可靠性加速测试方法共21页文档
加速可靠性试验
加速试验的发展—80年代
■ Gregg. K. Hobbs博士经多年对环境应力 筛选的研究提出了高加速寿命试验 (Highly Accelerated Life Testing) 和高 速应力筛选(Highly Accelerated Stress Screening)
加速试验的发展—90年代
■ 美国波音公司首次提出可靠性强化试验 （RET-Reliability Enhancement Testing
■ 定量加速试验 ALT
定性加速试验——HALT
■ HALT—高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing) 。使用阶跃式应力使得产品承受 不同的应力以此来发现产品的设计限的一种过 程。HALT意在于发现产品的应力限以及确认产 品的薄弱地方。这种信息的使用有助于产品的 再设计。
定量加速试验—— ALT
■ ALT—加速寿命试验(Accelerated Life Testing).
加速试验试验使用的应力类型
经统计，对产品可靠性产生影响的 环境应力主要是温度和振动应力。据统 计引起产品故障的环境因素中，温度占 50%左右，振动占20%左右。
加速试验使用的设备
■ 温度箱 ★液氮制冷 ★快速温变率，产品上温变率可达60℃/min ★温度运行范围-100℃～+200℃
加速度自功率控制谱
HALT试验夹具
辅助测试设备开发
■ 针对于不同的产品，根据其功能参数设 计不同的测试设备。
执行HALT
进行HALT试验
HALT样本容量
■ 样本容量n的计算如下式
其中： P(d)是某一故障可能被检测到的概率 p是故障概率或者是任何有故障单元的概率
HALT样本容量
可靠性测试产品高加速寿命试验方法指南解析
术语和定义HALT（High Accelerated Life Test）：高加速寿命试验，即试验中对试验对象施加的环境应力比试验对象整个生命周期内，包括运输、存储及运行环境内，可能受到的环境应力大得多，以此来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱环节，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到快速提升可靠性的目的。
运行限或操作限（Operation Limit）：指产品某应力水平上失效（样品不工作或其工作指标超限），但当应力值略有降低或回复初始值时，试样又恢复正常工作，则样品能够恢复正常的最高应力水平值称为运行限。
破坏限（Destruct Limit）：在某应力水平上升到某值时，样品失效，即使当应力回落到低于运行限时，试样仍然不能恢复正常工作，这时的应力水平值称为破坏限。
裕度（Margin）：产品运行环境应力的设计限与运行限或破坏限的差值。
产品的裕度越大，则其可靠性越高。
夹具（Fixture）：在HALT试验的振动项目中固定试样的器具。
振动试验必须使用夹具，使振台振动能量有效地传递给试样。
加速度传感器（Accelerometer）：在某方向测量试样振动加速度大小的传感器。
在HALT试验的振动项目中使用加速度传感器可以监视试验箱振动能量通过夹具有效传递给试样的效率。
振动功率谱密度（Vibrating Power Spectral Density）：也称为加速谱密度，衡量振动在每个频率点的加速度大小，单位为（g2/Hz）。
Grms（Gs in a root mean square）：振动中衡量振动强度大小的物理单位，与加速度单位相同，物理含义为对振动功率谱密度在频率上积分后的平方根。
热电偶（Thermocouple）：利用“不同导体结合在一起产生与温度成比例的电压”这一物理规律制作的温度传感器。
在HALT试验的热应力测试项目中，利用热电偶监视产品各点的温度分布。
功能测试（Functional Test）：对试样的测试，用以判断试样能否在测试环境下完成规定的功能，性能是否下降。
可靠性LED加速老化寿命试验方法概论
一、可靠性理论基础1.可靠度：如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，当N足够大时，产品在t时刻的可靠度可近似表示为：随时间的不断增长，将不断下降。
它是介于1与0之间的数，即。
2.累积失效概率：表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率，用F(t)表示，又称为失效分布函数。
如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，则当N足够大时，产品在该时刻的累积失效概率可近似表示为：3.失效分布密度：表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。
失效分布函数的导函数称为失效分布密度，其表达式如下：•早期失效期；•偶然失效期(或稳定使用期) ；•耗损失效期。
二、寿命老化：LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。
器件老化程度与外加恒流源的大小有关，可描述为：B t为t时间后的亮度，B0为初始亮度。
通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。
1. 平均寿命如果已知总体的失效分布密度f（t），则可得到总体平均寿命的表达式如下：2. 可靠寿命可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时，所经历的工作时间。
T R可由R（T R）=r求解，假如该产品的失效分布属指数分布规律，则：即可求得T R如下:3. 中位寿命中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命，即：对于指数分布情况，可得：二、LED寿命测试方法LED寿命加速试验的目的概括起来有：•在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平•运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度；•在较短时间内提供试验结果，检验工艺；•在较短时间内暴露LED的失效类型及形式，便于对失效机理进行研究，找出失效原因；•淘汰早期失效产品，测定元LED的极限使用条件1. 温度加速寿命测试法由于通常LED寿命达到10万小时左右，因此要测得其常温下的寿命时间太长，因此采用加速寿命的方法。
可靠性基础试验可靠性寿命试验可靠性加速寿命试验(62页)
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第四章 元器件可靠性试验与评价技术
4.1元器件可靠性试验
定义：
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目前把测定、验证、评价和分析等为提高元器 件 可靠性而进行的各种试验，统称为可靠性试验。 应用 于： 研制阶段：暴露设计、材料、工艺阶段存在的问题 和
有关数据，对设计者、生产者和使用者非常有 用； 设计定型阶段：是否达到预定的可靠性指标； 生产阶 段：评价元器件生产工艺和过程是否稳定可 控：
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可靠性测试方法
可靠性测试方法在软件开发领域，可靠性测试是非常重要的一环。
它可以帮助开发团队发现软件中的潜在问题，确保软件在用户手中运行稳定可靠。
下面将介绍一些常见的可靠性测试方法。
首先，我们来谈谈回归测试。
回归测试是一种常见的可靠性测试方法，它主要用于检查软件在进行修改或更新后是否仍然能够按照预期的方式运行。
在软件开发过程中，经常会对软件进行修改和更新，而这些改动可能会引入新的问题。
通过回归测试，可以确保已经修复的问题不会再次出现，同时也可以发现新的问题。
其次，还有负载测试。
负载测试是用来评估软件在正常和峰值负载情况下的性能表现。
通过模拟大量用户同时访问软件，可以检查软件在高负载情况下的稳定性和可靠性。
这对于一些大型的在线系统来说尤为重要，因为它们需要能够处理大量的用户请求而不影响系统的稳定性。
另外，还有冒烟测试。
冒烟测试是一种简单的、快速的可靠性测试方法，它主要用于检查软件是否能够基本运行。
在软件发布前，进行冒烟测试可以帮助开发团队快速发现一些严重的问题，比如软件无法启动、关键功能无法正常运行等。
这样可以在软件发布前及时修复问题，提高软件的可靠性。
最后，我们还需要谈论一下压力测试。
压力测试是用来评估软件在极限负载情况下的性能表现。
通过逐渐增加负载，可以检查软件在极限情况下是否能够正常运行，以及系统的性能是否会出现下降。
这对于一些对性能要求较高的系统来说尤为重要，比如金融交易系统、在线游戏等。
总的来说，可靠性测试是软件开发过程中不可或缺的一部分。
通过合理的可靠性测试方法，可以帮助开发团队发现和解决软件中的潜在问题，提高软件的可靠性和稳定性。
希望以上介绍的可靠性测试方法能够对大家有所帮助。
医疗器械管理-医疗产品可靠性试验-加速实验
医疗产品可靠性试验-加速实验1、加速试验概念加速试验是指在保证不改变产品失效机理的前提下，通过强化试验条件，使受试产品加速失效，以便在较短时间内获得必要信息，来评估产品在正常条件下的可靠性或寿命指标。
通过加速试验，可迅速查明产品的失效原因，快速评定产品的可靠性指标。
2、加速试验的目的与特点进行加速试验的目的可概括如下：（1）为了适应日益激烈的竞争环境；（2）在尽可能短的时间内将产品投入市场；（3）满足用户预期的需要。
加速试验是一种在给定的试验时间内获得比在正常条件下（可能获得的信息）更多的信息的方法。
它是通过采用比设备在正常使用中所经受的环境更为严酷的试验环境来实现这一点的。
由于使用更高的应力，在进行加速试验时必须注意不能引入在正常使用中不会发生的故障模式。
在加速试验中要单独或者综合使用加速因子，主要包括：更高频率的功率循环；更高的振动水平；高湿度；更严酷的温度循环；更高的温度。
3、加速试验分类加速试验主要分为两类，每一类都有明确的目的：（1）加速寿命试验--估计寿命；（2）加速应力试验--确定（或证实）和纠正薄弱环节。
这两类加速试验之间的区别尽管细微，但却很重要，它们的区别主要表现在下述几个方面：作为试验的基础的基本假设、构建试验时所用的模型、所用的试验设备和场所、试验的实施方法、分析和解释试验数据的方法。
表1 对这两类主要的加速试验进行了比较。
4、加速试验的产品层次要明确进行加速试验的产品层次（级别）是设备级还是零部件级，这一点很重要。
某些加速方法只适用于零件级的试验，而有的方法只能用于较高级别的总成（设备），只有少数方法同时适用于零件级和总成（设备）级。
对零件级非常合适的基本假设和建模方法在对较高级别的设备进行试验时可能完全不成立，反之亦然。
表2 列出了在两个主要的级别（设备级和零部件级）上进行试验的信息。
5、先进的加速试验过去，大多数加速试验都是使用单一应力和在定应力谱进行的。
包括周期固定的周期性应力（如温度在规定的上下限之间循环，温度的上限和下限以及温度的变化率是恒定的）。
两种可靠性加速测试方法及失效率评估与预测
电子质量2020年第11期(总第404期)作者简介院雷春霞(1974-)，女，中级职称，硕士学位，现从事照明领域研发质量可靠性等工作。
两种可靠性加速测试方法及失效率评估与预测Two Reliability Accelerated Testing Methods and Evaluation and Prediction of Failure Rate雷春霞(昕诺飞灯具(上海)有限公司,上海200233)Lei Chun-xia (Signify luminaire (Shang Hai)pany,Shanghai 200233)摘要：可靠性测试项目种类有很多，如何选择，用较少的样品数及较少的测试时间来最大化的发现产品的失效率和失效模式，从而进一步提高产品的可靠性，这个是电子行业内普遍比较感兴趣的课题。
该文结合笔者多年在电子产品领域的研发设计和可靠性工作经验，推荐两种可靠性加速测试方法：双85测试和高低温冲击测试，并重点介绍了两种测试方法的加速因子计算；同时介绍了一种用卡方分布来推测产品失效率的计算方法，最后该文根据一个实际电子产品的案例，给出如何根据产品的预期失效率设计双85测试的测试时间和测试样品数，以及如何根据产品的预期使用寿命内总开关次数设计高低温冲击测试的测试条件和测试循环数。
关键词：可靠性加速测试；双85测试；高低温冲击测试；加速因子；卡方分布；失效率；平均失效时间(MTTF)；使用寿命中图分类号：TN406文献标识码：A文章编号：1003-0107(2020)11-0044-04Abstract:There are many types of reliability test items.How to choose to use less sample size and less test time to maximize find the failure rate and failure mode of the product,so as to further improve the reliability of the product.This topic is the one electronics industry general interested in.Based on the author's years of experience in R&D and reliability in the field of electronic products,this article recommends two reliability accelerated test methods:Wet High temperature operating test (double 85test)and thermal shock test,and focuses on the acceleration factor calculation of the two test methods;Presents a calculation method of prediction the failure rate of a product by using the chi-square distribution.Finally,based on an actual electronic product,this article shows how to design the test time and the number of test samples for the double 85test according to the expected failure rate of the product,and how to design the test conditions and the number of test cycles of thermal shock test according to the products service life.Key words:Reliability accelerated test;Wet High Temperature Operating test (double 85test);Thermal shock test;Acceleration factor;Chi-square distribution;Failure rate;Mean time to failure (MTTF);Service life CLC number:TN406Document code:AArticle ID ：1003-0107(2020)11-0044-040引言随着可靠性设计与可靠性测试方法的普及，当前在电子产品的开发设计阶段，可靠性测试已成为电子产品批量上市前必要的验证方法。
软件可靠性测试加速方法分析
ｅ ｏ ａｙ ｉ ａ ｅ ｙｂ ｘａ ｌｓｓ ｓ ｄ ｎ ｂ
ａ ｄｍｕｔ ｌ ｆ ａｅ ． Ｔ ｅｒｓａｃ ｃ ｉｖ ｍｅ ｔ ｎ ｅ ｅｏ ｍｅ ｔｎｓ ｆ ｒｅｒｌ ｂｌ ｃ ｅｅａｅ ｓｉｇｍｅｈ ｄａ ｅｍａｎｙａ ａ— ｎ ｌｉ ｅｉ ｏｂ ｓｄ ｐ ｎ ｈ ｅｅ ｒｈａ ｈｅ ｅ ｎｓａ ｄｄ ｖ ｌｐ ｎ ｏｔ ｉ ｗａ ｅｉ ｉｔ ａ ｃ ｌｒｔｄｔ ｔ ｔｏ ｉｌ ｎ ｌ ａ ｉ ｙ ｅ ｎ ｒ ｙ ｅ ， ｓ ｍｍａ ｉｅ ｄｄ ｓｕ ｓ ｄ Ａｎ ｈ ｏ ｃｕ ｉｎ ｅｔ ａ ｅｃ ａ ｇｎ ｒ ｂ ｂｌ ａ ｅ ｐ ｒ ａｈ Ｃ ｅａｃ ｌｒｔｄｐ ｒ ｙａ ｄ ｚｄ ｕ ｒｚ ｄａ ｉｃ ｓｅ ． ｎ ｄｔｅｃ ｎ ｌｓｏ ｓａ ｔ ｈ ｎ ｉｇｐ ｏ ａ ｉｔ ｂ ｓ ｄａ ｐ ｏ ｃ ａ ｂ ｃ ｅｅａｅ ａｔ ｎ ｒ ｈ ｔ ｈ ｉ ｙ ｎ ｌ ｔ ｅｏｈ ｒ ａｌ ｅａ ｃ ｌｒｔｄｃ ｍｐｅｅｙ Ｂａ ｅ ｎｔｉ ｅｐ ｉｃｐｅｏ ｏｔ ｒ ｅｉｂｌ ｃ ｅｅａｅ ｓｉｇｍ ｅｈ ｄ ｔ ｄｅ ， ａ ｄ ｈ ｔ ｅｓｃｒｂ ｃ ｅｅａｅ ｏ ｌｔｌ． ｓ ｄｏ ｓｔ ｒｎ ｉｌ ｆ ｆｗａｅｒ ｌ ｉ ｔ ａ ｃ ｌｒｔｄｔ ｔ ｔ ｏ ｓ ｓｓｕ ｉｄ ｎ ｈ ｈ ｓ ａ ｉ ｙ ｅ ｎ ｉ
１ 软 件可 靠性 测 试
软件可靠性测试通 过模拟软件 的真实 使用 过程对软件进
收稿 日期 ：２ １． ．５ ０ ０ ９２ ；修订 日期：２ １．１ ５ ０ ００１ ２ 。 －
基金项目：航空科 学基金项 目 （０ ８２ １０ ） ２ ００ ４ ０ ５。
（） １由于软件可靠性 测试 按照使用概率进行 随机抽样得 到 测 试数据 ， 对于概 率高 的输入 ， 在大量 的重复测试 ， 存 而对 于
可靠性加速测试方法
可靠性加速测试方法目的基本假设加速试验模式Inverse Power ModelArrhenius Model for Thermal Aging时间转换法贝氏法则可靠性加速测试目的利用较严厉的环境测试条件，使得产品的失效时间缩短，然后以求得之结果，估计产品在一般使用环境之寿命。
可靠性加速测试基本假设a.环境条件加强，但不改变产品物理性质b. 环境条件改变，所求得之各个失效分配，彼此之间存在某种相似的统计分配特性。
c. 可以重复试验d. 符合能量不灭之物理定律加速试验模式（一）物理模式* Inverse Power Law* Arrhenius Law（二）统计模式* Time Transformation Models* Baye’s MethodInverse Power Model适用于一般电子及电子产品、绝缘物体，或是轴承等，其使用寿命和外界之应力成”N ” 次方的反比，如下式所示：产品之特性寿命(Characteristic Life)通常可由韦式分配求得，公式中之“N ” 值决定于不同产品和其组成之物质，可由图22-1之负NN A A N NS S L L ⎥⎦⎤⎢⎣⎡==>⎥⎦⎤⎢⎣⎡=正常應力加嚴應力加嚴應力下之壽命正常應力下之壽命Inverse Power Model时间坐标Slop Exponent=-1应力坐标正常施加应力30年以指数为单位特性寿命Log Scale 1小时加速测试之应力Inverse Power Model例题一某产品在正常情况下，应力为15kV ，由上述方法求得之指数为8，若测试电压为60kV ，经证实两种测试电压产生之失效原因相同，也不会改变其物理结构。
若该产品之希望寿命为30年，用60kV 电压需测试多久方能保证其寿命。
解：30年= 30×365天×24小时= 262800小时小時測試時間之壽命之壽命01.426280041560601588===⎥⎦⎤⎢⎣⎡=kV kVArrhenius Model for Thermal Aging 有些电子组件会因温度变化而影响其内部之化学变化，以及影响其变化速度，此种变化关系在化学上称之为Arrhenius Equation，如式(1)所示。
可靠性测试方法
可靠性测试方法可靠性测试是一种用来评估产品或系统在特定条件下能否保持其功能性能的测试方法。
在工程领域，可靠性是一个非常重要的指标，它直接关系到产品的质量和持久性。
因此，对产品进行可靠性测试是非常必要的。
下面将介绍几种常见的可靠性测试方法。
1. 加速寿命试验。
加速寿命试验是一种通过提高环境条件（如温度、湿度等）来加速产品老化过程的测试方法。
通过这种方法，可以在较短的时间内模拟出产品在长期使用过程中可能出现的问题，从而评估产品的可靠性。
这种方法的优点是可以快速获取产品的可靠性信息，但缺点是可能会导致测试结果与实际使用情况有所偏差。
2. 寿命试验。
寿命试验是一种通过长时间的实际使用来评估产品可靠性的测试方法。
通过这种方法，可以更真实地模拟出产品在实际使用过程中可能遇到的问题，从而更准确地评估产品的可靠性。
这种方法的优点是测试结果更接近实际情况，但缺点是需要较长的测试时间。
3. 应力试验。
应力试验是一种通过对产品施加一定的应力（如机械应力、电气应力等）来评估产品可靠性的测试方法。
通过这种方法，可以直接观察产品在受到应力作用时的表现，从而评估产品的可靠性。
这种方法的优点是可以直接观察产品在应力作用下的表现，但缺点是可能无法全面覆盖产品在实际使用过程中可能遇到的各种情况。
4. 故障模式与效应分析（FMEA）。
FMEA是一种通过分析产品可能出现的故障模式及其对系统的影响来评估产品可靠性的方法。
通过这种方法，可以对产品可能出现的各种故障进行系统性的分析，从而评估产品的可靠性。
这种方法的优点是可以全面地分析产品可能出现的各种故障情况，但缺点是可能无法完全覆盖产品在实际使用过程中可能遇到的各种情况。
综上所述，可靠性测试是评估产品可靠性的重要手段，不同的测试方法各有优缺点，可以根据具体情况选择合适的方法进行测试。
在进行可靠性测试时，需要充分考虑产品的实际使用情况，尽可能模拟出产品在实际使用过程中可能遇到的各种情况，从而更准确地评估产品的可靠性。
浅谈可靠性加速寿命试验
浅谈可靠性加速寿命试验浅谈可靠性加速寿命试验加速寿命试验是可靠性试验中的一项重要的试验方法。
采取加速寿命试验的作用在于加快试验进程，为预测系统或设备的可靠度提供重要的依据。
可靠性试验的方法和试验的规模由试验的对象及要求来决定。
对于系统、设备及元器件，各自采用的试验方法是不同的。
对于整机，通过试验剔除对系统有影响的不可靠元器件；对于机械零部件侧重于疲劳寿命试验；而对于电子元器件则主要进行寿命试验。
产品或系统的可靠度，应该按最终使用条件评价。
所以，寿命试验应该按实际的使用条件与实际的环境条件（应力）来进行。
但由于时间上，经济上的考虑，总希望以较少的试验费用，早一些取得满意的结果。
为此，所采用的手段之一，是通过提高环境应力（如温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），来加快试验进程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
这种为缩短试验时间而按严苛条件（应力）进行的加速寿命试验与强制老化试验，实际上大同小异。
都是以严苛的条件，加速产品质量特性的老化、促进产品寿命缩短的试验。
例如，开关与继电器之类的产品，是按工作次数来计测寿命的，为加速试验，可用更高速度进行接通与断开试验，以检测产品的可靠性寿命。
加速寿命试验与产品例行试验（例如，一般强度和变形的性能测定）是不同的。
例行试验的目的，只是保证产品进出厂验收前，其各种性能参数是否符合一定的标准，而没有测定产品在规定时间内的失效率。
从而不能对产品的可靠性提出任何保证。
而加速寿命试验，是对产品在规定的使用时间内符合一定的可靠性指标提出保证。
同时，加速寿命试验也是产品可靠性预测和检验的基础。
加速寿命试验比产品的例行试验时间要长。
因为，时间短促难以取得足以说明可靠度水平的数据。
在试验数据的处理上，例行试验由于它仅是性能的通过试验，所以数据处理简单，而加速寿命因为它要对某一批产品的可靠性进行推断，所以要采用严格的数据统计方法，以便得出较为可靠的结论。
采取加速寿命试验的作用在于：通过严苛条件试验，可以确定产品、零部件的安全裕度，剔除与筛选可靠度低的零件；在严苛条件下观察到的寿命值（或故障率），同正常条件下的寿命值之间，有一定的规律性，利用此种规律性，可以预测正常条件下的寿命值。
加速可靠性试验[108P][1.68MB]
![加速可靠性试验[108P][1.68MB]](https://img.taocdn.com/s3/m/9654b814a300a6c30c229f40.png)
综合环境步进应力—振动
根据已完成试验获得的振动应力破坏极限值和 设定的循环次数确定步长。假如在振动应力步 进试验中，产品在35Grms时发生了不可修复 的故障，并且设定的温度循环次数是5，那么 最初的试验循环应该以7Grms水平开始。每一 个循环之后，应该以振动水平为7Grms的步长 增加，则具体的剖面参数为：循环1量级为 7Grms，循环2量级为14Grms；循环3量级为 21Grms；循环4量级为28Grms；循环5量级为 35Grms。
综合环境步进应力
综合环境步进应力—例子
试验中，高/低温值选择温度步进应力试 验中得到的工作极限的80%，振动应力为 振动步进应力试验中得到的工作极限的 50%，试验进行5个高低温循环。每个温 度台阶停留时间为10分钟并完成功能测 试。每个温度台阶结束后，进行5次上下 电测试，测试每次上下电后功能是否可 以完全恢复。试验温度变化率40℃/min。 最后一个周期振动应力减少为5Grms。
温度步进应力—低温步进
低温步进应力试验在某一接近室温的 温度条件下进行，通常取+20℃～+30℃。
温度步进应力—低温步进
步长通常为10℃，但是某些时候也可以 增加到20℃或减小到5℃。建议在低温工 作极限前步长设定为10℃，低温工作极 限后步长调整为5℃，视产品具体情况而 定。建议试验应力到达产品工作极限之 后，适当减小步长继续试验至破坏极限。
加速试验的发展—80年代
Gregg. K. Hobbs博士经多年对环境应力 筛选的研究提出了高加速寿命试验 (Highly Accelerated Life Testing) 和高加 速应力筛选(Highly Accelerated Stress Screening)
电子装备可靠性加速试验方法
76研究与探索Research and Exploration ·监测与诊断中国设备工程 2019.07 (下)现代复杂电子装备的MTBF 高达2000～5000h，甚至更长。
经典的可靠性试验方法已经无法满足电子装备发展的要求，如何验证电子装备的可靠性水平已经是装备承制单位急需解决的问题。
在此形势下，可靠性加速试验应运而生，并成为电子装备可靠性试验领域的重要研究方向。
加速等效如图1。
1 加速试验的假设图1 加速等效加速寿命试验的加速因子定义：（1）式中，t R,O 和t R,t 表示产品在加速应力水平S t 与正常应力水平S o 下的达到相同可靠度的可靠寿命。
AF t,o 为加速应力水平S t 相对于正常应力水平S o 的加速因子。
通过公式可以发现加速因子就是可靠寿命之比，反映了产品分别在两种应力水平下寿命过程的相对快慢程度。
Nelson 对加速因子的定义进行了扩展。
若产品在应力水平S i 与S j 下分别作用时间为t i 和t j 的累积失效概率相同，即F i (t i )=F j (t j )，则加速应力水平S i 相对于正常应力水平S j 的加速因子可以表示为：电子装备可靠性加速试验方法孔耀，王晋忠，朱绪垚(中国电子科技集团公司第五十四研究所质量管理部，河北 石家庄 050081）摘要：文章通过国外可靠性加速试验相关规范研究以及国内开展可靠性加速试验的工程应用调研，给出了恒定应力可靠性加速试验、步进应力可靠性加速试验、可靠性加速退化试验、基于试件等效的可靠性加速试验、基于时间等效的可靠性加速试验的几种方法。
关键词：电子装备；可靠性；加速试验中图分类号：U674.70 文献标识码：A 文章编号：1671-0711（2019）07（下）-0076-02（2）从本质上来讲这两个定义是一致的，如果对上式进行变换，则可以得到（3）如果产品应力S i 作用下试验了时间t i ，则在应力S j 作用下达到相同退化累积的等效时间t j 可以通过计算确定，因此通过式（3）可以对不同应力水平的试验时间进行折算。
可靠性增长试验方法
组员可靠性增长试验（RGT）
可靠性增长试验的目的和一般方法
目的 提高产品固有可靠性，以满足产品使用期的可靠性需要。
故障率
λ0
增长前
增长后 （早期） （使用期）
λ1
0 t0
t
2
可靠性增长一般方法（TAAF） 通过试验，激发产品故障隐患，开展故障分析， 重点找出系统性问题，采用优化产品设计、优 选配套元器件和材料、改进生产工艺及试验验 证等技术途径，不断减少系统性故障，提高产 品的固有可靠性。但试验本身并不改善产品可 靠性，只有采取防止在使用中重复发生故障的 纠正措施才能提高产品可靠性。
偶然性故障特征 个别产品 偶然形成 系统性故障特征 全体产品 必然形成
随机发生
修复、更换
随机发生
设计、工艺及材料改进
3
环境应力筛选 VS 可靠性增长试验
试验项目 目的 时间 试样 方法 故障处理 处理对象
环境应力筛选 ESS
消除早期故障 交付使用前 全体产品/视情抽样 试验--激发故障 修复/更换 个别问题产品
ln( 1 k)
12
双对数纸上的Duane模型
MTBF 1000
(t )
ln( 1 k)
100
10 1/a
(t )
1 10 100 1000 10000 t
13
阿里亚娜火箭可靠性增长情况（Duane）
14
AMSAA模型与Duane模型的关系
增长模型
Duane
MTBF 表达式
(t )
为累积故
产品在时刻T的MTBF点估计值(无偏)为：
中：
b
(t ) E[ R (t )]
可靠性试验及加速寿命试验技术
二、各类可靠性试验
（一）工程试验
1、环境应力筛选 环境应力筛选就是为解决这个问题产生的。为了在
实验室里，在产品出厂前把混入的不良另件、元器件和 工艺缺陷找到并剔除，而且要求在短时间内（相对使用 时间）完成。故该试验必须具有加速性的要求。通过外 界的统计，发现由温度、振动、湿度引起的故障占80% 以上，而温度和振动二项约占 2 ,（1971年，美国对机
一、可靠性基本概念（定义）
（二）有关故障的定义及描述
b. 产品在规定条件下使用，由于产品本身的固有弱 点（或缺陷）引起的故障称为“本质故障”。由于未按 规定条件使用产品引起的故障为“误用故障”。由于故 障的性质不同，所以采用的措施也不相同。前者要在工 艺、材料、设计上……加以改进。
一、可靠性基本概念（定义）
个，
一、可靠性基本概念（定义）
（二）有关故障的定义及描述
所以在t时刻还在工作的NR(t)个产品中，于单
位时间内出故障的有 NR(t) 个，其故障率为
R(t) R(t). 这叫作产品“瞬时故障率”，记为(t)
现以习惯称为“故障率”或“失效率”。
一、可靠性基本概念（定义）
（三）寿命的定义及描述
可靠性试验及加速寿 命试验技术
航天一院702所
李宪珊 研究员
第一讲 可靠性试验
航天一院702所
李宪珊 研究员
一、可靠性基本概念（定义）
（一）有关可靠性的定义及表示
可靠性工作是从质量管理发展来的。产品的质量是什么？ 一般说包括内在质量：①性能，②可靠性（包括维修性），③ 安全性，④适应性（包含外观）和外延质量：①经济性和时间 性。粗略的说可靠性就是性能的稳定性。这种稳定性使产品在 其寿命周期内具有在规定的条件下和规定的时间内完成规定任 务的能力。