硅CMOS红外焦平面64×64元读出电路

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据电路实际的应用和性能需求调节设计和工艺参数，通过对红外探测器产生的信号进行积分、取样，并在ＤＣ一０２测试系统上利用特殊的测试方法完成电路的测试，而使电路达到最佳性能指标。Ｉ８３从
关键词：外焦平面阵列；出电路；红读测试方法中图分类号：ＮＴ４文献标识码：Ｂ文章编号：０２— ２９（０８００１０１０２７２０）６— ０７— ２
（１。源随器型读出电路是一种直接积分的高阻图）抗放大器，探测器偏压由复位电平决定，不存在探故测器偏压初值不均匀的问题，但偏压会随积分时间和积分电流变化，引起探测器偏置变化。ＳＤ电路Ｆ在很低背景下具有较满意的信噪比。
２电路的设计技术
２１读出电路的工作原理．读出电路是红外焦平面阵列当中十分重要的环
电路的主要功能．
硅ＣＳ红外焦平面６４元读出电路的主ＭＯ４Ｘ６
节。由于周围物体的黑体辐射，被测物体的辐射信号相当微小，电流大小为纳安或者是皮安级，而且这种小信号很易受到其它噪声的干扰，因此，选择和设计电路就成为特别重要的方面。根据电路实际的应用和性能需求，我们采用的
Ｓｊ —ＣＭＯＳｌｆａｅｏｕａｅｆｒ６４ＲｅｄｕｒｕｔｎｒｒｄＦｃｓＰｌｎｏ４Ｘ６ａｏｔＣｉｉｃ
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第６期２００８年１２月
微
处
理
机
Ｎｏ６．
Ｄｅ．，０８ｃ２０
ＭＩＣＲＯＰＲＯＣＥＳＳＳＯＲ
硅ＣＳ红外焦平面６４元读出电路、ＭＯ４Ｘ６
耿爽杨丽辉，
（．１中国电子科技集团公司第四十七研究所，沈阳１０３；．宁省标准化研究院，１０２２辽沈阳１００）１０３摘要：介绍了一种红外焦平面６６４× ４元读出电路的主要工作原理、工艺设计及测试技术。根
ＡｂｓｒｃＴｈｓｐｐｅｎｔｏｕｅｐｒｔｏｉｎｉｌｐｏｅｓｄｓｇｎｅｔｎｔｄｏｅｄｕｔａｔ：ｉａｒｉｒｄｃｓｏｅａｉｎｐｒｃｐｅｒｃｓｅｉｎａｄｔｓｉｇｍｅｈｏｆｒａｏｔｃｒｕｔｆｒｉｆａｅｏｕｓ６ ×６ｉｃｉ０ｎｒｒｄｆｃ４４．ａｃｒｉｇｔｈｅｅｅｔｃｃｒｕｉｐｙｉａｌｆｔｅａｐｉａｉｎｒｑｒｓｃｏｄｎｏｔｌｃｒｉｃｔｈｓｃｌｏｐｌｃｔｅｕｉｅｉｙｈｏ
ａｄｓｍｐｉｇｎｈｅｎａｌｎ．ＩｔＤＩ一８Ｃ０Ｃ３ｔｓｉｇｙｔｍｏｌｔｔｅｉｃｉｅｔｏｇｅｐｃａｅｔ２ｅｔｎｓｓｅｃｍｐｅｅｈｃｒｕｔｔｓｉｔｕｈｔｓｅｉｌｔｓｎｇｈｈｍｅｏＳｅｃｒｕｔｃｎａｈｅｅｂｓｆａｌｐｅｆｒｎｅ．ｈｔｄ，Ｏｔｉｃｉａｃｉｖｅｔｏｌｈｒｏｍａｃｓ
实现此功能的通常方法是在每个探测器后接一ＭＯＦＴ源随器（Ｆ，ＳＥＳＤ）即构成源随器型读出电路
列技术也被广泛应用于军事成像、工业自、控医疗诊断、化学过程监测、红外天文学等领域。红外焦平面阵列是获取景物红外光辐射信息的重要光电器件。其中读出电路是红外焦平面阵列的重要组成部分。它的性能好坏直接影响红外焦平面成像器件性能的优劣，因此对读出电路的设计不仅要考虑电路的本身，而且还要考虑探测器的性能特点，以便使其各自达到最佳的性能指标。
Ｋｅｒｓ：ｎｒｒｄｆｃｓｐａｅａｒｙ；ｅｄｕｉｃｉ；ｅｔｇｍｅｏｙｗｏｄＩａｅｏｕｌｎｒａｓＲａｏｔｃｒｕｔＴｓｎｔｄｆｉｈ
１引言
随着集成电路日新月异的发展，外焦平面阵红