基于CCD图像检测的微间隙精密测量系统
基于视觉技术的微小尺寸的精密测量
基于视觉技术的微⼩尺⼨的精密测量基于视觉技术的微⼩尺⼨的精密测量毕超,吕来鹏,房建国,张洋,杨希(北京航空精密机械研究所精密制造技术航空科技重点实验室,北京 100076)摘要:针对航空航天领域中的微⼩零件尺⼨的精密快速测量问题,本⽂应⽤⼯业相机和缩放镜头等搭建了基于⽐较法的视觉测量系统。
为了提⾼后续图像处理的精度,应⽤数学形态学滤波来滤除图像中的随机噪声,同时保持清晰的细节特征。
在标定像素尺⼨当量的过程中,应⽤⾼精度的同⼼圆标定板作为标定靶标,标定结果为0.0134mm/pixel。
为了验证标定结果并确定系统的不确定度,应⽤精密玻璃线纹尺作为被测物体,得到系统的测量不确定度为0.003mm。
最后,应⽤本⽂所搭建的系统测量⼀个微⼩孔径,表明该系统能够满⾜使⽤要求。
关键词:视觉测量;微⼩尺⼨;最⼩⼆乘拟合引⾔近年来,随着视觉技术不断应⽤到⼯业现场中,产品测量与检测的精度、效率和⾃动化⽔平不断提⾼,充分说明了视觉技术的巨⼤潜⼒和应⽤前景。
基于计算机视觉的测量⽅法具有⾮接触、效率⾼、成本低、操作灵活等优点,⾮常适合于对易变形零件、微⼩尺⼨零件等的测量。
在航空、航天等⾼新技术领域中,经常需要精确测量⼀些尺⼨微⼩的零件,由于对测量速度和精度的要求⽐较⾼,常规的测量器具和⼿段如游标卡尺、螺旋测微器以及三坐标测量机等很难满⾜测量要求。
在这种情况下,基于图像的视觉测量技术越来越成为微⼩尺⼨测量领域的研究热点。
在视觉测量中,需要应⽤CCD等成像设备对被测零件成像,然后通过图像降噪、相机标定、特征提取等⼀系列步骤解算出待测物体的⼏何尺⼨。
随着成像技术与图像处理理论的发展和进步,视觉技术得到了越来越⼴泛的应⽤。
陈向伟等应⽤CCD和光学显微镜等搭建了微⼩零件⼏何尺⼨测量系统,可以测量微⼩齿轮的中⼼孔直径[1-2];王磊等搭建了基于机器视觉的微型铣⼑外径测量系统,系统的不确定度为4um[3];王晓翠等应⽤以CCD作为图像传感器的测量系统,实现了对薄板零件的⼩孔和中⼼距的测量,测量误差为0.0149mm[4]。
基于线阵CCD的微位移测量系统设计
156
列上, CCD 把入射光强转换成电信号, 产生的输出信号
就 反 映 了 光 斑 的 位 置 , 分 别 得 到 光 斑 移 动 前 后 在 CCD
上 对 应 的 位 置 , 就 得 到 了 光 斑 移 动 距 离 。 对 线 阵 CCD
1 原理
为了达到微小位移检测的目的, 我们采用多次反射 光学放大法进行测量。 所谓多次反射光学放大法是指利 用光束的多次反射将微小位移放大后进行测量。 多次反 射测量法的基本原理如图 1 所示。 测量装置由一对平面 反光镜 B1 和 B2,作为光源的波长为 630nm 的半导体激光 器和线阵 CCD(charge coupled device)构成。 B1 和 B2 的初
图 1 多次反射法测量原理 Fig.1 Measurement theorem based on multiple reflections
图 1 中 , 荭L—移 动 距 离 ; h—光 线 出 射 点 到 CCD 的距离; D—接触点到固定端的距离, 光线在两镜之间 的反射次数为 n 时, 光斑的移动距离荭S 与被测移动量 荭L 的 关 系 为 [4] : 荭 S=2nh荭 L/D; 装 置 的 放 大 系 数 K 为: K=荭S/荭L=2nh/D。
第 22 卷第 6 期 ·测20试09与年控1制1 ·月
机电产品开发与创新
Development & Innovation of Machinery & Electrical Products
文章编号: 1002-6673 (2009) 06-156-03
基于线阵 CCD 的微位移测量系统设计
Vol.22,No.6 Nov.,2009
基于CCD图像检测的微间隙精密测量系统
O 前
言
的精 度要求 , 时测 量 条 件 非 常 特殊 ( 无 法 安 装 传 同 或 感器 , 或不允 许接 触式 测 量 等 ) 这 就 给 间隙 的测 量 带 , 来 了很大 障碍 。随着 图像 处 理技 术 的 进 步 , 图像 测 量 技术 为间 隙测量 提供 了一条 可行 之路 。 本 系统 应某 高 精 度 螺 纹 件 自动 装 配 生 产 线装 配
Ke r y wo ds:i g e s e n ;ce r n e;m e in n ie fl rng;e e e ta to ma e m a ur me t la a c da os it i e dg x rc in;S b r de to e ao o elg a in p r tr
M e s e e ftny sz l a a c s d o CD m a e m e s e e t a ur m nto i ・ ie ce r n e ba e n C i g a ur m n HI ANG i g m ig M n — n ,S HEN o g y o H n —a
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第2 4卷 第 8期
20 年 8月 07
机
电
工
程
VO _ 4 NO 8 l2 .
Au g.2 07 0
MECHANI CAL & ELECTRI CAL ENGI NEERI NG AGAZI M NE
基于 C D图像检测的微问隙精 密测量 系统 C
a p t e c a i n t ema d o o c nt c nd h g r c s o i e t i c p f c n i i n . da to h r o c s o s wih d n f n n— o u t a i h p e i i n n c ra n s o e o o d to s
a于CCD激光干涉微位移测量系统准确度分析
所 ,-./- 激光器的频率稳定度可达 # ) "( ( "# 以上, 以, 可以达到 "! + 的 位 移 测 量 误 差 从 理 论 上 讲, 因此, 本系统可以获得极高的测量准确度。 ( $ (" 0+, 另外为了防止被测物体和参考光路返回激光器 干扰激光器的输出, 反过来又使激光信号不稳定, 所 以在激光器前面加了一个光学隔离器, 此隔离器由 两者光轴夹角 $12, 激光经 起偏器和 " ! $ 波片组成, 返回再次经过时成为与 " ! $ 波片后输出圆偏振光, 初始激光偏振方向下次的线偏振光, 不能透过起偏 器进入激光, 因而排除了它的干扰。 (!) 是空气扰动、 外界振动引起条纹移动, 从而 对测量产生较大影响。 利用自己设计的紧凑的干涉 系统, 将系统放在减震台上, 能很好地解决这一问题。 系统采用波长! # ( $ )!# **! + 的 ,-./- 激光器 作为光 源,像 元 尺 寸 为 3 $ ( ! + 光谱响应范围在 (属可见光及近红外光范围) 具有 ( $ $ " " $ #! + 之间 同时, #($% 个像元的线阵 &&’ 作为条纹识别元件, 选用帧存方式实现线阵 &&’ 视频信号的高速动态 数据采集器, 配以相应的驱动、 计数及接口电路。 系统 理论分辨力约为 ( $ ((! #! 经实验测定, 实测准确度 +, 表 " 是一组对某微位移的实测数据。 +, * ( $ (((#!
第3期
赵育良等: 基于 &&’ 激光干涉微位移测量系统准确度分析
!3
由此, 后续的逻辑电路就可以根据脉冲 " 后面的 !, 相位是 # 还是 $, 便可判断是正向脉冲还是反向脉 冲, 并分别送入是加脉冲的 “门”或减脉冲的 “门” , 这样便可实现判向的目的消除误计数, 也可以达到 抗干扰, 提高测量的稳定性的准确度。 同时, 经判向 后, 将一个周期的干涉信号变成四个脉冲输出信号, 使一个计数脉冲代表 " ! $ 干涉条纹的变化, 从而表 实现了干涉条纹的四倍 示被测物体移动量为 ! ! %, 频计数。 ! 系统准确度分析 影响激光干涉微位移测量系统准确度的因素主 要有三点: (") 干涉条纹的拾取。 本系统采用线阵 &&’ 为 条纹自动拾取工具, 提高了系统的测量准确度并基 本消除了人为的计数误差, 传统的测量系统大都以 人眼通过示波器读取, 这样一对明暗条纹相对应被 测物体移动! ! # 的位移
用CCD实现精密的长度测量
一、概 述 目前, 国内外生产的电荷耦合器件 CCD 芯 片, 为了防止相邻象元在转移脉冲驱动下引起 串扰, CCD 芯片象元间距一般为 14 m , 最小也 不小于 7 m。这对 于低、中 精度的 检测、扫 描 来说也许足够了, 但对于高精度的长度测量是 远远不够的。这也是 CCD 不能在长度测量中 ( 特别是高精度长度测量中) 得到广泛应用的主 要原因。 一般将 CCD 应用于长度测量中的精度取 决于 CCD 的象元间距 d 与光学放大倍数 f 的 关系 d / f 。由于 CCD 的测量范围较小, 若要采 用光学放大来提高分辨率, 势必造成测量范围 的减小( 1/ f ) 。由此可 以看出, 若要使分辨 率 达到 1 4 m, 则测量的范围将减小 10 倍。对于 1024 线 阵 CCD 来说, l = 1024 ! 14 m = 14. 336mm , 放大 10 倍后, 其测量范围为 l∀ = 1024 ! 1 4 m = 1 4336mm, 显然这对于大多数测量 来说, 其测量范围是不够的。为解决此矛盾, 本 文提出了不经过光学放大就能将 CCD 的分辨 率由象元间距 14 m 提高到 1 m 甚至更 高的 一种方法。文中还介绍了实现细分的电路, 以 及 CCD 细分的数据采集方法。 二、CCD 象元空间细分的可行性分析 线阵 CCD 的 象 元面 积为 14 m ! 14 m,
用线阵CCD实现精密位置测量
些数 字信 号 ( 如相关 双取 样处 理需 要 的复位 和取样 信 号 、 计 数 电路 的门宽 信号 等) , 以提 高系统 的集
成度 及信 号处 理 的关 联 性 ; 利 用 多阶低 通滤 波器 降低 信 号 中噪 声 的影 响 , 提 高 微分 线 路 的性 能 ; 采
H H …路 H 高 黼 度 H H
大规模 可编程 电 路 i s p L S I 1 0 3 2 — 7 0 L J ( 含专用计数器 )
时钟
l OM }
( b ) 信 号处理基 本原理
图 1 精 密 位 置 测 量 系 统 及 信 号 处 理 原 理
激 光器 输 出的激 光经过 光纤 进入 到发 射头 。发 射 头 由较 小 的鲍 威 尔棱 镜 构 成 , 可 以将 点 状 的 激 光光 斑转 换为 沿某一 方 向 的宽 度较 小 的线 状 激光 ; 发 射 头 固定 于一 个 可 以转 动 或平 移 的小 型平
线阵 C C D 输 出信 号 的 相 关 双 取 样 、 低 通 滤 波及 微 分 处理 , 得 到 了 对 应 于 特 征 位 置 的
脉 冲信 号 ; 再 利 用专 用计数 电路 对特征 位 置脉 冲信 号相 对 于线 阵 C C D 的转移 脉 冲信 号的 时 间进 行计 数 , 并扣 除线 阵 C C D前 部 的哑 元 输 出时 间的 计数 , 从 而获得 了与特 征 位 置对应 的 时 间计数 ; 然后通 过 简单 的 转换 即可得 到 待 测 位 置 的信 息 。该 系统利 用全硬 件 电路 工作 的特性 , 具有 高速 度 、 亚像 元 的位 置检 测精 度 、 高集 成度 的特 点 。
基于线阵CCD的非接触微位移测量系统研究的开题报告
基于线阵CCD的非接触微位移测量系统研究的开题报告一、研究背景和意义在工业应用中,微位移测量是一种重要的技术手段。
在许多领域,例如制造业、医疗等,微位移的测量和控制都扮演着至关重要的角色。
而在微位移测量中,非接触式的测量方案已经成为了主流。
与传统的接触式测量相比,非接触式测量具有测量精度高、测量速度快、不易对被测物体造成损害等优点,因此在工业应用中得到了广泛的应用。
线阵CCD作为常见的非接触式微位移测量元器件之一,已经被广泛应用于各种领域。
线阵CCD 可以将光学图像转换为电信号,通过对光电信号的处理,可以准确地测量被测物体的微小变形量。
由于线阵CCD 的分辨率高,探测灵敏度高等优点,使其在精度要求较高的微位移测量中表现良好。
因此,基于线阵CCD 的非接触微位移测量系统的研究对于推进微位移测量技术的发展,提升工业生产质量和效率,具有重要的意义和研究价值。
二、研究内容和方法本研究的主要内容是基于线阵CCD 的非接触微位移测量系统的研究。
具体研究内容如下:1. 研究线阵CCD 的基本工作原理和测量应用特点。
2. 设计基于线阵CCD 的非接触微位移测量系统,并分析测量系统的特点和优点。
3. 研究线阵CCD 的图像处理算法及其在微位移测量中的应用。
4. 对系统进行性能测试,分析系统的测量精度、稳定性和重复性等指标。
本研究将采用实验研究的方法进行,首先对线阵CCD 的基本原理进行研究,然后设计非接触微位移测量系统并进行测试,最后对测试结果进行分析并提出相关结论。
三、预期研究成果本研究的预期研究成果包括:1. 研究线阵CCD 的基本原理和测量应用特点。
2. 设计实现基于线阵CCD 的非接触微位移测量系统,并验证系统的有效性和可行性。
3. 研究线阵CCD 的图像处理算法及其在微位移测量中的应用。
4. 提出一套完整的线阵CCD 微位移测量系统的实现方案,能够有效地满足实际测量需求。
五、研究进度安排本研究计划于2021年10月开始,预计两年完成。
基于CCD的轴类零件快速精确测量方法研究及实现
摘要本论文通过对国内外非接触检测技术的发展及现状的研究,提出了以CCD(即电荷耦合器件)摄像方式来获取轴类零件检测信息的方法。
并通过MATLAB软件对采集到的轴类零件图片进行图像处理,得到零件各处的特征信息,从而精确快速的检测出需要的轴类零件各个位置的几何尺寸,并根据夫琅禾费衍射原理得到零件的形状误差,判断被测轴类零件是否为合格产品。
研究了整个自动检测系统的运行原理,设计出了这个系统的机械结构部分以及图像采集系统,详细介绍了对获得的图片进行图像处理的步骤及方法,设计出能得到最终检测结果的软件系统,初步解决了轴类零件检测精度和速度难以达到生产要求的难题,该方法为在实际生产中迅速精确检测轴类零件提供了一种有效手段。
同时,使CCD摄像非接触式检测方法的应用领域得到拓宽,为其他类似零件的非接触自动检测提供了一种新的检测方法。
关键字:轴类零件,非接触检测,CCD,Matlab,亚象素,夫琅禾费衍射ABSTRACTAn overview of research concerned at home and abroad shows both advantages and disadvantages that exist in present measurements.And this paper proposes a novel method to obtain measurement information of shaft-parts.That is a CCD-based automatic non-contact measuring System.With characteristic information got from image processing by Matlab software,exact geometric dimensions of shaft-parts of different angles,and tolerances on basis of fraunhofer diffraction theory are obtained rapidly which promises qualified products.This paper illustrates the working principle and establishment of full system and image collection system,gives details about mechanical structure and software that is responsible for image processing and result gaining.This new measurement solves the match problem of measuring precision and rapidity to real production.Thus it provides an efficient way to detecte shaft-parts precisely and rapidly.At the same time,the CCD-based detecting way can be expanded to other applications besides shaft-parts.It also provides a non-contact measurement to similar parts,which settles the match problem of visual angle and precision to requirements in measuring application.Key words:shaft-parts,non-contact measurement,CCD,Matlab,sub-pixel Fraunhofer diffraction1绪论本章简述了论文的研究背景,概述了自动检测技术和图像处理技术的发展现状,提出了一种以CCD摄像的方式进行轴类零件检测,实现轴类零件全自动非接触式检测的目的,最后阐述了本课题的研究意义,确定了论文的主要研究内容。
线阵CCD高精度测隙装置的研制
( p rme toe,S c n De at n n e o dArl r n ie r g U &est t l yE gn ei n ri ie n y,Xi n7 0 2 ,C ia) " 1 0 5 hn a
p o o l crc s n o . i t h t ee t e s r F r l h sp p ra ay e e p i i l n h e sbl y o e d vc i s y,t i a e ls st rcp e a d t e f a i i t ft e ie;S c n l h i a e e i s n h i h e o dy,t sp p rd sg n h ok t t e w r i n fl e r y CC sn r g HDL l n u g t L ,a d d sg s t e b n r a in cr u to h mi g o i a a r D u ig Ve l - nr a o a g a e wi CP D n e i n i ai t i i n t e h h z o c b s f a ay i f t e o t u i a s a e o n ss o u p t sg l .At l s , t e d v c o lc s t e d t y t e mir c n rl r a d a h e e t e l h n a t h e i e c l t h a a b h c o o tol n c iv s h e e c mmu ia in wi C. r m er s l , e d v c e c e e r q i me to e d sg n d t e r s l t n r a h d t e o n c t t P F o t e ut t e ie r a h d t e u r o h h s h h e n ft e in,a e o u i e c e h h h o
基于CCD激光衍射暗纹间距的精确测量算法研究
基于CCD 激光衍射暗纹间距的精确测量算法研究李小妍,方 强,张文富,赵 娜(西安邮电学院 陕西西安 710061)摘 要:激光衍射测量技术对于测量微小尺寸的工件有很大优势,但是由于较高级次暗纹的光强较微弱,被中央明条纹光强所掩盖,以及散斑和CCD 热噪声的影响,暗条纹中心距很难精确测量。
将CCD 视频信号先进行自适应滤波,消除噪声影响,再利用差分法和取平均值的方法找到暗点的粗略位置,进而用最小二乘法进行局部拟合,确定精确暗点位置。
实验表明用改进方法处理暗条纹精度较高。
关键词:激光衍射;暗条纹;自适应滤波;最小二乘法中图分类号:T P29 文献标识码:A 文章编号:1004373X(2008)0313602C CD-based Laser Diffraction on Dark-strips Distance Precision Measurement AlgorithmL I Xiaoyan,F A N G Q iang,ZH AN G Wenfu,ZH AO N a(Xi an Uni v ersit y o f P ost and T elecom municat i o ns,Xi an,710061,China)Abstract :laser diffr action measurement technique fo r measur ing small size is a g reat advantage,how ever,the higher the gr ade o f dar k str ipe,the w eaker the light intensity,and the central str ipe o f lig ht intensity ar e o ver shadow ed.Speckle and CCD ther mal noise impact,dar k str ipes fro m the center is difficult to accur ately measured.T his paper presents CCD video sig nal co nduct s adaptive filter to r emo ve noise impact,using differ ential and av erag e metho d to find the ro ug h lo cat ion of dark spot ,with t he last par tial least squares fit ting met ho d to f ind t he pr ecise lo cat ion.Experiments show impr ov ed approach t o hig her pr ecision da rk stripes.Keywords :laser diff raction;dar k str ipes;adaptiv e filter;least squares fitting method收稿日期:20070801激光衍射测量系统中,暗条纹间距的测量一直是个难题。
基于CCD的实时成像与微小尺寸测量系统的设计
基于CCD的实时成像与微小尺寸测量系统的设计
崔荣丽;王连明
【期刊名称】《东北师大学报:自然科学版》
【年(卷),期】2017(49)4
【摘要】设计了一种基于CCD的实时成像与微小尺寸测量系统,该系统由CCD摄像头、视频解码芯片、FPGA、USB芯片和上位机组成.用FPGA控制视频解码芯片获取CCD摄像头采集的光学信号,通过USB传给上位机,利用多线程技术实现控制命令的发送、图像数据的接收、处理和显示,以及微小尺寸的测量.结果表明:经过多次测量实验得到系统误差不超过3μm,满足测量精度要求;通过选用不同分辨率的CCD,可以实现不同精度的微小尺寸测量.此外还对双棱镜干涉实验所形成的干涉条纹间距进行了测量,验证了系统的功能.
【总页数】5页(P49-53)
【关键词】CCD;FPGA;TVP5150;USB;实时成像;微小尺寸测量
【作者】崔荣丽;王连明
【作者单位】东北师范大学物理学院
【正文语种】中文
【中图分类】TP274.2
【相关文献】
1.基于线阵CCD的尺寸测量装置数据采集系统设计 [J], 崔岩;吴国兴;顾媛媛;陆惠;殷美琳
2.基于线阵CCD的智能微小位移测量系统设计 [J], 张立学
3.线阵CCD微小尺寸测量的应用及误差分析 [J], 杨博雄;刘海波;路杰;陈志高;傅辉清
4.基于计算机视觉技术的微小线尺寸测量系统设计 [J], 刘远;韩红哲
5.基于线阵CCD的刀具尺寸测量系统设计 [J], 邵伟业; 梁睿君; 黄敏凯; 李伟; 宋丹
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基于线阵CCD的曲面孔系位置精密测量系统
基于线阵CCD的曲面孔系位置精密测量系统
黄劼;周肇飞;余良忠
【期刊名称】《光电工程》
【年(卷),期】2003(030)004
【摘要】用线阵CCD扫描获取圆孔图像,通过图像识别确定圆心,实现孔系位置精密测量.以所提出的识别弦端点确定图像圆心坐标的算法,对500根弦的中点坐标进行滤波处理,可使识别误差接近图像像素距离.采用边缘慢、中部快的变速扫描方案,密化了有效采样点,使圆心坐标在X,Y方向的重复度均小于4μm.
【总页数】3页(P39-41)
【作者】黄劼;周肇飞;余良忠
【作者单位】四川大学制造学院,四川,成都,610065;四川大学制造学院,四川,成都,610065;四川大学制造学院,四川,成都,610065
【正文语种】中文
【中图分类】TN911.73
【相关文献】
1.线阵CCD精密测量系统的运动控制系统设计 [J], 黄劼;周肇飞
2.基于逆向学习的距离和位置精密测量系统 [J], 刘清
3.基于DSP的线阵CCD高速精密测量系统的设计 [J], 程霄;刘勇;张龙;朱震;李志刚;吴晓松
4.线阵CCD精密尺寸测量系统的设计与研究 [J], 谭海军;邓先申;田芃;周峰;
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xi n +1
n ( odd)
2
=1
2
xi
n 2
+ xi
n 2
+1
n ( even)
(1)
本研究将中值滤波应用于图像处理 , 即对二维信
号进行滤波 。对于滤波窗口为 A 的二维图像进行中值
滤波 ,输出可表示为 :
yij = m ed{ xij }
(3)
A
式中 { xij } —二维数据序列 。
A
当窗口宽度为 2n + 1时 ,信号序列中宽度不大于 n
摘 要 :将图像检测技术应用于零件微小间隙的测量 ,采用中值滤波算法对图像进行去噪预处理 ,将
Sobe算l 子应用于基于梯度算法的图像边缘检测 ,并用修正实测标定系数 K的方法提高实测精度 。实验
数据表明 ,系统总体测量精度达到 15μm ,能够胜任生产中不同环境下的微间隙测量 ,同时在一定条件
范围内 ,也可以适应其他要求非接触 、高精度的场合 。
0 前 言
图像测量技术是测量 、图像传感 、图像处理等技术 的有机融合 ,由于它具有非接触的优点 ,同时对传感器 安装位置无苛刻要求 ,能适应诸多特殊测试场合 ,近年 来在工业测试和自动化领域的应用越来越广 ,甚至开 始应用于航空航天和精密测试领域 。以 CCD 为图像 传感器的测量方法具有非接触 、高速度 、信息量丰富等 诸多优点 ,易于与数字设备连接 ,便于图像处理 。因 此 ,基于 CCD 的图像测量技术得到了广泛应用 。在 CCD 二维图像测量方面 ,文献 [ 1 ]应用于微型齿轮测 量中 ,实测精度达到了 10 μm 以内 。文献 [ 2 ]应用于 量表精度的检定 ,测量的角度误差达到 0. 5°。文献 [ 3 ]结合亚像素细分技术 ,使图像测量系统的精度达 到了 1μm。文献 [ 4 ]将该技术与数控技术结合 ,曲面 加工中的表面精度在线测量得到了很好的应用 。
1 测量系统设计
1. 1 测量原理 零件到达指定测量工位时 ,系统采用 CCD 传感器
成像系统 (CCD 摄像机 )摄取间隙的图像 ,图像采集卡 将摄像机获得的图像输入计算机 ,计算机首先对其进 行去噪处理 ,得到尽量逼近真实的信息 ,然后对图像进 行边缘检测处理 ,目的是从图像中提取缝隙的特征 ,并 以此确定其边界 。最后 ,根据得到的以像素定位的边 界 ,结合实际测量参数 (如放大倍率 ,相机分辨率等 ) ,
关键词 :图像测量 ;间隙 ;中值滤波 ;边缘检测 ; Sobel算子
中图分类号 : TB96 文献标识码 : A
文章编号 : 1001 - 4551 (2007) 08 - 0027 - 03
M ea surem en t of tiny2size clearance ba sed on CCD image m ea surem en t H IANG M ing2m ing1 , SHEN Hong2yao2
·29·
E( k) ( x, y) 后 ,按下式确定某一点是否为边缘像素 :
1, ϖ k ∈ { 1, 2, 3} , E( k) ( x, y) = 1
E ( x, y) =
(9)
0, e lse
3 系统精度分析
对于数字图像系统中的畸变 , 采用平行光栅技术 校正 ,应用一阶综合径向畸变数学模型 ,求解畸变参数 和校正参数并对图像进行校正 , 可将畸变引起的测量 误差降至可以忽略 。因此 ,系统精度主要取决于标定系 数的精度 ,主要由两个因素决定 : ①标定时景深 ; ②标 定时线纹尺精度和测量规拟和边缘误差 。
0105μm /p ixe l。
3. 2 线纹尺精度等引起的标定系数误差
K = D /M
( 12)
ΔK
= ΔD
M
-
DΔM
M2
=ΔD - KΔM
MM
( 13)
式中 ΔM —测量规拟和边缘误差 ;ΔD —线纹尺实际
刻线间距误差 。
本系统采用多项式插值法得到了 0. 1个像素的亚 像素级精度 ,当选用刻线间距 0. 5 mm 时 , 可取 ΔM 为 0. 3个像素 ,ΔD 为 0. 001 mm,此时 M = 250像素 ,ΔK
第 24卷第 8期 2007年 8月
机 电 工 程
M ECHAN ICAL & ELECTR ICAL ENGINEER ING MAGAZINE
Vol. 24 No. 8 Aug. 2007
基于 CCD 图像检测的微间隙精密测量系统
丁明明 1 ,沈洪垚 2
(1. 浙江水利水电专科学校 ,浙江 杭州 310018; 2. 浙江大学 机械与能源学院 ,浙江 杭州 310027)
( 10)
K =σ /β =σx / y,
( 11)
式中 x—物距 ; y—像距 ,对于镜头倍率固定的系统 ;
y为常数 ;β—放大倍数 ;σ—CCD 分辨率 。
ΔK = σΔx / xβ,Δx 为 景深 。当 镜 头 工 作 距 离 为
20 mm ,放大倍数为 4倍 ,镜头景深为 0. 5 mm时 ,ΔK =
3. 1 景深引起的标定系数误差
本方案选用的 CCD尺寸为 4 mm ×3 mm,摄像像素
500 (H) ×480 (V ) , CCD分辨率 σ = 8. 0 μm /p ixe l, 放
大倍数 β = 4, 标定系数理论值为 K = 8. 0 /4 = 210
μm /p ixe l。可知 :
β = y / x,
采用 Sobe l算子进行梯度合成 , Sobe l算子具有计算量
小 、速度快等优点 ,是经典的边缘检测算法 。Sobe l算子
是在以 f ( x, y) 为中心的 3 ×3邻域上计算 x和 y方向
的偏导数 。
得到了任一点的梯度值 GM ( x, y) 后 ,根据相应阀值 T确定该点是否为边缘像素 。设边缘函数为 E ( x, y) ,有 :
(4) 辅助模块和界面 。完成人机交互界面 ,提供 参数交互 ,对模块进行集成 ,对测得的间隙值评价进行 处理 ,系统报警输出等 。
2 图像处理
2. 1 图像去噪 滤波应能有效地平滑各种噪声 ,保持图像的边缘
信息 ,从而改善后续处理工作的质量 。中值滤波可以 克服线性滤波器 (如均值滤波 )产生的模糊 ,对于消除 孤立点和线段干扰非常有效 ,在去噪的同时 ,能保持良 好的边缘特性 ,能得到比较满意的复原效果 。
中值滤波是基于排序理论的非线性信号处理技 术 ,它把数字图像中的一点值用其邻域中的各点的中
值代替 。对一维序列 : x1 , x2 , x3 , …, xn , 把 n 个数据按 从小到大顺序排列 : xi1 , xi2 , xi3 , …, xin ,则 : y = m ed{ x1 , x2 , x3 , …, xn }
边缘 ,必须求信号的变化率 , 需要用微分进行反运算 , 可以加强图像的高频分量 , 使轮廓更清晰 [5, 6 ] 。图像处
理中最常用的微分方法是求梯度 。
梯度方法的基本原理是 :对于每个像素点 , 在 R、
G、B 3个分量上分别求梯度 , 当梯度模大于给定阀值
时 ,认为该点在该分量上是 1个边缘点 , 3个分量的边
实际生产中经常需要对零件或者工艺过程中的物 理间隙进行测量 ,很多情况下间隙的测量不仅有很高
的精度要求 ,同时测量条件非常特殊 或无法安装传 感器 ,或不允许接触式测量等 ) ,这就给间隙的测量带 来了很大障碍 。随着图像处理技术的进步 ,图像测量 技术为间隙测量提供了一条可行之路 。
本系统应某高精度螺纹件自动装配生产线装配 精度检测需要而开发 ,基于 CCD 图像测量技术 ,能自 动对装配线上的成品零件装配间隙进行非接触在线 测量 。