第六章 MOS电路版图设计讲解
MOS集成电路的版图设计
热电子的F-N隧道电流穿过氧化膜进入浮栅的方法来改变阈
值电压,从而实现存储器的编程和擦除。MOS PROM从器
件结构上分两类:一类是浮栅型,包括浮栅雪崩注入MOS
• ESD(electrostatic Discharge)静电放电损伤
不可恢复的
输入栅保护电路
特点
• 在正常输入电压时,无电流通过 • 当电压升高但远低于栅击穿电压时就会有电流通过 • 对异常电压进行钳位 • 对浪涌电压迅速响应 • 提供从管子放电的路径
最常用的设计是采用电阻-二级管电路
以为λ 单位的设计规则 微米设计规则
版图举例
输入保护电路
倒相器、门电路
总结版图的设计技巧
作业
名词解释
硅栅MOS工艺 SOICMOS
以反向器为例,简要说明P阱CMOS工艺流 程,画出P阱CMOS的剖面图,说明CMOS 电路的主要优点。 由CMOS电路的版图画出其电路图,说明 逻辑关系。(课堂完成)
第五章内容
• MOS集成电路的寄生效应 • CMOS电路中的锁定效应 • MOS集成电路的工艺设计 • MOS集成电路的版图设计规则 • MOS集成电路的版图设计举例
补充
输入缓冲器
作为电平转换的接口电路动大电容(几十、上百pF)
MOS集成电路的版图设计举例
500~800μm2
• 隔离环起到了抑制锁定效应的作用
高速CMOS电路的 输入栅保护电路
图5-35
• 多晶硅电阻、磷扩散电阻 • Dn1和Dn2寄生二极管 • 电路图 • 版图 • 剖面图
MOS集成电路的版图设计举例
输入栅保护电路版图举例 倒相器图形举例 门电路图形举例 版图设计技巧
精品文档-集成电路版图设计与TannerEDA工具的使用(王颖)-第6章
第6章 使用L-Edit设计版图实例
6.1 使用版图编辑器画PMOS晶体管的版图 6.2 使用版图编辑器画NMOS晶体管的版图 6.3 使用版图编辑器画反相器的版图 6.4 使用版图编辑器画并联晶体管的版图 6.5 使用版图编辑器画串联晶体管的版图 习题
第6章 使用L-Edit设计版图实例
后点击鼠标左键,然后点击Generate Cross-Section对话框
中的确认键(OK),最后得到的版图与横截面窗口如图6.13所
示。
第6章 使用L-Edit设计版图实例
图6.12 产生横截面观察对话框
பைடு நூலகம்
第6章 使用L-Edit设计版图实例
图6.13 版图与横截面图
第6章 使用L-Edit设计版图实例
第6章 使用L-Edit设计版图实例
图6.6 绘制P Select层
第6章 使用L-Edit设计版图实例
③ 画Active层。在DRC文件中规定有源区的最小宽度 (Active Minimum Width)为0.35微米,PMOS晶体管的有源区 到N阱之间的最小距离(PMOS Source/Drain spacing to Well Edge)为0.75微米。在选择了有源区绘图层和方框绘图工具后, 在版图区域中画一个高0.55微米、宽1.55微米的有源区,即 PMOS晶体管的沟道宽度为0.55微米,如图6.7所示。
第6章 使用L-Edit设计版图实例
第6章 使用L-Edit设计版图实例
图6.11 DRC相关窗口
第6章 使用L-Edit设计版图实例
(7) 进行晶体管的横截面观察。Tanner的版图编辑器配
有版图横截面观察功能,利用此功能可以观察所画版图与实际
MOS模拟集成电路基础讲解
gmd gm2
g1 s(C1 C ) g2 sC2 sgm2C2
6.2.1.4 高共模抑制比的CMOS运放输入级
6.2.2 单片集成微功耗CMOS运放
6.2.3 斩波稳零超低漂移单片集成CMOS运放 6.2.3.1 动态校零原理
6.3 CMOS集成电压比较器
6.3.1 差动输入单片集成CMOS电压比较器
CMOS型共源放大器的小信号特性:
AV(0)=-gm1rds1//rds2=-
g m1
=-
gds1 gds2
2n (1 1VDS )I D 1I D 2 I D
ro= rds1//rds2
2n . 1
I D2 1 2
CO=Cbd1+Cgd2+Cbd2+Cgd1
Av
(s)
Vo (s) Vi (s)
IR
输出电阻为: ro rds2
2. 比例电流源
Io2
W2 W1
/ /
L2 L1
IR
Io3
W3 W1
/ /
L3 L1
IR
3. 威尔逊电流源
Io IR
ro (gmrds3 )rds1
4. 改进型威尔逊电流源 在开启电压VGS(th)较大时, T2的VDS2大于T3的VDS3=VGS3 ,会导致T2和T3的电流失配, 因此增加T4,如右图
Av
(0) 1 1
s
p
( p
1 roCo
)
6.1.3 MOS源耦对与差动放大器
大信号特性:
iD1
iD2
1 2
nvID
4d (iD1 iD2 ) dvID
vID 0
I SS nCOXW / L
集成电路版图设计基础第六章:寄生参数
intrinsic capacitance (a parallel plate capacitor)
school of phye basics of ic layout design 15
器件的寄生参数
CMOS晶体管 -
栅电容:
Cgb is necessary to attract charge to invert the channel, so high gate capacitance is required to obtain high Ids. Cgb = Cox * WL = Cpermicron * W Cpermicron = Cox*L = (εs/tox) *L
school of phye
basics of ic layout design
4
寄生电容
减少寄生电容的方法 - 选择金属层
起主要作用的电容通常是导线与衬底间的电容。 如下图,寄生参数可以把电路1的噪声通过衬底耦合到电路2,所 以要设法使所有的噪声都远离衬底。
school of phye
basics of ic layout design
能否利用寄生参数?
从整体来说,不可以利用寄生参数得到好处。 因为寄生参数可以正负相差50%,无法很好地控制。 然而,可以利用寄生参数得到一点小外快。如把电源线和地线互 相层叠起来就可以得到免费的电源去耦电容。
basics of ic layout design 14
school of phye
器件的寄生参数
school of phye
basics of ic layout design
6
MOS电路版图设计规则解析解读
设计规则解析
以TSMC 0.25m 硅栅N 阱CMOS工艺的部分设计规 则为例
哈工大微电子中心 来逢昌
一、几点说明
2. Terminology Definitions Region 1. 3. MASK Terminology NAMES Definitions (Layer) for for Rule
PW
NW
哈工大微电子中心 来逢昌
三、Thin Oxide Rule (active area)
OD.C.5 OD.C.3 Minimum Minimum clearance clearance from from poly NW edge to to the a P+ HA 0.32 0.6 m m OD.W.3 At least one segment J of the edge consecutive JF 0.5 m OD.W.1 Minimum width of an OD region to define 0.3 OD.S.1 between regions 0.4m OD.C.1 Minimum Minimum space clearance from two NW OD edge to a DC0.15 edge OD region of butted which diffusion inside OD a region NW N+/P+ butted edges of butted diffusion OD the width of NMOS/PMOS ( both regions areis either inside or outside N+ OD region which is inside the to NW OD.C.4 Minimum clearance from NW edge a P+ I G0 0.15 m OD.S.2 Minimum space of N+ OD to P+ OD for m a N-well) which can be either N+ to N+, OD.W.2 Minimum width of an OD region for B 0.3 m is 0.5 um OD.C.2 Minimum clearance from NW edge to a N+ E 0.6 m OD region(for PW pick up) which is outside a NW P+ to P+ or N+ to P+ butted diffusion interconnect (N+/or P+) OD region which is outside the NW(cold or hot)
MOS管功率放大器电路图与原理图文及其解析
MOS管功率放大器电路图与原理图文及其解析放大器电路的分类本文介绍MOS管功率放大器电路图,先来看看放大器电路的分类,按功率放大器电路中晶体管导通时间的不同可分:甲类功率放大器电路、乙类功率放大器电路和丙类功率放大器电路。
甲类功率放大器电路,在信号全范围内均导通,非线性失真小,但输出功率和效率低,因此低频功率放大器电路中主要用乙类或甲乙类功率放大电路。
功率放大器是根据信号的导通角分为A、B、AB、C和D类,我国亦称为甲、乙、甲乙、丙和丁类。
功率放大器电路的特殊问题(1)放大器电路的功率功率放大器电路的任务是推动负载,因此功率放大电路的重要指标是输出功率,而不是电压放大倍数。
(2)放大器电路的非线形失真功率放大器电路工作在大信号的情况时,非线性失真时必须考虑的问题。
因此,功率放大电路不能用小信号的等效电路进行分析,而只能用图解法进行分析。
(3)放大器电路的效率效率定义为:输出信号功率与直流电源供给频率之比。
放大电路的实质就是能量转换电路,因此它就存在着转换效率。
常用MOS管功率放大器电路图MOS管功率放大器电路图是由电路稳压电源模块、带阻滤波模块、电压放大模块、功率放大模块、AD转换模块以及液晶显示模块组成。
(一)MOS管功率放大器电路图-系统设计电路实现简单,功耗低,性价比很高。
该电路,图1所示是其组成框图。
电路稳压电源模块为系统提供能量;带阻滤波电路要实现50Hz频率点输出功率衰减;电压放大模块采用两级放大来将小信号放大,以便为功率放大提供足够电压;功率放大模块主要提高负载能力;AD转换模块便于单片机信号采集;显示模块则实时显示功率和整机效率。
(二)MOS管功率放大器电路图-硬件电路设计1、带阻滤波电路的设计采用OP07组成的二阶带阻滤波器的阻带范围为40~60 Hz,其电路如图2所示。
带阻滤波器的性能参数有中心频率ω0或f0,带宽BW和品质因数Q。
Q值越高,阻带越窄,陷波效果越好。
2、放大电路的设计电压放大电路可选用两个INA128芯片来对微弱信号进行放大。
集成电路课程设计--cmos反相器的电路设计及版图设计
目录摘要 (3)绪论 (5)1软件介绍及电路原理 (6)1.1软件介绍 (6)1.2电路原理 (6)2原理图绘制 (8)3电路仿真 (10)3.1瞬态仿真 (10)3.2直流仿真 (11)4版图设计及验证 (12)4.1绘制反相器版图的前期设置 (12)4.2绘制反相器版图 (13)4.3 DRC验证 (15)结束语 (17)参考文献 (18)摘要CMOS技术自身的巨大发展潜力是IC高速持续发展的基础。
集成电路制造水平发展到深亚微米工艺阶段,CMOS的低功耗、高速度和高集成度得到了充分的体现。
本文将简单的介绍基于ORCAD和L-EDIT的CMOS反相器的电路仿真和版图设计,通过CMOS反相器的电路设计及版图设计过程,我们将了解并熟悉集成电路CAD的一种基本方法和操作过程。
关键词:CMOS反相器ORCAD L-EDIT版图设计AbstractThe huge development potential of CMOS technology itself is the foundation of sustainable development of IC high speed. The manufacturing level of development of the integrated circuit to the deep sub micron technology, CMOS low power consumption, high speed and high integration have been fully reflected. In this paper, the circuit simulation and layout design of ORCAD and L-EDIT CMOS inverter based on simple introduction, through the circuit design and layout design process of CMOS inverter, we will understand and a basic method and operation process, familiar with IC CAD.Keywords: CMOS inverter layout ORCAD L-EDIT绪论20世纪是IC迅速发展的时代。
集成电路常用器件版图
5.5 保护环版图
❖ 2、防止闩锁效应 ❖ 闩锁效应是由CMOS工艺中的计生效应引起
的,对电路可靠性非常重要,一旦发生闩锁,不 仅电路无法正常工作,还会因大电流引起芯片 过热,造成物理破坏. ❖ 图7.29:寄生效应电路. ❖ 图7.30:多数载流子保护环,吸收外来的多数 载流子,避免寄生三极管的发射极被正偏.
ESD〔Electrostatic discharge
构.
5.5 保护环版图
❖ 保护环〔guard ring是有N+型的接触孔或P+ 型的接触孔转成环状,将所包围的器件与环外 的器件隔离开来,所以叫做保护环.
❖ 保护环的作用:隔离噪声,保护敏感电路不受 外界干扰;防止闩锁效应.
5.5 保护环版图
❖ 1、隔离噪声 ❖ 模拟电路的噪声一般来自衬底,噪声源会对敏
〔1反相输出 I/O PAD
❖ 考虑到电子迁移率比空穴约大2.5 倍,所 以,PMOS 管的尺寸比NMOS 管大,这样可使 倒相器的输出波形对称.
❖ 下图是将金属铝引线去除后的版图形式,通过 这个图可以清楚的看到器件的并联结构和重 掺杂隔离环的结构.
〔1反相输出 I/O PAD
5.7 电源和地线版图
5.2 电阻常见版图画法
5.2 电阻常见版图画法
5.2 电阻常见版图画法
5.2 电阻常见版图画法
❖ 对于无法使用串、并联关系来构建的电阻,可 以在单元电阻内部取部分进行构建.
❖ 图7.18的实现方式.
电阻匹配设计总结
❖ 〔1采用同一材料来制作匹配电阻 ❖ 〔2匹配电阻的宽度要相同,且要足够宽. ❖ 〔3匹配的电阻要紧密靠近 ❖ 〔4在匹配电阻阵列的两端要放置Dummy电
MOS管电路工作原理和详解优质PPT课件
小提示: MOS管中的寄生二极管方向是关键。
电路符号
小结:“MOS管用作开关时在电路中的连接方法”
NMOS管:
D极接输入; S极接输出。
PMOS管:
S极接输入; D极接输出。
输出端
S极
G极
N沟道
输入端
S极
G极
P沟道
D极
输入端
导通时
D极
输出端
导通时
电路符号
反证:
看看我们常见的NMOS管4816:
请注意:不论NMOS管还是PMOS管,上述PIN脚的确定方法都是一样的。
假如MOS管表面磨损,或是无法辨认PIN1的标记圆点,你可以用什么 方法确认PIN1脚,以及G极,D极和S极? 拿出万用表,试试吧!
实物
再来看看相似的DFN封装MOS管:
外形上来看,DNF封装的MOS管仍旧有8个脚,但已经变成贴片形式, 节约了高度,散热性能更好些。 但其PIN脚极性还是一样排列。
实物
最后,3PIN脚的MOS管: (1)SOT-23
3
D
G
S
1
2
PIN1为G极;PIN2为S极;PIN3为D极。
图纸习惯
但请大家特别注意:主板上标示的PIN1与PIN2脚与此刚好颠倒了。
主板图纸上也是如此。 而且,似乎作为一种错误的习惯被保持了下来。
另外一种3PIN脚的MOS管: (2)TO-252
电路符号
19V
Adapter
BAT 12V
Q1 Q2 隔离
19V 3. 适配器+电池
问题:如果不用Q2隔离,同时插上适配器和电池会怎样?
现象是: 大电流。 当然这只有在维修稳压电源上才可以看到:电流直接达到 稳压电源的最大值6A以上,短路灯狂闪。
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VDD MP Vo MN
(2) 根据负载CL情况和速度 要求(tr和tf) 确定等效的 PMOS管和NMOS管的最小 W/L 。
o增大 Vi
0
V*
VDD
6.1.1 MOS管宽长比(W/L)的确定 2. CMOS逻辑门电路(续) (3) 根据上述结果最终确定等效的 Vi PMOS管和NMOS管的最小W/L。 (4) 根据电路结构和等 效的W/L确定每个管 的W/L 。 无比电路VOL与o无关 nor2
选上升和下降时间都是300ns.
§6-2 版图的布局布线
思考题
1. 布局布线的策略是什么? 2. 复用单元设计有什么好处?
6.2.1 布局 1.布局的基本原则 芯片的布局设计是要解决电路图或逻辑 图中的每个元件、功能单元在版图中的位置 摆布、压焊点分布、电源线和地线以及主要 信号线的走向等。 首先确定电路中主要单元(元件)的位 置,再以主要单元为中心安置次主要单元和 次要单元。 相关单元(包括压点)要尽量靠近,以 主要单元为主调整单元(器件)的形状和位 置,方便布线,缩短布线。
6.2.1 布局 2.布局示例1 电子表芯片
液晶显示译码电路
定时电路
比较电路
走时电路
分频电路 振荡器
报 时 驱 动
调节控制电路
6.2.1 布局 2.布局示例2 存储器模块
读写 控制
输入输出
地址 译码
SRAM存储矩阵
6.2.2 布线 1. 布线基本原则 最常用的布线层有金属、多晶硅和扩 散区,其寄生电阻和寄生电容有所不同。 电源线、地线选择金属层布线,线宽要 考虑电流容量(一般1mA/m)。 长信号线一般选择金属层布线,应尽量 避免长距离平行走线。 多晶硅布线和扩散区布线不能交叉而 且要短。必须用多晶硅走长线时,应同时 用金属线在一定长度内进行短接。
VDD A B
VDD MP Vo MN
F
6.1.1 MOS管宽长比(W/L)的确定 3. 传输门电路
(1)MOS的W/L直接影响传输门的导通电阻,
因而影响传输速度。因此,根据传输速
度的要求(考虑负载情况和前级驱动情
况)来确定传输门,一般应当考虑NMOS 管和PMOS管特性的对称性。
(5) 根据输入结构和 等效输入管的W/L确 A 定每个输入管的W/L 。
B
VDD
ML Vi MI Vo
V DD F
C
MD ME Vo
Vi
6.1.1 MOS管宽长比(W/L)的确定 2. CMOS逻辑门电路 (1) 根据抗干扰能力(噪声容限、 输入转折电压V*)确定0范围。 V* =
VDD+ VTP +VTN o 1 + o VDD VO Vi
6.2.2 布线 2. 布线示例
6.2.3 优化设计 1. 源漏区面积优化 相邻同型MOS 管源漏区相连接时 采用有源区直接连 接可以减小源漏区 面积,减小寄生电 容和漏电,也减小 了芯片面积。
1
2
6.2.3 优化设计 2. 器件排序优化 通过排序优化可以提高速度,减小漏电。
OUT OUT D A B C
A
D
B
C
OUT
OUT
GND
GND
6.2.3 优化设计 3. 宽沟器件的优化设计
(1)宽沟器件可以由 多个器件合成,方便 布局布线,减小栅极 电阻。 (2)宽沟器件源漏区 开孔要充分,提高沟 道特性的一致性(尤 其是模拟电路)。
6.2.3 优化设计 4. 复用单元的设计
将常用结构的 组合图形(包括电 路单元)按设计规 则要求设计为可复 用的单元,供设计 过程中调用, 减少设计错 误,并便于 修改。
第六章 MOS电路版图设计
§6-1 MOS管图形尺寸的设计
思考题
1. MOS管沟道的宽长比(W/L)如何确定?
2. MOS管沟道的宽度(W)和长度(L)如何 确定? 3. MOS管源漏区尺寸如何确定?
6.1.1 MOS管宽长比(W/L)的确定 1. NMOS逻辑门电路 VDD (1)NMOS逻辑门电路是有比电路, ML 根据VOL的要求,确定最小R 。 Vi Vo 2 MI (VDD VTL ) VOL E/E 饱和负载 2 (V V )
(2)对于窄沟(长沟)器件,应根据工艺水平 先考虑确定沟道宽度W,然后再根据已确定 W/L的值来确定L的值。 L W
6.1.4 MOS管源漏区尺寸的确定
一般是根据MOS管的沟道宽度W和相 关的设计规则来确定源漏区最小尺寸。源 漏区尺寸越小,寄生电容以及漏电就越小。 对于W/L较大的器件一般采用叉指状 图形。
F
f tr , t f p , n k p .kn W , L VNM Pd f
设计指标
参数 Vdd 单位 V 最小值 9.5 典型值 10 最大值 10.5
VNL
VNH CL f VTN VTP tox µ n µ p L
3
3 PF MHz V V Å cm2/ V.s cm2/ V.s µ m 1.0 -3.5 1500 280 160 10 15 1 1.5 -3.0 1700 290 180
6.1.2 MOS管沟道长度(L)的确定 (1)要考虑MOS管的耐压能力, 一般MOS管的击穿电压由源 漏穿通电压决定: W L
BVDSP=qNBL /2osi
(2)要考虑工艺水平。 (3)要考虑沟道长度调制效应对特性的影响。
2
6.1.3 MOS管沟道宽度(W)的确定
(1)根据已确定的W/L 和L的值来确定W的值。
R OH TI
VTD 2 VOL 2 (V V ) OH TE R
E/D
VDD MD Vi ME Vo
(2) 根据负载CL情况和速度要求(tr 和tf) 确定负载管和等效输入管的 最小W/L 。
6.1.1 MOS管宽长比(W/L)的确定 1. NMOS逻辑门电路(续) VDD
(3) 根据静态功耗的要求 来确定负载管最大的W/L 。 (4) 根据上述结果最终 确定负载管和等效输 入管的W/L 。
MOS管的源漏区具 有可互换性。
CMOS门电路设计举例
• • • • 设计一个双输入端与非门 VDD 设计考虑四个方面: 1,高低电平不用考虑; 2,以工作频率为依据,根据速度和工艺水 A 平选W/L; B • 3,根据W,L校验VNL和VNH; • 4,整个设计均从最坏情况入手。 nand2 设计过程是: