4核辐射测量方法-(硕)
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fg为相对立体角修正因子，fa为吸收修正因子，fb为反散 射修正因子，fk为坪斜修正因子，fτ为分辨时间(即死时 间)修正因子，fr为探测器对γ射线灵敏的修正因子 ε本征为探测器本征效率。如果ε已知，由测得的n和nb， 就可求出，放射源活度A。ε由许多修正因子组成
2016/5/31
25/87
4计数法
tg 1R / H
1 H 2 sin d (1 ) 2 2 2 R H o
2016/5/31 8/87
H
本征效率
本征探测效率就是进入探测器灵敏体积的一个入 射粒子产生一个脉冲的几率 测到的脉冲计数率 100 ％ 单 位 时 间 内 进 入 灵 敏积 体的 粒 子 数
后者称为次级宇宙射线，主要是初级宇宙射线与 大气中的原子核相互作用产生的μ介子、电子、 光子、高能中子及质子。
2016/5/31
17/87
本底来源
周围环境的放射性核素 • 测量装置周围环境中的放射性核素主要有40K、238U和
232Th衰变链中的各核素，还有裂变气体如85Kr及活化
气体41Ar等
屏蔽材料及探测器件中的放射性核素 • γ射线的屏蔽材料一般采用铅和铁，铅中常含有210Pb
探测器本征效率的最大值为1，其数值与探测器 种类、运行状况和几何尺寸有关、与入射粒子的 种类和能量、探测器窗厚度有关，还与电子记录 仪的工作状况有关
粒子以平行束入射和以锥形束入射的探测效率是 有差别的
2016/5/31 9/87
吸收因子
放射性样品发射的射线，在达到探测器之前，一 般要经过三种吸收层： 样品材料本身的吸收(自吸收) 样品和探测器之间空气层的吸收
死时间可能由探测器本身的过程所决定，也可能 由电子学线路所决定。由于放射性衰变的随机性， 将会造成真事件的丢失
2016/5/31
13/87
分辨时间校正
时间修正因子
n f 1 n m n 为有分辨时间实际测量到的计数率
m为没有分辨时间损失的计数率 τ为测量装置的分辨时间 m n mn
例如：电子对湮灭时产生两个0.511ＭeV的γ射 线，一个射线给出标准时间信号，另一个给出探 测器的输出信号，通过测量输出信号对标准时间 信号的延迟时间，得到时间分布谱及时间分辨率。
2016/5/31 15/87
本底计数（background count)
在放射性测量中，狭义的本底计数是指没有被测 样品时测量装置显示出的计数，而把样品中干扰 放射性产生的计数称为干扰计数。 总的本底计数＝无被测样品时计数+干扰计数
探测器窗的吸收
I I 0e
x
f
a
f f
a自
a空气
f
a窗
自吸收吸收因子 I _ x fa e m m I0
2016/5/31 10/87
散射因子
放射性样品发射的射线可被其周围介质所散射， 对测量造成影响 散射对测量的影响有两类：正向散射和反向散射 正向散射使射向探测器灵敏区的射线偏离而不能 进入灵敏区，这种散射使计数率减少 反向散射使原来不该射向探测器的射线经散射后 进入灵敏区，这种散射使计数率增加
2016/5/31
32/87
α能谱仪的刻度
当测出α脉冲幅度谱以后，还需进行能量刻度， 才能确定所测α粒子的能量。 能量刻度曲线：用已知能量的α放射源，在相同 条件下测量它们的能量所对应的脉冲幅度(或道 址)，作出能量和脉冲幅度的关系曲线。 对于α粒子能谱的测量，要考虑到α粒子与物质相 互作用的特点，并尽量选择能量分辨率较好及使 用较方便的探测器。 如金硅面垒半导体探测器；屏栅电离室；带窗的 正比计数器等
E( x) G x E0
增益，单位为 [KeV/ch] 零道址对应的粒子能 量，称为零截
2016/5/31 30/87
E与x的函数关系E(x)，称为能谱仪的能量刻度曲 线。借助于一组已知能量的辐射源进行能量刻度， 而得到一条能量刻度曲线。横坐标为道址x，纵 坐标为入射粒子的能量E E G
放射性样品的净计数率为测得的计数率减去本底 计数率
n （ ） n （ ） -n （ ） 0 净计数 s 测量值 b 本底
2016/5/31
16/87
本底来源
宇宙射线是由太空进入地球大气的一些粒子及其 次级产物组成的。 前者称为初级宇宙射线，例如能量大于10MeV的 质子、少量α粒子、各种原子核。
fg的定义是每秒到达探测器灵敏体积的粒子数目 与样品每秒发射的粒子数目之比
几何因子的校正对点源易于计算，对非点源或扩 散源可用数值积分方法计算
2016/5/31
7/87
点源对圆盘探测器的几何效率
2R
探测器
θ0
源
1 fg 4 4
1 fg 4
0
0
1 2 sin d (1 cos 0 ) 2
yxi (计数率)～xi (道址)
2016/5/31
29/87
谱仪的能量刻度和能量刻度曲线
探测器输出脉冲幅度 h与入射粒子能量E一般具 有线性关系，这里的 h 指脉冲幅度分布的中心位 置的幅度值。若输出脉冲幅度与入射粒子能量具 有良好的线性关系。则有：
E K1 h K2
而脉冲幅度分析器具有良好的线性，x h
对接地不良造成的电子学线路干扰，可以缩短放 大器和探测器距离，所有电子学仪器都一点接地
2016/5/31
20/87
测量方法
对α、β放射性核素的活度采用小立体角法或者
4π方法
对γ放射性核素采取能谱测量
对中子进行探测
2016/5/31
21/87
α、β放射性核素的活度－小立体角法
1-铅室；2-铝或塑料板；3-探 测器；4-探测器的窗；5-支 架；6-准直器；7-源托板； 8-放射源 为减少本底，放射源和探测 器都置于铅室内，铅壁厚度 一般要大于5mm 为了减少散射,铅室内腔要足 够空旷
1Ci= 3.7×1010 Bq
2016/5/31 3/87
与放射性活度有关的概念
发射率：是指放射性样品在单位时间内平均发射 某种射线的粒子数 比放射性活度(比活度)：放射性样品中某种放射 性核素的活度与样品质量(或体积)之比，即单位 质量(或体积)的放射性样品内核素的活度。其单 位是kBq〃g-1，MBq〃g-1， Bq〃l-1，kBq〃l-1等 一般探测装置对放射性样品进行活度测量时，得 到的是单位时间内纪录的脉冲数，即计数率
2016/5/31
5/87
绝对测量法复杂，需要考虑很多影响测量的因素， 但绝对测量法是活度测量的基本方法 绝对测量中影响活度测量的几个因素 • 几何因素 • 探测器的本征探测效率 • 吸收因素 • 散射因素 • 分辨时间 • 本底计数
2016/5/31
6/87
几何因素
对于一般探测器，放射性样品都是放在探测器外 面进行测量的，因此射入探测器灵敏体积的粒子 数只是发射率的一部分。一般用几何因子fg来进 行校正
核辐射测量方法
上海交通大学 张继革 副研究员 2016年3月21日
核辐射测量任务
放射性活度的测量
辐射场量的测量：辐射注量(率)
辐射粒子能量或能谱测量
辐射剂量的测量
位置的测量(辐射成像) 有关时间的量：半衰期或寿命等 粒子鉴别等
2016/5/31 2/87
放射性活度
放射性活度的严格定义：处于特定能态的一定量 放射性核素在给定时刻的活度A是dN除以dt，是该 能态发生自发衰变或核跃迁数的期望值 单位时间间隔内的核衰变通常称为衰变率。因此 活度也即放射性核素在某时刻的衰变率的期望值 放射性活度国际单位为贝克勒尔简称Bq(贝克) 1Bq=1衰变/s 1MBq=103kBq=106Bq 1950年，国际规定一个放射源每一秒钟有 3.7×1010次核衰变定义为一个居里：
2016/5/31 26/87
能量的测量
凡是辐射粒子的能量测量，探测器都必须工作于 脉冲工作状态，电压脉冲工作状态或电流脉冲工 作状态均可。 在电压工作状态时，脉冲幅度：
N 为入射粒子在探测器灵敏体积内产生的信息载
Ne h C0
流子的数目
2016/5/31
27/87
能谱
能谱的定义：能谱就是dN / dE 式中dN代表脉冲幅度 落在h~h+dh的脉冲数，
2016/5/31
11/87
分辨时间（resolving time)
分辨时间：两个相继出现而仍能被分辨的脉冲或 电离事件之间的最小时间间隔 探测器、计数器、脉冲幅度分析器等均有一定的 分辨时间
在分辨时间内无法记录进入探测器的第二个粒子
2016/5/31
12/87
死时间
几乎在所有的探测系统中，都存在一个最小时限， 两个事件之间的时间间隔大于此时限才能被分辨 开而记录为两个单独的脉冲，这个最小的时限通 常称为探测系统的死时间。
用小立体角法进行绝对测量要经过多种修正，造 成测量误差加大。 4π计数法是把源移到计数管内部，使计数管对 源所张的立体角为4π，这就减少了散射、吸收 和几何位置的影响，测量误差比小立体角法大大 减小，误差可到1%左右。 流气式4π正比计数器；(适用于固态放射源)
内充气正比计数器和液体闪烁计数器；(适用于 14C、3H等低能β放射性测量，将14C、3H混于工 作介质中)
E1 E2
E3 E0 x3
x2
2016/5/31
x1
x
31/87
α能谱测定
在α能谱测量中常用金硅面垒型半导体α能谱仪
E 系统的能量分辨率定义为： ，其中 ΔE 为测量 E 误差，E为能谱峰值。
如对于210Po：Eα＝5.3MeV，ΔE＝15.8KeV
E 15.8 2.98 10 3 0.3% E 5300
2016/5/31
22/87
为了减少β在铅中的韧致辐射,铅室内壁有一薄层 铝皮或塑料(厚度约为2-5mm) 为了减少源的支架及托板的散射和韧致辐射,它们 都采用低Z材料作成. 准直器用来确定立体角,并可防止立体角以外的射 线进入探测器 探测器采用薄云母窗的 钟罩型G-M计数管.也可以 用薄窗正比管、塑料闪烁 探测器(加避光铝铂)。
计数装置实际测得的计数率要比真正进入探测器 内的计数率要小
2016/5/31
14/87
时间分辨率（time resolusion)
时间分辨率：表示脉冲探测器区分两个相继入射 粒子能力的一个量 它通常用探测器输出信号延迟时间分布谱峰的半 高宽度来确定
经常利用放射源同时发出两个射线来测量探测器 的时间分辨率。
2016/5/31
4/87
放射性样品的活度测测量：需要一个已知活度A0标准源，在同 样条件下测量标准源和被测样品的计数率 n0、n， 根据计数率与活度成正比，可求出样品的活度：
A＝A0n/n0
相对法测量简便，但条件苛刻：必须有一个与被 测样品相同的已知活度的标准源，且测量条件必 须相同
2016/5/31 23/87
2016/5/31
24/87
设待测放射源的活度为A，每次衰变放出一个β 粒子，测得的总计数率为n，本底计数率为nb， 则净计数率n0为
n0 n nb A f g f a f b f k f f r 本征 A
ε为小立体角测量装置对β射线的总探测效率
当装置周围有中子源存在时，可以用含有硼、石蜡（含 氢较多）先屏蔽中子。
为减少氡、钍射气造成的本底，可以采用有效的通风。
为了降低探测器元器件带来的本底，采用石英玻璃的光 电倍增管，可以先对NaI(Tl)晶体经过钾提纯，减少K-40 的影响。
2016/5/31 19/87
降低本底的措施
降低宇宙射线中硬成分的影响可以采用反符合屏 蔽。 所谓反符合屏蔽是指在探测器的周围和顶部安放 一组探测器，样品发出的射线能量低，只能被主 探测器记录，而高能宇宙射线则能被主探测器和 屏蔽探测器都记录。将屏蔽探测器中的记录从主 探测器消去，就能消去高能宇宙射线的影响。
~ E的直方图 实验直接测得的是脉冲幅度谱，即 dN / dh ~ h
dN/dh表示输出脉冲幅 度为h的单位幅度间隔
内的脉冲数
2016/5/31
28/87
由于统计涨落，即使对同一能量的带电粒子，也 会产生不同幅度的脉冲，形成脉冲幅度分布。 脉冲幅度分布的中心值对应某一入射粒子的能量 实测多采用多道脉冲幅度分析器给出：
和Ra，某些钢中含有60Co。砖和混凝土等建筑材料中 含有微量的Ra，U，Th
• 闪烁探测器的光电倍增管玻璃中含有40K，NaI(Tl)晶
体中含有少量的40K、Ra、Th。用作窗材料的云母也 含有40K
2016/5/31 18/87
降低本底的措施
降低铅屏蔽材料中的微量放射性核素，选择放置老铅或 特殊精练过的铅。保证铅中的Rn-222,K-40衰变完。 为了吸收铅屏蔽体中的低能散射射线或铅的射线，可以 在铅屏蔽体中加一层镉。镉在该能量段的质量衰减系数 较大。
2016/5/31
25/87
4计数法
tg 1R / H
1 H 2 sin d (1 ) 2 2 2 R H o
2016/5/31 8/87
H
本征效率
本征探测效率就是进入探测器灵敏体积的一个入 射粒子产生一个脉冲的几率 测到的脉冲计数率 100 ％ 单 位 时 间 内 进 入 灵 敏积 体的 粒 子 数
后者称为次级宇宙射线，主要是初级宇宙射线与 大气中的原子核相互作用产生的μ介子、电子、 光子、高能中子及质子。
2016/5/31
17/87
本底来源
周围环境的放射性核素 • 测量装置周围环境中的放射性核素主要有40K、238U和
232Th衰变链中的各核素，还有裂变气体如85Kr及活化
气体41Ar等
屏蔽材料及探测器件中的放射性核素 • γ射线的屏蔽材料一般采用铅和铁，铅中常含有210Pb
探测器本征效率的最大值为1，其数值与探测器 种类、运行状况和几何尺寸有关、与入射粒子的 种类和能量、探测器窗厚度有关，还与电子记录 仪的工作状况有关
粒子以平行束入射和以锥形束入射的探测效率是 有差别的
2016/5/31 9/87
吸收因子
放射性样品发射的射线，在达到探测器之前，一 般要经过三种吸收层： 样品材料本身的吸收(自吸收) 样品和探测器之间空气层的吸收
死时间可能由探测器本身的过程所决定，也可能 由电子学线路所决定。由于放射性衰变的随机性， 将会造成真事件的丢失
2016/5/31
13/87
分辨时间校正
时间修正因子
n f 1 n m n 为有分辨时间实际测量到的计数率
m为没有分辨时间损失的计数率 τ为测量装置的分辨时间 m n mn
例如：电子对湮灭时产生两个0.511ＭeV的γ射 线，一个射线给出标准时间信号，另一个给出探 测器的输出信号，通过测量输出信号对标准时间 信号的延迟时间，得到时间分布谱及时间分辨率。
2016/5/31 15/87
本底计数（background count)
在放射性测量中，狭义的本底计数是指没有被测 样品时测量装置显示出的计数，而把样品中干扰 放射性产生的计数称为干扰计数。 总的本底计数＝无被测样品时计数+干扰计数
探测器窗的吸收
I I 0e
x
f
a
f f
a自
a空气
f
a窗
自吸收吸收因子 I _ x fa e m m I0
2016/5/31 10/87
散射因子
放射性样品发射的射线可被其周围介质所散射， 对测量造成影响 散射对测量的影响有两类：正向散射和反向散射 正向散射使射向探测器灵敏区的射线偏离而不能 进入灵敏区，这种散射使计数率减少 反向散射使原来不该射向探测器的射线经散射后 进入灵敏区，这种散射使计数率增加
2016/5/31
32/87
α能谱仪的刻度
当测出α脉冲幅度谱以后，还需进行能量刻度， 才能确定所测α粒子的能量。 能量刻度曲线：用已知能量的α放射源，在相同 条件下测量它们的能量所对应的脉冲幅度(或道 址)，作出能量和脉冲幅度的关系曲线。 对于α粒子能谱的测量，要考虑到α粒子与物质相 互作用的特点，并尽量选择能量分辨率较好及使 用较方便的探测器。 如金硅面垒半导体探测器；屏栅电离室；带窗的 正比计数器等
E( x) G x E0
增益，单位为 [KeV/ch] 零道址对应的粒子能 量，称为零截
2016/5/31 30/87
E与x的函数关系E(x)，称为能谱仪的能量刻度曲 线。借助于一组已知能量的辐射源进行能量刻度， 而得到一条能量刻度曲线。横坐标为道址x，纵 坐标为入射粒子的能量E E G
放射性样品的净计数率为测得的计数率减去本底 计数率
n （ ） n （ ） -n （ ） 0 净计数 s 测量值 b 本底
2016/5/31
16/87
本底来源
宇宙射线是由太空进入地球大气的一些粒子及其 次级产物组成的。 前者称为初级宇宙射线，例如能量大于10MeV的 质子、少量α粒子、各种原子核。
fg的定义是每秒到达探测器灵敏体积的粒子数目 与样品每秒发射的粒子数目之比
几何因子的校正对点源易于计算，对非点源或扩 散源可用数值积分方法计算
2016/5/31
7/87
点源对圆盘探测器的几何效率
2R
探测器
θ0
源
1 fg 4 4
1 fg 4
0
0
1 2 sin d (1 cos 0 ) 2
yxi (计数率)～xi (道址)
2016/5/31
29/87
谱仪的能量刻度和能量刻度曲线
探测器输出脉冲幅度 h与入射粒子能量E一般具 有线性关系，这里的 h 指脉冲幅度分布的中心位 置的幅度值。若输出脉冲幅度与入射粒子能量具 有良好的线性关系。则有：
E K1 h K2
而脉冲幅度分析器具有良好的线性，x h
对接地不良造成的电子学线路干扰，可以缩短放 大器和探测器距离，所有电子学仪器都一点接地
2016/5/31
20/87
测量方法
对α、β放射性核素的活度采用小立体角法或者
4π方法
对γ放射性核素采取能谱测量
对中子进行探测
2016/5/31
21/87
α、β放射性核素的活度－小立体角法
1-铅室；2-铝或塑料板；3-探 测器；4-探测器的窗；5-支 架；6-准直器；7-源托板； 8-放射源 为减少本底，放射源和探测 器都置于铅室内，铅壁厚度 一般要大于5mm 为了减少散射,铅室内腔要足 够空旷
1Ci= 3.7×1010 Bq
2016/5/31 3/87
与放射性活度有关的概念
发射率：是指放射性样品在单位时间内平均发射 某种射线的粒子数 比放射性活度(比活度)：放射性样品中某种放射 性核素的活度与样品质量(或体积)之比，即单位 质量(或体积)的放射性样品内核素的活度。其单 位是kBq〃g-1，MBq〃g-1， Bq〃l-1，kBq〃l-1等 一般探测装置对放射性样品进行活度测量时，得 到的是单位时间内纪录的脉冲数，即计数率
2016/5/31
5/87
绝对测量法复杂，需要考虑很多影响测量的因素， 但绝对测量法是活度测量的基本方法 绝对测量中影响活度测量的几个因素 • 几何因素 • 探测器的本征探测效率 • 吸收因素 • 散射因素 • 分辨时间 • 本底计数
2016/5/31
6/87
几何因素
对于一般探测器，放射性样品都是放在探测器外 面进行测量的，因此射入探测器灵敏体积的粒子 数只是发射率的一部分。一般用几何因子fg来进 行校正
核辐射测量方法
上海交通大学 张继革 副研究员 2016年3月21日
核辐射测量任务
放射性活度的测量
辐射场量的测量：辐射注量(率)
辐射粒子能量或能谱测量
辐射剂量的测量
位置的测量(辐射成像) 有关时间的量：半衰期或寿命等 粒子鉴别等
2016/5/31 2/87
放射性活度
放射性活度的严格定义：处于特定能态的一定量 放射性核素在给定时刻的活度A是dN除以dt，是该 能态发生自发衰变或核跃迁数的期望值 单位时间间隔内的核衰变通常称为衰变率。因此 活度也即放射性核素在某时刻的衰变率的期望值 放射性活度国际单位为贝克勒尔简称Bq(贝克) 1Bq=1衰变/s 1MBq=103kBq=106Bq 1950年，国际规定一个放射源每一秒钟有 3.7×1010次核衰变定义为一个居里：
2016/5/31 26/87
能量的测量
凡是辐射粒子的能量测量，探测器都必须工作于 脉冲工作状态，电压脉冲工作状态或电流脉冲工 作状态均可。 在电压工作状态时，脉冲幅度：
N 为入射粒子在探测器灵敏体积内产生的信息载
Ne h C0
流子的数目
2016/5/31
27/87
能谱
能谱的定义：能谱就是dN / dE 式中dN代表脉冲幅度 落在h~h+dh的脉冲数，
2016/5/31
11/87
分辨时间（resolving time)
分辨时间：两个相继出现而仍能被分辨的脉冲或 电离事件之间的最小时间间隔 探测器、计数器、脉冲幅度分析器等均有一定的 分辨时间
在分辨时间内无法记录进入探测器的第二个粒子
2016/5/31
12/87
死时间
几乎在所有的探测系统中，都存在一个最小时限， 两个事件之间的时间间隔大于此时限才能被分辨 开而记录为两个单独的脉冲，这个最小的时限通 常称为探测系统的死时间。
用小立体角法进行绝对测量要经过多种修正，造 成测量误差加大。 4π计数法是把源移到计数管内部，使计数管对 源所张的立体角为4π，这就减少了散射、吸收 和几何位置的影响，测量误差比小立体角法大大 减小，误差可到1%左右。 流气式4π正比计数器；(适用于固态放射源)
内充气正比计数器和液体闪烁计数器；(适用于 14C、3H等低能β放射性测量，将14C、3H混于工 作介质中)
E1 E2
E3 E0 x3
x2
2016/5/31
x1
x
31/87
α能谱测定
在α能谱测量中常用金硅面垒型半导体α能谱仪
E 系统的能量分辨率定义为： ，其中 ΔE 为测量 E 误差，E为能谱峰值。
如对于210Po：Eα＝5.3MeV，ΔE＝15.8KeV
E 15.8 2.98 10 3 0.3% E 5300
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为了减少β在铅中的韧致辐射,铅室内壁有一薄层 铝皮或塑料(厚度约为2-5mm) 为了减少源的支架及托板的散射和韧致辐射,它们 都采用低Z材料作成. 准直器用来确定立体角,并可防止立体角以外的射 线进入探测器 探测器采用薄云母窗的 钟罩型G-M计数管.也可以 用薄窗正比管、塑料闪烁 探测器(加避光铝铂)。
计数装置实际测得的计数率要比真正进入探测器 内的计数率要小
2016/5/31
14/87
时间分辨率（time resolusion)
时间分辨率：表示脉冲探测器区分两个相继入射 粒子能力的一个量 它通常用探测器输出信号延迟时间分布谱峰的半 高宽度来确定
经常利用放射源同时发出两个射线来测量探测器 的时间分辨率。
2016/5/31
4/87
放射性样品的活度测测量：需要一个已知活度A0标准源，在同 样条件下测量标准源和被测样品的计数率 n0、n， 根据计数率与活度成正比，可求出样品的活度：
A＝A0n/n0
相对法测量简便，但条件苛刻：必须有一个与被 测样品相同的已知活度的标准源，且测量条件必 须相同
2016/5/31 23/87
2016/5/31
24/87
设待测放射源的活度为A，每次衰变放出一个β 粒子，测得的总计数率为n，本底计数率为nb， 则净计数率n0为
n0 n nb A f g f a f b f k f f r 本征 A
ε为小立体角测量装置对β射线的总探测效率
当装置周围有中子源存在时，可以用含有硼、石蜡（含 氢较多）先屏蔽中子。
为减少氡、钍射气造成的本底，可以采用有效的通风。
为了降低探测器元器件带来的本底，采用石英玻璃的光 电倍增管，可以先对NaI(Tl)晶体经过钾提纯，减少K-40 的影响。
2016/5/31 19/87
降低本底的措施
降低宇宙射线中硬成分的影响可以采用反符合屏 蔽。 所谓反符合屏蔽是指在探测器的周围和顶部安放 一组探测器，样品发出的射线能量低，只能被主 探测器记录，而高能宇宙射线则能被主探测器和 屏蔽探测器都记录。将屏蔽探测器中的记录从主 探测器消去，就能消去高能宇宙射线的影响。
~ E的直方图 实验直接测得的是脉冲幅度谱，即 dN / dh ~ h
dN/dh表示输出脉冲幅 度为h的单位幅度间隔
内的脉冲数
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由于统计涨落，即使对同一能量的带电粒子，也 会产生不同幅度的脉冲，形成脉冲幅度分布。 脉冲幅度分布的中心值对应某一入射粒子的能量 实测多采用多道脉冲幅度分析器给出：
和Ra，某些钢中含有60Co。砖和混凝土等建筑材料中 含有微量的Ra，U，Th
• 闪烁探测器的光电倍增管玻璃中含有40K，NaI(Tl)晶
体中含有少量的40K、Ra、Th。用作窗材料的云母也 含有40K
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降低本底的措施
降低铅屏蔽材料中的微量放射性核素，选择放置老铅或 特殊精练过的铅。保证铅中的Rn-222,K-40衰变完。 为了吸收铅屏蔽体中的低能散射射线或铅的射线，可以 在铅屏蔽体中加一层镉。镉在该能量段的质量衰减系数 较大。