NI发布26.5GHzPXI综合测试仪
NI发布业界基于PXI平台的RF矢量网络分析仪(VNA)
于 ＮＩ Ｐ ｅ５ ３ 的 更 多 信 息 ， 访 问 ｗｗｗ．ｎ．ｃｍ／ Ｘｌ一６ ０ 请 ｉ ｏ
ｖ ａｚ 。 ｎ ／ ｈｓ
试 的灵 活 的 Ｌ ｂ Ｅ ＡＰ 。ＮＩ Ｘ ｅ５ ３ ａ ＶＩ Ｗ Ｉ Ｉ一６ ０还 具有 优 良的 Ｐ
性 能 指 标 ， 括 １ Ｈｚ到 ６ ＧＨｚ的 频 率 范 围 、 过 包 ０Ｍ 超 １ ０ｄ 的 动 态 范 围 、 及 低 于 ４ ０微 秒 ／ 点 的 扫 描 速 度 １ Ｂ 以 ０ 频 （ 连续扫 描 ３ ０ 个 频点 ） 此外 ， 于基 于模块 化 的 Ｐ Ｉ 可 ２１ 。 由 Ｘ
泛 于一般 用途 进行 测试 与应用 。
ＮＩ发 布 业 界 基 于 Ｐ ＸＩ平 台 的 ＲＦ矢 量 网 络 分 析 仪 —— 用 于 高 精度 自动 化 射 频 测 试
们 业 已强大 的 Ｐ 模 块化 仪器 的射 频 系列 产 品 中， 们 感 ＸＩ 我
进 测试 系统 ， 而无 需增 加额 外 成 本 或使 用 体 积较 大 的 传 统
台式 仪 器 。 “ ６ＧＨｚ矢 量 网 络 分 析 仪 表 明 了 我 们 在 提 供 射 频 解 决 方案 方 面的持 续投 入 ， 力 于 帮 助 工程 师 在 提高 测 试 精度 致 和 吞 吐 量 的 同 时 降低 成 本 、 统 体 积 和 复 杂 性 ，ＮＩ 发 部 系 ” 研 高 级 副 总 裁 Ｐ ｉＨｅｔｒ 。 对 于 成 功 地 将 Ｖ ｈｌ ｓｅ 说 “ ＮＡ 添 加 到 我
模块 化仪 器 系列产 品 。基 于工 业标 准 的 Ｐ 规 范 ， 款矢 ＸＩ 该
量 网 络 分 析 仪 可 与 包 括 ＮＩ 内 的 ７ 在 Ｏ多 家 供 应 商 的 １ ０ ５０ 多 种 Ｐ 仪 器集成 ， 足几 乎任 何测试 应用 需求 。 ＸＩ 满
什么是PXI便携机
什么是PXI便携机NI在1997年开发并发布了PXI规范，并在1998年正式推出，它是为了满足日益增加的对复杂仪器系统的测控需求而推出的一种开放式工业标准。
NI是PXI系统联盟（PXI Systems Alliance，简称PXISA）的发起者和领导者，如今，PXI标准由PXISA所管理。
该联盟由全球70多家公司组成，共同推广PXI标准，确保PXI的互换性，并维护PXI规范。
在军工国防、航空航天、兵器电子、船舶舰载等各个领域等野外实战应用场合和科学试验研究场合，被测对象往往越来越复杂，这对测控系统也提出了越来越高的要求，比如测控系统的稳定性、轻量化、加固性、维护性、便携性等。
上述领域的大部分测控任务在具体开展时，被测对象往往并不在室内，因为试验环境场地的特殊性，测控设备往往是室内调试好后再长途运输到复杂恶劣的户外环境进行现场部署和调试。
目前测控领域的国内外厂商只提供基于台式和机架式的标准测控仪器平台，比如台式或上架式，而并没有专门针对上述特殊测控场合推出便携式测控系统平台。
PXI便携机是一种典型的便携式测控系统平台，它是基于PXI总线设计的便携式一体机，它具有专业的结构一体化设计，集成测控系统所需的PXI控制器及各功能模块，集成高速稳定的PXI背板，集成全铝镁合金加固结构的机箱、高质量宽温测控电源、工业宽温显示屏、工业电阻触摸屏、工业硅胶防水键盘、工业触控板、加固把手、硅胶防撞包角、调理及接口转接模块、航插接口面板和硅胶IO防护挡条等，其目的是为用户减轻繁琐的设备拆卸、搬运和系统搭建调试等工作，坚固便携式的设计，非常方便用户在不同地点不同使用环境下快速对测控系统进行调试和操作。
PXI便携机集成度很高，便携优势明显，专业的加固设计和合理的散热设计，即便在恶劣的外场环境中，也可以为测控系统正常工作保驾护航，圆满完成各项测控任务。
对于大部分复杂的测控系统应用场合，由于用户对测控系统的集成度要求非常高，要求系统平台加固性，要求整机轻便化，要求内置多个PXI或PXIe模块实现多通道高密度，为此就要专门为PXI便携机研发堆栈式结构的PXIe/PXI背板。
NI推出用于PXI Express的光纤传感器解调模块全新模块克服传统传感器的噪声敏感性、传输距离等限制条件
Ｅ ｐ ｅｓ ｘ ｒｓ模块 。Ｆ Ｇ传感器通过反射与物理现象 （ Ｂ 如张 力、
温 度 ）的 变 化 相 应 的 波 长 范 围 内 的 光 进 行 操 作 。 与 传 统 电 子 传 感 器 不 同 ，Ｆ Ｇ传 感 器 是 绝 缘 不 导 电的 ， 并 不 受 电 磁 Ｂ
干扰 的影 响。因此 ，Ｆ 传 感器在噪 声 、腐蚀 或极端天 气 ＢＧ
结构 ；能源应 用 ，监测风 力涡轮 叶片 、管 道 、核 反应堆 、 海上 平台和发 电机组 ；交通应 用 ，测试和监 控船舶 、火 车
和飞机器件 。
可 扫 描 ２ 或 更 多Ｆ ０ ＢＧ传 感 器 （ 就 是 根 据 传 感 器的 范 围 ， 也 每 个 模块 可 扫 描 多 于 ８ 个 Ｆ Ｇ传 感 器 ） 。在 高 通 道 数 应 用 ０ Ｂ
的环境下是 非常安全 可靠的替 代传感 器 。该传 感器的传 输 媒介不是 铜线 ，而 是标 准光纤 ，这样就 可以 在长达一万 米
的远 距 离下 进行 测量 。工程 师 和科 学 家将 Ｆ ＢＧ传 感 器 用
系列 函数库 用于物理单 元的测量 。使用ＮＩ ａ ＶＩＷ 软 Ｌ ｂ Ｅ
件 ，工程 师和科 学家可 以查看 、记 录和分析传 感器数据 。 利用直观的 图形化 图标 和线条来表示流程 图 ，Ｌ ｂ Ｅ ａ ＶＩ Ｗ中
程 师 和 科 学 家 可 以 进 一 步 扩 展 每 个 模 块 可 扫描 的 Ｆ Ｇ传 感 Ｂ
器数 量 的 最 大 值 。 除 了 多 通 道 ，ＮＩ Ｐ ｅ ４４ 还 有 一个 光学 核心 ，结 合 ＸＩ－ ８ ４ 了大 功 率 、低 噪 声 扫描 面波 长 激 光 与 Ｍｉ ｏ ｔ ｓ ｃ ｎ Ｏｐｉ 的法 布 ｒ ｃ
NI PXIe-1078
NI PXIe-4353
32通道, 24位, 热电偶输入模块
• 32路热电偶输入通道; 8路内置冷端温度补偿通道; 0.3 °C精度 • 90 S/s/通道的采样率 (高速模式); 1 S/s/通道的采样率 (高分辨率模式) • 300 Vrms CAT II通道-地面接地安全隔离 • 自动调零通道用于偏移误差补偿; 热电偶开路检测 • 借由PXI Express, 实现多设备触发和同步 • NI-DAQmx驱动软件和NI LabVIEW SignalExpress LE交互式数据记录软件
NI PXIe-1078
配有交流的9槽3U PXI Express机箱 - 高达1 GB/s
• 5个混合插槽, 3个PXI Express插槽 • 0 °C到50 °C的温度下, 总功率达300 W • 中等性能 – 每插槽高达250 MB/s的带宽和1 GB/s的系统带宽 • 8.43英寸 (214.2 mm) 低深度机箱 - 适用于机架以及台式应用 • 与PXI、PXI Express、CompactPCI和CompactPCI Express模块兼容
双核处理器有两个核心或称计算引擎，配置于同一个处理器中。双核处理器可同时执行两个计算任务，该优势可在多任务环境下得到体 现，例如：允许多个应用程序同时运行的Windows XP。两个应用程序可以同时分别进入处理器的两个核心，从而提高系统整体性能。此 外，双核处理器是NI LabVIEW软件等多线程应用程序的理想选择，应用程序能够将各个任务分为多个线程执行。一个双核处理器可同时 执行众多线程中的两条。 如需配置一个基于NI PXIe-8108的完整PXI Express系统，请访问/pxiadvisor。
NI发布业界首台基于PXI平台RF矢量网络分析仪
Ｎ 发布业界首台 Ｉ
基于Ｐ Ｉ Ｘ 平台Ｉ 矢量 网络分析仪
近 日 ， 国 国家 仪器 公 司 （ ） 出 了ＮＩ Ｘｌ一 ６ ０ 美 ＮＩ推 ｅ ５３ Ｐ ６ Ｈｚ 端 口矢 量网络 分 析仪 ｆ ＮＡ） 这是 自动化 测试 行 Ｇ 双 Ｖ ， 业 首台基 于Ｐ 总 线的矢 量 网络 分析仪 。 助全新 的 矢量 ＸＩ 借 网络分析 仪 ， 对 前向 参数和 反 向参数 （ ／ 进行 全面 的 可 Ｔ Ｒ） 矢量 分析 。此 外 ． 该矢量 网络 分析仪 还提 供精密 自动校 准 功能． 并且基 于灵 活 的软件 定 义架 构 ． 常适 用于 自动化 非 设计 验证和 生产 测试 该矢量 网络 分析 仪基于Ｐ 模块化 ＸＩ
重庆川仪高性能电磁流量计通过专项验收
日前 ．重庆 川仪 自动 化股 份有 限公 司承 担 的 市级 重 大科技 专项 “ 高性 能 电磁 流 量计 ” 目顺 利通 过 重庆 市科 项 学技术 委员会 组织 的验收 该项 目研 究 了高 压环 境 下 的 电极 密 封 、 电 导 率介 低
质 （ 纸 浆 液 ） 测 、 弱 信 号 检 测 和 处 理 、 于 非 均 匀 如 检 微 基
此次 用 户大会 为期２ ， 天 采取 高峰论 坛 、 专题 报告 、 主
会 场和分 论坛相 结合 的形 式 。 个大会 从解 读产 业政策 ， 整 发 布行 业趋 势分析 ． 到交 流应 用经 验 ． 布产 品需 求等 各 发 个方 面深层 次解 读 市场 ， 强 了业界 联络 。 加 ｆ 亮Ｊ 纪
霍尼韦尔基于NI PXI模块化仪器和LabVIEW 实现自定义的功能电路测试系统
霍尼韦尔基于NI PXI模块化仪器和LabVIEW 实现自定义的
功能电路测试系统
佚名
【期刊名称】《今日电子》
【年(卷),期】2010(000)005
【摘要】@@ 背景rn现代化电子工厂批量生产的PCB电路板,在最终打包出厂前,需要做电路功能测试(FCT).在该功能测试应用中,霍尼韦尔综合科技(中国)有限公司的工程师希望构建一套完整的包含音频、视频及各种电压、电流、频率、开关量等测试量的综合性全自动功能测试平台,最终需要通过该系统实现对各种不同PCB的功能测试;而且当需要更换不同型号的PCB时,该系统需能方便地实现功能扩展.【总页数】1页(P47)
【正文语种】中文
【相关文献】
1.利用下一代医学成像技术及PXI模块化仪器系统与NI LabVIEW进行进展性癌症研究 [J], Kohji Ohbayashi;D.Choi
2.NI最新推出6．6GHz PXI Express射频矢量信号分析仪和矢量信号发生器--新型射频模块化仪器和PXI Express机箱为用户提供快捷灵活的无线测量功能 [J], 无
3.NI LabVIEW FPGA硬件新增仪器级I/O——针对PXI测试系统,新型NI FlexRIO产品系列有效提高了基于FPGA的I／O性能 [J], 无
4.霍尼韦尔基于NI平台实现自定义的电路板功能测试 [J],
5.NI LabVIEW FPGA硬件新增仪器级I/O针对PXI测试系统,新型NI FlexRIO产品系列有效提高了基于FPGA的I／O性能 [J],
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NI PXI数字模式仪器说明书
CONTENTSPXI Digital Pattern InstrumentsDetailed View of PXIe-6571 Digital Pattern Instrument Key FeaturesNI-Digital Pattern Application Programming Interface (API) Digital Pattern Editor Application SoftwarePlatform-Based Approach to Test and MeasurementPXI InstrumentationHardware ServicesPXI Digital Pattern Instruments PXIe-6570, PXIe-6571•Software: Includes Digital Pattern Editor for pattern development and debugging, APIsupport for LabVIEW and text-based languages, shipping examples, and detailed help files•32-channel, 100 MHz vector rate with 39.0625 ps of edge placement resolution•Digital voltage -2 V to 6 V, and PPMU force voltage -2 V to 7 V •Up to 200 Mb/s data rate and 160 MHz clock generation•Combine multiple modules to create digital subsystems with up to 512 channels •Dedicated source, capture, and history memory resources for up to eight parallel test sitesSemiconductor ATE-Class Digital on the Open PXI PlatformPXI Digital Pattern Instruments deliver ATE-class digital to the industry-standard PXI platform for testing a broad range of RF and mixed-signal integrated circuits (ICs). The NI PXI platform and NI Semiconductor Test System (STS) are an ideal platform for characterization and production test of RF and mixed-signal ICs from RF front ends and power management ICs to transceivers and Internet of Things systems on chip with built-in connectivity and sensors.The PXIe-6571 is the highlight of NI’s offering for digital production and characterization test of semiconductor devices. For basic digital signals and interfaces, consider PXI Digital I/O Modules or PXI Reconfigurable Digital I/O Modules.Table 1. PXI Digital Pattern Instruments are built for the testing of semiconductor devices.Module Width 2 slots 1 slotActive Load 24 mA 16 mAChannels32 per module256 maximum in a synchronized subsystem 512 maximum in a synchronized subsystemPin ElectronicsDigital: -2 V to +6 V, 32 mA PPMU measure voltage: -2 V to +6 V, 32 mA PPMU force voltage: -2 V to +7 V, 32 mAMaximum Vector Rate 100 MHz (10 ns minimum vector period) Maximum Data Rate 200 Mb/sMaximum Clock Generation 160 MHz**Pattern Timing31 time sets39.0625 ps edge placement resolutionDrive Formats Non-return (NR), return to low (RL), return to high (RH) (100 MHz max),surround by complement (SBC) (50 MHz max)Vector Memory Depth 128 M/ChannelOpcode Support Flow control, sequencer flags and registers, signal, source and capture, subroutineSource and Capture Engines Broadcast or site-unique Serial or parallel8 per instrumentSource and Capture Memory 256 Mbit source memory, 1 MSample capture memoryFrequency Counters 5 kHz to 200 MHz, per pinHistory RAM (8,192/N sites) -1 cyclesSCAN Support Flattened SCAN patterns, up to 128 M* Note that the PXIe-6571 requires a chassis with 82 W slot cooling capacity, such as the PXIe-1095. For more on PXI power and cooling, see this white paper.** Clock rates >133 MHz will have a non-50% duty cycle.Detailed View of PXIe-6571 Digital Pattern InstrumentKey FeaturesHardware OverviewPXI Digital Pattern Instruments have several types of vector and dynamic pattern memory and feature pin electronics. The block diagram in Figure 1 shows the instruments’ functional hardware components.Figure 1. PXI Digital Pattern Instruments offer advanced ATE memory features like history, source, and capturememory with the right levels of user abstraction.Timing and ExecutionPXI Digital Pattern Instruments burst digital data based on patterns that are made up of individual vectors. The time set includes the period of the vector in time, a drive format for the pin, and placement of the digital edges.The drive formats, or vector formats, supported by these instruments are non-return, return to low, return to high, and surround by complement. Having the ability to use all of these formats gives engineers the ability to make the most efficient digital interface with as few vectors as necessary.Figure 2. The combination of drive format and pattern value will determine what the digital waveform looks like. Each time set for a PXI Digital Pattern Instrument has a defined period, up to six drive edges, and a compare strobe. The time sets for a PXI Digital Pattern Instrument have up to six drive edges and a compare strobe to act on the formats defined above. Drive on and drive off are edges that determine when the pin drivers will enable and disable. Drive data and drive return define when the pin driver will assert a high or low level. The drive return edge is only used in return vector formats. The compare strobe specifies the time in a vector when the pin comparator determines if the pin is at a high, low, or midband voltage level based on defined thresholds.Pin ElectronicsPin electronics provide the electrical interface to the DUT and allows the engineer to drive or receive digital data and emulate the conditions of other loads and components interacting with the device.In a drive state, the pin driver of the pin electronics is engaged and forces the voltage on the pin to be low or high as determined by a 0 or 1 in the pattern. A pin driver will source or sink up to 32 mA to achieve the defined high or low value on the pin when enabled. Digital pattern instruments use 0 and 1 to represent drive pin states.Compare states are non-drive states that use the comparators of the pin electronics to assess incoming data against predefined thresholds. Comparators are included in pin electronics and have settable levels for high and low voltages that are made in context to the DUT. To represent the different non-drive states that a pin can take, L, H, X, V, E, and M are all used.Figure 3. Pin drivers and comparators within the pin electronics use defined voltage levels for drive and comparestates in the digital pattern.NI STS Integration and Digital System SynchronizationPXI Digital Pattern Instruments make up the digital test subsystem of the STS. The instruments are supported in all STS software and are calibrated using a timing calibration load board and a DC calibration load board, both from NI. The diagnostic software and calibration tools ensure high reliability and uptime of the system. It also gives a single system the ability to have many unified digital test resources.Figure 4. With PXI Digital Pattern Instruments, more test engineers can take advantage of the STS, a PXI-based,open platform semiconductor production test system. Synchronization and IntegrationPXI Digital Pattern Instruments can be synchronized together within a single PXI chassis using a PXI timing and synchronization module and the NI-Sync device driver. This synchronization can be done both within the STS and in a stand-alone PXI chassis. By synchronizing multiple instruments, a single digital subsystem can have up to 512 synchronized channels that achieve a specified edge placement accuracy performance. A unified digital subsystem can span single sites and combine match and failed conditions across multiple digital pattern instruments.Figure 5. PXI Digital Pattern Instruments can be synchronized using a PXI Timing and Synchronization module tocreate a digital subsystem of many unified channels.Digital Pattern Editor Application SoftwareThe Digital Pattern Editor is an interactive tool for importing, editing, or creating test patterns. The editor also includes tools like Shmoo plots to provide a deeper understanding of DUT performance across variation, as well as debug tools like overlaying pattern failures on a pattern or using digital scope to get an analog view of the pin data. Features like multisite and multi-instrument pattern bursting empower the engineer to expand from development into production leveraging the same workflow. All of the sheets developed in the Digital Pattern Editor can be reused by the API in LabVIEW, C, or .NET languages, as well as in the TestStand Semiconductor Module.Pattern Development and FormatA pattern file is a collection of vectors, with each vector containing time sets, labels, opcodes, pin states, and comments. The Digital Pattern Editor has development sheets for all of these items as well as debug tools for refining patterns, time sets, and specifications. A compiled, binary version of the pattern file is required to edit or burst. Engineers can compile an ASCII text pattern file format (.digipatsrc) into a binary version using the Digital Pattern Editor or a command line process. The ASCII form can be used to convert existing patterns by following the well-defined pattern file format. Design simulation and SCAN files generated by EDA tools can be cyclized and targeted to the NI format using existing customer in-house EDA workflows or third-party cyclizing tools.Figure 6. The Digital Pattern Editor is powerful development and debug software for semiconductor digital tests. The window can be configured to view development sheets and debugging tools all at the same time.History RAM Overlay Feature and History RAM ViewEngineers can view the History RAM in two ways: using the History RAM overlay feature in the pattern document and looking at the History RAM view. The History RAM overlay displays the subset of burst results that corresponds to vectors in the current pattern based on the settings specified in the History RAM and signal setup pane. The History RAM view includes the corresponding time sets, labels, opcodes, pattern names, vectors/cycles, pin data, and comments. Rebursting a pattern overwrites the data in the History RAM overlay mode and in the History RAM view.Digital ScopeTo aid engineers in debugging patterns, the digital scope tool displays a progressively updated two-dimensional plot of the actual analog levels of the digital waveform along with the expected data from the pattern.Shmoo PlotThe Shmoo tool displays a dynamically updated intensity plot of pass and fail values for a sweep of two variables. The Shmoo executes on multiple sites and engineers can switch the plot results displayed from site to site during the operation without hindering the sweep’s completion.The Shmoo can sweep up to two variables including levels, voltages, currents, edges, or specifications at a time. The Shmoo operation can execute in sweep, zigzag, progressive resolution, or edge traversal mode.Figure 7. PXI Digital Pattern Instruments and the Digital Pattern Editor give semiconductor test engineers the featuresand tools they need in characterization and production.NI-Digital Pattern Application Programming Interface (API)The NI-Digital Pattern Driver includes a best-in-class API that works with a variety of development options such as LabVIEW, C, and .NET languages. To ensure long-term interoperability of PXI Digital Pattern Instruments, the NI-Digital Pattern Driver API is the same API used for all past and current PXI Digital Pattern Instruments. The driver also provides access to help files, documentation, and ready-to-run shipping examples you can use as a starting point for your application.Platform-Based Approach to Test and MeasurementWhat Is PXI?Powered by software, PXI is a rugged PC-based platform for measurement and automation systems. PXI combines PCI electrical-bus features with the modular, Eurocard packaging of CompactPCI and then adds specialized synchronization buses and key software features. PXI is both a high-performance and low-cost deployment platform for applications such as manufacturing test, military and aerospace, machine monitoring, automotive, and industrial test. Developed in 1997 and launched in 1998, PXI is an open industry standard governed by the PXI Systems Alliance (PXISA), a group of more than 70 companies chartered to promote the PXI standard, ensure interoperability, and maintain the PXI specification.Integrating the Latest Commercial TechnologyBy leveraging the latest commercial technology for our products, we can continually deliver high-performance and high-quality products to our users at a competitive price. The latest PCI Express Gen 3 switches deliver higher data throughput, the latest Intel multicore processors facilitate faster and more efficient parallel (multisite) testing, the latest FPGAs from Xilinx help to push signal processing algorithms to the edge to accelerate measurements, and the latest data converters from TI and ADI continuallyincrease the measurement range and performance of our instrumentation.PXI InstrumentationNI offers more than 600 different PXI modules ranging from DC to mmWave. Because PXI is an open industry standard, nearly 1,500 products are available from more than 70 different instrument vendors. With standard processing and control functions designated to a controller, PXI instruments need to contain only the actual instrumentation circuitry, which provides effective performance in a small footprint. Combined with a chassis and controller, PXI systems feature high-throughput data movement using PCI Express bus interfaces and sub-nanosecond synchronization with integrated timing and triggering.OscilloscopesSample at speeds up to 12.5 GS/s with 5 GHz of analog bandwidth, featuring numerous triggering modes and deep onboard memoryDigital InstrumentsPerform characterization and production test of semiconductor devices with timing sets and per channel pin parametric measurement unit (PPMU)Frequency Counters Perform counter timer tasks such as event counting and encoder position, period, pulse, and frequency measurementsPower Supplies & Loads Supply programmable DC power, with some modules including isolated channels, output disconnect functionality, and remote senseSwitches (Matrix & MUX) Feature a variety of relay types and row/column configurations to simplify wiring in automated test systemsGPIB, Serial, & Ethernet Integrate non-PXI instruments into a PXI system through various instrument control interfaces Digital MultimetersPerform voltage (up to 1000 V), current (up to 3A), resistance, inductance, capacitance, and frequency/period measurements, as well as diode testsWaveform Generators Generate standard functions including sine, square, triangle, and ramp as well as user-defined, arbitrary waveformsSource Measure Units Combine high-precision source and measure capability with high channel density, deterministic hardware sequencing, and SourceAdapt transient optimizationFlexRIO Custom Instruments & Processing Provide high-performance I/O and powerful FPGAs for applications that require more than standard instruments can offerVector Signal Transceivers Combine a vector signal generator and vector signal analyzer with FPGA-based, real-time signal processing and controlData Acquisition Modules Provide a mix of analog I/O, digital I/O, counter/timer, and trigger functionality for measuring electricalor physical phenomena©2019 National Instruments. All rights reserved. LabVIEW, National Instruments, NI, NI TestStand, and are trademarks of National Instruments. Other product and company names listed are trademarks or trade names of their respective companies. The contents of this Site could contain technical inaccuracies, typographical errors or out-of-date information. Information may be updated or changed at any time, without notice. Visit /manuals for the latest information.10 December 2019 Page 11 | | PXI Digital Pattern Instruments Hardware ServicesAll NI hardware includes a one-year warranty for basic repair coverage, and calibration in adherence to NI specifications prior to shipment. PXI systems also include basic assembly and a functional test. NI offers additional entitlements to improve uptime and lower maintenance costs with service programs for hardware. Learn more at /services/hardware .Program Duration 1, 3, or 5 years 1, 3, or 5 years Length of service programExtended Repair Coverage ● ● NI restores your device’s functionality and includes firmware updates and factory calibration.System Configuration, Assembly, and Test 1 ● ● NI technicians assemble, install software in, and test your system per your custom configuration prior to shipment.Advanced Replacement 2 ● NI stocks replacement hardware that can be shipped immediately if a repair is needed.System Return Material Authorization (RMA)1 ● NI accepts the delivery of fully assembled systems when performing repair services.Calibration Plan (Optional)Standard Expedited 3 NI performs the requested level of calibration at the specified calibration interval for the duration of the service program. 1This option is only available for PXI, CompactRIO, and CompactDAQ systems. 2This option is not available for all products in all countries. Contact your local NI sales engineer to confirm availability. 3Expedited calibration only includes traceable levels.PremiumPlus Service Program NI can customize the offerings listed above, or offer additional entitlements such as on-site calibration, custom sparing, and life-cycle services through a PremiumPlus Service Program. Contact your NI sales representative to learn more.Technical SupportEvery NI system includes a 30-day trial for phone and e-mail support from NI engineers, which can be extended through a Software Service Program (SSP) membership. NI has more than 400 support engineers available around the globe to provide local support in more than 30 languages. Additionally, take advantage of NI’s award winning online resources and communities .。
NI推出用于PXI Express的高带宽低延迟光纤远程控制器
测试 和控制 Ｉ ／ 高 通 道 数 数 据 采 集 Ｏ的
和 在粒 子 加 速 器 或 大 型测 试 和 研 究 设
飞凌 以 软开 关行 为 著称 的Ｔ Ｅ Ｃ ． Ｒ Ｎ Ｈ Ｓ Ｏ Ｂ 技 术 ，这 些 器 件 实 现 了较 Ｔ ＰＩ Ｔ Ｇ 低 的Ｅ Ｉ（ Ｍ 电磁 干 扰 ） 水 平 。相 对 于 最 接 近 的 竞 争 对手 ，这 些 器 件 的 电 装 。 通 过 优 化 英 飞 凌公 司 的 １ Ａ ５ 器
英 飞凌 推 出适 用于 家 电节 能的 创新 型 功 率 转换 器 件
英 飞 凌科 技 股 份公 司推 出适 用 于
节能 家 用 电器 电机 驱 动装 置 的 功 率 转
换 器 件 系 列 — — 全 新 的 ６ ０ ＧＢ ０ Ｖ ＲＣ Ｉ Ｔ
件 的 电路 板 版 图 ．家 电 电机 驱 动器 厂
商 可 使 Ｉ Ｂ 所 需 的 占 板 空 间 降 低 ＧＴ
英 飞凌 副 总 裁 兼 工业 与 多元 化 电
子 市 场 部 总 经 理 Ａｎ ｒａ ｓｈｔ 指 ｄｅ ｓＵｒｃ ｉ ｚ 出： “ 随着 人 们 对 可 节省 电费 并 在 某 些 地 区还 可享 受 购 买 补贴 的节 能 家 电
施 中 的测 量 。其 它 运用 案 例 还 包 括 诸
与相 同的铜 质 材 料 制 成 的 远程 控 制器 电缆 和接 口相 比 ，新 控制 器 的光
缆 和 接 口允 许 更 远 的 主 机 和 机 箱 距
如 信号 智 能 化 和混 合信 号 测 试 。 这 些
NI最新模块化仪器套件扩展PXI系统
NI 最新模块化仪器套件扩展PXI 系统NI 最新模块化仪器套件扩展PXI 系统的应用
美国国家仪器有限公司（NaTIonal Instruments，简称NI）近日发布10 款最新PXI 产品，有效扩展PXI 进行混和信号半导体测试的功能。
全新以软件
定义的产品套件专为NI LabVIEW 图形化开发系统而设计，包含四个高速数字I/O（HSDIO）仪器、两个数字开关、两个增强射频仪器、一个高精度源
测量单元（SMU）和专用数字数字矢量文件导入软件。
全新的NI PXI 半导体套件包含多种新特性，包括200 MHz 单端数字I/O、10 pA 电流分辨率、快速多频带射频测量、直流/数字开关和波形发生语言（WGL）以及IEEE 1450 标准测试接口语言（STIL）文件导入功能。
PXI 半导体套件进一步提升了PXI 系统测试通用半导体设备的性能，例如测试ADC、DAC、电源管理IC、无线IC 和微电机系统（MEMS）设备。
由
于其配备的高级功能，相比常用于半导体设备的特征采集、验证和生产测试
的传统箱式仪器和自动化测试设备（ATD）解决方案，这个套件提供了更高
的吞吐量、更强的灵活性和更快的开发时间。
“来自NI 的全新混和信号PXI 仪器套件能够导入WGL 和STIL 设计向量，验证我们IC 设计的数字协议和关键时间参数。
PXI 和LabVIEW 为我们
提供了灵活的混和信号特征提取平台，可以用来快速配置定制的测试，降低。
第一台PXI矢量网络分析仪 可实现多个RF元件的并行测试
第一台PXI矢量网络分析仪可实现多个RF元件的
并行测试
NI公司在2002年推出其第一台RF矢量信号分析仪（VSA）之后，一直致力于为客户提供快速、灵活、精确的PXI仪器，而且其成本仅是传统箱型仪器的几分之一。
今年，NI的PXI RF系列产品又增添了一个新成员，NI PXIe-5630矢量网络分析仪（VNA）。
如图1所示，NI PXIe-5630是6GHz的双通道VNA，支持传输和反射（T/R）系数的矢量测量，也就是正向S参数S11和S21。
全新的VNA具有10MHz到6GHz的频率范围，超过110dB的宽动态范围，不超过400μs/点（扫描3201个点）的扫描时间，是进行自动化设计验证和生产测试的理想工具。
而且，NI PXIe-5630 VNA的架构灵活，体积小巧，可以方便地添加到设计验证和生产线测试系统中，这是体积大、成本高的传统VNA所无法比拟的。
PXI平台的优势，结合灵活的、经过多核处理优化的LabVIEW API，可以方便地实现多个RF元件的并行测试。
图1. 业内第一台PXI VNA，6GHz的NI PXIe-5630
描述RF元件特性需要特殊的仪器
为了获得更高的无线数据传输速率，而且不增加功耗或占用频宽，就需要特别注意RF元件的设计、特性和终端测试。
复杂的调制电路严重依赖于对RF信号振幅和相位细微变化的成功检测，这使得信号链中的每个元件从基频。
NI发布26．5GHzPXI综合测试仪
NI发布26．5GHzPXI综合测试仪佚名【期刊名称】《测控技术》【年(卷),期】2008(27)12【摘要】2008年10月，美国国家仪器有限公司（NationalInstruments，简称NI）与BAESystems公司、PhaseMatrix公司共同发布了一款针对军事和商业射频／微波应用的、基于PXI平台的下一代26．5GHz综合测试仪。
这款综合测试仪通过整合模块化硬件与平台软件来创建用户自定义的测试测量系统，它属于虚拟仪器的一个分支。
新款综合测试仪是以5个兼容3UPXIExpress的射频／微波下变频模块为基础而设计的，拥有从100kHz-26．5GHz的频率操作范围。
该产品同时使用了NI公司的PXIe机箱、控制器和中频（IF）数字化仪模块。
另外，它支持主机端的LabVIEW图形化开发和硬件FPGA数字信号处理。
【总页数】1页(P92-92)【关键词】综合测试仪;NI公司;美国国家仪器有限公司;模块化硬件;LabVIEW;数字化仪模块;数字信号处理【正文语种】中文【中图分类】TP216;TN957.51【相关文献】1.NI与BAE Systems、Phase Matrix公司共同发布26．5GHz PXI综合测试仪——一款专为商业和军摹应用而设计的新型射频/微波下变频模块 [J], 无2.NI与BAE Systems、Phase Matrix共同发布26．5GHz PXI综合测试仪 [J],3.NI与BAE Systems、Phase Matrix公司共同发布26．5GHz PXI综合测试仪[J],4.NI与BAE Systems、Phase Matrix公司共同发布26.5GHz PXI综合测试仪 [J],5.NI发布基于PXI平台的下一代综合测试仪 [J],因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。
基于NI PXI平台的并行无线测试技术
基于NI PXI平台的并行无线测试技术姚远【期刊名称】《国外电子测量技术》【年(卷),期】2015(0)5【摘要】无线局域网(WLAN)技术是近几年来发展最为迅猛的一项技术。
尽管这项技术随着笔记本电脑、智能手机和平板电脑等个人设备的普及而快速发展,但市场调查表明这一发展势头仍将继续保持迅猛,因为WLAN技术越来越广泛地应用到更多的消费者设备中,这一个生态系统也被扩展使用到"物联网"中。
不仅是WLAN 服务需要得到更广泛的应用,802.11ac等新标准也将为设备提供所需的带宽来满足视频流等更高级的应用。
对于设备制造商而言,这意味着测试方法也需要与时俱进才能应对制造需求的快速增长,还需要在维持相同质量水平的同时降低成本。
如果采用多待测设备(DUT)测试架构,企业将可大幅缩短实现这些目标所需的时间。
【总页数】4页(P6-8)【关键词】WLAN;无线;Wifi;非信令;VSA;VSG;VST;制造;生产;测试;多待测设备【作者】姚远【作者单位】美国国家仪器(NI)公司【正文语种】中文【中图分类】TN925.93【相关文献】1.NI推出首款基于PXI的源测量单元和业界最高密度的PXI开关模块——全新高精度直流产品把PXI平台功能延伸至半导体测试领域 [J], 无2.NI成功主办第九届“中国PXI技术和应用论坛”携手12家国内外知名PXI供应商共同庆祝PXI技术发展15周年 [J],3.NI推出首款基于PXI的源测量单元和业界最高密度的PXI开关模块全新高精度直流产品把PXI平台功能延伸至半导体测试领域 [J],4.NI推出首款基于PXI的源测量单元和业界最高密度的PXI开关模块全新高精度直流产品把PXI平台功能延伸至半导体测试领域 [J],5.NI公司发布了业界高精度的基于PXI的万用表——PXI-4071FlexDMM——NI71/2位FlexDMM测量范围可以微微安至千伏特 [J],因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。
微软选择NI LabVIEW和PXI测试其xbox 360控制器
微软选择NI LabVIEW和PXI测试其xbox 360控制器佚名
【期刊名称】《微计算机信息》
【年(卷),期】2005(021)11X
【摘要】美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）宣布微软公司选择基于NI LabVIEW和PXI的测试解决方案，用于Xbox360电子游戏机控制器的测试。
微软公司之前在其设计验证实验室使用虚拟仪器技术解决方案，最近该公司又将这一技术扩展至生产线，用于对Xbox360控制器进行功能测试。
【总页数】1页(P221)
【正文语种】中文
【中图分类】TP216
【相关文献】
1.NI推出行业内首款3U四核PXI控制器——作为行业内性能最高的3UPXI嵌入式控制器，可有效优化测试、测量与控制应用 [J], 无
2.NI新款NI PXI Express2．53GHz双核控制器——为自动化测试、测量和控制系统应用 [J], 无
3.NI LabVIEW FPGA硬件新增仪器级I/O——针对PXI测试系统,新型NI FlexRIO产品系列有效提高了基于FPGA的I／O性能 [J], 无
4.微软选择NI LabVIEW和PXI测试其Xbox 360控制器 [J], 无
5.NI LabVIEW FPGA硬件新增仪器级I/O针对PXI测试系统,新型NI FlexRIO产品系列有效提高了基于FPGA的I／O性能 [J],
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NI模块扩展PXI平台的功能
NI模块扩展PXI平台的功能美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)扩展其PXI 平台的功能，通过新发布的每个引脚参数测量单元模块(PPMU)和源测量单元模块(SMU)用于半导体的特性描述和生产测试。
NI PXIe-6556 200 MHz 高速数字I / O 具备PPMU，NI PXIe- 4140 和NI PXIe-4141 四通道的SMU 可降低资本设备成本，缩短测试时间，并提升各种测试设备的混合信号灵活性。
使用NI PXIe-6556 高速数字I / O 模块，工程师可以产生和获得一个高达200 MHz 的数字波形或在同一针脚上，以1% 误差率执行DC 参数测量，从而简化布线，减少测试时间和提高直流参数测试仪的测量密度。
此外，其内置的时序校准功能可自动调整时序，帮助工程师们消除不同连线与线路长度所造成的时序偏移，。
NI PXIe-6556 可选择是否以其他精度更高的NI SMU 切换，工程师可基于硬件或软件触发器，进而触发参数测量。
NI PXIe-4140/41 SMU 模块可用于PXI Express 插槽，提供多达4 个SMU 的通道，而4U 的单一PXI 机箱可提供多达68 个SMU 的通道,以轻松应对高针数设备的测试。
高达每秒600,000 样本的采样率，工程师们可以大大减少测量时间，或获取设备重要的瞬态特性。
此外，NI PXIe-4141 具备新一代的SourceAdapt 技术，工程师们可根据任何给定的负载自定义调整SMU 输出，以实现最大的稳定性和最小的瞬态倍。
传统SMU 技术无法提供此功能。
结合使用NI LabVIEW 系统设计软件，这些新PPMU 和SMU 模块为半导体测试提供了模块化的软件定义测量方式，从而提高质量，降低成本并减少整个测试验证，特性研究和生产的时间。
LabVIEW 具有灵活性编程语言与先进的工程工具的力量，使工程师能够满足特定、定制化的要求。
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念， 在追求测 试 系统 “ 靠性 、 用性 和 可 适
扩展性 ” 的指导思 想下 ， 实现 了对 汽车车 窗电机 的多工位多 品种检测 。
子整个价 值链 的竞 争力 ， 底 地从 标准 彻 产 品供 应 商 转 变 成 完整 解 决 方 案 提供
商。
该 系统 的独 特之处在 于同 台设 计 的 三操作 工位 ： 一工 位对 被 测件 进行 装 第
自动化系统解决方案 合作伙伴 项 目 旨在加强西 门子与全 球优秀 系统 集成商 在战略层面上的合作 。西 门子 Ｓ Ｐ合作 Ｐ 伙伴优选 了全球 范围内具有 领先技术 和
流程工艺 的系 统集 成 商， 于 西 门子 自 基 动化与驱 动产 品这 个强 大 的后 盾 ， 这些 顶尖级系统集成商们 能为用 户提供定制
以及 ＲＮ ｎ Ｔ纳米机 柜空调 等都是 工 ｉａｏＲ
业领域 的尖端科 技成果 ； Ｒｍ ｔＸ 以 ｉａｒ ５整 ｉ
体机 房解 决 方 案 为代 表 的信 息 技 术 展
区， ｉ ａ ｉ５系统 的现 场 演示 向观众 展 Ｒｍ ｔＸ ｒ 现 了未来 机房 的发 展 方 向 ， 整 个展 台 是 的重点 ； 突破 传统观念 的聚焦未 来展 区 ， 先进 的绿色节 能技 术 ， 观众 带 来技 术 给
Ｇ ｚ２ ７～２ ． Ｈ Ｈ 、． ６ ５Ｇ ｚ和 １０ｋ ｚ～２ ． ０ Ｈ ６５
泛 华测控新推 出汽车摇 窗机装 配测试 系统
近 日， 京 中科 泛华 测控技 术有 限 北 公 司（ 简称 ： 泛华 测控 ） 计并 研制 的汽 设
车摇 窗机 装 配 测 试 系 统 已正 式 交 付 使
上 的全 新 突 破 。
了一款针 对军 事和 商业 射 频／ 波 应用 微
的、 于Ｐ Ｉ 基 Ｘ 平台 的下一代 ２ ． Ｈ 综 ６ ５Ｇ ｚ
集成商的 ２ ９位嘉宾一 起 ， 出席 了本 次峰
会和庆典活动。
合测试 仪。这款 综合测试 仪通过 整合模
块化硬件与平台软件来２ ． Ｈ Ｘ 综合测 Ｉ ６ ５Ｇ ｚ Ｉ Ｐ 试 仪
２０ ０ ８年 １ ， ０月 美国 国家仪器 有 限公 司（ ａｏ ａ Ｉｓ ｕ ｎｓ 简称 Ｎ ） Ｂ Ｅ Ｎ ｔｎｌ ｎｔ ｍｅｔ， ｉ ｒ Ｉ与 Ａ Ｓｓ ｍ 公司 、ｈｓ ｔｘ 司共 同发 布 ｙｔ ｓ ｅ Ｐ ａｅ ｒ 公 Ｍａ ｉ
ＡＣ Ｔ Ａ系统 为主 的电信 平 台展 区代表 了 电信发展 的新 趋势 ； 制冷 与配 电 创新 产
品展 区， 如威 图隆重 推 出的带 来 全新 配 电柜概念 的 Ｒ４ ｏ ｅ 配 电系统解 决方案 ｉＰ ｗ ｒ
ｐｒ ｅ ｐｏｒｍ， ａｔ ｒ ｒｇ 解决方案合作伙伴项 目） ｎ ａ
成员正式授牌。最近 刚刚肩负起率领 西 门子（ 中国） 限公 司工业 自动化 与驱动 有
技术 集 团 重 任 的 高 级 副 总 裁 Ｔ ｏ ａ ｈｍ ｓ
Ｓｈ ｄ先生 ， 门子 （ ｃｍｉ 西 中国） 限公 司工 有 业 自动化与驱动技术集 团 自动化 系统部 总经理 Ｍ ｎｒｄＶ ｌ ｓ ａｆ ｅｔ 先生 ， ｅ ｅ 行业业 务拓 展部门经理张劲 松先 生和市场部经 理杨 大汉先生 ， 同来 自业 内 １ ６家领军级 系统
配， 第二和第 三 工位 分别 对 装配 完 的被 测 件进行泄漏 测试 和充 程 防夹 测试 。三 操 作工 位的设计 旨在能 够最大程 度的利 用 系统 资源 ， 提高检 测速度 ， 节省检 测 时 间。同时， 系统 的 工位 模块 化 设计 可 该
凌华科 技发 布 双核 ３ Ｘ 嵌 ＵＰ Ｉ
入 式 控 制器
２０ ０ ８年 １ １月 ２ ５日， 凌华 科 技推 出 旗下首款双核 ３ Ｘ Ｕ Ｐ Ｉ嵌 入 式 控 制 器 Ｐ Ｉ ９０ Ｘ － ５ 。此款 Ｐ Ｉ 制器搭 配英 特 尔 ３ Ｘ控
Ｔ ５０ Ｃｒ ｕ ． Ｈ ７０ ｏｅ Ｄ ｏ２ ２Ｇ ｚ双核处 理器 、 ２ Ｇ ９ ５芯片组与高 容量 ４Ｇ ６ ｚ ＭＥ ６ Ｂ６ ７ＭＨ
用 。该系统是泛 华测控专 为车窗 电机和
化 、 向未 来 应 用 的最 新 产 品 和技 术 。 面 西 门子为 所有 的 Ｓ Ｐ成 员提供 培训 、 Ｐ 交
流和认证 合作 支持 ， 大 的增 强 了西 门 极
电子模 块 生 产 线 的 装 配 和检 测 而 设 计
的。其 以“ 性测试 ” 柔 技术为核 心设计理
・
９ ２・ 工业和应用展 区， 革命 性 的威 图 Ｔ ， ｓ８ 用
更 少的零 部 件 ， 实现 更 多 的可 能性 ； 以
《 测控技 术＞ ０ ８年 第 ２ ）０ ２ ７卷第 １ ２期 系统方 案 合作 伙 伴 峰 会在 北 京 隆 重 举
行 。同时 ， 首批 １ ６家西门子 Ｓ Ｐ ｓｌｔｎ Ｉ （ｏ ｉ ｕｏ
的测试 测量 系统 ， 它属 于虚 拟仪 器 的一 个分支。新款综 合测试仪 是 以 ５个兼 容 ３ Ｘ ｘｒｓ Ｕ Ｐ ＩＥ ｐｅｓ的射频／ 微波 下变 频模块
为基础而设计的 ， 拥有 从 １０ ｋ ｚ一 ６ ５ ０ Ｈ ２ ． Ｇ ｚ Ｈ 的频 率操 作范 围。该 产 品同时使 用 了 Ｎ 公 司的 Ｐ Ｉ 箱 、 制器 和 中频 Ｉ Ｘ ｅ机 控 （Ｆ 数字 化仪 模块 。另外 ， Ｉ） 它支 持 主机 端的 Ｌ ｂ ＩＷ 图形化 开发 和硬件 Ｆ Ｇ ａＶ Ｅ ＰＡ 数字信 号处 理。 Ｐ ａｅＭａ ｘ公 司开 发 的下 变 频模 ｈ ｓ ｔ ｉ ｒ 块， 包含射频输入 调节模块 、 微波 频段输 入、 低频输入 、 机振荡 器和 中频 输 出调 本 节模块 。这 ５个模 块组可设 置成 ６个 主 要的 工 作 模 式 ， 盖 了 １０ ｋ 覆 ０ Ｈｚ～２ ９ ．