2012年辽宁省无损检测_射线II级_培训考核习题集
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60ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ192 77
Ir ，
射线检测习题部分
也有的是核裂变的产物，如 1.35
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Cs 。
( (
) )
Ir 源经过几个半衰期后，将其放在核反应堆中激活，可重复使用。
1.36 所谓“吸收” ，就是物质阻止射线通过的能力。 ( ) 1.37 线质是射线穿透物质能力的度量，穿透力较强的射线称其线质较软，穿透力较弱的射 线称其线质较硬。 （ ） 1.38 射线的线质越软，衰减系数越大。 （ ） 1.39 射线的线质越硬，其光子能量越大，波长越短，穿透力越强。 ( ) 1.40 射线的线质越软，其光子能量越小，波长越长，半价层越小。 ( ) 1.41 射线的线质越软，穿透力越强。 ( ) 1.42 射线通过物质时,会与物质发生相互作用而强度减弱,导致强度减弱的原因可分为吸收 与散射。 （ ） 1.43 因为发生光电效应的几率与被照物质原子序数的 3 次方成正比，所以原子序数越大， 发生光电效应的几率越小。 ( ) 1.44 光电效应中光子被部分吸收，而康普顿效应中光子被完全吸收。 ( ) 1.45 康普顿散射不是由轨道电子引起的，而主要是光子同固体内的自由电子相互作用引起 的。 （ ） 1.46 发生康普顿效应时，电子获得光子的部分能量以反冲电子的形式射出。同时，光子的 能量减小，方向也改了，成为低能散射线。 （ ） 1.47 当光子能量大于等于 1.02MeV 时，与物质相互作用才产生电子对效应。 （ ） 1.48 不包含散射成分的射线， 称窄束射线； 包含散射成分的射线， 称宽束射线。 （ ） 1.49 管电压提高， 衰减系数增大。 （ ） 1.50 线衰减系数的物理意义是单色射线穿过 1cm 厚工件时，穿过前后射线强度比值的自然 对数。 ( ) 1.51 射线的能量减弱到初始值一半时所穿过物质的厚度， 称半价层， 又称半值层。 （ ） 1.52 当 X 射线通过 3 个半价层后， 其强度仅为初始值的 1/3。 （ ） 1.53 在相同的管电压下， 透照厚度增加， 散射比减小。 （ ） 1.54 射线照相法用底片作为记录介质，可以直接得到缺陷的图像，且可以长期保存。通过 观察底片能够比较准确地判断出缺陷的性质、数量、尺寸和位置。 （ ） 1.55 射线源移去后，被照射工件本身仍残留低度的辐射。 ( ) 2.1 无损检测仪器不再属于依法管理的计量器具。 （ ） 2.2 目前广泛使用的 X 射线管有玻璃管和金属陶瓷管。 （ ） 2.3 所谓“管电流”就是流过 X 射线管的灯丝电流。 ( ) 2.4 决定 X 射线管靶材适用性的两个因素是原子序数和熔点。 （ ） 2.5 金属陶瓷 X 射线管有抗震性强，管电流和焦点稳定性好，体积小的优点，但真空度不 如玻璃 X 射线管。 ( ) 2.6 周向 X 射线机的阳极靶有两种， 即平面阳极靶和锥体阳极靶。 （ ） 2.7 新购置或停用较久的 X 光机， 使用前要训练 X 光管， 其目的是排出射线柜中的气泡。 ( ) 2.8 型号为 2505X 射线探伤机四位数字中，前两位“25”表示管电压的峰值为 250kV，后 两位数字“05”表示管电流为 5mA。 （ ） 2.9 X 光机操作时高压升不上去和高压跳闸是一回事。 ( ) 2.10 半波自整流与半波整流电路相比，在负半周时，加在 X 光管阳极上的负高电压低，如 阳极冷却不好，这种低电压可防止或减少反向电流的产生，X 射线管可以安全地工作。( )
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射线检测习题部分
2.46 已知入射光强为 3000cd/m ，穿过底片的透射光强为 30cd/m ，该底片黑度不满足 AB 级射线检测要求。 （ ） 2.47 黑度计至少每 6 个月校验一次，并有记录可查。 （ ） 2.48 标准黑度片至少每两年送计量单位检定一次。 （ ） 2.49 黑度计可测量的最大黑度不小于 4.5，测量值误差应不超过±0.05。 （ ） 2.50 像质计是用来检查透照技术和胶片处理质量的，衡量该质量的数值是识别丝号，它 等于底片上能识别出的最细钢丝的线编号。 ( ) 2.51 已知Ⅱ型像计的最粗金属丝直径为 1.0mm，则中间一根为 0.5mm，最细一根为 0.25mm。 ( ) 2.52 采用 R10 系列像质计，其线编号 Z 与钢丝直径 d 的关系式为 Z=6-101gd。 ( ) 2.53 小口径钢管专用像质计，由 5 根直径相同的钢丝和铅字符号组成，其像质计的代号用 Fe 和线编号构成。(Ο ) 2.54 按标准规定，碳钢、低合金钢和不锈钢均属黑色金属，可采用碳钢像质计。 （ ） 3.1 像质计灵敏度 2.0％， 是指大于 2.0％透照厚度的缺陷均可被检出。 ( ) 3.2 底片上缺陷影像的尺寸都大于实际缺陷的尺寸。 ( ) 3.3 X、γ 射线通过工件相邻两个不同厚度区域后的射线强度差与通过较大厚度区射线强 度的比，称主因对比度，又称工件对比度。 ( ) 3.4 主因对比度与工件厚度变化引起的黑度差有关。 ( ) 3.5 X、 γ 射线透照工件时， 由于相邻区域射线强度存在差异所产生的对比度称主因对比度。 （ ） 3.6 透照厚度差相同的工件，采用高电压的主因对比度低。 （ ） 3.7 通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度差越小， 则主因对比度越大。 ( ) 3.8 使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。 ( ) 3.9 透照厚度差相同的工件， 采用高电压与低电压相比， 主因对比度(工件对比度)低。 ( ) 3.10 通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度差越小， 则主因对比度越小。 ( ) 3.11 改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比度。 （ ） 3.12 在主因对比度一定的情况下，由胶片系统影响对比度的因素称胶片对比度。 ( ) 3.13 胶片卤化银粒子的平均大小，称胶片粒度。 ( ) 3.14 底片对比度就是底片上相邻区域的黑度差。 ( ) 3.15 线质变硬，底片对比度提高。 ( ) 3.16 任何情况下， 底片的对比度越大越好。 ( ) 3.17 厚工件中的紧闭裂纹，透照方向适当时，一定能被检出。 ( ) 3.18 窄束与宽束射线相比，窄束射线的对比度高。 ( ) 3.19 射线强度提高，底片宽容度增大。 ( ) 3.20 用增大射线源到胶片距离的方法可减小射线照相固有不清晰度。 ( ) 3.21 胶片颗粒度越大,固有不清晰度也越大。 ( ) 3.22 射线底片上叠加在工件影像上的黑度随机涨落 ,即影像黑度的不均匀程度称底片影像 颗粒度。 （ ） 3.23 底片的颗粒度随射线能量的提高而增大。 （ ） 3.24 底片影像颗粒度与胶片卤化银的粒度是同一概念。 ( ) 3.25 透照厚度增大，散射比增大。 ( ) 3.26 像质计灵敏度与缺陷检出率是一个概念。 ( ) 3.27 减小最小可见对比度△Dmin， 不利于识别小缺陷。 ( ) 3.28 观片灯亮度提高， 最小可见对比度△Dmin 减小， 能分辨的黑度范围向高黑度一边扩展。 （ ）
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Ir 贮罐用贫化轴作屏蔽，主要原因是贫化铀μ 值大，可制造出体积小，重量轻的贮
罐。 （ ） 2.22 γ 射线探伤机按机体机构可分为直通道形式和 “S” 通道形式。 （ ） 2.23 对不同种类的放射性同位素，高活度的同位素总是比低活度的同位素具有更高的辐射 水平。 ( ) 2.24 比活度越大，意味着该放射性同位素源的尺寸可以做的更小。 （ ） 2.25 按标准要求，底片的本底灰雾度应不大于 0.3。 （ ） 2.26 天津Ⅲ,AgfaD7,上海 GX-A7 属于 T3 类胶片。 （ ） 2.27 实际使胶片卤化银颗粒感光的因素是电子。 （ ） 4.28 不同类型的胶片，在相同的透照条件下绘制特性曲线的形状相同。 ( ) 2.29 射线胶片两面涂感光乳剂层的目的是提高胶片的感光度和清晰度。 （ ） 2.30 胶片的梯度低，其宽容度必然大。 （ ） 2.31 “潜影”的产生是银离子接受电子还原成银的过程。 （ ） 2.32 潜影形成后，如相隔很长时间才显影，得到的影像比及时冲洗得到的影像较淡，此现 象称为潜影衰退。 潜影衰退实际上是构成潜影中心的银又被空气氧化而变成 Ag+离子的逆变 过程。 （ ） 2.33 表征胶片相对曝光量与底片黑度之间关系的曲线， 称胶片特性曲线。 （ ） 2.34 胶片灰雾度是指曝光量为零时底片的黑度。 （ ） 2.35 胶片梯度值与显影条件有关，即显影配方、时间、温度等的变化都会使胶片梯度值发 生改变。 （ ） 2.36 在实际应用范围内， 射线的线质对胶片特性曲线的形状基本上无影响。 ( ) 2.37 管电压、 管电流和穿透厚度之间关系的曲线称胶片特性曲线。 ( ) 2.38 改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比度。 ( ) 2.39 增感系数是指其它条件不变时， 使用增感屏与不使用增感屏所需曝光时间之比。 ( ) 2.40 对于同一金属屏材质时， 在 300kVP 以下， 管电压越高， 增感系数越大。 （ ） 2.41 增感系数随γ 射线能量的增高而减小。 ( ) 2.42 荧光增感的原理是射线与荧光物质作用，产生荧光，从而加速胶片的感光过程。( ) 2.43 金属增感屏受 X 或γ 射线照射激发出二次电子产生二次射线，使胶片增感。常用的金 属材料是铅， 它的粒度细， 增感系数小， 所得底片的清晰度高。 ( ) 2.44 胶片和增感屏在射线检测过程中应始终相互紧贴。 （ ） 2.45 入射光强与穿过底片的透射光强之比的自然对数称为黑度。 （ ）
射线检测习题部分
第二部分
射线检测
一.是非题：294 题 二.选择题：324 题 三.问答题： 90 题 四.计算题： 64 题
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射线检测习题部分
一．是非题 （在题后括弧内，正确的画○ ，错误的画×）
1.1 当原子核内质子数不变，而原子量增加时，它就变成另一种元素。 1.2 具有放射性的同位素，称为放射性同位素。 1.3 元素 27 Co 中有 27 个质子和 33 个中子，原子序数为 27。
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（ （ （
） ） ）
1.4 α 衰变的规律是新核的质量数比原核的质量数减少 2 。 （ ） 1.5 γ 衰变前后核的质量数和核电荷数均不发生改变 （ ） 1.6 X 射线和γ 射线都是光子流，不带电荷。 （ ） 1.7 X 射线与γ 射线只要波长相同，就具有相同的性质。 （ ） 1.8 X、γ 射线不受电磁场影响。 （ ） 1.9 X、 γ 射线是电磁辐射； 中子射线是粒子辐射。 （ ） 1.10 具有连续光谱的 X 射线，称连续 X 射线，又称白色 X 射线。 （ ） 1.11 高速运动的电子同靶原子核的库仑场作用，电子失去其能量以光子形式辐射出来，这 种辐射称韧致辐射。 （ ） 1.12 加在 X 光管两端的电压越低，则电子的速度就越大，辐射出的射线能量就越高。 （ ） 1.13 一定能量的连续 X 射线穿透物质时， 随厚度的增加射线的总强度减小， 平均波长变短， 但最短波长不变。 （ ） 1.14 连续 X 射线的能量与管电压有关,与管电流无关。 （ ） 1.15 连续 X 射线的强度与管电流有关, 与管电压无关。 （ ） 1.16 由发射 X 射线的材料特征决定波长的Ⅹ射线，称标识 X 射线，又称特征 X 射线。( ） 1.17 如果 X 射线管的管电压超过激发电压,高速运动的电子同阳极靶碰撞时,可以把阳极靶 原子内层电子逐出壳层之外,使该原子处于激发态，外层电子将向内层跃迁，发射标识 X 射 线。 （ ） 1.18 标识 X 射线的能量与管电压、管电流均无关,仅取决于靶的材料 。 （ ） 1.19 X 射线穿过同一物质时，峰值电压越高半价层越大。 （ ） 1.20 γ 射线的能量取决于放射性同位素的活度或居里数， 而它的强度取决于源的种类。 ( ) 1.21 用于检测的 X 射线和γ 射线，它们之间的主要区别在于：X 射线是韧致辐射的产物， 而γ 射线是放射性同位素原子核衰变的产物；X 射线是连续谱，γ 射线是线状谱。 （ ） 1.22 工业用放射性同位素辐射出的γ 射线的能量用平均能量来度量，X 射线机辐射出的 X 射线能量是用管电压峰值来度量。 （ ） 1.23 活度是描述放射同位素不稳定程度的量， 它表示单位时间内核发生的衰变数。 （ ） 1.24 放射性同位素的能量蜕变至其原值一半所需时间， 称半衰期。 ( ) 1.25 放射性同位素的半衰期与放射性同位素的种类有关。 （ ） 1.26 当γ 射线经过 3 个半衰期后，其能量仅剩下初始当值的 1/8。 ( ) 1.27 γ 射线的能量取决于源的种类， 而它的强度取决于放射性同位素的活度或居里数。 ( ) 1.28 描述放射性物质不稳定程度的量称为“活度” ( ) 1.29 放射性同位素的衰变和衰减是一回事。 ( ) 1.30 放射性同位素的强度蜕变至其原值一半所需时间，称半衰期。 （与 1.24 重复） （ ) 1.31 在核反应堆中，把一种元素变为放射性元素的过程，称为激活。 ( ) 1.32 不稳定的同位素，称为放射性同位素。 ( ) 1.33 半衰期是指 X 射线强度减弱到初始值一半所需要的时间。 ( ) 1.34 工业检测用放射性同位素， 有的是在核反应堆中通过中子照射激活的， 如 27 Co 和
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射线检测习题部分
2.11 X 射线机的输出效率不会因电缆线的加长而发生变化。 （ ） 2.12 X 射线管的实际焦点是指阳极靶被电子撞击的部分，有效焦点是指实际焦点在垂直于 管轴线上的正投影。 （ ） 2.13 长方形焦点和椭圆形焦点，其有效焦点尺寸按 d=(a+b)/2 公式计算( 式中： a -长或 长轴，b-宽或短轴)。 ( ) 2.14 方焦点 X 光管，其有效焦点尺寸按边长计。 ( ) 2.15 在管电压、管电流和冷却条件相同的情况下，焦点尺寸越小，其阳极温度越高。 （ ） 2.16 管电压一定，X 光管可承受的负荷取决于焦点尺寸和阳极靶冷却的效果。 （ ） 2.17 X 射线管的阴极特性是指灯丝温度与饱和电流密度的关系曲线。 （ ） 2.18 X 射线管的阳极特性是指管电流与管电压的关系曲线。 （ ） 2.19 在使用过程中，阳极靶冷却不良会影响管电流的稳定性。 （ ） 2.20 工业检测用的 X 射线管工作在电流饱和区，要改变管电流，只有改变灯丝的加热电流。 （ 2.21
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Ir ，
射线检测习题部分
也有的是核裂变的产物，如 1.35
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Cs 。
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) )
Ir 源经过几个半衰期后，将其放在核反应堆中激活，可重复使用。
1.36 所谓“吸收” ，就是物质阻止射线通过的能力。 ( ) 1.37 线质是射线穿透物质能力的度量，穿透力较强的射线称其线质较软，穿透力较弱的射 线称其线质较硬。 （ ） 1.38 射线的线质越软，衰减系数越大。 （ ） 1.39 射线的线质越硬，其光子能量越大，波长越短，穿透力越强。 ( ) 1.40 射线的线质越软，其光子能量越小，波长越长，半价层越小。 ( ) 1.41 射线的线质越软，穿透力越强。 ( ) 1.42 射线通过物质时,会与物质发生相互作用而强度减弱,导致强度减弱的原因可分为吸收 与散射。 （ ） 1.43 因为发生光电效应的几率与被照物质原子序数的 3 次方成正比，所以原子序数越大， 发生光电效应的几率越小。 ( ) 1.44 光电效应中光子被部分吸收，而康普顿效应中光子被完全吸收。 ( ) 1.45 康普顿散射不是由轨道电子引起的，而主要是光子同固体内的自由电子相互作用引起 的。 （ ） 1.46 发生康普顿效应时，电子获得光子的部分能量以反冲电子的形式射出。同时，光子的 能量减小，方向也改了，成为低能散射线。 （ ） 1.47 当光子能量大于等于 1.02MeV 时，与物质相互作用才产生电子对效应。 （ ） 1.48 不包含散射成分的射线， 称窄束射线； 包含散射成分的射线， 称宽束射线。 （ ） 1.49 管电压提高， 衰减系数增大。 （ ） 1.50 线衰减系数的物理意义是单色射线穿过 1cm 厚工件时，穿过前后射线强度比值的自然 对数。 ( ) 1.51 射线的能量减弱到初始值一半时所穿过物质的厚度， 称半价层， 又称半值层。 （ ） 1.52 当 X 射线通过 3 个半价层后， 其强度仅为初始值的 1/3。 （ ） 1.53 在相同的管电压下， 透照厚度增加， 散射比减小。 （ ） 1.54 射线照相法用底片作为记录介质，可以直接得到缺陷的图像，且可以长期保存。通过 观察底片能够比较准确地判断出缺陷的性质、数量、尺寸和位置。 （ ） 1.55 射线源移去后，被照射工件本身仍残留低度的辐射。 ( ) 2.1 无损检测仪器不再属于依法管理的计量器具。 （ ） 2.2 目前广泛使用的 X 射线管有玻璃管和金属陶瓷管。 （ ） 2.3 所谓“管电流”就是流过 X 射线管的灯丝电流。 ( ) 2.4 决定 X 射线管靶材适用性的两个因素是原子序数和熔点。 （ ） 2.5 金属陶瓷 X 射线管有抗震性强，管电流和焦点稳定性好，体积小的优点，但真空度不 如玻璃 X 射线管。 ( ) 2.6 周向 X 射线机的阳极靶有两种， 即平面阳极靶和锥体阳极靶。 （ ） 2.7 新购置或停用较久的 X 光机， 使用前要训练 X 光管， 其目的是排出射线柜中的气泡。 ( ) 2.8 型号为 2505X 射线探伤机四位数字中，前两位“25”表示管电压的峰值为 250kV，后 两位数字“05”表示管电流为 5mA。 （ ） 2.9 X 光机操作时高压升不上去和高压跳闸是一回事。 ( ) 2.10 半波自整流与半波整流电路相比，在负半周时，加在 X 光管阳极上的负高电压低，如 阳极冷却不好，这种低电压可防止或减少反向电流的产生，X 射线管可以安全地工作。( )
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射线检测习题部分
2.46 已知入射光强为 3000cd/m ，穿过底片的透射光强为 30cd/m ，该底片黑度不满足 AB 级射线检测要求。 （ ） 2.47 黑度计至少每 6 个月校验一次，并有记录可查。 （ ） 2.48 标准黑度片至少每两年送计量单位检定一次。 （ ） 2.49 黑度计可测量的最大黑度不小于 4.5，测量值误差应不超过±0.05。 （ ） 2.50 像质计是用来检查透照技术和胶片处理质量的，衡量该质量的数值是识别丝号，它 等于底片上能识别出的最细钢丝的线编号。 ( ) 2.51 已知Ⅱ型像计的最粗金属丝直径为 1.0mm，则中间一根为 0.5mm，最细一根为 0.25mm。 ( ) 2.52 采用 R10 系列像质计，其线编号 Z 与钢丝直径 d 的关系式为 Z=6-101gd。 ( ) 2.53 小口径钢管专用像质计，由 5 根直径相同的钢丝和铅字符号组成，其像质计的代号用 Fe 和线编号构成。(Ο ) 2.54 按标准规定，碳钢、低合金钢和不锈钢均属黑色金属，可采用碳钢像质计。 （ ） 3.1 像质计灵敏度 2.0％， 是指大于 2.0％透照厚度的缺陷均可被检出。 ( ) 3.2 底片上缺陷影像的尺寸都大于实际缺陷的尺寸。 ( ) 3.3 X、γ 射线通过工件相邻两个不同厚度区域后的射线强度差与通过较大厚度区射线强 度的比，称主因对比度，又称工件对比度。 ( ) 3.4 主因对比度与工件厚度变化引起的黑度差有关。 ( ) 3.5 X、 γ 射线透照工件时， 由于相邻区域射线强度存在差异所产生的对比度称主因对比度。 （ ） 3.6 透照厚度差相同的工件，采用高电压的主因对比度低。 （ ） 3.7 通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度差越小， 则主因对比度越大。 ( ) 3.8 使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。 ( ) 3.9 透照厚度差相同的工件， 采用高电压与低电压相比， 主因对比度(工件对比度)低。 ( ) 3.10 通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度差越小， 则主因对比度越小。 ( ) 3.11 改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比度。 （ ） 3.12 在主因对比度一定的情况下，由胶片系统影响对比度的因素称胶片对比度。 ( ) 3.13 胶片卤化银粒子的平均大小，称胶片粒度。 ( ) 3.14 底片对比度就是底片上相邻区域的黑度差。 ( ) 3.15 线质变硬，底片对比度提高。 ( ) 3.16 任何情况下， 底片的对比度越大越好。 ( ) 3.17 厚工件中的紧闭裂纹，透照方向适当时，一定能被检出。 ( ) 3.18 窄束与宽束射线相比，窄束射线的对比度高。 ( ) 3.19 射线强度提高，底片宽容度增大。 ( ) 3.20 用增大射线源到胶片距离的方法可减小射线照相固有不清晰度。 ( ) 3.21 胶片颗粒度越大,固有不清晰度也越大。 ( ) 3.22 射线底片上叠加在工件影像上的黑度随机涨落 ,即影像黑度的不均匀程度称底片影像 颗粒度。 （ ） 3.23 底片的颗粒度随射线能量的提高而增大。 （ ） 3.24 底片影像颗粒度与胶片卤化银的粒度是同一概念。 ( ) 3.25 透照厚度增大，散射比增大。 ( ) 3.26 像质计灵敏度与缺陷检出率是一个概念。 ( ) 3.27 减小最小可见对比度△Dmin， 不利于识别小缺陷。 ( ) 3.28 观片灯亮度提高， 最小可见对比度△Dmin 减小， 能分辨的黑度范围向高黑度一边扩展。 （ ）
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Ir 贮罐用贫化轴作屏蔽，主要原因是贫化铀μ 值大，可制造出体积小，重量轻的贮
罐。 （ ） 2.22 γ 射线探伤机按机体机构可分为直通道形式和 “S” 通道形式。 （ ） 2.23 对不同种类的放射性同位素，高活度的同位素总是比低活度的同位素具有更高的辐射 水平。 ( ) 2.24 比活度越大，意味着该放射性同位素源的尺寸可以做的更小。 （ ） 2.25 按标准要求，底片的本底灰雾度应不大于 0.3。 （ ） 2.26 天津Ⅲ,AgfaD7,上海 GX-A7 属于 T3 类胶片。 （ ） 2.27 实际使胶片卤化银颗粒感光的因素是电子。 （ ） 4.28 不同类型的胶片，在相同的透照条件下绘制特性曲线的形状相同。 ( ) 2.29 射线胶片两面涂感光乳剂层的目的是提高胶片的感光度和清晰度。 （ ） 2.30 胶片的梯度低，其宽容度必然大。 （ ） 2.31 “潜影”的产生是银离子接受电子还原成银的过程。 （ ） 2.32 潜影形成后，如相隔很长时间才显影，得到的影像比及时冲洗得到的影像较淡，此现 象称为潜影衰退。 潜影衰退实际上是构成潜影中心的银又被空气氧化而变成 Ag+离子的逆变 过程。 （ ） 2.33 表征胶片相对曝光量与底片黑度之间关系的曲线， 称胶片特性曲线。 （ ） 2.34 胶片灰雾度是指曝光量为零时底片的黑度。 （ ） 2.35 胶片梯度值与显影条件有关，即显影配方、时间、温度等的变化都会使胶片梯度值发 生改变。 （ ） 2.36 在实际应用范围内， 射线的线质对胶片特性曲线的形状基本上无影响。 ( ) 2.37 管电压、 管电流和穿透厚度之间关系的曲线称胶片特性曲线。 ( ) 2.38 改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比度。 ( ) 2.39 增感系数是指其它条件不变时， 使用增感屏与不使用增感屏所需曝光时间之比。 ( ) 2.40 对于同一金属屏材质时， 在 300kVP 以下， 管电压越高， 增感系数越大。 （ ） 2.41 增感系数随γ 射线能量的增高而减小。 ( ) 2.42 荧光增感的原理是射线与荧光物质作用，产生荧光，从而加速胶片的感光过程。( ) 2.43 金属增感屏受 X 或γ 射线照射激发出二次电子产生二次射线，使胶片增感。常用的金 属材料是铅， 它的粒度细， 增感系数小， 所得底片的清晰度高。 ( ) 2.44 胶片和增感屏在射线检测过程中应始终相互紧贴。 （ ） 2.45 入射光强与穿过底片的透射光强之比的自然对数称为黑度。 （ ）
射线检测习题部分
第二部分
射线检测
一.是非题：294 题 二.选择题：324 题 三.问答题： 90 题 四.计算题： 64 题
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射线检测习题部分
一．是非题 （在题后括弧内，正确的画○ ，错误的画×）
1.1 当原子核内质子数不变，而原子量增加时，它就变成另一种元素。 1.2 具有放射性的同位素，称为放射性同位素。 1.3 元素 27 Co 中有 27 个质子和 33 个中子，原子序数为 27。
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（ （ （
） ） ）
1.4 α 衰变的规律是新核的质量数比原核的质量数减少 2 。 （ ） 1.5 γ 衰变前后核的质量数和核电荷数均不发生改变 （ ） 1.6 X 射线和γ 射线都是光子流，不带电荷。 （ ） 1.7 X 射线与γ 射线只要波长相同，就具有相同的性质。 （ ） 1.8 X、γ 射线不受电磁场影响。 （ ） 1.9 X、 γ 射线是电磁辐射； 中子射线是粒子辐射。 （ ） 1.10 具有连续光谱的 X 射线，称连续 X 射线，又称白色 X 射线。 （ ） 1.11 高速运动的电子同靶原子核的库仑场作用，电子失去其能量以光子形式辐射出来，这 种辐射称韧致辐射。 （ ） 1.12 加在 X 光管两端的电压越低，则电子的速度就越大，辐射出的射线能量就越高。 （ ） 1.13 一定能量的连续 X 射线穿透物质时， 随厚度的增加射线的总强度减小， 平均波长变短， 但最短波长不变。 （ ） 1.14 连续 X 射线的能量与管电压有关,与管电流无关。 （ ） 1.15 连续 X 射线的强度与管电流有关, 与管电压无关。 （ ） 1.16 由发射 X 射线的材料特征决定波长的Ⅹ射线，称标识 X 射线，又称特征 X 射线。( ） 1.17 如果 X 射线管的管电压超过激发电压,高速运动的电子同阳极靶碰撞时,可以把阳极靶 原子内层电子逐出壳层之外,使该原子处于激发态，外层电子将向内层跃迁，发射标识 X 射 线。 （ ） 1.18 标识 X 射线的能量与管电压、管电流均无关,仅取决于靶的材料 。 （ ） 1.19 X 射线穿过同一物质时，峰值电压越高半价层越大。 （ ） 1.20 γ 射线的能量取决于放射性同位素的活度或居里数， 而它的强度取决于源的种类。 ( ) 1.21 用于检测的 X 射线和γ 射线，它们之间的主要区别在于：X 射线是韧致辐射的产物， 而γ 射线是放射性同位素原子核衰变的产物；X 射线是连续谱，γ 射线是线状谱。 （ ） 1.22 工业用放射性同位素辐射出的γ 射线的能量用平均能量来度量，X 射线机辐射出的 X 射线能量是用管电压峰值来度量。 （ ） 1.23 活度是描述放射同位素不稳定程度的量， 它表示单位时间内核发生的衰变数。 （ ） 1.24 放射性同位素的能量蜕变至其原值一半所需时间， 称半衰期。 ( ) 1.25 放射性同位素的半衰期与放射性同位素的种类有关。 （ ） 1.26 当γ 射线经过 3 个半衰期后，其能量仅剩下初始当值的 1/8。 ( ) 1.27 γ 射线的能量取决于源的种类， 而它的强度取决于放射性同位素的活度或居里数。 ( ) 1.28 描述放射性物质不稳定程度的量称为“活度” ( ) 1.29 放射性同位素的衰变和衰减是一回事。 ( ) 1.30 放射性同位素的强度蜕变至其原值一半所需时间，称半衰期。 （与 1.24 重复） （ ) 1.31 在核反应堆中，把一种元素变为放射性元素的过程，称为激活。 ( ) 1.32 不稳定的同位素，称为放射性同位素。 ( ) 1.33 半衰期是指 X 射线强度减弱到初始值一半所需要的时间。 ( ) 1.34 工业检测用放射性同位素， 有的是在核反应堆中通过中子照射激活的， 如 27 Co 和
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射线检测习题部分
2.11 X 射线机的输出效率不会因电缆线的加长而发生变化。 （ ） 2.12 X 射线管的实际焦点是指阳极靶被电子撞击的部分，有效焦点是指实际焦点在垂直于 管轴线上的正投影。 （ ） 2.13 长方形焦点和椭圆形焦点，其有效焦点尺寸按 d=(a+b)/2 公式计算( 式中： a -长或 长轴，b-宽或短轴)。 ( ) 2.14 方焦点 X 光管，其有效焦点尺寸按边长计。 ( ) 2.15 在管电压、管电流和冷却条件相同的情况下，焦点尺寸越小，其阳极温度越高。 （ ） 2.16 管电压一定，X 光管可承受的负荷取决于焦点尺寸和阳极靶冷却的效果。 （ ） 2.17 X 射线管的阴极特性是指灯丝温度与饱和电流密度的关系曲线。 （ ） 2.18 X 射线管的阳极特性是指管电流与管电压的关系曲线。 （ ） 2.19 在使用过程中，阳极靶冷却不良会影响管电流的稳定性。 （ ） 2.20 工业检测用的 X 射线管工作在电流饱和区，要改变管电流，只有改变灯丝的加热电流。 （ 2.21