射线检测原理
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射线检测原理
射线在穿透物体过程中会与物体发生相互作用,因吸收和散射而使其强度减弱。强度衰减程度取决于物体的衰减系数和射线在物体中穿越的厚度。如果被透照物体的局部存在缺陷,且构成缺陷的物体的衰减系数又不同于试件,该局部区域的透过射线强度就会与周围产生差异。把胶片放在适当位置使其在透过射线的作用下感光,经暗室处理后得到底片。底片上各点的黑化程度取决于射线曝光量,由于缺陷部位和完好部位的射线强度不同,底片上相应部位就会出现黑度差异。底片上相邻区域的黑度差定义为“对比度”。把底片放在观片灯光屏上借助透过光线观察,可以看到由对比度构成的不同形状的影像,评片人员据此判断缺陷情况并评价试件质量。
射线检测主要优点是:它能得到物体内部状况的二维图像,根据这一图像可以直观地分析物体内部的缺陷和组织结构。物体二维图像的形成主要是由于X射线穿过物体后强度的衰减。但在底片上所呈现的图像与物体内部的实际结构并非完全相同。由于焦点、焦距和缺陷位置等因素的影像在底片上产生的投影图像,有可能放大、畸变、影像重叠等情况。因此要从图像上客观地分析出物体内部的真实情况必须了解其原理。
强度衰减成像原理
X射线强度衰减公式
I= I0 e-uT
代入公示后可得
I = I0 e-kρz3T
Ρ是物体的密度,Z是物体的原子序数,λ是入射X射线的波长,T使物体的厚度,k是系数。X射线管的电压确定后,k和λ都是常熟,因此穿过物体后的射线强度I与T、Z等有关。
射线检测原理
射线在穿透物体过程中会与物体发生相互作用,因吸收和散射而使其强度减弱。强度衰减程度取决于物体的衰减系数和射线在物体中穿越的厚度。如果被透
照物体的局部存在缺陷,且构成缺陷的物体的衰减系数又不同于试件,该局部区域的透过射线强度就会与周围产生差异。把胶片放在适当位置使其在透过射线的作用下感光,经暗室处理后得到底片。底片上各点的黑化程度取决于射线曝光量,由于缺陷部位和完好部位的射线强度不同,底片上相应部位就会出现黑度差异。底片上相邻区域的黑度差定义为“对比度”。把底片放在观片灯光屏上借助透过光线观察,可以看到由对比度构成的不同形状的影像,评片人员据此判断缺陷情况并评价试件质量。
射线检测主要优点是:它能得到物体内部状况的二维图像,根据这一图像可以直观地分析物体内部的缺陷和组织结构。物体二维图像的形成主要是由于X射线穿过物体后强度的衰减。但在底片上所呈现的图像与物体内部的实际结构并非完全相同。由于焦点、焦距和缺陷位置等因素的影像在底片上产生的投影图像,有可能放大、畸变、影像重叠等情况。因此要从图像上客观地分析出物体内部的真实情况必须了解其原理。
强度衰减成像原理
X射线强度衰减公式
I= I0 e-uT
代入公示后可得
I = I0 e-kρz3T
Ρ是物体的密度,Z是物体的原子序数,λ是入射X射线的波长,T使物体的厚度,k是系数。X射线管的电压确定后,k和λ都是常熟,因此穿过物体后的射线强度I与T、Z等有关。
I1 I2
如果物体的密度和成分是均匀的,而且管电压恒定不变,那么I1和I2值完全取决于厚度的变化则有I1 >I >I2
在钢焊缝中经常会产生金属和非金属夹杂,如钨夹杂和熔渣。由于非金属熔渣的主要成分的原子序数核密度都小于基体金属,因而在X射线底片上形成黑点或长条形不规则黑
线;由于无原子序数核密度都大于基体金属,因而在X射线底片上形成白点。
主因对比度
有射线照相原理可知,有无缺陷不为引起的射线强度变化是;不同的,正是由于这种强度变化的差异,导致照相底片黑度的差异,从而可以进行定量分析:
I=Is+I D
无缺陷部位,有
I = Is+ I0 e-uT
I
I D = 1 + n
1)提高衰减系数。从线衰减系数近似公式u=kρz3λ3可知,线衰减系数与材料密度、原子序数和射线波长有关。对于X射线而言,就是要在保证穿透能力的条件下减小管电压。
2)增大ΔT。缺陷的尺寸是固定的,而且缺陷存在与否以及缺陷的缺项都是未知的,但可以凭经验估计某种缺陷适当增大ΔT。
3)减小散射比。从透照过程中,采取各种方法减少散射线,从而减小散射比,有利于提高主因对比度,从而提高影像对比度。
设备器材
1.X射线探伤机
工业探伤上,利用X射线管中高速电子去撞击阳极靶,从而产生X射线。其实用来产生X射线的一种真空二极管。其印记用来产生热电子。在阳极与阴极之间加高电压,点自由与阳极高电位的吸引以高速度想阳极靶撞击X射线管两级的高电压是由高压发生器供给的。高压发生器一般要浸在绝缘介质里工作。一般选择X射线探伤机都要考虑穿透能力、X射线管焦点大小、被碱工件形状等因素。
X射线探伤机的选择
1)X射线探伤机的穿透能力
2)被检产品的材质相同管电压下,还要考虑被检验工件的材质的密度等性质。即衰减能力
3)被检产品的形状特点
4)被检产品的尺寸特点工件较小,移动方便的,可用固定式X射线探伤机;比较笨重的,可用携带式X射线探伤机。
5)缺陷的检出特点。
2.γ射线机
Γ射线与X射线探伤机一个重要区别是,γ射线源始终不断地辐射γ射线,二X 射线探伤机仅仅再开机并加上高压后才产生X射线。
Γ射线探伤机与普通X射线探伤机比较具有如下优点
1)探测厚度大,穿透能力强。
2)可以连续运行。
3)射线谱为线状谱
4)体积小、重量轻、不用水、电,适合野外作业。
5)效率极高,对环缝和球缝可进行周向曝光和全景曝光。
6)可以深入到工件狭窄部位去照相,还可在高温、高电压和磁场环境下探伤。
7)设备故障率低,无易损部件,与同等穿透能力的X射线探伤机相比,价格低。
Γ射线探伤机主要缺点
1)射线源有一定半衰期,更换比较频繁。
2)能量固定,无法根据时间厚度进行调节;放射性强度适中在减少,强度随时间变化,使曝光时间受到制约。
3)固有不清晰度一般比X射线探伤机大。
4)要求严格的射线防护,管理严格
3.像质计
像质计是测定射线照片的射线照相灵敏度的器件,根据在底片上显示的像质计的影像,可以判断底片影像的质量,并可评定透照技术、胶片暗室处理情况、缺陷检验能力等。目前,最广泛使用的像质计主要是三种:线型像质计、阶梯孔型像质计、槽型像质计,此外还有槽型像质计和双丝像质计等。像质计应用与被检验工件相同或对射线吸收性能相似的材料制做。各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法。