锥光镜下光学性质
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图50 一轴晶平行光轴切面干涉图中 双折射率大小变化示意图
3、平行光轴切面干涉图的应用 当轴性已知时，可以确定切面方向。平行光轴切面的干
涉图，一般不作为测定光性符号，但当轴性已知时，也可 以用来测光性的正负。测定时转动物台，黑十字逸出的方 向或色序较低的两象限的方向，即为光轴方向。使光轴与 上、下偏光镜振动方向成450时，插入试板观察视域中心干 涉色升降变化，测定光轴方向（即Ne）是Ng或Np，即可确 定其光性正负（图51）。
图51 一轴晶平行光轴切面干涉图中光性符号的测定
第二节 二轴晶干涉图
二轴晶干涉图比一 轴晶干涉图复杂，按切 面方向不同具有五种干 涉图，即垂直Bxa切面 、垂直一个光轴切面、 斜交光轴切面、垂直 Bxo切面，以及平行光 轴面（Ap）切面的干 涉图。
一、垂直锐角等分线（⊥Bxa）切面的干涉图 1、图象特点 当光轴面的迹线与上、下偏光镜振动方向之一平行时，干
图41 一轴晶垂直光轴切 面干涉图Ne’与No的方位
选择适当的补色试板，插入后观察干涉色级序的变化，根 据补色法则就能判断Ne＞No，还是Ne＜No，从而定出光 性符号。若晶体干涉色较低，如一级灰，就可以采用石膏 试板及云母试板进行测定光性符号，从Ⅱ、Ⅳ象限插入石 膏试板（Np方向平行长边）后黑十字呈紫红色，对角象 限干涉色产生相应的变化（图42）。
观察干涉图去掉目镜或推入勃氏镜是因为干涉图不是晶 片本身 的形象，而是各个不同方向偏光同时通过晶片后， 到达上偏光镜所产生的消光与干涉效应的总和。干涉图的 成像位置不在薄片平面上，而是在物镜的后焦平面上。去 掉目镜，能直接观察镜筒内物镜后焦平面上的干涉图实像 。加上勃氏镜与目镜联合组成一个宽角望远式的放大系统 ，把物镜后焦平面的干涉图放大。
在目镜十字丝及其近侧，其长短半径平行或近于平行上 、下偏光镜的振动方向，而呈现消光，构成黑十字的消 光影，而四个象限内大部分椭圆切面的半径都与上、下 偏光镜的振动方向斜交，故不消光而产生干涉色。由于 干涉图边缘部分圆切面长短半径之差（双折射率）比中 心部分大；以及边缘部分光线倾斜角度大，通过薄片的 路程也比中心部分长。
图36 透过聚光镜后的 锥形偏光
A-立体图；B-剖面图
非均质体的光学性质随方向而异，垂直不同方向入射光的 光率体切面不同，其长短半径在晶片平面上的方位不同， 它们与上、下偏光镜振动方向AA、PP之间的关系不完全相 同。许多不同方向入射光波同时通过晶片后，到达上偏光 镜所发生的消光与干涉效应也各不相同。因此，锥光镜下 观察到的，应当是各个不同方向入射光通过晶片后所产生 的消光与干涉效应的总和。它们构成了特殊的图形，称为 干涉图。
图48 一轴晶平行光轴切面的干涉图
如果晶体的双折射率值较大时，则在相对象限的边缘出现 弧形干涉色色带（图48B）。在光轴方向的两个象限内，干 涉色由中心向两边逐渐降低；在垂直光轴方向的两个象限 内，干涉色由中心向两边逐渐升高。如果晶体的折射率较 低，则不出现弧形干涉色带，而仅为一级灰白干涉色 。
图48 一轴晶平行光轴切面的干涉图
锥光镜下光学性质.ppt
第一节 锥光镜的装置及光学特点
在正交偏光镜（AA⊥PP）的基础上，加上聚光镜，换用 高倍物镜（40×），推入勃氏镜或去掉目镜便成了锥光镜 的装置。
加入聚光镜的作用是使透出
下偏光镜的平行偏光束变成锥 形偏光束（图36）。锥形偏光 束与平行偏光束的重要区别在 于平行偏光束基本是同一方向 垂直射入晶片；其特点：锥形 偏光束中除中央一条光波垂直 射入晶片之外，其余各光波都 是倾斜射入晶片，而且愈往外 倾斜角度愈大，在晶片中所经 历的路程愈长。锥形光束的偏 光，不管如何倾斜，其振动面 仍与下偏光镜振动面平行。
干涉色色圈以两个光轴出露点为中心向两边干涉色级序逐渐升 高，在靠近光轴处干涉色色圈呈卵形曲线，向外合并成“∞”字 ，更外成凹形椭圆。干涉色色圈的多少，取决于晶体的双折射 率及晶体薄片的厚度。双折射率愈大，切片愈厚，干涉色色圈 愈多；双折射率愈小，切片愈薄，干涉色色圈愈少，对于双折 射率较低的晶体，视域中除黑十字外，干涉图中无“∞”字形干 涉色色圈，在黑十字所分刈的四个象限内仅出现一级灰干涉色 。
2、成因 平行光轴切面的波向图中（图49），当光轴与上、 下偏光镜振动方向之一平行时，大部分的光率体椭圆半径都 与上、下偏光镜的振动方向平行或近于平行。在正交偏光镜 间，应当消光或近于消光，故形成粗大模糊的黑十字，稍微 转动物台，则大部分光率体椭圆半径与上、下偏光镜的振动 方向斜交，故黑十字迅速分裂退出视域，而使视域变亮，出 现干涉色。
图46 斜交光轴切面干涉图（光轴倾角较大）
2、斜交光轴切面干涉图的应用 A、当光轴倾角度不大时，可以确定轴性及切面方向
。 B、光性正负测定 干涉图中光轴出露点在视域内时，
测定方法与垂直光轴切面干涉图测定方法完全相同。如果 干涉图中光轴出露点在视域之外，就要确定视域属于哪一 象限，而如能确定干涉图中光轴出露点的位置，可确定黑 十字所分割象限的名称。确定光轴出露点的位置可根据① 黑十字的细端近光轴方向，粗端远离光轴；②等色环凹向 光轴方向；③黑臂移动的情况。
涉图由一个黑十字与“∞”字形的干涉色色圈组成（图52）。黑 十字的两个黑臂分别平行上、下偏光镜的振动方向，其粗细不 等，沿光轴面迹线方向的黑臂较细，在两个光轴出露点处更细 ；垂直光轴面方向（即Nm方向）的黑臂较粗；黑十字交点为 Bxa出露点，位于视域中心（即目镜十字丝交点）。
图52 二轴晶⊥Bxa切面的干涉图
图52 二轴晶⊥Bxa切面的干涉图
转动物台黑十字从中心分裂形成两个弯曲的黑臂，当光 轴面方向与上、下偏光镜振动方向的夹角为450时，（即物 台转动450），两个黑臂顶点间的距离最远（图52B、E）， 两弯曲黑臂顶点为两个光轴出露点，它们之间的距离与光轴 角（2V）成正比；弯曲顶点凸向Bxa出露点。弯曲黑臂顶点 的连线，代表光轴面（Ap）与薄片平面的交线。继续转动 物台，弯曲黑臂顶点逐渐向视域中心移动至900时，又合成 黑十字，但粗细黑臂的位置已更换。在转动物台时，干涉色 色圈随光轴出露点移动，其形状不发生变化。
图49 一轴晶平行光轴切面的波向图
当光轴与上、下偏光镜振动方向成450时，为什么会出现 对称的干涉色色带，而且沿光轴方向的干涉色较低，垂直 光轴方向的两个象限内干涉色由中心向两边升高？从图50 可看出：沿光轴的方向上，由中心向两边的各点上，其短 半径No的长短不变，长半径Ne’逐渐变短，因此，由中心 向两边双折射率逐渐变小虽然光波倾斜经过晶体薄片的距 离愈外愈长（经过的路程加大），
图43 干涉图中黑十字四个象限办仅 图44 干涉图中黑十字四个象限内
见一级灰干涉色时，加入石膏试板后 干涉色圈较多，加入云母试板后
的变化情况
的变化情况
二、斜交光轴切面干涉图 1、图像特点 在斜交光轴的切面中，光轴的位置是倾斜的
，光轴在晶体薄片平面上的出露点（黑十字交点）不在视域 中心，所以出现不完整的黑十字和不完整的干涉色色圈。
图47 转动物台时，斜交光轴切面干涉图中黑臂移动规律
三、平行光轴切面干涉图 1、图像特点 当光轴方向与上、下偏光镜振动方向之一平行
时，为一粗大模糊的黑十字，几乎占据整个视域（图48A）。 稍稍转动物台，粗大黑十字从中心分裂并沿光轴方向迅速退出 视域，因变化迅速故称之为瞬变干涉图或闪图。当光轴方向与 上、下偏光镜振动方向AA、PP成450夹角时，视域最亮。
图52 二轴晶⊥Bxa 切面的干涉图
均质体晶体的光学性质各个方向一致，任何方向的入射 光都不发生双折射，在正交偏光镜下全消光，锥光镜下看 不到干涉图。非均质体的光学性质随方向而异，在锥光镜 下能形成干涉图，其干涉图特点随晶体的轴性和切面方向 而异。
第二节 一轴晶干涉图
一轴晶晶体的干涉图，因切面方向不同而不同，主要有 三种类型，即垂直光轴切面，斜交光轴切面及平行光轴切 面的干涉图。
当光轴与薄片法线交角不 大时，光轴出露点，即黑 十字的交点虽不在视域中 心，但仍在视域内，转动 物台黑十字的交点绕十字 丝中心作圆周运动，黑臂 相应地做平行或垂直十字 丝移动（图45）
图45 斜交光轴切面干涉图（光 轴倾角不大）
当光轴与薄片法线夹角较大时，光轴出露点落在视域外， 视域中心见到一条黑臂（图46）。旋转物台，黑臂作水平 或垂直平行移动，并交替出现在视域内。斜交光轴切面干 涉图的成因，同样可用垂直光轴干涉图的形成加以解释。
图42 一轴晶晶体光性符号的测定
若Ⅰ、Ⅲ象限干涉色由灰变蓝，为干涉色升高，说明同 名半径平行，即半径方向为Ne=Ng，此一轴晶为正光性， 反之，象限由灰这黄干涉色（石膏）降低（图43），说明 异名半径平行，Ne＜No为负光性。
当晶体的双折射率较大或切面较厚时，四个象限为同心 圆形色环（图44），此时采用云母试板或石英楔测定，根 据补色法则定出正负光性。
2、成因 在垂直光轴的切面中，只有中央一条光线平行光 轴入射，其余各光线都是斜交光轴入射。根据光率体原理 ，除垂直中央一条光线的光率体切面为圆切面外，垂直其 余各条斜交光轴入射光线的光率体切面都是椭圆切面，其 长短半径的分布方向与大小随视域的不同方位入射光线的 倾斜角度而不同（图39）。
图39 一轴晶垂直光轴切面的波向图 （A）及黑十字成因（B）
图39 一轴晶垂直光轴切面的波向图 （A）及黑十字成因（B）
所以由中心往外，随着入射光线与光轴夹角愈来愈大，光程 差也由内向外相应地增加，其中与光轴夹角相等的各入射光 线，光程差大小相等，故构成同心环状干涉色色圈，而且愈 往外干涉色级序愈高（图40）。由于一轴晶垂直光轴切面上 光率体椭圆半径分布图呈放射状均匀对称，所以转动物台 3600，干涉图不发生变化。
图38 一轴晶垂直光轴切面的干涉图 A-双折射率较大的晶体；B-双折射率较小的晶体
换用高倍物镜作 用在于能接纳较大 范围的倾斜入射光 波，低倍物镜只能 接纳与薄片法线成 100夹角以内的光 波，高倍物镜可达 1200（图37），使 涉图较完整而且清 晰。
图37 放大倍率不同的物镜，能接纳 的倾斜光锥范围及所显示的干涉图
图40 干涉色色圈的成因（正光性）
3、垂直光轴切面干涉图的应用 A、确定轴性及切面方向 根据干涉图的形象特点，可确定为
一轴晶垂直光轴的切面。一轴晶其它方向切面及二轴晶切面不 具这种特征的干涉图。
B、测定光性符号 一轴晶晶体的光性正负是由Ne与No大小 决定，当Ne＞No时为正光性，Ne＜No时，为负光性。而Ne与 No在干涉图四个象限中的振动方向如图41， Ne为放射状，沿 半径分布，No为同心圆状分布。
一、垂直光轴切面的干涉图 1、图像特点（图38） 在平行目镜十字丝出现一个黑十字
（又叫消光影），把视域分刈为四个象限，四个象限出现的 颜色为干涉色。双折射率较大或薄片较厚的晶体干涉色呈同 心圆状色环。黑十字交点为光轴出露点，近光轴处黑臂较细 ，远离黑光轴处黑臂较粗。转动物台3600不发生变化。
图38 一轴晶垂直光轴切面的干涉图 A-双折射率较大的晶体；B-双折射率较小的晶体
图50 一轴晶平行光轴切面干涉图中 双折射率大小变化示意图
但因晶体薄片的厚度不大，视域的范围又较小，在此范 围内不足以抵消双折射率减小所引起的光程差减小，所以 在此方向上，由中心向两边干涉色逐渐变低。在垂直光轴 的方向上，由中心向两边的各点上，其光率体椭圆半径相 等，均为Ne和No，双折射率值相等，但由于光波通过薄片 的距离愈外愈长。故光程差愈外愈大，因而干涉色由中心 向两边逐渐升高。
黑臂移动情况（图47），顺时针转动物台，视域内出现一条 水平黑臂向上移动，光轴出露点在视域左方，被黑臂分割的视 域为Ⅰ、Ⅳ象限；水平黑臂向下移动，光轴出露点在视域右方 ，被黑臂分割的视域为Ⅱ、Ⅲ象限。视域内出现一条垂直黑臂 向左移动，光轴出露点在视域的下方，被黑臂分割的视域为Ⅰ 、Ⅱ象限；垂直黑臂向右移动，光轴出露点在视域上方，被黑 臂分割的视域为Ⅲ、Ⅳ象限。只要确定了黑臂分割视域的象域 名称，便可用前述同样的方法测定光性正负。
3、平行光轴切面干涉图的应用 当轴性已知时，可以确定切面方向。平行光轴切面的干
涉图，一般不作为测定光性符号，但当轴性已知时，也可 以用来测光性的正负。测定时转动物台，黑十字逸出的方 向或色序较低的两象限的方向，即为光轴方向。使光轴与 上、下偏光镜振动方向成450时，插入试板观察视域中心干 涉色升降变化，测定光轴方向（即Ne）是Ng或Np，即可确 定其光性正负（图51）。
图51 一轴晶平行光轴切面干涉图中光性符号的测定
第二节 二轴晶干涉图
二轴晶干涉图比一 轴晶干涉图复杂，按切 面方向不同具有五种干 涉图，即垂直Bxa切面 、垂直一个光轴切面、 斜交光轴切面、垂直 Bxo切面，以及平行光 轴面（Ap）切面的干 涉图。
一、垂直锐角等分线（⊥Bxa）切面的干涉图 1、图象特点 当光轴面的迹线与上、下偏光镜振动方向之一平行时，干
图41 一轴晶垂直光轴切 面干涉图Ne’与No的方位
选择适当的补色试板，插入后观察干涉色级序的变化，根 据补色法则就能判断Ne＞No，还是Ne＜No，从而定出光 性符号。若晶体干涉色较低，如一级灰，就可以采用石膏 试板及云母试板进行测定光性符号，从Ⅱ、Ⅳ象限插入石 膏试板（Np方向平行长边）后黑十字呈紫红色，对角象 限干涉色产生相应的变化（图42）。
观察干涉图去掉目镜或推入勃氏镜是因为干涉图不是晶 片本身 的形象，而是各个不同方向偏光同时通过晶片后， 到达上偏光镜所产生的消光与干涉效应的总和。干涉图的 成像位置不在薄片平面上，而是在物镜的后焦平面上。去 掉目镜，能直接观察镜筒内物镜后焦平面上的干涉图实像 。加上勃氏镜与目镜联合组成一个宽角望远式的放大系统 ，把物镜后焦平面的干涉图放大。
在目镜十字丝及其近侧，其长短半径平行或近于平行上 、下偏光镜的振动方向，而呈现消光，构成黑十字的消 光影，而四个象限内大部分椭圆切面的半径都与上、下 偏光镜的振动方向斜交，故不消光而产生干涉色。由于 干涉图边缘部分圆切面长短半径之差（双折射率）比中 心部分大；以及边缘部分光线倾斜角度大，通过薄片的 路程也比中心部分长。
图36 透过聚光镜后的 锥形偏光
A-立体图；B-剖面图
非均质体的光学性质随方向而异，垂直不同方向入射光的 光率体切面不同，其长短半径在晶片平面上的方位不同， 它们与上、下偏光镜振动方向AA、PP之间的关系不完全相 同。许多不同方向入射光波同时通过晶片后，到达上偏光 镜所发生的消光与干涉效应也各不相同。因此，锥光镜下 观察到的，应当是各个不同方向入射光通过晶片后所产生 的消光与干涉效应的总和。它们构成了特殊的图形，称为 干涉图。
图48 一轴晶平行光轴切面的干涉图
如果晶体的双折射率值较大时，则在相对象限的边缘出现 弧形干涉色色带（图48B）。在光轴方向的两个象限内，干 涉色由中心向两边逐渐降低；在垂直光轴方向的两个象限 内，干涉色由中心向两边逐渐升高。如果晶体的折射率较 低，则不出现弧形干涉色带，而仅为一级灰白干涉色 。
图48 一轴晶平行光轴切面的干涉图
锥光镜下光学性质.ppt
第一节 锥光镜的装置及光学特点
在正交偏光镜（AA⊥PP）的基础上，加上聚光镜，换用 高倍物镜（40×），推入勃氏镜或去掉目镜便成了锥光镜 的装置。
加入聚光镜的作用是使透出
下偏光镜的平行偏光束变成锥 形偏光束（图36）。锥形偏光 束与平行偏光束的重要区别在 于平行偏光束基本是同一方向 垂直射入晶片；其特点：锥形 偏光束中除中央一条光波垂直 射入晶片之外，其余各光波都 是倾斜射入晶片，而且愈往外 倾斜角度愈大，在晶片中所经 历的路程愈长。锥形光束的偏 光，不管如何倾斜，其振动面 仍与下偏光镜振动面平行。
干涉色色圈以两个光轴出露点为中心向两边干涉色级序逐渐升 高，在靠近光轴处干涉色色圈呈卵形曲线，向外合并成“∞”字 ，更外成凹形椭圆。干涉色色圈的多少，取决于晶体的双折射 率及晶体薄片的厚度。双折射率愈大，切片愈厚，干涉色色圈 愈多；双折射率愈小，切片愈薄，干涉色色圈愈少，对于双折 射率较低的晶体，视域中除黑十字外，干涉图中无“∞”字形干 涉色色圈，在黑十字所分刈的四个象限内仅出现一级灰干涉色 。
2、成因 平行光轴切面的波向图中（图49），当光轴与上、 下偏光镜振动方向之一平行时，大部分的光率体椭圆半径都 与上、下偏光镜的振动方向平行或近于平行。在正交偏光镜 间，应当消光或近于消光，故形成粗大模糊的黑十字，稍微 转动物台，则大部分光率体椭圆半径与上、下偏光镜的振动 方向斜交，故黑十字迅速分裂退出视域，而使视域变亮，出 现干涉色。
图46 斜交光轴切面干涉图（光轴倾角较大）
2、斜交光轴切面干涉图的应用 A、当光轴倾角度不大时，可以确定轴性及切面方向
。 B、光性正负测定 干涉图中光轴出露点在视域内时，
测定方法与垂直光轴切面干涉图测定方法完全相同。如果 干涉图中光轴出露点在视域之外，就要确定视域属于哪一 象限，而如能确定干涉图中光轴出露点的位置，可确定黑 十字所分割象限的名称。确定光轴出露点的位置可根据① 黑十字的细端近光轴方向，粗端远离光轴；②等色环凹向 光轴方向；③黑臂移动的情况。
涉图由一个黑十字与“∞”字形的干涉色色圈组成（图52）。黑 十字的两个黑臂分别平行上、下偏光镜的振动方向，其粗细不 等，沿光轴面迹线方向的黑臂较细，在两个光轴出露点处更细 ；垂直光轴面方向（即Nm方向）的黑臂较粗；黑十字交点为 Bxa出露点，位于视域中心（即目镜十字丝交点）。
图52 二轴晶⊥Bxa切面的干涉图
图52 二轴晶⊥Bxa切面的干涉图
转动物台黑十字从中心分裂形成两个弯曲的黑臂，当光 轴面方向与上、下偏光镜振动方向的夹角为450时，（即物 台转动450），两个黑臂顶点间的距离最远（图52B、E）， 两弯曲黑臂顶点为两个光轴出露点，它们之间的距离与光轴 角（2V）成正比；弯曲顶点凸向Bxa出露点。弯曲黑臂顶点 的连线，代表光轴面（Ap）与薄片平面的交线。继续转动 物台，弯曲黑臂顶点逐渐向视域中心移动至900时，又合成 黑十字，但粗细黑臂的位置已更换。在转动物台时，干涉色 色圈随光轴出露点移动，其形状不发生变化。
图49 一轴晶平行光轴切面的波向图
当光轴与上、下偏光镜振动方向成450时，为什么会出现 对称的干涉色色带，而且沿光轴方向的干涉色较低，垂直 光轴方向的两个象限内干涉色由中心向两边升高？从图50 可看出：沿光轴的方向上，由中心向两边的各点上，其短 半径No的长短不变，长半径Ne’逐渐变短，因此，由中心 向两边双折射率逐渐变小虽然光波倾斜经过晶体薄片的距 离愈外愈长（经过的路程加大），
图43 干涉图中黑十字四个象限办仅 图44 干涉图中黑十字四个象限内
见一级灰干涉色时，加入石膏试板后 干涉色圈较多，加入云母试板后
的变化情况
的变化情况
二、斜交光轴切面干涉图 1、图像特点 在斜交光轴的切面中，光轴的位置是倾斜的
，光轴在晶体薄片平面上的出露点（黑十字交点）不在视域 中心，所以出现不完整的黑十字和不完整的干涉色色圈。
图47 转动物台时，斜交光轴切面干涉图中黑臂移动规律
三、平行光轴切面干涉图 1、图像特点 当光轴方向与上、下偏光镜振动方向之一平行
时，为一粗大模糊的黑十字，几乎占据整个视域（图48A）。 稍稍转动物台，粗大黑十字从中心分裂并沿光轴方向迅速退出 视域，因变化迅速故称之为瞬变干涉图或闪图。当光轴方向与 上、下偏光镜振动方向AA、PP成450夹角时，视域最亮。
图52 二轴晶⊥Bxa 切面的干涉图
均质体晶体的光学性质各个方向一致，任何方向的入射 光都不发生双折射，在正交偏光镜下全消光，锥光镜下看 不到干涉图。非均质体的光学性质随方向而异，在锥光镜 下能形成干涉图，其干涉图特点随晶体的轴性和切面方向 而异。
第二节 一轴晶干涉图
一轴晶晶体的干涉图，因切面方向不同而不同，主要有 三种类型，即垂直光轴切面，斜交光轴切面及平行光轴切 面的干涉图。
当光轴与薄片法线交角不 大时，光轴出露点，即黑 十字的交点虽不在视域中 心，但仍在视域内，转动 物台黑十字的交点绕十字 丝中心作圆周运动，黑臂 相应地做平行或垂直十字 丝移动（图45）
图45 斜交光轴切面干涉图（光 轴倾角不大）
当光轴与薄片法线夹角较大时，光轴出露点落在视域外， 视域中心见到一条黑臂（图46）。旋转物台，黑臂作水平 或垂直平行移动，并交替出现在视域内。斜交光轴切面干 涉图的成因，同样可用垂直光轴干涉图的形成加以解释。
图42 一轴晶晶体光性符号的测定
若Ⅰ、Ⅲ象限干涉色由灰变蓝，为干涉色升高，说明同 名半径平行，即半径方向为Ne=Ng，此一轴晶为正光性， 反之，象限由灰这黄干涉色（石膏）降低（图43），说明 异名半径平行，Ne＜No为负光性。
当晶体的双折射率较大或切面较厚时，四个象限为同心 圆形色环（图44），此时采用云母试板或石英楔测定，根 据补色法则定出正负光性。
2、成因 在垂直光轴的切面中，只有中央一条光线平行光 轴入射，其余各光线都是斜交光轴入射。根据光率体原理 ，除垂直中央一条光线的光率体切面为圆切面外，垂直其 余各条斜交光轴入射光线的光率体切面都是椭圆切面，其 长短半径的分布方向与大小随视域的不同方位入射光线的 倾斜角度而不同（图39）。
图39 一轴晶垂直光轴切面的波向图 （A）及黑十字成因（B）
图39 一轴晶垂直光轴切面的波向图 （A）及黑十字成因（B）
所以由中心往外，随着入射光线与光轴夹角愈来愈大，光程 差也由内向外相应地增加，其中与光轴夹角相等的各入射光 线，光程差大小相等，故构成同心环状干涉色色圈，而且愈 往外干涉色级序愈高（图40）。由于一轴晶垂直光轴切面上 光率体椭圆半径分布图呈放射状均匀对称，所以转动物台 3600，干涉图不发生变化。
图38 一轴晶垂直光轴切面的干涉图 A-双折射率较大的晶体；B-双折射率较小的晶体
换用高倍物镜作 用在于能接纳较大 范围的倾斜入射光 波，低倍物镜只能 接纳与薄片法线成 100夹角以内的光 波，高倍物镜可达 1200（图37），使 涉图较完整而且清 晰。
图37 放大倍率不同的物镜，能接纳 的倾斜光锥范围及所显示的干涉图
图40 干涉色色圈的成因（正光性）
3、垂直光轴切面干涉图的应用 A、确定轴性及切面方向 根据干涉图的形象特点，可确定为
一轴晶垂直光轴的切面。一轴晶其它方向切面及二轴晶切面不 具这种特征的干涉图。
B、测定光性符号 一轴晶晶体的光性正负是由Ne与No大小 决定，当Ne＞No时为正光性，Ne＜No时，为负光性。而Ne与 No在干涉图四个象限中的振动方向如图41， Ne为放射状，沿 半径分布，No为同心圆状分布。
一、垂直光轴切面的干涉图 1、图像特点（图38） 在平行目镜十字丝出现一个黑十字
（又叫消光影），把视域分刈为四个象限，四个象限出现的 颜色为干涉色。双折射率较大或薄片较厚的晶体干涉色呈同 心圆状色环。黑十字交点为光轴出露点，近光轴处黑臂较细 ，远离黑光轴处黑臂较粗。转动物台3600不发生变化。
图38 一轴晶垂直光轴切面的干涉图 A-双折射率较大的晶体；B-双折射率较小的晶体
图50 一轴晶平行光轴切面干涉图中 双折射率大小变化示意图
但因晶体薄片的厚度不大，视域的范围又较小，在此范 围内不足以抵消双折射率减小所引起的光程差减小，所以 在此方向上，由中心向两边干涉色逐渐变低。在垂直光轴 的方向上，由中心向两边的各点上，其光率体椭圆半径相 等，均为Ne和No，双折射率值相等，但由于光波通过薄片 的距离愈外愈长。故光程差愈外愈大，因而干涉色由中心 向两边逐渐升高。
黑臂移动情况（图47），顺时针转动物台，视域内出现一条 水平黑臂向上移动，光轴出露点在视域左方，被黑臂分割的视 域为Ⅰ、Ⅳ象限；水平黑臂向下移动，光轴出露点在视域右方 ，被黑臂分割的视域为Ⅱ、Ⅲ象限。视域内出现一条垂直黑臂 向左移动，光轴出露点在视域的下方，被黑臂分割的视域为Ⅰ 、Ⅱ象限；垂直黑臂向右移动，光轴出露点在视域上方，被黑 臂分割的视域为Ⅲ、Ⅳ象限。只要确定了黑臂分割视域的象域 名称，便可用前述同样的方法测定光性正负。