工业纯钛电子背散射衍射试样的制备
退火温度对纯钛TA1_织构及各向异性的影响
第50卷第4期中南大学学报(自然科学版) V ol.50No.4 2019年4月Journal of Central South University (Science and Technology)Apr. 2019 DOI: 10.11817/j.issn.1672−7207.2019.04.007退火温度对纯钛TA1织构及各向异性的影响张贵华,江海涛,吴波,杨永刚,田世伟,郭文启(北京科技大学 工程技术研究院,北京,100083)摘要:通过X线衍射(XRD)和电子背散射衍射(EBSD)等分析技术,研究退火温度对冷轧态TA1钛板显微组织及织构的影响规律。
研究结果表明:TA1钛板冷轧退火后,微观组织发生再结晶并形成典型的双峰分裂基面织构特征。
在退火温度不大于700 ℃时,组织变化主要以回复与再结晶的形核生长为主,生成>011(和)3<0231 )22111(类型再结晶织构组分,此时轧制织构组分逐渐消失;当退火温度达到800 ℃时,晶粒变化以合并1><00长大为主,再结晶织构组分>1)2(的强度也继续增强。
同时,织构组分对板材的各<0011213(和>1<001132向异性有着直接影响,由于棱锥型织构>11)2<00112(再结晶织构组分特征的作用,可开动3(和>1<0011)32的滑移系统分别为易激活的柱面<a>滑移和较难开动的基面<a>滑移或棱锥面<c+a>滑移,从而导致板面内TD方向的拉伸强度比RD方向的拉伸强度大,而45°方向强度最低,从而产生较大的板面各向异性。
关键词:TA1钛板;织构;退火;再结晶;各向异性;电子背散射衍射(EBSD)中图分类号:TG146.23 文献标志码:A 文章编号:1672−7207(2019)04−0806−08 Effect of annealing temperature on texture and anisotropy ofmechanical properties of pure titanium(TA1) sheetZHANG Guihua, JIANG Haitao, WU Bo, YANG Yonggang, TIAN Shiwei, GUO Wenqi (Institute of Engineering Technology, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083, China)Abstract: The effect of evolution of microstructure and texture of commercially pure titanium (TA1) annealed at different temperatures was investigated by X-ray diffraction (XRD), and electron backscattered diffraction (EBSD). The results show that recovery and recrystallization of the cold rolled TA1 titanium sheet occur during the annealing process, and typical TD-split basal texture was formed. When the annealing temperature is below 700 ℃, the microstructure is characterized by recovery and recrystallization, and recrystallization texture components are presented. The as-rolled texture component is gradually weakened and disappears with the increase of the heat treatment temperature. When the annealing temperature reaches 800 ℃, the grain growth is dominated by merged-growth and the intensity of11)2(recrystallized texture component continue to increase. In addition, anisotropy11<00<03(and>1>011)32of mechanical properties of TA1 sheet is related to the texture components. Due to pyramid textures>011(3<0312 and>11(recrystallization textures, the cylinder <a> slip is respectively easier to be activated and the base <00)2211<a> slip or pyramidal plane <c+a> slip becomes more difficult to be activated respectively, which leads to greater tensilestrength in the TD direction than the RD direction of the sheet. As a result, the anisotropy of mechanical properties of TA1 sheet is caused.Key words: TA1 titanium sheet; texture; annealing; recrystallization; anisotropy; electron backscattered diffraction (EBSD)收稿日期:2018−05−15;修回日期:2018−08−27基金项目(Foundation item):国家重点研发计划项目(2016YFB0101605) (Project(2016YFB0101605) supported by the National Key Research and Development Program of China)通信作者:江海涛,博士,教授,从事金属材料方面研究;E-mail:****************.cn第4期张贵华,等:退火温度对纯钛TA1织构及各向异性的影响807工业纯钛在航空航天、舰船、核能等高科技领域均有广泛的用途[1−4],在实际的应用中,除了固有的腐蚀性能外,其机械性能也是设计的重要标准。
钛及钛合金粉末形貌测定方法
钛及钛合金粉末形貌测定方法1.动态光散射(DLS)方法:动态光散射是一种常用的测定颗粒尺寸的方法。
该方法基于光散射原理,通过检测粒子在溶液中的光散射强度来确定其尺寸分布。
在测定钛及钛合金粉末形貌时,先将粉末样品悬浮于适当的溶液中,然后通过激光束照射样品,测量光散射的强度和角度分布。
根据光散射的特性,可以计算出粒子的平均尺寸和分布。
2.扫描电子显微镜(SEM)方法:扫描电子显微镜是一种常用的表面形貌观察方法。
通过高能电子束的轰击,可以得到样品表面的高分辨率图像。
对于钛及钛合金粉末形貌的测定,首先将样品制备成薄膜或固体样品,并且进行金属涂覆以增加导电性。
然后将样品放入扫描电子显微镜中,利用电子束扫描样品表面,并记录图像。
通过观察和分析图像,可以直观地了解粉末的尺寸、形状和分布等特征。
3.X射线衍射(XRD)方法:X射线衍射是一种常用的晶体结构分析方法。
对于钛及钛合金粉末形貌的测定,该方法可以用来确定晶体结构、晶体形貌和晶粒尺寸等信息。
首先将粉末样品制备成均匀的薄膜或固体样品,并进行X射线衍射测量。
通过分析样品的衍射强度和衍射角度,可以得到粉末的晶格参数、晶体结构和晶粒尺寸等信息。
4.氮气吸附法(BET)方法:氮气吸附法是一种常用的测定比表面积的方法。
对于钛及钛合金粉末形貌的测定,该方法可以用来确定粉末的表面积和孔隙结构等性质。
该方法基于氮气在样品表面和孔隙中吸附的原理,通过测量吸附和解吸过程中氮气体积的变化来计算样品的比表面积。
通常,需要将粉末样品事先脱气,并且在低温下进行测量,以确保准确性。
总之,钛及钛合金粉末形貌的测定方法主要包括动态光散射、扫描电子显微镜、X射线衍射和氮气吸附法等。
通过综合应用这些方法,可以获得样品的颗粒尺寸、形状、分布、晶体结构、比表面积和孔隙结构等详细信息,从而深入了解钛及钛合金材料的形貌特征。
测试干货丨电子背散射衍射(EBSD)之制样篇
测试干货丨电子背散射衍射(EBSD)之制样篇扫描电子显微镜中电子背散射衍射技术已广泛地成为金属学家、陶瓷学家和地质学家分析显微结构及织构的强有力的工具。
EBSD系统中自动花样分析技术的发展,加上显微镜电子束和样品台的自动控制使得试样表面的线或面扫描能够迅速自动地完成,从采集到的数据可绘制取向成像图OIM、极图和反极图,还可计算取向(差)分布函数,这样在很短的时间内就能获得关于样品的大量的晶体学信息,如:织构和取向差分析;晶粒尺寸及形状分布分析;晶界、亚晶及孪晶界性质分析;应变和再结晶的分析;相签定及相比计算等,EBSD对很多材料都有多方面的应用也就是源于EBSP所包含的这些信息。
1试样的切割、尺寸及形状EBSD试样切割时应避开有缺陷的地方,选择有代表性的部位。
最好采用线切割的方法,由于电火花加工时产生的创面小,无大的冲击力,相应的变形层和相变较小,同时要求加工的试样形状规则,尺寸精确,加上线切割产生的表面浮雕、氧化层及磨损量等因素,试样的厚度应在0.5mm到3mm之间为宜。
以JSM-6480扫描电镜为例,EBSD试样的典型尺寸是10mm×10mm到7mm×7mm之间,厚度不宜过厚,一般在1-3mm之间。
可根据实际情况,如铜锌铝等不耐磨的材料厚度可增加到2-3mm。
切割下来的试样要经过除油污处理,可用酒精、丙酮溶液在超声波清洗器中清洗。
然后用胶粘剂粘在大小适中的圆形金属基块上。
因其强度适中,凝固后不溶于水,从预磨到抛光,试样一般不会从金属基块上脱落。
抛光完毕后,可用丙酮溶液浸泡粘结处一段时间之后,便可将试样取下。
2试样预磨准备好的试样先经水砂纸在金相预磨机上粗磨,主要是磨去试样表面经切割后产生的表面浮雕及切割痕。
试样在水砂纸上磨削时容易产生很大的热量,接触压力越大产生的热量也越大,变形也越大。
具体操作时要注意接触压力不要过大。
同时水砂纸磨面上方小孔流出的水流经水砂纸,能够保证试样不受发热的影响。
电子背散射衍射技术
材料现代分析方法
电子背散射衍射技术
3.1 电子背散射衍射(EBSD)技术简介
材料宏观织构的形成必然是由微区内取向变化决定和完成 的,只有了解和揭示微观织构的演变过程、特征及规律,才 能更好地认识宏观织构。 虽然有多种测定微观织构的技术,但只有电子背散射衍射 (Electron back-scatter diffraction,简称EBSD)技术最有生 命力。 在EBSD技术商业化之前,为弥补宏观织构缺少形貌信息, 形貌照片又缺少取向信息,形貌难以与宏观织构直接联系对 应的不足,一般是借助TEM下的单个取向分析来说明宏观织 构产生的原因。这种分析方法受制样麻烦和统计性不够的影 响。
Phase and orientation
Maximum cycle time currently 100 cycles/sec (sample/conditions dependent)
多点自动标定过程
College of MSE, CQU 26
材料现代分析方法
电子背散射衍射技术
College of MSE, CQU
EBSPs的产生条件
• 固体材料,且具有一定的微观 结构特征——晶体
– 电子束下无损坏变质 – 金属、矿物、陶瓷 – 导体、半导体、绝缘体
• 高灵敏度CCD相机 • 样MSE, CQU
样品
22
• 试样表面平整,无制样引入的 应变层 • 足够强度的束流——0.5-10nA
College of MSE, CQU
31
材料现代分析方法
电子背散射衍射技术
取向与织构分析
=5000 祄 ; B C +T C 111+T C 100+T C 110 ; S t ep=8 祄 ; G rd1890x882 i
电子背散射衍射(EBSD)技术简介 整理
图2.6 , 双相钛合金的相分布图像
2.5 织构分析
图2.7 所示是变形铝晶粒取向成像图,图中大部分 变形晶粒的颜色相近,说明它们具有相近的取向, 但其织构指数还需用极图、反极图和ODF等方法 确定
100m
图2.7 变形铝晶粒取向成像图
2.6 极图
(1)原始状态
(3) 150°C-10%
(1) Rotation matrix G (2) Miller indices (3) Euler angles (4) Angle/axis of rotation
(1) Rotation matrix G
The rotation of the sample axes onto the crystal axes, i.e. CCS = g . SCS
切割
镶嵌
研磨
化学侵蚀
特殊方法
镁合金EBSD制样过程
机械磨光: #800-#1200-#2000#4000
电解抛光: AC2抛光液 高氯酸酒精
➢ 易氧化 ➢ 制样过程避免接触到水 ➢ 制好样后,立即上电镜表征
表面清洗: 酒精或丙酮
EBSD样品基本要求
☺ 表面平整、清洁、无残余应力 ☺ 导电性良好 ☺ 适合的形状及尺寸
(3) Euler angle
Euler角(φ1 , Φ, φ2)的物理意义:
第一次:绕Z轴(ND) 转φ1 角
第二次:绕新的X轴(RD) 转Φ角
第三次:绕新的Z轴(ND) 转φ2角
这时样品坐标轴和晶体坐标轴重合。
晶体坐标系:[100]、[010]、[001] 样品坐标系:轧向RD、横向TD、法向 ND
EBSD 探头
EBSD set up
背散射电子衍射的原理
h⎤ k⎥ ⎥ l⎥ ⎦
(ϕ1
取向矩阵:
⎡u r ⎢v s ⎢ ⎢w t ⎣
轴角对:
(l1
l2
l3 )θ
四元数法:
(Q0
Q1 Q 2 Q3)
取向分析基本原理
晶体转动对应的欧拉角
Φ
⎡ cos ϕ1 sin ϕ1 0⎤ M 1 = ⎢− sin ϕ1 cos ϕ1 0⎥ ⎢ ⎥ ⎢ 0 0 1⎥ ⎣ ⎦
其中M为取向变换矩阵,与欧拉角ϕ1,Φ,ϕ2有关
⎡ cos ϕ 1 cos ϕ 2 − sin ϕ 1 cos Φ sin ϕ 2 M = ⎢ − cos ϕ 1 sin ϕ 2 − sin ϕ 1 cos Φ cos ϕ 2 ⎢ ⎢ sin ϕ 1 sin Φ ⎣ sin ϕ 1 cos ϕ 2 + cos ϕ 1 cos Φ sin ϕ 2 − sin ϕ 1 sin ϕ 2 + cos ϕ 1 cos Φ cos ϕ 2 − cos ϕ 1 sin Φ sin Φ sin ϕ 2 ⎤ sin Φ cos ϕ 2 ⎥ ⎥ ⎥ cos Φ ⎦
背散射电子衍射的原理
Electron Back-Scatter(ed) Diffraction (EBSD)
背散射电子衍射原理
背散射电子衍射技术原理 背散射电子衍射分析对样品的要求及制备方法 背散射电子衍射花样的采集与标定 背散射电子衍射分析基本原理
背散射电子衍射技术原理
控制方式 电子束控制 样品台控制
背散射电子衍射的原理electronbackscattereddiffractionebsd背散射电子衍射原理背散射电子衍射分析基本原理背散射电子衍射仪的工作原理图控制方式电子束控制样品台控制散射电子强度随散射角的变化ebsd样品相对于入射束的放置背散射电子衍射技术原理beam菊池衍射花样的产生背散射电子衍射技术原理菊池衍射花样的接收背散射电子衍射技术原理101010010010001000fegsemwsemprobecurrentna100200300400500051015probecurrentna20keval20kevalhigherkevhigherkev背散射电子衍射的空间分辨率70背散射电子衍射的空间分辨率a平行于转轴b垂直于转轴背散射电子衍射技术原理对样品的要求样品能产生计算机可以识别且能正确标定的菊池衍射花样要求样品表面平整无较大的应变样品的制备方法金属样品
电子背散射衍射安全操作及保养规程
电子背散射衍射安全操作及保养规程前言电子背散射衍射是一种非常常见的物理实验技术,广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域。
本文旨在提供相关操作及保养规程,确保实验操作安全可靠。
操作规程实验前的准备工作在进行电子背散射衍射前,需要确保实验设备及试样处于正常状态。
具体操作步骤如下:1.确认实验室通风设备及洁净化程度符合要求;2.检查电子背散射衍射仪器的电源及冷却水系统是否正常;3.确认样品制备符合要求,避免污染、不充分的清洁等问题。
实验操作步骤电子背散射衍射实验过程需要遵循以下步骤:1.将试样放置于仪器样品台上,并使用真空泵将样品环境抽真空;2.打开背散射电源,设置所需电子束束流强度、加速电压、衍射角度等参数;3.开始进行衍射实验,统计衍射信号或进行图像记录;4.打开衍射仪自动干燥阀门,将背散射室内温度升高至常温,并停止衍射实验。
注意事项1.在进行电子背散射衍射实验前,需要通过相关培训和实验操作练习,确保对设备和技术的理解和熟练掌握;2.清洗样品时,应注意避免使用容易导电的物质,以免影响电子背散射衍射的实验数据;同时,不同材料之间需严格避免混淆;3.如需开启背散射电源,请在安全区域内操作,并切勿在实验期间离开,避免出现异常情况。
设备的保养对于电子背散射衍射设备,需要进行定期的保养和维护,可以延长设备的寿命,同时也能提高实验数据的准确性。
具体保养方法如下:1.定期清洗设备外表面及内部样品架等易积尘部位;2.定期检查设备电源、水流、冷却系统及电子源等设备部件的使用状况;3.普通维修、大修、更换零部件等工作必须由具有专业资格的工程师进行;4.定期校准电子束束流强度、加速电压等参数,确保实验数据准确性;5.设备停用时应进行设备的全面清洁,除去残留物和各种积尘。
总结电子背散射衍射是一项科学实验技术,对材料、化学、生物等领域的研究具有重要的意义。
本文提供了在实验前的准备工作、实验操作步骤、注意事项和设备保养方法等方面的规程,旨在确保实验安全稳定,数据准确可靠。
金属电子背散射衍射试样的制备技术
金属电子背散射衍射试样的制备技术
郭宇航;金云学;张丽华;周虎
【期刊名称】《理化检验-物理分册》
【年(卷),期】2007(043)008
【摘要】电子背散射衍射样品的制备质量对其成像效果的影响至关重要,着重介绍了几种有效的样品制备方法.试验证实,与其他方法相比,机械-化学抛光法具有设备简单、易操作及效果明显等优点.
【总页数】5页(P399-403)
【作者】郭宇航;金云学;张丽华;周虎
【作者单位】江苏科技大学,先进焊接技术省级重点实验室,镇江,212003;江苏科技大学,先进焊接技术省级重点实验室,镇江,212003;江苏科技大学,先进焊接技术省级重点实验室,镇江,212003;江苏科技大学,先进焊接技术省级重点实验室,镇
江,212003
【正文语种】中文
【中图分类】TG115.21+1;TB302
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EBSD样品制备
V olume 5, Issue 2摘要:背散射电子衍射装置(EBSD)是扫描电子显微镜(SEM)的附件之一,它能提供如:晶间取向研究、相辨别和晶粒尺寸测量等完整的分析数据。
在很短的时间就可以获得衍射花样,延长扫描时间可以提高衍射花样的质量,而获得晶粒取向分布图则需要非常长的扫描时间,它需要获得视场上的每个像素点的衍射花样。
衍射花样质量的高低,取决于在样品制备过程中,晶体晶格上的损伤去除的情况和衍射花样标定指数可信度的影响。
EBSD样品制备Written by:George Vander Voort (Buehler Ltd)Tech-NotesUsing Microstructural Analysis to Solve Practical Problem背散射电子衍射装置(EBSD)是扫描电子显微镜(SEM)的附件之一,它能提供如:晶间取向研究、相辨别和晶粒尺寸测量等完整的分析数据。
在很短的时间就可以获得衍射花样,延长扫描时间可以提高衍射花样的质量,而获得晶粒取向分布图则需要非常长的扫描时间,它需要获得视场上的每个像素点的衍射花样。
衍射花样质量的高低,取决于在样品制备过程中,晶体晶格上的损伤去除的情况和衍射花样标定指数可信度的影响。
在过去大家一直认为只有通过电解抛光和离子束抛光的方法才能获得没有损伤层的样品。
但是,现代的机械抛光的方法,使用抛光机和正确的抛光耗材也可以得到高质量的EBSD样品,同时也避免了电解抛光和离子束抛光的局限性,以及电解抛光时使用电解液的危险性。
通常如果使用机械抛光方法,对于非立方晶系的金属或合金(如:Sb, Be, Hf, α-Ti, Zn, Zr)只要在光学显微镜的偏振光下评判其的图像质量,对于立方晶系和非立方晶系都可以采用彩色腐蚀的方法来确定样品表面是否还存在残余损伤层,是否能够获得高质量的EBSD花样。
这是由于当样品与电子束呈锐角(70 – 74°)时,可以获得最佳质量的EBSD花样。
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15 电解抛 光 .
电解 抛 光 ( lcr lt oi ig o 1crp l hn ) E etoyi p l hn reeto oi ig 又 c s s
液在超声波清洗器中清洗 。试样去除油污后 , 表面要用砂纸 磨光。E S B D对试样尺寸要求较高, 对于大多数扫描 电子显
试 样表 面与 阴极 之 问的距 离变化 也会 影 响试 样 的表 面质 量 。 ⑤从 电解液 中取 出的试样要 尽快 洗净 , 避免 残 留在 试样 表 面
向自转。抛光时间并非越长越好 , 时间过长反而会造成表面 扰乱以及形成表面浮雕现象 。抛光过程中, 要用清水定期洗
涤 抛光 布和试 样 , 以免试 样表 面 附着 的抛光 微粉 造 成试 样 表
微镜 , 电子 背 散 射 衍 射 试 样 观 察 面 的 典 型 尺 寸 是 (r × 7m a 7 m) (O a r ~ 1mmX1rm), 度一 般在 1 m a 0 厚 ~3 m。若观 察试 样 的平 面尺 寸过大 , 加工专 用载 物 台 ; 需 若厚 度过 大 , 会 妨 则 碍试 样偏 转 。 工业 纯 钛 试样 , 者建 议 采 用 8 对 笔 mm×8 m× a r
书 中找 到相关 的抛 光 工艺 , 实 际 的抛 光参 数 ( 电解 液 配 但 如 方、 电压 、 温度 、 间 等 ) 时 的确 定 , 要 通 过 大 量 的试 验来 验 需 证 。用 于钛和 钛合金 的 电解 抛光 配方 有很 多 , 者 选用 其 中 笔 的一种 配方进 行多次 试验 , 终取 得 了较好 的抛 光效 果 。电 最 解液成 分为 :4mL冰醋酸 +6mL高氯 酸 (o )抛光 电压 90 0 6 ,
要求 限制小 。经 电解 抛光 的试 样 表 面平 整 、 洁 、 变形 层 , 光 无
因此 是处 理 大批 量 E S B D试 样 的首选 方 法 。但 要 获得 其合 适 的工 艺参数 比较 困难 , 进 行 大量 的摸 索 性试 验 , 电解 须 且
抛光方 法制样 的可 重复性 较差 。
若切 割下 的试 样 较 小 , 进 行 镶 样 。常 用 镶 样 方 法 很 需 多, 笔者 建议使 用 自 牙托粉 镶样 , 凝 镶样 过程 简 单 , 不会 脱 且 落 污染表 面 。用丙 酮浸 泡几小 时 , 即可 方便 地 从基 体 中取 下
试样 。
12 试 样 的磨 制 .
试样磨制采用普通金相试样 的磨制方法 , 但要求更高 。
3 V, O 温度 2 ℃ , 间 2 n 2 时 mi。
Байду номын сангаас13 机械 抛光 .
工 业纯钛 机械 抛光使 用的抛 光剂 多为 A 。 l 。一 般不 用 O 金 刚砂 抛光 , 因为使 用 金 刚砂 抛 光钛 试 样 , 样表 面 会 产 生 试 连续 的机械 变形 , 在试 样表 面 留下 划痕和脱 尾效 应 。
均 匀地去 除试样 表 面 1 3 n 的厚 度 , 到 平 整 的 试 样 表 ~ 0m 得
面 。但离子 轰击 时间过 长或 电压过 高都 会破 坏 试样 表 面 , 形
成腐蚀坑 , E S 使 B D信息失真。离子刻蚀法制备电子背散射 衍 射试样 重复性 好 , 功率 高 , 制备 E S 试 样 的理 想 方 成 是 BD
面划痕 。
上的电解液继续发生化学反应而污染试样表面。⑥保持 电 解液新鲜。在抛光过程中, 抛光液浓度的变化会使其抛光效
果减 弱 , 导致试 样表 面不均匀 , 时应该 更换新 的抛 光液 。 此
14 离子 刻蚀 . 离子刻蚀 的原理是在真空室内, 使用惰性气体高能离子 束对试样表面的一定 区域进行轰击 , 利用离子束的能量, 铲
在磨 制过 程 中 , 按水 砂纸标 号从 小 到大依 次 进行 。先 用水 砂 纸 在金相 预磨机 上粗磨 , 去切 割后 试样 表 面 的浮雕 及切 割 磨 痕 。磨制 时用力 大小 要 适 当 , 要 均 匀 , 则 会 造 成试 样 表 且 否 面应力 过大或 变形 。磨 制 时磨 削颗 粒 同样 会 造 成 试样 表 面
粗颗粒抛光剂进行粗抛光, 再用毛绒或丝绒配合细颗粒抛光
剂进 行 细 抛 光 。抛 光 盘 转 速 选 择 中 等 转 速 (0 ~ 5O/ 30 0r mi)试 样要沿 盘 的径 向往 返 缓 慢 移动 , n, 同时要 逆 抛 光 盘转
搅拌频率为 5 z H 。④试样的抛光面应与阴极保持平行 , 另外
角度为 7。旋转速度为 lrmi, 5, O/ n 刻蚀时间为 1 , ~2 即可较 h
( 下转 第 2 8页) 0
图 2 电解 抛光装 置示 意图 ”
F g 2 S e c p o lc r l tc p l h n e i e 。 i . k t h ma fee t o y i o i i g d v c E ] s
的损伤 , 因此每次更换砂纸之前 , 要将试样上磨屑和砂粒清
除试样表面的原子, 从而得到逐渐平整 的微观表面。以 G — a tn8 离子刻蚀仪为例, a 62 工业纯钛离子刻蚀 时, 载样台倾斜
图3 是分别采用离子刻蚀法和电解抛光法制备的工业
纯钛 E S B D试样 的菊池 花样 图 。由图 3 知 , 3 a离 子刻 可 图 () 蚀 时间 1 h时 , 池 花 样 质量 不 是 很 好 , 复 刻 蚀 后 , 图 菊 重 与 3b采 用 电解 抛光后 的菊池 花样 一样清 晰 , () 标定率 较高 。
液颗 粒分别 为 l b 0 2 .  ̄3m、. ~O 5 m。粗抛 时 使用 帆 布 配合 L
高, 反应速度过快 , 会使试样表面出现大量的蚀坑 。③搅拌
速度 也是 影响试样 表 面质量 的重要 因素 , 同样 的工 艺 条件 在 下 , 变搅拌频 率 能 明 显 改变 试 样 的 表 面质 量 。本 试 验 中, 改
电解抛光的实际操作过程 中应注意: ①试样不宜过大。 实 际操作表 明 , 积较 小 的试 样 容 易 得 到平 整 光 洁 的 表 面 。 面
②要 严格 控制工作 温度 。由于 钛是 比较 活 泼 的材 料 , 度过 温
工业纯钛机械抛光分为粗抛和细抛 , 使用 的 A z s l 悬浊 0
・
24 ・ 0
材料 导报
2 1 年 5月第 2 01 5卷 专辑 1 7
热引起 大面 积的变形 层和 氧化层 , 响对 材料 真 实组 织 的观 影 察 。工 业纯钛 一般采 用线切 割 , 为电火 花加 工 时产 生 的创 因 面小 , 大的 冲击 力 , 无 相应 的变形 层和 相变 较 小 , 而且 加 工 出 的试样 形状 规则 , 尺寸 精 确 ^但切 割 速 度要 尽 量 慢 , 太快 会 在试样 表面 形成较 深的变形 层 和氧 化层 。需 说 明的是 , 切样 时务必 注意 取样部 位 , 使试样 的观察 面与下 表面绝 对平行 。 切 割后 的试样 要进行 去油污 处理 , 可采 用酒 精 或丙 酮溶
(  ̄3 mm 的试样 尺寸 。 2 )
称 电化学 抛光 , 指 在一 定 的外 加 电压 下 , 直 流 电 流通 过 是 将 电解池使 金属 工件在 电解液 中发 生 阳极溶 解 , 而平 整 金属 从
表面, 并使之产生光泽的加工过程【] 。图 2 为电解抛光装置
示 意 图 。电解抛 光 装置 结 构 简单 , 操 作 , 对 试 样 的 体积 易 且
除干净 , 并转 动 9。 , 新磨 痕 与 旧磨 痕垂 直 。根 据 经 验 , O角 使
不 同材料 的 电解 抛光工 艺不 同 , 一般 可 以在 文献 和 工具
ES B D试样磨制 时, 相邻道次的水砂纸标号差值越小越好。 需 注 意的是 , 期使用 标号较 高 的水 砂纸 时(20 20号 的 后 10 ̄ 00 普通砂纸)应随时清洗试样表面的磨削颗粒并保持砂纸的 , 锋利度 , 这样产生的应变层会相对薄一些