TIF图像处理软件使用

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本小节的教学目的是引领您了解过滤和测量工具。

在本课程中，您将：
1. 从Image-Pro Plus 数据库中装入一幅图像。

2. 使用锐化滤镜来强调图像中的对象边缘。

3. 按微米为单位来校准空间刻度以进行测量。

4. 使用手动和自动轨迹测量工具来测量图像对象。

5. 将测量存储为一个ASCII 文件。

设置：如果您还未启动Image-Pro Plus ，则请双击Image-Pro Plus 文件中的
Image-Pro Plus 图标。

当启动了Image-Pro Plus 后，您即可按照下述操作步骤进行练习。

重要：请为此次练习检查您的Image-Pro 设置是否与本教学中对话框上的设置完全相同。

如果Image-Pro 5.1中还保留有早期练习的一些设置，则Image-Pro 5.1中的设置可能会与本次练习所用到的设置不一致。

6. 从数据库中装入图像错误！未找到引用源。

在本练习中，您将从Image-Pro Plus 数据库中装入名为Circuit.tif 的图像。

错误！未找到引
用源。

1. 错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

从文件菜单中选择Image Database 命令。

Image-Pro 打开数据库并装入示例数据库DBIPP.MDB-Folder:Sample 。

DBIPP.MDB-Folder ：Sample 是一种图库布局格式，可从Image Database 菜单栏上的选项菜单中选择。

2. 错误！未找到引用源。

从图像图库中双击Circuit.tif图像以打开此图像。

将在的Image-Pro Plus工作区中打开Circuit.tif图像窗口。

这是一
幅蚀刻了的印刷电路板(PCB)图像。

3. 错误！未找到引用源。

从文件菜单中选择退出，关闭此数据库。

继续本练习的下一个步骤：锐化图像。

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7.错误！未找到引用源。

锐化图像
在本练习中，您将使用锐化滤镜来强化Circuit.tif图像的边缘。

由于您将要测量
此图像中电路板的轨迹，因而轨迹应清晰且有明显示的边缘。

锐化将强化轨迹的端点和电路板的始点。

1.
错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

从处理菜单中选择滤镜…命令。

错误！未找到引用源。

出现滤镜对话框。

2. 点击增强选项卡页面中的锐化单选按钮。

错误！未找到引用源。

3. 错误！未找到引用源。

将选项组框中的强度值设置为8。

这将以锐化滤镜最大强度的80%来应用此滤镜，此强度值将产生一个显著的但非极端的滤镜应用。

注意：当您在强度字段中键入数字时，将会出现两个特殊的数据按钮。

Image-Pro Plus将通过这两个按钮来输入或清除键入到字段中的数据。

点击校验标记( )按钮确认此字段中输入的数字（按<回车>键也具有同等作用）。

此时，Image-Pro Plus将执行有效性检查。

如果输入的数据超出了此字段允许的数值范围，则校验标记按钮和X按钮将不会消失。

点击X按钮清除此字段中的数据，并将恢复此字段的值到初始值。

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如果通过选项的值不是其默认值1，请在继续下一步骤之前将其设置为1。

4.
错误！未找到引用源。

在示例窗口中点击以预览效果。

错误！未找到引用源。

在示例窗口中拖动可预览图像其它部分的应用效果。

5.
点击应用按钮。

将锐化Circuit.tif 图像。

现在，图像的边缘和细则更为显著。

错误！未找到引用源。

6.
关闭滤镜对话框。

继续本练习的下一个步骤：校准空间刻度。

8.
错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

校准空
间刻度
本步骤将建立与此图像相关联的测量单位。

默认情况下，Image-Pro Plus 将以像素为单位来测量所有的空间。

您将要更改空间刻度，使得Image-Pro Plus 以微米为单位来进行测量。

这幅精确的图像是用标识为1微米长的校准条标记的。

此校准条表明应指定1微米长度应用到Image-Pro Plus 中。

您将使用缩放工具来放大此图像以便于进行一个精确的测量。

点击此处以预览
1.
错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

从工具栏中选择缩放工具。

鼠标指针变成了一个放大镜。

2. 将缩放指针（放大镜）放到位于右下角的校准条上。

3. 点击鼠标左键。

错误！未找到引用源。

Circuit.tif图像被放大至其原始尺寸的2倍。

状态栏上显示了此放大量。

4. 再次放缩放指针放到校准条上并点击鼠标左键，再次将图像放大2倍。

Circuit.tif图像被放大至其原始尺寸的4倍。

错误！未找到引用源。

校准条
校准条
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5. 错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

从测量菜单中选择校准
次级菜单，然后选择空间…选项。

错误！未找到引用源。

出现空间校准- circuit.tif窗口。

6. 错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

点击新建按钮。

校准字段被激活，并且在名称字段中自动出现Spatial Cal0的名称。

名称字段可标识您将要创建的校准值的设置。

您可将校设置保存下来，
以便您再次需要时可方便地调用。

7. 错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

删除名称字段中的内容
并键入：circuit x5000
这将会把您要创建的校准设置指定到该名称。

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8. 错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

删除单位字段中的内容
并键入：microns
错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

这使得Image-Pro Plus 会将您的测量标记为微米，而不论是否创建空间测量报告（如测量数据表或直方图中）。

您也可通过滚动单位列表框，查看有效的选择，然后选择测量单位。

9. 错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

点击像素/单位组框中的图像按钮。

错误！未找到引用源。

出现标度对话框，同时图像中自动添加了一条定义线。

请确信参考描述为1个单位（1微米）。

出现标度对话框，同时图像中自动添加了一条定义线。

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错误！未找到引用源。

可通过图像按钮来从图像中已知的测量标准中定义您的空间校准。

此时，Circuit.tif 图像中的白色标记（校准条）为1微米长。

在随后的几个步骤中，您将校准定义线为校准条长度。

10.错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

点击缩放工具以关闭缩
放。

11. 将鼠标指针移到定义线的右端点。

鼠标指针将变为十字指针。

12.
错误！未找到引用源。

使定义线的长度与校准条的长度相一致。

点击并按住鼠标左键，拖动定义线的末端。

如下图所示，改变定义线末端的位置，直到定义线笔直并且其长度与校准条长度完全相同。

定义线
校准条
13. 点击缩放比例对话框中的确定按钮。

将返回到空间校准- circuit.tif窗口。

此时，像素/单位字段中的读数应
约为20，这表明1微米长约相当于20个像素。

Image-Pro Plus将会按
这些条件创建所有的空间测量报告（例如，一个10个像素的测量将会
被描述为0.5微米，而一个40个像素的测量将会被描述成2.0微米，
依次类推）。

14. 在空间校准-circuit.tif对话框中，点击确定按钮。

空间校准窗口被关闭。

继续本练习的下一个步骤：测量长度。

9.错误！未找到引用源。

测量长度
在本练习中，您将使用长度工具来测量电路轨迹中间隙的宽度。

1. 在Circuit.tif图像上，点击鼠标右键。

出现缩放弹出式菜单。

2. 错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

选择缩放次级菜单，
然后选择缩放100%选项。

Circuit.tif图像将恢复至其原始大小。

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4-10
3.
错
误！未找
到引用
源。

错误！未找到引用源。

从测量菜单中选择测量…命令。

出现带选项卡的测量对话框。

4.错误！
未找到
引用源。

点击高级按钮。

5. 错误！未找到引用源。

选择最佳适配线特征。

确信选中了自动添加
复选框。

错误！未找到引用源。

6. 错误！未找到引用源。

出现创建最佳适配线对话框。

最佳适配线特
征用于获得一个直线测量。

错误！未找到引用源。

在这种情况下，您是在对弯曲物间轨迹的长度进行测量。

7. 如下图所示，将鼠标指针移到轨迹上，然后点击鼠标左键。

这锚定了测量的第一个点。

将光标放到此处
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8. 移动光标至轨迹中弯曲处的起点（见下图），然后双击鼠标。

错误！
未找到引用源。

在图像上出现一条连接两个锚定点的“测量”直线。

9. 测量选项卡对话框将报告此直线的长度，约为5.7微米。

将光标放到此
处
Image-Pro Plus快速入门指南
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注意：您可通过拖动直线的端点到新位置来调整直线。

可使用选择
工具（箭头）和按<Shift>键来移动此直线的端点。

在调整直线消息
框中，测量尺寸将自动更新为更改后的直线长度。

10. Image-Pro自动将您的测量线标记为BL1。

11. 错误！未找到引用源。

错误！未找到引用源。

如下图所示，重复执
行第4步至第9步，完成第二条轨迹的测量。

12. 系统将自动用两条轨迹数据更新测量选项卡对话框中的测量数据。

第二条轨迹
新的测量尺寸约为8.8微米。

请注意标记为BL1和BL2的测量尺寸。

BL说明这是一个最佳适配线测量，它后面的数字表示测量顺序。

例如，对于BL1，1表示这在此组数据中是第一个测量。

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