硅橡胶直流沿面闪络及其对材料表面物化特征的影响

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Ｊａｎ．，２０１７
ｄｏｉ：１０．３９６９／ｊ．ＩＳＳＮ．１００７— ２６９１．２０１７．０１．０５
硅橡胶直流沿面闪络及其对材料表面物化特征的影响
谢庆，胡志亮，冉慧娟，任洁，陆路，王幼男，焦羽丰
ＸＩＥＱｉｎｇ，ＨＵＺｈｉｌｉａｎｇ，ＲＡＮＨｕｉｊｕａｎ，ＲＥＮＪｉｅ，ＬＵＬｕ，ＷＡＮＧＹｏｕｎａｎ，ＪＩＡＯＹｕｆｅｎｇ
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不同；不同电场下的闪络电压服从二参数韦伯概率分布，尺度参数和形状参数口可表征不同电场下材料的
沿面绝缘性能。闪络后硅橡胶表面凸起和沟壑程度变大，表面粗糙度增加，ｓｉ一（ＣＨ，）：官能团含量降低，
同等条件下，电场不均匀度越高，上述现象越明显。关键词：直流闪络；不同电场；韦伯分布；物化特征中图分类号：ＴＭ８９文献标识码：Ａ文章编号：１００７— ２６９１（２０１７ＪＯ１ — ００３１— ０８
（华北电力大学河北省输变电设备安全防御重点实验室，河北保定０７１００３）
摘要：研究绝缘材料沿面闪络特性及闪络前后表面物化特征，有助于进一步认识闪络过程，对探究降低沿面闪络对材料影响，提高材料闪络电压的方法，有指导意义。因此，以硅橡胶为例，用韦伯分布统计方法探索了沿面闪络电压的规律，用原子力显微镜、傅立叶变换红外光谱测试技术，对闪络前后的表面特性进行了分析。结果表明：闪络电压随着气压与放电距离的增加而升高，且此过程中不同阶段二者对闪络电压影响程度
第４４卷第１期
２０１７年１月
华北电力大学学报
ＪｏｕｒｎａｌｏｆＮｏｔｈｒＣｈｉｎａＥｌｅｃｔｉｒｃＰｏｗｅｒＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙ
Ｖｏ１．４４，Ｎｏ．１