模电第四章
模电第四章标准答案
第4章 集成运算放大电路
自测题
一、选择合适答案填入空内。
(1)集成运放电路采用直接耦合方式是因为( C )。
A.可获得很大的放大倍数
B.可使温漂小
C.集成工艺难于制造大容量电容 (2)通用型集成运放适用于放大( B )。
A.高频信号
B.低频信号
C.任何频率信号 (3)集成运放制造工艺使得同类半导体管的( C )。
A.指标参数准确
B.参数不受温度影响
C.参数一直性好 (4)集成运放的输入级采用差分放大电路是因为可以( A )。 A.减小温漂 B.增大放大倍数 C.提高输入电阻
(5)为增大电压放大倍数,集成运放的中间级多采用( A )。 A.共射放大电路 B.共集放大电路 C.共基放大电路
二、判断下列说法是否正确,用“√”和“×”表示判断结果。 (1)运放的输入失调电压U IO 是两输入端电位之差。( × ) (2)运放的输入失调电流I IO 是两输入端电流之差。( √ )
(3)运放的共模抑制比c
d
CMR A A K =
。( √ ) (4)有源负载可以增大放大电路的输出电流。( √ )
(5)在输入信号作用时,偏置电路改变了各放大管的动态电流。( × ) 三、电路如图T4.3 所示,已知β1=β2=β3= 100 。各管的U BE 均为0.7V , 试求I C 2的值。 解:分析估算如下:
21
100CC BE BE R V U U I A R
μ--=
=
00202211B B B B I I I I ββ
ββ
++=
=++;
020
2(
)1R B B B I I I I β
βββ+=+=++
图T4.3
南邮模电 第四章 差动放大电路和功率放大电路
式中: R ' R 1 R L C L 2 结论:双端输出时的差模电压放大倍数等于单 边共射放大器的电压放大倍数。
12
单端输出时:
RC UC1 U i1 U i2 + RC UC2 U CC
5
4.2.2差动放大电路的静态分析
U CC
当Ui1=Ui2=0时
U E U BE 0.7V
RC UC1 +
RL
RC - UC2
则流过RE的电流I为
U i1
U i2
V1
Uo
V2
U E (U EE ) I RE U EE 0.7 RE
RE -UEE
故有
I C1Q I C 2Q I E1Q I E 2Q 1 I 2
4.3.1(b)
41
集成电路中多路镜像电流源的实现
UCC
V1 Rr Ir IC1 IC2 IC3 R r Ir V2 UCC V3 IC2 IC3
(a)三集电极横向PNP管电路
(b)等价电路
图4―5多集电极晶体管镜像电流源
42
三、比例电流源
UCC Ir Rr IB1 V1 IE1 - + UBE1 IB2 + UBE2 - R2 V2 IE2 IC2
模电第四章1
1
4.1 放大电路的频率响应和频率失真
前几章的讨论中,我们把放大器的增益看作 是与频率无关的参量,但实际上: (1)待放大的信号不一定是单一频率的,而是有 一定的频率范围。如公众电话网语音信号频带宽 的:300 ~ 3400 Hz;视频信号:25Hz~6MHz。 (2)实际的放大器中存在电抗元件(管子的极间 电容:Cb’e,Cb’c,以及电路的耦合电容,分布电 容引线电感等)使得放大器对不同频率的信号放 大倍数和延迟时间不同。
′ RL
c +
rbe ′
rce
RC
. RL U o -
e
高频区小信号等效电路。
14
波特图
15
16
4.2晶体管的高频小信号模型和高频参数 4.2.1晶体管的高频小信号模型
b . Ib rbb ′ rbe ′ Cbe ′ . Ube ′ b′ Cbc ′ gm Ube ′ rce . Ic c
e
图5―4 晶体管的高频小信号混合π等效电路
2
由此产生的波形畸变称为频率失真,属于线性失真。 振幅频率失真:由于放大倍数随频率变化而引起 的失真。(对不同谐波的放大能力不同) 相位频率失真:放大器对不同频率分量信号的延 迟不同所引起的失真。
3
4
线性失真与非线性失真的比较
项 目 线性失真 非线性失真
起 因
模电第四章 场效应晶体管及其放大电路
。 ID 0
2. 分压式偏置电路
U GS
UG
US
RG2 RG1 RG2
VDD
I D RS
适当选择 RG1或 RG2 值,就可 获得正、负及零三种偏压。图 中 RG3 阻值很大,用以隔离 、
对信R号G1 的R分G2 流作用,以保持高 的输入电阻。
图4-10
静态分析也可以采用公式估算法,并在实ห้องสมุดไป่ตู้应用时,
第四章
场效应晶体管及其放大电路
1
4.1 单极型晶体管 4.2 场效应管基本放大电路 4.3 应用电路介绍
简介
场效应管属于另一种半导体器件,尤为突出的 是:场效应管具有高达107~1015的输入电阻,几乎 不取用信号源提供的电流,因而具有功耗小、噪声 小、体积小、抗幅射、热稳定性好、制造工艺简单 且易于集成化等优点。
为负值,漏源电压为正值。
在漏源电压 uDS 作用下,形成了漏极电流 iD 。栅源电压 uGS 增 大时,导通沟道变窄,从而在一定的uDS 作用下iD 变小。所以, 改变 uGS 也可实现对 iD 的控制。
当 uGS 增大到一定值时,导通沟道被夹断,此时iD 0 。
夹断时的栅源电压用 U 表示。 GS(off)
图4-8为N沟道结型场效应管转移特性曲线。当 U GS 时, U GS(off) 沟道被夹断, iD; 0 减uG小S , 增大iD ; UG时S 的0 漏极电流为 零偏漏极电流 。I D对SS于P沟道管子来说, U为GS正(off)值。
模拟电路第四章习题解答
路相同,并重复步骤(2)-(5);
VCC
Rc1 Rc2
VO
c1
c2
VO1 VO2
vi1
T1
T2
vi2
Re1 Re2 r0
VEE
I0
图 P4.9 差分放大电路 解:(1)求电路的静态工作点;
利用 Multisim 的直流工作点分析功能测量电路的静态工作点,结果如下:
b、输出幅度;
[VEE Vo6 ,VCC Vo7 ]
c、系统输入失调电压;假设满足式 (W/L)3 (W/L)4 (W/L)5 ; (W/L)6 (W/L)6 2(W/L)7
在器件匹配良好的情况下,输入失调电压为 0 d、共模抑制比;
1
Байду номын сангаас
1 2gm3ro5 gm3 / gm1
CMRR
Av1
e、共模输入范围;
vi 1mHz 1V
C1
R1 100KΩ
10uF
+ U1
R5 1KΩ
R2 10KΩ R3 1KΩ
-
U2
vo
+
R4 2KΩ
图 P4.8 解:U1 组成积分电路,U2 组成比例放大电路。
vi 1mHz 1V
C1
R1 100KΩ
模电第4章小结
变化的ID使得MOS工作不稳定
4.5.2源极接电阻的固定VG偏置
VDD RD
RG1
VG RG2
iD iD
iG
RS
RS的反馈使得ID的变化减小了
VGS的变化对ID的影响较小 单电源供电的实际实现电路
可根据以下公式推得,公式1:V
公式2: I
D
G
2
V
GS
R I
S
D
1 2
,
W L
k
n
(V
R o u t ro // R D
S接电阻的CS
R in R G
CG
R in 1 / g m
CD
R in R G
1 gm
1
R out R D
R out R D
R o u t ro //
电压增益:
A v g m ( ro // R D // R L )
AV
第四章 MOS场效应晶体管 (MOSFET)
1
一、MOSFET结构原理
VGS<Vt无沟道:截止 iG=0
G
+
VGS>Vt形成沟道:线性 电阻
iS
S
vGS
-
iD
D
+
vDS
-
随vDS的增加,沟道渐渐 变成锥形,沟道电阻增大 :变阻 当VGD=VGS-VDS<Vt,沟道 被夹断:饱和
模电课件12第四章场效应管
(二)工作原理
(1)导电沟道的形成
uGS >0
uGS增大到某一个值时
反型层是N型半导体层
开启电压UGS(th)
3. 主要参数
(1)夹断电压UGS(off): uGS=0时,-uDS= UGS(off)。
实测时,令uDS为某一固定值(10V),使iD0时,栅 源之间所加的电压, uGS =UGS(off)。
(2)饱和漏电流IDSS: uGS=0,当uDS> |UGS(off)|(10V)
时的漏极电流。
IDSS是JFET能输出的
(7)最大栅源电压BUGS: 输入栅源间PN结的反向电流开始急剧增加的uGS 值。
(8)最大耗散功率PDM: JFET的瞬时耗散功率等于uDS和iD的乘 积,即pD=uDSiD
三、特性曲线
1、转移特性曲线: ID= f( UGS )| UDS = 常数
iD
I DSS (1
uGS UGS(off )
10V D
D 7V
D 0.5V
G -5V
G -3V
G
图(a) S
图(b) S
S
图(c)
作业: P165 4.1(UGS(off)= -4V)
场效应管的分类:
结型FET(JFET): N沟道、P沟道 106~109Ω
MOSFET(IGFET): 1015Ω
电子科技大学模电课件4.4
V 解:直流分析结果为 I DQ 7.97mA, 小信号跨导为 g 2 K (V V )
m n GSQ TN
GSQ
2.91V
=2×4×(2.91-1.5)=11.3mA/V 小信号输出电阻为 1 1 12.5 k r ds
I DQ
0.01 7.97
放大器输入电阻为 Ri R1 // R2=162∥463=120k 小信号电压增益为
V
DD
I DQ Rs
代入数据得 2.30=
300
由此可得
R
5-1.7×1.18
2
1
R
(2)g
m
1
348.8k , R
2144k
2 K n (V GSQ V TN )
2×1×(2.30-1) =2.6mA/V
r
ds
1
I DQ
v g v R
o m gs
s
参照图4.30(b),令其中的 Rg 0 ,去掉 r ds,即为 图4.31的交流等效电路,这里不再重画。
r
ds
1
I DQ
1 100k 0.011
R R // R
i 1
2
70.9 // 29.1 20.6k
Ri 20.6 Av g m (r ds // RD) Ri Rg 1.41 (100// 5) 20.6 4 5.62V
模电第四章答案
第四章 习题解答
4-1 如题4-1图所示MOSFET 转移特性曲线,说明各属于何种沟道?若是增强型,开启电压等于多少?若是耗尽型,夹断电压等于多少? 答:(a )P-EMOSFET ,开启电压()V V th GS 2-=
(b )P-DMOSFET ,夹断电压()Off GS V (或统称为开启电压()V V th GS 2)= (c )P-EMOSFET ,开启电压()V V th GS 4-=
(d )N-DMOSFET ,夹断电压()Off GS V (或也称为开启电压()V V th GS 4)-= 4-2 4个FET 的转移特性分别如题4-2图(a)、(b)、(c)、(d)所示。设漏极电流i D
的实际方向为正,试问它们各属于哪些类型的FET ?分别指出i D 的实际方向是流进还是流出?
答:(a )P-JFET ,D i 的实际方向为从漏极流出。
(b )N-DMOSFET ,D i 的实际方向为从漏极流进。 (c )P-DMOSFET ,D i 的实际方向为从漏极流出。 (d )N-EMOSFET ,D i 的实际方向为从漏极流进。
4-3 已知N 沟道EMOSFET 的μn C ox =100μA/V 2,V GS(th)=0.8V ,W/L=10,求下列情况下的漏极电流:
(a )V GS =5V ,V DS =1V ; (b )V GS =2V ,V DS =1.2V ; (c )V GS =5V ,V DS =0.2V ; (d )V GS =V DS =5V 。 解:已知N-EMOSFET 的()108.0,
模电课件第四章集成运算放大电路
UCEQ1 U BE 3 U BE1 1.4V工作在放大状态
IR
当T1,T2,T3均工作在放大状态时,
各电流之间关系为:
IC
IE3
IC
IR怎么算?
2 2
Io更加稳定
2019/7/28整理后可得 Io 模电2课件 2 2 I R
三、微电流源
晶体管T0是基准管,它的U BEQ 0.7V , UCEQ U BEQ 0.7V ,
第四章 集成运算放大电路
§4.1集成运算放大电路概述 一、集成运放的电路结构特点
集成运算放大电路:高电压放大倍数的直接耦合多级放大电路。
2019/7/28
模电课件
二、集成运放的电路组成
1、输入级:运算放大器的输入级通常是差分放大电路,其主 要功能是抑制共模干扰和温漂,双极型运放中差分管通常采 用CC-CB复合管,以便拓展通频带。 2、中间级:电压放大,要求:放大倍数要尽可能大,通常采 用共201射9/7/2或8 共源电路,并采用恒模电流课源件 负载和复合管以增加电压 放大倍数。
1
IR
2I B1
1
IR
(1
2IC1
)
IC1
1
(1
IR 2
)
当=2时 , 基 本 镜 像 恒 流 值I O
模电第四章之 功率放大电路
OTL 互补对称输出级
4.2.2 OCL 互补对称电路(Output
1.电路的组成
iC1
CapacitorLess)
2.功率和效率分析
UCES
Q VCC
UCES
uCE
图 4.2.5 OCL 互补对称电路
Uom
iC2
负载上最大不失真电压为 Uom=VCC- UCES
(1).输出功率Po
Uom = VCC - UCES
2 1 U 2om (VCC U CES) P om 2 R 2 RL L
(2) 管耗PT
第四章
功率放大电路
4.1 功率放大电路的主要特点
4.2 互补对称式功率放大电路
4.3 实际的功率放大电路 4.4 集成功率放大器
本章重点和考点:
1.重点掌握功放的分类、最大输出电压、最大输 出功率和效率的计算。 2.掌握集成功放的使用。
本章教学时数: 4学时
本章讨论的问题:
1.功率放大是放大功率吗?电压放大电路和功率放大 电路有什么区别?Q点如何设定?
T6
RL
输出级中的T4、T6均为NPN型晶体管, 两者特性容易对称。
模电教学第四章负反馈放大电路
I id
V i
+ -
V
id
V f
并联负反馈,输入端电流求和。
IidIi If 0 虚断 Vi dIi dri 0 虚短
I i
I id
If
+ -
Vid
Vi
I id +
Vid -
Vf
I i
I id
I f
+V id -
4.4.2 深度负反馈条件下的近似计算
例题4:试判断下列电路中引入的反馈是串 联反馈还是并联反馈。
R1
-
vI
+
R5 R3
vO
+
R4 R2
4.3 负反馈对放大电路的影响
• 提高放大倍数的稳定性 • 扩展通频带 • 减少非线性失真 • 对输入电阻和输出电阻的影响
1、提高增益的稳定性
闭环时
AF
A 1 AF
只考虑幅值有
A AF 1 AF
例题3:试判断下列电路中引入的反馈是电 压反馈还是电流反馈。
4.比较方式——串联反此馈时反和馈并信联号反与馈输入信号
串联反馈:反馈信号与输入是信电号压加相在加放减大的电关路系输。入回路
的两个电极。有:vd = vi -vF
并联反馈:反馈信号与输入信号加在放大电路输入回路
的同一个电极。有:
模电课件第四章FET
s
工作原理(3) 3. vDS对iD的影响(假设vGS值固定,
且VP<vGS<0) (a)当漏源电压vDS从零开始增大 时,沟道中有电流iD流过。 VDD
P+ P+
d
(b) 在vDS较小时,iD随vDS增 g 加而几乎呈线性地增加。
(c) 随着vDS的进一步增加, VGG 出现楔形沟道
(d)当vDS增加到vDS=vGS-VP,即 VGD=vGS -vDS=VP(夹断电压)时, 预夹断
放大区
可变电阻区
4
0.5V 1.0V 1.5V
2
2.0V
截止区
vGS VP
0 10 20 v DS / V
JFET转移特性曲线
2. 转移特性 iD f(vGS ) vDS 常 数
(transfer characteristic)
iD
•
• • • •
• I DSS
iD
vGS 0V
D iD
– v + G GS
N+ iD
N+
P
MOSFET工作原理9
(2) vDS对iD的影响 vGS>VT为定值 再继续增大vDS,vGS -vDS<VT夹断点将 向源极方向移动。 由于vDS的增加部分 几乎全部降落在夹断 区,故iD几乎不随vDS 增大而增加,管子进 入饱和区(实际的线 性工作区),iD几乎 仅由vGS决定 。 S
模电课后(康华光版)习题答案4,5,6,8习题
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第四章部分习题解答
4.1.3 某BJT的极限参数ICM=100mA,PCM=150mW,V(BR)CEO=30V,若它的工作电压VCE=10V,则工作电流IC不得超过多大?若工作电流IC=1mA,则工作电压的极限值应为多少?
解: BJT工作时,其电压和电流及功耗不能超过其极限值,否则将损坏。当工作电压VCE确定时,应根据PCM及ICM确定工作电流IC,即应满足ICVCE≤PCM及IC≤ICM。当VCE=10V时,
此值小于ICM=100mA,故此时工作电流不超过15mA即可。同理,当工作电流Ic确定时,应根据ICVCE≤PCM及VCE≤V(BR)CEO确定工作电压VCE的大小。当IC=1mA时,为同时满足上述两个条件,则工作电压的极限值应为30V。
4.3.3 若将图题3.3.1所示输出特性的BJT接成图题3.3.3所示电路,并设VCC=12V,R C=1kΩ,在基极电路中用VBB=2.2V和Rb=50kΩ串联以代替电流源iB。求该电路中的IB、IC和VCE的值,设VBE=0.7V。
图题3.3.1
图题 3.3.3
解: 由题3.3.1已求得β=200,故
模电第4章 FET
VDS VGS
当VGS>VGS(th),且固定为某一值时, VDS对ID的影响, 即ID=f(VDS)VGS=const这一关系曲线如下页图所示。这 一曲线称为漏极输出特性曲线。 10
预夹断轨迹
ID=f(VDS)VGS=const
可变电 阻区
夹断区
漏极输出特性曲线
11
沟道耗尽型MOSFET 二、N沟道耗尽型 沟道耗尽型 N沟道耗尽型MOSFET的结构和符号如图 所示,它是在栅极下方的SiO2绝缘层中掺入了大量 的金属正离子。所以当VGS=0时,这些正离子已经 感应出反型层,在漏源之间形成了沟道。于是只 要有漏源电压,就有漏极电流存在。 当VGS>0时,将使ID进一步增加。VGS<0时, 随着VGS的减小漏极电流逐渐减小,直至ID=0。对 应ID=0的VGS称为夹断电压,用符号VGS(off)表示, 有时也用VP表示。N沟道耗尽型MOSFET的转移 特性曲线如图所示。
第四章 场效应管放大电路
1
4 场效应半导体三极管
一、概述 Field effect transistor 场效应管简称FET。与BJT相比,特点如下: 。 相比, 场效应管简称 相比 特点如下: 1.单极型晶体管,只有一种载流子参与导电。 单极型晶体管,只有一种载流子参与导电。 单极型晶体管 2.电压控制元件。BJT:一定条件下,iC= βiB,而FET , 电压控制元件。 电压控制元件 :一定条件下, 在一定条件下, 只取决于U 在一定条件下,iD只取决于 GS。 3.输入阻抗高。加上UGS,iG≈0,ri高可达上百 几千兆欧。 输入阻抗高。加上 几千兆欧。 输入阻抗高 , 高可达上百~几千兆欧 绝缘栅FET的ri可达 15。 绝缘栅 的 可达10 4.FET比BJT噪声小。 比 噪声小。 噪声小 5.制造工艺简单,芯片面积小,易于集成。 制造工艺简单,芯片面积小,易于集成。 制造工艺简单
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预夹断前iD与vDS呈近似线性关系;预夹断后,iD趋于饱和。
# 为什么MOSFET的输入电阻比BJT高得多?
3. V-I 特性曲线及大信号特性方程 (1)输出特性及大信号特性方程
i D f (v DS ) vGS const.
需验证是否工作在饱和区
2. 动态分析
小信号等效电路 根据静态工作点可求得 gm gm 2Kn (VGSQ VTN )
Cb + Rsi + vs -
Rsi + Rg1‖Rg2 vs - Ri
VDD Rg1 g T d B s vi -
g + vgs- s + vi - d gmvgs Rs rds
Av g R vo m d vi 1 gm R
s
Ri Rg1 || Rg2
Ro Rd
vo vo vi Ri Avs Av vs vi vs Ri Rs
4.5 共漏极和共栅极放大电路
• 4.5.1 共漏极(源极跟随器)放大电路 • 4.5.2 共栅极放大电路 4.5.3 MOSFET放大电路三种组态的总 结和比较
一、直流参数 ① 开启电压VGS(th) (或VT) 开启电压是MOS增强型管的参数,栅源电压小于 开启电压的绝对值, 场效应管不能导通。 ② 夹断电压VGS(off) (或VP) 夹断电压是耗尽型FET的参数,当VGS=VGS(off) 时, 漏极电流为零。 ③ 饱和漏极电流IDSS 耗尽型场效应三极管, 当VGS=0时所对应的漏极 电流。
vGS iD I DO ( 1) 2 VT
# 为什么不谈输入特性?
4.1.2 N沟道耗尽型MOSFET
1. 结构和工作原理简述(N沟道)
二氧化硅绝缘层中掺有大量的正离子 可以在正或负的栅源电压下工作,而且基本上无栅流
2. V-I 特性曲线及大信号特性方程
iD I DSS (1
vGS 2 ) VP
实际上饱和区的曲线并不是平坦的
vGS 2 I ( 1 ) (1 vDS ) i K ( v V ) ( 1 v ) 修正后 D DO n GS T DS VT 0 .1 1 V L的单位为m L
2
当不考虑沟道调制效应时,=0,曲线是平坦的。
2. 衬底调制效应(体效应)
③ 饱和区
(恒流区又称放大区)
vGS >VT ,且vDS≥(vGS-VT)
V-I 特性:
iD Kn ( vGS VT )2
2 K nVT (
I DO (
vGS 1) 2 VT
vGS 1) 2 VT
2 I DO KnVT 是vGS=2VT时的iD
(2)转移特性
i D f (vGS ) vDS const.
电压增益
vi vgs vo vgs gm vgs ( Rs || rds ) vgs [1 gm ( Rs || rds )]
vo Rs
Rg2
vo gmvgs ( Rs || rds )
gmvgs ( Rs || rds ) vo Av vi vgs [1 gm ( Rs || rds )]
1. 结构(N沟道)
通常 W > L
L :沟道长度
W :沟道宽度
tox :绝缘层厚度
符号
剖面图 # 符号中的箭头方向表示什么?
D(Drain)为漏极,相当c;
G(Gate)为栅极,相当b;
S(Source)为源极,相当e。
金属-氧化物-半导体(MOS)场效应管( Metal Semiconductor FET)。分为
N沟道
P沟道
(耗尽型)
P沟道
4.1 金属-氧化物-半导体 (MOS)场效应管
• • • • • 4.1.1 4.1.2 4.1.3 4.1.4 4.1.5 N沟道增强型MOSFET N沟道耗尽型MOSFET P沟道MOSFET 沟道长度调制等几种效应 MOSFET的主要参数
4.1.1 N沟道增强型MOSFET
三、极限参数
1. 最大漏极电流IDM
2. 最大耗散功率PDM 3. 最大漏源电压V(BR)DS
4. 最大栅源电压V(BR)GS
4.2 MOSFET基本共源极放大电路
• 4.2.1 基本共源极放大电路的组成 • 4.2.2 基本共源放大电路的工作原理 • 4.2.3 放大电路的习惯画法和主要分析法
验证是否满足 VDS
(VGS VT )
再假设工作在可变电 阻区 即 VDS (VGS VT )
I D 2Kn ( vGS VT ) vDS VDS VDD I D Rd
如果不满足,则说明假设错误
例:设Rg1=60k,Rg2=40k,Rd=15k, VDD=5V, VT=1V, Kn 0.2mA / V 2 试计算电路的静态漏极电流IDQ和漏源 电压VDSQ 。 解: VGSQ
(3) vDS和vGS同时作用时
vDS一定,vGS变化时 给定一个vGS ,就有一条不 同的 iD – vDS 曲线。
以上分析可知
沟道中只有一种类型的载流子参与导电,所以场效应管也称 为单极型三极管。 MOSFET的栅极是绝缘的,所以iG0,输入电阻很高。
MOSFET是电压控制电流器件(VCCS),iD受vGS控制。
Oxide
沟道
增强型 :当VGS=0时,不存在导电沟道 N沟道、P
耗尽型:当VGS=0时,存在导电沟道 N沟道、P沟道
2. 工作原理
(1)vGS对沟道的控制作用
当vGS=0时 无导电沟道, d、s间加电压时, 也无电流产生。 当0<vGS <VT 时 产生电场,但未形成导电沟道 (感生沟道),d、s间加电压后,没 有电流产生。 当vGS≥VT 时 在电场作用下产生导电沟道,d、 s间加电压后,将有电流产生。 vGS越大,导电沟道越厚
4.5.1 共漏极(源极跟随器)放大电路
1. 静态分析
设MOS管工作于饱和区
I DQ Kn (VGSQ VTN )2
VGSQ Rg2 Rg1 Rg2 VDD I DQ Rs
Rsi + vs - vi - Rg2 Cb + s Rs vo Rg1 g T VDD d B
VDSQ VDD I DQ Rs
VT 称为开启电压
(2)vDS对沟道的控制作用
当vGS一定(vGS >VT )时, vDS iD 沟道电位梯度 靠近漏极d处的电位升高 电场强度减小 沟道变薄 整个沟道呈楔形分布
当vDS增加到使vGD=VT 时, 在紧靠漏极处出现预夹断。
在预夹断处:vDS=vGS- VT
预夹断后,vDS 夹断区延长 沟道电阻 iD基本不变
iD Kn ( vGS VT )2 Kn (VGSQ vgs VT )2 Kn [(VGSQ VT ) vgs ]2
2 Kn (VGSQ VT )2 2Kn (VGSQ VT )vgs Kn vgs 2 I DQ g m vgs Kn vgs
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4.1 金属-氧化物-半导体(MOS)场效应三极管 4.2 MOSFET基本共源极放大电路 4.3 图解分析法 4.4 小信号模型分析法 4.5 共漏极和共栅极放大电路 4.6 集成电路单级MOSFET放大电路 4.7 多级放大电路 4.8 结型场效应管(JFET)及其放大电路 *4.9 砷化镓金属-半导体场效应管 4.10 各种FET的特性及使用注意事项
场效应半导体三极管是仅由一种载流子参与导电 的半导体器件,是一种用输入电压控制输出电流的半 导体器件。从参与导电的载流子来划分,它有电子作 为载流子的N沟道器件和空穴作为载流子的P沟道器件。
场效应管的分类:
增强型 MOSFET (IGFET) 绝缘栅型 JFET 结型
N沟道
P沟道
FET 场效应管
耗尽型 N沟道
当温度升高时,对于给定的VGS,总的效果是漏极电 流减小。
4. 击穿效应
(1)漏衬击穿
外加的漏源电压过高,将导致漏极到衬底
的PN结击穿。
(Hale Waihona Puke Baidu)栅极击穿
若绝缘层厚度tox= 50 纳米时,只要约30V的 栅极电压就可将绝缘层击穿,若取安全系数为 3,则最大栅极安全电压只有10V。
4.1.5 MOSFET的主要参数
Rg2 VDD 40 5V 2V Rg1 Rg2 60 40
假设工作在饱和区
I DQ Kn (VGS VT )2 (0.2) (2 1)2 mA 0.2mA
VDSQ VDD I D Rd (5 0.2 15)V 2V
满足 VDS (VGS VT )
假设成立,结果即为所求。
(2)带源极电阻的NMOS共源极放大电路
VGS VG VS
[ Rg2 Rg1 Rg2 (VDD VSS ) VSS ]
( I D R VSS )
饱和区
I D Kn (VGS VT )2
VDS (VDD VSS ) I D ( Rd R)
解:例5.2.2的直流分析已 求得:I DQ 0.5mA VGSQ 2V
VDSQ 4.75V
s
gm 2 K n (VGSQ VT ) 2 0.5 ( 2 1)mS 1mS
vo g m vgs Rd
vi vgs ( g m vgs )R vgs (1 g m R)
① 截止区
当 vGS < VT 时,导电沟 道 尚 未 形 成 , iD = 0 , 为截止工作状态。
② 可变电阻区
vDS≤(vGS-VT)
rdso
dvDS diD
vGS 常 数
1 2K n ( vGS VT )
rdso是一个受vGS控制的可变电阻 式中Kn为电导常数,与场效应管的沟道长度,和 宽度等参数有关,单位为mA/ V2。
④ 输入电阻RGS 场效应三极管的栅源输入电阻的典型值,对 于结型场效应三极管,反偏时RGS约大于107Ω,对于 绝缘栅型场效应三极管, RGS约是109~1015Ω。 二、交流参数 低频跨导gm 低频跨导反映了栅压对漏极电流的控制作用, 这一点与电子管的控制作用相似。gm可以在转 移特 性曲线上求取,单位是mS(毫西门子)。
需要验证是否满足
VDS (VGS VT )
(3)电流源偏置共源极放大电路 静态时,vI=0,VG =0,ID =I
I D Kn (VGS VT )2 (饱和区)
VS = VG - VGS
电流源偏置
2. 图解分析
由于负载开路,交流负载线与直流负载线相同
3. 小信号模型分析 (1)模型
静态值 (直流)
动态值 (交流)
非线 性失 真项
当vgs<< 2(VGSQ- VT )时,
iD I DQ gm vgs IDQ id
0时
iD I DQ gm vgs I DQ id
id g m vgs
式中gm=2Kn(VGS-VT)
高频小信号模型
(2)放大电路分析(例5.2.5)
vGS iD I DO ( 1) 2 (N沟道增强型) VT
4.1.3 P沟道MOSFET
# 衬底是什么类型的半导体材料?
# 哪个符号是增强型的? # 在增强型的P沟道MOSFET 中,vGS应加什么极性的电压才 能工作在饱和区(线性放大区)?
4.1.4 沟道长度调制等几种效应
1. 沟道长度调制效应
4.2.1 MOSFET放大电路
1. 直流偏置及静态工作点的计算 (1)简单的共源极放大电路(N沟道)
共源极放大电路
直流通路
VGS
Rg2 Rg1 Rg2
VDD
须满足VGS > VT ,否则工作在截 止区 假设工作在饱和区,即VDS
I D Kn (VGS VT )2
VDS VDD I D Rd (VGS VT )
衬底未与源极并接时,衬底与源极间的偏压vBS将影响实际的开 启(夹断)电压和转移特性。
为保证导电沟道与衬底之间的PN结反偏,要求:
N沟道: vBS 0 P沟道: vBS 0
通常,N沟道器件的衬底接电路的最低电位,P沟道器件的
衬底接电路的最高电位。
3. 温度效应
VTN和电导常数Kn随温度升高而下降,且Kn受温度的 影响大于VTN受温度的影响。