基于EEG高阶过零分析的脑损伤检测新方法

基于EEG高阶过零分析的脑损伤检测新方法
邱天爽;X.Kong;等
【期刊名称】《中国生物医学工程学报》
【年(卷),期】2003(022)001
【摘要】目的:提出基于高阶过零(HOC)的方法并利用EEG检测由于缺氧窒息而引起的中枢神经系统损伤及对损伤程度进行定量评估.方法:采用两种基于HOC的方法,一种为依据EEG信号序列统计分布特性的HOCSD(S距离)法,另一种为依据预处理后EEG信号的谱特性的HOCCF法.结果:对三类实验样本进行了检测,检测结果与神经缺欠值(NDS)的相关性高达96%.结论:实验数据分析表明,两种基于HOC 的新方法对于检测由于缺氧窒息而引起的中枢神经系统损伤及对损伤程度进行定量评估具有一定的意义.
【总页数】7页(P16-22)
【作者】邱天爽;X.Kong;等
【作者单位】大连理工大学电子与信息工程学院,大连,116024;Department of Electrical Engineering, Northern Illinois University, DeKalb, IL 60115, USA 【正文语种】中文
【中图分类】TN911.7
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