第四章非平衡载流子-中国科学技术大学
8.4非平衡载流子及其运动
§8.4 非平衡载流子及其运动1.稳态与平衡态如果一个系统的状态不随时间变化,则称系统到达了稳态;如果一个系统的状态不随时间变化,且与外界没有物质及能量交换,则此系统就处于平衡态。
平衡态标志 200i n n p =平衡是一种动态平衡,不断地有电子-空穴对通过激发产生出来,同时不断地有电子和空穴相遇而彼此复合消失。
产生过程:起因于各种激发,如热激发,光激发,高能粒子碰撞激发;产生率G 指单位时间通过单位体积产生的电子-空穴对数。
复合过程:电子和空穴相遇而复合消失,复合率R 指单位时间通过单位体积复合掉的电子-空穴对数。
显然复合率取决于电子和空穴的浓度,而且一般取决于少子浓度。
平衡态下的产生率和复合率分别记作0G 和0R ,则00R G =。
外界作用破坏了系统平衡,从而使电子和空穴的浓度不同于热平衡时的数值0n 和0p 。
我们把这种“过剩”的载流子称为非平衡载流子。
光照可以直接激发电子-空穴对,称为非平衡载流子的光注入;对p-n 结施加偏压,也可以产生非平衡载流子;称之为电注入。
如果是n 型半导体,n Δ可能远少于平衡多子浓度n ;但p Δ却可能远大于平衡少子浓度p ,就是说非平衡少子浓度可以远较平衡值为大。
2.寿命光照停止后,热激发仍然存在,所以载流子的产生率并不为零。
因此,我们采用“净复合率”这一术语描写载流子浓度的实际减小量:净复合率γ= 复合率R - 产生率G 。
此时的产生率仅由热激发引起,即0G G =。
载流子的复合可以有多种途径。
半导体中的自由电子和空穴在运动中会有一定概率直接相遇而复合,使一对电子和空穴同时消失,这称直接复合。
从能带角度讲,直接复合就是导带电子直接落入价带与空穴复合。
实际半导体中含有杂质和缺陷,它们在禁带中形成能级,导带电子可能先落入这些能级,然后再落入价带与空穴复合,这称为间接复合。
无论直接复合还是间接复合,净复合γ一般正比于)(2i n pn −,显然,平衡态时由于200i n n p pn ==,故0=γ。
半导体原理简介
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中国科学技术大学物理系微电子专业
能带的概念
• • • • 电子的共有化运动 能带的概念 导体、半导体、绝缘体的能带 直接带隙半导体:电子从价带向导带跃迁 不需要改变晶体动量的半导体,如GaAs。 • 间接带隙半导体:电子从价带向导带跃迁 要改变晶体动量的半导体,如Si。
Principle of Semiconductor Devices
2018/11/24
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半导体器件基础
• 半导体器件是根据半导体中的各种效应制成的。 • 如:利用pn结单向导电效应,光电效应,雪崩倍 增效应,隧道效应等,可以制成各种半导体结型 器件。 • 利用半导体中载流子的能谷转移效应,可以制成 体效应器件。 • 利用半导体与其它材料之间的界面效应,可以制 成各种界面器件。 • 半导体中的各种效应是由半导体内部的电子运动 产生的,因此需要掌握构成半导体器件物理基础 的半导体中的电子运动规律。
Principle of Semiconductor Devices
2018/11/24 14
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§1-2 半导体能带结构
• • • • • 能带的概念 有效质量的概念 载流子的概念 多能谷半导体 态密度
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固体结构
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晶体结构
半导体器件原理-中国科学技术大学
• 金属半导体的接触势垒是指电子从金属进入半导 体必须克服的势垒的高度。
Semiconductor Devices
2019/10/15
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★ 金属和半导体的功函数
功函数: W= EVAC-EF, ( EVAC --真空中静止电子的能量,亦记作E0 )
• 对于这种理想的情况,势垒高度qфBn就是金属功 函数和半导体电子亲和能之差。对于理想的金属
分别与N型、P型半导体接触,其势垒高度为:
qBn q(m ) qBp Eg q(m )
• 对给定的半导体,任何金属在n型衬底和p型 衬底上的势垒高度之和总等于Eg。
Eg qBp qBn
• 对金属/半导体接触势垒的小结: 仍以M/n-S, 势垒接触(Wm>Ws)为例: eΦSB =eVD+(Ec –EF)n ♦ 当不考虑表面态: eΦSB = Wm –χ ♦ 当表面态的密度很高: eΦSB =Eg – eΦ0 --肖特基势垒高度与金属的Wm无关.
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• 如果qΦ 0与半导体的EF重合,则界面态和半导体内部没有电 子交换,界面的净电荷为0。如果qΦ 0>EF,则电子从表面向 体内转移,界面净电荷为正,qΦ 0<EF,电子从体内向表面 转移,界面净电荷为负。
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可能有整流作用。由此产生的势垒模型就是所谓肖
特基势垒。金属半导体形成的具有整流效应的结称 为肖特基结。
• 欧姆结:又称为欧姆接触。
金属半导体接触也可能是非整流性的, 即不管所加电 压极性如何,接触电阻均可忽略,这种金属半导体 接触称为欧姆接触。为实现电子系统中的相互连接, 所有半导体器件和集成电路都必须有欧姆接触。
复旦大学(微电子)半导体器件第四章非平衡统计
第四章非平衡载流子•准费米能级•非平衡载流子寿命•非平衡载流子复合机制•复合和陷阱•非平衡载流子的漂移与扩散•爱因斯坦关系•电中性条件•连续性方程及某些解非平衡载流子的俘获、复合、扩散和漂移!非平衡和非平衡载流子•上面一章讲的是在外加电场比较低的情况下,这时半导体的热平衡已经被破坏,但是电场仅仅改变载流子的运动速度而没有改变载流子的浓度。
•本章讲述的是有足够大的外加激发,使载流子的浓度发生变化的情况。
非平衡载流子的产生•光注入•电注入准热平衡•由于非平衡载流子平均生存的时间(约秒)比载流子的平均自由时间(约秒)长得多,所以被激发出来电子和空穴会很快通过散射使子系统内部分别达到准热平衡(约秒),而子系统互相之间却不能达到平衡,这段时间为准热平衡。
610−1410−1010−非平衡载流子的寿命•非平衡载流子产生以后,一旦产生的源头消失,非平衡载流子就要逐步减少,趋向于恢复平衡状态。
非平衡载流子从产生到消失的平均时间称为非平衡载流子的寿命。
•实际上,平衡载流子也是有寿命的。
在一定温度下,由于热激发不断产生载流子同时也有载流子不断复合消失,两者达到平衡,从统计平均的角度讲这时载流子浓度不变。
•必须详细分析非平衡载流子的各种产生复合过程,才能正确地计算出非平衡载流子的寿命。
•非平衡载流子的产生和复合过程必须满足能量守恒和动量守恒。
非平衡载流子的衰减•非平衡载流子产生以后,一旦产生的源头消失,非平衡载流子就会逐步衰减。
计算表明非平衡载流子衰减到e分之一所需的时间就是非平衡载流子的寿命时间。
复合中心复合•硅单晶是间接能带,电子和空穴复合过程中仅仅发射光子不能满足准动量守恒的条件,因此需要声子参与,这样的复合几率很小。
而硅单晶中有许多杂质缺陷能级,载流子通过这些能级复合的几率相对比较大,所以我们这里主要讨论复合中心复合。
大部分情况下,为了提高器件性能需要尽可能降低杂质缺陷,从而提高载流子的寿命。
特殊需要时(例如提高双极器件的开关速度),可控制地引入金、铂金、辐射缺陷等用于缩短载流子寿命。
第四章非平衡载流子-中国科学技术大学
从另一角度理解上两式:两式各自独立地描 述导带中的电子分布和价带中的空穴分布情 况,不过它们的费米能级相同。
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中国科学技术大学物理系微电子专业
费米能级相同的原因:
半导体处于热平衡状态,即从价带激发到导带 的电子数等于从导带跃迁回价带的电子数,使 得导带中的电子的费米能级和和价带中空穴的 费米能级产生关联,即相等。
经过20微秒, 非平衡态的空穴浓度为:
p p0 e
p EF EF k 0T
0.3 2.25 10 exp( ) 0.026 2.3 1010 cm 3
5
p p (t ) (p ) 0 exp( )
t
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t 20 2.4( s ) 14 (p) 0 10 ln ln p(t ) 2.3 1010
非平衡载流子 非平衡载流子的注入与复合 非平衡载流子的寿命
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★非平衡载流子
非平衡态:当半导体受到外界作用(如:光
照、偏置电压等)后, 载流子分布将与平衡态 相偏离, 此时的半导体状态称为非平衡态。
非平衡载流子(过剩载流子) – 比平衡状态多出来的这部分载流子: △n,△p n= n0+△n, p= p0+△p
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产生率=复合率
n0、p 0不变
产生率 >复合率 产生率=复合率 产生率 <复合率
产生率=复合率
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《半导体物理学》【ch05】 非平衡载流子 教学课件
复合理论
1 直接复合——电子在导带和价带之间的直接跃迁, 引起电子和空穴的直接复合。
间接复合电子和空穴通过禁带的能级(复合中心)进行复合。根据间接复合过程发生的位置,又可以把
2 它分为体内复合和表面复合。载流子复合时, 一定要释放出多余的能量。放出能量的方法有三种:
1.发射光子,伴随着复合,将有发光现象,常称为发光复合或辐射复合; 2.发射声子,载流子将多余的能量传给晶格,加强晶格的振动; 3.将能量给予其他载流子,增大它们的动能,称为俄歇(Auger)复合。
集成电路科学与工程系列教材
第五章
非平衡载流子
半导体物理学
01
非平衡载流子 的注入与复合
非平衡载流子的注入与复合
处于热平衡状态的半导体在一定温度下,载流子浓度是一定的。这种处于热平衡状态下的载流子浓度, 称为平衡载流子浓度,前面各章讨论的都是平衡载流子。用no 和po分别表示平衡电子浓度和空穴浓 度,在非简并情况下,它们的乘积满足下式
当外界的影响破坏了热平衡,使半导体处于非平衡状态时,就不再存在统一的费米能级,因为前 面讲的费米能级和统计分布函数都指的是热平衡状态。事实上,电子系统的热平衡状态是通过热 跃迁实现的。在一个能带范围内,热跃迁十分频繁,在极短时间内就能形成一个能带内的热平衡。 然而, 电子在两个能带之间,例如,导带和价带之间的热跃迁就稀少得多,因为中间还隔着禁带。
非平衡载流子的注入与复合
最后, 载流子浓度恢复到平衡时的值,半导体又回到平衡态。由此得出结论,产生非平衡载流子的外 部作用撤除后,半导体的内部作用使它由非平衡态恢复到平衡态,过剩载流子逐渐消失。这一过程称为 非平衡载流子的复合。 然而,热平衡并不是一种绝对静止的状态。就半导体中的载流子而言,任何时候电子和空穴总是不断地 产生和复合, 在热平衡状态,产生和复合处于相对的平衡,每秒钟产生的电子和空穴数目与复合的数 目相等,从而保持载流子浓度稳定不变。 当用光照射半导体时,打破了产生与复合的相对平衡,产生超过了复合,在半导体中产生了非平衡载流 子, 半导体处于非平衡态。
非平衡载流子
热平衡态非简并非均匀掺杂n型半导体 (符合玻尔兹曼分布)
热平衡态非简并非均匀掺杂p型半导体
半导体中总电流密度表达式
8连续性方程式
9硅的少数载流子寿命与扩散长度 在n型重掺杂Si中,由于形成的杂质能带伸入导带,使导带底发生禁带窄变效应,引起导带底处电子 的迁移率大大下降,而在p型重掺杂Si中,禁带窄变效应发生在价带顶,少数载流子电子仍处于正常 的导带底部,故其迁移率较大。
复合中心 半导体中杂质越多,晶格缺陷越多 ,寿命就越短。→杂质和缺陷有促进复合的作用。 这些促进复合过程的杂质和缺陷称为复合中心。
微观过程
1俘获电子
电子俘获率
2发射电子
电子产生率
3俘获空穴空穴俘Leabharlann 率4发射空穴空穴产生率
小注入情况
强n型区 对寿命起决定作用的是复合中心对少数载流子空穴的俘获系数。
高阻区 寿命与多数载流子浓度成反比,即与电导率成反比。
稳定扩散方程
方程普遍解的形式(不同条件)
样品足够厚 非平衡载流子尚未到达样品的另一端,几乎都已经消失,这种情况和一个无限厚的样 品一样。
样品厚度一定 样品厚度一定,并且在样品的另一端设法将非平衡少数载流子全部引出。
扩散电流密度
空穴的扩散电流密度
电子的扩散电流密度
探针注入情况(具有球对称的情况)
7载流子的漂移扩散,爱因斯坦关系式 存在非平衡载流子时,当然在外加电场作用下载流子也要做漂移运动,产生漂移电流。若非平衡载 流子还存在浓度梯度,非平衡载流子存在扩散运动,产生扩散电流。
非平衡多数载流子
非平衡少数载流子
非平衡载流子的光注入 用光照使得半导体内部产生非平衡载流子的方法
小注入 (非平衡载流子浓度)Δn<<n₀,Δp<<n₀
4.半导体物理:非平衡载流子
第4章 非平衡载流子
4 非平衡载流子
本章内容提要
• 非平衡载流子概念 • 产生与复合过程 • 陷阱效应 • 连续性方程式
表 面 复合中心
非平衡载流子的 基本性质及其运动规律 (激发、运动、复合)
半导体器件工作原理的基础
半导体物理重要内容之一
重要的半导体效应
光敏电阻 二极管整流 晶体管的放大 光电 发光 …...
ni
exp
Ei EFn k0T
p
Nv
exp
EFp Ev k0T
p0
exp
EF EFp k0T
ni
exp
Ei EFp k0T
EFn和EFp分别表示电子和空穴的准费米能级
说明:
① 电子在导带和价带之间,隔着禁带,热跃迁要稀少得多,导带 价带之间处于不平衡 。
② 原热平衡是指导带和价带之间的平衡。
③ 一般在非平衡态时,总是多数载流子的准费米能级和平衡时的 费米能级偏离不多,而少数载流子的准费米能级则偏离很大。
④ EFn , EFp 的大小反映了偏离热平衡态的程度( np与ni2相差的程度 )。
np
n0
p0
exp
EFn EFp k0T
ni2
exp
EFn EFp k0T
画出p型半导体(小注入时)的准费米能级图
导带电子 交给晶格原子多余的能量
价带空穴
复合、消失
在单位时间、单位体积内消失的数目R——复合率
产生
复合
稳态 相互平衡
热平衡状态(动态、相对)
唯一的费米能级(服从费米或波耳兹曼分布)
n0
p0
ni2
① 非平衡态:处于热平衡态的半导体,在外界条件作用下,破坏了 平衡条件,处于与热平衡态相偏离的状态。
非平衡载流子
单位时间、单位体积中被复合的载流子对 (电子—空穴对),量纲为:对(个)/s· cm3
Rnp
R=rnp
r:比例系数,它表示单位时间一个电子
与一个空穴相遇的几率,通常称为复合系数 或复合概率 和速度相关的统计量
当n=n0,p=p0时,
rn0p0= 热平衡态时单位时间、单位体积 被复合掉的电子、空穴对数 对直接复合,用Rd表示复合率 Rd=rdnp—非平衡 Rd=rdn0p0—热平衡
小注入时,非子寿命决定于材料,当温度 和掺杂一定时,它是个常数;多子浓度 大,小,或者电导率高,寿命就短。
大注入时,非子寿命决定于注入;注入 浓度大,小
一般讲,带隙小直接复合的概率大寿命短
三、非平衡载流子的间接复合
半导体杂质和缺陷在禁带中的能级,不仅影响导 电特性,同时会对非子的寿命也有很大影响。 一般讲,杂质和缺陷越多,寿命越短,即它们有 促进非子复合的作用。这些促进复合的杂质和缺 陷称为复合中心。 间接复合是指非子通过复合中心的复合
EF EFp KT
p EF EF KT
p / p0 e
n p KT e EFn和EFp两者相差愈大 n0 p0 2 ni 偏离平衡愈厉害
EFn EFp
§5.4
复 合 理 论
内部的相互作用引起微观过程之间的平衡,即非平衡向平 衡的过度,即非子的复合。复合理论是个统计性的理论。
● 注入的非平衡载流子浓度大于平衡时的多子浓 度,称为大注入。
n型:n>n0,p型:p>p0
●注入的非平衡载流子浓度大于平衡时的少子浓 度,小于平衡时的多子浓度,称为小注入。
n型:p0<n<n0,或p型:n0<n<p0
即使在小注入下,非平衡少数载流子还是可以 比平衡少数载流子的浓度大得多,它的影响就 显得很重要了,对多子而言,影响可以忽略。 所以,非子就是指非平衡少子。
中国科学院大学高等传热学知识重点(答案)
高等传热学知识重点总结1. 固体中的微观热载流子的种类,以及对金属/绝缘体材料中热流的贡献。
答:固体微观热载流子包括:电子(electron )和声子 (phonon)。
金属材料: ,即热流贡献来自电子和声子。
热流在电子-电子、电子-声子、声子-声子的相互作用中传递。
绝缘体: ,即热流贡献主要来自是声子。
热流的传递主要在声子-声子的相互作用中完成,电子起到的作用可以忽略不计。
2. 平均自由程的概念。
答:在一定条件下,微粒(载流子)相邻两次碰撞之间的平均距离,叫做平均自由程。
3.(5)电子和声子满足的量子统计分布规律。
答:电子(费米子)满足费米-狄拉克分布:f (E )=1exp (E−μK B T )+1声子(玻色子)满足玻色-爱因斯坦分布:f (E )=1exp (K B T)−14.简述热波模型的物理含义。
答:在极低温、超快速加热等物理现象中傅立叶定律不再成立,热扰动以有限速度传播,这就是热波现象。
CV 模型一个重要特点是认为导热过程中能量是以波的形式传播的,即热波传递现象,而不是傅立叶定律所指出的扩散形式。
因为τ比较小,通常条件下可简化为傅立叶导热定律,但是,当热流随时间的变化很大时(例如激光热脉冲)则会体现出热的波动传递性质。
热流对时间的导数项意味着热流的建立要比温度场的建立滞后一定的时间,代表着某种“热惯性”。
ph e totalλλλ+=ph total λλ=6.分子动力学理论中,典型的势能函数项。
答:(1)键伸缩项(键长r ij):分子中的化学键的长度并非是固定的,而是在平衡长度附近有微小的振荡。
势能与键长的关系如下:E(rij)=k(r ij−r0)2其中ijr为键长,r为平衡键长,k为弹力系数。
2原子(2)键角弯曲项(键角θ):分子中连续链接的三个原子形成的键角并非是完全固定的值,而是在其平衡值的附近小幅度振荡。
势能与键角的二次函数关系如下:E (θ)=k(θ−θ0)2其中θ为键角,θ为平衡键角,k为弹力系数。
【高中物理】优质课件:非平衡载流子
1 Nt rn
p
n
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扩散运动可以忽略
△p △po
△po/e
0
Lp(E)
x
Lp(E) 牵引长度
● 电场很弱
ppE 很低,Lp(E)<<Lp
2
1 Lp
x
p(x) p0e Lp
漂移运动可以忽略
光激发载流子的衰减
均匀掺杂的N型半导体,光均匀照在半 导体上,其内部均匀地产生非子,没有电 场,内部也没有其它产生,求光照停止后 的衰减方程。
高中物理
非平衡载流子
非平衡载流子 一、非平衡载流子的产生、平均寿命、 平均扩散长度及浓度的计算
二、非平衡载流子的复合
1.直接复合:小注入时,非子寿命决定于多子浓度 大注入时,非子寿命决定于注入。
2.间接复合:小注入时非子寿命决定于少子寿命
A=0, p(x) Be2x
x 0, p(0) p0
p(x) poe2x
● 电场很强
p E p Lp (E) Lp
L2p (E) 4L2p
1/ 2
1
2Lp Lp (E)
2
1/ 2
ห้องสมุดไป่ตู้
Lp (E)
Lp
( E ) 1
2L2p L2p (E)
2
Lp(E)
Lp (E)1
2L2p
2 L2p
L2p (E
)
1
Lp (E)
x
p(x) p0e Lp (E)
E =0,gp =0, 稳态
dp 0 dt
均匀掺杂:
d 2 p d 2p
dx2 dx2
(p =p0+p)
Dp
d 2p dx2
非平衡载流子-中国科学技术大学
7
中国科学技术大学物理系微电子专业
2019/10/14
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半导体的热平衡态与非平衡态
载流子的产生率: 单位时间单位体积内产 生的电子-空穴对数。
载流子的复合率: 单位时间单位体积内复合 掉的电子-空穴对数。
平衡载流子浓度: 在热平衡状态半导体中, 载流子的产生和复合的过 程保持动态平衡,从而使载流子浓度保持定值。 这时的载流子浓度称为平衡载流子浓度。
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★非平衡载流子
非平衡态:当半导体受到外界作用(如:光
照、偏置电压等)后, 载流子分布将与平衡态 相偏离, 此时的半导体状态称为非平衡态。
非平衡载流子(过剩载流子) – 比平衡状态多出来的这部分载流子: △n,△p n= n0+△n, p= p0+△p
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载流子的产生率G: 载流子的复合率R: 单位时间单位体积内产 单位时间单位体积内复合 生的电子-空穴对数。 掉的电子-空穴对数。
不同状态时,载流子的产生率和复合率统计比较:
热平衡态
产生率=复合率
n0、p
不变
0
注入过程 注入稳定
n n0 n n0 5.51015cm3
p
p0
p
p
1010 cm3
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半导体中的非平衡载流子.
复合
Ev
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对于直接复合过程,单位体积中每个电子在单位时间里 都有一定的几率和空穴相遇而复合,如果用n和p表示电子和空穴 浓度,那么复合率R与n和p有关,具有如下形式 r是电子-空穴复合几率。 对于产生过程,产生率=G=常数
平衡态时的产生率等于复合率,所以
• • 复合几率r越大,净复合率Ud越大,τ就越小。 τ与平衡和非平衡载流子浓度n0、p0、Δp都有关。
•
如果是小注入,τ≈1/r(n0+p0)为常数。如果Δp>>(n0+p0),则τ≈1/rΔp,复合过程中Δp减少
使寿命不再是常数。
•
Si、Ge两种半导体的寿命远小于直接复合模型所得到的计算值,说明直接复合不是主 要机制。
•
直接复合强弱与能带结构和Eg值等因素有关。
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2. 间接复合
• 杂质和缺陷在半导体禁带中形成能级,它们不但影响半导体导电性能,还可 以促进非平衡载流子的复合而影响其寿命。 • • • 通常把具有促进复合作用的杂质和缺陷称为复合中心。 实验表明半导体中杂质和缺陷越多,载流子寿命就越短。 复合中心的存在使电子-空穴的复合可以分为两个步骤,先是导带电子落入复 合中心能级,然后再落入价带与空穴复合,而复合中心被腾空后又可以继续 进行上述过程。 • 相反的逆过程也同时存在。
丙:电子由复合中心能级落入价带与空穴复合,称为复合中心俘获空穴的过程
空穴俘获率 = rppnt ,rp空穴俘获系数 丁:电子由价带被激发到空的复合中心能级(丙的逆过程),称为发射空穴过程 空穴产生率 = s+(Nt-nt) ,s+空穴激发几率
高二物理竞赛非平衡载流子课件
非平衡净复合率:U R G R G0 rnp rn0 p0 r(np ni2 )
n n0 n, p p0 p, n p
非平衡载流子复合率 热产生率
载流子的复合率
U rp(n0 p0 p)
非平衡载流子的复合率 p /
p U
rn0
1 p0
p
(1)小注入条件下 △p<<n0+p0 (2)大注入条件下 △p>>n0+p0
产生率G:
单位时间和单位体积内所产生的电子一空穴对数
在一定温度下,价带中的每个电子都有一定的几率被 激发到导带,从而形成一对电子和空穴。如果价带本来就 缺少一些电子,即存在一些空穴,当然产生率就会相应地 减少一些。同样.如果导带中本来就有一些电子,也会使 产生率相应地减少一些。因为根据泡里原理,价带中的电 子不能激发到导带中已被电子占据的状态上去。但是,在 非简并情况下,价带中的空穴数相对于价带中的总状态数 是极其微小的,导带中的电子数相对于导带中的总状态数 也是极其微小的。这样,可认为价带基本上是满的,而导 带基本上是空的,激发几率不受载流子浓度n和p的影响。 因而产生率在所有非简并情况下,基本上是相同的,只是
1
rn0
p0
1
rp
寿命取决于多 数载流子浓度!
复合过程中,寿命随非平衡载流子的浓度而变,不再是常数
定义:非平衡载流子通过禁带中的杂质和缺陷能级进行的复合。 复合中心:对非平衡载流子的复合起促进作用的杂质和缺陷,复合
中心能级越接近禁带中央,促进复合的作用也就越强。
复合中心俘获/释放电子/空穴
求出
(注:一种复合中心、浓度较小、稳态时)
讨论(一般复合中心rn与rp相差不大):
4第四章非平衡半导体中载流子的运动规律_半导体物理学
jdiff
即:
1 = j+ − j− = qvth[ n( x + l ) − n( x − l )] 2 jdiff = qvthldn / dx
D = vth l
根据扩散电流方程,其扩散系数:
分别将扩散系数 D 和迁移率 μ 的表达式带入,则有:
2 D / μ = m*vth / q
§ 4.2.3 载流子的扩散和扩散电流 1. 载流子的扩散和扩散电流
电子扩散电流:
jn ,diff
j p ,diff
dn = qDn dx
dp = − qD p dx
空穴扩散电流:
其中Dn和Dp分别为电子和空穴的扩散系数
§ 4.2.3 半导体的电流方程
半导体中电子和空穴的漂移和扩散运动构成了半导体中载流子基本的定 向运动形式,因此,载流子的漂移和扩散运动构成了半导体中电流输运 的基本机制
半导体的电导率和迁移率
半导体中有电子和空穴两种载流子,电场作用下的电流密度
j = jn + j p = (nqμ n + pqμ p ) E
得到半导体的电导和电阻率的表达式为:
σ = nqμ n + pqμ p
1 ρ= qnμn + qpμ p
一般情形,半导体电子和空穴的迁移率在同一数量级,在掺杂半导 体中,多数载流子浓度远远大于少数载流子,因此,其电导率主要 由多数载流子决定
1 m nV 2
2 th
3 = kT 2
其中,mn是载流子的有效质量, Vth~107 cm/sec. @300K 热平衡时,载流子的运动是完全 随机的,因此,净电流为零。 其中载流子在热运动过程中,将 遭遇各种形式(散射机制)的散射。 在热平衡情况下,电子热运动 完全随机,因而净电流为零。
非平衡载流子名词解释
非平衡载流子名词解释
非平衡载流子是指在半导体材料中,由于外界电场或光照等因素的作用,使得载流子的浓度产生不均衡分布的现象。
具体来说,非平衡载流子可以分为两类:非平衡电子和非平衡空穴。
非平衡电子:在半导体材料中,电子是带负电荷的载流子,晶格中的导带中存在有大量的自由电子。
当存在外界电场时,电子会受到电场力的作用而运动,导致电子的浓度在材料中产生不均衡分布。
非平衡空穴:空穴是带正电荷的载流子,它是晶格中一个原子发生共价键断裂而形成的缺氧空位。
当存在外界电场或光照时,空穴会受到电场力或光照的作用而运动,导致空穴的浓度在材料中产生不均衡分布。
非平衡载流子的产生和运动对于半导体器件的性能具有重要影响,例如在光电二极管中,非平衡载流子的产生和运动使得光电流的产生和传输成为可能。
此外,在太阳能电池、发光二极管等器件中,非平衡载流子的控制和优化也是提高器件效率和性能的关键。
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因此,p(0) 个过剩载流子的平均可生存时间为:
tdpt
t= 0
= p
dpt
0
也是非平衡载流子的平均生存时间,即非平 衡载流子的平均寿命.
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当加入非平衡作用时, 由于半导体的电阻发生改变, 半导体两端的电压也发生改变, 由于电压的改变,可 以确定载流子浓度的变化.
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注入的结果
产生附加光电导
nqn +pqp
=n 0+nqn+p0+pqp
n=N C exp-
EC EF k 0T
P=NV
exp-
EF EV k 0T
从另一角度理解上两式:两式各自独立地描 述导带中的电子分布和价带中的空穴分布情 况,过它们的费米能级相同。
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★ 非平衡载流子的注入与复合
①引入非平衡载流子(过剩载流子)的过程 --非平衡载流子的注入(injection)
最常用的注入方式:光注入,电注入.高能 粒子辐照 光注入: △n=△p
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②非平衡载流子的复合: --当外界因素撤除,非平衡载流子逐渐消 失,(电子-空穴复合),体系由非平衡态回 到平衡态.
热平衡是动态平衡. 当存在外界因素,产生非平衡载流子,热
平衡被破坏. 稳态—当外界因素保持恒定,非平衡载流
子的数目宏观上保持不变.
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产生率 >复合率 产生率=复合率
n、p 增加 n、p 稳定
注入撤销 恢复平衡态
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产生率 <复合率 产生率=复合率
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n、p 减小
n0、p
不变
0
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★非平衡载流子的寿命
指数衰减律:
t
p(t) (p)0 e
(1) 热平衡电子系统的费米能级 (2) 准费米能级的引入
(Quasi-Fermi Level )
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★ 热平衡电子系统的费米能级
热平衡电子系统有统一的费米能级
费米能级:费米分布函数来描述是用来描述平 衡状态下的电子按能级的分布的。也即只有平 衡状态下才可能有“费米能级”
n n0 n n0 5.51015cm3
p
p0
p
p
1010 cm3
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通常讨论小注入: △n,△p«(n0+p0 ) n型半导体: △n,△p«n0 p型半导体: △n,△p«p0
EFn EFp k 0T
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n 0qn +p0qp nqn +pqp
0
故附加光电导:
=nqn +pqp
=nq n +p
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②复合率Δ p/τ —单位时间内复合掉的非平衡子浓度
不同材料的寿命差异较大. 锗比硅容易获 得较高的寿命, 而砷化镓的寿命要短得多.
较完整的锗单晶:
10 4 s
较完整的硅单晶:
103 s
较完整的砷化镓单晶: 10 2 ~ 10 3 s
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§2
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准费米能级
Ec EF
EF Ei
n Nce kT nie kT
EF Ev
Ei EF
p Nve kT nie kT
np
ni2
Eg
Nc Nve kT
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对于热平衡状态下的非简并系统,有:
平衡态与非平衡态间的转换过程: 热平衡态: 产生率等于复合率,△n =0; 外界作用: 非平衡态,产生率大于复合率,△n 增
大; 稳定后: 稳定的非平衡态,产生率等于复合
率,△n 不变; 撤销外界作用: 非平衡态,复合率大于产生
率,△n 减小; 稳定后: 初始的热平衡态(△n =0)。
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★ 准费米能级的引入
金属中电子的分布:稳定时用费米分布, 但若有外界因素(如光照)引起电子激 发,电子分布不再满足费米分布。
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半导体的热平衡态与非平衡态
载流子的产生率: 单位时间单位体积内产 生的电子-空穴对数。
载流子的复合率: 单位时间单位体积内复合 掉的电子-空穴对数。
平衡载流子浓度: 在热平衡状态半导体中, 载流子的产生和复合的过 程保持动态平衡,从而使载流子浓度保持定值。 这时的载流子浓度称为平衡载流子浓度。
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载流子的产生率G: 载流子的复合率R: 单位时间单位体积内产 单位时间单位体积内复合 生的电子-空穴对数。 掉的电子-空穴对数。
不同状态时,载流子的产生率和复合率统计比较:
热平衡态
产生率=复合率
n0、p
不变
0
注入过程 注入稳定
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若用n0和p0分别表示平衡电子浓度和平衡空 穴浓度,在非简并情况下,有:
n0=NCexp-
EC EF k 0T
;
p0=NV
exp-
EF EV k 0T
它们乘积满足:
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举例: 电阻率为1cm的n Si
其平衡载流子浓度
n0 p0
5.5 1015 cm 3 3.1104 cm3
,
光照产生的非平衡载流子浓度n p 1010 cm3
则 n n0 而p p0
由于同一能带内,电子的跃迁非常迅速和频 繁,因此,即使在非平衡状态下,导带中的电 子和价带中的电子分布仍满足费米分布,即当 处于非平衡状态时, 电子与空穴各自处于热平衡 态---准平衡态。 此时电子和空穴有各自的费米 能级----准费米能级。即
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准平衡态:非平衡态体系中,通过载流子与 晶格的相互作用,导带电子子系和价带空 穴子系分别很快与晶格达到平衡.
--可以认为:一个能带内实现热平衡.
♦导带和价带之间并不平衡(电子和空穴 的数值均偏离平衡值)
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Δpt =Δp(0)et / p
同理对P型有
Δnt =Δn(0)e-t/τn
的意义:
就是 pt衰减到 p(0) 的1/e所需的时间
衰减过程中从t到t+dt内复合掉的过剩空穴
dpt=- pt dt
p
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第四章 非平衡载流子
§1 非平衡载流子的注入与复合 §2 准费米能级 §3 复合理论概要 §4 载流子的扩散和漂移 §5 连续性方程
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§1 非平衡载流子的注入与复合
(1) 非平衡载流子 (2) 非平衡载流子的注入与复合 (3) 非平衡载流子的寿命
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★非平衡载流子
非平衡态:当半导体受到外界作用(如:光
照、偏置电压等)后, 载流子分布将与平衡态 相偏离, 此时的半导体状态称为非平衡态。
非平衡载流子(过剩载流子) – 比平衡状态多出来的这部分载流子: △n,△p n= n0+△n, p= p0+△p
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