屏栅电离室+ΔE-E望远镜探测器系统
快中子_64_Zn_n_61_Ni反应微分截面实验测量
快中子64Zn(n,α)61Ni 反应微分截面实验测量张国辉郭利安张家国曹荣太陈金象(北京大学物理学院核物理与核技术国家重点实验室北京100871)Gledenov Yu M Sedysheva M(Frank Laboratory of Neutron Physics, JINR, Dubna, 141980, Russia)Khuukhenkhuu G(Nuclear research Centre, National University of Mongolia, Ulaanbaatar, M ongolia)摘要由于64Zn(n, α)61Ni 反应的剩余核是稳定的，不能用通常的活化法来测量，致使该反应截面实验数据缺乏。
利用双屏栅电离室作为带电粒子探测器，在E n=2.54, 4.00, 5.03, 5.50 与5.95 MeV 5 个能点，对64Zn(n, α)61Ni 反应的微分截面进行了实验测量，并通过微分截面对角度的积分得到了反应截面。
实验在北京大学4.5 MV 静电加速器上进行。
2.54 MeV 的单能中子采用固体氚-钛靶T(p, n)3He 反应产生，其余四种能量的准单能中子通过氘气体靶D(d, n)3He 反应获得。
绝对中子通量采用238U(n, f)反应来确定，实验过程中用BF3 长中子计数器进行相对中子通量监测。
测量结果与已有的实验与评价数据进行了比较。
关键词快中子，64Zn(n, α)61Ni 反应，微分截面，截面中图分类号O571.55，TL811+.1快中子引起的64Zn 出射带电粒子核反应数据，包括64Zn(n,p)64Cu 与64Zn(n,α)61Ni 反应的微分截面与截面等，在核工程应用以及核反应机制的研究中都非常重要。
64Zn(n, p)64Cu 反应已有许多实验测量数据，然而64Zn(n,α)61Ni 反应的测量数据却很少，因为61Ni 是稳定核，不能用通常的活化法测量。
CSNS白光中子源多用途TPC研制计划-中国科学技术大学
CSNS白光中子源多用途TPC研制计划报告人：易晗中科院高能所、中国散裂中子源2018年10月·衡阳全国先进气体探测器研讨会内容提纲•CSNS白光中子源简介•TPC研制背景•TPC研制计划•报告小结反角白光中子源：Back-nCSNS白光中子源：束流特征TPC研制背景•白光中子源主要开展的带电粒子测量实验：–轻带电粒子截面测量；–裂变截面测量；–束流特征测量：能谱、剖面、通量；•不同实验测量使用不同类型的探测器。
CSNS 白光中子源：实验装置FIXM探测器能谱测量多层裂变室C6D6探测器LPDA探测器TPC 研制背景：轻带电粒子截面测量•当前带电粒子测量使用LPDA装置，包括硅探测器、ΔE-E探测器、屏栅电离室•实验制约：探测器放在距样品中心20cm的位置，覆盖角度20-150°。
探测器角度不确定度为3.8-4.0°，相对立体角为0.012。
6Li(n,t)4He全截面测量结果10B(n,α)7Li全截面测量结果•当前装置覆盖立体角小，在感兴趣的MeV及以上能区测量误差大；•测量时本底强，本底粒子鉴别效率低；•计划研制4π立体角且具有粒子鉴别能力的TPC替代现有测量装置；•同时可兼顾裂变测量、束流特征测量等等。
•设计要求：–有效鉴别带电粒子；–气压可调，适应不同能量粒子测量范围；–减小γ-flash造成的影响；–抑制探测器在高能中子束流照射下的打火；–快时间分辨，提高中子飞行时间测量精度；TPC研制计划•国际上已有的白光中子源TPC设计特点：–针对裂变截面测量设计–双端盖读出板–出射粒子能量沉积距离短–采用相对测量获得截面，消除读出电极板对束流能谱的影响–没有γ-flash问题–采用高猝灭性气体抑制高能中子引起的打火•技术难点：–γ-flash 过强会堵塞探测器–考虑使用门控栅极阻挡γ-flash 产生的电子进入电子增益区–漂移区厚度的均衡设计–电子漂移速度与猝灭特性的平衡–靶与电场盒的配合及电场的设计–阴极信号精确定时测量中子TOF –制靶技术CathodeTarget TargetGating Grid7cm10cm3mm •六边形读出电极：–读出电极板尺寸10cm×10cm–六边形边长3mm，像素点约1500–靶点定位精度：σa=εN+112r2+1+Τ121+2/N1/2≈630μm–角分辨：σb=εX1N+112NN+2≈18mrad•目前已有科大研制的Micromegas探测器，使用μTPC方法进行了中子放射源和中子束流测试。
α屏栅电离室谱仪系统的研制
阻 Ｒ 则电流脉冲在负载电阻上将形成一个 电
压 脉冲 Ｖ（）脉冲幅度正 比于入射粒子在电离 ￡，
３ ３１
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室灵敏区中损失 的能量 （ 如果离 子对全部被 收 集）通过测量 脉冲数 目可 以求得入 射粒子数 ， ， 分析脉冲幅度可 以知道入射粒子的能量［ 。但 ４ ］ 平行板电离室对 粒子的能量分辨本领是很差 的， 它不能用来分 辨能量相差百 分之几或 能量 更接近的 ａ 粒子 。 １２ 屏栅 电离 室 ． 为了提高电离 室的分辨本领 ， 以便它 能分
极加上工作 电压 后 ， 电子和正离子在 电场作
用下 向两极漂移 ， 而在 收集极上产生 电流脉 从
收稿 日期 ：０ ５１ 一１ ２ ０—２Ｏ
冲 （） ￡。如果电离室的输出电路中接有负载电
作者简介： 杨璐（９９ ， 安徽嘉山人 ， １７ 一）女， 中国原子 能科学研究院硕士生， 从事核探测技术研究
源可达 ２ｋＶ 在 ４ Ｍｅ ５ｅ ， ￣６ Ｖ能区本底计数率为 ４ 。， 测效率接 近 ５ 。该谱 仪系统可 以测量 核素 的 ｈ。 探 Ｏ
ａ
射线能量， 分析出它们的能谱结构， 进而鉴定出各个 ａ 能谱所相应的核素及其相对含量和绝对含量。
关键词 ： 屏栅 电离室 ； 环境样 品 ； 平行板 ； 能量分辨率 ； 低水平 测量 中图分 类号 ： ＴＩ Ａ１ 文献标识码 ： Ａ 文章编 号 ： Ｏ ５一９ ４ ２¨ ） ３０ ３ －４ ２ ８Ｏ ３ （ Ｏ ６ Ｏ —３ ０ ０ １
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第 ２卷 ６
２０ ０ ６年
第３ 期
５月
核电子学 与探测技术
Ｎｕ ｌａ ｅｔｏ ｉ ｃｅ ｒ ｃｒｎｃ Ｅｌ ｓ＆ Ｄ ｔｃｉｎ Ｔ ｃ ｎ ｌｇ ｅｅｔ ｅ ｈ ｏｏ ｙ ｏ
电离层垂直探测知识讲解
电离层垂直探测电离层垂直探测目录一、概论二、系统设备三、基本原理四、电离层垂测图数据处理及分析五、电离层垂测的目的与用途电离层垂直探测一、概论电离层垂直探测是电离层研究中历史最悠久、至今仍然广泛使用的电离层地面常规探测方法。
这种方法通过垂直向上发射频无线电脉冲，频率f在1～30MHz范围内变化（频率扫描），接收在不同频率上由电离层反射的回波（Echo），测量回波的传播时间τ（Time of Flight），或者虚高（h’= cτ/2）随频率变化的频高图(Ionogram)。
根据对频高图的度量分析和反演，可以获得电离层特征参数，如F 层临界频率foF2，最大电子密度NmF2，以及探测点上空峰值高度以下电子密度随高度的一维分布，即电子密度剖面。
这是传统垂直探测方法能够提供的最重要的关于电离层结构的信息。
现代数字测高仪除了测量回波的传播时间，还可测量回波的偏振、振幅和相位谱，以及回波到达角，提供更丰富的关于电离层结构与动力学信息。
简单地说电离层垂直探测是用电离层测高仪（垂测仪）从地面对电离层进行日常观测的技术。
这种技术垂直向上发射频率随时间变化的无线电脉冲，在同一地点接受这些脉冲的电离层反射信号，测量出电波往返的传递时延，从而获得反射高度与频率关系的反射曲线。
二、 系统设备垂直探测设备主要包括：发射系统、接收机系统、频率合成系统、同步控制与时钟系统、数字处理、数据终端、自动判读和天线系统等。
垂测设备组成框图发射天线接收天线GPS 天线输出滤波发射机频率合成接收机信号处理控制器网络计算机数据线端电源 时钟 接口电离层测高仪（垂测仪）：电离层测高仪是从地面对电离层进行常规探测。
测高仪从地面垂直向上发射脉冲调制的高频无线电波，并在同一地点接收它的反射信号，测量出频率连续改变的电波来回传播的时间（称为时延），从而获得反射高度与频率的关系曲线，这种曲线称为频高图或垂测电离图，从而获得电离层电子密度的高度分布。
电离层探测仪（垂测仪）按功能可以分为：发射机、滤波器、接收机、信号处理、系统电源、数据终端。
紧凑的多路△E-E电离室望远镜系统
第31卷第2期原子能科学技术V o l.31,N o.2 1997年3月A tom ic Energy Science and T echno logy M ar.1997紧凑的多路∃E-E电离室望远镜系统3林承键(中国原子能科学研究院核物理研究所,北京,102413)设计、制作了一个紧凑的纵、横向兼容型,多路、多重的∃E2E电离室望远镜系统。
该电离室具有优良的∆∃E ∃E分辨,使得该系统不但有良好的Z分辨,而且有着一定的M分辨。
该探测器在实际应用中取得了良好的效果,为重离子核物理实验提供了有利的工具。
关键词 横向 纵向 多路 多重 分辨率为满足核物理实验的需要,设计研制了一个紧凑的纵、横向兼容型,多路、多重的∃E2E电离室望远镜系统。
望远镜方法(即∃E2E R方法)能够根据粒子的不同M Z2值实现鉴别,迄今仍是最常用的粒子鉴别方法之一。
在重离子领域,尤其是低能情况,透射探测器一般采用气体探测器,[1]。
在∃E2E望远镜中,常采用电离室作∃E探测器,对于12C以上的重离子,电离室要比半导体探测器的能量分辨好[1]。
本探测器望远镜∃E探测器采用的是气体电离室,E R探测器采用的是高分辨的半导体探测器。
1 ∃E-E望远镜的基本分析能量为E的带电粒子穿过入射窗后,在气体电离室中损失∃E能量,在半导体探测器上失去剩余能量E R,根据B ethe2B lock公式可推出[1]:E ∃E=KM Z2(1)这里,K为比例常数,仅与粒子种类有关。
只要测量粒子的∃E和E(E=∃E+E R),就可确定M Z2值,从而达到鉴别粒子的目的。
111 纵向型与横向型所谓纵向型和横向型,是针对电场方向和入射粒子方向而言,相互平行的称为纵向型,相互垂直的称为横向型。
这两种类型电离室的基本结构示于图1。
从图1可见:(1)在纵向型电离室中,电离的离子2电子对沿着电离的径迹被收集,输出脉冲的幅度与电离的地点无关,故电离室对电场均匀性的要求不高,甚至可以省去栅极。
适用于研究低能裂变碎片电荷分布的探测器装置
中图 分 类 号 ： ８ ７ ７ ＴＬ １ ． 文献标识码 ： Ａ 文 章 编 号 ：００６ ３ （ ０ ７０ ４ ４０ １ ０— ９ １２ ０ ） ４０ ８ －５
Ｅｑｕ ｐ ｅ ｔ ｔ ｅ ｓ ｒ ｉ ｍ ｎ ｏ Ｍ ａ ｕ ｅ Ｃｈａ ｇ ｓ ｒ ｂ ｔｏ ｆ Ｆｒ ｇ ｅ ｔ ｒ ｅ Ｄｉｔ ｉ ｕ ｉ ｎｓｏ ａ ｍ ｎ ｓ ｉ ｗ ｅ ｇ ｓ ｉ ｎ ｎ Ｌｏ Ｅｎ ｒ ｙ Ｆｉｓｏ
ｃ ａ ｇ ｉｔ ｉ ｕ ｉ ｎ ｔｔ ｅ ｆ ｅ ａ ｓｎ ｍ ｂ ｒ ｎ ｏ ａ ｉ ｅ ｉ ｎ ｒ ｙ （ ｈ ｒ ｅ ｄ ｓ ｒｂ ｔ ｓ ａ ｈ ｉ ｄ ｍ ｓ ｕ ｏ ｘ ｅ ＡＬ ａ ｄ ｔ ｔ ｌｋ ｎ ｔ ｅ ｅ ｇ ＴＫＥ）ｏ ｈ ｃ ｆｔ ｅ
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第 ４ 卷第４ １ 期
２ ０ 年７ ０７ 月
原
子
能
科
学
技
术
Ｖ ｏ１ １。 Ｏ． ．４ Ｎ ４
Ａ ｔ ｍ ｉ ｏ ｃ Ｅｎｅ ｇ ｉ ｎ ｅ ａ ｄ Ｔ ｅ ｈｎ ｌ ｙ ｒ ｙ Ｓｃｅ ｃ ｎ ｃ ｏ ｏｇ
Ｊ ｌ ０ ７ ｕｙ ２ ０
PerkinElmer 0822 平板探测器
PerkinElmer 平板探测器型号XRD 0822 AOXRD 0822 APXRD 1611 XPXRD 1620 XN CSXRD 1621 XNXRD 1622 AOXRD 1622 APXRD 1642 APXRD 0820系列X射线数字平板探测器维修德国PerkinElmer XRD 0820系列X射线数字平板探测器维修电路板维修XRD 0822 系列X射线数字平板探测器XRD-EP电源维修EL448197IXS160BP500P063X10071-b00303VJT1011283X射线检测技术和返修技术领先厂商VJ Technologies伟杰科技苏州RD0822 平板X射线探测器珀金埃尔默公司 XRD-0820-ES XRD-0840-ES主板电路板维修XRD 0820NA/CN/MN ESDEXELA 2315MAM DEXELA 2315MAM CL DEXELA 2923MAM CL Dexela 2321(In Development) Dexela 2321(In Development)Dexela 2321 DEXELA 1313LiteratureXRD 0822 AO， APXRD 1611 xPXRD 1622 AP3XRD 1622 AO， APXRD 1642 APXRpad 3025XRpad 4336XRpad 4343XRD 4343 RFXRD Series Product NoteXRD AccessoriesDEXELA NDTDEXELA Standard ProductsDEXELA MAM GigEDEXELA 2315 MAM CLDEXELA 2923 MAM CLDEXELA 1313DEXELA 2321大连PerkinElmer（珀金埃尔默.美国）XRD 0822平板X射线探测器XRD 8英寸（20厘米）平板X射线探测器丹东奥龙射线丹东市中讯安防XRD 0822 平板X射线探测器（FPDs）是PerkinElmer（珀金埃尔默.美国）公司出品的8英寸（20厘米）非晶硅的平板X射线探测器。
电离室
电离室英文拼写ionization chamber编辑本段发明历史一种最早的测量核辐射的气体电离探测器之一，早在１９１—１９１４年间，就用它成功地发现了宇宙线.最简单的电离室由两块平行板构成，一块接几百至几千伏正高压，一块通过电阻接地.当带电粒子经过时，使两板之间气体电离，正离子飞向阴极，电子飞向阳极.两板上产生感应电荷，在接地的电阻上就形成一脉冲信号.由于电子飞行速度比离子要大三个量级，电子将快速到达阳极，在到达前，由于是正反离子对共同贡献，脉冲上升，随着电子减少和离子被阴极吸收，脉冲慢慢下降，直到正离子被吸收.由此可见，电离室相当于简单的放电线路，不同的电离室就是选择不同的值iPiP 设计出来的.如果离子收集时间为＋（约为１０３C秒），电子的]收集时间为－（约为１０６＋C秒），当取时，为离子脉冲H]iP]电离室，它收集了全部电子和离子，可以用它来测量带电粒子的能量.当取－＜＜＋时为电子电离室，它比较快，可]iP]以用来测量带电粒子的强度.但由于它的脉冲辐度与离子对产生地点有关，不能直接用它来测能量.为了把电离室做得又快又能测能量，人们把它改进成屏栅电离室，可以在重离子物理中测量重带电粒子能量并鉴别粒子，也可改进为圆柱形脉冲电离室，既可测能量，又可作记数器.编辑本段电离室工作原理电离室是一种探测电离辐射的气体探测器。
气体探测器的原理是，当探测器受到射线照射时，射线与气体中的分子作用，产生由一个电子和一个正离子组成的离子对。
这些离子向周围区域自由扩散。
扩散过程中，电子和正离子可以复合重新形成中性分子。
但是，若在构成气体探测器的收集极和高压极上加直流的极化电压V，形成电场，那么电子和正离子就会分别被拉向正负两极，并被收集。
随着极化电压V逐渐增加，气体探测器的工作状态就会从复合区、饱和区、正比区、有限正比区、盖革区(G - M区)一直变化到连续放电区。
所谓电离室即工作在饱和区的气体探测器，因而饱和区又称电离室区。
物理新人教版选修3-5193探测射线的方法
物理新人教版选修3-5193探测射线的方法探测射线的方法主要包括电离室法、Geiger-Muller管法、闪烁体探测器法、电子线探测器法和磁谱仪等。
电离室法是一种常用的探测射线的方法，它利用射线通过电离室时产生的电离现象来检测射线。
电离室由一个金属容器和一个填充有气体的空间构成，气体可以是氩气、氦气等。
当射线通过电离室时，会与气体分子碰撞产生电离，电离产生的正负电子对经过加速极引入电极上，形成电流。
根据电流的大小可以反映射线的强弱。
电离室法灵敏度高，精度高，可以测量多种类型的射线。
Geiger-Muller管法是一种常见的射线探测方法，它利用Geiger-Muller管检测射线。
Geiger-Muller管是一种封闭的金属管，管内充满了低压气体。
当射线入射到Geiger-Muller管时，会与气体分子碰撞产生电离，电离产生的正负电子对被高电压加速，并在电场的作用下引入阳极和阴极，产生一个电流脉冲。
根据电流脉冲的数量和大小可以判断射线的强度和类型。
闪烁体探测器法是一种利用闪烁效应检测射线的方法。
闪烁体通常是一种由有机或无机材料制成的晶体或液体，在射线入射到闪烁体的时候，会与闪烁体分子产生碰撞，使闪烁体分子激发至高能级，然后在返回低能级的过程中释放出光子。
利用光电倍增管等光电探测器可以检测到放射出的光子，从而确定射线的强度和类型。
电子线探测器法是一种以电子束为探测器的射线检测方法。
电子线探测器一般采用热电子发射式或场发射式。
当射线通过电子线探测器时，会使电子发射体发射出电子，通过加速极和集束极，将电子聚焦成一个电子束，在荧光屏或闪烁体上产生荧光或闪烁，从而可以直接观察到射线的发生。
磁谱仪是一种利用磁场对射线进行分析和测量的仪器。
它通过磁场的作用，使不同类型的射线在空间中运动轨迹不同，从而实现对射线的分离和测量。
磁谱仪主要由磁铁、光学系统和探测系统等组成。
不同种类的射线会在磁场中产生弯曲，通过对射线偏转的测量，可以得到射线的能量和轨迹信息。
光纤光栅型振动传感器 周界入侵探测 产品说明书(理工光科)
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光纤光栅周界安防系统
铁网围墙模式
完全采用铁丝（中间采用垂直、上下采用横向方钢或圆钢管进行加固）所组 成的围墙。
砖 墙 模
式
由建筑砖或混凝土所形成的围墙（带水泥立柱且立柱间隔在5000mm以内的
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12
铁艺围墙也划类为砖墙）。
采用先进的数字式测量技术，不受光源波动、连接损耗、光缆的随机振动等 因素的影响。 优良的兼容性
光纤光栅周界安防系统可以通过 RS232/485 标准端口或者继电器输出与外 部其它控制设备进行通信，可以与安防领域中使用的其它系统联网。 灵活的布点措施
光纤光栅周界安防系统组网方便灵活，各检测通道相对独立，避免了设备间 的影响；可根据工程需要，灵活方便的选择探头位置和疏密程度。 安全特性
1
2
1
2
1
使用现场
控制室内
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…………
1
1
2
3
5
4
图 1 光纤光栅周界安防系统结构示意图
1 光栅震动探测单元 2 连接光缆 3 光缆续接盒 4 传输光缆 5 BGD-16HA 型光纤光栅数据解调器信号处理器 6 电缆 4×1.5 7 报警控制器或系统计算机
中国最大的光纤传感技术研究开发与生产基地
3
1. 前端探测光缆
中心控制室部分
包括数据处理器（光的收发调制单元）和中心控制部分（计 算机及软件），可配置报警打印机等
中心控制室机柜样图
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4
光纤光栅周界安防系统
四、光纤光栅周界安防系统特点
x射线望远镜原理
X射线望远镜是一种用于观测宇宙X射线源的天文设备。
其基本原理是利用X射线的特性，通过望远镜的聚焦系统将X 射线聚焦到探测器上，然后由探测器将X射线转换为可检测的信号，如电荷、光子等。
这些信号被放大并记录下来，经过处理和分析，可以获得X射线源的图像和光谱等信息。
X射线望远镜的主要组成部分包括镜面系统、探测器和数据处理系统。
镜面系统负责将X射线聚焦到探测器上，通常采用多层膜结构来提高反射率。
探测器用于将X射线转换为可检测的信号，常见的有气体探测器、半导体探测器和CCD探测器等。
数据处理系统负责处理探测器收集到的信号，并将其转换为可用的科学数据。
X射线望远镜的设计和制造需要解决许多技术难题，如X射线的高能特性、聚焦系统的高精度要求以及探测器的灵敏度和分辨率要求等。
目前，已经成功发射并运行的X射线望远镜有Chandra X射线天文台、XMM-Newton X射线天文台和Swift X射线天文台等。
这些望远镜在黑洞、中子星、星系团等天体的研究中取得了许多重要成果。
采用多丝正比室读出的屏栅电离室能量分辨研究
极 电 压 的 变 化 关 系 "探 测 器 工 作 在 常 压 下 $
由于粒子在穿过 "D9$>膜降能时存在一 定的 能 量 岐 离 现 象"导 致 图 ( 中 的 能 量 分 辨 率 整体变差"特别对使用-,% "D9$>膜的情况" 但能量分辨率随电压的变化趋势仍然清晰$通
过与图-$中的测试结果对比可看出"两 者的 能 量 分 辨 率 随 电 压 的 变 化 趋 势 基 本 一 致"但 最 佳
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电离室输出脉冲幅度
2) 正离子与阴极作用产生二次电子：新电子产生新 的雪崩。
VC
RCT+
RC<<T+
t
多原子分子离子在阴极 图3.3.9 多次雪崩的脉冲波形示意图 表面拉出电子中和后就
• 改善方法：在单原子分子或双原子分分解子，不气发体射二中次加电子。 少量的多原子分子气体。
3) 空间电荷效应 正离子鞘：雪崩完成时，大量正离子几乎不动地 散布在阳极周围，使阳极附近的电场变弱。在有 限正比区，离子云的影响使气体放大倍数不再是 常数，而是与原电离密度、径迹取向等有关。
1) 光子的影响：光电子参加次电离雪崩过程在实验上 无法区分。
：每个电子在向阳极漂移的过程中产生光电子的概率。
当
M0<1时，级数收敛，
M
M0
1 M 0
M0<<1时，M~ M0，正比区；
M0<1时， M> M0 ，有限正比区；
M0~1时， M， G－M区
自持放电
• 改善方法：在单原子分子或双原子分子气体中加 少量的多原子分子气体。
贡献，可忽略
正比计数器的输出脉冲特点（重点）
❖ 脉冲幅度大。是电离室的102-104倍。 ❖ 灵敏度高。原则上只有一个电子离子对就可以被分辨。
❖ 脉冲仍然有两部分组成：电子脉冲和离子脉冲。因为雪崩仅发 生在阳极极小范围内，因此电子脉冲的影响很小，而正离子几 乎从阳极漂移到阴极，因此，正比计数管的电压脉冲主要是由 倍增后的正离子贡献的。
V0
由于： Er V0
r ln b / a
W r μ E(r) W r dr(t)
P
dt
则：
I (t)
加速器质谱
二、普通质谱计
根据分析器的不同，质谱计可以分 类为：
1.磁分析器 2.静电分析器 3.速度分析器（交叉场分析器） 4.回旋共振分析器
二、普通质谱计
磁分析器
磁分析器
Rm
二、普通质谱计
磁分析器
带电粒子在磁场中受磁场力作用 MV2/Rm=qV×B=VqB
M/q.E/q=ME/q2=1/2.(BRm)2=K1=常数 BRm又称为磁刚度 对应不同的M/q，有不同的磁刚度。因 此，磁分析器可以将不同M/q的离子分 开。
4.对同位素的最后鉴别和记录
加速器将离子加速到数MeV的能量，因 此可以采用核物理实验的带电粒子探测 和鉴别技术。主要是Δ E-E探测器和射 程过滤器。
三、加速器质谱技术
串列加速器质谱的工作过程：
4.1ΔE-E探测器 ΔE探测器一般是气体电离室或半导体探测器，测定每 种离子的电离损失率：dE/dx≈KMZ2/E，因此，对相同 能量E的离子，只要MZ2不同，电离损失率不同。 ΔE探测器在前，E探测器（半导体探测器或闪烁晶体） 在后，就可以在ΔE和E的乘积谱或二维谱的能谱中区分 不同质量的离子。例如将能量信号E和能量损失信号ΔE 作为X和Y轴信号分别送入多道分析器进行二维测量， 既可以区分离子种类，还可以同时记录离子数目。适当 选择ΔE探测器的厚度，可以使能量损失率大的本底离 子全部被吸收掉，或使干扰离子的能谱与待测核素分开， 从而在无干扰的情况下记录待测核素。
2.对感兴趣同位素的加速、剥离
负离子在串列加速器的前半部分被加速到eV能量（V 是串列加速器的端电压）达到加速器中央的高压端， 再经过电荷剥离器（薄膜或低压气体）后，变成正离 子，正离子在加速器后半部分又一次被加速而增加能 量qeV（q是正离子电荷态）。离子的总能量为： E=E0+（1+q）eV 一般要求把离子加速到每核子有数MeV的能量，加速 器端电压3—10MV。
用屏栅电离室测量6Li(n，t)4He反应微分截面
用屏栅电离室测量6Li(n，t)4He反应微分截面张国辉;唐国有;陈金象;刘广智;张雪梅;陈泽民【期刊名称】《核技术》【年(卷),期】2001(024)004【摘要】用屏栅电离室对3.67MeV与4.42MeV中子6Li(n，t)4He反应微分截面进行了测量。
利用氘气体靶通过D(d，n)3He反应产生中子,用BF3和液闪探测器(NE213)进行相对中子通量监测,绝对中子通量用238U(n，f)与H(n，p)反应来刻度。
测量结果表明,氚的质心系微分截面在中子能量为3.67MeV时很接近90°对称,而到4.42MeV时则明显前倾。
【总页数】5页(P241-245)【作者】张国辉;唐国有;陈金象;刘广智;张雪梅;陈泽民【作者单位】北京大学重离子物理研究所;北京大学重离子物理研究所;北京大学重离子物理研究所;北京大学重离子物理研究所;清华大学物理系;清华大学物理系【正文语种】中文【中图分类】A050311【相关文献】1.1-2 MeV能区6Li(n,t)4He反应微分截面与截面的实验测量 [J], 张国辉;陈金象;唐国有;Gledenov Yu M;Sedysheva M;Khuukhenkhuu G2.6Li(n,t)4He反应微分截面的实验测量 [J], 张国辉;刘廷进;唐国有;陈金象;施兆民;王建勇;Gledenov Yu M;Sedysheva M;Khuukhenkhuu G;陈泽民3.高气压屏栅电离室的调试和58Ni(n,p)反应双微分截面的试测 [J], 张雪梅;唐国有4.用双屏栅电离室测量快中子（n,α）反应的双微分截面 [J], 唐国有;陈泽民5.用充Kr(CH4)的屏栅电离室测量64Zn(n,α)61Ni反应截面和角分布 [J],因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。
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ｌ 引言
屏栅 电离室 探测 器 技 术在 近 ２ ０多 年 来 得 到快 速发 展 的重 要原 因是 ：除 了在探 测低 能 重离 子 时它
镜 能确定 互补 碎片 的电荷 特性建立 了一个 屏栅 电离 室 ＋△ Ｅ 粒子望 远 镜 探测 器 系 统 。粒 子 望 远镜 的
有好 的能量 分辨外 ， 子 的电离 特性 和 电离 径迹 位 粒
系统 的内部结构 。
分裂 变反 应 的轻 带 电粒 子 发 射 实 验 测 量［ 表 明 ， ５ 屏栅 电离室 可作 为粒 子望 远镜 的气 体 Ａ Ｅ探测 器来 使用 。流气 式 气体 型 Ａ Ｅ探 测 器优 点 是 ，除 了其 良 好 的能量 分 辨 特 性 不 会 因为 裂 变 碎 片辐 射 而 变 化 外 ，它还具 有 良好 的均 匀性 ， 灵 敏体 积的 厚度 可 且
Ｚ 的直接 量度 。为 了实现 既能 确 定裂 变碎 片的能 量
的抗 重离子 辐射 特性和 它 的几 何探 测立体 角可 接 近
２ ［ 。在发展屏 栅 电离室 探 测 器技 术 上跨 出重要 丌卜 －
一
步 的是 比利 时 的 Ｂ ｄｚ ｏｇ ｎ ｅ ｕ ｔ— ｒ ｅ ｓｎ等 ，他 们 建 Ｊ ］
屏栅 电离 室 ＋Ａ － 望 远镜 探 测 器 系统 ＥＥ
王 涛 峰 ，朱 丽 萍 ，孟 庆 华 ，王黎 明 ，韩 洪银 ， 夏 海 鸿 黎 光 武 ，屈从 会 。 顾 先 宝 ， ，
（ 中国原子能科学研究院， Ｅ １２１； １ ｊ京 ０４３
２兰 州 大 学 现代 物 理 系 ，甘肃 兰 州 ７ ０ ０ ； ３０ ０
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第 ２ ４卷 第 ３期 ２０ ０ ７年 ９月
原 子 核 物 理 评 论
Ｎｕｃｅ ｒＰｈｙｓｃ ｖｉｗ ｌａ ｉｓ Ｒｅ ｅ
Ｖｏ Ｌ ２４， Ｎｏ ３ ． Ｓ７０－００ －０ １０ － ６７２０ ）３ ２４ ４
维普资讯
第 ３期
王 涛 峰等 ：屏 栅 电离 室 ＋ △ＥＥ 望远 镜 探 测 器 系 统 ＿
是： 它一方 面为裂 变碎 片进入粒 子望 远镜 的 Ｅ探 测
体） 探测 器有 稳 定 的 工 作特 性 ，还 为 探 测器 系统 配
置 了一 个 从 瑞 士 引 进 的 ＶＣ ５ ０型 流 气 式 稳 压 系 Ｃ０
一
个 薄 的屏栅 电离室（ 气体 Ａ ） 一个 金硅 面垒探 测器 （ 组 成 ，用来 确 定 互补 碎 片 的电荷 。用 本 Ｅ和 Ｅ）
系统对。 ｆ自发裂 变碎片 电荷分 布进行 了 ４个参 数 的 关联 测 量，结果 表 明 ，这 个探 测器 系 统 的 电 Ｃ
荷 分辨 能力 Ｚ Ａ ／ Ｚ好 于 ４ １ ０： 。 关 键 词 ：屏栅 电离室 ； ＥＥ 望远镜 ；电荷分 辨能力 Ａ － 中图分类号 ： ７ ． ３。 Ｏ５ １ ４ 文献标 识码 ： Ａ 确 定裂变 碎 片的能量 和发射 角 以及 Ａ － 粒子 望远 ＥＥ
３四川 大 学 物 理科 学 与技 术 学 院 ，四 川 成都 ６ ０ ６ ） １０ ４
摘 要 ： 制 了屏栅 电离 室＋Ａ － 望远镜 探测 器 系统 ，系统 的屏栅 电离 室用来测 定。 Ｃ 研 ＥＥ ｆ自发 裂变
碎 片 的能量和 相对 于探测器 系统 轴 线 的发 射 角，与屏 栅 电离 室耦合 安 装 的 Ａ － 望 远镜 探 测器 由 ＥＥ
立 了一个 既能测量 裂 变碎 片能量 ，又能 同 时确定 碎 片发 射角 的孪生屏 栅 电离室 。
研究。 ｆ自发 二 分 裂 变 反应 碎 片 的 电荷 分 布 Ｃ
以及 研究。 ｆ自发 三 分 裂变 反应 和 。 Ｕ（ ，ｆ三 Ｃ 。 ｎ ｈ ）
和 质量 ， 又能 同时确 定碎 片 电荷 分 布这样 一 个双 重 目的 ，我们建 立 了一 个 圆柱 形 流气 式屏栅 电离室 ＋ △ Ｅ 粒子 望远镜 探 测器 系 统 。图 １给 出 了探 测 器
＊ 基 金项 目 ： 国家 自然 科 学 基金 资助 项 目（ ０ ７０ １ １ １ ５９ ）
作 者 简 介 ： 王涛 峰 （９ ８ ） １ ７ 一 ，男 （ 族 ） 汉 ，甘 肃 正 宁 人 ，博 士 研究 生 ，从 事 裂 变物 理 与 中 子 物 理研 究
Ｅ ｍａｌ ｗａ ｇ ｆ ＠ ｙ ｈ ｏ ｃ ｍ — ｉ ： ｎ ｔ ｆ ａ ｏ ．ｏ ｔ
以根 据实验 的需要 进行 确定 的优 点 。为 了研究。 ｆ Ｃ
屏栅 电离 室 （ － 一 ） Ａ１Ｇ１Ｃ 和具 有屏 栅 电离 室结 构 的气 体 Ａ Ｅ探测 器 （ 一 一 ） 合安 装 ，Ｃ为共 同 Ａ２Ｇ２Ｃ 耦 阴极 。收集极 （ Ａ１和 Ａ２ 为 经过 表 面 抛 光处 理 的 、 ）
置可 以方便 地确定 。此外 ，流 气式 电 离室 探 测器 技
术 的重要实 际应 用价 值 还在 于 ： 于 建造 、有 良好 易
△ Ｅ探测 器是 一个薄 的流气 式 屏栅 电离 室 ，而 Ｅ探
测 器则是 一个低 电 阻率半导体 探测 器 。
２ 探 测 器 装 置
用Ａ－ Ｅ Ｅ技 术测定 裂变碎 片 电荷 数的 基本 思想 是 ， 固定碎 片核 的质量 数 Ｍ 和动能 Ｅ 的条件 下 ， 在 碎 片在 Ａ Ｅ探测 器 中的沉 积 能量 ｄ Ｅ是碎 片电荷 数
直径 ２ ８ｍｍ 和厚 １ｍｍ 的不 锈 钢 圆片 ， Ａ２的 ３ 但 中央有一 个直 径 为 １ ６ｍｍ 的 圆孔 。该 圆孔 的作 用
自发 裂变碎 片 的电荷 分 布 ，我们 根据 屏栅 电离室 能
收 稿 日期 ： ２ ０ ０ ７一Ｏ ｌ一２ ；修 改 日期 ：２ ０ ２ ０ ７—０ — １ ５ ４
器提 供 了通 道 ；另一方 面 ，它限制 了 Ｅ探测 器 （ ２ ＋０ ｍｍ） 的有效 面积 ， 从而 消除其 边缘效 应 。两面分别