843-376-0018 厚薄规校正规范3版

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用單位。
校正點
0.02
0.03
0.10
0.20
0.30
0.40
0.50
0.60
0.75
0.85
1.00
1.50
允收精度
±0.01
±0.04
±0.08
6、相關文件:
6.1檢驗﹑量測與試驗設備管制程序(843-276-0001)
7、相關表單:
7.1量測儀器內校報告(843-476-0019)
8、附件:

裕明电子科技
厚薄規校正規范
文件編號:843-376-0018
制訂日期:2002/10/10
版本:3
頁號:1/3
版本
修訂內容
修訂日期
修訂者
1
初次發行
2
修改事業處代碼﹑文件編號及封面
2003/05/19
黃慶
3
修訂7.1及修改事業處代碼﹑文件編號及封面
2004/08/21
李期果
NO
1
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10

制訂日期:2002/10/10
版本:3
頁號:3/3
5.3.3每一校正點讀值應予以記錄于校正報告內。
5.3.4允收標准﹕各部位校正結果之誤差值應如下頁表所示﹐如有超出標准時應予以
標識降低使用或暫停使用﹐并予處理。
5.4注意事項﹕
5.4.1校正完成應于適當位置貼上校正合格標簽。
5.4.2校正結果如為降低使用或暫停使用﹐應于適當位置貼上限定使用標簽并通知使
2.2待校正量規儀器﹕厚薄規(規格﹕0.03~1.00mm或0.02~1.50mm)。
3、權責:
3.1各量測儀器使用單位負責對自己使用之量測儀器的保管與點檢作業。
3.2儀校負責人負責訂立相關文件與校正工作。
4、定義:
校正﹕在規定條件下﹐為確立量測儀器之指示值間或實物量具所代表的值與被量測相對應
之已知值之間關系的一組操作。
5.3.1校正前應先戴上棉紗手套﹐以無塵紙擦拭厚薄規量測面與測微器量測面﹐再依
序抽取厚薄規量測片。
5.3.2選擇校正點分別以0.02﹑0.03﹑0.10﹑0.20﹑0.30﹑0.40﹑0.50﹑0.60﹑0.75﹑
0.85﹑1.00(單位﹕mm)等校正點。
裕明电子科技
厚薄規校正規范
文件編號:843-376-0018

厂长室
仓储
製造
業務
工程
采购
管理部
品管
生物管
品保部
(制訂部門)會Βιβλιοθήκη 簽需求份數1






李期果
裕明电子科技
厚薄規校正規范
文件編號:843-376-0018
制訂日期:2002/10/10
版本:3
頁號:2/3
1、目的:
作為厚薄規校正用﹐可作為校正者之參考與訓練之依據。
2、範圍:
2.1標准器﹕千分尺(編號﹕M110-25型號﹕0-25mm)。
5、作業內容:
5.1開始校正必須熟悉整個校正規范及儀器說明書。
5.2准備工作﹕
5.2.1以棉花棒沾無水酒精或去漬水清潔測微器各部位及厚薄規﹐再以擦拭清潔。
5.2.2清潔完畢之待校件與標准件應置放于平台或木桌上至少1小時以上﹐使標准件
與待校件及校驗環境溫度同溫。
5.2.3校正環境在室溫下進行。
5.3校正步驟:
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