第八章原子发射光谱分析2新

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原子发射光谱分析基本原理

原子发射光谱分析基本原理

原子发射光谱分析基本原理原子发射光谱分析是一种常用的分析技术,用于确定物质中不同元素的存在和浓度。

基本原理是通过激发原子使其跃迁到高能级,然后原子从高能级退回到低能级时会发射出一系列特定的频率光线,这些光线就被称为发射光谱。

本文将详细介绍原子发射光谱分析的基本原理。

当原子处于高能级时,由于能量不稳定,原子会自发地退回到低能级。

在这个过程中,原子会发射出一定频率的光线。

这是因为原子的能级结构是离散的,每个能级对应不同的能量差和光频率。

各元素拥有独特的能级结构,因此每个元素会发射出特定的频率光线,形成一种独特的光谱指纹。

发射光谱的特点是谱线的亮度与元素浓度成正比。

因此,通过测量谱线的强度可以确定样品中该元素的浓度。

发射光谱分析可以在可见光、紫外光和红外光范围内进行。

原子发射光谱分析有两种主要的测量方式:线源测量和离散源测量。

线源测量是指使用等离子体火焰或火花放电等产生连续谱的激发源。

这种方法适用于多元素分析和测量大样品数量。

离散源测量是指使用电弧放电或激光脉冲等产生谱线的激发源。

这种方法适用于单元素测量和对样品数量要求不高的分析。

然而,原子发射光谱分析也存在一些局限性。

由于发射光谱需要样品激发和发射,对样品形式和形状要求较高。

此外,元素之间的相互作用和基体效应也会对分析结果产生影响,需要进行校正和修正。

总结起来,原子发射光谱分析是一种常用的化学分析技术,适用于多元素同时分析和不同浓度的测量。

通过测量发射光谱的强度可以确定元素的浓度。

然而,这项技术也有一定的局限性,需要对样品的形态和基体进行处理和修正。

尽管如此,原子发射光谱分析仍然是一种重要的化学分析方法,广泛应用于环境监测、食品检测和地质勘探等领域。

原子吸收光谱分析

原子吸收光谱分析


通过测定吸光度就可以求出待测元素的含量; 这就是原子吸收分光光度分析的定量基础;
§8-3 原子吸收分光光度计
原子光谱仪的结构:
原子吸收光谱仪又称原子吸收分光光度计,由光源(radiation source)、原子化器(atomizer)、单色器(monochromator)和检 测器(detector)等四部分组成。
朗伯定律: I v I 0,v e Kv L
I0,ν:入射光强度 Iν:透过光强度; L:原子蒸气的宽度; K ν:原子蒸气对频率为ν的光的吸收系数

所得曲线为吸收线轮廓(line profile)。
v v 原子吸收线轮廓以原子吸收谱线的中心频率ν 0 和半宽度△ν表征。
原子的能级分布特征决定 除本身具有的自然宽度外,还有多种因素影响
1.3 空心阴极灯中有连续背景发射 主要来自灯内杂质气体或阴极上的氧化物。连续 背景的 发射不仅使灵敏度降低,工作曲线弯曲,而且当试样中共存 元素的吸收线处于连续背景的发射区时有可能产生假吸收。 因 此不能使用有严重连续背景发射的灯。灯的连续背景发射 是由于 灯的制作不良,或长朗不用而引起的。可将灯反接, 并用大电流空点,以纯化灯内气体,经过这样处理后,情况 可能会改善。否则应更换新灯。 2. 与共存元素的光谱线重叠引起的干扰 参见教材P250, 表8-5。可选用待测元素的其它光谱线 作为分析线,或者分离干扰离子来消除干扰。
三、光谱干扰(spectral interference)
1. 光源在单色器的光谱通带内存在与分析线相邻的其 它谱线, 可能有下述两种情况:
1.1. 与分析线相邻的是待测元素的谱线。 这种情况常见于多谱线元素(如Ni、Co、Fe)。 减小狭缝宽度可改善或消除这种影响。 1.2. 与分析线相邻的是非待测元素的谱线。 如果此谱线是该元素的非吸收线,同样会使欲测元素 的灵敏度下降,工作曲线弯曲;如果此谱线是该元素的吸收 线,而试样中又含有此元素 时,将产生“假吸收”,产生正 误差。这种干扰主要是由于空心阴极灯的阴极材料不纯等, 且常见于多元素 灯。若选用具有合适惰性气体,纯度又较高 的单元素灯即可避免干扰。

原子发射光谱分析法

原子发射光谱分析法
原子发射光谱分析法
2023-11-06
目录
• 原子发射光谱分析法概述 • 原子发射光谱仪 • 分析方法与样品处理 • 原子发射光谱法的应用 • 原子发射光谱法的优缺点 • 研究成果与应用实例
01
原子发射光谱分析法概述
定义与原理
定义
原子发射光谱分析法是一种基于原子发射光谱学的方法,通过对样品中原子 或离子的特征光谱进行分析,实现对其成分和含量的测定。
原理
当样品被加热或受到能量激发时,原子会从基态跃迁到激发态,并释放出特 征光谱。通过对这些光谱进行分析,可以确定样品中元素的种类和含量。
发展历程与重要性
发展历程
原子发射光谱分析法自19世纪末发展至今,经历了从经典光谱分析到现代光谱仪 器分析的演进过程。
重要性
原子发射光谱分析法在科学研究和工业生产中具有广泛的应用价值,为材料科学 、环境科学、生命科学等领域提供了重要的分析手段。
03
该方法广泛应用于地质、环保、生物医学等领域,用于研究复杂样品中元素的 含量、分布和化学形态。
05
原子发射光谱法的优缺点
优点
高灵敏度
原子发射光谱法可以检测到低浓度的元素 ,具有很高的灵敏度。
无需样品处理
原子发射光谱法不需要对样品进行复杂的 处理,可以直接进行分析。
快速分析
该方法可以实现多元素同时分析,大大缩 短了分析时间。
发和激发。
光谱仪的构造
包括入射狭缝、准直镜、光栅 、聚焦镜和ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ射狭缝。
光谱仪工作原理
样品被激发后,原子会产生不 同波长的光谱,通过光栅分光 后形成光谱,再经过聚焦镜聚 焦到出射狭缝,最后由检测器
进行检测。
光谱仪的分类与特点

原子发射光谱分析 (2)

原子发射光谱分析 (2)

火焰 电弧 火花
直流电弧 交流电弧
电感耦合等离子体,ICP 激光光源
(1)、直流电弧:接触引燃,二次电子发射放电
L
E 220~380V V
5~30A
G
R
A
直流电作为激发能源,电压150 ~380V,电流5~ 30A;
两支石墨电极,试样放置在一支电极(下电极)的凹槽内;
阴极释放的电子不断撞击阳极,产生高温阳极斑(4000 K);
等离子体是一种电离度大于0.1%的电离气体,由电子、 离子、原子和分子所组成,其中电子数目和离子数目基本相等, 整体呈现中性。
通常产生等离子体的气体为氩气。 最常用的等离子体光源是直流等离子焰(DCP)、电感耦 合高频等离子炬(ICP)、容耦微波等离子炬(CMP)和微波诱 导等离子体(MIP)等。
电感耦合等离子体
ms 光谱的多重性(M):
M=2S+1
内量子数(J):光谱支项 J = L+S、•••、 L-S J = S+L、•••、 S-L
(LS )
(S >L)
(二).原子的能级与能级图
1.光谱项:原子发射光谱是由原子或离子的核外电子在高低级间跃迁 而产生的,原子或离子的能级通常用光谱项符号来表示:
n2S+1LJ or n M LJ
第八章 原子发射光谱分析法
•原子光谱法(Atomic spectroscopy methods)是基于激 发(热能、电能或光能)下的气态原子的外层电子的能级 间跃迁过程中吸收或发射的特征谱线而建立的光学分析法。 •研究与光谱线有关的特征物理量:波长和强度 波长—定性 强度—定量 •原子光谱类型 原子发射光谱:发射(吸收热能、激发以后回到基态时) 原子荧光光谱:发射(吸收光辐射、激发以后回到基态时) 原子吸收光谱:吸收(吸收光辐射、基态到激发态时) •分析对象:元素分析(Elemental analysis)

原子发射光谱分析法

原子发射光谱分析法
(1)样品的组成对分析结果的影响比较显著。因此, 进行定量分析时,常常需要配制一套与试样组成相仿 的标准样品,这就限制了该分析方法的灵敏度、准确 度和分析速度等的提高。
(2)发射光谱法,一般只用于元素分析,而不能用来 确定元素在样品中存在的化合物状态,更不能用来测 定有机化合物的基团;对一些非金属,如惰性气体、 卤素等元素几乎无法分析。
在正常状态下,元素处于基态,元素在受到外界能量(热能或电能)激发时 ,由基态跃迁到激发态,返回到基态时,发射出特征光谱(线状光谱)。
热能、电能
基态元素M
E
激发态M*
2020/10/13
特征辐射
激发电位:原子中某一外层电子由基态激发到高能级所需要 的能量称为激发电位(Excitation potential)(or激发 能)。
1.玻耳兹曼分布定律 原子由某一激发态 i 向基态或较低能级 j 跃迁
,所发射的谱线强度与激发态原子数成正比。
在热力学平衡时,单位体积的基态原子数N0与激发态原子数Ni的之
间的分布遵守玻耳兹曼分布定律:
Ni
gi g0
Ei
N0 e kT
gi 、g0为激发态与基态的统计权重; Ei :为激发能;k为玻耳兹曼常数;T为
Self-absorption and self reversal of spectrum line
2020/10/13
• 定量分析阶段
• 19世纪20年代至50年代,罗马金和赛伯分别提出定 量分析的经验公式,把光谱线强度和物质浓度联系 了起来。
• 罗马金进一步提出了罗马金-赛伯公式的物理意义, 完善了定量分析的基础。使AES成为广泛应用的成 分分析手段。
• 现代阶段
• 开始于20世纪60年代,由于光电谱仪在工业中广泛 应用,Fassel and Greefield 把电感耦合等离子体电 源(ICP)应用于发射光谱的手段,使分析性能有了 显著的提高,成为分析分析中最能用的多元素分析

原子发射光谱分析资料

原子发射光谱分析资料

离子体。
2018/10/22 感耦等离子体原子发射光谱分析 19
2.3 等离子体炬焰
2.3.1 等离子体炬焰的产生 形成稳定的等离子体炬焰必须满足下列三 个条件:高频电磁场、工作气体及能维持气体放 电的石英炬管。下图是典型的等离子体炬焰示意 图。其主体是一个直径为2.53cm的石英炬管, 外面套有由紫铜管(内通冷却水)绕成的高频线圈 (25匝),线圈与高频发生器相连。炬管是由三层 同心石英管构成,有三股气流(通常为氩气)分别 通入这三层石英管中,从外而内分别叫冷却气、 辅助气和载气。样品溶液变成气溶胶后随载气一 起通入炬管。
2018/10/22 感耦等离子体原子发射光谱分析 18
等离子体又有高温等离子体和低温等离子体 之分。当温度达到106108 K时,几乎所有的分 子和原子都完全离解并电离,称之为高温等离子 体;当温度低于105K时,气体只是部分电离,称
之为低温等离子体。本文的ICP放电所产生的等
离子体的温度大约为60008000K,属于低温等
2018/10/22 感耦等离子体原子发射光谱分析 2
第一节 历史回顾
2018/10/22
感耦等离子体原子发射光谱分析
3
1860 年 , 克 希 霍 夫 (G. Kirchoff) 和 本 生 (R. Bunsen) 用钠光灯照射含有食盐的火焰,发现这 些火焰中的钠原子具有原子吸收现象时,首先就 已经知道钠光灯中钠原子具有原子发射现象。他 们还利用原子发射现象首先发现了铯和铷两个新 元素。 其实在更早时候, 1826 年泰尔博 (Talbot) 就说 明某些波长的光线是某些元素的特征。从此以后, 原子发射光谱就为人们所注视。 最早原子发射光谱的光源是火焰,后来出现 了电弧光源和火花光源,但是这些经典光源都有 基体干扰严重、灵敏度不高等缺点,限制了原子 发射光谱的应用。

原子发射光谱的分析基本原理

原子发射光谱的分析基本原理

应用案例和实验结果
元素分析
使用原子发射光谱技术对不同 样品中的元素进行分析,例如 水、土壤和金属合金。
环境监测
质量控制
检测大气中的重金属和污染物, 以实时监测环境质量。
在制药和食品行业中使用原子 发射光谱技术进行产品质量控 制和合规性检查。
选择合适的光源和谱线
1 光源选择
2 谱线选择
3 光谱范围
根据要分析的元素选择 适合的光标元素的能级结 构,选择具有明确且强 度适中的谱线。
确定测量的光谱范围, 以确保目标元素的谱线 能够完全包含在内。
标定和校准
为了获得准确的分析结果,必须进行标定和校准。标定使用已知浓度的标准溶液,而校准使用一系列浓 度不同的标准溶液,以建立浓度和信号强度之间的关系。
光源和谱线选择
2
选择合适的光源和谱线,以使目标元
素能够发射明确的光谱线。
3
数据分析
4
对测量得到的光谱数据进行分析和解 释,以得出样品中元素的含量和分布。
样品制备
准备样品并将其转化为气态、溶液或 固态形式,以便于进一步的处理和测 量。
光谱测量
使用光谱仪器测量样品发射的光谱, 并记录光谱线的波长和强度。
检测大气、水体和土壤中的污染物,以保护环境和人类健康。
食品安全
检测食品中的重金属和其他有害物质,确保食品的安全和质量。
原子发射光谱的基本原理
1 激发和跃迁
通过能量输入将原子激发到高能级,然后跃迁回基态时会发射特定频率的光。
2 能级结构
每个元素都有独特的能级结构,导致它们发射特定的光谱线。
3 谱线特征
原子发射光谱的分析基本 原理
原子发射光谱是一种重要的光谱分析技术,它通过观察物质发射的光谱来获 取元素的信息。了解这个基本原理可以帮助我们在许多领域中应用它,例如 化学、材料科学和环境监测。

原子发射光谱定性分析

原子发射光谱定性分析
lg R b lg c lg A
A为其他三项合并后的常数项,内标法定量的基本关系式。
00:55:54
内标元素与分析线对的选择:
a. 内标元素可以选择基体元素,或另外加入,含量固定; b. 内标元素与待测元素具有相近的蒸发特性; c. 分析线对应匹配,同为原子线或离子线,且激发电位相近( 谱线靠近),“匀称线对”; d. 强度相差不大,无相邻谱线干扰,无自吸或自吸小。
00:55:54
c.标准加入法
无合适内标物时,采用该法。 取若干份体积相同的试液(cX),依次按比例加入不同量的 待测物的标准溶液(cO),浓度依次为:
cX , cX +cO , cX +2cO , cX +3cO , cX +4 cO …… 在相同条件下测定:RX,R1,R2,R3,R4……。 以R对浓度c做图得一直线,图中cX点即待测溶液浓度。
00:55:54
(2) 内标法基本关系式
影响谱线强度因素较多,直接测定谱线绝对强度计算难以
获得准确结果,实际工作多采用内标法(相对强度法)。
在被测元素的光谱中选择一条作为分析线(强度I),再选
择内标物的一条谱线(强度I0),组成分析线对。则:
I a cb
相对强度R:
I0 a0 c0b0
R I a cb Acb I0 a0 c0b0
2. 定性方法
元素光谱图比较法: 最常用的方法,以铁谱作为标准(波长标尺);为什么选铁谱?
00:55:54
标准光谱比较定性法
为什么选铁谱? (1)谱线多:在210~660nm范围内有数千条谱线; (2)谱线间距离分配均匀:容易对比,适用面广; (3)定位准确:已准确测量了铁谱每一条谱线的波长。

原子发射光谱分析

原子发射光谱分析

ICP的分析特点 的分析特点
1. 对大多数元素有高的灵敏度 检测限达 -9-10-11 检测限达10 g·L-1因为温度高(等离子体核处 因为温度高(等离子体核处10000K,中央 ,中央6000- - 8000K);惰性气氛,有利于难熔物质分解。 );惰性气氛 );惰性气氛,有利于难熔物质分解。 2. 测定线性范围宽 因趋肤效应而无自吸现象。 因趋肤效应而无自吸现象 自吸现象。 高频电流密度在导体截面呈不均匀分布, 趋肤效应 高频电流密度在导体截面呈不均匀分布,集 中在导体表层的现象。 中在导体表层的现象。 3. 碱金属电离不造成干扰,因电流密度大。 碱金属电离不造成干扰,因电流密度大。 4. 无电极污染 因是无极放电。 因是无极放电。 5. 耗样量小 载气流速低,试样在中央通道充分激发 载气流速低, 6. 背景干扰小 因工作气体氩气是惰性气体不产生其 它物质。 它物质。
第一共振线 原子由第一激发态跃迁到基态发射的谱线。 原子由第一激发态跃迁到基态发射的谱线。 最易发生,能量最小,一般是最灵敏线,又叫最后线。 最易发生,能量最小,一般是最灵敏线,又叫最后线。 原子获得足够的能量(电离能)产生电离。 原子获得足够的能量(电离能)产生电离。失去一个电 子形成一级离子,再失去一个电子形成二级离子。 子形成一级离子,再失去一个电子形成二级离子。 离子由第一激发态跃迁到基态发射的谱线。 电离线 离子由第一激发态跃迁到基态发射的谱线。与电 离能大小无关,离子的特征共振线。 离能大小无关,离子的特征共振线。 识别元素的特征光谱鉴别元素的存在 定性分析 测定特征谱线的强度测定元素的含量 定量分析
R 镇流电阻 调节 和稳定电流 L 减小电流波动
直流电弧工作原理
电弧点燃后,热电子流高速通过分析间隔冲击阳极, 电弧点燃后,热电子流高速通过分析间隔冲击阳极, 产生高热,试样蒸发并原子化, 产生高热,试样蒸发并原子化,电子与原子碰撞电离出 正离子冲向阴极。电子、原子、离子间的相互碰撞, 正离子冲向阴极。电子、原子、离子间的相互碰撞,使 原子跃迁到激发态,返回基态时发射出该原子的光谱。 原子跃迁到激发态,返回基态时发射出该原子的光谱。 弧焰温度: 多种元素激发 弧焰温度:4000~7000 K,可使 多种元素激发。 ~ ,可使70多种元素激发。 绝对灵敏度高,背景小,适合定性分析。 特 点:绝对灵敏度高,背景小,适合定性分析。

8.2 原子发射光谱定量分析

8.2 原子发射光谱定量分析

加入K+标准溶液体积/mL 0.00 1.00 2.00 4.00
强度 105 216 328 550
求该血清试样中钾的浓度并判断该浓度是否处于正常范围?
标准加入法 I = aC
8.2 AES光谱定量分析
标准加入法 I = aC
以强度对加入标样的浓度作图(右图) 反向延长直线,与X轴交点得到Cx 线性方程 I = 69.55Cx + 105
计算 I = 0 时,Cx = 1.51 g·mL-1
0.20 mL血清试样浓度
1.51*25.0/0.20 = 188.75 (g·mL-1 )
188.75/39.098 = 4.83 (mmol·L-1) 人的正常血清中含钾量为3.5 ~ 8.5 mmol·L-1 该浓度处于正常范围 答:血清试样中钾的浓度为4.83 mmol·L-1,该浓度 处于正常范围。
nm
lgR
标样1 0.08 285 293 0.97 -0.012
标样2 0.13 323 310 1.04 0.018
标样3 0.20 418 389 1.07 0.031
标样4 0.30 429 384 1.12 0.048
lgC
-1.10 -0.89 -0.70 -0.52
未知样 x 392 372 1.05 0.022 -0.79
在被测元素的光谱中选择一条作为分析线(强度I),再选择内标物的一
条谱线(强度I0),组成分析线对
I a cb I0 a0 c0b0
内标法定量的基本关系式
R I a cb Acb I 0 a0 c0b0
lg R b lg c lg A
注02lgC + 0.103 当 lgR = 0.022 时,lgC = -0.79,C = 0.16

原子发射光谱分析基本原理

原子发射光谱分析基本原理

原子发射光谱分析基本原理原子发射光谱分析(Atomic Emission Spectroscopy,简称AES)基本原理是利用原子在受激光、电弧等能量源作用下,从低能级跃迁到高能级,再由高能级返回低能级时发射光线的特性,来研究和分析各元素的组成和含量。

下面将详细介绍AES的基本原理。

1.激发和激光源:激发是令原子从基态跃迁到激发态所受到的能量刺激,常见的激发方式有电弧、火焰和激光。

其中,激光是最常用的激发源,其具有单色性、高亮度和空间一性等优点,可以选择激发特定的原子或分子。

2.激发态原子:原子经过能量激发后,电子由低能级跃迁到高能级。

高能级的原子是不稳定的,会通过退激发(即从高能级发射光子返回低能级)的方式来重新恢复到基态。

这个时间通常很短,大约在纳秒级别。

3.跃迁和能级:原子从一个能级跃迁到另一个能级时,会发射或吸收一定频率的光子。

这些能级间的跃迁是由原子的电子转移引起的,每个原子有特定的能级结构。

不同元素具有不同的能级结构,因此会发射出不同波长的光谱线。

4.光谱仪:光谱仪是用来观测和测量原子发射光谱的仪器。

光谱仪包括光源、衍射装置和检测器。

当原子发射光谱经过衍射装置时,会发生衍射现象,使得不同波长的光线发生偏折,最终通过检测器进行测量和记录。

5.光谱线特性:每个元素在发射光谱中都有特定的光谱线,即特定波长的光线。

这些光谱线的强度和波长与元素的组成和含量有关。

通过测量光谱线的强度,可以计算出样品中元素的相对含量。

总而言之,原子发射光谱分析是利用原子在激发态和基态之间跃迁所发射的特定波长光线,通过测量光谱线的强度和波长,来研究和分析样品中不同元素的组成和含量。

这在材料科学、地球科学和生命科学等领域具有广泛的应用。

《原子发射光谱分析》课件

《原子发射光谱分析》课件

食品安全
原子发射光谱分析可用于食 品中微元素的检测,确保 食品安全和质量。
发展历程和趋势
历史
原子发射光谱分析起源于19世纪,经过多年的发展 和改进,成为现代化的分析技术。
未来
随着技术的进步,原子发射光谱分析将在元素分析 领域发挥更重要的作用,实现更高的灵敏度和准确 性。
总结和结束语
通过本课件的学习,您了解了《原子发射光谱分析》的重要性和原理,以及 其在化学分析、环境监测和食品安全等领域的应用。随着技术的不断发展, 原子发射光谱分析将在未来产生更大的应用前景。
3
样品进样
将样品注入原子发射光谱仪中,加热或
光谱分析
4
电离样品以激发原子。
测量样品发射的特定波长光线,并根据 光谱曲线确定元素含量。
技术应用场景和优势
化学分析
原子发射光谱分析被广泛应 用于化学分析领域,用于分 析金属元素的含量。
环境监测
该技术可用于检测土壤、水 体和大气中的污染物,为环 境保护提供重要数据。
《原子发射光谱分析》 PPT课件
本课件将介绍《原子发射光谱分析》的重要性、原理和实验过程,并展示该 技术的应用场景、优势以及发展历程和趋势,最后进行总结和结束。
什么是原子发射光谱分析?
原子发射光谱分析是一种用于分析物质元素组成的重要技术。通过激发样品 中的原子,测量其发射的特定波长光线,可以确定样品中各种元素的含量。
原理和原理说明
原子发射光谱分析基于原子在能级跃迁时释放特定的光线的原理。通过将样品加热或电离,使其原子激发到高 能级并发射光线,测量光线的波长和强度来分析元素含量。
实验过程和图示
1
样品准备
将待测样品制备成适合分析的形式,如
光谱仪设置

原子发射光谱分析

原子发射光谱分析

原子发射光谱分析原子发射光谱分析的基本原理是基于原子吸收和发射光谱的原理。

当原子被加热到高温或者通过电子束轰击时,原子的外层电子将被激发到高能级。

这些激发态的电子会通过自发辐射返回基态,同时发射特定波长的光子。

因为不同元素的电子构型不同,所以它们在激发和发射过程中产生的光谱也是具有特定标志的。

通过测量元素发射光谱的波长和强度,就可以确定样品中所含元素的种类和浓度。

原子发射光谱分析主要的仪器设备包括光源、光谱仪和探测器。

光源用于激发样品中的原子,常用的激发方式有火焰、电弧和电感耦合等。

光源的选择取决于要分析的元素和样品的特性。

光谱仪用于分离不同波长的光,常见的光谱仪有光栅光谱仪、单色仪和干涉仪等。

探测器用于测量光谱的强度,常用的探测器有光电倍增管、CCD和光二极管等。

通过合理选择仪器设备和优化实验条件,可以获得准确可靠的结果。

原子发射光谱分析在许多领域都有广泛的应用。

在环境监测方面,原子发射光谱分析可以用于检测土壤、水体和大气中的重金属和有害元素,例如铅、汞和镉等。

在食品安全方面,原子发射光谱分析可以用于检测食品中的微量元素,例如铁、锌、镁和钙等。

在药物研发和品质控制方面,原子发射光谱分析可以用于测定药品中的微量元素和重金属残留。

此外,原子发射光谱分析还可以用于矿石的矿物鉴定和地质样品的元素分析等。

总之,原子发射光谱分析是一种重要的化学分析方法,通过测量元素发射光谱的波长和强度,可以确定样品中所含元素的种类和浓度。

它具有分析快速、灵敏度高和选择性好等优点,广泛应用于环境监测、食品安全、药物研发和地质矿产等领域。

随着仪器设备不断发展和完善,原子发射光谱分析的应用前景将会更加广阔。

第八章 原子吸收光谱分析.

第八章 原子吸收光谱分析.

变宽程度
DVD 7.162107 V0
T M
多普勒变宽与吸收原子自身的相对原子质量的平方根成反比, 与火焰的温度平方根成正比,与谱线频率有关。
3、压力变宽
由于原子相互碰撞使能级发生稍微变化引起的变宽,又称
为碰撞(Collisional broadening)变宽。它是由于碰撞使
激发态寿命变短所致。外加压力越大,浓度越大,变宽越显
仪器分析-原子吸收光谱分析
K0Βιβλιοθήκη 2 lnDvD
2

e2 mc
N0
f
将上式带入朗伯比尔定律中得到
2 π ln 2 e2
A 0.4343K 0L 0.4343 D D mc N0 fL kLN0
由于N0 ∝N∝c
( N0基态原子数,N原子总数,c 待测元素浓度)
所以:A=KLN0=K′LN=K′′c
仪器分析-原子吸收光谱分析
原子吸收光谱分析的常规模式
定 量 分 析
3
仪器分析-原子吸收光谱分析
§8-2 原子吸收光谱分析基本原理
一、共振线
E3
1、共振吸收线
E2
使电子由基态跃迁到
第一激发态所产生的
吸收谱线称为共振吸
E1
收线(也简称共振线)
A
B
E0
A 产生吸收光谱
B 产生发射光谱
E0 基态能级 E1、E2、E3、激发态能级
吸收线的宽度受多种因素影响,一类是由原子性质所决定,另 一类是外界因素。
1、自然宽度 Δ N
无外界因素影响时,谱线固有的宽度叫自然宽度。
自然宽度与激发态原子的平均寿命有关。一般约10-5nm。
照射光具有一定的宽度。

原子发射光谱

原子发射光谱

ICP-AES 特点
feature of ICP-AES
(1)温度高,惰性气氛,原子化条件好,有利于难熔化合
物的分解和元素激发,有很高的灵敏度和稳定性;
(2)“趋肤效应”,涡电流在外表面处密度大,使表面温 度高,轴心温度低,中心通道进样对等离子的稳定性影响小 。也有效消除自吸现象,线性范围宽(4~5个数量级); (3) ICP中电子密度大,碱金属电离造成的影响小; (4) Ar气体产生的背景干扰小; (5) 无电极放电,无电极污染; ICP焰炬外型像火焰,但不是化学燃烧火焰,气体放电; 缺点:固体进样困难,对非金属测定的灵敏度低,仪器昂贵 ,操作费用高。
1. 高频发生器 高频发生器的作用是产生高频磁 场以供给等离子体能量。 应用最广泛的是利用石英晶体压 电效应产生高频振荡的他激式高频 发生器,其频率和功率输出稳定性 高。频率多为27-50 MHz,最大输 出功率通常是2-4kW。 感应线圈一般以圆铜管或方铜管 绕成的2-5匝水冷线圈。
2. 炬管与雾化器
R 309.418 309.271 2.1 10
R KN Klb
由于 R实>R,所以可以分开两条谱线。
二、光谱仪


(1)感光板与谱线黑度 感光板主要由玻璃片基和感光层组成, 感光层又称乳剂,它是由感光物质卤化银、 明胶和增感剂等物质组成。元素发射出的光 谱使感光板感光,然后在暗室显影、定影, 感光层中金属银析出,形成黑色的光谱线。
二、光谱仪



色散率:指将不同波长的光分散开的能 力,色散率可分为线色散率和角色散率。 分辨率是指摄谱仪的光学系统能够正确 分辨出相邻两条谱线的能力。 聚光本领指摄谱仪的光学系统传递辐射 的能力。
2、光栅光谱仪的光学特性

原子发射光谱分析

原子发射光谱分析


Ei kT
Ei为激发能; T为激发温度。
发射谱线强度: Iij = Ni Aijhij
h为Plank常数; Aij两个能级间的跃迁几率;
ij发射谱线的频率。
谱线强度:
gi I ij Aij h ij N 0 e g0
影响谱线强度的因素:

Ei kT
(3-8)
中、低不同含量试样
缺点:
1)需要内标样进行对照,且内标样的纯度要高; 2)只能测元素浓度,不能测元素存在形态; 3)对一些非金属,难以检测或灵敏度低。
主要应用:
★ 地、矿、冶金、机械等领域,对于地质普查、找矿,通过大
量试样的分析,提供可靠的资料。
★ 用于钢材、合金等的分类、矿石品位分级等大批量试样的
4) 分析线和内标线没有自吸或自吸很小,且不受其它谱 线的干扰。
5) 摄谱法中组成分析线对的两条谱线的波长应尽量靠近。
(2)内标标准曲线法
lg R=lg Ix I内标 b lg Cx lg A
以lgR 对应lgc 作图,绘制标准曲线,在相同条件下,测定 试样中待测元素的lgR,在标准曲线上求得未知试样lgc;
b lg Cx lg A
内标法定量的基本关系式
内标元素和内标线的选择原则
1) 内标元素与被测元素化合物具有相似的蒸发性质,离 解能、激发电位 (及电离能)相近。 2) 外加内标元素在分析试样品中应不存在或含量极微; 如样品基体元素的含量较稳时,亦可用该基体元素作 内标。 3) 分析线对应匹配,同为原子线或离子线,且激发电位 相近(谱线靠近) ;
无合适内标物时,采用该法。
谢 谢!
三、 光谱定量分析
quantitative spectrometric analysis

原子发射光谱分析-下

原子发射光谱分析-下

由于曝光量与谱线强度成正比,因此 H It 黑度差 S S1 S2 (lg I1t1 lg I 2t2 )
I1t1 I1 lg lg lg R I 2t 2 I2
lg R b1 lg c lg A
S lg R b1 lg c lg A
4. 定量分析方法
a. 内标标准曲线法
由 lgR = blgc +lgA
lgRx
以lgR 对应lgc 作图,绘制标准曲线,在相
同条件下,测定试样中待测元素的 lgR ,在标
lgcx
准曲线上求得未知试样lgc
b. 摄谱法中的标准曲线法 1)谱线黑度
• 感光板受光变黑程度常用黑度 S 表示 —— 主要取决于曝光量 H ,曝光量等 于感光时间t与光的强度I的乘积
H = It
• 受光强度越大,曝光时间越长,则黑 度越大
• 谱线黑度S一般用测微光度计进行测量
2)乳剂特性曲线
谱线的黑度 S与照射在感光板 上的曝光量 H有关,关系复杂, 用乳剂特性曲线描述 乳剂特征曲线可 分为三部分:A B部分为曝光不 足部分,BC部 分正常 曝光部 分 , CD为曝光过量 部分。
未知样品
标准系列
2.谱线出现法
当某元素的浓度逐渐增加时,该元素的谱线 强度增加,且谱线的数目亦增多。找出这些 谱线刚出现时的浓度,制做谱线出现表。
3. 均称线对法
激发电位都很相近的线对称为均称线对。
Pb元素的谱线出现表
原子发射光谱的特点及应用
1. 特点
(1) 可多元素同时检测:各元素同时发射各自的特征光谱; (2)分析速度快:试样不需处理,同时对十几种元素进行定
以黑度为纵坐标,曝光量的对数为横坐标

原子发射光谱分析

原子发射光谱分析

c
原子发射谱线强度与试样中元素浓度的关系 1. 谱线强度及其影响因素 在高温下,处于热力学平衡状态时,单位体积的基 态原子数N0与激发态原子数Ni 之间遵守Boltzmann分布 定律: Ei
Ni = N0 gi/g0 e-Ei/kT
(1)
E0 Ei —激发电位 T —温度K
gi 、g0 —激发态和基态的统计权重 k —Boltzmann常数
原子化 激发 * * 发射原子光谱
c
AES光源分类 1. 光源种类及特点 火焰 经典光源 光源 现代光源 直流电弧 电弧 交流电弧 火花 电感耦合等离子体,ICP
激光光源
c
直流电弧:接触引燃,二次电子发射放电
L 5~30A A G
E
220~380V
V

接触短路引燃(或高频引燃);阴极电子与气体分子和离子相撞产生的离 子再冲击阴极 ,引起二次电子发射 …… 电子再撞击阳极 ,产生高温阳极斑
1.激发源(光源)的作用:
MmNn s 蒸发 MmNn g 解离 Mm Nn M N M N M N (m ) * (n) * 激发 M N 发射离子光谱 Mm Nn2.激发源的影响:检出限、精密度和准确度。
气态激发态原子、离子的 核外层电子,迅速回到低 能态时以光辐射的形式释 放能量。原子发射光谱
h i
E0
c
原子发射光谱法一些常用的术语
1. 激发电位:
低能态电子被激发到高能态时所需要的能量。
2. 共振线、第一共振线 由激发态直接跃迁至基态时辐射的谱线称为 共振线。由第一激发态直接跃迁至基态的谱线称为 第一共振线。
Quartz Window
*100 Million Amplification of Signal

4-光学分析-原子发射光谱(2)

4-光学分析-原子发射光谱(2)

U
Q C
KE C
kE
k Iij t
即,谱线强度直接与测量电压成正比。
2. 相板(又称干板,Plate)
待测物发出的光谱经分光得一系列谱线,这些不同波长
的光在感光板上曝光,经显影、定影后于相板上得到平行排
列的谱线(黑线),这些谱线“变黑”的程度以黑度 S 来表
示:
S lg 1 I0 T Ii
其中,I0,Ii分别为未曝光部分和已曝光部分的光强,T为透过率(%)
我们已知谱线强度 I与浓度成正比,即:
logI = blogc + loga
但用什么来表征 I?
1. 光电检测:
已知光信号产生的电流 i 与谱线强度I成正比,即 i KIij
在曝光时间t内,检测到谱线的累积强度(总能量)为
E
t 0
I ij dt
1 K
t idt Q
0
K
测量电压(电容电压)为
a)试样的性质:如挥发性、电离电位等 b)试样形状:如块状、粉末、溶液 c)含量高低 d)光源特性:蒸发特性、激发特性、放电稳定性(下表)
光 源 蒸发温度 K
直流电弧 800~4000(高)
交流电弧

火花

激发温度 K
4000~7000
4000~7000
~10000
稳定 性
较差 较好 好
热性质
分析对象
I acb I0 a0c0b0
二者之比可简化为:
R
I I0
acb a0cob0
Acb
取对数得: log R blog c A
当以相板为检测器时,该式变为:S = S-S0 = blgc + lgA 当以光电管为检测器时,该式为:lgU =lgU-lgU0=blgc+lgA 即以 S 或 lgU 对 lgc 作图,可制作标准曲线,并求得浓度值。
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统组成。
f
入射狭缝 准直镜
棱镜
物镜
出射狭缝
焦面
f
入射狭缝 准直镜 棱镜 物镜 焦面 出射狭缝
(1)照明系统
采用三透镜照明系统,其作用是使光源发出的光能均匀地照明 入射狭缝S。
(2)准光系统
把经狭缝入射的光由准直镜变成平行光束照射到棱镜上。
(3)色散系统
分光,把具有各种波长的平行光束按波长顺序分散成单色平行 光束。
S log H log H i log H i
γ为响应直线斜率,称为反衬度,一 般γ为0.4~1.8为直线部分 定量分析:采用γ较高的感光板---紫外 型感光板。 定性分析:采用Hi较小即灵敏度较高的感 光板---紫外型感光板。
γ =S/ log H
感光板的反衬 度(对比度)
电极
电极材料:采用光谱纯的石墨 试样槽尺寸:直径约3~4 mm,深3~6 mm;
试样量:10 ~20mg
(2)摄谱过程
摄谱顺序:碳电极(空白)、铁谱、试样; 电流控制:采用分段曝光法(先在小电流(5A)激发光源
摄取易挥发元素光谱,调节光阑,改变曝光位置后,加大电
流(10A),再次曝光摄取难挥发元素光谱) 采用哈特曼光阑, 可多次曝光而不影
2AgX+2hυ→ Ag(形成潜影中心)+X2
OH
O
O
O
+ 2Ag+2HBr
对甲氨基苯酚 (米吐尔)
HO
+2AgBr
NHCH3
NCH3
定影: AgBr +Na2S2O3 → NaAgS2O3 硫代硫酸钠(海波)
Na3Ag(S2O3)2 Na5Ag3(S2O3)4
⑶ 感光板乳剂特性曲线
① .曝光量(H) 与照度(E)的关系
(4)记录系统
把单色平行光束聚焦在焦面上,得到按波长展开的光谱。
对于同一材料,光的折射率为其波长的函数。在可见及紫外光谱
域,可用下式表示(科希(Cauchy)经验公式):
n A
B

2

C

4
A
B

2
①对给定的棱镜(A、B固定),波长越长,折射率愈小。当包
含有不同波长的复合光通过棱镜时,不同波长的光就会因折射
三、分光系统(光谱仪、摄谱仪)
光谱仪的作用: 光源发射的电磁辐射经色散后,得到按波长顺序排列的光谱, 并对不同波长的辐射进行检测与记录。 光谱仪的分类: 按色散元件的不同分为棱镜光谱仪和光栅光谱仪。
1.棱镜光谱仪 棱镜摄谱仪是用棱镜作色散元件,用照相的办法记录谱线的光
谱仪。其光学系统由照明系统、准光系统、色散系统和记录系
标准铁光谱比较法操作:
在摄制试样光谱的同时,在感光板上摄制1~2条铁光谱 在8W-光谱投影仪上将感光板上光谱放大20倍 以铁光谱作为波长标尺,使感光板上的铁光谱与标准铁光谱 上的铁光谱对齐且平行 找出标准铁光谱上所标有各元素的特征谱线在试样光谱中是 否出现 若某元素的2~3条特征谱线出现,该元素就存在 再根据所出现的谱线相对强度级,估计相对含量
响谱线相对位置,
便于对比。
实验条件选择


在定性分析中通常选择灵敏度高的直流电弧;
狭缝宽度5~7m;


分析一般元素时,选用中型摄谱仪;
分析稀土元素时,由于其谱线复杂,要选择色
散率较高的大型摄谱仪。
(3)谱线检查 摄谱后,在暗室中进行显影、定影、冲洗,最后将干燥
好的谱片放在映谱仪上进行谱线检查.
γ
2. 光电法
光电法用光电倍增管来检测谱线的强度。
光电倍增管起光电转换和电流放大作用。 其特点是灵敏度高、线性响应范围宽、响应时间短,因此 广泛应用于光谱分析仪器中。 具有这类装置的光谱仪成为光电直读光谱仪,有下列两种 类型: 真空紫外直读光谱仪:170~340nm 氦气、氮气保护 测定C、S、P etc 非真空直读光谱仪:200~900nm
析线是否存在,并与标准谱图对比确定。可同时进行多元 素测定。
C. 分段曝光法
实际工作中,多采用直流电弧作激发光源。但由于样 品的复杂性(不同元素的激电位不同等),要想获得准确、 完整的定性信息,需采用“分段曝光法”,具体做法:
小电流
中电流
起 弧
大电流
Hartman光栏 (置于狭缝前)
注意:一旦起弧,则不要停弧。在一电流值曝光一段时间
后,迅速将电流快速增至下一电流值。
三、实验步骤
(1)试样处理 ①金属或合金试样本身可以作为电极,当试样量很少时,将试样 粉碎后放在电极的试样槽内;
②固体试样研磨成均匀的粉末后放在电极的试样槽内;
③糊状试样先蒸干,残渣研磨成均匀的粉末后放在电极的试样槽 内。液体试样可采用ICP-AES直接进行分析。
光栅分光得到的光谱
消除光栅谱线重叠的方法有:
(1)利用滤光片吸收干扰波长 例如,只要600nm谱线,则可用红色滤光片滤去其它组分。 (2)利用感光板的灵敏区不同,消除干扰波段 例如,若拍摄Ⅱ级250 350nm波段的谱线,可选用“未增感” 的乳剂干板(感光范围为250 500nm),则干扰250 350nm的 一级光谱(500 700nm)和三级光谱(166 233nm)将不会在 感光板上感光。 (3)利用谱级分离器消除干扰 在光路中附加一个低色散的棱镜(分级器),配合工作, 以使检测器只单独接受某一级的光谱。
•聚光本领(Light-gatheringpower):为提高光谱仪的信噪
比,必须使得到达检测器的光能量足够强,一般要求达到 70%-80%,用聚光本领用来评价单色器收集来源于入口狭缝 辐射的能力。
聚光本领与f(f=F/d)倒数平方成反比,但与狭缝宽度无关。
较短焦、较长直径的准直镜使色散率降低,但可获得更大的 聚光本领。
可以证实试样中含有该元素 否则不含有该元素
适用于少数指定元素的定性分析
B.标准铁光谱图比较法 将样品和Fe(直接以铁棒作电极)摄于同一谱板上。
在映谱仪下放大20倍,并与Fe标准图谱对照,查找待
测元素的特征谱线,若试样中有谱线与标准图谱标明 的某元素谱线出现的波长位置相同,则试样中含有该 元素。 既可单元素分析,也可做全分析
1~10-1
10-1~ 10-2 10-2~ 10-3
10-3~ 10-4 10-4~ 10-5 10-5~ 10-6
二.定性分析的方法 A.标准样品与试样光谱比较法
用标准样品与试样在相同的条件下摄谱 比较标准样品与试样所出现的特征谱线
若试样光谱中出现标准样品所含元素的2~3条特征谱线,就
四. 检测器
1、摄谱法 ⑴ 摄谱步骤
⑵ 感光板 玻璃板为支持体,涂抹感光乳剂(AgBr+明胶+增感剂)
感光: 显影: 对苯二酚
(海德洛)
OH
+2AgBr + Ag + 2MBr
安装感光板在摄谱仪的焦面上 激发试样,产生光谱而感光 显影,定影,制成谱板 特征波长,定性分析 特征波长下的谱线强度,定量分析
这两条谱线是可辨的。
棱镜的分辨率R是指将两条靠得很近的谱线分开的能力 (Rayleigh准则) 。在最小偏向角的条件下,R可表示为:
dn R mb △ d
为两条谱线的平均波长,为刚好能分开的两条谱线间的波长差,分辨 率与棱镜底边的有效长度b(cm)和棱镜材料的色散率dn /d 成正比,式 中m---棱镜个数; 可见,分辨率随波长变化而变化,在短波部分分辨率较大,即棱镜分 光具有“非匀排性”,色谱的光谱为“非匀排光谱”。这是棱镜分光最大 的不足。 例如某光谱仪在3000A0附近R为50000,即表明在此波长附近任何两条谱 线波长差必须大于或等于0.06A0时,才能分辨清楚(3000/50000)
标准铁光谱图(一级)
2300~3500埃/15张,80埃/张 以铁光谱作为波长标尺 标有6Hale Waihona Puke 种元素的480条特征谱线Cr
12.3
5

47.3
Li
5

上标:谱线的强度级(1~10级) 下标:原子线(Ⅰ)与离子线(Ⅱ→ +、 Ⅲ→ 2+、Ⅳ→ 3+ ) 底标:波长十位后尾数,12.3→2712.3埃、47.3→ 2747.3埃
14
光栅的理论分辨率R
分辨率与光谱级数和光栅总刻度数成正比,与波长无关。 实际工作中,要想获得高分辨率,最现实的方法是采用 大块光栅,以增加总刻线数。 目前:254mm光栅,分辨率6×105
例4,对一块宽度为50mm,刻线数为600条/mm的光栅,它的
一级光栅的分辩能力为多少? 解:R=1×50×600=3×104 此时,在6000埃附近的两条谱线的距离为多少? 解:Δλ=λ/R =6000/3000=0.2 埃
§8.4 AES摄谱法的定量分析方法
H Edt Edt
0
t
②. 黑度(S)
S log
T 透过率
1 T
i0 log i
i0 未曝光部分的透光强度
i 曝光部分的透光强度
i i0
③ .黑度(S)与曝光量(H) 的关系
黑度(S)与曝光量(H) 的关系难以用一般的数学公式描述。以黑度为 纵坐标,曝光量的对数为横坐标,得到乳剂特性曲线(乳剂特征曲线 是表示曝光量H的对数与黑度S之间关系的曲线),AB为曝光不足部 分,BC为正常曝光部分,CD为曝光过量部分,DE为负感部分。BC部 分可用下式表示:
元 素 相对灵敏度(%)
C、Se
As、Ge、Ir、Os、Sm、Te、Th、U、W Au、B、Bi、Co、Dy、Er、Eu、Hg、Gd、Ho、La、 Mn、Mo、Nb、 P、Pb、Pr、Pt、Rb、Rn、Ru、S、 Sb、Sn、Si、Ta、Tb、Ti、Tl、V、Zn、Zr Al、Cd、Cr、Cs、F、Fe、Ga、Ge、In、Mg、Ni、 Pb、Sc、Y、Yb Ag、Be、Cu、Ba、Sr、Ca Cs、K、Li、Na、Rb
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