IC半导体来料性能检验规范

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1. 目的
本规范是我司在特殊条件下检验IC类和功率器件类来料性能的基础规范，规范特定的抽检条件和抽检内容。

2. 适用范围
本规范适用我司IC器件和半导体分立元件，物料族包括如下：
3. 引用标准
JEDEC STANDARD：JESD22 Series、JESD47
Military (U.S) STANDARD：MIL-STD-883、MIL-STD-750
Manufacture Specifications & Application Notes
4. 试验内容
1）试验内容和设备：
A 高温电参数：检验来料在高温（如手册规定极限高温）条件下的电参数,如漏电流、通态压降等。

试验设备：温箱/加热台、TEK 370/371、托盘、隔热手套等。

B 低温电参数：检验来料在低温（如手册规定极限低温）条件下的电参数,如阻断电压、阈值电压等。

试验设备：温箱、TEK 370/371、托盘等。

C 安装绝缘：对于需要安装到散热器的自身提供绝缘功能的器件，按照规定的方法条件安装后，测试绝缘耐压。

试验设备：散热器（已打孔）、功率母排、手批、电批、安装螺钉、绝缘耐压仪等上述三项试验内容可针对性选择。

5. 试验过程
1）高温电参数测试
①样品准备：抽取样品，接入必要的试验测试电路板；
②将待检测样品放入温箱，温箱温度设定为器件手册规定的最高温度，启动温箱；
③温箱温度达到设定值后，稳定0.5～1小时（尺寸较小封装如TO 247、TO 220等0.5小时，模块封装器件1小时），通过试验测试电路板的外接引线测试器件的电参数。

④对于自带金属散热基板的器件，也可以使用温度可控的加热台进行加热，加热和测试中需注意防止高温烫伤（设备附近请放置警示牌）。

⑤如果不需使用测试电路板，加热完成后可以用托盘将样品从温箱取出，立即进行测试。

取出和测试过程中需注意防止高温烫伤（设备附近请放置警示牌）。

⑥记录数据，拟制测试报告。

2）低温电参数测试
①样品准备：抽取样品，接入必要的试验测试电路板；
②将待检测样品放入温箱，温箱温度设定为器件手册规定的最低温度，启动温箱；
③温箱温度达到设定值后，稳定运行0.5～1小时（尺寸较小封装如TO 247、TO 220等0.5小时，模块封装器件1小时），通过试验测试电路板的外接引线测试器件的电参数。

④如果不需使用测试电路板，且表面凝露对器件性能无影响，可以用托盘将样品从温箱取出，进行测试。

取出和测试过程中需注意防止冻伤。

⑤记录数据，拟制测试报告。

3）安装后绝缘耐压测试
①样品准备：抽取样品，测试其绝缘耐压，绝缘电压从零逐渐调大到设定值；
②参照手册的安装要求，将样品安装到散热器或者功率母排上。

通常先用电批安装达到1/3最大力矩，然后再用手批安装至设定力矩；
③安装完毕后，在安装状态下测试器件绝缘耐压；
④记录试验前后数据，拟制测试报告
6．试验后产品合格判定标准
7. 试验注意事项
1）每次试验时需检查试验工装、接线是否接触良好。

2）试验过程中，如果需要在室温下测试样品，需要将样品在室温下放置30分钟后再测量。

3）测试或试验安装过程中，需要避免各种外力损坏试验样品，如机械应力、静电等。

8. 来料抽检计划和抽检结果记录
1）抽检计划：
各类物料的特殊条件下性能抽检计划（包含编码、厂家、数量、频次、试验项目、试验条件、试验时间、试验设备、失效判断标准等）。

原则上该计划表每年度刷新一次。

在有紧急更新需要时，也可以更新该计划表。

2）抽检结果记录
每次抽检时，将试验数据记录在下面表格中，数据记录表文件编号规则为“SPEC -8位阿拉伯数字-厂家名称-6位阿拉伯数字”，“SPEC”代表特殊条件下性能抽检，8位阿拉伯数字为我司物料编码，后面的6位阿拉伯数字代表测试日期（如090903代表2009年9月3日）。

SPEC-XXXXXXXX-XXX
X-090903.xls。