LCD 的 mura 介绍及资料
Mura 产生原因
Symptom：LC not full Description： 1.各種畫面或不需驅動即可看到Panel注入 口處對側局部變黑。 2. 無畫面(完全無液晶)。
Defect photo：
Defect photo：
Updated：4/1/2015 Printed Date：4/1/2015 Rev.1.0
Page: 18
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各種 Mura
Symptom：Ring Mura Description：一圈圈均勻的色差圓。
Symptom：Row Mura Description：50%gray畫面水平方向線狀 mura。 Defect photo：
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各種 Mura
Symptom：Twill lines or rubbing line Description：區域性斜線。 Defect photo：
Symptom：Vertical Mura Description：Driver IC與TFT匹配問題。
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Defect photo：
Updated：4/1/2015 Printed Date：4/1/2015 Rev.1.0
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Symbol of Quality
Thank You
Updated：4/1/2015 Printed Date：4/1/2015 Rev.1.0
mura产生原理
mura产生原理Mura产生原理Mura是指液晶显示器中出现的亮度不均匀现象，即屏幕上出现了黑暗或亮度不一致的区域。
这种现象通常是由于液晶显示器制造过程中的不完美或外部环境因素引起的。
下面将从液晶显示器的结构、液晶分子排列和电场作用等方面介绍Mura产生的原理。
液晶显示器是由多个液晶单元组成的，每个液晶单元包含一个液晶分子层和两个电极。
液晶分子层是一种有机化合物，具有一定的电介质特性。
当外加电场作用于液晶单元时，液晶分子会发生排列，从而改变光的传播方式，实现图像的显示。
然而，由于制造过程中的一些影响因素，液晶显示器中的液晶分子排列不可避免地会出现一定程度的不均匀性。
这就是导致Mura现象的一个重要因素。
液晶分子排列的不均匀性主要表现为以下几个方面：1. 液晶分子方向不一致：液晶分子在不同区域的方向可能存在微小的差异，导致光的传播方向也不一致，从而在屏幕上形成亮暗不均的区域。
2. 液晶分子排列密度不均匀：液晶分子排列的密度不均匀也会导致光的传播方式不同。
在某些区域，液晶分子排列较为紧密，光的透过率较低，而在其他区域，液晶分子排列较为疏松，光的透过率较高，从而形成明暗差异。
3. 液晶分子层厚度不一致：液晶分子层的厚度不一致也会导致Mura现象的出现。
液晶分子层厚度的不均匀性会引起光的相位差，进而影响光的干涉和衍射效应，使得屏幕上出现光强不均的现象。
除了液晶分子排列的不均匀性，Mura现象还受到其他因素的影响，例如背光源的不均匀性、温度的变化等。
背光源的不均匀性会导致液晶显示器的亮度不一致，从而形成Mura现象。
而温度的变化会引起液晶分子的扭曲和展开，进而影响液晶分子的排列和光的传播。
为了解决Mura现象，制造商会采取一些措施。
例如，通过优化液晶分子的配方和制造工艺，减小液晶分子的方向和密度的不均匀性。
此外，还可以通过改进背光源的设计和温控系统，减少背光源和温度对Mura现象的影响。
总结起来，Mura现象是液晶显示器中常见的一种亮度不均匀现象。
Mura产生原因解读
Updated ：10/19/2018 Printed Date ：10/19/2018 Rev.1.0
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ND的使用
使用10% ND檢 驗Mura仍清楚 可見
使用8% ND檢 驗Mura較不 明顯
使用6% ND檢 驗Mura不可見
Updated ：10/19/2018 Printed Date ：10/19/2018 Rev.1.0
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Mura的判定
? Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫 面判定，其judge的方式可採用 limit sample or ND filter。
? ND Filter--ND為在可見光波常範圍下能提供相當穩定平穩的響應， 主要功能在於降低光源之透光率。
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Mura 的成因
為何會有Mura產生—就LCD製程而 言
? Cell gap—cell gap的不均，偏高或偏低階會造成mura 的現象。
? Spacer—spacer散佈的均勻性及spacer本身原材料的均 勻性都有可能影響mura的產生。
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Mura 的成因
為何會有Mura產生—就CF製程而言
? 膜厚—因為膜厚的Coating不均，導致產 生色不均之現象。
? Coating—光阻於coating時若噴嘴有阻塞 的情況，即會造成vertical mura。
Updated ：10/19/2018 Printed Date ：10/19/2018 Rev.1.0
Mura产生原因
Updated：11/20/2018 Printed Date：11/20/2018 Rev.1.0
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就人為因素而 言
不當拿取—因拿取Panel方式不當，手指按壓到面板的 力量過大，易造成丸狀mura。
使用8% ND檢 驗Mura較不 明顯
使用6% ND檢 驗Mura不可見
Updated：11/20/2018 Printed Date：11/20/2018 Rev.1.0
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各種Mura
Updated：11/20/2018 Printed Date：11/20/2018 Rev.1.0
Symptom：Diagonal Mura Description：50%灰階畫面可看見斜向帶 狀Mura。 Defect photo：
Defect photo：
Updated：11/20/2018 Printed Date：11/20/2018 Rev.1.0
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Defect photo：
Defect photo：
Updated：11/20/2018 Printed Date：11/20/2018 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom：Corner Mura Description：5%&50% gray scale pattern 可見角落處mura。
mura测试中色度计的作用
Mura 测试方案1.液晶缺陷1)Zara—漏光，漏光就是屏幕液晶跟框架吻合不紧密导致灯管光直接透射出来。
2)Zure—错误对位，指液晶屏的滤光单元与TFT对位出现错误导致的缺陷3)SIMI—基板上有污渍4)Mura—是指显示器亮度不均匀造成各种痕迹的现象，最简单的判断方法就是在暗室中切换到黑色画面以及其它低灰阶画面，然后从各种不同的角度用力去看，随着各式各样的制程瑕疵，液晶显示器就有各式各样的mura。
以上各种缺陷，Mura是最难以检测的，因为它是光学，色度学以及人类心理学的一个结合体。
2.Mura定义：mura本来是一个日本字, 随着日本的液晶显示器在世界各地发扬光大, 这个字在显示器界就变成一个全世界都可以通的文字。
mura是指显示器亮度不均匀, 造成各种痕迹的现象。
最简单的判断方法就是, 在暗室中切换到黑色画面, 以及其他低灰阶画面. 然后从各种不同的角度用力去看, 随着各式各样的制程瑕疵, 液晶显示器就有各式各样的mura. 可能是横向条纹或四十五度角条纹, 可能是切得很直的方块, 可能是某个角落出现一块, 可能是花花的完全没有规则可言, 东一块西一块的痕迹.《液晶显示器件第2-2-4部分：手机用彩色矩阵液晶显示模块详细规范》指出，云纹（Mura）应该在6%中性密度滤光镜遮盖后不可见，或对照标准样本。
然而，液晶面板的质量判定大部分是采用专业训练人员以人眼检测，隐含人类视觉限制、训练程度及主观认定等因素，容易产生不可靠的判定结果，成为生产者与消费者之间的争议，故厂商积极发展机器视觉的检测架构。
3.Mura测试与量化SEMI针对Mura测试建立了一个标准。
•定义：JND — Just Noticeable Difference•公式：•C jnd是mura 缺陷最小可觉察的对比度差异•S jnd为C jnd下的mura 缺陷面积。
可见，每一个S jnd都有一个固定的C jnd对应。
S jnd与C jnd是递减关系，面积越大，人眼对对比度低的mura更敏感。
LCDMura现象与量化
显示屏Mura定义与量化分析TFT-LCD（Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display）从一问世起，就受到了人们的广泛关注。
与传统的CRT（Cathode Ray Tube）显示器相比，它除了具有高分辨率、高亮度和无几何变形等诸多优点外，还具有体积小、重量轻和功耗低等特点。
因此，TFT-LCD 被广泛应用于数码照相机、数码摄像机、车载显示器、桌上显示器、笔记本电脑和液晶电视等几乎所有的显示器领域[1]（如图1-1 所示）。
TFT-LCD 屏的缺陷检测主要有三个目的。
第一，淘汰那些不合格的产品。
第二，为修复某些类型的缺陷提供依据。
第三，分析缺陷的特点和产生原因以提高生产工艺水平。
目前，TFT-LCD 屏的缺陷检测方法主要包括电学方法和光学方法两大类。
一般来讲，电学方法可以识别那些电气缺陷所引起的点缺陷和线缺陷，但是对于化学污染等非电气原因造成的mura 缺陷，电学方法就显得无能为力了[4]。
为此，近年来基于机器视觉的光学检测技术成为了研究的热点，并针对具体的缺陷类型提出了一些检测方法或判别标准。
空间相关法空间相关法适用于点缺陷和线缺陷的检测[5]。
其原理如图1 所示。
依据该算法，首先用一个摄像机（例如CCD）对被测液晶屏进行图像采集。
然后，将摄取的图像与经过移位一个像素的图像做相关运算。
如果存在像素缺陷（线缺陷），则相关图像中只有缺陷像素（线）作为检测信号被检出；如果不存在像素缺陷（线缺陷），则相关结果无输出信号。
假设原始图像信号记为C ，右移一个像素的图像信号记为R ，而左移一个像素的图像信号记为L ，相关运算的结果为Φ= R + L - 2C其中Φ表示相关信息。
图1：空间相关法原理图空间相关法利用邻像素的空间相关性进行像素缺陷检测，所以该方法可以把噪声、不均匀的背光源和液晶屏的其它固有缺陷等因素所引起的图像不均匀性的影响降到最低。
Muralook 检测算法从1991 年起，Photon Dynamics 的William K.Pratt 等人就开始研究mura 缺陷的检测系统，并且在大量应用知识的基础上，于2000 年左右在《Automatic blemish detection in liquid crystal flat paneldisplays》一文中首次提出了Muralook 检测算法[6]。
LCD常见不良检查条件判定标准介绍版本
4
Waste Elimination by All Employees !
2 / 12
LCD 不良现象介绍及检查方法
不良名
NO 大分类
小分类
1
Low luminance
（亮度低）
2
B/L
3
B/L Off (背光不亮）
LCD 不良现象介绍及检查方法
不良名
NO 大分类
小分类
1
water mura
(水渍mura)
2
Mura
3
cloud mura (云状mura/白斑)
ripple mura (水波纹)
不良现象
挑战 883！
不良现象介绍以及检测方法
在灰阶(127gray)画面下屏上有像水一样 mura,一般是长时间使用后出现 判定标准:不可见为合格 （LPL）
6
Cosmetic
Lamp Defect (灯管线不良)
判定标准:屏组装前发现不良判厂家来 料不良,组装后发现判作业不良.
7
Other Mechanical Defect （其他不良）
屏幕划伤,铁框变形,PCB 破损等
判定标准:屏组装前发现不良判厂家来 料不良,组装后发现判作业不良.
8
Waste Elimination by All Employees !
5 / 12
挑战 883！
不良现象介绍以及检测方法
在全黑画面下发光的点,用放大镜看是 满像素格常亮的 判定标准：按照IIS判定(ZBD和NON-ZBD)
在全白画面下像素格不发光或者发光亮 度比较暗。 判定标准：按照IIS判定
在全黑画面下可发现发光细小彩色点， 每个点发光面积小于1/2sub-pixel(一 般由CELL内部异物引起) 判定标准：正常照度（200~500Lux)下 个数小于5个，30cm外肉眼不可见
push mura原理
push mura原理
Push-mura原理是一种减少液晶显示器中矩阵式液晶单元之间
亮度非均匀度（Mura）的技术。
Mura指的是显示器屏幕上出
现的亮度不均匀的现象，可能是由于液晶材料的不均匀分布、电场的不均匀或封装过程中的误差等造成的。
Push-mura原理可以通过施加恒定的电场脉冲来产生电荷驱动
的变色液晶材料的变色现象，从而使得液晶单元的亮度变均匀。
具体来说，Push-mura技术利用了电荷驱动模式下液晶材料的
非线性光学特性。
通过调整施加到液晶单元上的电场脉冲的强度和时间，可以调节液晶材料的偏振转换特性，以实现亮度的均匀分布。
通过Push-mura技术，液晶显示器在生产过程中可以经过一系
列的测试和校准，以消除或减小Mura现象的出现。
这样可以
提升液晶显示器的显示质量，使得画面更加均匀、清晰、细腻。
mura补偿原理
mura补偿原理
MURA是指液晶面板在制造过程中所产生的不均匀性，导致
显示屏在显示画面时出现不均匀的亮度、色彩等现象。
MURA补偿原理是通过调整液晶显示面板的电压和光栅结构，以消除或减小MURA现象的方法。
MURA补偿原理主要包括以下几个方面：
1.电压分配补偿：根据液晶面板上各个像素单元的电压特性，
对电压进行精确分配，以消除不同区域之间的亮度差异。
通过调整电压曲线，使得所有像素单元的亮度尽量趋于一致。
2.光栅结构调整补偿：通过调整液晶分子的排列方式和光栅结构，使得光线在液晶面板上的传输更加均匀。
这样可以减小或消除因光线传输不均匀而导致的MURA现象。
3.背光源调整补偿：背光源是液晶显示屏的主要光源，其均匀
性直接影响显示效果。
通过调整背光源的亮度、色温等参数，以达到均匀照明液晶面板的效果。
通过以上方法的组合应用，可以有效地减小或消除MURA现象，提高液晶显示屏的显示品质。
彩色滤光片外观Mura简介
彩色滤光片外观 Mura简介摘要：彩色滤光片（Color Filter）是LCD液晶显示器的重要部件之一，其生产过程中外观Mura管控是品质质量管控的重要环节。
本文针对彩色滤光片外观mura的形貌、产生原因分析及处理对策简单介绍，本文介绍只针对Macro设备（宏观检查机）内不同光源下肉眼观察外观不良，可以对显示行业或者半导体行业的外观品质管控提供参考借鉴。
关键词：彩色滤光片；外观MURA前言：彩色滤光片是LCD颜色产生的重要部件，通过光的三原色（RGB）加法混合原理显示颜色。
三原色叠加能形成1670万种色彩，色彩有三种特性：明亮、色度、彩度。
本文介绍的mura则对明亮度有很大的影响，外观mura指的是显示器亮度不均、造成各种痕迹的现象。
Mura的产生影响CF的品质及客户的满意度。
文章主要介绍四种外观不良：点状、线状、膜面污染及镀膜色差。
一、点状Mura下面简单介绍五类CF场内常见的点状mura。
一、Stage Pin MURA一般是设备机台上有异物导致，整面大板位置固定，常见设备是涂布机和曝光机，如果是连续发生和涂布机Stage关联较大，而曝光机Stage上异物产生点状MURA不良会呈奇偶分布，背白灯光下可见，绿灯下观察形态似山丘，随着光源移动光晕会呈现大小变化；设备平台上沾附异物灰尘或者清洁作业时带入或者异常基板流片是带入等。
二、Lift Pin MURA常见设备有VCD和HPCP，呈现片间差异性，上白灯和上钠灯光源下外观检查可见，呈圆点状有规律等间距排布，存在设备单元集中性，主要原因是光阻未固化前VCD真空和HP预烘烤对玻璃基板造成影响。
三、手指纹mura一般是显影机腔室内显影液滴落导致，分布无规律，macro外观上白、上钠、绿灯、手持荧光灯均可见发亮不规则状或者类似拇指按压状。
四、背污mura一般是基板在传输过程中与滚轮摩擦产生的不良。
常见设备有显影机和清洗机。
绿灯下可见发亮。
五、光阻残MURA 导致光阻残出现的设备比较多且不规则、位置也不固定。
Mura
全面性Mura的成因
成因：1. LCD受到外力施壓，使得該區域內的Cell Gap改變 ，造成LCD有全面性的Mura。 2. 環境因素(溫度，溼度)造成B/L的光學膜片翹曲。 驗證方式：1. 偏光板、B/L外觀是否有傷痕？ 若有傷痕則可能為外力所造成之。 2. 機構是否干涉？ 將LCD拆下，Mura的現象是否有減輕？若有 減輕則可能為機構干涉所造成的。 3. 超過LCD的保存環境條件。 過熱或過濕的環境容易造成B/L的光學膜片翹 曲。
指壓漏光
於黑色畫面指壓後可見偏白區塊現象
2013/7/16
TFT事業部桃園二廠模組製造廠
6
Mura的再現
Mura類不良均可被CPT各檢查站給篩選下來，後續仍 發現的Mura類不良可視為Mura的再現。依Mura再現的 區域大小分為兩類： 於白畫面、黑畫面或中間調畫面有 點狀或條狀的Mura。
於白畫面、黑畫面或中間調畫面有 全面性（大區域）的Mura。
檢查後Mura再發探討
1
何謂Mura？
Mura一詞來自日文的「」，其意義為描述 LCD顯示面有輝度或色度不均勻的現象，亦稱做 「不均」。
於CPT廠內，各製程檢查站會利用各種檢查畫面 將Mura不良篩選出來。
2013/7/16
TFT事業部桃園二廠模組製造廠
2
Mura的種類
於CPT各製程檢查站，較常見的Mura類不良：
2013/7/16
TFT事業部桃園二廠模組製造廠
7
點狀或條狀Mura的成因
成因：1. LCD受到外力施壓，使得該區域內的Cell Gap改變 ，因而造成LCD有點狀或條狀的Mura。 →黑GAP，SPACER打痕 2. B/L遭受外力，使得B/L顯示區域產生點狀或條狀 的不均現象。 →B/L白點 驗證方式：1. 出現Mura處的偏光板是否有傷痕？ 2. B/L外觀是否有受損？ 若出現傷痕則可能為外力施壓所造成之。 3.模組背板與機構是否有干涉，干涉點可能產 生B/L白點不良。
VCOM与框形Mura
製造-G6Plant不對稱電壓對液晶的影響單位：製造營運中心G6廠日期：2015.08.27製造-G6Plant P .2液晶驅動的原理液晶是極性材料，靠電位差驅動。
直流電壓下操作過久易產生一個無法消散的內部電場，在畫面切換時，會造成image sticking. 所以，LCD才會有Frame/Line/Row/Dot inversion 的趨動方式。
內部電場是由電荷殘留所引起，會破壞PI與降低液晶壽命。
+++++-----正常驅動下的液晶製造-G6Plant P .3不對稱電壓對面板的影響方波的電壓對稱時，電極不會累積電荷，亦無內電場干擾。
當電壓不對稱時，電極會吸引電性相反的電荷，導致內電場產生。
內電場除了干擾正常電場，產生flicker，電極上吸附的電荷，也會在外部電場消失後，持續驅動液晶，導致image sticking.VcomVdataVcom Vdata Vcom Vdata ++++----+++++-----+++++-----製造-G6Plant P .4脫除PI表面電荷液晶超過澄清點(Tc) 時，會變成液體，此時的流動性較高。
透過高溫，將吸附在PI表面的電荷脫除，再利用高溫擾動的液晶，將電荷分散/中和，如此可達到消除LCD面板內電荷的目的。
++++----製造-G6PlantP .5為何會呈現框形面板在設計上，四周有框膠，框膠底下仍有元件，但與面內不同。
推測應該是框膠產生的電容，在不對稱的電壓下，有抵銷電荷吸附的效果，所以靠近框膠邊緣的顯示較正常(黑畫面下比較黑)。
不對稱電壓下，即使驅動不超過1分鐘，切換棋盤格畫面時，異常驅動的地方就會有嚴重的image sticking現象產生。
客退品FOG 點燈FOG 調整VCOM。
Mura产生原因解读
Defect photo：
Updated：4/11/2021 Printed Date：4/11/2021 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom：Circle Mura
Description：可分較畫面深的黑丸mura及 較畫面淡的白丸mura。
不當拿取—因拿取Panel方式不當，手指按壓到面板的 力量過大，易造成丸狀mura。
Updated：4/11/2021 Printed Date：4/11/2021 Rev.1.0
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Mura的判定
Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫 面判定，其judge的方式可採用limit sample or ND filter。
造成mura的原因：【1】CF製程
【2】TFT製程
【3】LCD製程
【4】LCM製程
Updated：4/11/2021 Printed Date：4/11/2021 Rev.1.0
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就CF製程而言
膜厚—因為膜厚的Coating不均，導致產 生色不均之現象。
Stage—因機台stage吸力過大而造成吸附後形成stage mura ， 或stage的平整度不佳當經過製程機台後， 亦 有可能產生相關性的mura。
Updated：4/11/2021 Printed Date：4/11/2021 Rev.1.0
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液晶的mura介绍及资料
• Defect photo：
• Defect photo：
各種 Mura
• Symptom：Corner Mura
• Description：5%&50% gray scale pat tern 可見角落處mura。
• Symptom：Diagonal Mura
Description：位置於邊框四周或任一 側色差。
• Defect photo：
Defect photo：
各種 Mura
• Symptom：Circle Mura
• Description：可分較畫面深的黑丸mu ra及較畫面淡的白丸mura。
• Symptom：Cloud Mura • Description：局部區域雲狀不均。
Mura的成因
為何會有Mura產生—就LCD製程 而言
Cell gap—cell gap的不均，偏高或偏低階會造成m ura的現象。
Spacer—spacer散佈的均勻性及spacer本身原材料 的均勻性都有可能影響mura的產生。
Roller—因機台roller的壓力過大或是roller上沾附 異物，造成panel經過roller後而產生丸狀或條狀m ura。
• Mura的產生理由主要是因為視覺上對於感受 到的光源有不同的頻率響應而感覺到顏色的差 異。
• 造成mura的原因：【1】CF製程 【2】TFT製 程 【3】LCD製程 【4】LCM製程
為何會有Mura產生—M就uraC的F成製因程而 言
• 膜厚—因為膜厚的Coating不均，導致 產生色不均之現象。
Mura Introduction
LCD的mura介绍及资料
02
Mura产生的原因
材料原因
液晶材料
液晶材料的特性是影响Mura的重要因素。液晶分子的排列、取向和流动性等 特性，可能导致光线散射和干涉，从而产生Mura现象。
彩色滤光片
彩色滤光片的颜色不纯或厚度不均，可能导致光线散射或干涉，进而产生Mura 现象。
工艺原因
像素制作
像素制作过程中，如果像素结构 不均匀或尺寸不精确，可能导致 光线散射或干涉，从而产生Mura 现象。
优化物流管理
通过合理的库存管理和物流安排，可以确保原材料和半成 品的质量稳定，进一步降低Mura的风险。
05
Mura的案例分析
案例一
总结词：亮度不均
详细描述：某品牌手机LCD屏幕出现明显的亮度不均，表现为屏幕中央区域比四周亮，影响用户观看 体验。
案例二
总结词：色彩偏差
详细描述：某品牌电视LCD屏幕出现色彩偏差，表现为屏幕不同区域颜色不一致，影响画面整体效果。
现象的严重程度。
Mura的等级划分
轻微Mura
LCD屏幕亮度、色彩和对比度的不均匀性较小，人眼不易察觉。
中等Mura
LCD屏幕亮度、色彩和对比度的不均匀性较为明显，但不会对正常 观看产生明显影响。
严重Mura
LCD屏幕亮度、色彩和对比度的不均匀性较大，人眼能够明显感知， 且可能对正常观看产生干扰或影响。
04
Mura的改善方法
材料改善
选择高品质的原材料
使用高纯度、高均匀性的液晶材料和 其他关键组件，可以降低Mura出现的 概率。
优化配比
通过对原材料的配比进行精细调整， 可以改善液晶的流动性和取向，从而 减少Mura。
工艺改善
1 2
改进涂布工艺
mura概念
mura概念
Mura：在同一光源且相同底色的画面下，因视觉感受到不同程度的颜色差异称之为Mura，广泛地表现各种画面的不均匀情况，只要在显示画面需要均匀的时候，观察到不均匀的现象，便使用Mura来称呼这种不均匀的现象。
由于Mura是一个广泛称呼，有各种现象与对应的发生原因。
1. CF制程
膜厚-因为膜厚的Coating不均，导致产生色不均匀的现象
2. TFT制程
Over-lap-TFT的主要构成为层与层之间的关关相连，如果某一层中有Shift的情况发生，就会产生异常，可能影响TFT的特性而造成Mura 3. LCD制程
Cell gap-cell gap的不均，偏高或偏低阶会造成Mura的现象Spacer-Spacer散布的均匀性以及spacer原材料本身的均匀性可能影响Mura
Stage-因机台stage吸力过大而造成吸附后形成stage mura，或者stage的平整度不佳当经过制程机台后，也有可能产生相关性的mura 4. LCM制程
Roller-因机台roller的压力过大或者roller上粘附异物，造成panel 经过roller后产生丸状或条状mura
Vaccuum-因机台stage吸力过大而造成吸附后形成stage mura Black-light-B/L本身Film材料不良或者其他来料不良造成异常也会
形成mura现象，通常以交叉方式确认B/L是否有异常现象Polarizer-偏光板本身材料不良，造成偏贴后形成mura，通常更换偏光板既OK
不当拿取-因拿取Panel方式不当，手指按压到面板的力量过大，容易造成丸状mura。
液晶显示器Mura缺陷及测量方法浅析
液晶显示器 Mura缺陷及测量方法浅析摘要：近年来，液晶显示器迎来一定的快速发展，使得相关显示器应用范围明显扩大。
但与此同时，发生Mura缺陷的几率明显增大。
为了使设备应用水平得到全面提升，要对影响其质量的因素加强重视。
同时在合理分析处理机制的前提下，来对液晶显示器Mura缺陷进行科学判断。
另外在科学有效的测量方法的基础上，使Mura缺陷发生几率得到有效控制。
本文将液晶显示器Mura缺陷的内涵以及种类当成切入点，对Mura缺陷的成因进行详细阐述，同时提出相关的测量方法，进而为液晶显示器的质量提供保障。
关键词：液晶显示器；Mura缺陷；测量方法引言液晶显示器自身具有明显的复杂性，不仅生产流程复杂程度较高，还对生产环境有较高的要求，即生产车间需要保持无尘状态。
但生产出来的液晶显示器中依然存在Mura缺陷，因此，要利用科学有效的测量方法来对其进行合理化的测定，从而使Mura缺陷导致的经济损失得到全面控制。
本文从以下方面对Mura缺陷和测量方法进行研究。
一、液晶显示器Mura缺陷简述1.1内涵Mura缺陷指的是污点或色差问题，这属于平板显示器领域中的专有名词。
从国外相关研究资料中可知，国外提出的液晶显示器Mura缺陷定义是不完美的显示结构出现在显示器之中，虽然显示器依然处于正常工作的状态，但显示屏中的颜色或亮度等参数都会出现明显的斑点或分布不均匀等问题。
另外，液晶显示器Mura缺陷能够大幅度降低显示屏中的信息数据对比度，并且明显的模糊问题出现在整体边缘中。
由于形状无法保持固定状态，从而导致图像亮度无法保持均匀性。
但需注意的是，所有显示器生产完成之后都会出现一定的显示不均匀问题，但Mura缺陷会使相关设备体验度显著降低，使得用户出现明显的视觉疲劳，严重时相关设备无法进行应用。
因此，商家要对系统化处理机制进行合理化构建，这样可以对设备全面分析和判断，并使Mura缺陷可以得到统一的检测，以此来使系统化划分工作有效完成[1]。
显示屏mura判定标准
显示屏mura判定标准
显示屏mura是指显示屏幕上出现的不均匀性，通常表现为均匀
度不佳、灰度不均匀、黑色不均匀等现象。
针对显示屏mura的判定
标准通常包括以下几个方面：
1. 观察距离，判定显示屏mura时，通常需要在规定的观察距
离下进行观察。
不同的显示屏可能有不同的观察距离标准，一般来说，观察距离越近，对mura的观察越严格。
2. 灰度等级，显示屏mura的判定标准通常会根据不同的灰度
等级来进行评定。
一般来说，显示屏在不同的灰度等级下出现的
mura情况是不同的，判定标准会对不同灰度等级下的mura情况进
行详细描述和评定。
3. 观察角度，观察角度也是判定显示屏mura的重要因素之一。
不同的观察角度下，显示屏上的mura表现可能会有所不同，因此判
定标准通常会规定观察角度范围，以确保对不同角度下的mura情况
进行全面的评估。
4. 显示模式，在判定显示屏mura时，通常会考虑显示模式的
影响。
例如，全黑模式、全白模式、灰度渐变模式等不同的显示模
式下，显示屏上的mura情况可能会有所不同，判定标准会对不同显
示模式下的mura情况进行综合考量。
总的来说，显示屏mura的判定标准是一个综合考量多个因素的
过程，需要根据具体的显示屏类型、使用场景和要求来进行评定。
在实际应用中，通常会根据行业标准或者制造商的要求来进行判定。
希望以上信息能够帮助你更好地了解显示屏mura的判定标准。
液晶专业用语注释
专业用语注释一、不良用语MURA ——画面污渍的总称。
TFT LCD画面显示后产生的污渍形态的不良。
X/Y Block——以X/Y TAB Block单位产生的不良；以Block单位产生异常点灯和Line Defect 现象。
IDD ——指TFT LCD的消耗电流。
是驱动LCD时消耗的电流，IDD不良是指消耗电流的不良。
Data Loss ——指驱动LCD时从信号发生器传递的显示画面信号的不良。
在画面出现小点为没有显示信号的不良现象。
DDC ——表示Display Data Channel以及输入在I-Module产品内部的信息（生产工厂、生产日期、DDC信号形态），当DDC信息输入错误时产生的不良现象。
Wave ——LCD画面显示时按Wave/横排/竖排形式在画面上出现周期性波浪形态的不良现象。
Common Short——表示由于Cell内部的导电性异物产生的1 Line形态的线缺陷不良现象。
Data Open——指随着Data信号Line产生的线缺陷的一种。
Gate Open——随着控制TFT Channel On/Off的Gate信号Line产生的线缺陷的一种。
Zaratsuke——由于TFT LCD Cell内部PI膜的损伤产生的Pixel单位或者凝结成一定形态的漏光现象的一种。
ESD——由于静电的Discharging产生的微小线缺陷或Mura形态的不良。
Flicker——由于TFT特性不良以及画面局部性抖动不良产生的现象，在Green L31 One Dot Skip 画面容易检查出来。
X-Talk (Cross-Talk)——显示Gray水准有差异的现象。
在Cross Talk画面容易检查出来。
DG Short——由于Data Line 和Gate Metal layer间的Short产生的Line Defect现象。
二、Sputter原理介绍Sputtering——通过RF Power或DC Power，具有高能量（102~103eV）的粒子撞击固体表面，通过动能的交换将固体表面的粒子撞击出来并贴附到基板表面的工程。
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Symptom：Circle Mura Description：可分較畫面深的黑丸mura及 較畫面淡的白丸mura。 Defect photo：
Symptom：Cloud Mura Description：局部區域雲狀不均。
Defect photo：
Updated：8/8/2012 Printed Date：8/8/2012 Rev.1.0
Symptom：Around Strip Mura Description：位置於邊框四周或任一側色 差。 Defect photo：
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各種 Mura
Symptom：Spacer Clustering Description：黑畫面可看見因spacer聚集 所產生的mura。 Defect photo：
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Defect photo：
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各種 Mura
Symptom：Rain Mura Description：50%gray判定,下雨似的色差。 Defect photo：
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各種 Mura
Symptom：Ring Mura Description：一圈圈均勻的色差圓。
Symptom：Row Mura Description：50%gray畫面水平方向線狀 mura。 Defect photo：
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就人為因素而 言
不當拿取—因拿取Panel方式不當，手指按壓到面板的 力量過大，易造成丸狀mura。
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Mura Introduction
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Content:
1. 2. 3. 4. 何謂 Mura Mura的成因 Mura的檢驗方法 各種Mura
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各種 Mura
Symptom：Twill lines or rubbing line Description：區域性斜線。 Defect photo：
Symptom：Vertical Mura Description：Driver IC與TFT匹配問題。
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各種 Mura
Symptom：Coin Mura Description：固定位置之圓形凹陷狀Mura。
Symptom：Col/Mu(Column mura) Description： 1.50%灰階畫面可看見Panel邊緣有一寬 約7~10mm白色或黑色帶狀mura。 2. 白色畫面下視角可以較明顯看出。
各種 Mura
Symptom：Fill Port Gap Description： 1. 50%灰階畫面可看到Panel在注入口處 附近局部偏白(Gap過大)。 2. 白色畫面可看到Panel在注入口處附近 局部偏黃(Gap過大)。
Symptom：Hmoon Gap (Side half moon gap) Description： 1. 50%灰階畫面可看到Panel邊緣有半圓 形局部偏白。 2.白色畫面可看到Panel邊緣有半圓形局 部偏黃。 Defect photo：
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各種Mura
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各種 Mura
Symptom：Arch Mura Description：50%灰階畫面在Panel上方 可見。 Defect photo：
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就LCM製程而 言
Roller—因機台roller的壓力過大或是roller上沾附異物， 造成panel經過roller後而產生丸狀或條狀mura。 Vacuum—因機台stage吸力過大而造成吸附後形成 stage mura。 Black-light—B/L本身Film材不良或其他來料造成異常 亦會形成mura現象，通常以交叉驗證等方式確認B/L是 否有異常現象。 Polarizer—偏光板本身來料不良，造成偏貼後形成 Mura，通常更換偏光板後即OK。
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ND的使用
使用10% ND檢 驗Mura仍清楚 可見
使用8% ND檢 驗Mura較不 明顯
使用6% ND檢 驗Mura不可見
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Defect photo：
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各種 Mura
Symptom：Injection Port Mura Description：注入口部分較畫面深的半圓 形mura。
各種 Mura
Symptom：TAB Mura Description：一整條TAB範圍均勻的較深 或較淺色差。
Symptom：Twill Line Description：均勻的實斜線。 Defect photo：
Defect photo：
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Mura的判定
பைடு நூலகம்
Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫 面判定，其judge的方式可採用limit sample or ND filter。
ND Filter--ND為在可見光波常範圍下能提供相當穩定平穩的響應， 主要功能在於降低光源之透光率。
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就CF製程而言
膜厚—因為膜厚的Coating不均，導致產 生色不均之現象。 Coating—光阻於coating時若噴嘴有阻塞 的情況，即會造成vertical mura。
Defect photo：
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Symbol of Quality
Thank You
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Symptom：Diagonal Mura Description：50%灰階畫面可看見斜向帶 狀Mura。 Defect photo：
Defect photo：
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何謂 Mura?
何謂Mura？
在同一光源且相同底色之畫面下，因視 覺感受到不同程度之顏色差異稱之為 Mura。
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Defect photo：
Defect photo：
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