X光胶片响应曲线的实验标定
“X射线”探测器——胶片成像修改版
差异。 ③MAs:在摄影工作中如：头颅、胸部、腹部、脊柱，
尽可能选用大MA,短时间曝光。减少运动伪影。提高 影像锐利度。
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对于不同部位，条件如何确定，不同条件有何差异：
1：胸部：（肺组织）用高KVp、小MAs。 2：胸部：（骨组织）用低KVp、小MA、长时
感光度（S）：是指感光材料对光作用的响应程度，也 即感光材料达到一定密度值所需曝光量的倒数。医用X 线胶片感光度定义为产生密度1.0 所需曝光量的倒数。
放出来形成影像。
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三.激光胶片:半导体激光器和气体激光器。以
矩阵扫描方式通过多棱镜直接打印在胶片上。
1.红外激光片:单药膜（IR） 2.氦氖激光片:单药膜（HN） 四.干式激光片:
其胶片的感光材料及结构近似于普通胶片，感 光材料溴化银单面药膜，片基的被面涂有防反
（二）醋酸纤维素片基(CAT)
（三）聚酯片基（PEF）
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（二）医用银盐感光胶片的结构及成像原理
1．结构 主要由感光乳剂层、片基、附加层构成。
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（3）附加层：附加层包括保护层、底层及防光晕层（防反射层）。 1）保护层：为防止质地柔软的乳剂层的机械损伤，在其表面涂有
曝光曲线的制作实例(X射线为例)依据JBT4730标准
曝光曲线的制作实例(X射线为例）曝光曲线必须通过试验制作，每台X射线机的曝光曲线各不相同，但不能通用，因为即使管电压、管电流相同，如果不是同一台X射线机，其线质和照射率是不同的。
原因是：⑴加在X射线管两端的电压波形不同（半波整流、全波整流、倍压整流以及直流恒压等），会影响管内电子飞向阳极的速度（波长有关）和数量（强度），⑵X射线管本身的结构、材质不同，会影响射线从窗口出射时的固有吸收；⑶管电压、管电流测定也有误差。
此外，即使是同一台X射线机，随着使用时间的增加，管子的灯丝和靶也可能的老化，引起射线照射率的变化。
因此，每台X射线机都应有曝光曲线，作为日常透照控制线质和照射率、即控制能量和曝光量的依据，并且在实际使用中还要依据具体情况作适当修正。
.1 曝光曲线的类型曝光曲线是在一定条件下绘制的透照参数（射线能量、焦距、曝光量）与透照厚度之间的关系曲线。
这些条件主要是透照工件材料、射线源、胶片、暗室处理技术、增感、射线照相质量要求等。
实际进行射线照相时确定透照参数经常采用曝光曲线，从曝光曲线给出的关系可方便地确定某种材料、某个厚度的工件、满足规定的质量要求应选用的射线能量、焦距、曝光量等。
对X射线照相检验，常用的曝光曲线有两种类型，第一种类型曝光曲线以透照电压为参数，给出一定焦距下曝光量对数与透照厚度之间的关系。
第二种类型曝光曲线以曝光量为参数，给出一定焦距下透照电压与透照厚度之间的关系。
图1是第一种类型，图2是第二种类型。
第一种类型曝光曲线，纵坐标是曝光量，单位是毫安·分（mA ·min），采用对数刻度尺，横坐标是透照厚度，常用毫米（mm）为单位，采用算术刻度尺。
图中的曲线是在相同的焦距下对不同的透照电压画出来的。
从图中的曲线可以看到，采用某一透照电压但透照不同厚度时，曝光量相差得很大。
由于曝光量既不能很大，也不能很小，所以某个透照电压实际上只适于透照一较小的厚度范围。
第二种类型曝光曲线，纵坐标是透照电压，单位名称为千伏，单位符号为kV，采用算术刻度尺；横坐标是透照厚度，单位常用毫米（mm），采用算术刻度尺。
工业x射线胶片标准
工业x射线胶片标准工业X射线胶片标准。
工业X射线胶片是工业无损检测中常用的一种检测手段，其质量标准对于确保检测结果的准确性和可靠性至关重要。
本文将对工业X射线胶片标准进行详细介绍，以便相关从业人员更好地了解和应用。
首先，工业X射线胶片的标准主要包括以下几个方面，感光度、对比度、分辨率、颗粒度、曝光宽容度、显影性能等。
感光度是指胶片对X射线的敏感程度，对比度是指胶片能够显示的密度差异程度，分辨率是指胶片对细小缺陷的分辨能力，颗粒度是指胶片表面的颗粒大小和分布情况，曝光宽容度是指胶片对曝光量的容忍程度，显影性能是指显影过程中的表现情况。
这些标准的制定和执行，可以有效保证X射线检测的准确性和可靠性。
其次，工业X射线胶片标准的制定需要遵循一定的程序和原则。
首先是要充分调研和分析市场需求和技术发展趋势，了解用户的实际需求和使用情况，其次是要参考国际标准和行业标准，吸取先进经验和技术，再者是要结合国内实际情况，制定符合国情的标准，最后是要进行严格的测试和验证，确保标准的科学性和实用性。
只有这样，才能制定出符合实际需求的工业X射线胶片标准。
此外，工业X射线胶片标准的执行和监督也是至关重要的。
一方面，需要建立健全的标准执行机制，明确责任和任务，保证标准的全面执行；另一方面，需要建立有效的监督机制，及时发现和纠正标准执行中的问题和不足，确保标准的有效实施。
只有这样，才能保证工业X射线胶片标准的有效性和实用性。
最后，工业X射线胶片标准的不断完善和更新也是必不可少的。
随着科学技术的不断发展和进步，工业X射线胶片的应用领域和要求也在不断变化，因此，工业X射线胶片标准也需要不断进行修订和更新，以适应新的需求和技术。
只有这样，才能保证工业X射线胶片标准始终符合实际需求和技术发展的要求。
综上所述，工业X射线胶片标准对于工业无损检测具有重要意义，其制定、执行、监督和更新都需要引起足够的重视和重视。
只有如此，才能确保工业X射线胶片在工业生产中的有效应用，为生产安全和质量保驾护航。
XXQ3005射线曝光曲线校验方案2010000
X 光探伤机自检报告XXQ3005射线曝光曲线校验方案编制人：审核人：批准人：九江九洲节能环保工程有限公司2010.12.6XXQ3005射线曝光曲线校验方案1.选择与原曝光曲线制作完全相同的胶片，增感屏、焦距、黑度、暗室处理的条件。
2.采用阶梯形试块，（见图1）进行标验。
若阶梯试块的最大厚度不能满足实际透照厚度，开采用垫板增厚的方法进行扩大阶梯形试块的厚度。
图1阶梯试块规格3.选取曝光量为15mA/min，选取电压值不小于5个，其中必须包括设备最大电压（300KV），最小电压（170KV）值，其他的电压值可在上述两点之间任选。
4.将校验结果填写附表15.当校验底片黑度的误差超出原曝光曲线所规定标准黑度的±0.5时，必须进行修正。
6.当校验底片黑度误差超出±0.5时，说明该曝光曲线已不能使用，必须重新制作曝光曲线。
7.本设备的曝光曲线标验周期为1年。
8.校验人员由持有射线II级以上资格的人员进行。
9.探伤过程中如发现实际探伤条件所得到的底片黑度与曝光曲线要求的黑度不一致时，应重新制作曝光曲线。
10制作曝光曲线时应由无损探伤责任工程师组织进行，并在原曝光曲线的使用有效期内，更新曝光曲线。
X光射线曝光曲线校验报告仪器检验报告14120厚度曝 光 曲 线 表26018时间11021612435160190机 型：XXQ3005胶 片：天津III型焦 距：600mm 增感屏：0.03mm 黑 度：2.0--4.0显影条件：20℃/5min20140。
X射线曝光曲线校验规程
X 射线曝光曲线校验规程1、编制依据：依据JB/T4730-2005标准要求，每台在用X射线机应制作经常检测材料的曝光曲线。
依据曝光曲线选择曝光参数。
2、适用范围本规程适用公司内在用X射线机曝光曲线的制作的校验。
3、校验用器具和环境条件3.1阶梯试块：阶梯级差为2mm，每级宽度不少于15mm，试块长度和宽度应不少于胶片尺寸，且宽度不少于100mm，长度不少于300mm。
3.2 JD-210A黑度仪。
3.3胶片及暗室处理。
3.4观片灯。
3.5校验环境条件：校验场所应在射线防护措施房间内进行，周围应无机械振动、电磁干扰、粉尘，照明条件适度、通风良好。
4、制作步骤每台X射线机的曝光曲线，应不少于3个选定管电压的参数曲线。
4.1设计透照参数每台X射线机制作2条曲线，每条曲线应设计1张参数表，其管电压的选择应为设备的较低、中等以及较高管电压，如250KVX射线机，推荐选择150KV、200KV、240KV。
4.2.1根据选择的曝光参数进行透照，透照时暗盒背面要用1mm铅版屏蔽。
4.2.2底片冲洗干燥后，用观片灯观察，并用黑度计测量，选择黑度2.5（或与之最接近）的部位，填入参数设计表的对应栏。
4.2.3绘制曝光曲线4.2.3.1根据参数设计表中数据，绘制曝光曲线。
4.2.3.2曝光曲线用EXCEL形式绘制，纵坐标为曝光量的常用对数，横坐标为透照黑度，胶片、增感屏、底片黑度、透照焦距、暗室处理条件、射线机型号及编号均在曝光曲线表中注明。
5、曝光曲线的校验和校验周期5.1在用X射线机曝光曲线校验周期为每年进行一次。
5.2 X射线机更换重要部件或经大修后，应及时对曝光曲线进行校验，经校验曝光曲线参数与曝光曲线不符合时，应重制作曝光曲线。
6、记录每次校验应填写曝光曲线试验记录，记录形式见曝光曲线试验记录表曝光曲线试验记录。
胶片的“感光特性曲线”
前些天就胶片感光特性曲线问题，与强总进行过短信沟通。
我认为强总的意见比较准确、全面，而我的意见则有些偏颇。
为了进一步阐述这个问题，撰写了此文。
如有不当，请专家和读者朋友指正。
1 铅增感胶片感光特性曲线的两种型式我们讨论的胶片，应是符合GB/T19348.1一2003《无损检测工业射线照相胶片第一部分：工业射线照相胶片系统的分》标准，即铅增感胶片。
感光特性曲线是表示吸收剂量K(或照射量P)和底片黑度之间的关系曲线，可以是D一LgK曲线，也可以是D一K曲线。
前者是涉及梯度G定义的常用曲线。
当X射线管电压和管电流等条件固定后，黑度仅决定于曝光时间t时，D一LgK曲线可用D一Lgt代替，D一K曲线可用D一t代替。
1.1 D一Lgt曲线其特性曲线如图1所示。
图1 铅增感型胶片的D一lgt特性曲线这种曲线，大约在黑度0.5以下，它有迟钝区和曝光不足区，黑度从0.5至5是曝光正常区，是个近三次方的呈“J”形的曲线。
在D=0.5～5的范围内，没有过渡区和反转区。
1.2 D一t曲线铅增感胶片的D一t曲线，大约是一条上斜的直线，即黑度D和曝光时间t(实质是和吸收剂量K)近似成正比。
，见图2。
D和t、D和K的关系可以写为D≈g.tD≈g.K式中：g一比例系数。
笔者根据《日本射线探伤B》第22页表1.2，整理出表1，并根据表1绘制了D一t曲线。
表1 富士100#不同黑度下的t(数据来源于《B》表1.2，管电压、管电流固定)Dt (秒)梯度G1.035.251.71.558.53.02.0813.72.51054.93.01275.9以表1的t为横座标，D为纵座标，绘出D一t曲线，如图2。
图2富士100#胶片D一t曲线之一段图2的纵座标D如果是净黑度，则D一t斜直线过座标零点。
由图可见：在管电压和管电流不变的前提下，铅增感型胶片的底片黑度大约和曝光时间t(或说吸收剂量K)成正比。
《美国无损检测手册.射线卷》(1992译本)给出了相似的图形，读者可查该书第216页图4一34。
射线检测曝光量和曝光曲线
射线检测曝光量和曝光曲线11.1曝光量11.1.1X射线照相，当焦距为700㎜时，曝光量的推荐值不小于15mA·min（小于或等于89㎜管对接焊缝除外）。
当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量进行换算。
此条规定源于JB4730标准。
通常以焦距700㎜为准，其曝光量的推荐值不少于15mA·min。
焦距改变时按平方反比定律计算曝光量。
但对小径管和透照厚度差较大的部位采用高电压、短时间透照时则不受此条件限制，这也是本条中对“曝光量”采用“推荐值”的含义之一。
11.1.2采用γ射线源透照时，曝光时间不小于输送源往返所需时间的10倍。
此条规定与JB4730的规定相同。
当工件较薄、焦距较小，或源强过大时，在输送源的往返过程都对胶片感光，相当于射线源在运动中照相，几何不清晰度明显增大，缺欠影像的边缘不清，严重时点状缺欠会照成椭圆形。
因此，为保证底片质量，本条对曝光时间作以规定。
11.2 曝光曲线11.2.1 应根据设备、胶片和增感屏等具体条件制做或选用合适的曝光曲线，并以此选择曝光规范。
曝光曲线是在射线机、胶片、增感屏、工件厚度、焦距及暗室处理等一定的条件下，用不同的管电压和曝光量透照阶梯试块，经暗室处理后，测出底片上某一黑度值，画出的曝光量或管电压与透照厚度之间的曲线。
它是编制检测工艺和确定检测规范的依据。
因此每台射线机必须绘制曝光曲线。
11.2.2对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。
射线设备更换重要部件或大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。
X射线机长时间工作，其性能会发生变化，因此曝光曲线应定期校验，特别是射线机更换主要部件或大修时，均应重新校验曝光曲线，以保证检测规范的准确性。
X射线探伤机曝光曲线图的制作
X射线探伤机曝光曲线图的制作1.目的对作业设备X射线探伤机曝光曲线的制作作出要求，以确保检测时选用合适的工艺参数。
2.适用范围本公司承建的压力管道及场站施工中所使用的X射线探伤机设备。
3.编制依据和引用标准 .SY4056—93 《石油天然气钢质管道对接焊缝射线照相和质量分级》GB4792—84 《放射卫生防护基本标准》JB4730—2005 《承压设备无损检测》4.职责4.1由无损检测责任人对其所使用的x射线探伤机制作曝光曲线。
4.2无损检测责任人员根据设备、胶片、增感屏和其他条件编制工艺卡，负责曝光曲线制作过程的质量控制。
4.3探伤人员按照X射线探伤作业指导书要求对阶梯试块进行透照和暗室操作，并正确记录原始数据。
5.曝光曲线制作方法和阶梯试块的要求5.1 X射线探伤机曝光曲线：曝光曲线是在机型、胶片、增感屏、焦距等条件一定的前提下，通过改变曝光参数(固定Kv、改变mA.min或固定mA.min，改变Kv)透照由不同厚度组成的钢阶梯试块，根据给定冲洗条件洗出的底片所达到的某一基准黑度(如为1.8或2.0)，来求得KV、mA.min,T 三者之间关系的曲线。
5.2 X射线探伤机曝光曲线所用阶梯试块的要求所使用的阶梯试块面积不可太小，其最小尺寸应为阶梯厚度的5倍，否则散射线将明显不同于均匀厚度平板中的情况。
另外阶梯块的尺寸应明显大于胶片尺寸，否则要作适当遮边。
射线探伤机曝光曲线制作过程6.X．6.1绘制D-T曲线，采用较小曝光量，不同管电压拍摄阶梯试块，获得第一组底片。
再采用较大曝光量，不同管电压拍摄阶梯试块，获得第二组底片。
用黑度计测定获得透照厚度与对应黑度的两组数据，然后绘制出D—T曲线图。
6.2绘制E—T曲线选定一基准黑度值，从两张D—T曲线图中分别查出某一管电压下对应于该黑度的透照厚度值。
再E—T图上标出这两点，并以直线连接即得该管电压的曝光曲线。
7.曝光曲线制作过程的质量控制7.1对曝光曲线所用阶梯试块的要求7.2在绘制D—T曲线时采用较小和较大曝光量的选择。
x射线曝光曲线制作步骤
x射线曝光曲线制作步骤
答：制作X射线曝光曲线的步骤如下：
1. 制作阶梯试块：注意试件的宽度和梯级宽度，并准备适当的平垫板。
2. 设计透照参数：参数设计包括管电压（KV）、曝光量（mAs）、对应厚度等。
例如，可以按照一定的电压范围（如120KV、150KV、180KV），设置不同的曝光量（如10mAmin、30mAmin等），以获得不同的透照厚度。
3. 采用射线向上透照法进行透照，以最大限度地减少散射影响。
4. 在暗室中进行暗室处理，例如显影、定影等步骤。
5. 测量底片黑度：使用黑度计仔细地测出摄得的三张底片上各自每个台阶厚度所对应的黑度。
6. 选择与最佳黑度2.5对应的厚度值，填入表格。
7. 描点画线：纵坐标为对数坐标，代表曝光量，横坐标为非对数坐标代表透照厚度。
8. 根据表格中的数据，用直角坐标纸画出图1、图2、图3和图4，将相应电压下的厚度值填入表四。
9. 将曲线按要求进行绘制：根据图1、图2、图3和图4中的数据，用半对数坐标纸画出所需要的曝光曲线，并在曝光曲线上注上黑度值、胶片和增感屏类型、暗室处理条件、焦距、制作日期等。
以上步骤仅供参考，具体操作可能因设备、材料等不同而有所差异。
X射线机曝光曲线的制作与校准作业指导书
X射线机曝光曲线的制作与校准作业指导书目的：制作公司用于现场X射线检测的设备的曝光曲线并在检测过程中的校准修正。
适用范围：公司用于现场X射线检测的X射线设备。
作业步骤：1.将厚度适当的阶梯试块在装有胶片的暗盒上，在阶梯试块的不同厚度的阶梯上，放上与阶梯厚度相同的铅字标记。
且将射线中心束指示线垂直对准阶梯试块的中心部位。
2.选择固定的焦距，使其在固定的管电流和管电压下，选择几个不同的曝光，每次增加30秒一组，得出几个不同曝光量的胶片。
由此找出曝光时间和厚度的关系。
3.选择固定的焦距，使其在固定的管电流和曝光时间选择几个不同的管电压进行曝光，每次升高10KV，得出一组不同管电压的胶片由此找出管电压和厚度的关系。
4.将上述所摄胶片，在严格控制的同一条件下进行暗室处理，水洗后晾干。
由此得到一系列光学密度呈阶梯变化的黑度片（底片）5.黑度测定用精度较高的黑度计测出底片上的各阶梯黑度值，确定符合象质指数值而黑度为1.5的阶梯厚度，将数值填入表1和表2中，如底片上找到正好符合黑度1.5的阶梯厚度，也可根据相邻阶梯的黑度，用插入法确定适用的相应厚度。
6.在适当的座标纸上，画出纵座标（管电压或曝光量）和横座标（厚度）的刻度，然后按表1和表2的数据绘出相应的如图1和图2的曝光曲线。
在曲线图中应同时注明其他有关条件。
7.已完成的曝光曲线，在实际透照中，由于某些条件的变化，如焦距、胶片类型改变，射线管更换或老化后必须进行校准修正。
表 1 以曝光时间为参数的曝光试验记录表2 以管电压为参数的曝光试验记录注：T适用厚度（mm） N0 ：片号图1 图2T:mm T:mm。
Chap2 胶片、HD曲线测定
医用X线胶片---结构 医用X线胶片---结构
2、单面涂布型胶片的基本结构：片 单面涂布型胶片的基本结构： 结合膜、感光乳剂、保护膜。 基、结合膜、感光乳剂、保护膜。
保护膜 乳剂膜 结合膜 片基 防反射层
医用X线胶片---结构 医用X线胶片---结构
3、T颗粒胶片 是将卤化银颗粒切割成扁平状，以预期 的方式系统地排列，并在乳剂中加入品 红染料，以增加影像清晰度的一种新型 X线胶片。 扁平颗粒的特点是：1）表面积大且平 整，长而薄，体积小，颗粒细；2）绿 敏片；3）成像清晰度明显提高，但感 光速度慢。
双面涂布乳剂型胶片的基本结构
1、又称双药膜胶片，由片基、结合膜、 又称双药膜胶片，由片基、结合膜、 感光乳剂、保护膜组成。 感光乳剂、保护膜组成。
保护膜 乳剂膜 片基 结合膜
X线胶片结构---片基 线胶片结构---片基
片基不但决定胶片的机械性能,同 时也会影响胶片的成像性能。因此片基 的要求如下： 1、厚度：对透光率、折光率及机械强度 有影响。材料不同厚度不同。 2、透明度及色泽：透明度越高越好；浅 蓝色泽，读片者舒适。 3、耐光性：指片基在长时间光照下透明 度变化的程度，三醋酸纤维素酯及涤纶 片基较聚碳酸酯片好。
D D
密 3 度
2 1
X线胶片的感光特性
1、感光度（S）指感光材料对光的敏感 程度，即感光材料产生密度1.0(再加本 底灰雾),所需照射量(H)的倒数值。 两种胶片感光度之间的比称比感度， 又称相对感度（ S R），即两种X线胶 片各自产生密度1.0的相对曝光量的百 分比值。
X线胶片的感光特性
2、本底灰雾（D0） 是胶片固有的密度，是胶片片基的密 度和胶片显影灰雾的密度之和。显影灰 雾密度是由感光中心、银盐颗粒及明胶 形成的。
胶片特性曲线的制作实验心得
胶片特性曲线的制作实验心得前言：前段时间我们做了胶卷特性曲线的调查，现把心得整理如下。
关于制作特性曲线之前有个重点需要注意：实验目的主要是研究实际应用中各种不同的影片、胶片及其工艺方法所产生的画面信息量差异。
为了验证“什么样的胶片才适合制作特性曲线”这个问题，选择具备感光乳剂浓度均匀且曝光值稳定的底片进行实验。
由此导出最终结果：正确的影片必须满足两个条件（1）有高质量的银盐层；（2）曝光的胶片平滑无暗斑或色偏等缺陷。
否则即便你用特殊方式提取出高分辨率的影象也没办法将他复制到原来那张影片上去！实验内容：胶片电影胶片的一种类型是感光乳剂在强烈阳光照射下曝光时发生变化产生阴极，而另外一些却是因为吸收紫外线后显示负像，然后加入溴化银与卤化银混合形成卤化银颗粒。
只要保持良好状态的镜头，都会比较精细地表达真实场景，并赋予影视观众逼真、鲜明的印象。
虽说我们总希望从胶片记录中获得更多的东西，但事实往往相反——看起来清晰锐利的部位实际上是亮点处理的结果。
一般来讲，它们呈现灰白的色调，似乎毫无层次感，有时甚至很模糊。
第二步：胶片和底片上的图像被曝光后就不能再还原成原来的图像了。
然而随着技术的改善，人们开始探索将影片拷贝回胶片上的新途径。
尽管在大屏幕上播放仍旧可见清晰锐利的部位，但这种完美的效果却难以复制到胶片上。
当然，这里指的是一般情况下的操作，若想将一幅图像转移到另一张影片上几乎是不可能的任务。
这就是说，每幅影片本身包含许多自己独立存在的元素。
要找到准确的答案，首先就要弄懂这些影片自身的构造机理。
实践证明，在胶片记录中除了常规的银盐和溴化银成份外，还经常添加其他元素，例如铁、镁、铝和氧等。
其功能是防止胶片发生退色和感光材料老化等破坏性的损伤。
实验的第三步：寻找最佳的曝光组合。
为了让特性曲线更接近实际情况，有必要尝试各种手段。
最简单直接的方法就是将感光材料溶解掉重新配置，但这又带来许多麻烦。
根据不同的胶片使用要求，采用适宜的底片感光材料、感光器和冲洗药液，可以使我们设计的特性曲线最优化。
Chap2--胶片、HD曲线测定
X线胶片的影像质量参数
5、胶片的MTF（modulation transter function）：是用空间频率作自变量的函数
来表示输入到胶片上信息的再现率。这是一 种评价X线胶片质量的方法
在本世纪60年代，人们把“通讯”领域内的 “调制”“传递”概念引入放射技术界，开 始应用调制传递函数（ MTF ）客观地定量地 评价照片的影像质量，评价胶片的调制传递 功能。
感光测定---HD曲线
直线部（ BC段）又称线性部分，表示照片上密 度值与曝光量的增加成正比，此部分决定了胶片 的感光特性，是特性曲线中正确曝光部分，照片 影像对比大，层次显示好，是在X线摄影中选择 曝光量应采用的部分。
肩部（ CD段）又称曝光过度部分，此部分密度 增加与曝光量增加不成比例，即曝光量大量增加， 但照片密度上升很少，照片影像呈曝光过度。
1、感光度（S）指感光材料对光的敏感 程度，即感光材料产生密度1.0(再加本 底灰雾),所需照射量(H)的倒数值。 两种胶片感光度之间的比称比感度， 又称相对感度（ S R），即两种X线胶 片各自产生密度1.0的相对曝光量的百 分比值。
X线胶片的感光特性
2、本底灰雾（D0） 是胶片固有的密度，是胶片片基的密
使清晰度下降的原因除了乳剂层本身的特 性外，主要由光的散射现象造成，卤化银晶 体对光线的散射引起影像轮廓模糊称光晕。
X线胶片的影像质量参数
4、感色性：
感光乳剂对不同色光的敏感程度称感色性。 乳剂层吸收了光能，产生光化反应，形成潜 影。乳剂层这种光的吸收能力具有选择性， 即不同的胶片对不同的光吸收程度不同。潜 影的密度是由X线及X线激发的荧光共同作用 形成的。
度和胶片显影灰雾的密度之和。显影灰 雾密度是由感光中心、银盐颗粒及明胶 形成的。
X-射线荧光分析仪工作曲线标样的建立
X-射线荧光分析仪工作曲线标样的建立摘要：本着标样配置的原则，并结合本厂制定的相应对策及本厂实际情况进行标样的配置，并采用了荷兰帕纳科的X-射线荧光分析仪，达到快速准确检测的目的，大大的提高了产品质量。
关键字：生料标样配置；曲线质量；X-射线荧光仪Abstract: in line with the principle of prototype configuration, and combined with the factory make corresponding countermeasures and our real situation of the prototype configuration, and used the Dutch, the veil, X-ray fluorescence analyzer, achieve rapid accurate detection of purpose, greatly improve the product quality.Key words: sample raw configuration; Curve quality; X-ray fluorescence spectrometer1 前言水泥质量的好坏取决于所用的硅酸盐水泥熟料质量的优劣。
然而, 要想获得质量优良的硅酸盐熟料, 首先要根据熟料中各矿物成分的性质, 设计其矿物组成, 然后根据原材料的化学成分和燃煤的灰分确定所用原料的配合比, 即生料配料。
因此, 生料配料对水泥生产质量起关键作用[1]。
生料质量的控制是过程控制。
但实际生产中生料测定的结果与真实值偏差较大，无法快速准确的反映实际生产情况，控制生产。
致使生料质量不稳定。
为了提高产品质量，水泥企业广泛采用X-射线荧光分析仪，对生料配料过程进行快速准确的检测。
荧光仪虽然具有分析速度快精度高的优点，但如果标样配制不好，工作曲线不理想，荧光仪就很难发挥它的优势，因此，建立好工作曲线是充分利用好荧光仪的前提条件。
X射线曝光曲线的制作及应用
X射线曝光曲线的制作及应用【摘要】本文介绍了使用阶梯试块来制作x射线曝光曲线的原理及具体操作步骤，并重点介绍使用微机作图来绘制曝光曲线的方法，同时对曝光曲线在电力建设射线检验中的应用作了阐述和论证。
【关键词】x射线；曝光曲线；制作及应用0 引言射线探伤是无损检测主要常规检验方法之一，在电力建设焊接施工检验中占有重要地位。
而对于射线检验中应用最多的x射线检验来说，曝光曲线的应用对于检验人员正确选择曝光参数、有效控制透照底片质量有着重要的理论和实践意义。
当前，在电力建设焊接施工检验中，检验人员实际透照选择曝光参数时，一般对受检部件进行二至三次试拍片以后，才能找出较为合适的曝光数据，这种方法既浪费材料、又降低工效，同时又容易延误探伤时机。
而有了曝光曲线以后，对于不同厚度工件的探伤，检验人员可以方便的从曲线中查得所需参数，然后根据现场实际情况稍加修正，就可直接应用于现场操作，方便而又快捷。
当前，造成检验人员不能应用曝光曲线指导现场施工操作的主要原因，是因为x射线曝光曲线制作过程较为复杂，大多数检验人员没有制作曲线的实践经历，对它的实际应用也需要有一个掌握和熟练的过程，所以本文着重介绍曝光曲线的制作方法及其应用。
1 x射线曝光曲线的制作1.1 定义x射线曝光曲线是利用作图法来表示的x射线的穿透厚度、管电压、曝光量以及胶片之间关系的曲线。
1.2 x射线曝光曲线的基本形式对同一台x射线机来说，如果保持透照方式、暗室处理条件、胶片类型、增感方式以及观片条件等因素不变，只以工件厚度、管电压和曝光量为可变参数，则不同焦距、不同底片黑度时的曝光曲线的基本形状是一样的。
对x射线来说，当前常用的曝光曲线主要形式如图1（ａ）所示。
它是在固定透照焦距和底片黑度的前提下，以横坐标表示穿透厚度、以纵坐标表示管电压，以曝光量为参数所得出的一组直线线簇。
另外，在绘制此种曲线时，还必须绘制如图１（ｂ）所示的一组预备曲线，此种曲线曝光量取固定值，以穿透厚度为横坐标，以底片黑度为纵坐标，以管电压作曝光参数；此种曲线在实际探伤中应用也相当广泛。
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＊ 收 稿 日期 ：０ ７０ —Ｏ｝ ２ ０ —９２
修 订 日期 ：０ ８０ －７ ２ ０ —１１
基 金 项 目： 国 工程 物 理 研 究 院基 金 资 助 课 题 （ ０ ５ ２ ４ ； 温 高 密 度 等 离 子 体 物 理 重 点 实 验 室 基 金 资 助 课 题 （１ ０ ６０ ００ ０ ） 中 ２ ０ ０ １ ）高 ９ ４ Ｃ ８ ４ ２７ ４ 作者 简介： 赵 阳 （９ １ ）男 ， 士 生 ， １８ 一 ， 博 主要 从 事 高 温 等 离 子 体 Ｘ 射 线 谱 学研 究 ｝ｄ ｒ ｓｙ ｔｍ．ｏ 。 ｅｗａｄ ｚ＠ ｏ ｃｒ ｎ
性 。 Biblioteka ｌ 天 津 Ⅲ胶 片 响 应 曲线 的 实 验 标 定
１ １ 实 验 装 置 及 标 定 方 法 ．
实验排 布 如 图 １ 所示 ， ３ ｌ 出射 的 同步 辐射 光经 柱面 镜 和平 焦 场光 栅 ， 固定 的方 向上 得到 了单 色 的 由 Ｗ Ｂ 在 Ｘ射 线 。前 置光 阑 和滤 片 １的作用 是 抑制 变栅 距光 栅 带来 的杂 散光 和高次 谐波 。实验 中采 用 电动快 门来 控 ］ 制曝光 时 间 ， 阑 限制光 斑 大小 ， 光 透射 Ｘ光信 号 的绝对 强 度利用 标 准探 测器 （ ＵＶ １ ０ ＡＸ － ０ ）监 测 ， 出信 号用 美 输
文 章 编 号 ： １０ —３ ２ ２ ０ ） ３０ １—４ ０ １４ ２ （０ ８ ０ —４ ９０
Ｘ光 胶 片 响 应 曲线 的 实验标 定
赵 阳１ ， 杨家敏。 张继彦。 易荣清。 张文海。 ， ２ ， ， ， ， 刘劲松 ， 袁 孝 ， 崔明启。 甘新式。 ，
摘
要 ： 介 绍 了 天 津 ⅢＸ光 胶 片 在 北 京 同 步 辐 射 源 ３ Ｂ装 置 上 进 行 绝 对 响 应 标 定 的 一 种 实 验 方 法 。 Ｗ１
实 验 中采 用 快 门 控 制 曝 光 时 间 ， 准 探 测 器 记 录积 分 光 强 ， 而 得 到 胶 片 接 收 到 的 绝 对 光 强 ， 用 黑 密 度 计 扫 标 从 并 描 胶 片得 到 光 学 黑 密 度 。数 据 处 理 中通 过 对 快 门 响 应 的标 定 和 对 光 源分 布不 均匀 性 的 处 理 来 减 小 光 强 的 不 确 定 度 。实 验 得 到 了胶 片 在 １ｋ Ｖ 和 １ ５ｋ Ｖ 两 个 能 点 绝对 光 强 与 黑 密 度 之 间 的 绝 对 响 应 实 验 数 据 ， 用 Ｈｅ— ｅ ． ｅ 并 ｎ ｋ ｅ的理 论 公 式 拟 合 得 到 绝 对 响 应 曲线 。 关 键 词 ： Ｘ光 胶 片 ； 同 步 辐 射 ； 响 应 曲 线 ； 标 定
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第 ２ Ｏ卷
第 ３期
强 激 光 与 粒 子 束
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Ｖｏ ． Ｏ， ． １ ２ Ｎｏ ３
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２０ ０ ８年 ３月
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