电气绝缘测试技术之2 介损测量
介损测试原理及应用资料讲解
抗干扰方法
测量一次介损,然后将试验电源倒相180 度再测量一次,取平均值。
倒相法是抗干扰最简单的方法,也是效果 最差的方法。因为两次测量之间干扰电流或试 品电流的幅度会发生波动,会引起明显误差。
『抗干扰方法』
抗干扰方法
另一种工频抗干扰方法是采用大功率移相电源,调整试验高压的相 位,使试品电流与干扰电流方向相同或相反,这样干扰电流影响减小, 再配合倒相测量,能大大提高测量精度。
再一种方法是采用小功率调幅调相信号源,从R3桥臂上抵消干扰电 流(干扰抵偿法),再配合倒相测量,能大大提高测量精度。这种方法 也是采用工频抗干扰的最佳方法。
『抗干扰方法』
抗干扰方法
干扰十分严重时,变频测量能显示更强的抗干扰能力。例如用55Hz测量时,测量系统 采用了数字滤波技术,只允许55Hz信号通过,50Hz干扰信号被有效抑制。
另外用于串联C1与标准电容器的导线对地电容与C1、Cn形成 了T型网络,对测量精度有影响。为了减小这种影响,一般可以 采用将导线悬空减小对地电容的办法,目前有些仪器已经加了补 偿算法。
『抗干扰方法』
抗干扰方法
介损测量受到的主要干扰是感应 电场产生的工频电流。无论何种测量 方式,它都会进入桥体:
『抗干扰方法』
『介质损耗因数(tgδ)测量方式』
介质损耗因数(tgδ)测量方式
关于介质损耗测试
关于介质损耗的一些基本概念
1、介质损耗
什么是介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。
2、介质损耗角δ
在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角(δ)。简称介损角。
3、介质损耗正切值tgδ
又称介质损耗因数,是指介质损耗角正切值,简称介损角正切。介质损耗因数的定义如下:
如果取得试品的电流相量和电压相量,则可以得到如下相量图:
总电流可以分解为电容电流Ic和电阻电流IR合成,因此:
这正是损失角δ=(90°-Φ)的正切值。因此现在的数字化仪器从本质上讲,是通过测量δ或者Φ得到介损因数。
测量介损对判断电气设备的绝缘状况是一种传统的、十分有效的方法。绝缘能力的下降直接反映为介损增大。进一步就可以分析绝缘下降的原因,如:绝缘受潮、绝缘油受污染、老化变质等等。
测量介损的同时,也能得到试品的电容量。如果多个电容屏中的一个或几个发生短路、断路,电容量就有明显的变化,因此电容量也是一个重要参数。
4、功率因数cosΦ
功率因数是功率因数角Φ的余弦值,意义为被测试品的总视在功率S中有功功率P所占的比重。功率因数的定义如下:
有的介损测试仪习惯显示功率因数(PF:cosΦ),而不是介质损耗因数(DF:tgδ)。一般cosΦ<tgδ,在损耗很小时这两个数值非常接近。
5、高压电容电桥
高压电容电桥的标准通道输入标准电容器的电流、试品通道输入试品电流。通过比对电流相位差测量tgδ,通过出比电流幅值测量试品电容量。因此用电桥测量介损还需要携带标准电容器、升压PT和调压器。接线也十分烦琐。
电介质损耗测试方法
电介质损耗测试方法
电介质损耗测试方法是一种用于测量电介质中能量损耗的方法。电介质是指某些材料,例如绝缘材料、电容器、电缆、变压器等,在电场中运作时会发生能量损耗。电介质损耗测试方法的主要目的是确定电介质的性能和合理地设计电气设备和系统。
电介质损耗测试方法主要分为两大类:直接测量法和间接测量法。直接测量法包括噪声测量法、两端法、共模法、差分法等。噪声测量法是通过测量电介质中的噪声电压来确定电介质的损耗。两端法是通过测量电介质两端的电压和电流来计算电介质的损耗。共模法是利用两个相同的电容器以相反的电压接入电路,通过测量电流来计算电介质的损耗。差分法是利用两个相对接的电容器来计算电介质中的损耗。
间接测量法包括谐振法、衰减法、相位移法等。谐振法是通过测量电路的谐振频率和谐振品质因数来计算电介质损耗。衰减法是利用电磁场在介质中的衰减来计算电介质损耗。相位移法是通过测量电路中的相位移来计算电介质的损耗。
电介质损耗测试方法在电力系统、电子电路设计和制造等领域有广泛应用。通过准确测量电介质的损耗,可以提高电气设备和系统的可靠性和稳定性,减少故障和损失。
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02-介质损耗因数测试作业指导书
序号 1
2 3
危险点
控制措施
触电 1. 接试验电源时应戴绝缘手套,在不能确定是否带电时,应将设备视
为带电设备。
2. 更换接线或试验结束时,应断开电源,并将被试设备高压侧接地。
高空坠落 登高作业必须使用安全带。
高空坠物 工作现场不得上下抛掷物件。
控制人 监护人
监护人 监护人
Q/YNDW 113.2.188-2006
目次
Q/YNDW 113.2.188-2006
1 目 的.............................................................................................................................................4 2 适用范围.........................................................................................................................................4 3 引用标准.........................................................................................................................................4 4 支持性文件.....................................................................................................................................4 5 技术术语.........................................................................................................................................4 6 安全措施.........................................................................................................................................4 7 作业准备.........................................................................................................................................5 8 作业周期.........................................................................................................................................5 9 工期定额.........................................................................................................................................5 10 设备主要技术参数.......................................................................................................................5 11 作业流程.......................................................................................................................................6 12 作业项目、工艺要求及质量标准...............................................................................................6 13 作业中可能出现的主要异常现象及对策...................................................................................2 14 作业后的验收和交接...................................................................................................................2
介损试验接线方法
介损试验接线方法
介损试验是一种用于测量绝缘材料或系统的电介质损耗和介质电阻的方法。在进行介损试验时,接线方法需要选取合适的电路来连接被测试的样品。
常见的介损试验接线方法有以下几种:
1. 并联接线法:这种方法将被测样品与一个电容器并联连接,形成一个并联电路。该电路使得被测样品与参考电容器之间可以共享电流,从而可以测量它们的介质损耗。
2. 串联接线法:这种方法将被测样品与一个电感器串联连接,形成一个串联电路。该电路通过测量样品与电感器之间的电压差和电流来计算样品的介质损耗。
3. 双臂接线法:这种方法使用了两个并联或串联的样品,并且在两个样品之间放置一个电感器或电容器。通过测量两个样品之间的电流和电压差,可以计算出每个样品的介质损耗。
4. 电桥接线法:这种方法使用了一个电桥电路来测量样品的介质损耗。电桥由电阻、电容或电感器组成,并通过调节电桥平衡来测量样品的参数。
在选择接线方法时,需要根据被测样品的性质和试验要求来确定合适的方法。同时,还需要确保连接线路的质量良好,以避免对测量结果产生干扰。
介损测试原理
介损测试原理
介损测试是一种常用的电学测试方法,用于评估电路或材料在交流电场中的能量损耗情况。通过测量电路或材料对电流和电压的响应,可以分析其频率相位差和电压波形的改变,从而得出其介损因子或介电损耗值。
介损测试常用于电源变压器、电感、电容、绝缘材料以及传输线等元件或设备的性能评估和质量控制。下面将介绍介损测试的原理和常用测试方法。
一、原理
介损是介质在交流电场中的电能损耗的一种表征,通常用介损因子(tanδ)来表示。介损因子是介质相对损耗的比值,计算公式为:tanδ = (Pd / Pc) = (Wd / Wc)
其中,Pd表示介质的损耗功率,Pc表示介质的储存功率,Wd表示介质的损耗能量,Wc表示介质的储存能量。
在介质中,当电场频率变化时,电介质将能量转化为热能,发生能量损耗。通过测量介质中的电流和电压信号,可以计算出介质的损耗功率和储存功率,从而得到介损因子的值。
二、测试方法
介损测试可以采用多种方法,下面介绍两种常用的测试方法:交流桥路法和谐振桥路法。
1. 交流桥路法
交流桥路法是一种常用而简单的介损测试方法。它基于电流和电压
之间的相位差关系,通过调节电路中的电阻、电感和电容元件,使之
达到平衡状态。当电路平衡时,相位差为零,此时测得的电阻值即为
介损因子。
交流桥路法适用于介电常数较小、介质比较均匀的材料,可以快速
测量出介损因子。但对于介电常数较大的材料,可能需要配合其他方
法进行测试。
2. 谐振桥路法
谐振桥路法是一种更精确的介损测试方法,它利用谐振现象进行测试。通过变化测试频率,选择使得电路谐振的频率,同时测量电感和
介电常数和介电损耗测量 2
介电常数和介电损耗测量
一.背景
介电特性是电介质材料极其重要的性质。在实际应用中,电介质材料的介电系数和介质损耗是非常重要的参数。例如,制造电容器的材料要求介电系数尽量大,而介质损耗尽量小。相反地,制造仪表绝缘器件的材料则要求介电系数和介质损耗都尽量小。而在某些特殊情况下,则要求材料的介质损耗较大。所以,通过测定介电常数及介质损耗角正切(tg),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。按照物质电结构的观点,任何物质都是由不同的电荷构成,而在电介质中存在原子、分子和离子等。当固体电介质置于电场中后会显示出一定的极性,这个过程称为极化。对不同的材料、温度和频率,各种极化过程的影响不同。
在绝缘技术中,特别是选择绝缘材料或介质贮能材料时,都需要考虑电介质的介电常数。此外,由于介电常数取决于极化,而极化又取决于电介质的分子结构和分子运动的形式。所以,通过介电常数随电场强度、频率和温度变化规律的研究,还可以推断绝缘材料的分子结构。
二.基本原理
电子材料与元件的电学性能参数的测量是一项基本而重要的工作。这些电学参数包括不同频率、不同温度下的电阻、电容、阻抗、介电常数、损耗角正切值等特性测量。全面而准确地掌握这些特性,对分析、改进电子材料与元件的性能十分重要。数字式LCR 测量仪(数字电桥)是随着数字测量技术发展而出现的新型智能化材料和元件参数测量仪器,具有使用简便、效率高、测量精度高等优点,在电子材料与元件特性参数测量和研究中获得了极其广泛的应用。
数字式LCR 测量仪以微处理器为核心、通过采集给定激励下被测样品和标准元件的电压、电流信号并按照—定的数学模型进行被测样品的参数计算。数字式LCR 测量仪测量原理以阻抗参数的数字化测量为基础,典型测量方法为矢量电流—电压法。测量电路原理如图1 所示,其中R s 为标准电阻值,Z x 为待测样品的阻抗。
关于介质损耗测试
关于介质损耗的一些基本概念
1、介质损耗
什么是介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。
2、介质损耗角δ
在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角(δ)。简称介损角。
3、介质损耗正切值tgδ
又称介质损耗因数,是指介质损耗角正切值,简称介损角正切。介质损耗因数的定义如下:
如果取得试品的电流相量和电压相量,则可以得到如下相量图:
总电流可以分解为电容电流Ic和电阻电流IR合成,因此:
这正是损失角δ=(90°-Φ)的正切值。因此现在的数字化仪器从本质上讲,是通过测量δ或者Φ
得到介损因数。
测量介损对判断电气设备的绝缘状况是一种传统的、十分有效的方法。绝缘能力的下降直接反映为介损增大。进一步就可以分析绝缘下降的原因,如:绝缘受潮、绝缘油受污染、老化变质等等。
测量介损的同时,也能得到试品的电容量。如果多个电容屏中的一个或几个发生短路、断路,电容量就有明显的变化,因此电容量也是一个重要参数。
4、功率因数cosΦ
功率因数是功率因数角Φ的余弦值,意义为被测试品的总视在功率S中有功功率P所占的比重。功率因数的定义如下:
有的介损测试仪习惯显示功率因数(PF:cosΦ),而不是介质损耗因数(DF:tgδ)。一般cosΦ
5、高压电容电桥
高压电容电桥的标准通道输入标准电容器的电流、试品通道输入试品电流。通过比对电流相位差测量tgδ,通过出比电流幅值测量试品电容量。因此用电桥测量介损还需要携带标准电容器、升压PT和调压器。接线也十分烦琐。
关于介质损耗测试
关于介质损耗的一些基本概念
1、介质损耗
什么是介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。
2、介质损耗角δ
在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角(δ)。简称介损角。
3、介质损耗正切值tgδ
又称介质损耗因数,是指介质损耗角正切值,简称介损角正切。介质损耗因数的定义如下:
如果取得试品的电流相量和电压相量,则可以得到如下相量图:
总电流可以分解为电容电流Ic和电阻电流IR合成,因此:
这正是损失角δ=(90°-Φ)的正切值。因此现在的数字化仪器从本质上讲,是通过测量δ或者Φ
得到介损因数。
测量介损对判断电气设备的绝缘状况是一种传统的、十分有效的方法。绝缘能力的下降直接反映为介损增大。进一步就可以分析绝缘下降的原因,如:绝缘受潮、绝缘油受污染、老化变质等等。
测量介损的同时,也能得到试品的电容量。如果多个电容屏中的一个或几个发生短路、断路,电容量就有明显的变化,因此电容量也是一个重要参数。
4、功率因数cosΦ
功率因数是功率因数角Φ的余弦值,意义为被测试品的总视在功率S中有功功率P所占的比重。功率因数的定义如下:
有的介损测试仪习惯显示功率因数(PF:cosΦ),而不是介质损耗因数(DF:tgδ)。一般cosΦ<tg δ,在损耗很小时这两个数值非常接近。
5、高压电容电桥
高压电容电桥的标准通道输入标准电容器的电流、试品通道输入试品电流。通过比对电流相位差测量tgδ,通过出比电流幅值测量试品电容量。因此用电桥测量介损还需要携带标准电容器、升压PT和调压器。接线也十分烦琐。
介质损耗试验
电容和介质损耗测量
一试验目的
测量介质损耗的目的是判断电气设备的绝缘状况。测量介质损耗因数在预防性试验中是不可缺少的工程。因为电气设备介质损耗因数太大,会使设备绝缘在交流电压作用下,许多能量以热的形式损耗,产生的热量将升高电气设备绝缘的温度,使绝缘老化,甚至造成绝缘热击穿。绝缘能力的下降直接反映为介质损耗因数的增大。进一步就可以分析绝缘下降的原因,如:绝缘受潮、绝缘油受污染、老化变质等等。所以,在出厂试验时要进展介质损耗的试验,运行中的电气设备亦要进展此种试验。测量介质损耗的同时,也能得到试品的电容量。电容量的明显变化,反映了多个电容中的一个或几个发生短路、断路。
二概念及原理
介质损耗是绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。
在交流电压作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角为功率因数角(Φ),而余角(δ)简称介损角。
介质损耗正切值δ
tg又称介质损耗因数,是指介质损耗角正切值,简称介损角正切。
介质损耗因数〔δ
tg〕的测量在电气设备制造、绝缘材料电气性能的鉴定、绝缘的试验等都是不可缺少的。因为测量绝缘介质的δ
tg值是判断绝缘情况的一个较灵敏的试验方法。在交流电压作用下,绝缘介质不仅有电导的损耗,还有极化损耗。介质损耗因数的定义如下:
如果取得试品的电流相量和电压相量,那么可以得到如下相量图:
合成,因此:
总电流可以分解为电容电流Ic和电阻电流I
R
这正是损失角δ=(90°-Φ)的正切值。因此现在的数字化仪器从本质上讲,是通过测量δ或者Φ得到介损因数。有的介损测试仪习惯显示功率因数(PF:cos Φ),而不是介质损耗因数(DF:tgδ)。一般cosΦ<tgδ,在损耗很小时这两个数值非常接近。
变压器介损测试方法
变压器介损测试方法
一、介损测试原理
变压器介损是指变压器在正常工作状态下,由于铁心、绕组等元件引起的电流损耗,通过正弦电压作用下的有功损耗和无功损耗的总和。介损测试的主要目的是评估变压器固有质量和状态,检查变压器的绝缘质量,以及发现和确定电器轻微故障。
二、介损测试设备
1.介损测试仪:介损测试仪是测量变压器介损的专用测试仪器。根据需求选择适当的测试仪器型号和规格。
2.电压源:提供稳定电压给测试仪器,保证测试的准确性。
3.温度测量仪:用于测量变压器的环境温度和油温,以对测试结果进行温度校正。
1.准备工作:
(1)确认变压器处于断电和安全状态下。
(2)检查介损测试仪的电源、连接线、传感器等设备的工作状态和连接情况,确保测试仪器设备正常工作。
(3)测量和记录变压器的环境温度和油温。
2.连接测试仪器:
(1)将介损测试仪的电源插座连接到电源端,并与测试仪器本体正确连接。
(2)将测试仪器的传感器连接到变压器高、低压绕组的连接点上,
并确保连接稳定。
3.测试步骤:
(1)将变压器端的绕组接通电源,使电流正常流过。
(2)设置测试仪器的参数,如电压等级、测试频率和所需电流值等。
(3)开始测试,测试仪器会自动给变压器施加正弦电压,并测量正
弦电压和电流之间的相位差,以及电流幅值。
(4)根据测量结果计算出变压器的有功损耗和无功损耗,并计算出
介质导热损耗。
(5)在不同的测试条件下,进行多次测试,并对测试结果进行比较
和分析。
4.结果分析:
(1)根据测试结果,比较变压器的实际损耗和额定损耗,判断变压
器的运行状态是否正常。
实验二.介质损耗角正切值的测量
实验二.介质损耗角正切值的测量
一.实验目的:
学习使用 QS1型西林电桥测量介质损耗正切值的方法。
二.预习要点:
概念:介质损耗、损耗角、交流电桥
判断:介质损耗是表征介质交流损耗的参数(直流损耗用电导就可表征),包括电导损耗
和电偶损耗;测量 tgδ值对检测大面积分布性绝缘缺陷或贯穿性绝缘缺陷较灵敏和有效,但对局部性非贯穿性绝缘缺陷却不灵敏和不太有效。
推理:中性介质的介质损耗主要是电导损耗,极性介质的介质损耗则由电导损耗和电偶
损耗两部分组成。
相关知识点:介质极化、偶极子、漏导。
三.实验项目:
1.正接线测试
2.反接线测试
四.实验说明:
绝缘介质中的介质损耗( P=ωC u2 tgδ)以介质损耗角δ的正切值( tgδ)来表征,介质
损耗角正切值等于介质有功电流和电容电流之比。用测量 tgδ值来评价绝缘的好坏的方法是很有效的,因而被广泛采用,它能发现下述的一些绝缘缺陷:
绝缘介质的整体受潮;
绝缘介质中含有气体等杂质;
浸渍物及油等的不均匀或脏污。
测量介质损耗正切值的方法较多,主要有平衡电桥法(QS1),不平衡电桥法及瓦特表法。
目前,我国多采用平衡电桥法,特别是工业现场广泛采用 QS1型西林电桥。这种电桥工作电压为10Kv,电桥面板如图 2-1所示,其工作原理及操作方法简介如下:
⑴.检流计调谐钮⑵.检流计调零钮
⑶.C4电容箱(tgδ)⑷.R3电阻箱
⑸.微调电阻ρ(R3桥臂)⑹.灵敏度调节钮
⑺.检流计电源开关⑻.检流计标尺框
⑼.+tgδ/-tgδ及接通Ⅰ/断开/接通Ⅱ切换钮
⑽.检流计电源插座⑾.接地
⑿.低压电容测量⒀.分流器选择钮
介电常数和介电损耗测量 2
介电常数和介电损耗测量
一.背景
介电特性是电介质材料极其重要的性质。在实际应用中,电介质材料的介电系数和介质损耗是非常重要的参数。例如,制造电容器的材料要求介电系数尽量大,而介质损耗尽量小。相反地,制造仪表绝缘器件的材料则要求介电系数和介质损耗都尽量小。而在某些特殊情况下,则要求材料的介质损耗较大。所以,通过测定介电常数及介质损耗角正切(tg),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。按照物质电结构的观点,任何物质都是由不同的电荷构成,而在电介质中存在原子、分子和离子等。当固体电介质置于电场中后会显示出一定的极性,这个过程称为极化。对不同的材料、温度和频率,各种极化过程的影响不同。
在绝缘技术中,特别是选择绝缘材料或介质贮能材料时,都需要考虑电介质的介电常数。此外,由于介电常数取决于极化,而极化又取决于电介质的分子结构和分子运动的形式。所以,通过介电常数随电场强度、频率和温度变化规律的研究,还可以推断绝缘材料的分子结构。
二.基本原理
电子材料与元件的电学性能参数的测量是一项基本而重要的工作。这些电学参数包括不同频率、不同温度下的电阻、电容、阻抗、介电常数、损耗角正切值等特性测量。全面而准确地掌握这些特性,对分析、改进电子材料与元件的性能十分重要。数字式LCR 测量仪(数字电桥)是随着数字测量技术发展而出现的新型智能化材料和元件参数测量仪器,具有使用简便、效率高、测量精度高等优点,在电子材料与元件特性参数测量和研究中获得了极其广泛的应用。
数字式LCR 测量仪以微处理器为核心、通过采集给定激励下被测样品和标准元件的电压、电流信号并按照—定的数学模型进行被测样品的参数计算。数字式LCR 测量仪测量原理以阻抗参数的数字化测量为基础,典型测量方法为矢量电流—电压法。测量电路原理如图1 所示,其中R s 为标准电阻值,Z x 为待测样品的阻抗。
介损试验的目的和原理
介损试验的目的和原理
一、介损试验的目的
介损试验是一种重要的电磁性能测试方法,主要用于评估材料的介电性能。其目的是通过测量材料在电磁场中的介电损耗,了解材料对电磁波的吸收和散射能力,进而判断材料的电磁性能和适用范围。
二、介损试验的原理
介损试验基于材料的介电性质和电磁场之间的相互作用,通过加电场或磁场,测量材料中的功率损耗,从而计算介电损耗。其原理可以总结为以下几点:
1.介电性质:材料在电磁场中的响应可以通过介电常数和磁导率来描述。介电
常数反映了材料中电场的分布和电荷极化程度,磁导率反映了材料对磁场的响应能力。
2.电磁场和材料之间的相互作用:当电磁波作用于材料时,电场和磁场的变化
将导致材料中的电荷和磁化强度发生变化。这种变化会耗散能量,导致材料产生介电损耗。
3.功率损耗的测量:在介损试验中,一般通过测量材料中吸收的功率和散射的
功率来计算功率损耗。吸收的功率是指电磁波能量被材料吸收转化为其他形式的能量,散射的功率是指电磁波能量从材料中散射出去。
4.介电损耗的计算:通过测量吸收的功率和散射的功率,可计算出材料的介电
损耗。介电损耗可用介电损耗因子(tanδ)或介电损耗角(δ)来表示。
介电损耗因子是介电损耗与材料的电磁性能相关参数之比,介电损耗角是介电损耗相对于电磁场频率的相位差。
材料选择和实验设置
一、材料选择
在进行介损试验时,通常需要选择满足实验要求的材料。材料选择的主要考虑因素包括频率范围、温度范围、厚度和材料类型等。
1.频率范围:不同材料对电磁波的吸收和散射能力受频率影响较大。因此,根
据实验需要选择适合的频率范围。
介损测试原理
介损测试原理
介损测试是指在通信系统中,为了检测信号在传输过程中所受到的损耗情况而进行的测试。介损测试的原理是通过测量信号的输入和输出功率,来计算信号在传输过程中的损耗情况。介损测试可以帮助工程师们了解信号在传输过程中的衰减情况,从而及时发现并解决系统中的问题,保证通信质量。
介损测试的原理主要包括信号输入输出功率测量、损耗计算和测试仪器使用三个方面。
首先,信号输入输出功率测量是介损测试的基础。在介损测试中,需要测量信号在系统输入端和输出端的功率。通过对输入输出功率的测量,可以计算出信号在传输过程中的损耗情况。通常情况下,输入功率和输出功率的差值即为信号在传输过程中的损耗值。
其次,损耗计算是介损测试的关键。在介损测试中,需要根据输入输出功率的测量结果,计算出信号在传输过程中的损耗值。损耗计算可以帮助工程师们准确地了解信号在系统中的衰减情况,从而找出问题所在并进行及时修复。
最后,测试仪器的使用是介损测试的保障。在进行介损测试时,需要使用专门的测试仪器,如功率计、频谱仪等。这些测试仪器可以帮助工程师们准确地测量信号的输入输出功率,从而进行损耗计算并得出测试结果。因此,测试仪器的正确使用对于介损测试至关重要。
总的来说,介损测试的原理是通过测量信号的输入输出功率,计算信号在传输过程中的损耗情况,从而保证通信系统的正常运行。介损测试可以帮助工程师们及时发现并解决系统中的问题,保证通信质量。在进行介损测试时,需要注意信号输入输出功率的测量、损耗的计算以及测试仪器的正确使用,以确保测试结果的准确性和可靠性。
介损试验的目的和原理
介损试验的目的和原理
介损试验是一种常用的电气性能测试方法,其主要目的是测量电力设备材料(如绕组、绝缘、介质等)的诸多特性,如损耗和介电常数等,以评估其电学性能。该试验方法是电力设备制造、维护和运营中非常重要的一环,对于确保设备运行的可靠性和安全性具有至关重要的意义。
介损试验的原理是利用交流电场中设计的磁场,以在被检测物质中诱导出感应电流,然后通过测量电流和电压之比,计算所测得的介电常数和损耗。简而言之,介损试验可以用来测量电气材料中发生的能量损耗和介质电常数,而精准的测量数据则可以用于评估设备的耐久性、以及在未来的运行过程中所需要的额外维护投入。
在实际应用过程中,介损试验可以分为两大类:在室温条件下进行的基础试验和加热试验。基础试验一般是在常温下进行的,用于确定电气材料的静态电学参数。而加热试验则是在高温下进行,可以更加真实地反映出电气材料在高温环境下的实际性能。同时,加热试验还可以通过检测材料的损耗的变化,检测出材料的应力和热稳定性。
总体来说,介损试验作为一种重要的电气测试手段,可以为电力设备的稳定运行和长期维护提供基础数据支持。当然,在进行介损试验的过程中,除了要注意设备的安全使用和准确测量数据,还要充分考虑材料的存储条件、测量方法、测试环境等因素,以确保所得的数据的准确和可靠。
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∂ 令 ∂a
& SU U &
= 0,
得 a =1
Z1 a Z3
1 U 4
c Z2 D d US Z4 b
& SU 极值: 极值: & U
max
1 = 2 (1 + cos θ
)
z1 结论: 结论: a = = 1; z2
θ = ϕ1 − ϕ 2
当 ϕ 1 − ϕ 2 = 90 ° 时,最大灵敏度为
二、影响介电常数与介质损耗角正切测量的因素
1、电压幅值
一般情况下,介电常数与电压幅值无关,但在高场强下介电常 数及损耗因数都增大。
2、频率
极化分为: 电子极化 原子极化 偶极子转向极化 夹层极化 一般不会影响介电常数 影响损耗角正切
介电常数及损耗因数与频率的关系
3、温度影响
T T 极化容易形成, ε 分子运动加剧,ε
& ∆ U cd =
+ ∆ Z 2 )Z 3 − Z 1 Z 4 ( Z 1 + Z 2 + ∆ Z 2 )( Z 3 + Z
4
(Z 2
4
)
& U
∆Z2 ⋅ Z3 ≈ ( Z 1 + Z 2 )( Z 3 + Z
)
因此
Z2Z3 A ∆ U cd & = & SU = U U = 2 ( Z 1 + Z 2 )(Z 3 + Z 4 ) ∆Z 2 Z 2 (1 + A ) Z3 Z1 式中 A = = Z2 Z4
试样与电极系统
• • • • • • • • 二、电极型式 1、接触式电极和电极材料 2、不接触式电极 三、固体试样与电极 1、接触式电极 2、不接触式电极 四、液体试样与电极 平板型和圆锥型
2.3 测量方法概述
• 绝缘材料的相对介电常数与损耗角正切的测量方法分为两 大类:电桥法和谐振法,电桥法用于低频而谐振法用于高 频测量。 • 1.电桥法 • 电桥的测试原理是把试样作为一个桥臂,其他三个桥臂的 阻抗是已知的,调节电桥达到平衡,再根据条件,求出试 样的并联电阻,从而计算出试样的相对介电常数和损耗角 正切。电桥法分西林电桥、变压器臂电桥、低压工频电容 电桥。1)西林电桥原理是一种电阻电容比例臂;西林电 桥分类:根据测量电压与频率分高压工频和低压高频;而 高压工频西林电桥根据试样是否接地和试样电容的大小, 又分正接、反接、对角线接地以及大电容西林电桥。
交流电桥的电源和指零仪可互换。从合适的选择可提高 电桥的灵敏度。 1、与电桥施加电压值、频率及平衡指示器有关。 2、与电桥桥臂电阻的比值有关。
四、干扰的防护原则与主要措施 • 消除根源,或防止影响 • 固定寄生联系; • 削弱其影响,或不使其起作用
防护原则
主要措施: 主要措施: (1) 选择抗干扰元件,选择连线,清净接头,细心布线, 加强绝缘; (2) 屏蔽防护 屏蔽防护—绝缘漏电屏蔽; 静电屏蔽; 磁屏蔽(铁磁屏蔽;涡流屏蔽); (3) 选择正确的屏蔽连接点 选择正确的屏蔽连接点——给屏蔽端合适的电位; (等电位屏蔽,接地屏蔽) (4) 采用特殊的辅助电路和操作方法; 采用特殊的辅助电路和操作方法;
2.3测量方法概述
• 串联或并联电阻。变阻法是把试样看作串联等效电容与电 阻。而变电导法是把试样看作并联等效电容和电阻。这两 种方法的主要缺点:为减少杂散电容的影响,必须采用固 定电阻,故调节不方便,因而较少采用。变Q值法原理是 根据L、C回路谐振是电容两端电压Uc与电源电压U之比为 测量回路的Q值,这可求出线路的R, Q=Uc/U,Q=ωL/R=1/ωCR,就可以求出tanδ。变电纳法与 变频法是应用谐振曲线半功率点的宽度,是由谐振回路的 电阻决定这一原理来求回路电阻,而后按接入试样后谐振 曲线宽度的变化求取试样的等效电导。现在多用这两种方 法测,变Q法因为是测量简单易行,但分辨率差,不适合 低介电常数和损耗的材料测量。变电纳法优点是分辨率高, 变频法不常用,只用于频率更高的测量中。
2.4 电桥法测量
在测量频率不很高时(<1MHz),都可以用电桥法测量ε和tanδ。常 用电桥分:西林电桥( 正接、大容量、反接和对角线)、低压工频电桥、 变压器电桥。
1、正接高压西林电桥 一、基本原理
Z x Z 4 = Z 3Z N
令实部、虚部分别相等有:
z x z4 = z N z3 ϕ x + ϕ 4 = ϕ N + ϕ 3
2、损耗角正切
介质损耗因数是试品在施加电压时
CP
并联等效
所消耗的有功功率与无功功率的比值。
Pr tan δ = Pc
对并联等效电路
RP CS RS
串联等效
Pr 1 tan δ = = Pc ωC p RP
对串联等效电路
试样等效阻抗
Pr tan δ = = ωCS RS Pc
二种等效电路的关系为
CS CP = 1 + tan 2 δ
4、湿度的影响
湿度 ε
除此之外还有大气压、分子量、结 晶取向和辐照
介电常数及损耗因数与温度的关系
2.2试样与电极系统
• 一、电极系统 • 分为三电极和二电极系统;低频下采用三电极、 高频下采用二电极。 • 二电极系统的缺点:边缘电容和对地电容存在; • 优点:线路简单,电路所需元件少。 • 三电极系统优点:电场分布均匀,边缘效应和对 地电容纳入了保护电极,表面电导被引入了保护 电路,消除了对测量的影响。 • 缺点:额外增加了电路元件,测试设备复杂;引 线电阻、接触电阻会影响结果。
• C0的计算----根据试样的几何尺寸计算以空气为介质时的电容
(2-2)
A—试样面积(电极面积)(m2);t—试样厚度或平板电极距离(m); ε0 —真空介电系数
• εr的计算 ---测得试样的Cx,按式(2-2)计算出C0,再按式(2-1)计算出 平板试样的εr
(2-3) C—平板试样的电容Cx (pF)
2.3测量方法概述
• 2)变压器臂电桥原理是一种紧耦合电感比例臂电容电桥 适用于低压测量,另外一种电压比例臂变压器电桥,同样 的电压加于CN与Cx上,从测量臂与标准臂来的电流流入 比例变压器,变压器成了电流比较器,也称为流比器电桥, 可以施加较高的电压。变压器电桥的优点是可以进行三端 测量而不需增加辅助桥臂。3)低压工频电容电桥原理以 电容为比例臂的电容电桥,即四电容电桥;其目的是提高 Z3、Z4的阻抗,从而提高电桥的灵敏度,特别适用低压 低损耗材料的工频测量。 • 2.谐振法 • 当测量频率增高上百千赫时,由于元件的杂散电容、残余 电感等的影响,一般电桥已不能用于绝缘材料的ε和 tanδ的测量,这种情况广泛使用谐振法
第2章 介电常数及损耗角正切的测量
2.1 概述 一、定义
1、相对介电常数
相对介电常数εr是在同一电极结构中,电极周围充满介质时的电容CX 与周围是真空时的电容C0之比
εr =
对平板电极,有
Cx C0
C0 =
ε0 A
d
式中:A——极板面积(m2) d——电极间距离(m)
ε0 —— 真空介电常数,8.854E10-12 (F/m)
对角线接地电桥
5、低压工频电桥
当试样不能承受高电压时,需要采用低压工频电桥。为提高灵敏度, 提高可调部分的阻抗。
1 RP = 1 + 2 tan δ
RS
有功功率和无功功率概念
• 交流电力系统需要两部分能量,一部分电能用于做功被消 耗,它们转化为热能、光能、机械能或化学能等,称为有 功功率,另一部分能量用来建立磁场,作为交换能量使用, 对外部电路并未做功,它们由电能转换为磁场能,再由磁 场能转换为电能,周而复始,并未消耗,这部分能量称为 无功功率。无功功率并不是无用之功,没有这部分功率, 就不能建立感应磁场,电动机、变压器等设备就不能运行。 除负荷需要无功外,线路电感、变压器电感等也需要。在 电力系统中,无功电源有:同步发电机、同步调相机、电 容器、电缆及架空线路电容,静止补偿装置等,而主要无 功负荷有:变压器、输电线路、异步电动机、并联电抗器。
C N R 4 (R N + R 3 ) + KC Rn R3
N
R4 tanδ = ωC4 R4 − ωCN (RN − Rn ) R3
3、反接电桥
正接电桥用于不接地试样,当测量接地试样的电容和介质损耗因 数时,须采用反接电桥。
4、对角线接地电桥
当试样接地时,除采用反接电桥外,还可以采用对角线接地电桥。
2.3测量方法概述
• 谐振法的测量回路是一个最简单的L、C回路,试 样电容可根据替代法二次谐振下调谐电容的差求 出。测量时,先接入试样,用C调节回路达到谐振, 得到电容C1,然后,除去试样,重新用C调节,达 到谐振,得到电容C2,因二次谐振下,测量的频率 与L都不变,因此总电容不变,C1+Cx=C2, Cx=C2C1试样的损耗角正切可用不同的方法测量,常用 的有变电阻法和变电导法,变Q值法(或称谐振升 高法)、变电纳及变频法。变电阻法与变电导法 都是根据替代法原理求取试样的等效串
一般高压西林电桥的缺点: 1) C、D对地电容与桥臂CB、DB并联,影响相位。 2) 试样与标准电容器的被保护极与保护极的电位不等,因此这二电极 间的电容和漏导也分别与桥臂CB、DB并联,影响相位角。 3) 屏蔽不够完善,只屏蔽了低压部分,没有屏蔽高压部分,试样及高 压标准电容易受外电场的影响。 4) 桥臂电阻R3、R4的杂散电容及其残余电感、C4的零电容等都会对 损耗因数的测量带来影响。
下面求灵敏度的最大值
Z3 Z1 z1 设 A = = = a∠ θ = ∠ϕ1 − ϕ 2 Z2 Z4 z2
SU = 因此 & U
( 1 + a cos θ
a + j a sin θ
)2
SU加绝对值是因
为指零仪表只能 反映电压幅度的 变化, 变化,不能反映 相位。 相位。
a = 1 + 2 a cos θ + a 2
二、西林电桥结构组成 • 2)高精密高压正接西林电桥的组成与一般基本一 致,但上述的一般高压西林电桥,测量10-3以上 的材料,这是因为(1)C、D的对地电容,影响 桥臂的相位角(2)试样和保护电容的保护电极和 被保护电极的电压不等,也会存在极间电容,影 响桥臂的相位(3)屏蔽不完全,电流可能受到影 响(4)桥臂电阻R3、R4的杂散电容及其残余电感、 C4的零电容等都会影响损耗角的测量。因而采用 增加辅助桥臂,消除对地电容的影响;减小电阻 元件的分布电容与残余电感对损耗角的测量影响。
2
Z2 b Z4
定义
SU
∆ U cd = ∆Z 2 Z
Hale Waihona Puke Baidu
d US
由 U cd
Z1 Z3 Z 2 Z 3 − Z1Z 4 & + & = & U U U =− ( Z 1 + Z 2 )( Z 3 + Z 4 ) Z1 + Z 2 Z3 + Z4
设电桥平衡时有,Z2Z3=Z1Z4。讨论在平衡点的附近,Z2的变化 引起测量对角线两端的电压Ucd发生变化,由此
2、大电容电桥
精密西林电桥内阻R3的最大允许电流为30mA,为了满足大电容试 样测量的要求,可在R3并联一个电阻分流器,或还附加精密电流互感 器,而实现大电容电桥。
R4 RN + R3 C X = CN R3 Rn
tan δ = ωC 4 R4 − ωC N
CX = K
R4 (R N − R n ) R3
Cx = CN R4 R3
tan δ
x
= ωC 4R4
二、西林电桥结构组成 • 高压西林电桥是指电桥的电阻比例臂连接点直接 或间接接地的电桥,这种电桥适合试样不接地的 测量。由于测量精度不同又分为一般高压电桥与 高精密电桥。 • 1)一般高压正接西林电桥的组成:a)高压试验变 压器,作为电源,其电压视试验电压的大小而定。 b)高压标准电容器,它是高压西林电桥的重要元 件,要求它不仅要能承受测量电压,且在测量电 压下不发生电晕,几乎没有损耗,电容稳定,不 随温度、频率和电压而变化。c)平衡指示器,是 个振动式微电计和指针式零点指示器。d)桥体, 是高压西林电桥的主要部件,不同的西林电桥主 要区别在桥体的结构不同。一般的高压西林电桥 的桥体部件是R3(纯电阻)、Z4(C4、R4)。
• QS3型高压西林电桥是我国制造,采用上述措施消除误差的高精度西林电桥 其结构和使用方法略
特点: 特点: • 平衡条件有两个,因此要有两个可调参数; • 调节时,两参数要反复调节; • 电源和指零仪可互换; • 平衡条件与电源电压无关; • 平衡条件与频率有无关系,取决于桥臂的安排;
• 0
c 三、西林电桥的灵敏度分析 a Z1 D Z3