基于改进Radon变换的芯片几何特征检测

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摘
要：在分析芯片几何特征检测的基础上，根据Ｒｄｎａｏ变换的基本思想，出一种用于芯片几何特征检测的改进Ｒｄｎ提ａｏ变换算法，对该
算法在矩形芯片边界直线的检测过程中确定边界直线、剔除干扰和加快速度的具体应用进行了研究。试验结果表明，与传统算法相比，该算法可以有效提高识别效率３％，同时具有鲁棒性好及检测结果准确等特点。０
［ｙｗｏｄｉＲｄｎｔｓｏ；ｉｅｅｅｔｎｉｇｒｃｓｉｇｐｔｒｃｇｉｏＫｅｒｓａｏａｆｒｌｔｉ；ｍａｅｐｏｅｓ；ａｔｎｒｏｎｔｎｒｎｍｎｄｃｏｎｅｅｉ
１概述
随着电子技术的发展，印刷电路板进入大批量生产阶段，电路板上集成的电子元器件的密度越来越大，依靠人工目测
３ＳｈｏｆｈｓｓｄＥｅｔｎｃＴｃｎｌｇ，ｂｉｎｖｒｉ，ｕａ３０２．ｃｏｌｙｉｌｃｏｉｅｈｏｏｙＨｕｅＵｉｅｓｙＷｈｎ４０６）ｏＰｃａｎｒｔ
［ｂｔａｔＢｓｇｏｎｌｓｆｅｍｅｒｅｔｒｆｈｐａｄｆｎａｎｆＲｄｎｔｓｒｔｉｐｐｒｒｓｎｓａｍｅｏｏｅｅｔｇｔｅＡｓｒｃ！ａｉｎａａｙｉｏｏｔｆａｕｅｏｉｕｄｍｅｔａｏａｆｍ，ｈｓａｅｅｅｔｔｄｆｒｄｔｉｎｓｇｙｃｎｏｒｏｎｐｈｃｎｈ
ห้องสมุดไป่ตู้
中圈分类号。Ｔ３１Ｐ９．４
基于改进Ｒａｏｄｎ变换的芯片几何特征检测
孔华锋，鲁宏伟，胡东红
（．华中科技大学计算机科学与技术学院，武汉４０７；２１３０４．华中科技大学图像识别与人工智能研究所，武汉４０７；３０４３．湖北大学物理学与电子技术学院，武汉４０６）３０２
ＫＯＮＧａｆｎ，Ｈｕ — ｇＬＵｎ－ｉ，ｅＨｏｇｗｅＨＵｎ－ｏｇＤｏｇｈｎ
（．ｃｏｌｏ１ＳｈｏｆＣｏｍｐｔｒＳｃｅｃｎｅｈｌｇ，ａｈｎｉｅｓｔｆＳｉｎｅａｄＴｅｈｏｏｙＷｕａ３０４ｕｅｉｎｅａｄＴｃｎｏｏｙＨｕｚｏｇＵｎｖｒｉｙｏｃｅｃｎｃｎｌｇ，ｈｎ４０７；
关健诃：Ｒｄｎ变换；直线检测；图像处理；模式识别ａｏ
ＧｅｍｅｒａｕｅＤｅｅｔｏｆＣｈｐＢａｅｎｏｔｙＦｅｔｒｔｃｉｎ０ｉｓｄ０
一ｌｏｒｍｏｖｅ一１１ｄａｄ０ｎ￣ａｎｓ一ｍＫｎｒｌｒ一ｆｏｒ
对电路板上芯片是否正确贴装进行检测的方法已经不适
统无法做出正确的判断，因此在提高对比灵敏度的同时还需去除图像中可能存在的噪声。此外，还要考虑如何解决由于图像的轻微弯曲和成像的畸变而带来的识别问题，图像的探测图形往往会产生轻微弯曲，一般的直线检测和边缘检测算
ｇｏｔ￣ａｕｏｈｐｂｓｄｏｍｐｏｅｄｎｔａｓｏ．ｅａｇｒｔｍｅｅｒｈｆｃｓｓｏｅｅｔｎｄｅｌｅ，ｌｍｉａｉｇｔｅｄｓｕｂｎｄｅｍｅｒｙｔｍｆｃｉａｅｎｉｒｖｄＲａｏｎｆｒＴｈｌｏｈｒｓａｃｏｕｅｎｄｔｃｉｇｅｇｉｓｅｉｎｔｉｔｒｉｇａｒｍｉｎｎｈｎｉｒｖｎｅｆｍａｃｎｔｅｂｕｎａｙｄｔｃｉｎｐｏｅｓｏｆｒｃａｇｌｒｃｉ．ｍｐｏｉｇｐｒｏｒｎｅｉｏｄｒｅｅｔｏｒｃｓｅｔｎｕａｈｐＴｈｅｅｈｃｍｅｎｔｅｅｃｅｃｅａｇｒｔｈｎａｅｎｔｏｈｆｉｎｙｏｆｔｌｏｈｍｓａｏｔ３％ｎｉｈｉｉｂｕ０ｐｒｖｄＥｘｅｍｅｔｌｒｓｌｓｏｈｔｈｓａｇｒｔｍｓｒｂｓｎｈｅｕｔｓｃｕａｅｏｅ．ｐｒｉｎａｅｕｔｈｗｓｔａｉｌｏｈｉｏｕｔｄｔｅｒｓｌｉｃｒｔ．ｔｉａａ
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第３卷第ｌ期４１
Ｖ１ｏ．３４
・
计
算
机
工
程
２００８年６月
Ｊｎ０８ｕｅ２０
Ｎｏ１．１
ＣｏｐｕｅｍｔｒＥｎｇｎｅｒｎｉｅｉｇ
人工智能及识别技术・
文章编号ｔ１４８０８１＿１文献标识码ｔＡ０＿３（０）—０ｏ２０２２１２ —
２ＩｔｕｅｏａｔｒｃｇｔｎａｄＡｒｉｃａｎｅｌｇｎｅＨｕｚｏｇＵｎｖｒｉｙｏｉｎｅａｄＴｅｈｏｏｙＷｕｎ３０４．ｎｓｉｔｆＰｔｎＲｅｏｎｉｏｔｆｉｌＩｔｌｅｃ，ａｈｎｉｅｓｔｆＳｃｅｃｎｃｎｌｇ，ｈａ４０７；ｔｅｉｎｉｉ