提升CF偏心量CPK值
CP、CPK最终版(史上最全最好的)
CPK:英文全称为Process Capability index,中文译文为工序能力指数。
CP: 不考虑偏移(均值是规格中心值)时的短期过程能力指数,Cp反映的是能够达到的过程能力的最高水平,除非进行剔除普通原因的系统措施。
CPK:考虑偏移(均值不是规格中心值)时的短期过程能力指数,Cpk 反映实际的过程能力,提高的途径是减少偏移,往往是采取一些剔除特殊原因的局部措施即可提高Cpk值。
CPK公式:(1) 工序能力指数 Cp ,就是产品公差范围(T)与6σ之比。
Cp 值的大小即可定量计算出该工序的不合格品率,所以工序能力指数 Cp的大小可以直接表示出工序品质的水平。
(2) 工序能力指数 Cp 的计算方法在品质特性值属于计量值数据的情况下,工序能力指数的计算方法如下:当给定双向公差,品质数据分布中心 (X) 与公差中心 ( M ) 相一致时,用符号 Cp 表示。
ST T S TC L UP 66-==U T 公差上限,L T 公差下限 当给定双向公差,品质数据分布中心 (X ) 与公差中心 ( M ) 不一致时,即存在中心偏移量 (ε)时,用符号 Cpk 表示。
S T C PK62ε-= ||X M -=ε T k ε2=,∑==n i i X 1n 1X ,()∑=-=n i i X X 121-n 1S当给定单向公差的上限公差时,常采用的公式为:SXT C U PU 3-=当给定单向公差的下限公差时,常采用的公式为:ST X C LPL 3-=某零件品质要求为 20± 抽样 100件,测得:mm X 00.20= mm S 05.0=105.0685.1915.2066=⨯-=-==S T T S T C L U P 某零件品质要求为 20± 抽样 100件,测得:mm X 05.20= mm S 05.0=00.20=M 05.0||=-=X M ε67.005.061.03.005.0605.023.062=⨯-=⨯⨯-=-=S T C PK ε某部件清洁度的要求不大于 96 毫克,抽样结果测得:48=X 毫克 12=S33.112348963=⨯-=-=S X T C U PU 某金属材料抗拉强度的要求不得少于 2/32cm kg2/38cm kg X = 2/8.1cm kg S =11.18.1332383=⨯-=-=S T X C L PL 与CPK 的区别:A 、只有在计量值为双侧公差而且分布中心和标准中心重合的情况下,CP=CPK (此时K=0);B 、当质量特性分布中心恰好位于标准上限或下限时,则K=1;C 、当质量特性分布中心位于标准界限之外时,则K>1。
CPK知识简单介绍
什么是 Cpk ?
Cpk的定义:制程能力指数; Cpk的意义:制程水平的量化反映;
用一个数值来表达制程的水平;
(1)只有制程能力强的制程才可能生产出质量好、可靠性 水平高的产品﹔ (2)制程能力指数是一种表示制程水平高低的方便方法, 其实质作用是反映制程合格率的高低。
Cpk分析的目的
Cpk准确度与精确度的综合指标 Ca只能反映制程的准确性 同时考虑准确度与精确度,故应用上最为
广泛
什么是Ca?
• Ca:制程准确度; (Capability of Accuracy) • Ca在衡量“实际平均值“与“规格中心值”之一致性; • 对于单边规格,不存在规格中心,因此也就不存在Ca;
Cpk的计算公式
计算方法1:Cpk=Cp(1- Ca );
注:因在表格中使用计算方法1,需 要绝对引用Ca值,不便表格公式使 用,一般采用计算方法2.
计算方法2:Cpk=Min(Cpu,Cpl);
第一步 第二步 第三步 计算CPu 计算Cpl 计算Cpk Cpu=(USL-Average)/3σ Cpl=(Average-LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu,Cpl)
1≥Cp>0.67
Tm 6S≥T>4S,不合格品率0.27%≤p<4.55%。 ●当 X 时,
●工序能力不足,不合格品率较高。 ●措施: (1)要通过提高设备精度、改进工艺方法、提高操作技术水平、改善原材料质 量等措施提高工序能力。
(2)要加强检验,必要时实行全检。
Cp≤0.67
●当X T 时, T≤4S,不合格品率p≥4.55% m ●工序能力严重不足,产品质量水平很低,不合格品率高。 ●措施: (1)必须立即分析原因,采取措施 ,提高工序能力; (2)为了保证产品的出厂质量,应通过全数检查; (3)若更改设计、放宽规格要求 不致影响产品质量或从经济性考虑更为合理 时,也可以用更改设计的方法予以
Cpk_与Ppk_两种过程能力指数的对比分析研究[1]
Cpk 与Ppk 两种过程能力指数的对比分析研究1摘要:在进行统计质量控制的时候,工序能力指数Cpk(Index of Process Capability)与过程能力指数Ppk(Index of Process Performance)是评价过程及改进方向和目标的重要指标,但在实际操作过程中,Cpk 和Ppk 容易被混淆。
本文通过两种指标的定义及计算过程的比较,分析其差异,并利用SPC(Statistical Process Control)统计过程控制软件中这两个指标的应用范围情况进行了示例说明,更为直观地显示了它们的联系与区别。
关键词:Cpk(工序能力指数);Ppk(过程能力指数);SPC(统计过程控制)中图分类号:O291. 引言质量管理中数理统计的理论和方法非常重要[1]。
由于每天生产产品的质量,如工件的厚度、表面粗糙度等不断变动的缘故,为了加工出厚度均匀、粗糙度一致的工件,即使对加工环境的温度、湿度,对切削时的进刀量等操作条件做出严格的规定,实际生产出来的产品质量仍然存在波动。
而且上面所列出的加工条件固定不变也是难以办到的事,这些加工条件也存在着一定程度的波动,因此工序质量在各种影响因素制约下,呈现波动特性。
统计方法能够对这些波动的状况及其相互关系进行定量分析,是监控、改进产品质量非常有用的工具。
工序与过程能力指数在质量控制中越来越频繁地使用。
近来随着生产力的高度发展,对产品质量和服务质量的要求不断提高,不合格品率越来越低,而与其对应的过程能力指数要求越来越大。
这反映了生产能力的进步、不合格品率下降、经济效益的提高。
过程能力性能指数Ppk 是在美国克莱斯勒、福特和通用这三大汽车公司制定的QS-9000标准提出的,与过程能力指数Cpk 并列,共称为量度过程的参数[2]。
Cpk 主要用于周期性的过程评价,而Ppk 则用于实时过程性能研究和初始过程能力评估。
目前我国许多企业日常计算的是Ppk,而不少人却误认为是Cpk,于是基本概念的错误带来认识上的混淆。
CPK的计算方法
CPK的计算方法CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp.Ca: 制程准确度。
Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系:Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u). 规格公差=规格上限-规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2;8. 依据公式:,计算出制程准确度:Ca值9. 依据公式:Cp = ,计算出制程精密度:Cp值10. 依据公式:Cpk=Cp ,计算出制程能力指数:Cpk值11. Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级2.0 >Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A 级1.67 >Cpk ≥ 1.33 良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B 级1.33 >Cpk ≥ 1.0 一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级1.0 >Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多,必须提升其能力D 级0.67 >Cpk 不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。
CPK 在Excel计算方法1.计算平均值=AVERAGE(A$2:A$91) A932.计算所有数据的标准差=STDEV(A$2:A$91) A94STDEV()函数返回表达式中所有数据的标准差(Statistical Standard Deviation)。
CTQ、CPK、SPC概念
CTQ、CPK、SPC概念简介CTQ(Critical-To-Quality)的意思是品质关键点该概念常在six sigma管理中被提到。
企业提供的产品和服务必须满⾜客户要求的品质特征. 在Six Sigma (六西格玛)中, 通常⽤Y来表⽰.很多公司都是把其作为⼀个输出的衡量性指标(Outcome Indicator)举个例⼦来说,麦当劳顾客减少,此时的关键指标就是平均每天顾客⼈数(person/day)不同的项⽬有不同的指标的。
什么是关键品质特性(CTQ)顾客最在意的产品或服务的特性品质:功能、可⽤性、可靠性、可维护性…交期:准时价格:⽐较性、价格、总成本、折扣…售后服务:即时性、便利性、速度…Voc = f ( CTQs )Y = f (X1, X2, X3, …Xn)Y = f (X)输出输⼊输出是输⼊的函数为什么要推⾏六西格玛 Why Six Sigma1.竞争的需要2.数据驱动进步3.客户导向及要求4.建⽴共同的语⾔5.掌握通⽤⼯具6.解决⽅法与思路7.降低 FCR,减少失败质量成本英⽂释义CTQs (Critical to Quality) are the key measurable characteristics of a product or process whose performance standards or specification limits must be met in order to satisfy the customer. They align improvement or design efforts with customer requirements.CTQs represent the product or service characteristics that are defined by the customer (internal or external). They may include the upper and lower specification limits or any other factors related to the product or service. A CTQ usually must be interpreted froma qualitative customer statement to an actionable, quantitative business specification.To put it in layman's terms, CTQs are what the customer expects of a product... the spoken needs of the customer. The customer may often express this in plain English, but it is up to us to convert them to measurable terms using tools such as DFMEA, etc.编辑本段CTQ相关信息的分散程度。
CPK(过程能力)研究报告
CPK(过程能力)研究报告1. 引言1.1 研究背景及意义在当今激烈的市场竞争环境下,企业对产品质量的要求越来越高,过程控制能力成为衡量企业质量管理水平的重要指标。
CPK(过程能力指数)作为衡量过程稳定性和控制能力的重要参数,得到了广泛的应用。
然而,在实际应用中,许多企业对CPK的理解和应用仍存在一定的误区。
本研究旨在深入剖析CPK的基本理论,通过实际案例分析,为企业提供有效的过程改进方法,从而提高产品质量和市场竞争力。
1.2 研究方法与内容概述本研究采用文献分析、实证分析和案例研究等方法,系统地梳理了CPK的相关理论、计算方法和应用领域。
首先,对CPK的定义、计算方法和过程控制关系进行阐述;其次,通过实际案例进行分析,探讨CPK在制造业和服务业中的应用价值;接着,分析CPK在过程改进中的作用,并结合成功案例进行解读;最后,探讨CPK与其他质量管理工具的关联,为企业的质量管理提供更为全面的理论支持。
1.3 研究目标与预期成果本研究旨在实现以下目标:1.深入剖析CPK的基本理论,为企业提供理论指导;2.通过案例分析,总结CPK在实际应用中的经验和教训;3.探讨CPK在过程改进中的应用,为企业提供有效改进方法;4.分析CPK与其他质量管理工具的关联,促进企业质量管理水平的提升。
预期成果包括:1.形成一套系统的CPK理论知识体系;2.提供具有实践指导意义的CPK应用案例;3.提出针对性的过程改进策略;4.促进企业质量管理水平的提升。
2. CPK基本理论2.1 CPK定义与计算方法CPK(过程能力指数)是衡量过程稳定性和过程能力的指标,是统计过程控制(SPC)中一个重要的参数。
它反映了在一定的生产过程中,产品质量特性值在规格限内的波动情况。
CPK值越高,表明过程能力越强,生产出的产品越能满足规格要求。
CPK的计算公式如下: [ CPK = ] 其中,USL为上限规格限,LSL为下限规格限,()为过程标准差。
CPK值计算公式PPT演示课件
1 计算CPK
CP 和CPK 是描述制程能力的重要指数。当产品的规格线不变, CPK 越高表示制造能力越强。下面我们看看CP和CPK是如何计算 的。
T Cp =
6
CP: Capability of Process 制程能力
Cpk = (1-K) × Cp
: Standard Deviation 标准偏差
计算T 得出CP 计算M、K
CPK
例:表格中的数据是某班测量锡膏厚度的值,工艺允许的范围是 130~220,求该组数据的CPK。
159 168 179 165
165 159 162 162
165 171 182 174
176 177 181 172
168 168 168 171
174 169 171 182
μ± 2σ界限范围内的概率是 95.46%
μ± 3σ界限范围内的概率是 99.73%
6σ是LG对我们的要求,这是什么概念呢?3.4 PPM,即百万分之3.4。从工艺角度来讲即:USL= μ+6σ,LSL= 10 μ-6σ。
1.2正态分布图(续)
规格下限 (LSL)
规格上限 (USL)
-6σ -5σ -4σ -3σ -2σ -1σ χ +1σ +2σ +3σ +4σ +5σ +6σ
13
规格上限 (USL)
σ’
-7σ’-6σ’-5σ’-4σ’-3σ’-2σ’-1σ’ χ +1σ’+2σ’+3σ’+4σ’+5σ’+6σ’+7σ’
同样的规格限,可以看到改进后的数据分布比改进前密集,就是
说数据变动更小,更稳定。
CPK PPK CP CA计算公式
1.672
15
0.223 3.472 0.347
1.653
16
0.212 3.532 0.363
1.637
17
0.203 3.588 0.378
1.622
18
0.194 3.640 0.391
1.608
19
0.187 3.689 0.403
1.597
20
0.180 3.735 0.415
1.585
21
C4:标准 差估计值 的除数 (可差下 表)
USL:控制 规格上线
:所 有探头标 准差的平 均值
:所有 探头数据 的平均值
S:标准差 (可跟据 excel的 STDEV函数 计算的出)
X:是数据的 一个平均值
LSL:控制 规格下线
:所 以探头极 差的平均 值
控制 图的 常数 和公 式表
X-R图
均值X图 全距R图
0.173 3.778 0.425
1.575
22
0.167 3.819 0.434
1.566
23
0.162 3.858 0.443
1.557
24
0.157 3.895 0.451
1.548
25
0.153 3.931 0.459
1.541
R =33.633
X
29.3 32.6
32.3 35.3 35.8 36.5 201.8
/6x(33.
633/2.05 9)=0.408
ca=(USL+ LSL)/2-
ǖ╱
(USLLSL)/2=( 250+210) /2229.325
/(250-
210)/2=0 .03375
cpk取值范围
cpk取值范围【最新版】目录1.概述 CPK 的含义和重要性2.CPK 的取值范围及其意义3.CPK 取值范围的实际应用4.结论正文一、概述 CPK 的含义和重要性CPK,即过程能力指数,是一种衡量制造过程稳定性和精度的指标。
在工程领域,特别是在质量管理领域,CPK 被广泛应用。
通过计算 CPK,可以评估生产过程是否处于受控状态,以确保产品尺寸和性能在规定的技术要求范围内。
因此,CPK 对于保证产品质量和提高生产效率具有重要意义。
二、CPK 的取值范围及其意义CPK 的取值范围为:CPK = Min(USL - LSL) / (6σ),其中 USL 为上限规格线,LSL 为下限规格线,σ为标准差。
CPK 的取值范围可以分为以下几个等级:1.CPK ≥ 1.67:过程能力优秀,表示生产过程非常稳定,产品尺寸和性能的偏差较小,可以在一定程度上保证产品质量。
2.1.67 > CPK ≥ 1.00:过程能力良好,表示生产过程相对稳定,产品尺寸和性能的偏差在一定范围内,需要密切关注过程变化,以确保产品质量。
3.1.00 > CPK ≥ 0.67:过程能力一般,表示生产过程稳定性较差,产品尺寸和性能的偏差较大,容易出现质量问题,需要进行过程改进。
4.0.67 > CPK ≥ 0.33:过程能力较差,表示生产过程稳定性很差,产品尺寸和性能的偏差超出了规定的技术要求范围,需要进行过程调整和改进。
5.CPK < 0.33:过程能力严重不足,表示生产过程无法满足产品质量要求,需要进行全面的过程改进和优化。
三、CPK 取值范围的实际应用在实际生产过程中,企业可以根据 CPK 的取值范围来评估生产过程的能力,并采取相应的措施。
例如,当 CPK 值较高时,可以继续保持现状,确保产品质量;当 CPK 值较低时,需要分析原因,采取改进措施,提高过程能力。
1.当 CPK 值较低时,可以通过以下方法提高过程能力:(1)优化生产工艺,提高生产过程的稳定性;(2)加强设备维护,确保设备性能符合要求;(3)加强原材料质量控制,确保原材料性能稳定;(4)提高操作人员的技能水平,减少人为因素对过程稳定性的影响。
excel cpk计算公式
excel cpk计算公式
CPK计算公式是用来测量产品质量的一个重要工具。
它根据客户要求的标准和产品的实际性能数据来判断产品的质量水平,帮助企业制定改进措施,以达到质量控制的目的。
CPK计算公式是一种根据样本均值和样本标准偏差来计算CPK指数的方法,可以用Excel程序计算。
CPK的计算公式如下:
CPK=min((USL-X)/3σ,(X-LSL)/3σ)
其中,USL表示上限标准,LSL表示下限标准,X表示样本均值,σ表示样本标准偏差。
通过计算CPK值,可以判断出产品的质量水平。
如果CPK值大于1.33,表明产品的质量良好;如果CPK值介于0.67和1.33之间,表明产品质量一般;如果CPK值小于0.67,表明产品质量较差,需要采取改进措施来提高质量水平。
使用Excel来计算CPK值,需要在Excel中输入上下限标准、样本均值和样本标准偏差,然后用CPK计算公式进行计算,就可以得出产品的CPK值。
CPK计算公式是企业管理质量的重要工具,它可以帮助企业识别质
量问题,从而采取相应的改进措施,提高产品质量。
使用Excel进行CPK计算,既便捷又精确,确保了数据的准确性和可靠性,可以有效地帮助企业控制和改善产品质量。
cpk指数范围
cpk指数范围【实用版】目录1.CPK 指数的定义和作用2.CPK 指数的范围及其意义3.CPK 指数的计算方法和影响因素4.CPK 指数在不同领域的应用5.CPK 指数的局限性和发展前景正文1.CPK 指数的定义和作用CPK(过程能力指数)是一种衡量制造过程稳定性和精度的指标,它是通过比较过程的平均值和标准差与过程的规格限之间的比率来计算的。
CPK 指数能够反映过程加工质量与设计要求的符合程度,为过程的改进和控制提供参考依据。
2.CPK 指数的范围及其意义CPK 指数的范围通常在 0-2 之间,具体含义如下:- 当 CPK 指数大于 1.67 时,表示过程的加工精度过高,可能会导致资源浪费和成本增加,需要考虑进行适当的调整;- 当 CPK 指数在 1.33-1.67 之间时,表示过程的加工精度基本达到要求,但仍需要进行监控和改进;- 当 CPK 指数在 1-1.33 之间时,表示过程的加工精度较低,需要进一步分析原因并采取改进措施;- 当 CPK 指数小于 1 时,表示过程的加工精度严重不足,需要进行全面的分析和改进。
3.CPK 指数的计算方法和影响因素CPK 指数的计算方法通常采用公式:CPK = (USL - LSL) / (6 * σ),其中 USL 和 LSL 分别是过程的上限和下限,σ是过程的标准差。
影响 CPK 指数的因素主要有:过程的平均值、标准差、上限和下限等。
为了提高 CPK 指数,需要从提高过程的稳定性和精度入手,通过优化工艺、改进设备、提高操作技能等手段来实现。
4.CPK 指数在不同领域的应用CPK 指数广泛应用于制造业、质量控制、过程改进等领域,尤其在汽车、航空、电子等行业具有重要的应用价值。
通过 CPK 指数的计算和分析,可以为企业提供有效的过程控制和改进依据,提高产品的质量和降低成本。
5.CPK 指数的局限性和发展前景虽然 CPK 指数在过程控制和改进方面具有一定的应用价值,但它也存在一定的局限性,例如:对于非正态分布的过程,CPK 指数的计算结果可能不准确;此外,CPK 指数主要关注过程的稳定性,对于过程的效率和灵活性等方面的评估能力较弱。
面板CF制程中BM TP CPK不达标的分析及改善研究
面板CF制程中BM TP CPK不达标的分析及改善研究摘要:所谓CF即Color filter面板行业中的彩膜制程。
在RGB三道彩膜制程前需要成形规整的黑矩阵格子来承载RGB色条,形成的这个黑矩阵即为BM Black Matrix。
为了确定曝光出来的BM图形与设计所需图形的吻合程度,一个重要的SPC监控特性值是BM TP。
TP即Total Pitch线长,即图案实际长度与设计长度的误差容忍值,一般以ppm为单位。
目前行业内BM TP会监控8条边,规格要求为±0.8ppm,计算公式为:(实际线长-设计线长)/设计线长*1000000,并要求制程稳定度CPK≥1.33。
通过分析本文内容可以看出,提升BM TP的CPK除了传统的变更Scan Speed和机台模板Offset补正外,变更Scan layout方向,对BM TP CPK的改善也起到很大的作用。
鉴于此,本文就BM TP CPK不达标的分析及改善展开探讨,以期为相关工作起到参考作用。关键词:TP、CPK、Scan Speed、Offset补正、Scan layout1、BM制程曝光系统的简单说明曝光机使用的是尼康曝光机,一般制程曝光的方法主要是以对位曝光为主。
但CF BM为首制程,基板为白玻璃无相应对位mark可供抓取,所以BM制程使用的是强制曝光。
强制曝光的实际图形与设计图形吻合程度需多次实验才能得到一套较好的工艺参数。
曝光机各主要部件有Illumination(照度系统)、Projection Lens(投影透镜)、Mask Stage(光罩台面)、Mask Loader(光罩载入台)、Plate Stage(基板台面)、Plate Loader(基板载入台)、Alignment System(对位系统)、Auto Focus(自动对焦)等组成。
具体示意如图1所示。
曝光系统是将设计在Mask(光罩)上的电路图形转移到Plate(玻璃基板)上(1:1正像);曝光方式:扫描式曝光;控制的主要参数:Scan Speed,Offset,Plate温度(只有0.2℃的波动范围,不作为改善方向分析)1.BM TP分布说明及CPK达标状况本文所述8条BM TP分布于玻璃基板上的位置,如图2所示。
Cpk值介绍
CpUS6 LLSL6T
Cp等级评定及处理原则
制程能力靶心图
...
.
. .
.
..
....
.........
Ca好﹐Cp差
Cp好﹐Ca差
Cpk好
Cpk总结方具有一定代表性;计算Cpk除收 集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺 利计算其值。
③依据公式:Cp =T/6σ ,计算出制程精密度:Cp值;
④依据公式:Cpk=Cp(1-|Ca|),计算出制程能力指数:Cpk值。
Cpk实例介绍
计算步骤:
计算步骤:
Minitab 15的应用
YF603663厚度规格为9.5±0.4(mm),实际测出20个样本值,并将值输入 到Excel文件。
USL (Upper Specification Limit):即规格上限; LSL (Low Specification Limit): 即规格下限; U:规格中心值;
x x :平均值, =(x1+x2+… …+xn)/n ;(n为样本数)
T:规格公差,即 T=规格上限一规格下限=USL-LSL; σ(sigma)为数据的标准差 (Excel中的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ) )
Cpk值的计算公式
Cpk=Cp(1-︱Ca︱)
式中:
Cp(Capability of Precision) — 制程精密度;
Ca(Capability of Accuracy) — 制程准确度。
注:计算Cpk时,取样数据至少应有20组数据,方具有一定代表性。
Cpk等级评定及处理原则
与Cpk值相关的几个重要概念
单边规格:只有规格上限和规格中心或只有下限或
《CPK的含义》课件
03 CPK的应用场景
质量控制中的应用
过程能力评估
CPK用于评估生产过程的能力,确定过程是否稳定且受控,以及 是否满足产品质量要求。
质量改进
通过分析CPK值,识别生产过程中的瓶颈和问题,针对性地进行质 量改进。
预防措施
CPK分析有助于预测潜在的质量问题,提前采取预防措施,减少不 合格品的产生。
生产过程中的应用
生产调度
01
根据CPK值,合理安排生产计划,确保关键过程的稳定性和可
靠性。
资源优化
02
通过CPK分析,合理配置生产资源,提高资源利用率和生产效
率。
工艺优化
03
Байду номын сангаас
利用CPK分析结果,优化工艺参数和流程,提高产品质量和降
低生产成本。
数据分析中的应用
数据监测与预警
实时监测CPK数据,及时发现异常波动,为决策提供 依据。
CPK是评估产品质量的重要指标,通过分析制程能力,能够及时发 现并解决潜在的质量问题,提高产品质量和可靠性。
CPK对企业竞争力的影响
CPK的提高能够提升企业的竞争力,因为高质量的产品能够增加客 户满意度,提高品牌形象和市场占有率。
CPK在持续改进中的作用
CPK的分析结果可以作为改进的依据,帮助企业识别制程中的瓶颈 和问题,推动持续改进和优化。
CPK数据记录了每个产品的详细 信息,包括原材料、生产过程、 检测结果等,方便企业进行质量 追溯。
CPK的缺点
数据量大
CPK数据涉及生产过程中的各个环节,数据量 较大,需要强大的数据处理能力。
成本高
为了获得准确的CPK数据,企业需要投入大量 的人力、物力和财力,成本较高。
提升cpk能力,可行方法
提升cpk能力,可行方法
CPK是指过程能力指数,它是衡量生产过程稳定性和一致性的重要指标。
提高CPK能力可以帮助企业提高生产效率、降低成本、提高质量。
以下是提升CPK能力的可行方法:
1. 了解生产过程:了解生产过程的每一个环节,包括原材料采购、制造、包装等,找出其中存在的不稳定因素和瓶颈,针对这些问题进行改进。
2. 优化生产工艺:通过优化生产工艺,可以消除浪费和不必要的环节,提高生产效率和质量稳定性。
3. 引入先进设备:现代化设备可以提高生产效率和稳定性,缩短生产周期,减少人为干扰。
4. 培训人员:提高员工技能和素质,增强员工对生产流程的理解和掌控能力,使其能够快速发现和解决问题。
5. 严格执行标准:严格执行标准,包括生产标准、质量标准、检验标准等,可以保证生产过程的一致性和稳定性,提高CPK能力。
6. 数据分析和控制:通过数据分析和控制,及时发现生产过程中存在的问题和异常,采取措施加以解决和避免,提高CPK能力和生产效率。
总之,提高CPK能力需要从多个方面入手,从整个生产过程掌握,不断优化和改进,才能取得更好的效果。
- 1 -。
如何提高制程能力CPK
2. Cp↑
Cp 制程精密度 Tol ↑:與客戶商量放寬公差
Cp↑
σc ↓:減少變差 (σc = R / d2 )
變差 A. 普通原因(靠管理) B. 特殊原因(靠員工):人、機、料、法、環
二、實例分析
成型尺寸量測 儀器:遊標卡尺 規格 20mm±0.1mm 抽樣方式:每天量一次,一次量5pcs,量測60天
Example 4 的CPK分析
CPK = 1.42,> 1.33;Cp = 1.64 說明過程有能力 Xbar圖有點子超出控制上下限 說明過程不穩定 A. 對超出控制限的點進行一次過程操作分析,分析過程原因,排除特殊
原因后再重新計算Xbar-R圖。(注意及時性) B. 對照SPC 8條判異規則對Xbar圖進行分析 具體操作方法: 1. 檢查spindle是否擺動過大 2. 檢查是否過程中有換刀 3. 檢查夾頭是否殘屑過多
CPK = 0.51, <1.33;Cp = 0.53 說明Ca很小,過程對中 Xbar圖與R圖所有點子均在控制界限內 說明過程穩定 Cp過小,有量測結果超出規格上下限 說明變差大,但控制統計量沒有超出控制限,分析是普通原因引起的變
差。 具體操作方法: 1. 檢查是否為spindle擺動過大,換新機台 2. 檢查是否為夾頭壽命到期,更換夾頭 3. 檢查是否需降低疊板數
Example 1 的CPK分析
CPK = 0.78,<1.33 ;Cp = 1.57 說明Ca過大 Xbar圖與R圖所有點子均在控制界限內 說明過程穩定 Ca過大的改善方法:過程對中 具體操作方法: 1. 成型程式下修補償 2. 其他(檢查銑刀直徑,加大或換新刀)
Example 2 的CPK分析
Example 5 的CPK分析
什么是CP和CPK
什么是CP和CPKCP(或Cpk)是英文Process Capability index缩写,汉语译作工序能力指数,也有译作工艺能力指数, 过程能力指数。
工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。
它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。
这里所指的工序,是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程,也就是产品质量的生产过程。
产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现。
对于任何生产过程,产品质量总是分散地存在着。
若工序能力越高,则产品质量特性值的分散就会越小;若工序能力越低,则产品质量特性值的分散就会越大。
那么,应当用一个什么样的量,来描述生产过程所造成的总分散呢?通常,都用6σ(即μ+3σ)来表示工序能力:工序能力=6σ若用符号P来表示工序能力,则:P=6σ式中:σ是处于稳定状态下的工序的标准偏差工序能力是表示生产过程客观存在着分散的一个参数。
但是这个参数能否满足产品的技术要求,仅从它本身还难以看出。
因此,还需要另一个参数来反映工序能力满足产品技术要求(公差、规格等质量标准)的程度。
这个参数就叫做工序能力指数。
它是技术要求和工序能力的比值,即工序能力指数=技术要求/工序能力当分布中心与公差中心重合时,工序能力指数记为Cp。
当分布中心与公差中心有偏离时,工序能力指数记为Cpk。
运用工序能力指数,可以帮助我们掌握生产过程的质量水平。
工序能力指数的判断工序的质量水平按Cp值可划分为五个等级。
按其等级的高低,在管理上可以作出相应的判断和处置(见表1)。
该表中的分级、判断和处置对于Cpk也同样适用。
表1工序能力指数的分级判断和处置参考表Ppk, Cpk, Cmk 三者的区别及计算1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp(Capability Indies of Process):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为:Pp(Performance Indies of Process):过程性能指数,定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,一般表达式为:(该指数仅用来与Cp及Cpk对比,或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序)CPU:稳定过程的上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,CPL:稳定过程的下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限,2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk:这是考虑到过程中心的能力(修正)指数,定义为CPU与CPL的最小值。
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近五个月来 CPK维持低 位状态
0.88
0.9 0.87 0.86 0.87
0.86~0.90
制表人:周雄斌 4/05/05
P9
二、现状调查(2)
我们小组对2005年3月15日-4月15日的各台点焊机偏心量数据CPK如下:
Process Capability of NO.1
USL
Process Data LSL * Target * USL 0.50000 Sample Mean 0.21700 Sample?N 100 StDev (Within) 0.11100 StDev (O v erall) 0.10763
Process Capability of NO.3
Within Overall
Potential (Within) C apability Cp * C PL * C PU 0.85 C pk 0.85 C C pk 0.85 O v erall C apability Pp PPL PPU Ppk C pm * * 0.88 0.88 *
P14
五、原因确认
末端因素(二):定位压持气缸不匹配
简易示意图 定位杆
框架
H
承座
压持气缸
定位气缸
造成框架悬空
1.定位气缸定位完,压持气缸下压时,框架与承座有悬空现象 2.经现场观察,25/100=25%存在(0.05~1MM)轻微与严重的悬空 状况。
P15
五、原因确认
末端因素(二):定位压持气缸不匹配(续)
Exp. O v erall Performance PPM?<?LSL * PPM?>?USL 4270.80 PPM?Total 4270.80
0.90
USL Within Overall
Potential (Within) C apability Cp * C PL * C PU 0.84 C pk 0.84 C C pk 0.84 O v erall C apability Pp PPL PPU Ppk C pm * * 0.87 0.87 *
0.0
O bserv ed Performance PPM?<?LSL * PPM?>?USL 0.00 PPM?Total 0.00
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
Exp. Within Performance PPM?<?LSL * PPM?>?USL 5394.32 PPM?Total 5394.32
理论中心线 实测中心线
标准面盘
偏心量
H
偏心量异常品制成的显示器图
P7
一、选题理由
04年 6月 -12月 CF工作站离异缺失分布排列图
件数
主管要求降 低制程离异
12 8 4 0
9
64.3%
偏心量离异
78.6%
92.9%
100.0%
100% 50% 0%
2
火化大
2
冷焊不良
1
其它
注:从2004年6月-12月本制程离异总14件,其中偏心量异常9件
四台机台 制程能力 相差不大, 都偏低。
C级
0.0
O bserv ed Performance PPM?<?LSL * PPM?>?USL 10000.00 PPM?Total 10000.00
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
Exp. Within Performance PPM?<?LSL * PPM?>?USL 3586.25 PPM?Total 3586.25
人本 中华映管 马來西亚公司
1991
正诚
创新
服务 华映龙潭光电园
1994成立,员工约6000人,全世界最大的CRT专业生产基地 2004
中华映管(金宝) 公司
我们的公司:华映光电股份有限公司 (福州)
中华映管公司杨梅 厂 P2
组圈概况
圈组名称 小组历史 活动课题 课题类型 活动期间
宗旨誓言
天 籁 圈
点焊重工 不良
冷焊品补 焊不良
框架不良 原材框架 变形 框架对角 尺寸离异
测
法
料
制表:周雄斌4/28
P13
五、原因确认
末端因素(一): -人员技能不佳
验证方法: 1.每位作业员都通过相关 技能(OJT:理论与操作)检 定合格。 2. 用单因子方差分析法 分析5月份5位作业人员点焊 记录值进行差异性比较。其 P值达到0.824,远大于 0.05的信赖区间 。 (P<0.05为小概率事件)
0.0
O bserv ed Performance PPM?<?LSL * PPM?>?USL 0.00 PPM?Total 0.00
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.0
O bserv ed Performance PPM?<?LSL * PPM?>?USL 0.00 PPM?Total 0.00
0.1
W ithin O v erall
单边规格 ≤0.5
O v erall C apability
0.1
0.0
0.2
0.1
0.3
0.2
0.4
0.3
0.5
0.4
选题
0.5
提升框架点焊偏心量CPK值
P8
二、现状调查(1)
小组对2004年11月~05年3月份框架偏心量进行分 析,总体CPK分布如下:
1.1 CF CPK 1.05 04年11月~05年3月框架偏心量CPK分布推移图 1 0.95 0.9 0.85 0.8 411 412 1月份 2月份 3月份
USL
Process Data LSL * Target * USL 0.50000 Sample Mean 0.21300 Sample?N 100 StDev (Within) 0.10674 StDev (O v erall) 0.10913
Within Overall
Potential (Within) C apability Cp * C PL * C PU 0.90 C pk 0.90 C C pk 0.90 O v erall C apability Pp PPL PPU Ppk C pm * * 0.88 0.88 *
Wi S tD ev Cp C pk C C pk
从以上管制图可得出在1个月中有两次连续5天,有 达到1.0以上(B级)
制表人:周雄斌 4/17/05
Values
P11
三、目标设定
在现况调查0.88的水平上,结合CPK管理要求: 故将活动目标值设定为CPK 1.0以上。
1.2 1.1 1 0.9 0.8 0.7 0.6
2004年成立,共完成了4个课题,年节
约金额80万;2005年获公司优秀奖、
电子信息行业信得过班组称号。
提升框架点焊偏心量CPK值 现场型 2005.4.1-2005.10.30
一切都是努力的结果!
P3
圈员名单
姓 名 文化程度 本科 中专 中专 中专 中专 中专 中专 职务 经理 助工 副理 助工 助工 技术员 技术员 圈内职务 指导员 圈长 辅导员 圈员 圈员 圈员 圈员 圈内分工 品管手法指导、资源提供 组织、对策,结果总结 辅导 不良分析,对策 不良分析,对策 数据收集,对策实施 对策实施 张茂斌 周雄斌 林惠禄 张春贵 雷志干 陈杨平 郭恩雷
杨正泽
李建华
中专
中专
技术员
技术员
圈员
圈员
对策实施
数据收集,对策实施 P4
开拓学习快乐成长
创新求变,追 求精益生产!
快乐的一家人!
P5
流程简介
阴罩 (mask )
退火
成型
清洗
黑化
MF点焊
下制程 上管 组立 稳化 阴罩点焊
框架 (Frame )
弹片 (clip)
框架点焊
框架组合品 P6
名词解释
何为框架偏心量呢??
0.2
0.3
0.4
0.5
Exp. Within Performance PPM?<?LSL * PPM?>?USL 6172.15 PPM?Total 6172.15
Exp. O v erall Performance PPM?<?LSL * PPM?>?USL 3545.47 PPM?Total 3545.47
Exp. O v erall Performance PPM?<?LSL * PPM?>?USL 4277.63 PPM?Total 4277.63
0.88
Within Overall
Potential (Within) C apability Cp * C PL * C PU 0.83 C pk 0.83 C C pk 0.83 O v erall C apability Pp PPL PPU Ppk C pm * * 0.90 0.90 *
单 位:华映光电(福州) 报告人:林惠禄 周雄斌
华映光电股份有限公司
P1
华映光电股份有限公司
1971 2001
[企业愿景] 多元显示新视野 丰富人类心境界 中华映管 公司桃园厂
1989
[企业使命]
立足中国,发展民族工业 放眼世界,领航光电视讯 协同成長,营造美好生活
华映视讯 吳江有限公司
2002
[企业文化]
P10
制表人:周雄斌 4/16/05
二、现状调查(3)
小组从3/15—4/15记录数据制作均值极差管制图分析状况