电子产品的EMC整改方法实例
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在Ｅ ＭＣ 测 试 时 ，除 了 天 线 要 测 试 水 平 与
图２
而 电子 产品 在这 两 个项 目上 花 费
的 整 改 周 期 也 很 长 ， 为 此 ， 本 文
｛
根 据 作 者在 Ｅ Ｍ Ｃ 实验 室工 作 多年
的工 作 经验 ，通过 向设 计 师 学 习 和 交流 ，结合 有 关 资料 ，总结 出
对噪 声频 谱预 扫 图形进 行 分析，若 看到 整个频带 的基线 为一宽带的噪声 ，我们可 以视
Ｅ ｌ ｅ ｃ ｔ ｒ ｏ ｍａ ｇ ｎ ｅ ｔ ｉ ｃ ｃ ｏ ｍｐ ａ ｔ ｉ ｂ ｉ ｌ ｉ ｔ ｙ ， 电 磁 兼 容
性 （ Ｅ ＭＣ ＝ Ｅ ＭＩ ＋ Ｅ ＭＳ ） ，Ｅ ＭＩ （ Ｅ ｌ ｅ ｃ ｔ ｒ ｏ ｍａ ｇ ｎ ｅ ｔ ｉ ｃ
以下 Ｅ Ｍ Ｃ整 改 方 法 与 整 改措 施
【
２ ． ４用谐波判断噪 声源 『 垂 直二 个极 化方 向 外，待测 物 的桌子 要旋 转 ｌ ３ ６ ０度 ，记录 最大的噪声 读值，因此 当发现 噪 大部 份噪 声测试 的频 谱 图，皆可 以看 到
／
声无法符合时 ，除了先判 断水平和垂直噪声的
之后才进行 Ｅ Ｍ Ｃ的 测 试， 一旦 测
图１
试 发 现 问题 ，会 出现 产品 准备 上 市销售时Ｅ Ｍ Ｃ的 问题 总是 没 有 时 ｆ 线 产 生 的
间解 决， 项 目不 断的 延迟 ，需要 ｌ
向 和垂 直极化 方 向的预 扫 ，若 出现超 标噪 声 ｌ Ｉ 点 ，初步判断辐射主要是 由水平线还 是有垂 直
如下之一支支等距的噪声，整机 的电磁兼容性 整改案例
差异外 ，便是要将 待测物 旋转 到最大的噪声位 声亦即为噪声的谐波，通 常可 其判断噪声的 置， 由于 电子产品其噪声 的辐射往往 会在某 一 来源 。 个角度最大 ，而此时待测物 面向天线 的位置， 计 算 每一 支等距 噪声 差，即 为噪 声的源 往往是造成辐射的来源 ，通常 要分析这 位置 附 头频率，一般为晶振 ，内存时 钟等．由于在 电 近 的组件、导线及屏蔽效 果，如此 则较 容易锁 路板 上往往 会使用数 个不同频率的晶振 、 时钟 ，
１ Ｅ Ｍ Ｃ 相关知识介绍
１ ． １ Ｅ ＭＣ
定范围，再仔细分析问题
以致有时无法判断是那一个晶振、 时钟所造成 ， 利用这 个方法有时 可以很快的确定是那一个晶 振 、时钟造成 ，然后再 出对策 ．如此可省除遂 拆 除晶振 、时钟判断 ，或者在 电路板上逐～
一
２ ． ３判 断辐射 主要 是由共模或 差模骚扰 产生的
Ｌ 乎都是一支 一 也 不对 其他 设备 产生 影 响工 作的 干扰 。Ｅ ＭＣ 产品 内部的 各种 导线及 外部的连接线，故要从 是因为频宽设定太大，故噪声， 支的状 态显现，无法对宽带噪 声进行 分析 ，如 连线和 Ｐ Ｃ Ｂ布线 来找 出问题 ．能够从 这两 个 三要 素 如 图 ｌ ，缺少 任何 一 个都 构不 成 Ｅ ＭＣ 方面先把问题厘清 ，对于深入细 部的修 改是很 果我们将 频谱 的范 围减小到 ｌ Ｏ Ｏ ｋ Ｈ ｚ ，此 时便 问题。
Ｅ ｌ ｅ ｃ ｔ ｒ ｏ ｎ ｉ ｃ Ｔ ｅ ｃ ｈ ｎ ｏ ｌ ｏ ｇ ｙ・ 电子技术
电子产 品的 Ｅ ＭＣ整改 方法实例
文／ 高 维 胜
、
ｆ
２ 整机测试 出现的Ｅ Ｍ Ｃ 超标 。主要 是３ ０ Ｍ 一
Ｇ 的辐射 问题 ，主要采取 以下方法 Ｅ Ｍ Ｃ 的 各 种 指 标 是 目前在 所 ｌ １ 有 标 准要 求 的 项 目中，在 产 品设 ｌ 计 时最 难 以 达到 的： 由于 Ｅ Ｍ Ｃ的 ｌ ２ ． １首先整机 用 电脑 测试软 件进行水平极 化方 设 计 经验 较 少，经 常在 设 计 完成 ｌ
造成 共模骚扰 的原因主 要是接地 与屏蔽，
也就是 当发现 的噪 声非常高时，则要先考虑产 品 内的接地与屏蔽 的问题 。而造 成差骚 扰模 的 原因则主要是线的 问题 ， 包括 电路板上的布线、
Ｅ ＭＣ定义 ：在同 一电磁 环境 中，设备 能 够不 因为其他 设备的干扰影响正常工作 ，同时
割线判断的麻烦 。
为共模骚扰 的噪声，若其上一支支单独的噪声
点 可以视 为差骚 扰模噪声。将噪声分布情形分 成共模骚扰 和差骚 扰模 的作用，主要便是要判 断其 分别造成 的辐 射来源机制，如此帮助找到 问题点及对策的方法 。
Ｉ ｎ ｔ ｅ ｒ ｆ ｅ ｒ ｅ ｎ ｃ ｅ ） ： 电 磁 干 扰， 主 要 包 括 辐 射 发 射 、 传 导 发 射 。Ｅ ＭＳ（ Ｅ ｌ ｅ ｃ ｔ ｒ ｏ ｍａ ｇ ｎ ｅ ｔ ｉ ｃ Ｓ ｕ ｓ ｃ ｅ ｐ ｔ ｉ ｂ ｉ ｌ ｉ ｔ ｙ ） ：电磁抗扰度 ，主要包括辐 射抗
家３ ｃ认 证 标 准 （ Ｇ Ｂ Ｉ ３ ８ ３ ７ － ２ ０ １ ２ ． Ｇ Ｂ ９ ２ ５ ４ － ２ ０ ０ ８）强 制 检 测 的 项 目，
ｊ
Ｊ １
线 所造成，而当接收天线为垂直时噪声强度较 高，可以推测此噪声来源主要是 由产 品内或 外 的垂 直线所造成 ， ２ ． ２判 断最大辐射位 置
再 花 费 大量 的时 间去 解 决，相 信
这 是每 住 遇 到 Ｅ Ｍ Ｃ问题 的研发 人 员的深 刻 体会 。电 子产 品 的辐射
ｌ
ｆ １
当接 收 天线 为水平 时 噪声 强度较 高， 可
以推 测 此 噪 声 来 源 主 要 是 由产 品 内或 外 的 水 平
发射 与 传 导发射 两个 项 目，是 国
扰 、传 导抗 扰 。 １ ． ２ Ｅ Ｍ Ｃ 定 义及 要 素
２ ． ５用频谱仪对 噪声点进 行判 断
除 了使用 谐波 的观念 来判 断噪声 的来源 外， 尚可将噪声点展开来判断，也就是将 频谱 分析仪的范围减 小，然后 研究造成的机制。 由于 造成辐 射 噪声 的成 很 多，而产 品 也可能有多种功能组件会引起噪声干扰 ，通常 频谱分析仪 没定由 ３ ０ ＭＨｚ测到 Ｉ Ｏ ０ ０ ＭＨ ｚ ，如 此可 以很快看出仃那些 噪声无法 符合要求 ，但
图２
而 电子 产品 在这 两 个项 目上 花 费
的 整 改 周 期 也 很 长 ， 为 此 ， 本 文
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对噪 声频 谱预 扫 图形进 行 分析，若 看到 整个频带 的基线 为一宽带的噪声 ，我们可 以视
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２ ． ４用谐波判断噪 声源 『 垂 直二 个极 化方 向 外，待测 物 的桌子 要旋 转 ｌ ３ ６ ０度 ，记录 最大的噪声 读值，因此 当发现 噪 大部 份噪 声测试 的频 谱 图，皆可 以看 到
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之后才进行 Ｅ Ｍ Ｃ的 测 试， 一旦 测
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如下之一支支等距的噪声，整机 的电磁兼容性 整改案例
差异外 ，便是要将 待测物 旋转 到最大的噪声位 声亦即为噪声的谐波，通 常可 其判断噪声的 置， 由于 电子产品其噪声 的辐射往往 会在某 一 来源 。 个角度最大 ，而此时待测物 面向天线 的位置， 计 算 每一 支等距 噪声 差，即 为噪 声的源 往往是造成辐射的来源 ，通常 要分析这 位置 附 头频率，一般为晶振 ，内存时 钟等．由于在 电 近 的组件、导线及屏蔽效 果，如此 则较 容易锁 路板 上往往 会使用数 个不同频率的晶振 、 时钟 ，
１ Ｅ Ｍ Ｃ 相关知识介绍
１ ． １ Ｅ ＭＣ
定范围，再仔细分析问题
以致有时无法判断是那一个晶振、 时钟所造成 ， 利用这 个方法有时 可以很快的确定是那一个晶 振 、时钟造成 ，然后再 出对策 ．如此可省除遂 拆 除晶振 、时钟判断 ，或者在 电路板上逐～
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２ ． ３判 断辐射 主要 是由共模或 差模骚扰 产生的
Ｌ 乎都是一支 一 也 不对 其他 设备 产生 影 响工 作的 干扰 。Ｅ ＭＣ 产品 内部的 各种 导线及 外部的连接线，故要从 是因为频宽设定太大，故噪声， 支的状 态显现，无法对宽带噪 声进行 分析 ，如 连线和 Ｐ Ｃ Ｂ布线 来找 出问题 ．能够从 这两 个 三要 素 如 图 ｌ ，缺少 任何 一 个都 构不 成 Ｅ ＭＣ 方面先把问题厘清 ，对于深入细 部的修 改是很 果我们将 频谱 的范 围减小到 ｌ Ｏ Ｏ ｋ Ｈ ｚ ，此 时便 问题。
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电子产 品的 Ｅ ＭＣ整改 方法实例
文／ 高 维 胜
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２ 整机测试 出现的Ｅ Ｍ Ｃ 超标 。主要 是３ ０ Ｍ 一
Ｇ 的辐射 问题 ，主要采取 以下方法 Ｅ Ｍ Ｃ 的 各 种 指 标 是 目前在 所 ｌ １ 有 标 准要 求 的 项 目中，在 产 品设 ｌ 计 时最 难 以 达到 的： 由于 Ｅ Ｍ Ｃ的 ｌ ２ ． １首先整机 用 电脑 测试软 件进行水平极 化方 设 计 经验 较 少，经 常在 设 计 完成 ｌ
造成 共模骚扰 的原因主 要是接地 与屏蔽，
也就是 当发现 的噪 声非常高时，则要先考虑产 品 内的接地与屏蔽 的问题 。而造 成差骚 扰模 的 原因则主要是线的 问题 ， 包括 电路板上的布线、
Ｅ ＭＣ定义 ：在同 一电磁 环境 中，设备 能 够不 因为其他 设备的干扰影响正常工作 ，同时
割线判断的麻烦 。
为共模骚扰 的噪声，若其上一支支单独的噪声
点 可以视 为差骚 扰模噪声。将噪声分布情形分 成共模骚扰 和差骚 扰模 的作用，主要便是要判 断其 分别造成 的辐 射来源机制，如此帮助找到 问题点及对策的方法 。
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家３ ｃ认 证 标 准 （ Ｇ Ｂ Ｉ ３ ８ ３ ７ － ２ ０ １ ２ ． Ｇ Ｂ ９ ２ ５ ４ － ２ ０ ０ ８）强 制 检 测 的 项 目，
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线 所造成，而当接收天线为垂直时噪声强度较 高，可以推测此噪声来源主要是 由产 品内或 外 的垂 直线所造成 ， ２ ． ２判 断最大辐射位 置
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这 是每 住 遇 到 Ｅ Ｍ Ｃ问题 的研发 人 员的深 刻 体会 。电 子产 品 的辐射
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当接 收 天线 为水平 时 噪声 强度较 高， 可
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２ ． ５用频谱仪对 噪声点进 行判 断
除 了使用 谐波 的观念 来判 断噪声 的来源 外， 尚可将噪声点展开来判断，也就是将 频谱 分析仪的范围减 小，然后 研究造成的机制。 由于 造成辐 射 噪声 的成 很 多，而产 品 也可能有多种功能组件会引起噪声干扰 ，通常 频谱分析仪 没定由 ３ ０ ＭＨｚ测到 Ｉ Ｏ ０ ０ ＭＨ ｚ ，如 此可 以很快看出仃那些 噪声无法 符合要求 ，但