(JB-COP-022)SPC作业程序(已整理)

提供 P、X-R 等管制图的使用方法、分析步骤，以便能正确的使用统计技术，研究和改善 品质的变异性，改进 PCBA 制程能力，不断的减低产品品质的变异性，以改善和提高产品 品质。 2.0 范围：SPC 统计图表的管理以及 Cpk 制程能力综合指数的计算与分析处理。 3.0 定义 3.1 计数值：只能用个数、件数、点数等单位来计量的数据，如不合格品数、缺陷数、产品件 数等离散型数据。 3.2 计量值：可取任意数值的数据，且为连续型数据。 3.3 总体和样本：被研究（或考查）的对象的全体称为总体，其中一部分被作为直接研究，分 析，这一部份称为样本，样本中每一个称为样品。 4.0 内容 4.1 在对一项目/过程进行 SPC 统计之前，首先须对该项目/过程的测量系统进行分析，确保该 测量系统是可接受的，否则须改进测量系统后才可进行 SPC 统计分析。 4.2 管制图的选择：根据需要管制部位和产品的抽样特点，决定用 P 图还是X－R 图。 4.3 控制图的绘制和使用步骤及判异说明： 4.3.1 X-R（均值极差）控制图的绘制步骤及判异说明。 A、收集数据，并合理分组，再计算总体均值μ 。 （预备样通常取 25 或 30 个样本，每个样本包含 n 个观测值，其 n 的大小取决于合理的分 组结构，通常取 4、5 或 6） ，设有 m 个样本，即 m 个样本的均值分别为 X1 X2…Xm，则
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文件标题：SPC 作业程序 步骤 5：计算 R 图与X图的控制线。 4.3.3 P 图的绘制步骤及判异说明
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其中 USL 为规格上限，SL 为规格中心，LSL 为规格下限。 Ca 等级划分及处置
等级 A B C Ca 值 |Ca|≤12.5% 12.5%＜|Ca|≤25% 12.5%＜|Ca|≤50% 规范作业，需重新检讨作业标准或规范 应采取紧急措施， D 50%＜|Ca| 全面检讨可能影响之因素，必要时停止作业。 处置原则 作业员遵守作业标准,须继续维持 有必要在或尽可能再作改善为 A 级 作业员可能未按作业
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μ-SL C a =实际平均值—规格中心值 ×％＝ ，T表示公差 T/2 规格公差
5.2 制程精密度 Cp（Capability of precision） CP 表示生产制作的产品在规格上下限的容许范围的程度。
σ a，制程标准差， a
Cp
R ，d2 为常数，见附表。σ a 也可由数学统计方法求出。 d2
规格许容差 T USL LSL （双 边双边公 3σσ 6σσ 6σσ
修订记录
序号 01 版本 AO 修订人 陈京 日期 20081112wk.baidu.com修订内容 新订
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文件标题：SPC 作业程序 1.0 目的：
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CL
LCL
A B C C B A
X
准则 5：连续 3 点中有 2 点在同侧 B 区以外
UCL A B C C B A X X μ+3σ μ+2σ μ+1σ μ μ-1σ μ-2σ μ-3σ
CL
LCL
X
准则 6：连续 5 点中有 4 点在同侧 C 区以外
UCL A B C C B A X μ+3σ X μ+2σ μ+1σ μ μ-1σ μ-2σ μ-3σ
说明： Ⅰ：表中一、二、四的判断是成立的，只有第三种情况说明为：对于正态分布总体 N（u.σ 2）只有μ 变化
— — — — — — — — —
—
—
况
X 图 告警 未告警 告警 未告警
—
R 图 未告警 告警 告警 未告警
判
断
U 变化 σ 变化 σ 变化，对于 u 是否发生变化应视具体情况而定 正常
而σ 不变，则在X图将由于描点出界的概率增大而告警，但若只有σ 变化，而μ 不变，这时 R 图将由于
X
μ+3σ μ+2σ μ+1σ μ μ-1σ μ-2σ μ-3σ
CL
LCL
准则 8：连续 8 个点都不在 C 区内
UCL A B C C B A μ+3σ μ+2σ μ+1σ μ μ-1σ μ-2σ μ-3σ
CL
X
LCL
4.5 异常情况的原因分析 4.5.1 当从管制图的判读中发现了异常情况的存在时，须组织相关人员分析异常产生的原因。 通常采用的分析方法是 5M1E 法。 Measurement 测量系统：测量仪器是否合格，测量系统的变异是否在允许的范围内，测量人 员和方法是否符合要求。 Materials 材料：是否使用了符合要求的材料，材料是否合格。 Machine 设备：设备是否有按要求进行保养和维护，状况是否良好，其能力是否满足生产要求。 Method 方法： 是否有按作业指导书操作， 操作方法是否恰当， 操作方法是否适应生产的需要。 Man 人：操作者是否经过适当的培训，其能力是否适合该项工作，其工作状况是否正常。 Environment 环境：环境是否符合生产、测量、搬运和贮存的要求。 4.5.2 通过分析，找出异常发生的原因后，立即采取适当的措施，使过程回复正常的状态。 5.0 工序制程能力分析 当制程中运用的X-R 管制图后，显示制程处于统计状态下，则需要对制程能力作以评估。 5.1 制程准确度 Ca（Capability of accuracy） 表示生产过程中所获得的产品实际平均值（ μ ）与规格中心值 SL 之间的偏差程度。
— —
u=
B、估计总体的标准偏差σ
X1+X2+ …Xm m
—
（对于X-R 控制图来说，由于标准差用极差来进行估计，计算简便，故X-R 图运用广泛） 设 X1 X2 …Xm 为一个大小为 n 的样本，则此样本的极差为： R=Xmax-Xmin m 个样本的平均极差为：
—
R=
R1+R2+…Rm m
文件编号：JB-COP-022 修订日期： 2008 年 11 月 12 日 Shenzhen Jingbang Photoelectronic Co., Ltd. 版本/状态： A0 文件标题：SPC 作业程序 页 码： 4 of 11 C、求各图控制线： （依据已经证明的控制线公式，查对应参数值即可求出各控制界限） 。
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描点出界的概率增大而告警，且X图中描点出界的概率也增大，从而也会告警。 Ⅱ：同一个样本组的各个样品应在短时间内完成检测，即每个样本（且组内差异仅由偶然因素造成，组间 差异主要由异常因素造成， ）分组必须合理。Z
H、X-R 控制图绘制步骤： 步骤 1：取预备数据。 步骤 2：计算样本平均值 X。 步骤 3：计算样本极差 R。 步骤 4：计算样本总均值 µ 与总平均极差R。
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X图的控制线为：UCL=u+A2R CL=μ LCL=μ - A2R（式中 A2 可查控制图系数表，见附表） R 图的控制线： UCL=D4R C L=R LCL= D3R（D3 D4 均可查控制图系数表，见附表） D、在控制图上描点（在 X 图和R图上分别描出X1 B2…Xm 和 R1 R2…Rm） E、标注工序，名称等有关事项。 F、根据评判标准判断。在日常用控制图时必须延长此控制界限作控制用控制图。 （即当工序 能力满足期望水平后，在 5M1E 等条件不变的情况下，仍旧使用已确定的 UCL、CL、LCL 这三条控制线，然后再由日常生产中抽取样本，作出统计量后继续描点。 ） G、联合应用X-R 图查找异常，如下表 情 一 二 三 四
P= Σd Σ n， σ p=
1 nP（1-P）
—
步骤 2：求控制图各界限值。 UCL=P+σ CL=P LCL=P-3σ
— — —
p
p
步骤 3：在直角坐标纸上画出控制图的界限。 步骤 4：将各个 Pi 值描在 P 控制图上。 4.4 管制图的判读准则： 准则 1：一个点在 A 区之外。
UCL X A B C C B A X μ+3σ μ+2σ μ+1σ μ μ-1σ μ-2σ μ-3σ
姓 拟 审 批 制 核 准
名
部
门
职 位
日
期
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CL
LCL
准则 2：连续 9 点在中心线同一侧
UCL A B C C B A μ+3σ X μ+2σ μ+1σ μ μ-1σ μ-2σ μ-3σ
CL
LCL
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文件标题：SPC 作业程序 准则 3：连续 7 个点递增或递减
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B C D 1.0≤Cp＜1.33 0.83≤Cp＜1.0 Cp＜0.83
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由上式可知：容差＞6σ a 越多时，表明该生产条件非常适合于生产此种精密度的产品。
Cp= USL-μ Cp= 3σ a 或 μ-LSL 3σ a
若是单边公差时，
Cp 等级的划分和处置
等级 A Cp 值 1.33≤Cp 规格公差或可胜任更精密的加工 处置原则 此制程稳定，可以缩小
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UCL
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CL
LCL
A B C C B A
X
μ+3σ μ+2σ μ+1σ μ μ-1σ μ-2σ μ-3σ
X
准则 4：连续 14 个点上下交替
UCL μ+3σ μ+2σ μ+1σ μ μ-1σ μ-2σ μ-3σ
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SPC 作业程序
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由上式知：µ 与 SL 之差值愈小时，Ca 值愈小，即品质愈接近规格要求的水准。单边公差时 不能计算 Ca 值。 当 μ=SL 时，Ca=0，制程最准确； 当 μ=USL 时，Ca=1； 当 μ=LSL 时，Ca=-1； μ>USL 时，Ca>1 μ<LSL 时，Ca<1； 故│Ca│=[0,+∞) 。
P 图有两种不同的画法：一种是样本大小各不相同，一种是样本大小取相同。由于样本 大小 n 不同，所以样本的标准偏差不相同，故控制界限成凹凸状，作图很不方便。为了使实 际使用时工作简化，尽可能地采用第二种画法，即用一个平均值（n）来代替各个 ni 值。 步骤 1：取预备数据估计不合格品率P及标准偏差σ p。
注意，有发生不良品的危险，并设法维持，不要变坏 检讨规格及作业标准，此制程不能胜任加工该精密工作 应采取紧急措施， 全面检讨所有不良影响因素，必要时停止生产。
CL
X
LCL
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文件标题：SPC 作业程序 准则 7：连续 15 点在 C 区内
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