材料结构表征及应用
材料学中的材料结构与性能表征
材料学中的材料结构与性能表征引言材料学作为一门研究材料结构与性能的学科,对于现代科技和工程领域的发展起着至关重要的作用。
材料的结构与性能表征是材料学研究的核心内容之一,通过对材料的结构进行分析和表征,可以深入了解材料的性能特点,为材料的设计、制备和应用提供科学依据。
本教案将从材料结构与性能表征的基本原理、常用表征方法以及应用案例等方面进行论述,旨在帮助学生全面了解材料学中的材料结构与性能表征。
一、材料结构与性能的关系1.1 结构对性能的影响材料的结构是决定其性能的重要因素之一。
不同的结构特征会导致材料具有不同的物理、化学和力学性质。
例如,晶体结构的不同会影响材料的硬度、导电性和热导率等性能。
因此,了解材料的结构特征对于预测和改善材料性能至关重要。
1.2 结构与性能的相互作用材料的性能也会反过来影响其结构特征。
例如,材料的应力状态和温度会引起晶体结构的变化,从而改变材料的力学性能。
此外,材料的化学环境和加工工艺等因素也会对结构和性能产生重要影响。
因此,研究材料的结构与性能之间的相互作用是材料学研究的重要课题之一。
二、材料结构的表征方法2.1 光学显微镜观察光学显微镜是最常用的材料结构表征工具之一。
通过对材料的显微观察,可以获取材料的形貌、晶体结构和相组成等信息。
此外,还可以利用偏光显微镜观察材料的光学性质,如双折射现象和偏光图样等。
2.2 电子显微镜观察电子显微镜是一种高分辨率的材料结构表征工具,包括扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)。
SEM可以观察材料的表面形貌和微观结构,而TEM可以观察材料的原子尺度结构和晶体缺陷等。
2.3 X射线衍射分析X射线衍射是一种利用材料对X射线的衍射现象来研究其结构特征的方法。
通过测量材料的衍射图样,可以确定材料的晶体结构、晶格参数和晶体取向等信息。
此外,X射线衍射还可以用于分析材料的晶体缺陷和相变等现象。
2.4 核磁共振谱学核磁共振谱学是一种通过测量材料中原子核的共振信号来研究其结构和化学环境的方法。
材料表征技术的进展和应用
材料表征技术的进展和应用材料表征技术是一种分析材料性质和组分的方法,具有非常广泛的应用范围。
在大多数材料科学和工程领域中,材料表征技术都是研究材料及其性质的重要手段之一。
近年来,随着材料领域能力的提高和技术手段的不断发展,材料表征技术也获得了快速的发展。
在本文中,我们将探讨材料表征技术的进展和应用,包括常见的X射线衍射和扫描电子显微镜技术,以及新兴的拉曼光谱和质谱成像技术等。
一、X射线衍射技术X射线衍射技术是一种通过测量材料样品所散射的X射线的强度和角度来研究其晶体结构的方法。
该技术已经成为研究材料结构、物理和化学性质的重要手段之一。
X射线衍射技术可用于研究许多有机和无机材料,如晶体、玻璃、陶瓷、金属合金、纤维等。
实际上,X射线衍射在材料科学中具有广泛的应用价值。
例如,它可用于研究高温材料的结构和热力学性质,如氧化铝、硅酸盐和氧化锆等。
在研究金属材料方面,X射线衍射可以用于研究金属晶体中的缺陷、晶格畸变和金属相变等。
在研究材料的表面化学性质时,X射线衍射也可以用于表征表面化学反应中产生的物种及其电荷转移过程,例如在催化反应中的应用。
二、扫描电子显微镜技术扫描电子显微镜技术是一种显微镜技术,它通过传输电子束照射样品,在样品表面上发生反射、透射和散射等几个过程中来获得具有微观尺寸尺度和高分辨率的图像。
这些图像可以用来研究材料的微观结构,包括材料表面和内部特征。
扫描电子显微镜技术在材料科学中的应用非常广泛。
例如,在纳米材料领域,扫描电子显微镜技术可以用于研究纳米材料的尺寸和形态、纳米颗粒的晶体结构、纳米孔的形状等。
另外,扫描电子显微镜还可以用于研究材料的表面性质、材料的磁性、电性等,例如研究磁记录材料、电池材料和太阳能电池等。
三、拉曼光谱技术拉曼光谱是一种通过测量样品散射的激光光谱来检测样品的分子振动信息的技术。
拉曼光谱技术在材料科学中具有广泛的应用价值。
例如,它可以被用于材料表征和生化实验,用于识别材料和检测污染物。
东华大学材料结构表征及其应用作业答案
“材料研究方法与测试技术”课程练习题第二章红外光谱法1.为什么说红外光谱是分子振动光谱?分子吸收红外光的条件是什么?双原子基团伸缩振动产生的红外光谱吸收峰的位置主要与哪些因素有关?答案:这是由于红外光谱是由样品分子振动吸收特定频率红外光发生能级跃迁而形成的。
分子吸收红外光的条件是:(1)分子或分子中基团振动引起分子偶极矩发生变化;(2)红外光的频率与分子或分子中基团的振动频率相等或成整数倍关系。
双原子基团伸缩振动产生的红外光谱吸收峰的位置主要与双原子的折合质量(或质量)和双原子之间化学键的力常数(或键的强度;或键的离解能)有关。
2.用诱导效应、共轭效应和键应力解释以下酯类有机化合物的酯羰基吸收峰所处位置的范围与饱和脂肪酸酯的酯羰基吸收峰所处位置范围(1735~1750cm-1)之间存在的差异。
芳香酸酯:1715~1730cm-1α酮酯:1740~1755cm-1丁内酯:~1820cm-1答案:芳香酸酯:苯环与酯羰基的共轭效应使其吸收峰波数降低;α酮酯:酯羰基与其相连的酮羰基之间既存在共轭效应,也存在吸电子的诱导效应,由于诱导效应更强一些,导致酯羰基吸收峰的波数上升;丁内酯:四元环的环张力使酯羰基吸收峰的波数增大。
3.从以下FTIR谱图中的主要吸收峰分析被测样品的化学结构中可能存在哪些基团?分别对应哪些吸收峰?答案:3486cm-1吸收峰:羟基(-OH);3335cm-1吸收峰:胺基(-NH2或-NH-);2971cm-1吸收峰和2870cm-1吸收峰:甲基(-C H3)或亚甲基(-CH2-);2115cm-1吸收峰:炔基或累积双键基团(-N=C=N-);1728cm-1吸收峰:羰基;1604cm-1吸收峰、1526cm-1吸收峰和1458cm-1吸收峰:苯环;1108cm-1吸收峰和1148cm-1吸收峰:醚基(C-O-C)。
1232cm-1吸收峰和1247cm-1吸收峰:C-N。
第三章拉曼光谱法1. 影响拉曼谱峰位置(拉曼位移)和强度的因素有哪些?如果分子的同一种振动既有红外活性又有拉曼活性,为什么该振动产生的红外光谱吸收峰的波数和它产生的拉曼光谱峰的拉曼位移相等?答案:影响拉曼谱峰位置的因素主要有:样品分子的化学结构和样品的聚集态结构。
材料科学中的材料性能表征技术应用教程
材料科学中的材料性能表征技术应用教程一、引言材料性能表征是材料科学中的重要环节,它帮助科学家们深入了解材料的物理、化学和机械性质,从而推动材料科学的发展。
随着科技的进步,材料性能表征技术也得到了迅速的发展和应用。
本篇文章将重点介绍材料科学中常用的材料性能表征技术及其应用,以帮助读者更好地了解和应用这些技术。
二、常用的材料性能表征技术1. 透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜是一种高分辨率的显微镜技术,可被用于观察材料的微观结构。
通过透射电子显微镜,科学家们可以观察到材料的晶体结构、晶界、缺陷等微观特征。
此外,透射电子显微镜还可以通过选区电子衍射技术测定材料的晶体结构。
2. 扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜是另一种常用的显微镜技术,它通过扫描材料表面并观察所产生的二次电子或背散射电子来提供材料的表面形貌和微观结构。
扫描电子显微镜广泛应用于材料的结构、形貌和成分等方面的研究。
3. 能谱仪能谱仪是一种常用的材料分析技术,常见的有X射线能谱仪和电子能谱仪。
能谱仪通过分析材料中特定元素的能谱,可以确定材料中元素的种类和含量。
这对于材料的组成分析和元素追溯非常重要。
4. X射线衍射仪(XRD)X射线衍射仪是一种用于材料结构表征的技术。
通过照射材料样品,衍射仪可以测量到X射线的衍射图案,从而确定材料的晶体结构、晶格常数等信息。
X射线衍射仪可以广泛应用于材料的结构分析、相变研究等方面。
5. 热重分析仪(TGA)热重分析仪是一种常用的热分析技术。
它通过测量材料在不同温度下的质量变化,可以分析材料的热稳定性、热分解性等热性能参数。
热重分析仪可用于材料的热性能研究、陶瓷材料的配方优化等方面。
6. 傅立叶变换红外光谱仪(FT-IR)傅立叶变换红外光谱仪是一种常用的光谱分析技术。
它通过测量材料在红外光波段的吸收谱线,可以分析材料的化学结构、功能基团等化学性质。
傅立叶变换红外光谱仪广泛应用于聚合物材料、有机材料等的研究中。
材料结构表征及应用知识点总结
材料结构表征及应⽤知识点总结第⼀章绪论材料研究的四⼤要素:材料的固有性质、材料的结构、材料的使⽤性能、材料的合成与加⼯。
材料的固有性质⼤都取决于物质的电⼦结构、原⼦结构和化学键结构。
材料结构表征的三⼤任务及主要测试技术:1、化学成分分析:除了传统的化学分析技术外,还包括质谱(MC)、紫外(UV)、可见光、红外(IR)光谱分析、⽓、液相⾊谱、核磁共振、电⼦⾃旋共振、⼆次离⼦⾊谱、X射线荧光光谱、俄歇与X射线光电⼦谱、电⼦探针等。
如质谱已经是鉴定未知有机化合物的基本⼿段;IR在⾼分⼦材料的表征上有着特殊重要地位;X射线光电⼦能谱(XPS)是⽤单⾊的X射线轰击样品导致电⼦的逸出,通过测定逸出的光电⼦可以⽆标样直接确定元素及元素含量。
2、结构测定:主要以衍射⽅法为主。
衍射⽅法主要有X射线衍射、电⼦衍射、中⼦衍射、穆斯堡谱等,应⽤最多最普遍的是X射线衍射。
在材料结构测定⽅法中,值得⼀提的是热分析技术。
3、形貌观察:光学显微镜、扫描电⼦显微镜、透射电⼦显微镜、扫描隧道显微镜、原⼦⼒显微镜。
第⼆章X射线衍射分析1、X射线的本质是电磁辐射,具有波粒⼆像性。
X射线的波长范围:0.01~100 ? 或者10-8-10-12 m 1 ?=10-10m(1)波动性(在晶体作衍射光栅观察到的X射线的衍射现象,即证明了X射线的波动性);(2)粒⼦性(特征表现为以光⼦(光量⼦)形式辐射和吸收时具有的⼀定的质量、能量和动量)。
2、X射线的特征:①X射线对物质有很强的穿透能⼒,可⽤于⽆损检测等。
②X射线的波长正好与物质微观结构中的原⼦、离⼦间的距离相当,使它能被晶体衍射。
晶体衍射波的⽅向与强度与晶体结构有关,这是X射线衍射分析的基础。
③X射线光⼦的能量与原⼦内层电⼦的激发能量相当,这使物质的X射线发射谱与吸收谱在物质的成分分析中有重要的应⽤。
⼀、X射线的产⽣1.产⽣原理⾼速运动的电⼦与物体碰撞时,发⽣能量转换,电⼦的运动受阻失去动能,其中⼀⼩部分(1%左右)能量转变为X射线,⽽绝⼤部分(99%左右)能量转变成热能使物体温度升⾼。
《材料结构表征及应用》思考题
第二章1、什么是贝克线?其移动规律如何?有什么作用?在两个折射率不同的物质接触处,可以看到比较黑暗的边缘,在这轮廓附近可以看到一条比较明亮的线细线,当升降镜筒时,亮线发生移动,这条明亮的细线称为贝克线。
贝克线的移动规律:提升镜筒,贝克线向折射率大的介质移动。
根据贝克线的移动,可以比较相邻两晶体折射率的相对大小。
2、单偏光镜和正交偏光镜有什么区别?单偏光下和正交偏光下分别可以观察哪些现象?单偏光(仅使用下偏光)下可以观察晶体的形态、结晶习性、解理、颜色以及突起、糙面、多色性和吸收性,比较晶体的折光率(贝克线移动),用油浸法测定折光率等,对矿物鉴定十分重要。
正交偏光镜:联合使用上、下偏光镜,且两偏光镜的振动面处于互相垂直位置。
可看到消光现象、球晶。
第三章1.电子透镜的分辨率受哪些条件的限制?透镜的分辨率主要取决于照明束波长儿其次还有透镜孔径半角和物方介质折射率。
2.透射电镜主要分为哪几部分?电子光线系统(镜筒)、电源系统、真空系统和操作控制系统。
3.透射电镜的成像原理是什么?透射电镜,通常采用热阴极电子枪来获得电子束作为照明源。
热阴极发射的电子,在阳极加速电压的作用下,高速穿过阳极孔,然后被聚光镜会聚成具有一定直径的束斑照到样品上。
具有一定能量的电子束与样品发生作用,产生反映样品微区厚度、平均原子序数、晶体结构或位向差别的多种信息。
透过样品的电子束强度,其取决于这些信息,经过物镜聚焦放大在其平面上形成一幅反映这些信息的透射电子像,经过中间镜和投影镜进一步放大,在荧光屏上得到三级放大的最终电子图像,还可将其记录在电子感光板或胶卷上。
4.请概述透射电镜的制样方法。
支持膜法,复型法、晶体薄膜法和超薄切片法。
高分子材料必要时还需染色、刻蚀。
5.扫描电镜的工作原理是什么?由三极电子枪发射出来的电子束,在加速电压作用下,经过2〜3个电子透镜聚焦后,在样品表面按顺序逐行进行扫描,激发样品产生各种物理信号,如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等。
物质结构的表征方法
物质结构的表征方法一、按表征任务分类材料结构的表征就其任务来说主要有三个,即成分分析、结构测定和形貌观察。
1.1 化学成分分析材料的化学成分分析除了传统的化学分析技术外,还包括质谱、紫外、可见光、红外光谱分析,气、液相色谱,核磁共振,电子自旋共振、X射线荧光光谱、俄歇与X射线光电子谱、二次离子质谱,电子探针、原子探针(与场、离子显微镜联用)、激光探针等。
在这些成分分析方法中有一些已经有很长的历史,并且已经成为普及的常规的分析乎段。
如质谱已是鉴定未知有机化合物的基本手段之一,其重要贡献是能够提供该化合物的分子量和元素组成的信息。
色谱中特别是裂解气相色谱( PGC)能较好显示高分子类材料的组成特征,它和质谱、红外光谱、薄层色谱,凝胶色谱等的联用,大大地扩展了其使用范围。
红外光谱在高分子材料的表征上有着特殊重要地位。
红外光谱测试不仅方法简单,而且也由于积累了大量的已知化合物的红外谱图及各种基团的特征频率等数据资料而使测试结果的解析更为方便。
核磁共振谱虽然经常是作为红外光谱的补充,但其对聚合物的构型及构象的分析,对于立构异构体的鉴定,对于共聚物的组成定性、定量及序列结构测定有着独特的长处。
许多信息是其他方法难以提供的。
需要特别提及的是,近年来由于对材料的表面优化处理技术的发展,对确定表面层结构与成分的测试需求迫切。
一种以X射线光电子能谱、俄歇电子能谱、低能离子散射谱仪为代表的分析系统的使用日益重要。
其中X射线光电子能谱(XPS)也称为化学分析光电子能谱(ESCA),是用单色的软X射线轰击样品导致电子的逸出,通过测定逸出的光电子可以无标样直接确定元素及元素含量。
对于固体样品,XPS可以探测2~20个原子层深度的范围。
目前已成为从生物材料、高分子材料到金属材料的广阔范围内进行表向分析的不可缺少的工具之一:俄歇电子能谱(AES)是用一束汇聚电子束,照射固体后在表面附近产生了二次电子。
由于俄歇电子在样品浅层表面逸出过程中没有能量的损耗,因此从特征能量可以确定样品元素成分,同时能确定样品表面的化学性质。
材料结构表征与应用ppt课件
固体样品探 测深度
约0.4~2nm(俄歇电 约0.5~2.5nm(金属 子能量50~2000eV范 及金属氧化物);约 围内)(与电子能量 4~10nm(有机化合 及样品材料有关) 物和聚合物)。
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X射线衍射(X-ray diffraction,XRD)
XRD ,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱, 获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态 等信息的研究手段。
XRD可以做定性,定量分析。即可以分析合金里面的相 成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向、 含量,可以测定材料的内应力,材料晶体的大小等等。 一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量。
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三种组织分析手段的比较
扫描探针显微镜 扫描电子显微镜
观察倍率 ×10000000 ×1000000
×100000
×10000
光学显微镜
×1000
×100
分辨率
1000 0 10
1000 1
×10
100
10
1
0.1 nm
0.1
0.01
0.001 0.0001 μm
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光学和电子显微镜
光学显微镜是利用光学原理,把人眼所不能分 辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结 构信息的光学仪器
应力分析等; (2)相变过程与产物的X射线研究:相变过程中产物
(相)结构的变化及最终产物、工艺参数对相变的影 响、新生相与母相的取向关系等; (3)固溶体的X射线分析:固溶极限测定、点阵有序化 (超点阵)参数、短程有序分析等; (4)高分子材料的X射线分析:高聚物鉴定、晶态与非 晶态及晶型的确定、结晶度测定、微晶尺寸测定等。
材料结构的表征与分析
材料结构的表征与分析材料结构是指材料内部的原子、分子或晶体的排列方式,对于材料的性能和特性具有重要影响。
因此,准确地了解和表征材料结构是材料科学与工程领域的关键任务之一。
本文将探讨材料结构的表征与分析的方法和技术。
一、X射线衍射技术X射线衍射技术是一种常用的表征材料结构的方法。
通过使X射线束入射到材料上并测量衍射角度和强度,可以确定材料的晶体结构和晶体学参数。
这种方法适用于具有规则晶体结构的材料,如金属、陶瓷和无机晶体材料。
通过X射线衍射,可以确定晶格参数、晶面间距和晶体取向等重要信息。
二、扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜(SEM)是一种用来观察材料表面形貌和分析微观结构的强大工具。
它使用高能电子束对样品进行扫描,通过检测样品在电子束作用下发射的次级电子或背散射电子,可以获得高分辨率的表面形貌图像。
此外,通过SEM配合能谱仪,还可以进行元素分析,获得材料的成分信息。
三、透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜(TEM)通过透射电子束对样品进行照射和观察,可获得更高分辨率的材料图像。
TEM适用于研究纳米级材料结构和纳米颗粒的形貌与成分。
它可以观察到晶体缺陷、晶体结构和点缺陷等微观细节,以及观察到材料的析出相、晶体形态和晶体取向。
四、原子力显微镜(AFM)原子力显微镜(AFM)通过扫描样品表面与探针之间的相互作用力,可以获得样品表面的三维形貌信息。
相比于传统的光学显微镜,AFM具有更高的分辨率和更强的表征能力,能够观察到纳米级别的表面特征和纳米结构。
此外,AFM还可以通过力-距离曲线,获取样品的力学性能和材料刚度等信息。
五、核磁共振(NMR)核磁共振(NMR)技术是一种用来研究原子核自旋状态和材料内部有关结构的方法。
通过在外部磁场和射频辐射的作用下,激发样品中的原子核共振信号,并通过分析共振信号的频率和强度,可以获得材料的化学成分、分子结构和局域环境等信息。
NMR技术广泛应用于化学、生物学和材料科学领域。
MOF的制备、结构表征及催化应用
《催化化学》课程学习报告专题:MOF的制备、结构表征及催化应用学院名称:材料化学与化工学院学生姓名:学生学号:教师姓名:考核时间:MOF的制备、结构表征及催化应用摘要:金属有机骨架(MOFs)配位化合物作为一种新型有机无机杂化材料,具有高空隙率、孔道尺寸形状可调性、易于功能化等优点,在气体存储和分离、催化、载药、光电磁性材料等领域展示了良好的应用前景。
本文介绍了MOFS材料的常用制备方法和结构表征方法,综述了近年来MOFS材料在催化领域的应用,特别是以MOFS材料中骨架金属作为活性中心骨架有机配体作为活性中心和负载催化活性组分的催化反应,并对MOFS 材料的催化应用趋势做了展望,以期对MOFS 材料的催化性能有比较全面的认识。
关键词金属-有机骨架合成结构表征催化应用1.引言金属-有机骨架 (metal-organic frameworks,MOFs)材料是由金属离子与有机配体通过自组装过程杂化生成的一类具有周期性多维网状结构的多孔晶体材料,具有纳米级的骨架型规整的孔道结构,大的比表面积和孔隙率以及小的固体密度,在吸附、分离、催化等方面均表现出了优异的性能,已成为新材料领域的研究热点与前沿。
MOFs材料的出现可以追溯到1989年以Robson和 Hoskins为主要代表的工作,他们通过 4,4´,4´´,4´´´-四氰基苯基甲烷和正一价铜盐[Cu(CH3CN)4].BF4在硝基甲烷中反应,制备出了具有类似金刚石结构的三维网状配位聚合物[1],同时预测了该材料可能产生出比沸石分子筛更大的孔道和空穴,从此开始了MOFs材料的研究热潮。
但早期合成的MOFs材料的骨架和孔结构不够稳定,容易变形。
直到1995年Yaghi等合成出了具有稳定孔结构的MOFs[2],才使其具有了实用价值。
由于MOFs材料具有大的比表面积和规整的孔道结构,并且孔尺寸的可调控性强,骨架金属离子和有机配体易实现功能化,因此在催化研究、气体吸附、磁学性能、生物医学以及光电材料等领域得到了广泛应用。
材料结构表征与应用第一章-绪论-课件
1表面成分分析 (可作深度分析)
2表面能带结构分 析
3表面结构定性分 析与表面化学研究
约0.4~2nm(俄歇 约0.5~2.5nm(金属
电子能量
及金属氧化物);
50~2000eV范围内) 约4~10nm(有机化
(与电子能量及样 合物和聚合物)。
品材料有关)
1表面能带结构分 析 2表面结构定性分 析与表面化学研究
第一章 绪论
方法或仪器
分析原理
透射电镜(TEM)透射与衍射
检测信号
基本应用
透射电子与衍 射电子
1形貌分析(显微组织、晶体缺陷) 2晶体结构分析 3成分分析(配附件)
扫描电镜(SEM)电子激发二次 电子;电子吸 收和背散射
二次电子、背 散射电子和吸 收电子
电子探针 (EPMA)
电子激发特征X X光子 射线
第一章 绪论
材料分析是通过对表征材料的物理性质或 物理化学性质参数及其变化(称为测量信号或 表征信息)的检测实现的。即材料分析的基本 原理(或称技术基础)是指测量信号与材料成 分、结构等的特征关系。采用各种不同的测量 信号形成了各种不同的材料分析方法。
材料结构的表征(或材料的分析方法)就 其任务来说,主要有三个,即成分分析、结构 测定和形貌观察。
7、拉曼光谱分析:是一种散射光谱分析方法。
第一章 绪论
分析方法
基本分析项目与应用
原子发射光谱分析 (AES)
原子吸收光谱分析 (AAS) X射线荧光光谱分析 (XFS) 紫外、可见(分子) 吸收光谱分析(UV、 VIS)
元素定性、半定量、定量分析。对 于无机物分析是最好的定性、半定 量分析方法。 元素定量分析
约0.4~2.0nm(光 电子能量 10~100eV范围内)。
材料结构表征及应用
材料结构表征及应用材料结构表征是材料科学领域中的重要研究内容,它涉及到材料的组成、结构、性能以及应用等方面。
材料的结构表征可以通过多种手段进行,例如X射线衍射、电子显微镜、原子力显微镜等,这些手段可以帮助科研人员深入了解材料的微观结构和性能,为材料的设计、制备和应用提供重要的参考依据。
X射线衍射是一种常用的材料结构表征手段,通过衍射图谱的分析可以得到材料的晶体结构信息,包括晶格常数、晶体取向、晶粒尺寸等。
电子显微镜则可以帮助科研人员观察材料的微观形貌和结构特征,包括晶粒形状、晶界分布、缺陷结构等。
原子力显微镜则可以实现对材料表面的原子尺度的观测,揭示材料表面的形貌和表面缺陷等信息。
除了以上提到的手段外,还有许多其他的材料结构表征手段,例如热分析技术、核磁共振、拉曼光谱等,这些手段可以从不同的侧面揭示材料的结构和性能信息。
通过综合运用这些手段,科研人员可以全面地了解材料的结构特征,为材料的应用提供更加可靠的支撑。
材料的结构表征不仅对于科研领域具有重要意义,也对于工业生产具有重要意义。
通过对材料结构的深入了解,可以实现对材料性能的精准调控,提高材料的性能指标,拓展材料的应用领域。
例如,通过对材料的晶体结构进行优化,可以实现对材料强度、硬度、导电性等性能的提升,从而提高材料的工程应用价值。
在材料科学领域,结构表征与应用是密不可分的。
只有深入了解材料的结构特征,才能实现对材料性能的准确把握,为材料的应用提供可靠的支撑。
因此,材料结构表征是材料科学研究中的重要环节,它为材料的设计、制备和应用提供了重要的科学依据。
总之,材料结构表征是材料科学研究中的重要内容,通过多种手段对材料的结构特征进行深入了解,可以为材料的应用提供可靠的支撑。
材料科学领域的研究人员应该不断探索新的结构表征手段,提高材料结构表征的准确性和可靠性,为材料的应用领域拓展提供更加有力的支持。
材料结构和性能的表征技术
材料结构和性能的表征技术在现代材料科学中占据着极为重要的位置。
材料的结构和性能直接关系着材料在工程领域的应用效果,因此,如何准确、全面地表征材料的结构和性能成为了材料科学家们不断追求的目标。
在这篇文章中,我们将介绍几种常见的材料结构和性能表征技术,并探讨其优缺点。
一、X射线衍射技术X射线衍射技术是材料结构表征的一种重要手段,因其高分辨率、非破坏性分析等特点被广泛应用于材料研究领域。
它通过测量材料中的原子间距和晶体格点的形状、大小等参数,来确定晶体结构,从而得到材料的结构信息。
X射线衍射技术的优点在于其可观测性广泛,通过衍射谱可以得到材料的晶体结构、晶格常数、各向异性等信息。
而在实验中,由于X射线与材料依赖于不同的性质进行相互作用,因此,它是一种非常有前途的材料表征技术。
但是,X射线衍射技术的缺点也很明显:首先,这种技术对于样品的制备要求很高,必须对样品进行磨片处理来得到精确的晶面和光滑的表面。
其次,该技术所得的结果通常是定性的,也就是说并不能直观地获得晶体中原子的精确坐标等信息。
二、透射电子显微技术透射电子显微技术是一种获取材料微观结构信息的重要手段,是通过加速器来加速电子产生高速电子流,然后通过材料,透过不同衬底实现样品在几个电子的缩微像的测量。
这种技术的原理是在样品表面进行微小切片,然后通过衬底透射出去的电子进行成像,从而获得关于材料的结构和性能信息。
透射电子显微技术的优点在于其分辨率极高,结合样品制备和拍照等措施,可以获得非常精确的材料结构和性能信息,并能观测到细微的结构变化和构象关系等信息。
同时,透射电子显微技术也可广泛应用于研究如晶粒大小、晶体缺陷、材料相变等信息。
但是,该技术也存在一些不足之处。
由于样品制备和显微镜性能的限制,透射电子显微技术成像范围通常很小,无法同时获得大面积、高分辨率的信息。
同时,由于其操作成本较高,需要高昂的仪器设备和高水平的操作技术,因此难以广泛应用于实际生产和研究。
材料结构表征大全
目录一XRD衍射分析 (2)二红外光谱 (3)三紫外光谱 (4)四光电子能谱分析(XPS) (5)五热重分析 (6)六差热分析 (7)七TEM (8)八SEM (9)九核磁共振 (9)十质谱分析 (10)十一拉曼光谱 (11)十二EXAFS (12)十三热滞回线 (13)十四IV曲线测量 (14)十五DSC 差示扫描量热法 (15)十六流阻抗谱 (16)十七磁力显微术 (16)十八AFM分析 (18)十九STM(扫描隧道显微镜) (20)一XRD衍射分析XRD即X-ray diffraction 的缩写,X射线衍射,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
工作原理X射线是一种波长很短(约为20~0.06埃)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。
在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。
X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。
晶体可被用作X光的光栅,这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用,从而影响散射的X射线的强度增强或减弱由于大量原子散射波的叠加,互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。
满足衍射条件,可应用布拉格公式:2dsinθ=nλ表征内容应用已知波长的X射线来测量θ角,从而计算出晶面间距d,这是用于X射线结构分析;另一个是应用已知d的晶体来测量θ角,从而计算出特征X射线的波长,进而可在已有资料查出试样中所含的元素。
用途目前X射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。
主要应用有以下方面:1 物相分析是 X射线衍射在金属中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。
前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较,确定材料中存在的物相;后者则根据衍射花样的强度,确定材料中各相的含量。
化学技术中的材料表征方法与应用
化学技术中的材料表征方法与应用在现代化学技术领域中,材料表征是一个非常重要的方面。
通过表征手段可以了解材料的结构、性质和功能,为材料设计和应用提供有力的支持。
本文将探讨几种常见的材料表征方法及其应用。
一、扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜是一种常用的材料表征工具。
它能够通过扫描样品表面的电子束,获得高分辨率的图像。
通过SEM可以观察到材料的形貌、表面特征和微观结构,对材料的制备工艺和性能进行评估。
例如,在材料研究中,可以利用SEM观察纳米颗粒的形貌和分布情况,从而优化纳米材料的合成方法。
二、透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜是一种高分辨率的显微镜技术,可以用来观察材料的内部结构。
透射电子显微镜通过透射材料中的电子束,对材料进行成像和化学分析。
通过TEM可以观察到材料的晶体结构、晶格缺陷和界面特征,对材料的功能和性能进行评估。
例如,在材料科学中,可以利用TEM观察材料的纳米尺寸效应和晶体缺陷对材料性质的影响。
三、X射线衍射(XRD)X射线衍射是一种常用的非破坏性材料表征方法。
通过照射材料表面或内部的X射线束,测量出材料对X射线的衍射图案。
通过分析衍射图案,可以确定材料的晶体结构、晶格参数和晶体缺陷。
X射线衍射广泛应用于材料的结构表征、相变研究和材料的定量分析。
例如,在金属材料领域,可以利用X射线衍射分析金属的晶粒尺寸和晶格缺陷。
四、傅里叶变换红外光谱(FTIR)傅里叶变换红外光谱是一种常用的化学材料表征方法。
通过测量材料在红外光区的吸收和散射光谱,可以了解材料的分子振动模式和化学成分。
FTIR广泛应用于材料的组分分析、化合物结构和功能的表征。
例如,在聚合物材料研究中,可以利用FTIR观察聚合物链的结构和分子间相互作用,从而调控聚合物的性能。
五、原子力显微镜(AFM)原子力显微镜是一种高分辨率的显微镜技术。
通过探针与样品表面之间的相互作用力,可以生成样品表面的形貌和性质图像。
AFM广泛应用于材料的表面性质分析、微观力学性能表征。
纤维素材料的结构表征及应用
纤维素材料的结构表征及应用生活中我们常常会接触到各种纤维素材料,比如棉花、木质纤维等。
这些材料的结构表征及应用对于我们了解材料性能,选用适当的材料起着至关重要的作用。
纤维素材料具有纤维状的结构,主要成分是纤维素,其分子中嵌套有一定量的半纤维素和木质素。
在纤维素材料的应用中,首先需要对其结构进行表征,以便了解其特性和性能。
纤维素材料的结构特点主要有两个方面,一是化学结构,二是微观结构。
首先从化学结构方面来看,纤维素是一种聚合物,其分子是由大量的葡萄糖单体通过β-1,4-糖苷键连接而成的线性链状结构。
这种结构使得纤维素具有很高的拉伸强度和模量,是一种理想的结构材料。
同时,纤维素分子中嵌套有少量的半纤维素和木质素,这些物质会影响纤维素材料的性能和应用。
而从微观结构方面来看,纤维素材料是由大量的纤维状分子通过氢键和范德华力等相互作用力相互连接而成的。
这种微观结构决定了纤维素材料的特性,比如其吸水性、透气性等。
纤维素材料的微观结构对其应用也有很大的影响,比如在纺织品中,纤维素的微观结构决定了纺织品的柔软度和透气性。
除了结构表征外,纤维素材料的应用也是非常广泛的。
在纺织品行业中,纤维素材料被广泛用于生产各种面料,比如棉纺织品、亚麻纺织品等。
由于纤维素具有天然的吸湿透气性,对皮肤友好,因此在服装、床上用品等方面得到了广泛应用。
此外,纤维素材料还广泛应用于造纸工业、包装材料、建筑材料等领域。
在造纸工业中,纤维素是纸张的主要原料,不同来源的纤维素会决定纸张的质量和性能。
在包装材料中,纤维素的高拉伸强度和模量使得其成为一种理想的包装材料。
在建筑材料中,纤维素材料可以制成纤维素板材,用于家具制造、室内装修等方面。
总的来说,了解纤维素材料的结构表征以及应用对于我们充分利用这些天然材料具有重要意义。
通过对纤维素材料结构的深入了解,我们可以更好地选择适合的材料,提高生产效率,降低生产成本,推动材料科学的发展。
希望未来纤维素材料在更多领域得到应用,为人类社会的可持续发展做出更大的贡献。
材料结构表征及应用
材料结构表征及应用
材料结构表征及应用
材料结构表征是指材料结构特性之间的相互关系,它们决定了材料的性能。
材料结构表征包括材料的尺寸、形状、结构层次和热效应,这些结构特性可以通过材料的物理性能和机械性能来表示。
近年来,材料结构表征正变得越来越重要,在工业生产中得到了广泛应用。
材料结构表征对于提高材料性能和研发新材料至关重要。
材料结构表征可以更好地识别材料的特性,如耐磨性、耐腐蚀性和热稳定性,从而更好地满足应用材料的要求。
同时,材料结构表征还可以帮助研发新型材料,用于更多的应用领域。
材料结构表征在工业上被广泛应用,能够有效提高材料的性能。
它可以更准确地测量材料的厚度、宽度、形状和硬度,并用来检测材料表面缺陷、分析材料缺陷等,可以有效提高材料的效率和使用寿命。
同时,它还可以用来检测和控制工艺参数,如温度、时间和压力,以满足特定应用需求,并确保产品的高质量。
材料结构表征应用于许多不同领域,如航空航天、汽车制造、船舶制造、军事器材以及电子产品等,可以明显提升该领域的性能和效率。
此外,它还可以精确地测量金属材料、复合材料和非金属材料,以便在工业应用中更好地优化工艺,实现更高的性能。
材料结构表征是一项重要的技术,被广泛应用在工业生产中。
它提供了一种可靠的方式来测量材料的结构,可以明显提高材料的效率和使用寿命,满足工业需求,有助于提高整体的生产效率。
《材料结构表征及应用》课程教学的改革思考
2021年第4期广东化工第48卷总第438期 · 179 · 《材料结构表征及应用》课程教学的改革思考陈沙,廖媛媛,许瀚(中南林业科技大学材料科学与工程学院,湖南长沙410004)[摘要]《材料结构表征及应用》是材料化学和材料科学与工程专业的一门实用性强的基础课程。
针对这门课程理论深奥、内容庞杂、课时较少、教学资源有限等问题,思考将讲好绪论课、教学内容重点突出、丰富教学方法、翻转课堂、注重教学信息反馈等方法运用到教学过程中,达到提高教学效果的目的。
[关键词]材料结构表征及应用;教学改革;翻转课堂[中图分类号]G4 [文献标识码]A [文章编号]1007-1865(2021)04-0179-01Teaching Exploration on Characterization and Application of Material StructureChen Sha, Liao Yuanyuan, Xu Han(School of Materials Science and Engineering Central South University of Forestry and Technology, Changsha 410004, China) Abstract: Characterization and Application of Material structure was one of the important fundamental courses in material science and Materials Science and Engineering. At present, this course had a lot of problems, such as profound theoretical knowledge, complex content, ewer hours, limited teaching resources, et al. To improve teaching quality, the reforms on the course, including teaching the introduction course, highlighting the key points of teaching content, enriching teaching methods, flipping the classroom, and paying attention to teaching information feedback and teaching key were discussed.Keywords: Characterization and Application of Material structure;teaching exploration;inverted classroom《材料结构表征及应用》是内容庞杂的实践性、技术性很强的综合性课程,授课内容包括各种测试表征原理、结构对性能的影响分析、仪器原理构造及应用,内容主要有红外光谱及激光拉曼光谱、核磁共振波谱、质谱、X射线衍射、电子显微分析、x射线光电子能谱分析和材料热分析等测试表征方法。
材料表征技术的发展与应用
材料表征技术的发展与应用材料是制造各种产品的原材料,它们的性质、组成和结构形式的分析和了解对于新材料的研发以及材料的应用和改进至关重要。
表征技术是指使用各种手段对材料的性质和结构进行分析和测量的过程。
本文将介绍材料表征技术的发展和应用现状。
历史上,从最初的肉眼观察,到现代的电子显微镜和扫描探针显微镜、光谱技术、热分析技术等,材料表征技术的发展是一个逐步深入的过程。
我们将逐步了解这些技术的发展和现状。
光谱技术光谱学是表征材料结构和成分的学问,由于材料结构和成分不同,独具特点的吸收、发射或散射性质使得光谱学成为表征材料结构和成分的重要手段。
光谱学技术是一种非破坏性的表征手段,可以通过透射、反射、散射、发射等不同的光谱学原理揭示特定材料的结构和成分。
在光谱学技术方面,有一些热门的应用,如红外光谱、拉曼光谱、X射线衍射和X射线荧光等。
其中,红外光谱可以用于材料分析、表征和检测;拉曼光谱可以用于材料分析和表征;X射线衍射可以测定晶体结构和晶格参数;X射线荧光可以分析材料的-元素成分。
热分析技术热分析技术是指研究物质随温度的变化规律的技术。
这类技术可以分析材料的物理性质、热塑性能、热稳定性以及热性加工前的分解温度等方面。
热分析技术主要包括TG(热重分析)、DSC (差示扫描量热分析)和TMA(热力学力学分析)等多个方面。
其中,TG热重分析是重要的热分析技术,可以测定样品在高温或大气下的质量变化规律,包括水分含量、热降解温度以及烧蚀温度等方面。
DSC差示扫描量热分析是测量材料热性质的一种技术,通过测定样品的热流以及温度差来确认材料的动力学特性和热稳定性。
TMA热力学力学分析是研究物质形状和变形规律的分析技术,可以使用各种工具探测样品沿不同轴向的力学和热学性质。
电子显微镜和扫描探针显微镜电子显微镜和扫描探针显微镜是表征材料结构的重要工具。
电子显微镜使用电子束而非光线来照明样品,通过电子束的反射、散射和吸收来展示材料的细节。
MOF的制备、结构表征及催化应用
《催化化学》课程学习报告专题:MOF的制备、结构表征及催化应用学院名称:材料化学与化工学院学生姓名:学生学号:教师姓名:考核时间:MOF的制备、结构表征及催化应用摘要:金属有机骨架(MOFs)配位化合物作为一种新型有机无机杂化材料,具有高空隙率、孔道尺寸形状可调性、易于功能化等优点,在气体存储和分离、催化、载药、光电磁性材料等领域展示了良好的应用前景。
本文介绍了MOFS材料的常用制备方法和结构表征方法,综述了近年来MOFS材料在催化领域的应用,特别是以MOFS材料中骨架金属作为活性中心骨架有机配体作为活性中心和负载催化活性组分的催化反应,并对MOFS 材料的催化应用趋势做了展望,以期对MOFS 材料的催化性能有比较全面的认识。
关键词金属-有机骨架合成结构表征催化应用1.引言金属-有机骨架 (metal-organic frameworks,MOFs)材料是由金属离子与有机配体通过自组装过程杂化生成的一类具有周期性多维网状结构的多孔晶体材料,具有纳米级的骨架型规整的孔道结构,大的比表面积和孔隙率以及小的固体密度,在吸附、分离、催化等方面均表现出了优异的性能,已成为新材料领域的研究热点与前沿。
MOFs材料的出现可以追溯到1989年以Robson和 Hoskins为主要代表的工作,他们通过 4,4´,4´´,4´´´-四氰基苯基甲烷和正一价铜盐[Cu(CH3CN)4].BF4在硝基甲烷中反应,制备出了具有类似金刚石结构的三维网状配位聚合物[1],同时预测了该材料可能产生出比沸石分子筛更大的孔道和空穴,从此开始了MOFs材料的研究热潮。
但早期合成的MOFs材料的骨架和孔结构不够稳定,容易变形。
直到1995年Yaghi等合成出了具有稳定孔结构的MOFs[2],才使其具有了实用价值。
由于MOFs材料具有大的比表面积和规整的孔道结构,并且孔尺寸的可调控性强,骨架金属离子和有机配体易实现功能化,因此在催化研究、气体吸附、磁学性能、生物医学以及光电材料等领域得到了广泛应用。
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关于点阵、倒易点阵及厄瓦尔德球
(1) 晶体结构是客观存在,点阵是一个数学抽象。晶体点 阵是将晶体内部结构在三维空间周期平移这一客观事实的 抽象,有严格的物理意义。 (2) 倒易点阵是晶体点阵的倒易,不是客观实在,没有特 定的物理意义,纯粹为数学模型和工具。 (3) 厄瓦尔德球本身无实在物理意义,仅为数学工具。但 由于倒易点阵和反射球的相互关系非常完善地描述了X射 线在晶体中的衍射,故成为有力手段。 (4) 如需具体数学计算,仍要使用布拉格方程。
一个电子对X射线的散射
电子在入射X射线电场矢量的作用下产生受迫振动而被加速,同时作为 新的波源向四周辐射与入射线频率相同并且具有确定相位关系的电磁波。 汤姆逊根据经典动力学导出,一个电荷为e,质量为m的自由电子,在强度 为I0的偏振X射线作用下,距其R处的散射波强度为:
布拉格定律的讨论—限制条件
由布拉格公式2dsinθ = nλ可知,sinθ = nλ/2d,因sinθ < 1,故nλ/2d < 1。 为使物理意义更清楚, 现考虑n = 1(即1级反射)的情 况,此时λ/2 < d, 这就是能产生衍射的限制制条件。
它说明用波长为的X射线照射晶体时,晶体中只有面间 距d > λ/2的晶面才能产生衍射。
X射线的强度
X射线衍射理论能将晶体结构与衍射花样有机地联系起来,
它包括衍射线束的方向、强度和形状。
衍射线束的方向由晶胞的形状大小决定, 衍射线束的强度由晶胞中原子的位置和种类决定, 衍射线束的形状大小与晶体的形状大小相关。 下面我们将从一个电子、一个原子、一个晶胞、一个晶体、 粉末多晶循序渐进地介绍它们对X射线的散射,讨论散射波 的合成振幅与强度。
面间距为dHKL的晶面不一定是晶体中的 原子面,而是为了简化布拉格公式而引入的 反射面,常将它称为干涉面。 干涉指数有公约数n,而晶面指数只能是 互质的整数。当干涉指数也互为质数时,它 就代表一组真实的晶面,因此,干涉指数为 晶面指数的推广,是广义的晶面指数。
晶面间距
晶面间距是指两个相邻的平行晶面间的垂直距离,通常用 dhkl或简写为d来表示。各晶系的面间距有不同的公式,如:
布拉格方程的导出
首先考虑一层原子面上散射X射线的干涉。当X射线以θ角入射到原 子面并以β角散射时,相距为a的两原子散射x射的光程差为:
a(cos cos )
当光程差等于波长的整数倍(nλ)时 ,在 角方向散射干涉加强。 即程差δ = 0,从上式可得 θ = β。也就是说, 当入射角与散射角相等时, 一层原子面上所有散射波干涉将会加强。与可见光的反射定律相类似, X射线从一层原子面呈镜面反射的方向,就是散射线干涉加强的方向, 因此,常将这种散射称从晶面反射。
S0 r H a K b L c
衍射矢量实际上相当于倒易矢量。
厄瓦尔德图解
衍射矢量方程可以用等腰矢 量三角形表达,它表示产生衍射 时,入射线方向矢量S0/λ衍射线 方向矢量S/λ和倒易矢量r*之间 的几何关系。这种关系说明,要 使(HKL)晶面发生反射,入射 线必须沿一定方向入射, 以保 证反射线方向的矢量S/λ端点恰 好落在倒易矢量r*的端点上,即 S/λ的端点应落在HKL 倒易点上。
线光谱学。该法除可进行光谱结构的研究外,从X射线的波长 还可确定试样的组成元素。电子探针就是按这原理设计的。
矢量衍射方程
X射线照射晶体产生的衍 射线束的方向,不仅可以用布 拉格定律描述,在引入倒易点 阵后,还能用衍射矢量方程描 述。
S - S0
在图中,P为原子面,N 为它的法线。假如一束X射线 被晶面反射,入射线方向的单 位矢量为S0,衍射线方向的单 位矢量为S,则称S - S0为衍射 矢量。
布拉格定律的讨论—干涉面和干涉指数
布拉格方程中的n称为反射级 数。由两个平行晶面反射出的X射 线束,其波程差用波长去量度所 得的整份数就等于n。假设X射线 照射到晶体的(100)面,而刚好 能发生二级反射,则: 2d100sinθ = 2λ (1)
假设在每两个(100)晶面中间插入一组原子分布与之完 全相同的面(200),此时相当于(200)发生了一级反射,则 有:2d200sinθ = λ 又可以写作:2 (d100/2) sinθ = 2λ 式(1)(2)相当。 (2)
3.则与反射球相交的倒易点所 对应的晶面均可产生衍射;
4.反射球球心C与倒易点的连线 即为衍射方向。
如果没有倒易点落在球面上,则无衍射发生。
为使衍射发生,常采用三种方法。
1. 用单色X射线照射转动晶体,相当于倒易点阵在运动,使反射球 永远有机会与某些倒易结点相交。该法称为转动晶体法或周转晶体法。 晶体绕晶轴旋转相当于其倒易点阵围绕过原点O并与反射球相切的 一根轴转动,于是某些结点将瞬时地通过反射球面。 凡是倒易矢量r*值小于等于反射球直径(r * = 1/d ≤ 2/λ )的那些 倒易点,都有可能与球面相遇而产生衍射。
布拉格定律的讨论—干涉面和干涉指数
为了使用方便, 常将布拉格公式改写成。
d hkl 2 sin n
如令 d HKL
d hkl n ,则
2d HKL sin
这样由(hkl)晶面的n级反射,可以看成由 面间距为的(HKL)晶面的1级反射,(hkl) 与(HKL)面互相平行。
布拉格定律的讨论—干涉面和干涉指数
2. 用连续X射线照射固定不动的单晶体。由于连续X射线有一定的波 长范围,因此就有一系列与之相对应的反射球连续分布在一定的区域,凡 是落在这个区域内的倒易结点都满足衍射条件。这种情况也相当于反射球 在一定的范围内运动,从而使反射球永远有机会与某些倒易节点相交。该 法称为单晶劳厄法。
连续谱的波长有一个范围,从λ0 (短波限)到λm。右图为零层倒易点阵 以及两个极限波长反射球的截面。 大球以B为中心,其半径为λ0的倒 数;小球以A为中心,其半径为λm的倒 数。在这两个球之间,以线段AB上的点 为中心有无限多个球,其半径从(BO) 连续变化到(AO)。凡是落到这两个球 面之间的区域的倒易结点,均满足布拉 格条件,它们将与对应某一波长的反射 球面相交而获得衍射。
例如的一组晶面间距从大到小的顺序:2.02Å,1.43Å, 1.17Å,1.01 Å,0.90 Å,0.83 Å,0.76 Å……当用波长为 λkα = 1.94Å的铁靶照射时,因λkα/2 = 0.97Å,只有四个d大 于它,故产生衍射的晶面组有四个。如用铜靶进行照射, 因λkα/2 = 0.77Å, 故前六个晶面组都能产生衍射。
厄瓦尔德图解
厄瓦尔德将等腰三角形置
于圆中便构成了非常简单的衍 射方程图解法。
以入射单位矢量S0/ 起点
C
S/ r*
2
C为中心(晶体所在位置), 以 1/ 为 半 径 作 一 球 面 , 使 S0/ 指向一点O*,称为原点 (倒易点阵原点)。该球称为 反射球(厄瓦尔德球)
S0 /
O*
厄瓦尔德球是三维 的球而非平面圆。 入射、衍射单位矢 量的起点永远处于C点, 末端永远在球面上。 随 2 的 变 化 , 散
3. 用单色X射线照射多晶体试样。多晶体中各晶粒的取向是杂乱分布 的,因此固定不动的多晶体就其晶粒的位向关系而言,相当于单晶体转动 的情况。该法称为多晶体衍射法或粉末法,这也是目前最常用的方法。 多晶体是数量众多的单晶, 是无数单晶体围绕所有可能的 轴取向混乱的集合体。 同一晶面族的倒易矢量长 度相等,位向不同,其矢量端 点构成倒易球面。不同晶面族 构成不同直径的倒易球。 倒易球与反射球相交的圆 环满足布拉格条件产生衍射,这 些环与反射球中心连起来构成 反射圆锥。
D A C
B
布拉格方程的导出
当光程差等于波长的整数倍时,相邻原子面散射波干涉加强
,即干涉加强条件(布拉格方程)为:
2 d s in n
式中:n-整数,“反射”级数(衍射级数)。一组(hkl)随n值 的不同,可能产生n个不同方向的反射线。 θ-掠射角、布拉格角、半衍射角。2θ称为衍射角。 d-晶面间距,λ-X射线波长。 这个关系式首先由布拉格父子导出,故称为布拉格方程。同 时期俄国晶体学家吴里夫(BУЈІБФ.T.B.)也独立地推导出
布拉格方程的应用
布拉格方程是X射线衍射分布中最重要的基础公式,它形 式简单,能够说明衍射的基本关系,所以应用非常广泛。从实 验角度可归结为两方面的应用: 一方面是用已知波长的X射线去照射晶体,通过衍射角的 测量求得晶体中各晶面的面间距d,这就是结构分析—— X射 线衍射学;
另一方面是用一种已知面间距的晶体来反射从试样发射出 来的X射线,通过衍射角的测量求得X射线的波长,这就是X射
了这个关系式,因此也称之为吴里夫-布拉格方程。
布拉格定律的讨论—选择反射
X射线在晶体中的衍射,实质上是晶体中各原子相干散 射波之间互相干涉的结果。但因衍射线的方向恰好相当于原 子面对入射线的反射,故可用布拉格定律代表反射规律来描 述衍射线束的方向。
在以后的讨论中,常用“反射”这个术语描述衍射问题, 或者将“反射”和“衍射”作为同义词混合使用。 但应强调指出,X射线从原子面的反射和可见光的镜面 反射不同,前者是有选择地反射,其选择条件为布拉格定律; 而一束可见光以任意角度投射到镜面上时都可以产生反射, 即反射不受条件限制。 因此,将X射线的晶面反射称为选择反射,反射之所以 有选择性,是晶体内若干原子面反射线干涉的结果。
2
2 H 2 K 2
a2
L2 2 c
K 2 L2 2 •斜方晶系 sin 2 2 2 4 a b c
2 H 2
从上面三个公式可以看出,波长选定后,不同晶系或同一晶系而 晶胞大小不同的晶体,其衍射线束的方向不相同。因此,研究衍射线 束的方向,可以确定晶胞的形状大小。另外,从上述三式还能看出, 衍射线束的方向与原子在晶胞中的位置和原子种类无关,只有通过衍 射线束强度的研究,才能解决这类问题。