表层结构调查中的TEM地形校正
地形校正流程
地形校正流程地形校正是指通过对地形数据进行处理，使其符合实际地面的形态特征，从而提高地形数据的精度和准确性的过程。
地形校正在地理信息系统（GIS）和遥感领域中起着重要的作用，可以用于地质勘探、土地利用规划、环境保护等多个领域。
一、获取原始数据地形校正的第一步是获取原始数据。
原始数据可以通过多种方式获取，如航空遥感、卫星遥感、激光雷达等。
不同的数据源具有不同的分辨率和精度，选择合适的数据源对于地形校正的效果至关重要。
二、数据预处理在进行地形校正之前，需要对原始数据进行预处理。
预处理的目标是去除噪声、填补缺失值、纠正数据偏差等。
常用的预处理方法包括滤波、插值、去除异常值等。
三、建立地面模型建立地面模型是地形校正的核心步骤。
地面模型可以通过插值方法生成，常用的插值方法有反距离加权法、克里金插值法、三角网格插值法等。
地面模型的目标是反映实际地面的形态特征，包括山脉、河流、湖泊等。
四、校正地形数据在建立地面模型之后，可以开始对地形数据进行校正。
校正的方法有多种，常用的方法包括高程偏差校正、曲面拟合校正、地形特征提取等。
校正的目标是使地形数据与地面模型尽可能吻合，提高数据的精度和准确性。
五、评估校正效果校正之后，需要对校正效果进行评估。
评估的方法有多种，可以通过与实地测量数据对比，计算校正后数据的均方根误差等。
评估的目标是判断校正效果是否满足实际需求，是否达到了预期的精度和准确性。
六、后处理校正之后，还可以进行后处理操作。
后处理的目标是进一步提高地形数据的质量。
后处理方法包括光滑处理、修复断裂线等。
后处理可以使地形数据更加平滑、连续，提高数据的可视化效果和分析效果。
七、应用与展示地形校正完成后，可以将校正后的地形数据应用于各种领域。
比如在地质勘探中，可以利用高精度的地形数据进行地质剖面分析和地质模拟；在土地利用规划中，可以利用准确的地形数据进行土地分类和土地开发评价；在环境保护中，可以利用精细的地形数据进行水资源管理和生态环境评估。
瞬变电磁法的简介、发展概况和发展方向
一、瞬变电磁法简介瞬变电磁测深法(Transient electromagnetic methods)或称作时间域电磁法(Time doman electromagnetic methods)，简写为TEM或TDEM。
它是利用阶跃形波电磁脉冲激发，利用不接地回线向地下发射一次场；在一次场断电后，测量由地下介质产生的感应二次场随时间的变化，来达到寻找各种地质目标的一种地球物理勘探方法。
瞬变电磁法的测量原理是利用不接地回线(或电偶源)向地下发送一次脉冲磁场(或电场)，即在发射回线上供一个电流脉冲方波，方波后沿下降的瞬间，将产生一个向地下传播的一次瞬变磁场，在该磁场的激励下在地质体内产生涡流，其大小取决于该地质体的导电能力，导电能力强则感应涡流强。
在一次场消失后，涡流不能立即消失，它将有一个过渡过程(衰减过程)，该过渡过程又产生一个衰减的二次场向地下传播。
在地表用接收线圈接收二次磁场，该二次磁场的变化，将反映地下介质的电性情况，在接收机中按不同的延迟时间测量二次感应电动势，得到二次场随时间衰减的特性。
瞬变电磁法都是通过一次磁场激发二次涡流场来分析地下的各种地质情况，但时间域电磁法相对于频率域电磁法的最大区别在于瞬变电磁测深法是在一次场断电后测量纯二次场，不存在一次场的干扰。
另外，从傅立叶变换可知，一个阶跃形脉冲实际上是由各种高频和低频谐波叠加而成的，产生的场是一种宽频带电磁波场，因此与频率域电磁法相比，瞬变电磁测深法具有以下优点:(1)断电后观测纯二次场，可以进行近区观测，减少旁侧影响，简化了测量数据资料的处理工作，提高了探测能力和精度;(2)可用加大功率的方法增强二次场信号，提高信噪比，从而增加勘探深度;(3)穿透高阻层能力强;(4)由于采用人工源方法，随机干扰影响小;(5)采用重叠回线装置工作，可以避免地形影响;(6)线圈形状、方位要求相对不严格，测地工作简单，工效高;(7)由于测磁场，受静态位移的影响小;(8)通过多次脉冲激发，场的重复观测叠加和空间域多次覆盖技术的应用，可以提高信噪比和观测精度;(9)可以通过选择不同的时窗窗口进行观测，有效地压制各种噪声，可以获得不同勘探深度的信号，使剖面与测深工作与一体。
第二章 TEM高分辨像分析 ppt课件
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15
表面观察：超导氧化物表面结构像
原子重构
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表面观察： Fe2O3粒子表面晶格像
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表面观察： Fe2O3粒子表面晶格像
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表面观察： EMT型沸石生长表面结构像
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表面观察： LTL型沸石生长表面Pt原子团
ห้องสมุดไป่ตู้
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断裂表面 Si3N4－SiC复合陶瓷内裂纹传播衍衬像
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5
相界观察： Sm－Co系永磁体衍衬像
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6
相界观察： Sm－Co系永磁体晶格像
Sm2Co17
SmCo5
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7
相界观察： Sm－Co系永磁体衍衬像
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8
相界观察： Sm－Co系永磁体晶格像
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相界观察： Al－Si合金粉电子显微像
（111）半共格
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Au－Mn有序合金模拟像
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Au31Mn9有序合金结构像
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Au31Mn9有序合金结构像
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正二十面体准晶晶格像
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高分辨像的傅氏变换花样和像亮点拼接
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正二十面体准晶衍射
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准晶电子衍射花样和晶格像
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准晶电子衍射花样和结构像
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RO6八面体和钙钛矿结构
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表层结构精细调查的高精度静校正数据库构建思路
以 上 我 们 已经 简 单 提 到 了 折射 波 传 播 原 理 ， 据 折 射 波 时 距 曲 线 上 的 斜 率 和 截 根 距 时 间 ， 可 以 得 到 浅 层速 度 和 静 校 正 量 。 就 静 校 正 是 一 项 十 分 复 杂 而 又极 具 挑 战 性 的 课题 。 同地 区 ， 根 据 不 同 的地 震 地 不 要 质情况 ， 学 、 理地选择静 校正方法 。 科 合 但 不管 这 么样 ， 于折 射 静 校 正 ， 于小 折 射 对 基 １ ｆ 一“ ． 或 微 测 井 的 表 层 调 查 是 基 础 工 作 ， 是 做 ５室内静校正 资料处 理 它 【Ｊ ＿ ‘ ｐ～、 ｅ ［。 等 ｘ 。 Ｊ （） １ 好后 续 折 射静 校 正 的 基 础 ５ １方 法原 理 ． 当均 值 为 零 时 ， 静 校 误 差 的 频 响 为 ： 其 以 地 表 高 程 、 测 井 小 折 射资 料 、 外 微 野 Ａ ｎ ：ｅ ２ （ －ｑ （ （ ） ２地 区地 表调查存在 的主要 问题 ２ 生 产 炮 初 至 折 射 波 信 息 为 基 础 ， 研 究 射 从 上 式 说 明 ， 校 误 差 实 际 上 是 一 低 通 静 （ ） 层结 构 复 杂 ， 难 精 确 调 查 其 变 线 路 经 人手 ， 时 间域 、 间 域 中 同时 分 析 １表 很 在 空 滤波器 ， 它对 高频 有很 大 的 抑 制 作 用 。 化。 问题 ， 各 种 方法 的优 越 性 结 合在 一起 ， 将 既 １ ２野外 静校正 （ ｉ ｄ Ｓ ａｉ ） ． Ｆｌ ｔ ｃ ｅ ｔｓ （ ） 形 起 伏 剧 烈 ， 折 射 和 微 测 井 实 利 用 传 统 微 测 井 、 折 射 、 面 高 程 ， 利 ２地 小 小 地 也 地 震资 料要 进 行后 续 处 理 ， 必须 先 进 行 施 困 难 。 用 野 外 生 产 炮 的 初 至 折 射 和 反射 信 息 ， 既 考 虑 地 震 资 料 处 理 剖 面 叠 加 效 果 ， 考 虑 也 区域 产 状 。 采 用 先 粗 校 后 细 校 的 原 则 ， 先 以 微 首 炮点低速带 测 井 或 小 折 射 表 层 速 度 场 为 前 提 条件 ， 利 用 基 本 的 初 至 折 射波 原 理 （ 时 法 ） 立 近 ＴＯ 建 地 表 模 型并 计 算 出 静 校 正量 ； 决 初 始 静 解 较 正 问 题 ； 算 低 降速 带 厚度 公式 如 下 ： 计 其中 ， ： 一物理点的截距时， 某
材料科学中的原位观测技术概述
材料科学中的原位观测技术概述材料科学是一门研究材料的结构、性能和制备方法的学科，在材料科学领域，为了更好地理解材料的行为和性能，以及改进材料的性能和开发新的材料，原位观测技术起到了重要的作用。
原位观测技术是指在材料制备、处理或性能测试过程中，对材料进行实时、连续、动态的观测和分析。
本文将对材料科学中的原位观测技术进行概述。
原位观测技术可以帮助研究人员实时观察和分析材料在不同条件下的结构演变和性能变化。
这些技术提供了一种手段，使得研究人员能够更好地理解材料的行为和性能，并且能够精确地控制和调整材料的结构和性能。
下面将介绍几种在材料科学中常用的原位观测技术。
第一种原位观测技术是透射电子显微镜（TEM）。
TEM是一种高分辨率和高对比度的显微镜，能够通过电子束观察材料的微观结构。
透射电子显微镜技术在原位观测中的应用非常广泛，可以观察材料在不同温度、压力和外界环境条件下的结构演变和相变过程。
通过TEM 技术，研究人员可以实时监测材料的晶格畸变、断裂、位错生成和扩散等微观结构信息。
第二种原位观测技术是原子力显微镜（AFM）。
AFM是一种能够实现纳米尺度下材料表面形貌和力学性能测量的技术。
AFM通过探针的运动和材料表面的互作用，实现对材料表面的高分辨率原位观测。
原子力显微镜技术广泛应用于材料的形貌和力学性能研究，可以实时观测材料表面的变形、磨损和腐蚀等情况。
第三种原位观测技术是散射技术。
散射技术包括X射线散射、中子散射和电子衍射等。
这些技术通过研究材料中散射光子或散射电子的角度和能量分布，来获得材料的微观结构和原子间的相对位置信息。
散射技术在材料科学中的应用非常广泛，可以用于观测材料的晶体结构、晶粒尺寸、相变行为和界面特性等。
第四种原位观测技术是光学显微镜技术。
光学显微镜技术通过可见光再现材料的显微结构，可以对材料的形貌和表面形态进行观测。
在原位观测中，光学显微镜技术可以实时观测材料的腐蚀、湿润性和表面反应等情况。
AMT工作方法与部署
第一节、方法原理频率域大地电磁法是以天然电磁场为场源来研究地球内部电性结构的一种重要的地球物理手段。
天然变化的电磁场或人工发射的电磁场向地下穿透并在地下介质中感生出受地下电性结构控制的大地电磁场，依据不同频率的电磁波在导体中具有不同趋肤深度的原理，在地表测量由高频至低频的地球电磁响应序列，经过相关的数据处理和分析来获得大地由浅至深的电性结构，进而根据不同地质体或地质构造的电性差异达到解决地质问题的目的，主要运用的频率范围为10-4Hz ～104Hz 。
根据利用的场源或频率范围不同电磁法可分为天然场源的大地电磁法MT （Magnetotelluric ）、音频大地电磁法AMT （Audio Magnetotelluric ）以及人工场源的可控源音频大地电磁法CSAMT （Controlled Source Audio Magnetotelluric ）和利用无线电长波电台为场源的 RMT （Radio Magnetotelluric ）等。
音频大地电磁法（AMT ）相较于大地电磁法（MT ），研究频带较高，探测深度较浅稍。
其频率范围主要为1~104~5Hz ；音频大地电磁法理论模型基于电磁波传播理论和麦克斯韦方程组导出的水平电偶极源在地面上的电场及磁场公式：)2cos 3(2231-⋅⋅⋅=θπρr AB I E x （1） E I AB r y =⋅⋅⋅⋅34213ρπθsin （2） E i I AB r z =-⋅⋅⋅⋅()cos 1221201ρπμωρθ （3） H i I AB r x =-+⋅⋅⋅⋅()cos sin 1342310πρμωθθ （4） H i I AB r y =+⋅⋅⋅-()(cos )142323102πρμωθ （5）H i I AB r z =⋅⋅⋅32104ρπμωθsin （6）式中，I 为供电电流强度；AB 为供电偶极长度；r 为场源到接收点之间距离。
第二章 TEM高分辨像分析 ppt课件
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5
相界观察： Sm－Co系永磁体衍衬像
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6
相界观察： Sm－Co系永磁体晶格像
Sm2Co17
SmCo5
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7
相界观察： Sm－Co系永磁体衍衬像
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8
相界观察： Sm－Co系永磁体晶格像
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相界观察： Al－Si合金粉电子显微像
（111）半共格
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15
表面观察：超导氧化物表面结构像
原子重构
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16
表面观察： Fe2O3粒子表面晶格像
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表面观察： Fe2O3粒子表面晶格像
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18
表面观察： EMT型沸石生长表面结构像
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表面观察： LTL型沸石生长表面Pt原子团
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断裂表面 Si3N4－SiC复合陶瓷内裂纹传播衍衬像
第二章 TEM高分辨像分析
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1
晶界观察：Si3N4的晶界
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2
晶界观察： SiC倾斜晶界和缺陷晶格像
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3
晶界观察： Ni3（AlTi）倾斜晶界高分辨
（[100] 旋转轴－100 160）
PPT课件
4
晶界观察： Ni3（AlTi）倾斜晶界高分辨
（[100] 旋转轴－370）
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Si3N4－SiC复合陶瓷内裂纹传播晶格像
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22
Si3N4内晶格变形
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23
Al2O3－ZrO2复合陶瓷内裂纹传播衍衬像
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大地电磁测深的TE和TM极化模式对比研究
摘 要Βιβλιοθήκη 大地电磁测深的 TE 和 TM 极化模式对比研究
作者简介： 万汉平， 男， 1986 年 9 月生， 师从成都理工大学王绪本教授， 2010 年 06 月毕业于成都理工大学固体地球物理专业，获得理学硕士学位。
III
成都理工大学硕士学位论文
always in graben area, and for horst and graben models, TE mode has more sensitive than TM mode which can reflect real model better; And in the fault area, apparent resistivity curve of TE mode gradually shift down to below apparent resistivity curve of TM mode and come into being “trumpet-shaped”. There is local inhomogeneous two and three dimensional bodies with electric property that generate static effects which has great effect on apparent resistivity curve of TM mode, but has little effect on apparent resistivity curve of TE mode. And apparent phase curve of TM mode suffers little or no effect from static effects whereas apparent phase curve of TE mode has obvious static effects with low degree effect. In geologic work, we find static effects has great effect on apparent resistivity curve of TE mode that show actual geologic configuration is three dimensional but not two dimensional. TE mode can reflect shadow low resistance body further better than TM mode. We use actual MT data to demonstrate above our conclusions at last in the paper, and prove that these conclusions can provide good reference for actual data interpretation and direct significance for acquiring real geologic configuration. Keywords: MT TE mode TM mode Forward Inversion
地震数据处理第五章：静校正
（1）基于折射原理的方法：
①斜率、截距时间法，包括单倾斜和多倾斜折射面； ②合成延迟时法，包括ABC方法、FARR显示方法、 相对延迟时法、绝对折射静校正、 合成延迟时法（DRS）； ③时间深度项法或称为互换法，包括GRM、EGRM、
ABCD法、相对折射静校正（RRS）、相遇时间 法等； ④回折波和折射波连续速度模型反演静校正方法； ⑤迭代反演低降速带厚度法静校正（假设v0 已知）； ⑥折射分析射线反演静校正方法；
直接利用野外实测的表层资料，进行的静校正叫野外 静校正，也叫基准面校正。
包括井深校正，地形校正和低速带校正。
2.井深校正
井深校正是将激发点 O 的位置由井底校正到地面 Oj。
j
1 [
V0
(h0
1 hj) V
h)
注：取“负号”是“减负”等于“加正”，因为静校正
是减去静校正量。
说明：息源来自于正常生产的初至信息
正常生产炮的初至信息一般是直达波和 近地表折射波，进入复杂山地以后，初至波 信息变得十分复杂，除上述两种类型波以外， 可能还有透射波、反射波、反射折射波、折 射反射波，以及多次折射波和多次折射反射 波等。
利用初至信息估算静校正量的方法为数 众多，在生产中应用十分广泛，是一类重要 的静校正量估算方法。
的散射和噪声； 4）射线自下而上穿过LVL界面时，不管层下传播
方向如何，都会产生强烈弯曲； 5）自由表面会产生虚反射，与直接下传信号相叠； 6）强阻抗界面，会产生多次波和波形转换。
静校正量 是炮点和检波点空间位置的函数，是沿空间变化
的曲线（面），可分解为低频分量和高频分量。
（8）低频分量即长波长(波长大于排列长度)静校正 量，对叠加效果影响不十分明显，但影响低幅构造 的勘探。
地震勘探原理习题答案
第一章绪论（略）第二章地震波传播基本规律与时距关系第 1 节地震波基本概念与基本规律2.1.1基本概念1.地震子波：Wavelet，是一段具有确定的起始时间、能量有限且有一定延长长度的信号，它是地震记录的基本单元2.波面：介质中每一个同时开始振动的曲面3.射线：几何地震学中，通常认为波及其能量是沿着一条“路径”从波源传到所考虑的一点P，然后又沿着那条“路径”从P点传向其他位置。
这样的假想路径称为通过P点的波线或射线4.振动图：在波传播的某一特定距离上，该处质点位移随时间变化规律的图形5.波剖面：在地震勘探中，通常把沿着测线画出的波形曲线叫做“波剖面”6.视速度和视波长：如果不是沿着波的传播方向而是沿着别的方向来确定波速和波长，得到的结果就不是波速和波长的真实值。
这样的结果叫做简谐波的视速度和视波长7. 全反射：如果V2>V1，则有sinθ2>sinθ1，即θ2>θ1；当θ1增大到一定程度但还没到90°时，θ2已经增大到90°，这时透射波在第二种介质中沿界面“滑行”，出现了“全反射”现象，因为θ1再增大就不能出现透射波了8. 雷克子波：地震子波的一种，由雷克最早提出，其在时间域的表现形式为：f(t)=[1−2(πf p t)2]e−(πf p t)22.1.2基本原理反射定律：反射线位于入射平面内，反射角等于入射角，即α=α′透射定律：透射线也位于入射面内,入射角的正弦与透射角的正弦之比等于第一、第二两种介质中的波速之比，即：sinα/sinβ=V1/V2Snell定律：波的传播路径满足斯奈尔定律（Snell’s Law），其中P称为射线参数。
即：sinαv p1=sinα′1v p1=sinα′2v s1=sinβ1v p2=sinβ2v s2=p惠更斯原理：波前面上的每一点都可以认为是独立的、新的点震源，每一个点都应看成是新的独立的小震源，叫做次波源费马原理：又称时间最小原理，指波在介质中的实际传播路线所需的旅行时间比任何其他理想传播路线所需的“旅行时间”要短2.1.3地震波的分类在地震勘探中，地层弹性介质内传播的弹性被称为地震波。
如何进行高精度地形测绘的数据处理和校正
如何进行高精度地形测绘的数据处理和校正地形测绘是一项重要的工程技术，它为许多领域提供了关键的地理数据。
然而，要获得高精度的地形数据，必须进行数据处理和校正。
本文将介绍一些常见的数据处理和校正方法，以确保测绘结果的准确性和可靠性。
首先，数据处理是地形测绘的第一步。
在现代测绘中，激光雷达（LiDAR）是最常用的技术之一。
激光雷达可以快速获取地形数据，并生成点云。
然而，采集到的原始点云数据可能存在的噪声和不准确性，因此需要进行一系列的数据处理步骤来减小这些误差。
第一步是数据过滤。
通过对原始点云进行滤波处理，可以去除一些无关的点和异常数据。
常用的过滤方法包括高度过滤、颜色过滤和密度过滤。
高度过滤用于去除地面以下或地面以上的点，颜色过滤用于去除小范围内的杂乱点，密度过滤则用于去除密集的点云区域。
第二步是数据配准。
配准是指将不同位置、不同时间或不同传感器获取的数据进行对齐，以便后续的分析和处理。
配准的目标是寻找匹配的点对，通过这些点对来计算和调整数据的位置和姿态。
通常，使用特征提取和匹配算法来寻找匹配的点对，如特征点法、区域法和约束法等。
数据处理的第三步是数据补白和滤波。
激光雷达仅能获取地表实际点的数据，而对于一些地面上的遮挡物或地貌特征，其高程信息在原始数据中可能丢失或不完整。
因此，需要利用其他传感器（如相机）获取相关信息，并将其融合到点云数据中。
此外，对于一些点云中的异常噪声点，还需要进行滤波处理，以提高数据的质量。
在数据处理完成后，接下来是数据校正。
数据校正主要是为了修正由于测量设备、大气、地球引力等因素引起的误差。
常见的校正方法包括大地水准面校正、引力异常校正和大气校正。
大地水准面校正是将测得的地形数据与地球的参考球面或椭球面进行对比，并进行相应的修正。
这可以通过创建数学模型来实现，根据地球的引力场模型进行插值和变换，从而得到更准确的地形数据。
引力异常校正是为了补偿地球引力场的非均匀性对测量结果的影响。
TEM标定方法范文
TEM标定方法范文TEM（Transmission Electron Microscope）是一种能够对物质进行高分辨率成像的仪器，广泛应用于材料科学、生物学、纳米技术等领域。
为了使TEM能够获得高质量的成像结果，需要进行标定以确保仪器的准确性和精确度。
本文将介绍TEM的标定方法。
首先是图像尺寸校准。
图像尺寸校准是为了获得TEM图像中物体的准确尺寸。
常见的图像尺寸校准方法有基于标准样品和器件的校准方法。
基于标准样品的方法是使用具有已知尺寸的标准样品，如晶格电子束衍射器中的晶格样品，通过测量其电子衍射斑点或衍射图的尺寸来校准TEM图像的尺寸。
基于器件的方法是使用具有已知尺寸的器件，如栅格器件或刻线器件，在TEM图像中测量它们的尺寸，然后根据已知尺寸进行标定。
其次是电子束对准。
电子束对准是为了保证电子束在TEM中的准确位置和方向，以获得稳定的成像结果。
电子束对准一般分为两个步骤：横向对准和纵向对准。
横向对准是通过调节TEM中的电子光学元件，如透镜或磁铁，使电子束垂直于样品表面，并与主轴准直，同时最小化透射图像中的偏移和扭曲。
纵向对准是通过改变透射电子显微镜的对焦和位置调节来调整TEM中的仿真点焦平面，以获得最佳成像结果。
第三是分辨率测试。
分辨率是TEM的重要性能评价指标，表示TEM能够分辨两个具有微小间距的物体的能力。
常见的分辨率测试方法包括直接观察分辨格和使用标准样品进行分析。
直接观察分辨格是在TEM中观察分辨格样品的细节，根据其分辨明暗线条的程度和间距来评价分辨率。
使用标准样品分析是使用具有已知晶格常数和平面间隔的标准样品，如金纳米颗粒或石墨晶体，在TEM中通过测量其透射图像中晶格间距来评定分辨率。
最后是能量校准。
能量校准是为了获得电子束的精确能量，以确保TEM成像的准确度。
常用的能量校准方法有能谱线性拟合法和标准样品法。
能谱线性拟合法是通过获取多个能谱图像，然后分析其能谱线性关系，拟合出能量和像素值之间的对应关系，从而获得能量校准曲线。
TEM高分辨相分析方法之晶面间距标定
TEM高分辨相分析方法之晶面间距标定TEM (Transmission Electron Microscope) 高分辨相分析方法中的晶面间距标定是一种用来确定材料晶体中晶面间距离的技术。
TEM 是一种高分辨率的显微镜技术，可以观察到纳米级别的样品结构，并且可以获得关于样品晶格的详细信息。
晶面间距标定是TEM 分析中的一个重要步骤，可以为后续的结构分析和晶体学参数的确定提供准确的数据。
在TEM中，通过电子束穿透样品，并通过样品与探测器之间发生的电子-原子相互作用来获得图像。
在TEM观察中，利用四极线圈系统调焦出获得样品的像。
实际成像过程中，需要准确地计算晶面间距离，以在图像中准确地解释和测量样品的晶体学参数。
晶面间距标定的方法有多种，下面将介绍其中的一种常用方法：借助衍射图案的图像处理方法。
首先，获取样品的衍射图像。
通过TEM，可以获得样品的衍射图案，其中包含了反映样品晶体学参数的信息。
然后，对衍射图像进行图像处理。
首先，需要确定衍射图像中的点，这些点对应于晶体中的晶面间距离。
可以利用图像处理软件，比如ImageJ，进行点的定位和标定。
使用相应的图像处理算法，在衍射图像中找到晶面的衍射点，可以通过人工选择的方式或者自动化的方法完成。
这些衍射点之间的距离与晶面间距离有关。
接下来，测量衍射点之间的距离。
在图像处理软件中，可以使用工具标记出每一个衍射点，并测量它们之间的距离。
通过多次测量，可以获得平均的晶面间距离，并计算出标准差。
最后，利用标定结果来确定晶体学参数。
根据晶面间距离的测量结果，可以计算出样品的晶体学参数，比如晶格常数和晶体的布拉维指数。
这些参数对于了解和研究材料的晶体结构和性质非常重要。
除了衍射图像的图像处理方法，还有其他的晶面间距标定方法，比如借助额外的衍射网格标准样品进行标定、借助已知晶体结构的标准样品进行标定等。
不同的方法适用于不同的情况和样品类型。
综上所述，TEM高分辨相分析方法中的晶面间距标定是一种重要的技术，可以提供准确的晶体学参数来研究和了解材料的晶体结构和性质。
TEM高分辨相分析方法之晶面间距标定
TEM高分辨相分析方法之晶面间距标定晶面间距标定是TEM高分辨相分析方法中的重要步骤，用于确定晶格常数和晶面间距的具体数值。
下面将介绍一种常用的晶面间距标定方法。
在TEM高分辨相分析中，常用的晶面间距标定方法是通过衍射模式的拍摄和分析来实现的。
具体步骤如下：1.准备样品：选择具有清晰晶格的材料，如金属、合金或晶体。
可以使用机械方法制备薄片样品，以便透射电子通过样品。
如果样品是非晶态材料或无法制备薄片样品，也可以使用散射电子模式进行晶面间距标定。
2.设置TEM参数：将TEM电子束调节到合适的加速电压和透射模式下。
通常使用200kV以下的加速电压，以避免较大的散射效应。
3.导入样品：将样品加载到透射电子显微镜中，并调节适当的聚焦和阑射参数，以获得清晰的衍射模式。
4.拍摄衍射模式：选择合适的衍射模式（选区衍射或微区衍射），并使用CCD相机或其他衍射模式检测器拍摄衍射图像。
确保图像质量清晰，并记录图像的相关参数，如放大倍数和照片缩放比例。
5. 衍射模式分析：使用图像处理软件对衍射模式进行分析。
首先，确定衍射斑点的位置和强度。
然后，使用标定晶格常数已知的标准晶体（如铜或硅）来确定衍射斑点的实际间距。
可以使用公式d = λ /2sinθ来计算晶面间距，其中d是晶面间距，λ是电子波长，θ是倾斜角度。
6.标定晶面间距：使用已知晶体的晶格常数标定TEM系统的晶面间距。
可以通过多次测量不同晶面间距的标准晶体来验证和精确标定。
7.利用晶面间距标定进行样品分析：将已经标定的晶面间距应用于待测样品的衍射模式分析中。
通过比较待测样品的晶格常数和已知标准晶体的晶格常数，可以得到样品的晶格参数和晶面间距。
需要注意的是，TEM高分辨相分析中的晶面间距标定方法还受到SAM （Sample Alignment Modes）和样品的精细调节等因素的影响，因此在进行晶面间距标定时需要谨慎操作，并使用多个标准晶体进行校准和验证。
总之，TEM高分辨相分析方法中的晶面间距标定是一项关键的技术步骤，可用于确定晶格常数和晶面间距的具体数值。
如何进行高程改正与精度评定
如何进行高程改正与精度评定高程改正与精度评定是地理测量领域中非常重要的环节，它们直接关系到地理信息系统的精确度和可靠性。
本文将从理论和实践两个方面探讨如何进行高程改正与精度评定。
一、高程改正高程改正是指将测得的高程值，通过考虑地球引力场、大气影响、地表变形等因素进行修正，得到真实可靠的高程数据。
高程改正的目的是消除各种误差，提高高程数据的精度。
以下是几种常见的高程改正方法：1. 大地水准面改正：地球的引力场不完全规则，导致不同地方的水平面相差较大。
利用大地水准面改正方法，可以将不同地区的高程值进行统一，消除引力差异带来的误差。
2. 大气改正：高程测量往往受到大气压力、温度、湿度等气象条件的影响。
通过大气改正，可以消除大气压强和温度变化对高程测量的影响，提高测量精度。
3. 地表变形改正：地球表面可能因为地壳运动、海平面变化等原因而产生变形，影响高程测量的准确性。
通过地表变形改正，可以补偿这些变形带来的误差，得到更准确的高程数据。
二、精度评定精度评定是指对测量结果进行客观、全面的评估和验证，以确定测量的准确性和可靠性。
以下是几种常见的精度评定方法：1. 重复测量法：通过多次独立测量同一点，计算各次测量结果之间的差异，以评估测量的稳定性和重复性。
2. 网络闭合差法：在已知高程点组成的控制网中，通过比较连续控制点之间的高程差异，计算网络闭合差，从而评估测量的精度。
3. 残差分析法：在进行高程测量时，通过比较实测值和理论值之间的差异，计算残差，分析残差的分布和规律，评估测量的准确性。
4. 精度指标法：根据不同的应用需求，制定与测量相关的精度指标，通过比较实际测量结果和指定精度指标的差异，评定测量结果的准确性。
高程改正与精度评定在实际测量工作中密不可分，二者相辅相成。
高程改正提供了修正高程数据的方法，而精度评定则评估了测量结果的准确性。
只有进行了适当的高程改正和精度评定，才能确保测量结果的可靠性和准确性。
在进行高程改正和精度评定时，需要注意以下几点：1. 充分了解测量系统的工作原理和测量原理，熟悉各种影响因素及其改正方法。
测绘中的坐标系统扭曲纠正方法
测绘中的坐标系统扭曲纠正方法引言：地理信息系统（Geographic Information System, 简称GIS）是一种用于收集、存储、处理、分析和展示地理数据的工具。
而测绘作为GIS的重要组成部分之一，主要负责地理实体的测量和制图，为GIS提供准确的地理底图。
在测绘过程中，坐标系统起到了非常重要的作用，它将地球的三维曲面投影到一个平面坐标系统上，以实现地理数据的精确测量和位置分析。
然而，由于地球的真实形状和投影方式的差异，坐标系统会产生一定程度的扭曲，因此我们需要采取一些扭曲纠正方法来提高测绘数据的准确性。
一、椭球面坐标系统的选择在测绘中，常用的坐标系统有WGS84（World Geodetic System 1984）和CGCS2000（Chinese Geodetic Coordinate System 2000）等。
这些坐标系统都是基于椭球模型来建立的，通过定义椭球的参数，如长半轴、扁率等，来描述地球的形状。
选择合适的椭球面坐标系统对于纠正坐标系统的扭曲至关重要，需要根据具体的测绘任务和地理区域进行选择。
二、大地坐标系统的转换在实际的测绘工作中，由于地理区域的不同，我们常常需要将不同的坐标系统进行转换。
大地坐标系统是一种基于经纬度表示地球表面上的点的坐标系统，通过经度和纬度可以唯一确定地球表面上的任意一个点。
而在矩形平面坐标系统中，点的位置是通过X轴和Y轴的坐标值来确定的。
因此，我们需要进行大地与平面坐标系统之间的转换，以确保测绘数据的一致性和准确性。
三、坐标系统的投影变换当地理数据需要在平面上进行展示或分析时，我们常常需要进行坐标系统的投影变换，将地理坐标转换为投影坐标。
投影变换是将地球表面上的点投影到一个平面上的过程，通过定义某种投影方法和参数，可以将地球的曲面映射为一个平面。
在投影变换过程中，会出现一定的扭曲现象，如形状、面积和角度的变化。
因此，在选择坐标系统的投影方法时，我们需要根据地理数据的特点和使用需求，权衡不同的投影方法之间的扭曲误差，选择最合适的投影方式。
高密度电法勘探中地形影响校正方法探讨
高密度电法勘探中地形影响校正方法探讨熊勇【摘要】The true anomaly of underground object is concealed in the observation results of high-density electrical prospec-ting due to the topographic false anomaly. In order to make the exploration results closer to the actual geological conditions, the correction for topographic influence should be carried out. At present, the influence of topographic relief is ignored in the common methods, thus the actual positions on the sounding point needed to be corrected. The orthogonal projection method is applied in practical high-density electrical prospecting to conduct the topographic correction, which means correcting the position and elec-trical resistivity value of every sounding point by the calculation of trigonometric orthogonal projection. The orthogonal projection method has a good result in the actual projects by remedying some deficiencies of previous topographic correction method. To a-chieve better inversion results, diversified factors of topographic effects and a comprehensive topographic correction method should be considered and applied.%高密度电法勘探中常因地形起伏使观测结果产生畸变，虚假异常掩盖了地下目标体的真实异常，为使勘探成果更接近实际地质情况，必须进行地形影响校正。
瞬变电磁法在采空区探测中的应用
瞬变电磁法在采空区探测中的应用米庆文【摘要】介绍了瞬变电磁法(TEM)的工作原理、现场工作方法、数据处理方法、探测结果的解译分析情况,并使用瞬变电磁法对枣庄市某铁路采空区进行探测.结果表明:瞬变电磁法探测采空区行之有效,具有探测深度大、受地形条件影响小、横向分辨率高、探测时间短的特点,且能节省勘探费用;瞬变电磁法的野外测量方法、数据处理与解释方法应根据地质条件有所选择;装置类型、线框大小、取样延时(发射基频)、叠加次数的选择,测点的布置等应综合考虑探测区地层物性、电性指标,采空区的埋深,场地电磁噪声等因素.【期刊名称】《铁道建筑》【年(卷),期】2016(000)006【总页数】5页(P121-124,145)【关键词】瞬变电磁法;采空区;勘探验证;探测效果【作者】米庆文【作者单位】甘肃综合铁道工程承包有限公司,甘肃兰州730000【正文语种】中文【中图分类】P631.3+25采空区是人为开采地下矿体而形成的空洞；采空区一般分为小型采空区和大面积采空区。
大面积采空区一般技术先进、开采有序，采空区分布、埋深及顶板管理情况均有据可查；而小型采空区由于技术落后、管理混乱、大多为非法无序的私挖滥采，其分布范围、埋深及顶板稳定情况均很难查清，给勘察工作带来了极大的困难。
目前采空区的勘察思路主要为前期走访调查、收集资料，在此基础上进行物探，在物探成果指导下进行勘探验证。
当前常用的探测采空区的物探方法有直流电法、电磁波法、弹性波法等。
随着物探技术的不断发展，物探在采空区勘察中起着越来越重要的作用。
本文结合枣庄市某铁路地质情况，采用瞬变电磁法对下伏小煤窑采空区进行了探测，通过钻探、施工后检测，证实该方法的效果。
瞬变电磁法（TEM）亦称时间域电磁感应法。
是利用不接地回线或接地电极向地下发送脉冲式一次电磁场，在一次电磁场间歇期间利用另一回线或接地电极接收由地下介质产生的感应电场，即二次电磁场随时间的变化。
该二次电磁场是由地下不同导电介质受激励引起的涡流产生的非稳定磁场，它与地下地质体有关。
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图 １ 单斜地形条件下 Ｆ 观测 数据 的几何校正原理 Ｍ
１ ２ 反演 深度 的地 形校 正 ．
如图 １ 所示 ， 测点 反演 时得 到 的电 阻率深 度 在
是 Ｄ 实 际 地 形 条件 下 的深 度 是 Ｄ 它 们 之 间 的 ， ，
带 底面 ； 由长 江大学 和加 拿大 凤凰 地球 物理 公 司联
式 中 ： 为 磁 感 应 强 度 ；。为 发 射 电 流 ； 为 地 下 Ｂ ｊ ｐ 介 质 的电阻 率 ； “ 为误 差 函 数 ； （ ） ０为地 形 斜 坡 倾
角； Ｕ为归一 距离 。
合 开发的 Ｆ 方 法 （ ｌＥ 和 Ｆｓ Ｅ 相结 合 的 Ｍ ＭｕＴ Ｍ ａＴ Ｍ 瞬变 电磁｛ 深 方 法 ） 限频 率 高 达 ２ Ｈｚ下 限 频 贝 ４ 上 ８ｋ 、 率 为 ｌ ， ０Ｈｚ采样率 达 ０ ３ ｓ能 以较高分 辨率描述 ．１ ，
丁 ≈ （） ５
采用 苏朱刘 等 提 出 的 反 演 方 法进 行 。具 体 ｊ
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第 ３ 卷第 ５ Ｏ 期
２０ 年 １ ０７ Ｏ月
勘 探 地 球 物 理 进 展
Ｐ ｏ ｒ ｓ ｎ Ｅｘ ｌ ｒ ｔ ｎ Ｇｅ ｐ ｙ ｉｓ ｒ ｇ ｅ ｓ ｉ ｐ ｏ ａ ｉ ｏ ｈ ｓｃ ｏ
Ｖｏ． Ｏ Ｎｏ ５ １３ ， ．
其相 互关 系 为
在山前复杂地区， 低降速带变化剧烈 ， 采用常规方法 进行 调查 ， 一方 面价格 昂贵 ， 一方面 效果 欠佳 。如 另 何既经济又有 效 地进 行低 降 速带 结构 调 查 ， 为 提 成
高 山前 复 杂地 区地震 静校 正效 果 的重要研 究课 题 。 地震 勘探 中 的低 降 速带 一般 埋 深 在０ ０ Ｉ ￣３０Ｉ。 Ｔ
低降速带调查是地震勘探的一项重要 内容 ， 常
规 实现 手段 主 要有 小 折 射 、 折 射 以及 微 测井 等。 大
地 形斜 面 重合 ，４ 线 圈平面 为水 平面 。设 斜面 倾 ｉ量 贝
角为 ， 实际观测的磁场为线圈激发的总场 Ｂ的分
量 Ｂ 。假 设单 斜 面无穷 延 伸 ， 则观 测 分量 、 总场 及
０ｃ ．． ０ ７ ｔ ２ ０
文章编号 ：６ １ ５ ５ ２ ０ ） ５ ３６— ３ １ ７ —８ ８ （０ ７０ —０ ９ ０
表 层 结构 调 查 中的 Ｔ Ｍ 地 形 校 正 Ｅ严 良俊来自， 正 茂 ， 兴 兵 王 谢
（ 江大 学 ， 长 湖北荆 州 ４ ４ ２ ） ３ ０ ３
摘要： 通过对实际复杂地形条件下 中心 回线瞬变 电磁测 深观测场 量的几何 分析 ， 提出 了在简单斜 坡地 形条件 下
１ 方法 原 理
１ １ 观测场 量 的地形 校正 ．
第一作者简介： 俊（ ６ ， 长江大学地球物理学院教授， 严良 １ ４ 男， ９ 一）
如 图 ｌ所示 ， 地 形 限 制 ， 受 观测 时 发 射线 框 与
博士， 现主要从事电 磁勘探方法 理论研 教学工作。 究与
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关 系为
Ｄ ２一 Ｄ１ｃ ｓ ／ ｏＯ （） ３
度都 进行 地形 几何校 正 的技术 方法 。
资 料处理 时 ， 观测 的垂 直 磁 场 经 式 （ ） 正 将 ２校 后 由式 （） 算 全区视 电 阻率 。 １计
收 稿 日期 ：０ ７ ８—０ ； 回 日期 ：０ ７ ９—１ 。 ２ ０ —０ ８改 ２ ０ —０ ８
－ ［ 一 （ ］ 一 “＋ ） Ｕ ２
（） １
经研究发现 ， 地层 的地震波传播 速度与岩石 的电
性 、 质层 位相 互关 联 ， 给运 用 电磁 法 解 决 表 层 地 这
ＯＢ
ａ ｆ
＝
ａ ｓ ０ ｆ／ ｉ ｎ
（ － ２ ）
低 降速带 结构 问 题 提供 了地 球 物 理 前 提 。对 于 该 问题 ， ＭＴ，ＭＡＰ和 Ｃ ＡＭＴ 的上 限频 率太 低 ， Ｅ Ｓ 解 决 不 了表层 问题 ； 质 雷 达 又太 浅 ， 不 到低 降 速 地 达
第 ５ 期
严 良俊 等 ．表 层 结 构 调 查 中的 ＴＥ 地 形 校 正 Ｍ
３７ ９
１ ３ 反演 方法 ．
区 内 主 要 出 露 地 层 岩 性 为 中 、 泥 盆 统 浅 变 上 质 的海 相 碳 酸 盐 岩 次为 ： ① 上 泥盆统 九 里 坪组 （ ｊ ， 性 为 长 石 石 英 ）岩 砂岩 、 砂质 千枚 岩 、 砂质 微 晶灰 岩 ； 粉 粉
瞬变电磁资料的几何 校正法 。该方法对观测场量和反演深 度 ２个参数 进行 了几何 校正 。通过 实际 资料 的处理 以及与地表地质结构的对 比说 明， 该方 法效果 良好 ， 可推广应用 到较 为复杂的地形条件下 。
关 键 词 ： 变 电磁 测 深 ； 形 校 正 ； 电 阻 率 瞬 地 视 中图分类号 ：６１４ Ｐ ３ ． 文献标识码 ： Ａ
５ ５ ０Ｉ 深 度 范 围 内 的 电性 结 构 ， ￣ ０ Ｉ Ｔ 是进 行 表 层 结
构调 查较 为有效 的方 法 【 。严 良俊 等＿ ］苏朱 刘 １ ］ ３ 、 “ 等 运用该方 法 已在西 部复 杂 山地 和 沙漠 地 区成 功地进行 表层结 构 调查 ， 为地 震静 校 正处 理 提供 了 有应用价 值 的速度模 型 ， 取得 了一定 的地质效果 。 然而， 由于 山前地 形 很 复 杂 ， 用 Ｆ 方 法 很 使 Ｍ 难 做到 规范 观测 。为 了提高解 释精度 ， 进行 各种 地 形 校正 是必 需 的 。Ｓｅｎ ｅｇ等 ＿ 提 出 的 ＴＥ 地 ｔｒｂｒ ７ Ｍ 形 几何 校正 法应 用 效 果 较 好 。我 们 依 据 Ｆ 实 际 Ｍ 观测情 况 （ 射线 框 依 地 形 放 置 ， 收 线 圈 水平 放 发 接