分分 布 ; 用 英国 犚 犈 犖 犐 犛 犎犃犠 公司的 犚 犪 犿 犪 狀 光谱仪测 量样 品结 构 所 对 应的光致发光谱 . 经大量的实验 探 索 , 筛 选 出 3 种 有 价 值 的 样 品, 其 加工过程与结果描述如下 : ( )用电阻率为 1 1 0~2 0 犿 的 狆型犛 犻作 样 品 . Ω·犮 首先将 样 品 进 行 清 洗 , 然后用1 波 长 、 0 6 4 狀 犿 2 0~3 0犠 功率的 犢犃犌 连续激光辐照样品 , 辐照时间分别为 1, 2, , …, 在硅样品表面打出孔洞 3 1 5 狊 . . 控制 加 工 条 件 : 固 定 犢犃犌 激 光 的 工 作 电 流 , 使输 出功 率 为3 ; 用 特 有 的 “ 散 焦 束 斑 ” 方 法 控 制 激 光 辐 0犠
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